JP2007047447A - 焦点検出装置及びこれを備えた顕微鏡装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 色収差レンズの調整を安価且つ容易に実現し、サンプルの屈折率や厚さの情報がなくても、透明膜や段差サンプルの観察において色収差レンズの再設定なしにAF機能を提供する。
【解決手段】 制御部133は、対物レンズ105により生じる、顕微鏡光源110で発光させる観察用の照明光とLD120で発光させるAF用の測定光との色収差の補正が必要か否かの判定を行うと共に、当該判定の結果に応じ、色収差補正レンズ125を移動させて色収差を補正する。
【選択図】 図1
【解決手段】 制御部133は、対物レンズ105により生じる、顕微鏡光源110で発光させる観察用の照明光とLD120で発光させるAF用の測定光との色収差の補正が必要か否かの判定を行うと共に、当該判定の結果に応じ、色収差補正レンズ125を移動させて色収差を補正する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、顕微鏡の技術に関するものであり、特に、複数の対物レンズを切換えて使用するオートフォーカス(以下、AFと称する)の技術に関するものである。
顕微鏡は、医学・生物学を始めとして、工業分野においても、IC(集積回路)ウェハや磁気ヘッドの検査、金属組織等の品質管理、新素材等の研究開発といった、種々の分野や用途に使用されている。ところで、このような顕微鏡での合焦は、対物レンズと観察対象であるサンプルとの相対的な位置関係を調整することによって行われるのが一般的であり、合焦機構であるZステージが、対物レンズ若しくはサンプルを載置するX−Yステージを対物レンズの光軸方向に移動させて行われる。
最近の顕微鏡では、AFセンサを搭載し、当該AFセンサで検出されたAF信号に基づいてモータを駆動させてZステージを移動させることにより、自動的に合焦動作を行うAF機能を備えたものが広く用いられている。
AF方式には、主に赤外光レーザ等の光を標本に照射したときに標本で反射した光に基づいてAF動作を行うアクティブAF方式と、観察画像のコントラストに基づいてAF動作を行うパッシブAF方式とがある。
パッシブAF方式では、例えばベアウェハのようなコントラスト差の小さな標本では合焦動作ができないという理由や、合焦速度が遅いという理由等により、工業用途では余り採用されることがなく、アクティブAF方式が一般的に採用されている。
また、近年では、例えば特許文献1に開示されているように、ICやLCD(液晶ディスプレイ)等の検査工程の自動化に伴い、検査装置メーカがAF機能を備えた顕微鏡をユニットとして別途購入してIC等の自動検査装置などに組み込み、PC(パーソナルコンピュータ)等からコマンド(命令)を送信し、顕微鏡を遠隔操作して使用するという使用形態が増加してきている。
一般的なアクティブAF方式を用いている顕微鏡は、例えば特許文献2に開示されているように、観察光(可視光)とAF光(赤外光)とのピント位置のズレ(色収差)を補正するための色収差補正レンズを備えており、対物レンズを切り換える度に、対物レンズの観察光とAF光とのピントが合う位置へ色収差レンズを移動させることにより、観察者は、低倍から高倍の各種の対物レンズにおいて観察光とAF光とを意識することなくAF動作を行うことが可能である。
しかし、上記の顕微鏡では、初期設定として、観察者が、色収差レンズ操作用ハンドルを操作して、AF光と観察光とのピントが合うように色収差レンズの位置を移動させ、その位置を対物レンズ毎及び観察法毎に登録する必要がある。この初期設定には多くの時間を必要とし、また、AFに関する知識が必要とされることから、観察者にとって敬遠されてしまう作業であった。特に、前述したような装置組込用の顕微鏡ユニットの場合には、色収差レンズを駆動させるためにはコマンドを送信する必要があり、検査装置メーカにとって大きな作業負担となっていた。
この点に関し、例えば特許文献3には、アクティブAF方式とパッシブAF方式との双方を備えたハイブリッドAFが開示されている。この方式では、パッシブAFを先に用いて可視光でピントを一旦合わせ、このピント位置と同位置になるようにアクティブAFの色収差レンズを移動させて登録するというものである。
また、前述の顕微鏡では、透明膜を備えた標本などでは、AF後のピントは透明膜の上面に合焦してしまうことがあり、その透明膜の下面の観察を行う場合は、色収差レンズをピント位置(透明膜の上面)から一定量移動(オフセット)させ、透明膜の下面でピントを合わせる必要がある。しかし、上記の顕微鏡では、色収差レンズの位置を倍率毎に1つしか登録することができなかったために、透明膜の厚さが異なる透明膜を観察する際には、また、段差サンプルを観察する際には、観察の度に色収差レンズの再設定を必要としていた。
この点に関し、例えば、特許文献4に開示されているように、AFユニット内部で予め演算して登録しておいた倍率毎の色収差レンズの位置に対し、サンプルの屈折率、温度、位置、サンプルの厚さの少なくとも一つのパラメータに基づいたオフセット量の自動演算を行い、観察者の所望する観察位置へ色収差レンズの位置を自動で移動させるというものがある。この手法は色収差補正用のレンズを備えた対物レンズのアルゴリズムではあるが、AFの色収差レンズにも流用が可能である。
特開2003−167183号公報
特開平11−249027号公報
特開2002−341234号公報
特開2005−43624号公報
上掲した特許文献3に開示されている技術において採用されているパッシブAFは高価であるため、調整のためにのみパッシブAFを顕微鏡に装備することは容易なことではない。特に、検査装置メーカにとって、製品コストは最優先課題となるため、この方式の採用は敬遠されがちである。
また、前述したように、パッシブAFはコントラスト差の小さい標本では合焦ができないため、ベアウェハなどといった、パターンのない標本には適用することができない。
また、上掲した特許文献4に開示されている技術では、予め、色収差レンズの位置を登録しておかなければならない。また、前述したようなパラメータが不明である場合には実施することができない。一般的に、観察者や検査装置メーカは、サンプルの屈折率の値や、サンプルの透明膜の厚さ等の正確な情報は保有していないことが多く、不正確な情報がAF精度を低下させてしまうことが考えられる。
また、上掲した特許文献4に開示されている技術では、予め、色収差レンズの位置を登録しておかなければならない。また、前述したようなパラメータが不明である場合には実施することができない。一般的に、観察者や検査装置メーカは、サンプルの屈折率の値や、サンプルの透明膜の厚さ等の正確な情報は保有していないことが多く、不正確な情報がAF精度を低下させてしまうことが考えられる。
本発明は上述した問題に鑑みてなされたものであり、その解決しようとする課題は、色収差レンズの調整を安価且つ容易に実現し、サンプルの屈折率や厚さの情報がなくても、透明膜や段差サンプルの観察において色収差レンズの再設定なしにAF機能を提供することである。
本発明の態様のひとつである焦点検出装置は、照明光が投光された試料からの光を結像させて当該試料の像を得る観察光学系を有した顕微鏡に搭載される焦点検出装置において、当該観察光学系内の対物レンズを通して焦点検出のための測定光が投光された当該試料からの反射光に基づいて、当該像を合焦させる制御を行う合焦制御手段と、当該対物レンズによる当該照明光と当該測定光との色収差の補正が必要か否かの判定を行う判定手段と、当該判定の結果に応じて当該色収差を補正する色収差補正手段と、を有することを特徴とするものであり、この特徴によって前述した課題を解決する。
なお、上述した本発明に係る焦点検出装置において、当該判定手段が、当該観察光学系により得られる当該像の合焦時における当該試料の位置に関する情報と、当該合焦制御手段による制御がなされたときにおける当該試料の位置に関する情報とに基づいて当該判定を行うように構成してもよい。
なお、このとき、当該判定手段が、当該観察光学系により得られる当該像の合焦時における当該試料の光軸方向の位置と、当該合焦制御手段による制御がなされたときにおける当該試料の光軸方向の位置との差異が、当該対物レンズの焦点深度よりも大きい場合には、当該補正が必要との判定を下すように構成してもよい。
また、前述した本発明に係る焦点検出装置において、当該判定手段が、当該色収差補正手段による補正後においても当該色収差の更なる補正が必要か否かの判定を繰り返し行い、当該色収差補正手段が、当該色収差の更なる補正が不要との判定を当該判定手段が下す程度まで当該色収差の補正を行う、ように構成してもよい。
また、前述した本発明に係る焦点検出装置において、当該色収差補正手段を、当該測定光の光路に挿入され、当該対物レンズによる当該測定光の焦点位置を変化させるレンズ群としてもよい。
また、前述した本発明に係る焦点検出装置において、当該観察光学系内の対物レンズは交換可能であり、当該色収差補正手段による当該色収差の補正量に関する情報を当該観察光学系で使用される対物レンズ毎に対応付けて記憶しておく記憶手段を更に有する、ように構成しいてもよい。
なお、前述した本発明に係る焦点検出装置を備えた顕微鏡装置についても、本発明に係るものである。
本発明によれば、以上のようにすることにより、色収差レンズの調整を安価且つ容易に実現し、サンプルの屈折率や厚さの情報がなくても、透明膜や段差サンプルの観察において色収差レンズの再設定なしにAF機能を提供できるという効果を奏する。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
まず図1について説明する。同図は、本実施例に係る顕微鏡の概略構成を示している。
図1において、顕微鏡本体101では、サンプル102を搭載可能なX−Yステージ103に対向する位置に、レボルバユニット104が配置されている。レボルバユニット104には最大6つまで対物レンズ105の設置が可能である。ここでは図示していないレボルバ穴の各々には、番号#1〜♯6が穴番号として割り当てられている。
図1において、顕微鏡本体101では、サンプル102を搭載可能なX−Yステージ103に対向する位置に、レボルバユニット104が配置されている。レボルバユニット104には最大6つまで対物レンズ105の設置が可能である。ここでは図示していないレボルバ穴の各々には、番号#1〜♯6が穴番号として割り当てられている。
レボルバユニット104は、対物レンズ105を取り付けるマウンタ106と、光路上に挿入される対物レンズ105を切り替えるためにマウンタ106を電動で駆動させるレボルバモータ107と、レボルバセンサ群108と、を備えて構成されている。レボルバセンサ群108は、レボルバユニット104が接続されていることを検知するレボルバ接続センサと、現在の穴番号を検知する穴番号センサと、対物レンズ105が光軸に挿入されたことを検知する移動完了センサと、を備えて構成されているが、ここでは図示していない。
照明ユニット109は、サンプル102を照明するための顕微鏡光源110を備えている。顕徹鏡光源110から出射される観察用の照明光は、例えば可視領域の光(可視光)である。光源110からの可視光は照明系レンズ111及び光学絞り112を通過し、ハーフミラー113へと導かれる。ハーフミラー113により90度偏向された光は、対物レンズ105を通り、サンプル102へ照射される。サンプル102で反射した光は、対物レンズ105を通過後、ハーフミラー113を透過して鏡筒114へと導かれる。観察者は、接眼レンズ115で直接に、若しくはCCD(電荷撮像素子)カメラ116で得られた画像をここでは図示しないモニタを通じて、サンプル102の像を観察することができる。顕微鏡本体101における観察光学系はこのように構成されている。
X−Yステージ103はサンプル102が載置されるものである。X−Yステージ103は、対物レンズ105の光軸方向に対して垂直であるX−Y方向に移動可能になっており、当該光軸方向であるZ方向に移動可能なZステージ117の上に取り付けられている。観察者はZステージ117を移動させることにより、サンプル102を対物レンズ105のピント位置へ移動させることができる。また、Zステージ117は、Zステージモータ136を電動で駆動させることによっても移動させることができる。
AFユニット119は、可視外光である赤外領域の光を発光するレーザダイオード(LD)120と、LD120を駆動する光源駆動部121と、を備えている。LD120から発せられたAF光(AF動作による焦点検出のための測定光)は、コリメートレンズ135を通過して平行光束となった後に、当該光束の半分をカットする投光側ストッパ122を介して偏光ビームスプリッタ123へ入射してP偏光成分のみが反射され、集光レンズ124へと導かれる。集光レンズ124により一旦集光された光束は色収差補正レンズ125を通過した後、λ/4板126を通過して45°偏光されてダイクロックミラー127により反射される。
色収差補正レンズ125は、対物レンズ105の持っている、AF光の赤外波長と、顕微鏡光源110の可視波長との焦点位置の不一致を調節するためにAF光の光路に挿入されているレンズ群であり、AF光の焦点距離を変更するズーム機構118を備えて構成されている。
ダイクロックミラー127は、赤外波長域のみが反射され、可視域は通過する性質をもっている。従って、赤外レーザ光であるAF光はダイクロックミラー127で反射した後、対物レンズ105を介してサンプル102へと照射される。
サンプル102で反射したAF光は、対物レンズ105を通過してダイクロックミラー127で反射した後、λ/4板126を通過する際に45°偏光されてS偏光成分へと切換わる。その後、このAF光は、色収差補正レンズ125及び集光レンズ124を通過し、偏光ビームスプリッタ123へと入射する。前述したように、このAF光の光束はS偏光成分となっているので、そのまま偏光ビームスプリッタ123を透過し、その後は受光側ストッパ128及び受光側集光レンズ129を通過して2分割フォトダイオード(以下「2分割PD」と称する)130で結像する。2分割PD130は、後に説明する図5A等に図示されているが、光軸を中心として2個のフォトダイオード(センサA及びセンサB)が並べられて構成されている光検出器である。
2分割PD130から出力される、結像したスポットの光強度に応じた電流信号は、増幅器131によって電流/電圧変換されると共に所定の増幅率で増幅された後、A/D変換器132によってデジタル値へと変換され、制御部133で演算処理される。
操作部134は、観察者に操作されることによって顕微鏡本体101に対する観察者からの各種の指示を取得する。操作部134は、図2に示すように、レボルバユニット104を時計回り(CW)若しくは反時計回り(CCW)に回転させて対物レンズ105を切り換えるCWスイッチ201及びCCWスイッチ202と、Zステージ117を上下動させるUPスイッチ203及びDOWNスイッチ204と、AF動作の実行に関する指示を行うためのワンショットスイッチ205及び追従スイッチ206と、色収差補正レンズ125の位置合せ調整を行うための色収差調整スイッチ207と、色収差補正レンズ125のオフセット位置を登録するためのオフセット1スイッチ208及びオフセット2スイッチ209と、を備えて構成されている。色収差調整スイッチ207、オフセット1スイッチ208、及びオフセット2スイッチ209の各々への操作に対する図1の顕微鏡の動作については後述する。
設定部135は、レボルバ穴と同じ数(6個)のロータリー式スイッチ301を備えて構成されている。図3に示すように、ロータリー式スイッチ301a〜301fは各々16ビットのスイッチである。スイッチ301aはレボルバ穴1に装備される対物レンズ105の種類、倍率の設定をし、同様にスイッチ301b〜301fには各々レボルバ穴2〜6に装備される対物レンズ105の種類及び倍率の設定をする。
制御部133は、図4に示すように、図1に示す顕微鏡の各部の動作制御を司るCPU(中央演算装置)401と、演算データ等の各種のデータを格納して一時的に保持しておくRAM402と、制御プログラムや各種の初期データ等が予め格納されているROM403と、対物レンズ105毎の色収差補正レンズ125の位置等を、電力供給を行うことなく記憶しておくことのできる不揮発性メモリ404と、レボルバユニット104、AFユニット119、Zステージ117、操作部134、及び設定部135の各々との間でのデータ授受を制御する各種I/O405a〜405eと、各ユニットのモータを駆動させるための各種ドライバ406a〜406cと、を備えて構成されている。
次に、図1の顕微鏡において行われる、アクティブAF方式であるAF動作の原理を簡単に説明する。
図5Aは、2分割PD130への結像の様子を表している。
図5Aは、2分割PD130への結像の様子を表している。
まず、サンプル102の位置が合焦位置よりも上、すなわち、合焦位置よりも対物レンズ105に近い場合を想定する。このとき、LD120で発光させたAF光は、対物レンズ105を通過後に、合焦位置よりも手前でサンプル102に反射して2分割PD130に結像するので、スポット像601aは、受光側集光レンズ129の作用により、中心位置よりもセンサB寄りに結像する。
一方、サンプル102が合焦位置より下にある場合、すなわち合焦位置よりも対物レンズ105から遠い位置にある場合には、2分割PD130に結像するスポット像602aは、中心位置よりもセンサA寄りに結像する。
ここで、サンプル102が正確に合焦位置にある場合には、スポット像603aは、センサAとセンサBとの両者に均等な範囲でほぼ光軸の中心に結像する。しかも、この場合は、2分割PD130は焦点位置に位置することとなるので、スポットの光強度はこの付近で最も高くなる。
図5Bは、図5Aの場合よりも高倍の対物レンズ105を使用した場合における2分割PD130への結像の様子を表している。
高倍の対物レンズ105は焦点深度が浅いので、サンプル102が合焦位置より上及び下にある場合のスポットの形状601b及び602bは、どちらも図5Aに表したスポット像601a及び602aに比べて大きくなるが、サンプル102が合焦位置にある場合のスポットの形状603bは、図5Aに表したスポット像603aと同程度の大きさとなる。
高倍の対物レンズ105は焦点深度が浅いので、サンプル102が合焦位置より上及び下にある場合のスポットの形状601b及び602bは、どちらも図5Aに表したスポット像601a及び602aに比べて大きくなるが、サンプル102が合焦位置にある場合のスポットの形状603bは、図5Aに表したスポット像603aと同程度の大きさとなる。
図5Cは、図5Aの場合よりも低倍の対物レンズ105を使用した場合における2分割PD130への結像の様子を表している。
低倍の対物レンズ105は焦点深度が深いので、サンプル102が合焦位置より上及び下にある場合のスポットの形状601c及び602cは、どちらも図5Aに表したスポット像601a及び602aに比べて小さくなるが、サンプル102が合焦位置にある場合のスポットの形状603cは、図5Aに表したスポット像603aと同程度の大きさとなる。
低倍の対物レンズ105は焦点深度が深いので、サンプル102が合焦位置より上及び下にある場合のスポットの形状601c及び602cは、どちらも図5Aに表したスポット像601a及び602aに比べて小さくなるが、サンプル102が合焦位置にある場合のスポットの形状603cは、図5Aに表したスポット像603aと同程度の大きさとなる。
なお、以下の説明においては、図5B及び図5Cの場合との対比により、図5Aの場合を、中倍の対物レンズ105を使用した場合と称することとする。
次に図6A及び図6Bについて説明する。図6Aは、2分割PD130のセンサA及びセンサB各々の出力信号の変化を表しており、図6Bは、この出力信号の値を用いて制御部133が行う演算の結果の変化を表しており、センサAの出力信号値をAとし、センサBの出力信号値をBとしたときにおける、(A−B)/(A+B)の演算結果の変化を表している。
次に図6A及び図6Bについて説明する。図6Aは、2分割PD130のセンサA及びセンサB各々の出力信号の変化を表しており、図6Bは、この出力信号の値を用いて制御部133が行う演算の結果の変化を表しており、センサAの出力信号値をAとし、センサBの出力信号値をBとしたときにおける、(A−B)/(A+B)の演算結果の変化を表している。
制御部133は、上記のAとBとの加算結果(A+B)と、上記の(A−B)/(A+B)演算結果とを用いて合焦の判定を行う。この合焦の判定をより詳しく説明する。
まず、(A+B)の値と、不揮発性メモリ404に記憶されている、対物レンズ105毎に設定されているノイズ判定閾値(NTH)との比較を行う。ここで、(A+B)<NTHであれば、制御部133は、サンプル102を捕捉していないと判定する。そして、(A+B)≧NTHが成立するように、Zステージ117を移動させる。
まず、(A+B)の値と、不揮発性メモリ404に記憶されている、対物レンズ105毎に設定されているノイズ判定閾値(NTH)との比較を行う。ここで、(A+B)<NTHであれば、制御部133は、サンプル102を捕捉していないと判定する。そして、(A+B)≧NTHが成立するように、Zステージ117を移動させる。
ここで、図6Aを参照する。同図において、範囲701は、低倍の対物レンズ105を使用した場合においてサンプル102を捕捉したと判定される範囲を示しており、同様に、範囲702及び範囲703は、それぞれ中倍及び高倍の対物レンズ105を使用した場合においてサンプル102を捕捉したと判定される範囲を示している。同図より明らかなように、サンプル102を捕捉したと判定される範囲は、対物レンズ105が高倍である場合が最も狭く、対物レンズ105の倍率を下げるほど広くなる。
Zステージ117の移動により、(A+B)≧NTHが成立すると、制御部133は、
−FTH<(A−B)/(A+B)<+FTH ………[1]
が成立するようにZステージ117を移動させる。そして、この[1]の成立を検出すると、その位置(図6Bにおける範囲704の間)でZステージ117の移動を停止させる。ここで、FTHは合焦判定閾値であり、[1]が成立していればZステージ117が対物レンズ105の焦点深度の範囲内に必ず位置するように決められている値である。なお、FTHは、対物レンズ105毎に予め設定されており、不揮発性メモリ404内に予め格納されている。
−FTH<(A−B)/(A+B)<+FTH ………[1]
が成立するようにZステージ117を移動させる。そして、この[1]の成立を検出すると、その位置(図6Bにおける範囲704の間)でZステージ117の移動を停止させる。ここで、FTHは合焦判定閾値であり、[1]が成立していればZステージ117が対物レンズ105の焦点深度の範囲内に必ず位置するように決められている値である。なお、FTHは、対物レンズ105毎に予め設定されており、不揮発性メモリ404内に予め格納されている。
以上のようにして、対物レンズ105を通して可視外光が投光されたサンプル102からの光に基づいて、サンプル102の像を合焦させるAFの動作が完了する。
なお、以下の説明においては、以上の一連の動作を「AF動作」と称することとし、上述した(A−B)/(A+B)の演算結果を「AF信号」と称することとする。
なお、以下の説明においては、以上の一連の動作を「AF動作」と称することとし、上述した(A−B)/(A+B)の演算結果を「AF信号」と称することとする。
次に、AF動作の動作モードについて説明する。
本実施例において、AF動作モードには、追従モードとワンショットモードとが設けられている。
本実施例において、AF動作モードには、追従モードとワンショットモードとが設けられている。
追従モードは、AF動作を開始して合焦が一旦完了しても、AF動作をその後も継続する動作モードである。追従モードでは、X−Yステージ103を移動させてサンプル102のピントが合う位置が変化しても、Zステージ117を常に合焦位へと移動させる。従って、追従モードは、ウェハ等の一定の厚さのサンプルについて、X−Yステージ103を移動させながら観察する場合に適している。
一方、ワンショットモードとは、AF動作を開始して合焦が完了した場合には、AF動作を終了させる動作モードである。
例えば大きな段差を持っているサンプル102の上面のみを観察したいときには、まず、追従モードを使用してX−Yステージ103を移動させれば視野内で常にピントが合うようになる。ところが、ここで、図17のような段差を有するサンプル102の上面である17A面のみ観察したい場合、X−Yステージ103がX方向に移動すると、対物レンズ105から出射されるAF光は集光点1701からX方向に移動し、AF動作によりZステージ117がZ方向に移動することで、サンプル102の17B面上の集光点1702に一旦合焦してしまう。ここで更にX方向に移動すると、AF光はサンプル102の17A面上の集光点1703に移動してこの位置で合焦することになる。つまり、観察者は段差の上面、すなわち17A面のみの観察を所望しているのにも拘らず、AF動作の動作モードが追従モードであると、常にAF動作が継続されてZステージ117が駆動されるため、煩わしいばかりでなく、観察効率が低下する。更に、サンプル102の段差が対物レンズ105の作動距離を超えると、AF動作によってサンプル102と対物レンズ105とが衝突する虞がある。ワンショットモードはこのような問題が生じないので、段差のあるサンプル102の観察に適している。
例えば大きな段差を持っているサンプル102の上面のみを観察したいときには、まず、追従モードを使用してX−Yステージ103を移動させれば視野内で常にピントが合うようになる。ところが、ここで、図17のような段差を有するサンプル102の上面である17A面のみ観察したい場合、X−Yステージ103がX方向に移動すると、対物レンズ105から出射されるAF光は集光点1701からX方向に移動し、AF動作によりZステージ117がZ方向に移動することで、サンプル102の17B面上の集光点1702に一旦合焦してしまう。ここで更にX方向に移動すると、AF光はサンプル102の17A面上の集光点1703に移動してこの位置で合焦することになる。つまり、観察者は段差の上面、すなわち17A面のみの観察を所望しているのにも拘らず、AF動作の動作モードが追従モードであると、常にAF動作が継続されてZステージ117が駆動されるため、煩わしいばかりでなく、観察効率が低下する。更に、サンプル102の段差が対物レンズ105の作動距離を超えると、AF動作によってサンプル102と対物レンズ105とが衝突する虞がある。ワンショットモードはこのような問題が生じないので、段差のあるサンプル102の観察に適している。
次に、図1に示した顕微鏡の具体的な動作について説明する。
まず、顕微鏡本体101の電源をONとして電力の各部への供給を開始する前に、レボルバ104へ取り付ける対物レンズ105の設定を行う。すなわち、設定部134のロータリー式スイッチ301a〜301fの各々に表されている0からFの16進数値に、図7のアサイン表801に例示するような、対物レンズ105の種類及び倍率を予めアサインしておき(割り当てておき)、観察者は、このアサイン表801を見ながらロータリー式スイッチ301a〜301fを切り替えて、レボルバ穴毎の対物レンズ105の設定を行う。例えば、長作動50×の対物レンズ105をレボルバ穴4へアサインするには、ロータリー式スイッチ301dを切り替えて「9」にセットすればよい。
まず、顕微鏡本体101の電源をONとして電力の各部への供給を開始する前に、レボルバ104へ取り付ける対物レンズ105の設定を行う。すなわち、設定部134のロータリー式スイッチ301a〜301fの各々に表されている0からFの16進数値に、図7のアサイン表801に例示するような、対物レンズ105の種類及び倍率を予めアサインしておき(割り当てておき)、観察者は、このアサイン表801を見ながらロータリー式スイッチ301a〜301fを切り替えて、レボルバ穴毎の対物レンズ105の設定を行う。例えば、長作動50×の対物レンズ105をレボルバ穴4へアサインするには、ロータリー式スイッチ301dを切り替えて「9」にセットすればよい。
その後、顕徹鏡本体101の電源をONにする。すると、顕微鏡本体101では初期化処理が行われる。顕微鏡本体101の電源をONにすると、まず制御部133内のCPU401が初期化され、設定部134からロータリー式スイッチ301a〜301fの各設定値が読み込まれて、図8にメモリテーブルが示されているRAM402におけるOB[1]〜OB[6]の各番地にセット(格納)される。その後、現在設定されているレボルバ穴番号がレボルバセンサ群108の現在位置センサから取得されてRAM402内のCOB番地にセットされる。この他、周辺の各ユニットの初期化が行われ、顕微鏡本体101の初期化が終了する。
次に、色収差補正レンズ125の自動調整について、図9に示したフローチャートに沿って説明する。
まず、観察者は、接眼レンズ115の像、またはCCDカメラ116からの画像を観察し、可視光が投光されているサンプル102をピント位置へ配置するべく、UPスイッチ203若しくはDOWNスイッチ204を押下操作する。S101では、制御部133がこの押下操作を取得し、取得結果に応じてZステージ117を移動させる処理が行われる。
まず、観察者は、接眼レンズ115の像、またはCCDカメラ116からの画像を観察し、可視光が投光されているサンプル102をピント位置へ配置するべく、UPスイッチ203若しくはDOWNスイッチ204を押下操作する。S101では、制御部133がこの押下操作を取得し、取得結果に応じてZステージ117を移動させる処理が行われる。
ここで、サンプル102が透明膜サンプルや段差サンプルである場合には、色収差補正レンズ125の設定位置が通常のものとは異なるため、色収差補正レンズ125の位置を通常サンプルとは別なメモリ領域へ登録する必要がある。この場合には、観察する面へピントを合わせた上で、オフセット1スイッチ208若しくはオフセット2スイッチ209を押下操作することにより、その旨が制御部133へ伝えられる。
次に、観察者による色収差調整スイッチ207の押下操作が検出されると、S102において、制御部133は顕微鏡の動作モードを色収差自動調整モードへと移行させる。続くS103では、オフセット1スイッチ208及びオフセット2スイッチ209の押下状態を確認する処理が行われる。ここで、オフセット1スイッチ208及びオフセット2スイッチ209の両者が共に押下されていなければ、S104aにおいて、RAM402内のOffNum番地の値を「0」にセットする処理がCPU401で行われる。一方、ここで、オフセット1スイッチ208が押下されていたならば、S104bにおいて、RAM402内のOffNum番地の値を「1」にセットする処理が行われ、オフセット2スイッチ209が押下されていたならば、S104cにおいて、RAM402内のOffNum番地の値を「2」にセットする処理が行われる。
なお、以下の説明においては、ロータリー式スイッチ301aによりレボルバ穴1について「c」(長作動5×)に設定され、且つオフセット2スイッチ209が押下されている場合を本実施例の場合として説明する。
S105では、現在のZステージ117の位置、すなわち可視光でのピント位置を示す情報をRAM402内のTPOS番地にセットする処理がCPU401で行われ、続くS106において、設定されている対物レンズ105の種類、倍率をセットするべく、OB[COB]番地の値をRAM402内のOBType番地(図8では不図示)にセットする処理が行われる。なお、本実施例の場合、RAM402内のCOB番地の値は「1」、すなわち、現在は、「1」番のレボルバ穴に装備されている対物レンズ105が光軸上に位置しているので、OB[1]の値、すなわち「c」がRAM402内のOBType番地にセットされる。
以上までの処理により、色収差補正レンズ125の自動調整に必要なパラメータの設定が完了したので、S107において、制御部133は顕微鏡の動作モードをAF追従モードへ移行させてAF動作を実行する。そして、S108において、AF動作の成否を判定する処理を行う。ここで、AFが失敗したと判定した場合には、S109において、AFの失敗を示すエラー表示を不図示の表示部で行い、その後はこの図9のフローを抜ける。
一方、AF動作が成功した場合には、S110において、AF動作実行後のZステージ117の位置、すなわち、AF光でのピント位置を示す情報をRAM402内のCPOS番地にセットする処理がCPU401で行われる。
続いてS111では、下記の式の成否を判定して、対物レンズ105による可視光と可視外光(ここではLD120で発光させるAF光)との色収差の補正が必要か否かを判定する処理が行われる。
(TPOS−TH[OBType])<CPOS<(TPOS+TH[OBType])
上記の式において、TH[OBType]は、図10にメモリテーブルが示されている不揮発性メモリ404に予め格納されている値である。この値は対物レンズ105により異なるため、この値には対物レンズ105の種類に応じた0〜fまでの16種類の値が予め設定されている。本実施例においては、RAM402内のOBType番地に「c」がセットされているため、TH[OBType]として、不揮発性メモリ404のTH[c]番地の値が適用される。
(TPOS−TH[OBType])<CPOS<(TPOS+TH[OBType])
上記の式において、TH[OBType]は、図10にメモリテーブルが示されている不揮発性メモリ404に予め格納されている値である。この値は対物レンズ105により異なるため、この値には対物レンズ105の種類に応じた0〜fまでの16種類の値が予め設定されている。本実施例においては、RAM402内のOBType番地に「c」がセットされているため、TH[OBType]として、不揮発性メモリ404のTH[c]番地の値が適用される。
TH[OBType]の値は、対物レンズ105の焦点深度の範囲を表している。つまり、S111において、上掲した式が成立しない(判定結果がNo)ということは、Zステージ117の現在の位置(AF光でのピント位置)と、S105の処理においてセットしたTPOS(可視光でのピント位置)との差が、対物レンズ105の焦点深度以上に異なっているということであり、これはすなわち、可視光とAF光との色収差の補正が必要であるということを意味している。
そこで、S111の判定結果がNoの場合には、S112において、ループカウンタiをインクリメントする処理がCPU401で行われ、続くS113において、ループカウンタiが指定回数Iに達したか否かを判定する処理が行われる。このS113の判定処理において、ループカウンタiが指定回数Iに達したと判定されたとき(判定結果がYesのとき)は、S114において、タイムアウト表示を不図示の表示部で行い、その後はこの図9のフローを抜ける。
一方、S113の判定処理において、ループカウンタiが未だ指定回数Iには達していないと判定されたとき(判定結果がNoのとき)には、S115において、下記の式の成否を判定する処理が行われる。
(TPOS−TH[OBType])≧CPOS
ここで、上記の式が成立するとき(判定結果がYesのとき)には、S116aにおいて、制御部133がAFユニット119を制御して色収差補正レンズ125をプラスの方向にPITCH[OBType]分移動させる処理が行われ、その後はS110へと処理を戻し、色収差の更なる補正が必要か否かの判定が繰り返される。一方、上記の式が成立しないとき(判定結果がNoのとき)には、S116bにおいて、制御部133がAFユニット119を制御して色収差補正レンズ125をマイナスの方向にPITCH[OBType]分移動させる処理が行われ、その後はS110へと処理を戻し、色収差の更なる補正が必要か否かの判定が繰り返される。
ここで、上記の式が成立するとき(判定結果がYesのとき)には、S116aにおいて、制御部133がAFユニット119を制御して色収差補正レンズ125をプラスの方向にPITCH[OBType]分移動させる処理が行われ、その後はS110へと処理を戻し、色収差の更なる補正が必要か否かの判定が繰り返される。一方、上記の式が成立しないとき(判定結果がNoのとき)には、S116bにおいて、制御部133がAFユニット119を制御して色収差補正レンズ125をマイナスの方向にPITCH[OBType]分移動させる処理が行われ、その後はS110へと処理を戻し、色収差の更なる補正が必要か否かの判定が繰り返される。
PITCH[OBType]は、色収差補正レンズ125の1回当たりの移動量を決める値であり、不揮発性メモリ404に予め格納されている値である。この値は対物レンズ105の種類によって異なるため、テーブルには0〜fまでの値がセットされている。本実施例においては、RAM402内のOBType番地に「c」がセットされているため、PITCH[OBType]として、不揮発性メモリ404のPITCH[c]番地の値が適用される。
ところで、前述したS111の判定処理において可視光とAF光との色収差の補正が不要である(若しくは更なる補正は不要である)と判定されたとき、すなわち、前掲した式が成立すると判定されたとき(判定結果がYesのとき)は、S115からS116bにかけての色収差補正のための処理は以降行わずに、S117において、色収差補正レンズ125の現在位置を示す値を、不揮発性メモリ404のAPOS[OffNum][COB]番地に格納する処理がCPU401によって行われる。
図10に示すように、不揮発性メモリ404には、この色収差補正レンズ125の位置を示す値を、2つのオフセットスイッチ(208、209)の押下状態とレボルバ穴の数とに対応づけて記憶しておくために、APOS[0][1]番地からAPOS[2][6]番地までの3×6=18個の格納領域が用意されている。本実施例の場合、RAM402内のOffNum番地の値は「2」(オフセット2スイッチ209が押下されている)であり、RAM402内のCOB番地の値は「1」であるので、色収差補正レンズ125の現在位置を示す値は不揮発性メモリ404のAPOS[2][1]番地に格納される。
以上のようにして、レボルバ穴1に装備された対物レンズ105を使用する場合における色収差補正レンズ125の自動補正処理が終了する。この自動補正処理をレボルバ穴の数だけ、また、オフセットをかけるサンプル102の数だけ実行すれば、色収差補正レンズ125の調整は完了する。
次にAF動作のための制御処理について説明する。
まずオフセット1スイッチ208及びオフセット2スイッチ209の両者が共に押下されていない状態で、レボルバ穴1の対物レンズ105が設定されている場合について説明する。
まずオフセット1スイッチ208及びオフセット2スイッチ209の両者が共に押下されていない状態で、レボルバ穴1の対物レンズ105が設定されている場合について説明する。
観察者はAF動作を開始させるべく、操作部134の追従スイッチ206を押下する。この押下操作を検出した制御部133は、不揮発性メモリ404内のAPOS[OffNum][COB]番地(本例においてはAPOS[0][1]番地)から色収差補正レンズ125の位置情報を読み出し、続けてAFI/O405dへ色収差補正レンズ125の駆動指示を与えて、当該位置情報で表されている位置へ色収差補正レンズ125を移動させる処理を行う。その後、制御部133はAFI/O405dへ光源駆動指示を与えてLD120を発光させると共に、また2分割PD130の出力信号データをA/D変換器132から受け取る処理を行う。そして、前述した演算を行ってAF信号を算出し、得られたAF信号に基づいてAF処理を行うことにより、ピントの合ったサンプル102の画像が得られる。
なお、この状態で、操作部117のCWスイッチ201を押下し、光軸上の対物レンズ105をレボルバ穴2に装備されているものへと切り替える指示を観察者が行うと、当該指示を検出した制御部133は、今度は不揮発性メモリ404内のAPOS[0][2]番地から色収差補正レンズ125の位置情報を読み出し、以下同様に、当該位置情報が示す位置へ色収差補正レンズ125を移動させてAF動作のための処理を実行する。この処理が実行されることにより、新たに選択された対物レンズ105においてもピントの合ったサンプル102の画像が得られる。
また、レボルバ穴を同一のものとしたまま(すなわち、対物レンズ105を切り替えることなく)、サンプル102を透明膜サンプルへと交換した場合には、例えばオフセット1スイッチ208を押下の後、追従スイッチ206若しくはワンショットスイッチ205を押下すると、制御部133は、不揮発性メモリ404内の今度はAPOS[1][2]番地から色収差補正レンズ125の位置情報を読み出し、以下同様に、当該位置情報が示す位置へ色収差補正レンズ125を移動させ、AF処理を実行する。この処理が実行されることにより、透明膜サンプルであってもピントの合ったサンプル102の画像が得られる。
以上詳細に説明したように、本実施例によれば、顕微鏡のAFにおいての色収差レンズの調整を、安価且つ容易に実現することができ、更に、透明膜や段差サンプルの観察において、当該サンプルの屈折率や高さの情報などが不明であっても、色収差レンズの再設定をすることなく、AF動作を提供できるようになる。
なお、上述した実施例においては、照明光として可視領域の光を使用し、AF光として赤外領域の光を使用していたが、これに限らず、この代わりに、例えば、照明光として紫外領域の光を使用し、AF光として可視領域若しくは赤外領域の光を使用するようにしてもよい。
本実施例は、IC等の自動検査装置などに組み込まれる顕微鏡ユニットで本発明に係るAF動作を実現するものである。
なお、本実施例においては、前述した実施例1と異なる部分を中心に説明する。
なお、本実施例においては、前述した実施例1と異なる部分を中心に説明する。
図11は、本実施例に係る顕微鏡ユニットの概略構成を示している。なお、同図において、図1に示されているものと同一の構成要素に対しては同一の符号を付している。
図11に示した顕微鏡ユニット1101は、例えばIC検査装置に設置されるものである。
図11に示した顕微鏡ユニット1101は、例えばIC検査装置に設置されるものである。
顕微鏡ユニット1101は、レボルバユニット104と、対物レンズ105と、照明ユニット109と、AFユニット119と、鏡筒114と、接眼レンズ115と、CCDカメラ116と、制御部1105と、を備えて構成されている。
IC検査装置は、顕微鏡ユニット1101に加え、X−Yステージ1102と、Zステージ1103と、顕微鏡ユニット1101をコマンドで操作するためのPC1104を備えている。PC1104には顕微鏡ユニット1101の操作用のコマンドを送受信するためのソフトウェアがインストールされている。観察者がこのソフトウェアをPC1104上で実行させて顕微鏡ユニット1101の操作を行うと、PC1104は、顕微鏡ユニット1101を制御する制御部1105に対して各種のコマンドによる指示を与える。
制御部1105は、図12に示すように、CPU401と、RAM402と、ROM403と、不揮発性メモリ404と、各ユニットとの間でのデータ授受を制御するI/O1305a〜1305dと、各ユニットのモータを駆動させるためのドライバ1306a及び1306cと、を備えて構成されている。なお、図12においては、Zステージドライバ1306bは、Zステージ1103に備えられているものとしている。
次に、図13について説明する。同図は、PC1104にインストールされているソフトウェアを実行することによって提供される、顕微鏡ユニット1101の操作のためのGUI(グラフィカル・ユーザ・インタフェース)の表示例である。
図13に示したGUIは、レボルバ操作ボタン群1201と、レボルバアサインボタン群1202と、AFボタン群1203と、ステージ操作ボタン群1204と、を備えて構成されており、PC1104に備えられている不図示の表示装置に表示される。
レボルバ操作ボタン群1201は、「1」番のレボルバ穴に装備されている対物レンズ105を光軸上に位置させるためのレボルバ1操作ボタン1201aと、以下同様の、レボルバ2〜6操作ボタン1201b〜1201fを備えて構成されている。
レボルバアサインボタン群1202は、レボルバ穴選択部1202aと、対物レンズ選択部1202bと、セットボタン1202cと、を備えて構成されている。レボルバ穴選択部1202aで選択したレボルバ穴に対し、装備する対物レンズ105の種類を対物レンズ選択部1202bで選択した上で、セットボタン1202cを押下操作すると、PC1104は、コマンド「SetOB“COB”,“対物レンズ番号”」を制御部1105へ送信する。このコマンドを受信した制御部1105では、CPU401がRAM402のOB[COB]番地へ、対物レンズ105の種類と倍率についての情報を格納する。
図13に示されている例では、レボルバ穴選択部1202aによりレボルバ穴番号が「1」とされ、対物レンズ選択部1202bにより対物レンズの種類として「ユニバーサル5×」が選択されたので、PC1104は、PC1104内部に予め格納されている図8のアサイン表801を参照し、制御部1105へ「SetOB1,5」なるコマンドを送信する処理を行う。制御部1105ではこのコマンドを受信すると、CPU401がRAM402のOB[1]番地へ「5」を格納する。
ステージ操作ボタン群1204は、X−Yステージ操作ボタン群1204aと、Zステージ操作ボタン群1204bとを備えて構成されている。X−Yステージ操作ボタン群1204aへの押下操作を示すコマンドをPC1104から受信すると、制御部1105は、図示していない、X−Yステージドライバヘコマンドを送信して当該押下操作に応じた方向へX−Yステージ1102を移動させる。また、Zステージ操作ボタン群1204bへの押下操作を示すコマンドをPC1104から受信すると、制御部1105は、Zステージ1103に備えられているZステージドライバ1306bヘコマンドを送信してZステージモータ1136を駆動させ、当該押下操作に応じた方向へZステージ1103を移動させる。
AFボタン群1203は、ワンショットボタン1203aと、追従ボタン1203bと、色収差調整ボタン1203cと、オフセット1ボタン1203dと、オフセット2ボタン1203eと、を備えて構成されている。
ワンショットボタン1203aへの押下操作を検出すると、PC1104はワンショットモードAFを実行するコマンドを制御部1105へ送信し、追従ボタン1203bへの押下操作を検出すると、PC1104は、同様に、追従モードAFを実行するコマンドを制御部1105へ送信する。制御部1105では、受信したコマンドに応じて、ワンショットモードでのAF動作若しくは追従モードでのAF動作を実行する。
また、色収差調整ボタン1203cへの押下操作を検出すると、PC1104は、オフセット1ボタン1203d及びオフセット2ボタン1203eの状態に応じ、制御部1105へ所定のコマンドを送信する。制御部1105では、このコマンドを受信すると、色収差補正レンズ125の自動調整の制御を、後述のように実行する。
次に、図11に示した顕微鏡ユニットの具体的な動作について説明する。
まず、顕微鏡ユニット1101の電源をONにする。すると、顕微鏡ユニット1101では初期化処理が行われる。顕微鏡ユニット1101の電源をONにすると、まず制御部1105内のCPU401が初期化され、現在設定されているレボルバ穴番号がレボルバセンサ群108の現在位置センサから取得されてRAM402内のCOB番地にセットされる。この他、周辺の各ユニットの初期化が行われ、顕微鏡ユニット1101の初期化が終了する。
まず、顕微鏡ユニット1101の電源をONにする。すると、顕微鏡ユニット1101では初期化処理が行われる。顕微鏡ユニット1101の電源をONにすると、まず制御部1105内のCPU401が初期化され、現在設定されているレボルバ穴番号がレボルバセンサ群108の現在位置センサから取得されてRAM402内のCOB番地にセットされる。この他、周辺の各ユニットの初期化が行われ、顕微鏡ユニット1101の初期化が終了する。
次に、色収差補正レンズ125の調整について、図14に示したフローチャートに沿って説明する。
まず、観察者は、接眼レンズ115の像、またはCCDカメラ116からの画像を観察し、可視光が投光されているサンプル102をピント位置へ配置するべく、ステージ操作ボタン群1204に対する押下操作を行う。S201では、制御部1105がこの押下操作の内容をPC1104から取得し、取得結果に応じてZステージ1103を移動させる処理が行われる。
まず、観察者は、接眼レンズ115の像、またはCCDカメラ116からの画像を観察し、可視光が投光されているサンプル102をピント位置へ配置するべく、ステージ操作ボタン群1204に対する押下操作を行う。S201では、制御部1105がこの押下操作の内容をPC1104から取得し、取得結果に応じてZステージ1103を移動させる処理が行われる。
ここで、サンプル102が透明膜サンプルや段差サンプルである場合には、色収差補正レンズ125の設定位置が通常のものとは異なるため、色収差補正レンズ125の位置を通常サンプルとは別なメモリ領域へ登録する必要がある。この場合には、観察する面へピントを合わせた上で、オフセット1ボタン1203d若しくはオフセット2ボタン1203eを押下操作することにより、その旨がPC1104から制御部1105へ伝えられる。
次に、観察者による色収差調整ボタン1203cへの押下操作がなされると、PC1104では、その押下操作を検出する処理がS202において行われる。続くS203では、オフセット1ボタン1203d及びオフセット2ボタン1203eの押下状態を確認する処理が行われる。ここで、オフセット1ボタン1203d及びオフセット2ボタン1203eの両者が共に押下されていなければ、S204aにおいて、RAM402内のOffNum番地の値を「0」にセットする処理がCPU401で行われる。一方、ここで、オフセット1ボタン1203dが押下されていたならば、S204bにおいて、RAM402内のOffNum番地の値を「1」にセットする処理が行われ、オフセット2ボタン1203eが押下されていたならば、S204cにおいて、RAM402内のOffNum番地の値を「2」にセットする処理が行われる。
その後、S205において、PC1104では、コマンド「SetAberCOB,Offnum」を制御部133へ送信する処理が行われる。ここで、光軸に現在挿入されている対物レンズ105が装備されているレボルバ穴は「1」であり、また、現在はオフセット2ボタン1203eが押下されているので、送信されるコマンドは、「SetAber1,2」となる。
制御部133は、上記のコマンドを受信すると、色収差レンズ自動調整モードでの動作を開始する。以後のS206からS217bにかけての処理は、実施例1における図9のS105からS116bにかけての処理と同様であるので、その説明を省略する。
以上のように、本実施例によれば、装置組み込み用のAF機能付き顕微鏡ユニットにおいて、色収差レンズの調整を、安価且つ容易に実現することができ、更に、透明膜や段差サンプルの観察おいて、当該サンプルの屈折率や高さの情報などが不明であっても、色収差レンズの再設定をすることなく、AF動作を提供できるようになる。
本実施例は、顕微鏡ユニットをコントロールするPC上で制御プログラムを実行することによって、本発明に係るAF動作を実現させるものである。
本実施例に係る顕微鏡ユニットの概略構成は、図11に示した実施例2に係るものと同様であるので、説明を省略する。また、PC1104にインストールされているソフトウェアを実行することによって提供される、顕微鏡ユニット1101の操作のためのGUIの表示例も、図13に示したものと同様のものである。
本実施例に係る顕微鏡ユニットの概略構成は、図11に示した実施例2に係るものと同様であるので、説明を省略する。また、PC1104にインストールされているソフトウェアを実行することによって提供される、顕微鏡ユニット1101の操作のためのGUIの表示例も、図13に示したものと同様のものである。
まず、本実施例におけるAF動作のための制御処理について説明する。
図13において、ワンショットボタン1203a若しくは追従ボタン1203bへの押下操作を検出すると、PC1104では、押下操作されたボタンの種類に応じてコマンド「AFOne」若しくは「AFTrace」を制御部1105へ送信する処理が行われる。顕微鏡ユニット1101の動作を制御する制御部1105は、このコマンドを受信すると、実施例1で説明したものと同様のAF動作のための制御処理を実行する。そして、AF動作が正常に終了した場合には正常終了を示すレスボンスをPC1104へ送信し、異常終了した場合にはエラーを示すレスポンスをPC1104へ送信する。
図13において、ワンショットボタン1203a若しくは追従ボタン1203bへの押下操作を検出すると、PC1104では、押下操作されたボタンの種類に応じてコマンド「AFOne」若しくは「AFTrace」を制御部1105へ送信する処理が行われる。顕微鏡ユニット1101の動作を制御する制御部1105は、このコマンドを受信すると、実施例1で説明したものと同様のAF動作のための制御処理を実行する。そして、AF動作が正常に終了した場合には正常終了を示すレスボンスをPC1104へ送信し、異常終了した場合にはエラーを示すレスポンスをPC1104へ送信する。
次に、色収差補正レンズ125の調整について、図15に示したフローチャートを用いて説明する。なお、このフローチャートで示されている処理をPC1104に行わせるためには、所定の制御プログラムをPC1104で実行させることで可能となる。
まず、観察者は、接眼レンズ115の像、またはCCDカメラ116からの画像を観察し、可視光が投光されているサンプル102をピント位置へ配置するべく、ステージ操作ボタン群1204に対する押下操作を行う。S301では、制御部1105がこの押下操作の内容をPC1104から取得し、取得結果に応じてZステージ1103を移動させる処理が行われる。
ここで、サンプル102が透明膜サンプルや段差サンプルである場合には、色収差補正レンズ125の設定位置が通常のものとは異なるため、色収差補正レンズ125の位置を通常サンプルとは別なメモリ領域へ登録する必要がある。この場合には、観察する面へピントを合わせた上で、オフセット1ボタン1203d若しくはオフセット2ボタン1203eを押下操作することにより、その旨がPC1104から制御部1105へ伝えられる。
次に、観察者による色収差調整ボタン1203cへの押下操作がなされると、PC1104では、その押下操作を検出する処理がS302において行われる。続くS303では、オフセット1ボタン1203d及びオフセット2ボタン1203eの押下状態を確認する処理が行われる。ここで、オフセット1ボタン1203d及びオフセット2ボタン1203eの両者が共に押下されていなければ、S304aにおいて、図16にメモリテーブルが示されているPC1104内のメモリ(不図示)におけるOffNum番地の値を「0」にセットする処理が行われる。一方、ここで、オフセット1ボタン1203dが押下されていたならば、S304bにおいて、PC1104内のメモリにおけるOffNum番地の値を「1」にセットする処理が行われ、オフセット2ボタン1203eが押下されていたならば、S304cにおいて、PC1104内のメモリにおけるOffNum番地の値を「2」にセットする処理が行われる。
なお、以下の説明においては、レボルバ穴1について「c」(長作動5×)の対物レンズが装備され、且つオフセット2ボタン1203eが押下されている場合を本実施例の場合として説明する。
S305では、現在のZステージ1103の位置、すなわち可視光でのピント位置を取得するため、Zステージ位置確認コマンドを制御部1105へ送信し、このコマンドを受信した制御部1105から送られてくるZステージ1103の現在位置を示す情報を、PC1104内のメモリにおけるTPOS番地にセットする処理が行われ、続くS306において、設定されている対物レンズ105の種類、倍率をセットするべく、OB[COB]番地の値をPC1104内のメモリにおけるOBType番地(図16で不図示)にセットする処理が行われる。なお、本実施例の場合、PC1104内のメモリにおけるCOB番地の値は「1」、すなわち、現在は、「1」番のレボルバ穴に装備されている対物レンズ105が光軸上に位置しているので、OB[1]の値、すなわち「c」がPC1104内のメモリにおけるOBType番地にセットされる。
S307では、PC1104からコマンド「AFTrace」を制御部1105へ送付し、制御部1105に顕微鏡ユニット1101の制御をさせてAF追従モードでのAF動作を実行させる処理が行われる。そして、S308において、制御部1105から送られてきたレスポンスに基づいてAF動作の成否を判定する処理がPC1104で行われる。ここで、AFが失敗したと判定した場合には、S309において、AFの失敗を示すエラー表示をPC1104の表示装置に表示し、その後はこの図15のフローを抜ける。
一方、AF動作が成功した場合には、S310において、Zステージ位置確認コマンドをPC1104から制御部1105へと送信し、このコマンドを受信した制御部1105から送られてくるZステージ1103の現在位置、すなわちAF光でのピント位置を示す情報をPC1104内のメモリにおけるCPOS番地にセットする処理が行われる。
続いてS311では、下記の式の成否を判定して、対物レンズ105による可視光と可視外光(ここではLD120で発光させるAF光)との色収差の補正が必要か否かを判定する処理が行われる。
(TPOS−TH[OBType])<CPOS<(TPOS+TH[OBType])
本実施例においては、上記の式におけるTH[OBType]も、PC1104内のメモリ(図16)に予め格納されている値である。この値は対物レンズ105により異なるため、この値には対物レンズ105の種類に応じた0〜fまでの16種類の値が予め設定されている。本実施例においては、PC1104内のメモリにおけるOBType番地に「c」がセットされているため、TH[OBType]として、不揮発性メモリ404のTH[c]番地の値が適用される。
(TPOS−TH[OBType])<CPOS<(TPOS+TH[OBType])
本実施例においては、上記の式におけるTH[OBType]も、PC1104内のメモリ(図16)に予め格納されている値である。この値は対物レンズ105により異なるため、この値には対物レンズ105の種類に応じた0〜fまでの16種類の値が予め設定されている。本実施例においては、PC1104内のメモリにおけるOBType番地に「c」がセットされているため、TH[OBType]として、不揮発性メモリ404のTH[c]番地の値が適用される。
実施例1と同様、TH[OBType]の値は、対物レンズ105の焦点深度の範囲を表している。従って、S311において、上掲した式が成立しない(判定結果がNo)ということは、Zステージ1103の現在の位置(AF光でのピント位置)と、S305の処理においてセットしたTPOS(可視光でのピント位置)との差が、対物レンズ105の焦点深度以上に異なっているということであり、これはすなわち、可視光とAF光との色収差の補正が必要であるということを意味している。
そこで、S311の判定結果がNoの場合には、S312において、ループカウンタiをインクリメントする処理がPC1104で行われ、続くS313において、ループカウンタiが指定回数Iに達したか否かを判定する処理が行われる。このS313の判定処理において、ループカウンタiが指定回数Iに達したと判定されたとき(判定結果がYesのとき)は、S314において、タイムアウト表示をPC1104の表示装置で行い、その後はこの図15のフローを抜ける。
一方、S313の判定処理において、ループカウンタiが未だ指定回数Iには達していないと判定されたとき(判定結果がNoのとき)には、S315において、下記の式の成否を判定する処理が行われる。
(TPOS−TH[OBType])≧CPOS
ここで、上記の式が成立するとき(判定結果がYesのとき)には、S316において、PC1104が制御部1105へAFユニット119を制御するための所定のコマンドを送付して、色収差補正レンズ125をプラスの方向にPITCH[OBType]分移動させる処理が行われ、その後はS310へと処理を戻し、色収差の更なる補正が必要か否かの判定が繰り返される。一方、上記の式が成立しないとき(判定結果がNoのとき)には、S317において、PC1104が制御部1105へAFユニット119を制御するための所定のコマンドを送付して、色収差補正レンズ125をマイナスの方向にPITCH[OBType]分移動させる処理が行われ、その後はS310へと処理を戻し、色収差の更なる補正が必要か否かの判定が繰り返される。
ここで、上記の式が成立するとき(判定結果がYesのとき)には、S316において、PC1104が制御部1105へAFユニット119を制御するための所定のコマンドを送付して、色収差補正レンズ125をプラスの方向にPITCH[OBType]分移動させる処理が行われ、その後はS310へと処理を戻し、色収差の更なる補正が必要か否かの判定が繰り返される。一方、上記の式が成立しないとき(判定結果がNoのとき)には、S317において、PC1104が制御部1105へAFユニット119を制御するための所定のコマンドを送付して、色収差補正レンズ125をマイナスの方向にPITCH[OBType]分移動させる処理が行われ、その後はS310へと処理を戻し、色収差の更なる補正が必要か否かの判定が繰り返される。
PITCH[OBType]は、色収差補正レンズ125の1回当たりの移動量を決める値であり、PC1104内のメモリに予め格納しておく値である。この値は対物レンズ105の種類によって異なるため、テーブルには0〜fまでの値がセットされている。本実施例においては、PC1104内のメモリにおけるOBType番地に「c」がセットされているため、PITCH[OBType]として、当該メモリのPITCH[c]番地の値が適用される。
ところで、前述したS311の判定処理において、可視光とAF光との色収差の補正が不要である(若しくは更なる補正は不要である)と判定されたとき、すなわち、前掲した式が成立すると判定されたとき(判定結果がYesのとき)は、S315からS317にかけての色収差補正のための処理は以降行わずに、S318において、色収差補正レンズ125の現在位置を示す値を、PC1104内のメモリにおけるAPOS[OffNum][COB]番地に格納する処理がPC1104によって行われる。
図16に示すように、PC1104内のメモリには、この色収差補正レンズ125の位置を示す値を、2つのオフセットボタン(1203d、1203e)の押下状態とレボルバ穴の数とに対応づけて記憶しておくために、APOS[0][1]番地からAPOS[2][6]番地までの3×6=18個の格納領域が用意されている。本実施例の場合、PC1104内のメモリにおけるOffNum番地の値は「2」(オフセット2ボタン1203eが押下されている)であり、当該メモリにおけるCOB番地の値は「1」であるので、色収差補正レンズ125の現在位置を示す値は当該メモリにおけるAPOS[2][1]番地に格納される。
以上のようにして、レボルバ穴1に装備された対物レンズ105を使用する場合における色収差補正レンズ125の自動補正処理が終了する。この自動補正処理をレボルバ穴の数だけ、また、オフセットをかけるサンプル102の数だけ実行すれば、色収差補正レンズ125の調整は完了する。
以上詳細に説明したように、本実施例によれば、顕微鏡ユニットを制御するPCに対してソフトウェアを提供することで、既存の顕微鏡ユニットに対してハードウェアの追加や変更を行うことなく本発明の効果、すなわち、色収差レンズの調整を、安価且つ容易に実現することができ、更に、透明膜や段差サンプルの観察おいて、当該サンプルの屈折率や高さの情報などが不明であっても、色収差レンズの再設定をすることなく、AF動作を提供できるようになる、という効果をもたらすことができる。
以上、本発明の実施形態を説明したが、本発明は、上述した各実施形態に限定されることなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の改良・変更が可能である。
例えば、上述した各実施例において、色収差補正レンズの自動調整は、追従AFを実行の後、色収差補正レンズ125を移動させ、予め登録してある観察光学系のピント位置(メモリのTPOS番地の値)に対し、
(TPOS−TH[OBType])<CPOS<(TPOS+TH[OBType])
の成否を判定し、上記の式が成立したときの位置を色収差補正レンズ125の調整値としていた。この代わりに、予め登録してある観察光学系のピント位置(メモリのTPOS番地の値)にZステージ(117若しくは1103)を固定した状態で、色収差補正レンズ125を移動させ、
−FTH<(A−B)/(A+B)<+FTH
が成り立つ色収差補正レンズ125の位置を色収差補正レンズ125の調整値としてもよい。
例えば、上述した各実施例において、色収差補正レンズの自動調整は、追従AFを実行の後、色収差補正レンズ125を移動させ、予め登録してある観察光学系のピント位置(メモリのTPOS番地の値)に対し、
(TPOS−TH[OBType])<CPOS<(TPOS+TH[OBType])
の成否を判定し、上記の式が成立したときの位置を色収差補正レンズ125の調整値としていた。この代わりに、予め登録してある観察光学系のピント位置(メモリのTPOS番地の値)にZステージ(117若しくは1103)を固定した状態で、色収差補正レンズ125を移動させ、
−FTH<(A−B)/(A+B)<+FTH
が成り立つ色収差補正レンズ125の位置を色収差補正レンズ125の調整値としてもよい。
この他、実施例1では、操作部134のみによって顕微鏡に対する操作を行うようにしていたが、外部から送られてくるコマンドによって各種の操作や色収差補正レンズ125の自動調整を行えるようにしてもよい。一方、実施例2及び実施例3においては、PC1104によるコマンドの送付のみによって顕微鏡ユニット1101に対する各種の操作を行うようにしていたが、例えば実施例1のような操作部を設け、操作部によって顕微鏡ユニット1101に対する各種の操作を行えるようにしてもよい。
また、各実施例において、メモリに格納していたAPOS番地の値は、位置を特定する絶対値としてもよく、また、基準位置からの相対値としてもよい。
また、実施例1においては、設定部135としてロータリー式スイッチ301を備えるようにしていたが、その代わりに、レボルバ穴に装備される対物レンズ105の種類及び倍率の設定を、操作部134から行えるようにしてもよく、また、顕微鏡本体101をコントロールするために設けられるPCから行えるようにしてもよい。また、設定部135には、ロータリー式スイッチ301の代わりに、レバー式、シーソー式、トグル式、スライド式、プッシュ式等のスイッチを用いて構成するようにしてもよい。
また、実施例1においては、設定部135としてロータリー式スイッチ301を備えるようにしていたが、その代わりに、レボルバ穴に装備される対物レンズ105の種類及び倍率の設定を、操作部134から行えるようにしてもよく、また、顕微鏡本体101をコントロールするために設けられるPCから行えるようにしてもよい。また、設定部135には、ロータリー式スイッチ301の代わりに、レバー式、シーソー式、トグル式、スライド式、プッシュ式等のスイッチを用いて構成するようにしてもよい。
また、各実施例においては色収差補正レンズ125の調整を自動で行うようにしていたが、手動による調整も行えるようにしても勿論かまわない。但し、そのためには、色収差補正レンズ125を手動で移動させるための機構を備える必要があることは言うまでもない。
また、各実施例において、メモリに予め格納されているPITCHやTH等の値は固定としていたが、観察者が任意に変更できるものとしてもよい。但し、そのためには、これらの値を変更するための手段を設定部に設ける、あるいは、値変更用のコマンドを別途用意する必要があることは言うまでもない。
また、各実施例において、観察法に応じ、色収差補正レンズ125の位置の設定や、TH、PITCH、及びFTHの値の設定を変更できるようにしてもよい。但し、そのためには、観察方法分のテーブルのための記憶領域をメモリに確保する必要があることは言うまでもない。
また、実施例2において、Zステージ1103の位置制御は制御部1105が行うようにしていたが、PC1104が当該制御を直接行えるようにしてもよい。
また、図9、図14、及び図15に示した各フローチャートを用いて各動作を説明したが、詳細なフローの順番や各処理ステップでの処理内容についてはこれらの図に示されているもののみに限定されるものではない。
また、図9、図14、及び図15に示した各フローチャートを用いて各動作を説明したが、詳細なフローの順番や各処理ステップでの処理内容についてはこれらの図に示されているもののみに限定されるものではない。
また、各実施例においては、色収差の自動調整を1つの対物レンズ105で終える度に、観察者は対物レンズ105を別のものへと切換えた上で色収差の自動調整の開始の指示を出すようにしていたが、その代わりに、観察者からの1回のみの指示を受け取ることにより、装備されている対物レンズ105の全て、若しくは指定した少なくとも2つ以上の対物レンズ105について、自動での対物レンズ105の切り替え及び色収差の自動補正を実施する制御を制御部(113若しくは1105)あるいはPC1104が行うようにすることも可能である。
101 顕微鏡本体
102 サンプル
103、1102 X−Yステージ
104 レボルバユニット
105 対物レンズ
106 マウンタ
107 レボルバモータ
108 レボルバセンサ群
109 照明ユニット
110 顕微鏡光源
111 照明系レンズ
112 光学絞り
113 ハーフミラー
114 鏡筒
115 接眼レンズ
116 CCDカメラ
117、1103 Zステージ
118 ズーム機構
119 AFユニット
120 レーザダイオード
121 光源駆動部
122 投光側ストッパ
123 偏光ビームスプリッタ
124 集光レンズ
125 色収差補正レンズ
126 λ/4板
127 ダイクロックミラー
128 受光側ストッパ
129 受光側集光レンズ
130 2分割フォトダイオード
131 増幅器
132 A/D変換器
133、1105 制御部
134 操作部
135 設定部
136、1136 Zステージモータ
201 CWスイッチ
202 CCWスイッチ
203 UPスイッチ
204 DOWNスイッチ
205 ワンショットスイッチ
206 追従スイッチ
207 色収差補正スイッチ
208 オフセット1スイッチ
209 オフセット2スイッチ
301(301a〜301f) ロータリー式スイッチ
401 CPU
402 RAM
403 ROM
404 不揮発性メモリ
405a、1305a レボルバユニットI/O
405b、1305b ZステージI/O
405c 操作部I/O
405d、1305d AFI/O
405e 設定部I/O
406a、1306a レボルバドライバ
406b、1306b Zステージドライバ
406c、1306c 色収差レンズドライバ
1101 顕微鏡ユニット
1104 PC
1201 レボルバ操作ボタン群
1201a〜1201f レボルバ操作ボタン
1202 レボルバアサインボタン群
1202a レボルバ穴選択部
1202b 対物レンズ選択部
1202c セットボタン
1203 AFボタン群
1203a ワンショットボタン
1203b 追従ボタン
1203c 色収差調整ボタン
1203d オフセット1ボタン
1203e オフセット2ボタン
1204 ステージ操作ボタン群
1204a X−Yステージ操作ボタン群
1204b Zステージ操作ボタン群
1305c コマンドI/O
1701、1702、1703 集光点
102 サンプル
103、1102 X−Yステージ
104 レボルバユニット
105 対物レンズ
106 マウンタ
107 レボルバモータ
108 レボルバセンサ群
109 照明ユニット
110 顕微鏡光源
111 照明系レンズ
112 光学絞り
113 ハーフミラー
114 鏡筒
115 接眼レンズ
116 CCDカメラ
117、1103 Zステージ
118 ズーム機構
119 AFユニット
120 レーザダイオード
121 光源駆動部
122 投光側ストッパ
123 偏光ビームスプリッタ
124 集光レンズ
125 色収差補正レンズ
126 λ/4板
127 ダイクロックミラー
128 受光側ストッパ
129 受光側集光レンズ
130 2分割フォトダイオード
131 増幅器
132 A/D変換器
133、1105 制御部
134 操作部
135 設定部
136、1136 Zステージモータ
201 CWスイッチ
202 CCWスイッチ
203 UPスイッチ
204 DOWNスイッチ
205 ワンショットスイッチ
206 追従スイッチ
207 色収差補正スイッチ
208 オフセット1スイッチ
209 オフセット2スイッチ
301(301a〜301f) ロータリー式スイッチ
401 CPU
402 RAM
403 ROM
404 不揮発性メモリ
405a、1305a レボルバユニットI/O
405b、1305b ZステージI/O
405c 操作部I/O
405d、1305d AFI/O
405e 設定部I/O
406a、1306a レボルバドライバ
406b、1306b Zステージドライバ
406c、1306c 色収差レンズドライバ
1101 顕微鏡ユニット
1104 PC
1201 レボルバ操作ボタン群
1201a〜1201f レボルバ操作ボタン
1202 レボルバアサインボタン群
1202a レボルバ穴選択部
1202b 対物レンズ選択部
1202c セットボタン
1203 AFボタン群
1203a ワンショットボタン
1203b 追従ボタン
1203c 色収差調整ボタン
1203d オフセット1ボタン
1203e オフセット2ボタン
1204 ステージ操作ボタン群
1204a X−Yステージ操作ボタン群
1204b Zステージ操作ボタン群
1305c コマンドI/O
1701、1702、1703 集光点
Claims (7)
- 照明光が投光された試料からの光を結像させて当該試料の像を得る観察光学系を有した顕微鏡に搭載される焦点検出装置において、
前記観察光学系内の対物レンズを通して焦点検出のための測定光が投光された前記試料からの反射光に基づいて、前記像を合焦させる制御を行う合焦制御手段と、
前記対物レンズによる前記照明光と前記測定光との色収差の補正が必要か否かの判定を行う判定手段と、
前記判定の結果に応じて前記色収差を補正する色収差補正手段と、
を有することを特徴とする焦点検出装置。 - 前記判定手段は、前記観察光学系により得られる前記像の合焦時における前記試料の位置に関する情報と、前記合焦制御手段による制御がなされたときにおける当該試料の位置に関する情報とに基づいて前記判定を行うことを特徴とする請求項1に記載の焦点検出装置。
- 前記判定手段は、前記観察光学系により得られる前記像の合焦時における前記試料の光軸方向の位置と、前記合焦制御手段による制御がなされたときにおける当該試料の光軸方向の位置との差異が、前記対物レンズの焦点深度よりも大きい場合には、前記補正が必要との判定を下すことを特徴とする請求項2に記載の焦点検出装置。
- 前記判定手段は、前記色収差補正手段による補正後においても前記色収差の更なる補正が必要か否かの判定を繰り返し行い、
前記色収差補正手段は、前記色収差の更なる補正が不要との判定を前記判定手段が下す程度まで当該色収差の補正を行う、
ことを特徴とする請求項1に記載の焦点検出装置。 - 前記色収差補正手段は、前記測定光の光路に挿入され、前記対物レンズによる当該測定光の焦点位置を変化させるレンズ群であることを特徴とする請求項1に記載の焦点検出装置。
- 前記観察光学系内の対物レンズは交換可能であり、
前記色収差補正手段による前記色収差の補正量に関する情報を前記観察光学系で使用される対物レンズ毎に対応付けて記憶しておく記憶手段を更に有する、
ことを特徴とする請求項1に記載の焦点検出装置。 - 請求項1から6までのうちのいずれか一項に記載の焦点検出装置を備えたことを特徴とする顕微鏡装置。
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JP2005231750A JP2007047447A (ja) | 2005-08-10 | 2005-08-10 | 焦点検出装置及びこれを備えた顕微鏡装置 |
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