JP2007047040A - コンタクトプローブ - Google Patents
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Abstract
【課題】 プリント配線板類の配線回路の短絡状態等の検査をするためのコンタクトプローブとして、プリント配線板類の検査ポイント部が損傷する恐れがないとともに、慣用のものに比して、構造が簡単で、製作コストが安価なものを提供する。
【解決手段】 コンタクトピン１１の先端のフランジ形ヘッド１２の外端面に、導電性接着剤１３を介して、ヘッド１２と実質上同径でかつ上端面が凸面（凸球面）状の導電性ゴム製の接触子１４を接着する。プリント配線板類の検査ポイントに対しては、接触子１４を弾性の圧縮変形状態で当接する。
【選択図】 図１
【解決手段】 コンタクトピン１１の先端のフランジ形ヘッド１２の外端面に、導電性接着剤１３を介して、ヘッド１２と実質上同径でかつ上端面が凸面（凸球面）状の導電性ゴム製の接触子１４を接着する。プリント配線板類の検査ポイントに対しては、接触子１４を弾性の圧縮変形状態で当接する。
【選択図】 図１
Description
この発明は、プリント配線板類の配線回路の短絡状態などの検査に用いるコンタクトプローブの改良に関する。
この種のコンタクトプローブとしては、コンタクトピンをコイルばね内蔵のソケットに、コイルばねによる前進付勢状態で挿着したものが慣用されている（例えば、特許文献１参照）。
しかしながらこの慣用のコンタクトプローブには、コイルばねの前進付勢力によって、コンタクトピンの先端をプリント配線板類の検査ポイントに接触（当接）するため、プリント配線板類の検査ポイント部が損傷し易いという問題がある。
また慣用のコンタクトプローブを構成するコンタクトピン、ソケット及びコイルばねは、いずれもサイズ（特に径、長さ）が小さく、取扱いにくいとともに、製作時にはソケット内へのコンタクトピンやコイルばねの挿着操作が必要であるため、組立コスト、従って製作コストの低減が図りにくいという問題もある。
特開２００１−４１９７６号公報
この発明は、慣用のコンタクトプローブに認められる上記のような問題に鑑み、コンタクトプローブとして、プリント配線板類の検査ポイント部が損傷する恐れがないとともに、慣用のコンタクトプローブに比して、構造が簡単で、製作コストが安価なものを提供することを課題としている。
この発明によれば、上記の課題を解決するために、特許請求の範囲の請求項１に記載のように、先端（ヘッド）に導電性ゴムからなる接触子を取り付け（付着し）たコンタクトピンからなるコンタクトプローブを提供する。
請求項１記載のコンタクトプローブにおいては、請求項２に記載のごとく、コンタクトピンの先端に対する接触子の取り付けは、接着又は溶着（融着）を介して行うことが望ましい。
特許請求の範囲の請求項１及び２に記載のコンタクトプローブは、プリント配線板類の短絡等の検査時には、コンタクトピンの先端に取り付けた導電性ゴム製の接触子を、弾性の圧縮変形状態で、プリント配線板類の検査ポイントに接触（当接）させるもので、このコンタクプローブによれば、接触子が導電製ゴム製であるため、検査ポイント部が損傷を受ける恐れはない。
またこのコンタクトプローブによれば、構成部材がコンタクトピンと導電性ゴム製の接触子の２つであり、かつサイズが小さいとは言え、コンタクトピンの先端に導電性ゴム製の接触子を取り付ける操作のみで製作することができるので、慣用のコンタクトプローブに比して、より低コストで提供することができる。
図面（図１）は、この発明に係るコンタクトプローブの好適な実施形態を略示したもので、コンタクトピン１１の先端のフランジ形ヘッド１２の外端面に、導電性接着剤１３を介して、ヘッド１２と実質上同径で上端面が凸面（凸球面）状の導電性ゴム製の接触子１４を接着した簡単な構造からなっている。
この図示したコンタクトプローブ１０は、プリント配線板類の短絡状態等の検査の際には、導電性ゴム製の接触子１４が弾性の圧縮変形状態でプリント配線板類の検査ポイントに当接するもので、検査ポイント部が損傷を受ける可能性はない。
この発明はこのほか、導電性ゴム製の接触子のコンタクトピンの先端に対する取り付けを、接触子の取付け部の溶着によって行うなど、種々の形態で実施することができるもので、上記の形態に限定されるものではない。
１０ コンタクトプローブ
１１ コンタクトピン
１２ ヘッド
１３ 導電性接着剤
１４ 導電性ゴム製の接触子
１１ コンタクトピン
１２ ヘッド
１３ 導電性接着剤
１４ 導電性ゴム製の接触子
Claims (2)
- 先端に導電性ゴムからなる接触子を取り付けたコンタクトピンからなるコンタクトプローブ。
- コンタクトピンの先端に対する接触子の取り付けが接着又は溶着である、請求項１記載のコンタクトプローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2005232336A JP2007047040A (ja) | 2005-08-10 | 2005-08-10 | コンタクトプローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2005232336A JP2007047040A (ja) | 2005-08-10 | 2005-08-10 | コンタクトプローブ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2007047040A true JP2007047040A (ja) | 2007-02-22 |
Family
ID=37849975
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2005232336A Pending JP2007047040A (ja) | 2005-08-10 | 2005-08-10 | コンタクトプローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2007047040A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100977491B1 (ko) | 2008-03-17 | 2010-08-23 | 리노공업주식회사 | 반도체 칩 검사용 탐침 장치 |
| JP2014102193A (ja) * | 2012-11-21 | 2014-06-05 | Toshiba Corp | 余寿命診断用のプローブおよび計測装置 |
-
2005
- 2005-08-10 JP JP2005232336A patent/JP2007047040A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100977491B1 (ko) | 2008-03-17 | 2010-08-23 | 리노공업주식회사 | 반도체 칩 검사용 탐침 장치 |
| JP2014102193A (ja) * | 2012-11-21 | 2014-06-05 | Toshiba Corp | 余寿命診断用のプローブおよび計測装置 |
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