JP2007033171A

JP2007033171A - 周波数成分測定装置

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Publication number: JP2007033171A
Application number: JP2005215453A
Authority: JP
Inventors: Hiroyuki Kurita; 裕之栗田
Original assignee: Advantest Corp
Current assignee: Advantest Corp
Priority date: 2005-07-26
Filing date: 2005-07-26
Publication date: 2007-02-08
Anticipated expiration: 2025-07-26
Also published as: US20090315999A1; DE112006001951T5; WO2007013302A1; JP4782502B2

Abstract

【課題】構成の簡略化、測定時間の短縮、測定精度の向上が可能な周波数成分測定装置を提供すること。
【解決手段】測定対象となる被測定信号が共通に入力され、被測定信号に対して周波数変換を行う複数の周波数変換手段としてのミキサ１０、２０、ローカル発振器１２、２２等と、複数の周波数変換手段のそれぞれによって周波数変換が行われた後の信号に基づいて周波数成分抽出およびイメージ除去を行う信号処理手段としての信号処理部４０とが備わっている。
【選択図】図１

Description

本発明は、スペクトラムアナライザ等において入力信号の周波数成分を測定する周波数成分測定装置に関する。

従来から、スペクトラムアナライザにおいて３段の周波数変換を行うことによってイメージ除去を行う手法（例えば、特許文献１参照。）、複数回の周波数掃引動作を行った結果を用いてイメージ除去を行う手法（例えば、特許文献２参照。）が知られている。
特開２０００−３２９８０６号公報（第２−４頁、図１−４）国際公開第０２／２９４２６号パンフレット（第１０−２３頁、図７−２２）

ところで、特許文献１に開示された手法では、３段の周波数変換を行うために３つのミキサとこれら３つのミキサの間に挿入されるバンドパスフィルタが必要になって構成が複雑になるという問題があった。

また、特許文献２に開示された手法では、複数回の周波数掃引が必要になるため周波数成分の測定時間がその分だけ長くなるという問題があった。また、例えば２回の周波数掃引を行う場合を考えると、１回目の周波数掃引と２回目の周波数掃引において同じ信号が入力される必要があるため、周波数成分が変動する信号については正確な測定を行うことができず、測定精度が低下するという問題があった。

本発明は、このような点に鑑みて創作されたものであり、その目的は、構成の簡略化、測定時間の短縮、測定精度の向上が可能な周波数成分測定装置を提供することにある。

上述した課題を解決するために、本発明の周波数成分測定装置は、測定対象となる被測定信号が共通に入力され、被測定信号に対して周波数変換を行う複数の周波数変換手段と、複数の周波数変換手段のそれぞれによって周波数変換が行われた後の信号に基づいて周波数成分抽出およびイメージ除去を行う信号処理手段とを備えている。被測定信号に対して並行して周波数変換を行った結果に基づいて周波数成分抽出とイメージ除去を行っているため、従来のように３段あるいはそれ以上の縦続接続された構成によって周波数変換を繰り返し行う場合に比べて構成を簡略化することができる。また、共通の被測定信号について並行して周波数変換を行うことにより、複数回の周波数掃引を繰り返す必要がないため、測定時間の短縮が可能になるとともに、被測定信号の周波数成分の変動の影響もなくなるため測定精度の向上が可能になる。

また、上述した周波数変換手段は、被測定信号とローカル発振信号とを混合するミキサと、ローカル発振信号を生成するローカル発振器と、ミキサの出力信号の中から所定の周波数成分を抽出するバンドパスフィルタとを備え、バンドパスフィルタの通過中心周波数を、複数の周波数変換手段のそれぞれについて異ならせることが望ましい。これにより、複数の周波数変換動作のそれぞれにおいて発生するイメージの周波数を異ならせることができるため、検出対象となる真の周波数成分かイメージかの識別が可能になり、周波数成分抽出とイメージ除去を確実に行うことができる。

また、上述した信号処理手段は、複数の周波数変換手段のそれぞれに対応する複数のバンドパスフィルタの出力レベルが同時に所定値を超えた場合に被測定信号に含まれる真の周波数成分として判定し、複数のバンドパスフィルタのいずれか一方のみの出力レベルが所定値を超えた場合にはイメージとして判定することが望ましい。これにより、複数のバンドパスフィルタの出力レベルに基づいて容易に周波数成分抽出とイメージ除去を行うことが可能になる。

また、上述した複数の周波数変換手段のそれぞれについて、ローカル発振器から出力されるローカル発振信号の周波数に対してバンドパスフィルタの通過中心周波数だけ隔たった一方の周波数を、複数の周波数変換手段について一致させることが望ましい。これにより、複数の周波数変換手段のそれぞれに対応して設定されている測定対象の周波数を一致させることができるため、周波数成分の変動による影響を完全に除去することができ、測定精度の向上が可能となる。

また、上述した複数の周波数変換手段について一方の周波数を一致させた状態を維持しながら、複数の周波数変換手段のそれぞれに対応するローカル発振器で生成されるローカル発振信号の周波数を所定範囲で掃引する周波数掃引手段をさらに備えることが望ましい。これにより、周波数掃引の対象となる所定の周波数範囲全体について周波数成分抽出とイメージ除去が可能になる。

また、上述した周波数掃引手段によって掃引する周波数範囲について周波数と周波数成分の信号レベルとの関係を表示する表示装置をさらに備えることが望ましい。これにより、簡略化された構成によって短時間かつ高精度で測定した結果を表示することが可能になる。

また、上述したバンドパスフィルタは、デジタルフィルタによって実現されていることが望ましい。デジタルフィルタを用いることにより、アナログフィルタを用いる場合に比べて、通過中心周波数や帯域幅等の変更が容易となるため、ユーザの要求に適合した測定が可能になる。

また、上述した複数の周波数変換手段のそれぞれに対応して得られたアナログ信号をデジタルデータに変換するアナログ−デジタル変換器をさらに備え、信号処理手段は、アナログ−デジタル変換器から出力されるデジタルデータを用いた演算処理によって周波数成分抽出とイメージ除去を行うことが望ましい。特に、バンドパスフィルタは、信号処理手段による演算処理によって実現されることが望ましい。これにより、任意の特性を有するバンドパスフィルタをさらに容易に実現することが可能になる。

以下、本発明を適用した一実施形態の周波数成分測定装置としてのスペクトラムアナライザについて、図面を参照しながら詳細に説明する。図１は、一実施形態のスペクトラムアナライザの構成を示す図である。図１に示すように、本実施形態のスペクトラムアナライザは、ミキサ１０、２０、ローカル発振器１２、２２、ＬＰＦ（ローパスフィルタ）１４、２４、アナログ−デジタル変換器（ＡＤＣ）１６、２６、ＰＬＬ回路１８、２８、信号処理部４０、表示装置５０を備えている。

ミキサ１０は、一方の入力端子が信号入力端子ＩＮに、他方の入力端子がローカル発振器１２の出力端子にそれぞれ接続されており、信号入力端子ＩＮを介して入力される被測定信号ＲＦinと、ローカル発振器１２から出力されるローカル発振信号Ｌｏ₁との周波数を混合して中間周波信号ＩＦ₁を出力する。ミキサ１０の出力信号は、ローパスフィルタ１４を通してアナログ−デジタル変換器１６に入力される。ローパスフィルタ１４は、アナログ−デジタル変換器１６のサンプリング処理において発生する折り返し歪みを除去するためのものであり、このサンプリング処理におけるサンプリング周波数の１／２よりも低い所定のカットオフ周波数以下の成分のみを通過させる。アナログ−デジタル変換器１６は、ローパスフィルタ１４を通した後の中間周波信号ＩＦ₁をデジタルの中間周波データＤ_IF1に変換する。

同様に、ミキサ２０は、一方の入力端子が信号入力端子ＩＮに、他方の入力端子がローカル発振器２２の出力端子にそれぞれ接続されており、信号入力端子ＩＮを介して入力される被測定信号ＲＦinと、ローカル発振器２２から出力されるローカル発振信号Ｌｏ₂との周波数を混合して中間周波信号ＩＦ₂を出力する。ミキサ２０の出力信号は、ローパスフィルタ２４を通してアナログ−デジタル変換器２６に入力される。ローパスフィルタ２４は、アナログ−デジタル変換器２６のサンプリング処理において発生する折り返し歪みを除去するためのものであり、このサンプリング処理におけるサンプリング周波数の１／２よりも低い所定のカットオフ周波数以下の成分のみを通過させる。アナログ−デジタル変換器２６は、ローパスフィルタ２４を通した後の中間周波信号ＩＦ₂をデジタルの中間周波データＤ_IF2に変換する。

ローカル発振器１２は、一方のミキサ１０に入力するローカル発振信号Ｌｏ₁を発生する。ＰＬＬ（フェーズロックループ）回路１８は、ローカル発振器１２の発振周波数を所定値に制御する。このために、ＰＬＬ回路１８は、位相比較器（ＰＤ）１８Ａ、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）１８Ｂ、可変分周器１８Ｃを含んでいる。位相比較器１８Ａは、ローカル発振器１２から出力されるローカル発振信号Ｌｏ₁を可変分周器１８Ｃで分周した信号と基準周波数信号との位相比較を行い、比較結果に応じたデューティのパルスを出力する。このパルスがローパスフィルタ１８Ｂによって平滑されて制御電圧Ｖ１が生成され、電圧制御型発振器としてのローカル発振器１２に印加される。可変分周器１８Ｃは、分周比Ｎ１が変更可能であり、ローカル発振信号Ｌｏ₁を分周比Ｎ１で分周して位相比較器１８Ａに入力する。

また、ローカル発振器２２は、他方のミキサ２０に入力するローカル発振信号Ｌｏ₂を発生する。ＰＬＬ回路２８は、ローカル発振器２２の発振周波数を所定値に制御する。このために、ＰＬＬ回路２８は、位相比較器（ＰＤ）２８Ａ、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）２８Ｂ、可変分周器２８Ｃを含んでいる。位相比較器２８Ａは、ローカル発振器２２から出力されるローカル発振信号Ｌｏ₂を可変分周器２８Ｃで分周した信号と基準周波数信号との位相比較を行い、比較結果に応じたデューティのパルスを出力する。このパルスがローパスフィルタ２８Ｂによって平滑されて制御電圧Ｖ２が生成され、電圧制御型発振器としてのローカル発振器２２に印加される。可変分周器２８Ｃは、分周比Ｎ２が変更可能であり、ローカル発振信号Ｌｏ₂を分周比Ｎ２で分周して位相比較器２８Ａに入力する。

信号処理部４０は、例えばＤＳＰ（デジタル信号処理装置）によって構成されており、２つのアナログ−デジタル変換器１６、２６のそれぞれから入力された２種類の中間周波データＤ_IF1、Ｄ_IF2を用いて、イメージ除去を行いながら被検出信号ＲＦinの周波数成分の検出を行う。この信号処理部４０は、一方のアナログ−デジタル変換器１６から入力された中間周波データＤ_IF1に対して特定周波数帯域成分を通過させるバンドパスフィルタ（ＢＰＦ）４２と、他方のアナログ−デジタル変換器２６から入力された中間周波データＤ_IF2に対して特定周波数帯域成分を通過させるバンドパスフィルタ（ＢＰＦ）４４とを備えている。これら２つのバンドパスフィルタ４２、４４は、デジタルの演算処理によって実現されるデジタルフィルタであって、通過帯域幅や通過中心周波数を所定の範囲で調整することができる。また、信号処理部４０は、ＰＬＬ回路１８内の可変分周器１８Ｃの分周比Ｎ１と、ＰＬＬ回路２８内の可変分周器２８Ｃの分周比Ｎ２とを同時に変更することにより、２つのローカル発振器１２、２２のそれぞれから出力されるローカル発振信号Ｌｏ₁、Ｌｏ₂の周波数を連動して増加あるいは減少させる周波数掃引制御を行う。

表示装置５０は、信号処理部４０によって検出された被検出信号ＲＦinの周波数成分の検出結果を表示する。例えば、横軸に周波数を、縦軸に周波数成分毎の信号レベルを対応させた表示が行われる。

上述したミキサ１０、２０、ローカル発振器１２、２２、バンドパスフィルタ４２、４４が周波数変換手段に、信号処理部４０が信号処理手段にそれぞれ対応する。また、ＰＬＬ回路１８、２８が周波数掃引手段に対応する。

本実施形態のスペクトラムアナライザはこのような構成を有しており、次に、イメージ除去を行いながら被検出信号ＲＦinの周波数成分を測定する動作について説明する。図２は、本実施形態におけるローカル発振信号の周波数と検出可能な被検出信号ＲＦinの周波数との関係を示す図である。図２（Ａ）、（Ｂ）には一方のミキサ１０とローカル発振器１２との組み合わせに対応する関係が、図２（Ｃ）、（Ｄ）には他方のミキサ２０とローカル発振器２２との組み合わせに対応する関係がそれぞれ示されている。

一方のミキサ１０とローカル発振器１２との組み合わせに着目すると、これらに対応する信号処理部４０内のバンドパスフィルタ４２の通過中心周波数がｆ_IF1に設定されおり、ローカル発振器１２から出力されるローカル発振信号Ｌｏ₁の周波数ｆ_L1よりもｆ_IF1だけ低い周波数の信号成分ＳＡの検出が行われる（図２（Ａ））。しかし、実際には、ローカル発振信号Ｌｏ₁の周波数ｆ_L1よりもｆ_IF1だけ高い周波数の信号成分ＳＢも同時に検出され（図２（Ｂ））、この信号成分がイメージとして混入する。

同様に、一方のミキサ２０とローカル発振器２２との組み合わせに着目すると、これらに対応する信号処理部４０内のバンドパスフィルタ４４の通過中心周波数がｆ_IF2に設定されおり、ローカル発振器２２から出力されるローカル発振信号Ｌｏ₂の周波数ｆ_L2よりもｆ_IF2だけ低い周波数の信号成分ＳＣの検出が行われる（図２（Ｃ））。しかし、実際には、ローカル発振信号Ｌｏ₂の周波数ｆ_L2よりもｆ_IF2だけ高い周波数の信号成分ＳＤも同時に検出され（図２（Ｄ））、この信号成分がイメージとして混入する。

本実施形態では、図２（Ａ）に示す信号成分ＳＡと図２（Ｃ）に示す信号成分ＳＣのそれぞれの周波数を一致させることにより、イメージ除去を行う。すなわち、信号処理部４０内のバンドパスフィルタ４２の出力があるレベルを有する場合に、この原因としては、検出したい真の信号成分ＳＡが存在する場合とイメージとしての信号成分ＳＢが存在する場合の２通りが考えられる。同様に、信号処理部４０内のバンドパスフィルタ４４の出力があるレベルを有する場合に、この原因としては、検出したい真の信号成分ＳＣが存在する場合とイメージとしての信号成分ＳＤが存在する場合の２通りが考えられる。ここで、信号成分ＳＡと信号成分ＳＣの周波数が同じであるので、これら２つの信号成分ＳＡ、ＳＣは同じものであり、２つのバンドパスフィルタ４２、４４の出力が同時にあるレベルを示す場合（図２（Ａ）、（Ｃ）に示す場合）には、検出したい真の信号成分が存在することになる。また、一方のバンドパスフィルタ４２の出力のみがあるレベルを示す場合（図２（Ｂ）に示す場合）には、ローカル発振信号Ｌｏ₁の周波数ｆ_L1よりもｆ_IF1だけ高い周波数のイメージが存在するということになる。また、他方のバンドパスフィルタ４４の出力のみがあるレベルを示す場合（図２（Ｄ）に示す場合）には、ローカル発振信号Ｌｏ₂の周波数ｆ_L2よりもｆ_IF2だけ高い周波数のイメージが存在するということになる。

図３は、イメージ除去を行いながら所定の周波数範囲について信号成分の測定を行う本実施形態のスペクトラムアナライザの動作手順を示す流れ図である。信号処理部４０は、信号成分の測定開始が指示されたか否かを判定しており（ステップ１００）、指示がない場合には否定判断を行ってこの判定を繰り返す。

また、信号入力端子ＩＮに被測定信号ＲＦinを入力した状態でユーザによって所定の測定開始操作が行われた場合にはステップ１００の判定において肯定判断が行われる。次に、信号処理部４０は、ＰＬＬ回路１８内の可変分周器１８Ｃの分周比Ｎ１とＰＬＬ回路２８内の可変分周器２８Ｃの分周比Ｎ２のそれぞれを、周波数掃引の下限周波数に対応する値に設定する（ステップ１０１）。例えば、周波数掃引の下限値をｆ_MINとすると、図２（Ａ）に示す関係を満たすようにするために、ｆ_L1＝ｆ_MIN＋ｆ_IF1となるように可変分周器１８Ｃの分周比Ｎ１が設定される。また、図２（Ｃ）に示す関係を満たすようにするために、ｆ_L2＝ｆ_MIN＋ｆ_IF2となるように可変分周器２８Ｃの分周比Ｎ２が設定される。この状態で、信号処理部４０は、一方のバンドパスフィルタ４２の出力が所定値を超えたか否かを判定する（ステップ１０２）。超えた場合には肯定判断が行われ、信号処理部４０は、他方のバンドパスフィルタ４４の出力値を取り込んで、そのときの掃引周波数とともに格納する（ステップ１０３）。

次に、あるいは、一方のバンドパスフィルタ４２の出力が所定値を超えていない場合にはステップ１０２の判定において否定判断が行われた後に、信号処理部４０は、現在の周波数が周波数掃引の上限値であるか否かを判定する（ステップ１０４）。上限値に達していない場合には否定判断が行われ、次に、信号処理部４０は、掃引周波数を所定値だけ上昇させる（ステップ１０５）。例えば、可変分周器１８Ｃ、２８Ｃの分周比Ｎ１、Ｎ２の値をそれぞれ「１」加算した値に更新する。これにより、掃引周波数が基準周波数信号の周波数ｆｒだけ上昇する。また、２つのローカル発振信号Ｌｏ₁、Ｌｏ₂の周波数の増加量Δｆを同じ値にすることにより、図２（Ａ）に示す信号成分ＳＡの周波数と図２（Ｃ）に示す信号成分ＳＣの周波数を一致させた状態を維持することができる。その後、ステップ１０２に戻って処理が繰り返される。

また、掃引周波数が上限値に達した場合にはステップ１０４の判定において肯定判断が行われ、次に、信号処理部４０は、ステップ１０３において格納した出力値を読み出して、例えば、掃引周波数を横軸に、各周波数成分の信号レベルを縦軸に対応させた測定結果の表示を行う（ステップ１０６）。このようにして被測定信号ＲＦinに関する一連の測定が終了する。

このように、本実施形態のスペクトラムアナライザでは、２つのバンドパスフィルタ４２、４４を通過した信号成分のレベルを観察し、同時に出力値が上昇した場合に真の信号成分が存在するものとして判定を行い、いずれか一方の出力値のみが上昇した場合にはイメージであるとして除去することができる。また、信号成分ＳＡ、ＳＢの周波数を一致させた状態を維持しながら２つのローカル発振信号Ｌｏ₁、Ｌｏ₂の周波数ｆ_L1、ｆ_L2を一方向に掃引することにより、イメージを除去しながら真の信号成分を所定の周波数範囲について検出することが可能になる。特に、周波数変換は並行して行われる２回で済むため、従来のように３段あるいはそれ以上の縦続接続された構成によって周波数変換を繰り返し行う場合に比べて構成を簡略化することができる。また、共通の被測定信号について並行して周波数変換を行うことにより、複数回の周波数掃引を繰り返す必要がないため、測定時間の短縮が可能になる。また、これに伴って、被測定信号の周波数成分の変動の影響もなくなるため測定精度の向上が可能になる。

なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内において種々の変形実施が可能である。上述した実施形態では、２組のミキサとローカル発振器を用いたが、３組以上のミキサとローカル発振器を用いるようにしてもよい。

また、上述した実施形態では、信号処理部４０が周波数掃引の制御も行ったが、ＤＳＰ等で構成される信号処理部４０とは別にＣＰＵ等で構成される制御部を備え、この制御部に周波数掃引を含むスペクトラムアナライザの全体動作の制御を行わせるようにしてもよい。

また、上述した実施形態では、図３の流れ図に示したように、一方のバンドパスフィルタ４２の出力が所定値を超えたときに他方のバンドパスフィルタ４４の出力値を測定結果として取り込んで格納したが、２つのバンドパスフィルタ４２、４４の両方の出力値が所定値を超えた場合にこれら２つのバンドパスフィルタ４２、４４のどちらか一方の出力値を測定値として取り込んだり、両方の出力の平均値を測定値として取り込むようにしてもよい。

また、上述した実施形態では、２つのローカル発振信号Ｌｏ₁、Ｌｏ₂の周波数ｆ_L1、ｆ_L2よりも低い信号成分ＳＡ、ＳＣの周波数を一致させるようにしたが、他の組み合わせについて本発明を適用してもよい。例えば、図４に示すように、一方のローカル発振信号Ｌｏ₁の周波数ｆ_L1よりも高い信号成分ＳＢの周波数と、他方のローカル発振信号Ｌｏ₂の周波数ｆ_L2よりも高い信号成分ＳＤの周波数とを一致させ、これら両方の信号成分ＳＢ、ＳＤが同時に検出されたときに真の信号成分が存在するものと判定するようにしてもよい。また、図５に示すように、一方のローカル発振信号Ｌｏ₁の周波数ｆ_L1よりも高い信号成分ＳＢの周波数と、他方のローカル発振信号Ｌｏ₂の周波数ｆ_L2よりも低い信号成分ＳＣの周波数とを一致させ、これら両方の信号成分ＳＢ、ＳＣが同時に検出されたときに真の信号成分が存在するものと判定するようにしてもよい。また、図６に示すように、一方のローカル発振信号Ｌｏ₁の周波数ｆ_L1よりも低い信号成分ＳＡの周波数と、他方のローカル発振信号Ｌｏ₂の周波数ｆ_L2よりも高い信号成分ＳＤの周波数とを一致させ、これら両方の信号成分ＳＡ、ＳＤが同時に検出されたときに真の信号成分が存在するものと判定するようにしてもよい。

また、上述した実施形態では、本発明をスペクトラムアナライザに適用した場合について説明したが、スペクトラムアナライザ以外の装置にいて被検出信号ＲＦinの周波数成分を測定する場合に本発明を適用するようにしてもよい。

また、上述した実施形態では、信号処理部４０内にバンドパスフィルタ４２、４４を設けたが、アナログ−デジタル変換器１６、２６と信号処理部４０の間にデジタルフィルタによって構成されるバンドパスフィルタを設けたり、ミキサ１０、２０とローパスフィルタ１４、２４の間にアナログ回路によって構成されるバンドパスフィルタを設けるようにしてもよい。

一実施形態のスペクトラムアナライザの構成を示す図である。本実施形態におけるローカル発振信号の周波数と検出可能な被検出信号の周波数との関係を示す説明図である。イメージ除去を行いながら所定の周波数範囲について信号成分の測定を行う本実施形態のスペクトラムアナライザの動作手順を示す流れ図である。ローカル発振信号の周波数と検出可能な被検出信号の周波数との関係を示す変形例の説明図である。ローカル発振信号の周波数と検出可能な被検出信号の周波数との関係を示す変形例の説明図である。ローカル発振信号の周波数と検出可能な被検出信号の周波数との関係を示す変形例の説明図である。

符号の説明

１０、２０ミキサ
１２、２２ローカル発振器
１４、２４ローパスフィルタ（ＬＰＦ）
１６、２６アナログ−デジタル変換器（ＡＤＣ）
１８、２８ＰＬＬ回路
１８Ａ、２８Ａ位相比較器（ＰＤ）
１８Ｂ、２８Ｂローパスフィルタ（ＬＰＦ）
１８Ｃ、２８Ｃ可変分周器
４０信号処理部
４２、４４バンドパスフィルタ（ＢＰＦ）
５０表示装置

Claims

測定対象となる被測定信号が共通に入力され、前記被測定信号に対して周波数変換を行う複数の周波数変換手段と、
前記複数の周波数変換手段のそれぞれによって周波数変換が行われた後の信号に基づいて周波数成分抽出およびイメージ除去を行う信号処理手段と、
を備えることを特徴とする周波数成分測定装置。
請求項１において、
前記周波数変換手段は、前記被測定信号とローカル発振信号とを混合するミキサと、前記ローカル発振信号を生成するローカル発振器と、前記ミキサの出力信号の中から所定の周波数成分を抽出するバンドパスフィルタとを備え、
前記バンドパスフィルタの通過中心周波数を、前記複数の周波数変換手段のそれぞれについて異ならせることを特徴とする周波数成分測定装置。
請求項２において、
前記信号処理手段は、前記複数の周波数変換手段のそれぞれに対応する複数の前記バンドパスフィルタの出力レベルが同時に所定値を超えた場合に前記被測定信号に含まれる真の周波数成分として判定し、複数の前記バンドパスフィルタのいずれか一方のみの出力レベルが所定値を超えた場合にはイメージとして判定することを特徴とする周波数成分測定装置。
請求項３において、
前記複数の周波数変換手段のそれぞれについて、前記ローカル発振器から出力されるローカル発振信号の周波数に対して前記バンドパスフィルタの通過中心周波数だけ隔たった一方の周波数を、前記複数の周波数変換手段について一致させることを特徴とする周波数成分測定装置。
請求項４において、
前記複数の周波数変換手段について前記一方の周波数を一致させた状態を維持しながら、前記複数の周波数変換手段のそれぞれに対応する前記ローカル発振器で生成されるローカル発振信号の周波数を所定範囲で掃引する周波数掃引手段をさらに備えることを特徴とする周波数成分測定装置。
請求項５において、
前記周波数掃引手段によって掃引する周波数範囲について周波数と周波数成分の信号レベルとの関係を表示する表示装置をさらに備えることを特徴とする周波数成分測定装置。
請求項２〜６のいずれかにおいて、
前記バンドパスフィルタは、デジタルフィルタによって実現されていることを特徴とする周波数成分測定装置。
請求項２〜６のいずれかにおいて、
前記複数の周波数変換手段のそれぞれに対応して得られたアナログ信号をデジタルデータに変換するアナログ−デジタル変換器をさらに備え、
前記信号処理手段は、前記アナログ−デジタル変換器から出力されるデジタルデータを用いた演算処理によって前記周波数成分抽出と前記イメージ除去を行うことを特徴とする周波数成分測定装置。
請求項８において、
前記バンドパスフィルタは、前記信号処理手段による演算処理によって実現されることを特徴とする周波数成分測定装置。