JP7185673B2 - 信号解析装置及び信号解析方法 - Google Patents

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Description

本発明は、信号解析装置及び信号解析方法に関し、特に、スーパーヘテロダイン方式を使用した信号解析装置及び信号解析方法に関する。
従来、被測定物から出力される広帯域のRF信号を被測定信号として受信し、当該被測定信号の周波数解析を行う信号解析装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。
例えば、図5に示すように、従来の信号解析装置は、第1のミキサ61と、第1のバンドパスフィルタ(BPF)62と、第2のミキサ63と、第2のBPF64と、AD変換器(ADC)65と、信号解析部66と、を備える。
第1のミキサ61は、周波数fRF(中心周波数f)の被測定信号を、周波数fLO1の第1の局部発振信号と周波数混合して、これら2つの信号の周波数の和成分及び差成分の出力信号、すなわち、周波数fRF+fLO1及び|fRF-fLO1|の出力信号を生成するものである。第1のBPF62は、第1のミキサ61からの差成分の出力信号を中間周波数fIFの中間周波数信号として通過させる一方で、第1のミキサ61からの和成分の出力信号を除去するようになっている。
第2のミキサ63は、第1のBPF62を通過した信号を、周波数fLO2の第2の局部発振信号と周波数混合して、これら2つの信号の周波数の和成分及び差成分の出力信号を生成するものである。第2のBPF64は、第2のミキサ63からの差成分の出力信号を通過させる一方で、第2のミキサ63からの和成分の出力信号を除去するようになっている。
ADC65は、第2のBPF64を通過した信号を所定のサンプリング周波数でサンプリングして、所定のビット数の2進数のディジタルデータにAD変換するようになっている。信号解析部66は、ADC65によりAD変換された信号を解析するようになっている。
ところで、上記の第1のミキサ61においては被測定信号の高調波が発生し、この高調波は第1のBPF62に入力される。例えば、第1のBPF62の通過中心周波数が9.8GHz、被測定信号の中心周波数fが4.9GHz、第1の局部発振信号の周波数fLO1が14.7GHzである場合を考える。このとき、9.8GHzを中心とする周波数範囲で被測定信号の2次高調波がスプリアス信号として現れ、被測定信号の希望波の周波数fRFと重なって弁別できなくなるという問題が発生する。
さらに、図6に示すように、中心周波数fが4.9GHzの被測定信号における4.85GHzの周波数成分は、第1のミキサ61により9.7GHzのスプリアスとなる。一方、第1のミキサ61からの差成分の出力信号として得られる希望波の中心周波数は9.85GHzとなる。このとき、後段の第2のBPF64の通過帯域幅Wにスプリアスの9.7GHzと被測定信号の希望波の9.85GHzに相当する周波数成分が含まれてしまうと、信号解析部66での信号解析結果に悪影響が及ぶ可能性がある。
特許第5947943号公報
上記のように、第1のミキサ61により発生する被測定信号の高調波が被測定信号の希望波と重なって弁別できなくなる問題を回避するためには、設計時に被測定信号の高調波と希望波が重ならない周波数関係を選択すればよい。このために、例えば、第1のBPF62の通過中心周波数を高くするような設計を行うことが考えられるが、第1のBPF62を含む周波数変換に関わるハードウェアの設計難易度やコストが上昇してしまうという問題があった。
本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、周波数変換に関わるハードウェアの構成を変更することなく、ミキサで発生する被測定信号の高調波スプリアスを回避しながら被測定信号の解析を行うことができる信号解析装置及び信号解析方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明に係る信号解析装置は、周波数fRFの被測定信号を解析する信号解析装置であって、前記周波数fRFの中心周波数fに応じて、第1の中間周波数fIF1と、第1の局部発振信号の周波数fLO1と、第2の局部発振信号の周波数fLO2とを決定する周波数設定部と、前記第1の局部発振信号を出力する第1の局部発振器と、前記被測定信号を前記第1の局部発振信号と周波数混合して前記第1の中間周波数fIF1の第1の中間周波数信号を生成するとともに、前記被測定信号の2次高調波成分を含む第1のスプリアス信号を生成する第1のミキサと、前記第1の中間周波数信号及び前記第1のスプリアス信号が入力される通過中心周波数fの第1のバンドパスフィルタと、前記第2の局部発振信号を出力する第2の局部発振器と、前記第1のバンドパスフィルタを通過した前記第1の中間周波数信号を前記第2の局部発振信号と周波数混合して第2の中間周波数fIF2の第2の中間周波数信号を生成するとともに、前記第1のバンドパスフィルタを通過した前記第1のスプリアス信号を前記第2の局部発振信号と周波数混合して第2のスプリアス信号を生成する第2のミキサと、前記第2の中間周波数信号及び前記第2のスプリアス信号が入力され、前記第2の中間周波数信号を通過させ、前記第2のスプリアス信号を除去する通過帯域幅Wの第2のバンドパスフィルタと、前記第2のバンドパスフィルタを通過した前記第2の中間周波数信号をAD変換するAD変換器と、前記AD変換器によりAD変換された前記第2の中間周波数信号を解析する信号解析部と、を備え、前記第1の中間周波数fIF1は、f+Δfで与えられ、前記第1の局部発振信号の周波数fLO1は、f+f+Δfで与えられ、前記第2の局部発振信号の周波数fLO2は、f±fIF2+Δfで与えられ、前記第1のスプリアス信号の周波数fSP1は、2×fRFで与えられ、前記第2のスプリアス信号の周波数fSP2は、|fSP1-f±fIF2-Δf|で与えられ、前記周波数設定部は、-W/2≦|fSP1-f±fIF2-Δf|-fIF2≦+W/2の関係を成立させない周波数シフト量Δfを用いて、前記第1の中間周波数fIF1と、前記第1の局部発振信号の周波数fLO1と、前記第2の局部発振信号の周波数fLO2とを決定する構成である。
この構成により、本発明に係る信号解析装置は、被測定信号の中心周波数fに応じて、第1の中間周波数fIF1、周波数fLO1、及び周波数fLO2を決定するようになっている。これにより、本発明に係る信号解析装置は、第1の中間周波数fIF1、周波数fLO1、及び周波数fLO2を可変とすることで、周波数変換に関わるハードウェアの構成を変更することなく、第1のミキサで発生する被測定信号の高調波スプリアスを回避しながら被測定信号の解析を行うことができる。さらに、本発明に係る信号解析装置は、今後新たな帯域を使用する規格が策定された場合においても、周波数変換に関わるハードウェアの構成を変更することなく、高調波スプリアスを避けた測定が可能である。
また、本発明に係る信号解析装置においては、前記周波数設定部は、-W/2≦|fSP1-f±fIF2|-fIF2≦+W/2の関係が成立しない場合に、Δf=0となる前記周波数シフト量Δfを決定する構成であってもよい。
また、本発明に係る信号解析装置においては、前記周波数設定部は、-W/2≦|fSP1-f±fIF2|-fIF2≦+W/2の関係が成立する場合に、Δf≧2W/3、又は、Δf≦-2W/3となる前記周波数シフト量Δfを決定する構成であってもよい。
これらの構成により、本発明に係る信号解析装置は、第1の中間周波数fIF1、周波数fLO1、及び周波数fLO2を周波数シフト量Δfだけシフトして使い分けることができるため、通過帯域幅Wの第2のBPFで周波数fSP2の不要な高調波スプリアスを除去しつつ、第2の中間周波数fIF2の希望波を受信することができる。換言すれば、本発明に係る信号解析装置は、第1のミキサで生成される第1の中間周波数fIF1と第1のスプリアス信号の周波数fSP1とを後段の第2のBPFで分離することができる。
また、本発明に係る信号解析方法は、周波数fRFの被測定信号を解析する信号解析方法であって、前記周波数fRFの中心周波数fに応じて、第1の中間周波数fIF1と、第1の局部発振信号の周波数fLO1と、第2の局部発振信号の周波数fLO2とを決定する周波数設定ステップと、前記第1の局部発振信号を出力する第1の局部発振ステップと、前記被測定信号を前記第1の局部発振信号と周波数混合して前記第1の中間周波数fIF1の第1の中間周波数信号を生成するとともに、前記被測定信号の2次高調波成分を含む第1のスプリアス信号を生成する第1の周波数混合ステップと、前記第1の中間周波数信号及び前記第1のスプリアス信号が入力される通過中心周波数fの第1のバンドパスステップと、前記第2の局部発振信号を出力する第2の局部発振ステップと、前記第1のバンドパスステップを通過した前記第1の中間周波数信号を前記第2の局部発振信号と周波数混合して第2の中間周波数fIF2の第2の中間周波数信号を生成するとともに、前記第1のバンドパスステップを通過した前記第1のスプリアス信号を前記第2の局部発振信号と周波数混合して第2のスプリアス信号を生成する第2の周波数混合ステップと、前記第2の中間周波数信号及び前記第2のスプリアス信号が入力され、前記第2の中間周波数信号を通過させ、前記第2のスプリアス信号を除去する通過帯域幅Wの第2のバンドパスステップと、前記第2のバンドパスステップを通過した前記第2の中間周波数信号をAD変換するAD変換ステップと、前記AD変換ステップによりAD変換された前記第2の中間周波数信号を解析する信号解析ステップと、を含み、前記第1の中間周波数fIF1は、f+Δfで与えられ、前記第1の局部発振信号の周波数fLO1は、f+f+Δfで与えられ、前記第2の局部発振信号の周波数fLO2は、f±fIF2+Δfで与えられ、前記第1のスプリアス信号の周波数fSP1は、2×fRFで与えられ、前記第2のスプリアス信号の周波数fSP2は、|fSP1-f±fIF2-Δf|で与えられ、前記周波数設定ステップは、-W/2≦|fSP1-f±fIF2-Δf|-fIF2≦+W/2の関係を成立させない周波数シフト量Δfを用いて、前記第1の中間周波数fIF1と、前記第1の局部発振信号の周波数fLO1と、前記第2の局部発振信号の周波数fLO2とを決定する構成である。
この構成により、本発明に係る信号解析方法は、被測定信号の中心周波数fに応じて、第1の中間周波数fIF1、周波数fLO1、及び周波数fLO2を決定するようになっている。これにより、本発明に係る信号解析方法は、第1の中間周波数fIF1、周波数fLO1、及び周波数fLO2を可変とすることで、周波数変換に関わるハードウェアの構成を変更することなく、第1のミキサで発生する被測定信号の高調波スプリアスを回避しながら被測定信号の解析を行うことができる。さらに、本発明に係る信号解析方法は、今後新たな帯域を使用する規格が策定された場合においても、周波数変換に関わるハードウェアの構成を変更することなく、高調波スプリアスを避けた測定が可能である。
本発明は、周波数変換に関わるハードウェアの構成を変更することなく、ミキサで発生する被測定信号の高調波スプリアスを回避しながら被測定信号の解析を行うことができる信号解析装置及び信号解析方法を提供するものである。
本発明の実施形態に係る信号解析装置の構成を示すブロック図である。 本発明の実施形態に係る信号解析装置の周波数変換部を構成する各部の周波数関係を示す表である。 第1のBPFから出力された直後の被測定信号の帯域幅と、第1のスプリアス信号の帯域幅と、第2のBPFの通過帯域幅の周波数関係を模式的に示す図であって、(a)は被測定信号の中心周波数fが4.8GHz≦f<4.9GHzの範囲にある場合、(b)は被測定信号の中心周波数fが4.9GHz≦f≦5GHzの範囲にある場合を示している。 本発明の実施形態に係る信号解析装置を用いる信号解析方法の処理を説明するためのフローチャートである。 従来の信号解析装置の構成を示すブロック図である。 図5の信号解析装置における希望波とスプリアスとの関係を模式的に示す図である。
以下、本発明に係る信号解析装置及び信号解析方法の実施形態について、図面を用いて説明する。
図1に示すように、本発明の実施形態に係る信号解析装置1は、被試験対象(Device Under Test:DUT)100から出力される周波数fRF(中心周波数f)の被測定信号SRFを解析するための装置であって、周波数変換部10と、AD変換器20と、周波数設定部30と、信号解析部40と、表示部50と、操作部51と、制御部52と、を備える。
DUT100は、例えば、無線通信アンテナとRF回路を有し、アナログRF信号を出力可能な移動端末や基地局などである。DUT100の通信規格としては、例えば、5G NR、TD-LTE、FDD-LTE、LTE-Advanced、GSM(登録商標)、TD-SCDMA、W-CDMA(登録商標)、CDMA2000、Bluetooth(登録商標)などが挙げられる。DUT100と周波数変換部10とは、同軸ケーブルなどで有線接続されてもよく、あるいは、無線通信アンテナを介して無線接続されてもよい。
周波数変換部10は、DUT100から出力される被測定信号SRFとしてのアナログRF信号を周波数変換するものであって、第1の局部発振器11と、第1のミキサ12と、第1のBPF13と、第2の局部発振器14と、第2のミキサ15と、第2のBPF16と、を有する。
第1の局部発振器11は、例えばPLL回路により構成されており、後述の周波数設定部30からの制御信号を受けて、被測定信号SRFの元の周波数fRFよりも変換先の周波数の分だけ高い周波数fLO1の正弦波を第1の局部発振信号SLO1として、第1のミキサ12に出力するものである。
第1のミキサ12は、周波数fRFの被測定信号SRFを、第1の局部発振器11から出力された周波数fLO1の第1の局部発振信号SLO1と周波数混合して、これら2つの信号の周波数の和成分及び差成分の出力信号、すなわち、周波数fRF+fLO1及び|fRF-fLO1|の出力信号を生成する。同時に、第1のミキサ12は、被測定信号SRFの2次高調波成分を含む出力信号を生成する。なお、以降では、周波数|fRF-fLO1|を「第1の中間周波数fIF1」と称するとともに、周波数|fRF-fLO1|の出力信号を「第1の中間周波数信号SIF1」と称する。また、被測定信号SRFの2次高調波成分を含む信号を「第1のスプリアス信号SSP1」と称する。
第1のBPF13は、第1のミキサ12と第2のミキサ15との間に設けられた通過中心周波数fのバンドパスフィルタであって、第1のミキサ12から出力された第1の中間周波数信号SIF1と第1のスプリアス信号SSP1とを含む出力信号が入力される。第1のBPF13は、第1のミキサ12からの出力信号のうち、第1の中間周波数fIF1の第1の中間周波数信号SIF1や第1のスプリアス信号SSP1を通過させる一方で、第1のミキサ12からの出力信号のうちの和成分、被測定信号SRFの3次以上の高調波成分、及び、第1の局部発振信号SLO1の高調波成分を除去するようになっている。
第2の局部発振器14は、例えばPLL回路により構成されており、後述の周波数設定部30からの制御信号を受けて、第1のBPF13から出力された信号の元の周波数よりも変換先の周波数の分だけ低い(又は高い)周波数fLO2の正弦波を第2の局部発振信号SLO2として、第2のミキサ15に出力するものである。
第2のミキサ15は、第1のBPF13を通過した第1の中間周波数fIF1の第1の中間周波数信号SIF1を、第2の局部発振器14から出力された周波数fLO2の第2の局部発振信号SLO2と周波数混合して、これら2つの信号の周波数の和成分及び差成分の出力信号、すなわち、周波数fIF1+fLO2及び|fIF1-fLO2|の出力信号を生成する。同時に、第2のミキサ15は、第1のBPF13を通過した周波数fSP1の第1のスプリアス信号SSP1を、第2の局部発振器14から出力された周波数fLO2の第2の局部発振信号SLO2と周波数混合して、これら2つの信号の周波数の和成分及び差成分の出力信号、すなわち、周波数fSP1+fLO2及び|fSP1-fLO2|の出力信号を生成する。
なお、以降では、周波数|fIF1-fLO2|を「第2の中間周波数fIF2」と称するとともに、周波数|fIF1-fLO2|の出力信号を「第2の中間周波数信号SIF2」と称する。また、周波数|fSP1-fLO2|を「周波数fSP2」と称するとともに、周波数fSP2の出力信号を「第2のスプリアス信号SSP2」と称する。つまり、第2のスプリアス信号SSP2は、第1のスプリアス信号SSP1を第2のミキサ15でダウンコンバートした不要波信号である。
第2のBPF16は、例えば、通過中心周波数fIF2、通過帯域幅Wのバンドパスフィルタであって、第2のミキサ15から出力された第2の中間周波数信号SIF2と第2のスプリアス信号SSP2とを含む出力信号が入力される。ここで、通過中心周波数fIF2は固定値である。第2のBPF16は、第2のミキサ15からの出力信号のうち、第2の中間周波数fIF2の第2の中間周波数信号SIF2を通過させる一方で、第2のミキサ15からの出力信号のうちの和成分と第2のスプリアス信号SSP2とを除去するようになっている。
AD変換器20は、周波数変換部10の第2のBPF16を通過した第2の中間周波数信号SIF2を所定のサンプリング周波数でサンプリングして、所定のビット数の2進数のディジタルデータにAD変換するようになっている。
なお、第1の中間周波数fIF1、第1の局部発振信号SLO1の周波数fLO1、第2の局部発振信号SLO2の周波数fLO2、第1のスプリアス信号SSP1の周波数fSP1、及び、第2のスプリアス信号SSP2の周波数fSP2は、下記の式(1)~(5)で与えられる。
IF1=f+Δf ・・・(1)
LO1=f+fIF1=f+f+Δf ・・・(2)
LO2=fIF1±fIF2=f±fIF2+Δf ・・・(3)
SP1=2×fRF ・・・(4)
SP2=|fSP1-fLO2|=|fSP1-f±fIF2-Δf|
・・・(5)
周波数設定部30は、上記の式(1)~(3)に従って、被測定信号SRFの中心周波数fに応じて、第1の中間周波数信号SIF1の第1の中間周波数fIF1と、第1の局部発振信号SLO1の周波数fLO1と、第2の局部発振信号SLO2の周波数fLO2とを決定する。さらに、周波数設定部30は、決定した周波数fLO1及び周波数fLO2をそれぞれ第1の局部発振器11及び第2の局部発振器14に設定するようになっている。
ここで、周波数設定部30は、第2のスプリアス信号SSP2の周波数fSP2が第2のBPF16の通過帯域幅Wに含まれないように、下記の式(6)の関係を成立させない周波数シフト量Δfを用いて、式(1)~(3)の計算を行う。
IF2-W/2≦fSP2≦fIF2+W/2
-W/2≦|fSP1-f±fIF2-Δf|-fIF2≦+W/2 ・・・(6)
例えば、周波数設定部30は、下記の式(7)の関係が成立しない場合に、Δf=0となる周波数シフト量Δfを決定する。一方、周波数設定部30は、下記の式(7)の関係が成立する場合に、Δf≧2W/3、又は、Δf≦-2W/3となる周波数シフト量Δfを決定する。
-W/2≦|fSP1-f±fIF2|-fIF2≦+W/2 ・・・(7)
例えば、第1のBPF13の通過中心周波数fが9.8GHz、第2のBPF16の通過中心周波数fIF2が1.95GHzの場合のf、fSP1、Δf、fIF1、fLO1、fLO2、fSP2、及び、第2のBPF16の通過帯域の値の一例を図2に示す。ここで、第2のBPF16の通過帯域幅Wが310MHzであるとすると、第2のBPF16の通過帯域は、fIF2=1.95GHzを中心とした1.795~2.105GHzとなる。
この例では、帯域幅100MHzの被測定信号SRFの中心周波数fが4.8GHz≦f<4.9GHzの範囲にあるときに、式(6)の関係を成立させない周波数シフト量Δfとして0.35GHzが設定されることにより、第1の中間周波数fIF1が10.15GHzとなる。また、帯域幅100MHzの被測定信号SRFの中心周波数fが4.9GHz≦f≦5GHzの範囲にあるときに、式(6)の関係を成立させない周波数シフト量Δfとして-0.35GHzが設定されることにより、第1の中間周波数fIF1が9.45GHzとなる。このようにして、第2のスプリアス信号SSP2の周波数fSP2がfIF2-W/2≦fSP2≦fIF2+W/2の範囲外、すなわち1.795~2.105GHzの範囲外に押し出されることになる。一方、被測定信号SRFの中心周波数fが、f<4.8GHz、又は、5GHz<fの範囲にあるときは、式(7)の関係が成立しないためΔf=0となる。
図3は、図2に示した例について、第1のBPF13から出力された直後の被測定信号SRFの帯域と、第1のスプリアス信号SSP1の帯域と、第2のBPF16の通過帯域幅Wの周波数関係を模式的に示す図である。この例では、被測定信号SRFの帯域幅を100MHzとしているため、第1のスプリアス信号SSP1の帯域幅は200MHzとなっている。また、後段の信号解析部40における被測定信号SRFの測定帯域幅と第2のBPF16の通過帯域幅Wとを310MHzとしている。
図3(a)は、被測定信号SRFの中心周波数fが4.8GHz≦f<4.9GHzの範囲にあるときに、Δfが0.35GHzに設定された場合の周波数関係を示している。この場合、第1のスプリアス信号SSP1の帯域は、被測定信号SRFの測定帯域に常に重ならない。また、被測定信号SRFの中心周波数fが4.9GHzよりも低くなるほど、第1のスプリアス信号SSP1の帯域は、被測定信号SRFの測定帯域から遠ざかることになる。
図3(b)は、被測定信号SRFの中心周波数fが4.9GHz≦f≦5GHzの範囲にあるときに、Δfが-0.35GHzに設定された場合の周波数関係を示している。この場合も、第1のスプリアス信号SSP1の帯域は、被測定信号SRFの測定帯域に常に重ならない。また、被測定信号SRFの中心周波数fが4.9GHzよりも高くなるほど、第1のスプリアス信号SSP1の帯域は、被測定信号SRFの測定帯域から遠ざかることになる。
図1に示す信号解析部40は、AD変換器20によりAD変換された第2の中間周波数信号SIF2を解析するものであり、記憶部41と、ベースバンドモジュール42と、を有する。
記憶部41は、AD変換器20から出力された第2の中間周波数信号SIF2のディジタルデータを記憶するようになっている。
ベースバンドモジュール42は、記憶部41に記憶された第2の中間周波数信号SIF2のディジタルデータを直交復調して、互いに直交する直交信号I(t)及びQ(t)を生成するようになっている。また、ベースバンドモジュール42は、生成した直交信号I(t)及びQ(t)に対して、所定の信号解析処理を行うようになっている。ベースバンドモジュール42が実行する信号解析処理としては、例えば、被測定信号SRFの振幅(パワー)、位相、周波数などの時間変化、チャネルパワー(CHP)、占有帯域幅(OBW)、隣接チャネル漏洩電力比(ACLR)、バースト平均電力、変調精度(EVM)、スペクトラムエミッションマスク(SEM)、送信パワーレベル、送信スペクトラムマスクなどが挙げられる。
表示部50は、例えばLCDやCRTなどの表示機器で構成され、制御部52による表示制御に応じて、信号解析部40による信号解析処理結果などの各種表示内容を表示するようになっている。さらに、表示部50は、制御部52から出力される制御信号に応じて、測定条件などを設定するためのボタン、ソフトキー、プルダウンメニュー、テキストボックスなどの操作対象の表示を行うようになっている。
操作部51は、ユーザによる操作入力を受け付けるためのものであり、例えば表示部50の表示画面の表面に設けられたタッチパネルで構成される。あるいは、操作部51は、キーボード又はマウスのような入力デバイスを含んで構成されてもよい。操作部51への操作入力は、制御部52により検知されるようになっている。例えば、操作部51により、被測定信号SRFの中心周波数f、第1のBPF13の通過中心周波数f、第2のBPF16の通過帯域幅Wなどをユーザが任意に指定することが可能である。
制御部52は、例えばCPU、ROM、RAM、HDDなどを含むマイクロコンピュータ又はパーソナルコンピュータ等で構成され、信号解析装置1を構成する上記各部の動作を制御する。また、制御部52は、ROM等に記憶された所定のプログラムをRAMに移して実行することにより、周波数設定部30及びベースバンドモジュール42の少なくとも一部をソフトウェア的に構成することも可能である。なお、周波数設定部30及びベースバンドモジュール42の少なくとも一部は、FPGA(Field Programmable Gate Array)やASIC(Application Specific Integrated Circuit)などのディジタル回路で構成することも可能である。あるいは、周波数設定部30及びベースバンドモジュール42の少なくとも一部は、ディジタル回路によるハードウェア処理と所定のプログラムによるソフトウェア処理とを適宜組み合わせて構成することも可能である。
以下、本実施形態の信号解析装置1を用いる信号解析方法について、図4のフローチャートを参照しながらその処理の一例を説明する。
まず、ユーザによる操作部51への操作入力により、周波数変換に関する各種情報、すなわち、被測定信号SRFの中心周波数f、第1のBPF13の通過中心周波数f、第2のBPF16の通過帯域幅Wなどの情報が入力される(ステップS1)。
次に、周波数設定部30は、上記の式(1)~(3)に従って、被測定信号SRFの中心周波数fに応じて、第1の中間周波数信号SIF1の第1の中間周波数fIF1と、第1の局部発振信号SLO1の周波数fLO1と、第2の局部発振信号SLO2の周波数fLO2とを決定する(周波数設定ステップS2)。ここで、周波数設定ステップS2は、式(6)の関係を成立させない周波数シフト量Δfを決定して、式(1)~(3)の計算を行う。
次に、第1の局部発振器11は、周波数fLO1の第1の局部発振信号SLO1を出力する(第1の局部発振ステップS3)。
次に、第1のミキサ12は、被測定信号SRFを第1の局部発振信号SLO1と周波数混合して、第1の中間周波数fIF1の第1の中間周波数信号SIF1を生成するとともに、被測定信号SRFの2次高調波成分の周波数fSP1の第1のスプリアス信号SSP1を生成する(第1の周波数混合ステップS4)。
次に、第1のBPF13は、第1のミキサ12から出力された第1の中間周波数信号SIF1と第1のスプリアス信号SSP1とを含む出力信号が入力され、第1の中間周波数信号SIF1と第1のスプリアス信号SSP1を通過させる(第1のバンドパスステップS5)。
次に、第2の局部発振器14は、周波数fLO2の第2の局部発振信号SLO2を出力する(第2の局部発振ステップS6)。
次に、第2のミキサ15は、第1のバンドパスステップS5を通過した第1の中間周波数信号SIF1を第2の局部発振信号SLO2と周波数混合して、第2の中間周波数信号SIF2を生成する。同時に、第2のミキサ15は、第1のバンドパスステップS5を通過した第1のスプリアス信号SSP1を第2の局部発振信号SLO2と周波数混合して、第2のスプリアス信号SSP2を生成する(第2の周波数混合ステップS7)。
次に、第2のBPF16は、第2のミキサ15から出力された第2の中間周波数信号SIF2と第2のスプリアス信号SSP2とを含む出力信号が入力され、第2の中間周波数信号SIF2を通過させるとともに、第2のスプリアス信号SSP2を除去する(第2のバンドパスステップS8)。
AD変換器20は、第2のバンドパスステップS8を通過した第2の中間周波数信号SIF2をAD変換する(AD変換ステップS9)。
信号解析部40は、AD変換ステップS9によりAD変換された第2の中間周波数信号SIF2を解析する(信号解析ステップS10)。
以上説明したように、本実施形態に係る信号解析装置1は、式(1)~(3)等に従って、被測定信号SRFの中心周波数fに応じて、第1の中間周波数fIF1、周波数fLO1、及び周波数fLO2を決定するようになっている。これにより、本実施形態に係る信号解析装置1は、第1の中間周波数fIF1、周波数fLO1、及び周波数fLO2を可変とすることで、周波数変換に関わるハードウェアの構成を変更することなく、第1のミキサ12で発生する被測定信号SRFの高調波スプリアスを回避しながら被測定信号SRFの解析を行うことができる。さらに、本実施形態に係る信号解析装置1は、今後新たな帯域を使用する規格が策定された場合においても、周波数変換に関わるハードウェアの構成を変更することなく、高調波スプリアスを避けた測定が可能である。
また、本実施形態に係る信号解析装置1は、第1の中間周波数fIF1、周波数fLO1、及び周波数fLO2を周波数シフト量Δfだけシフトして使い分けることができるため、通過帯域幅Wの第2のBPF16で周波数fSP2の不要な高調波スプリアスを除去しつつ、第2の中間周波数fIF2の希望波を受信することができる。換言すれば、本実施形態に係る信号解析装置1は、第1のミキサ12で生成される第1の中間周波数fIF1と第1のスプリアス信号SSP1の周波数fSP1とを後段の第2のBPF16で分離することができる。
1 信号解析装置
10 周波数変換部
11 第1の局部発振器
12 第1のミキサ
13 第1のBPF
14 第2の局部発振器
15 第2のミキサ
16 第2のBPF
20 AD変換器
30 周波数設定部
40 信号解析部
100 DUT

Claims (4)

  1. 周波数fRFの被測定信号(SRF)を解析する信号解析装置(1)であって、
    前記周波数fRFの中心周波数fに応じて、第1の中間周波数fIF1と、第1の局部発振信号の周波数fLO1と、第2の局部発振信号の周波数fLO2とを決定する周波数設定部(30)と、
    前記第1の局部発振信号(SLO1)を出力する第1の局部発振器(11)と、
    前記被測定信号を前記第1の局部発振信号と周波数混合して前記第1の中間周波数fIF1の第1の中間周波数信号(SIF1)を生成するとともに、前記被測定信号の2次高調波成分を含む第1のスプリアス信号(SSP1)を生成する第1のミキサ(12)と、
    前記第1の中間周波数信号及び前記第1のスプリアス信号が入力される通過中心周波数fの第1のバンドパスフィルタ(13)と、
    前記第2の局部発振信号(SLO2)を出力する第2の局部発振器(14)と、
    前記第1のバンドパスフィルタを通過した前記第1の中間周波数信号を前記第2の局部発振信号と周波数混合して第2の中間周波数fIF2の第2の中間周波数信号(SIF2)を生成するとともに、前記第1のバンドパスフィルタを通過した前記第1のスプリアス信号を前記第2の局部発振信号と周波数混合して第2のスプリアス信号(SSP2)を生成する第2のミキサ(15)と、
    前記第2の中間周波数信号及び前記第2のスプリアス信号が入力され、前記第2の中間周波数信号を通過させ、前記第2のスプリアス信号を除去する通過帯域幅Wの第2のバンドパスフィルタ(16)と、
    前記第2のバンドパスフィルタを通過した前記第2の中間周波数信号をAD変換するAD変換器(20)と、
    前記AD変換器によりAD変換された前記第2の中間周波数信号を解析する信号解析部(40)と、を備え、
    前記第1の中間周波数fIF1は、f+Δfで与えられ、
    前記第1の局部発振信号の周波数fLO1は、f+f+Δfで与えられ、
    前記第2の局部発振信号の周波数fLO2は、f±fIF2+Δfで与えられ、
    前記第1のスプリアス信号の周波数fSP1は、2×fRFで与えられ、
    前記第2のスプリアス信号の周波数fSP2は、|fSP1-f±fIF2-Δf|で与えられ、
    前記周波数設定部は、-W/2≦|fSP1-f±fIF2-Δf|-fIF2≦+W/2の関係を成立させない周波数シフト量Δfを用いて、前記第1の中間周波数fIF1と、前記第1の局部発振信号の周波数fLO1と、前記第2の局部発振信号の周波数fLO2とを決定することを特徴とする信号解析装置。
  2. 前記周波数設定部は、-W/2≦|fSP1-f±fIF2|-fIF2≦+W/2の関係が成立しない場合に、Δf=0となる前記周波数シフト量Δfを決定することを特徴とする請求項1に記載の信号解析装置。
  3. 前記周波数設定部は、-W/2≦|fSP1-f±fIF2|-fIF2≦+W/2の関係が成立する場合に、Δf≧2W/3、又は、Δf≦-2W/3となる前記周波数シフト量Δfを決定することを特徴とする請求項1に記載の信号解析装置。
  4. 周波数fRFの被測定信号(SRF)を解析する信号解析方法であって、
    前記周波数fRFの中心周波数fに応じて、第1の中間周波数fIF1と、第1の局部発振信号の周波数fLO1と、第2の局部発振信号の周波数fLO2とを決定する周波数設定ステップ(S2)と、
    前記第1の局部発振信号(SLO1)を出力する第1の局部発振ステップ(S3)と、
    前記被測定信号を前記第1の局部発振信号と周波数混合して前記第1の中間周波数fIF1の第1の中間周波数信号(SIF1)を生成するとともに、前記被測定信号の2次高調波成分を含む第1のスプリアス信号(SSP1)を生成する第1の周波数混合ステップ(S4)と、
    前記第1の中間周波数信号及び前記第1のスプリアス信号が入力される通過中心周波数fの第1のバンドパスステップ(S5)と、
    前記第2の局部発振信号(SLO2)を出力する第2の局部発振ステップ(S6)と、
    前記第1のバンドパスステップを通過した前記第1の中間周波数信号を前記第2の局部発振信号と周波数混合して第2の中間周波数fIF2の第2の中間周波数信号(SIF2)を生成するとともに、前記第1のバンドパスステップを通過した前記第1のスプリアス信号を前記第2の局部発振信号と周波数混合して第2のスプリアス信号(SSP2)を生成する第2の周波数混合ステップ(S7)と、
    前記第2の中間周波数信号及び前記第2のスプリアス信号が入力され、前記第2の中間周波数信号を通過させ、前記第2のスプリアス信号を除去する通過帯域幅Wの第2のバンドパスステップ(S8)と、
    前記第2のバンドパスステップを通過した前記第2の中間周波数信号をAD変換するAD変換ステップ(S9)と、
    前記AD変換ステップによりAD変換された前記第2の中間周波数信号を解析する信号解析ステップ(S10)と、を含み、
    前記第1の中間周波数fIF1は、f+Δfで与えられ、
    前記第1の局部発振信号の周波数fLO1は、f+f+Δfで与えられ、
    前記第2の局部発振信号の周波数fLO2は、f±fIF2+Δfで与えられ、
    前記第1のスプリアス信号の周波数fSP1は、2×fRFで与えられ、
    前記第2のスプリアス信号の周波数fSP2は、|fSP1-f±fIF2-Δf|で与えられ、
    前記周波数設定ステップは、-W/2≦|fSP1-f±fIF2-Δf|-fIF2≦+W/2の関係を成立させない周波数シフト量Δfを用いて、前記第1の中間周波数fIF1と、前記第1の局部発振信号の周波数fLO1と、前記第2の局部発振信号の周波数fLO2とを決定することを特徴とする信号解析方法。
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