JP2007026992A - スイッチ接点腐食除去装置 - Google Patents
スイッチ接点腐食除去装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007026992A JP2007026992A JP2005210045A JP2005210045A JP2007026992A JP 2007026992 A JP2007026992 A JP 2007026992A JP 2005210045 A JP2005210045 A JP 2005210045A JP 2005210045 A JP2005210045 A JP 2005210045A JP 2007026992 A JP2007026992 A JP 2007026992A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- corrosion
- switch
- current
- switch contact
- stop lamp
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Keying Circuit Devices (AREA)
- Contacts (AREA)
Abstract
【課題】 本発明はスイッチ接点に発生した腐食を常時より過大な電流を流すことにより除去するスイッチ接点腐食除去装置に関し、電力損失の低減及び製品コストの削減を図ることを課題とする。
【解決手段】 ストップランプSW12の接点に発生する腐食を過大な腐食除去電流IEXを流すことにより除去するスイッチ接点腐食除去装置において、CPU10に設けられたソークタイマ値より、ストップランプSW12に腐食が発生したことが推測される場合、ストップランプSW12に対して腐食除去電流IEXを供給するよう構成する。
【選択図】 図1
【解決手段】 ストップランプSW12の接点に発生する腐食を過大な腐食除去電流IEXを流すことにより除去するスイッチ接点腐食除去装置において、CPU10に設けられたソークタイマ値より、ストップランプSW12に腐食が発生したことが推測される場合、ストップランプSW12に対して腐食除去電流IEXを供給するよう構成する。
【選択図】 図1
Description
本発明はスイッチ接点腐食除去装置に係り、特にスイッチ接点に発生した腐食を常時より過大な電流を流すことにより除去するスイッチ接点腐食除去装置に関する。
一般に、車載される各種スイッチの接点は、その表面に時間の経過と共に絶縁効果のある酸化皮膜が形成されることがある。よって、このスイッチに流す電流が小さい場合には、スイッチが閉成(OFF)されていても、酸化皮膜によって電気的な接続を確保することができない。
そこで、このスイッチに形成された酸化皮膜を除去する方法として、例えば特許文献1に開示されているように、酸化皮膜を突き破るのに充分な大電流を流し、これにより酸化皮膜を除去することが行われている。
具体的には、前回イグニションスイッチが切られた時(OFFとされた時)から次回イグニションスイッチが操作された時(ONとされた時)の間は、車両が停止されており停車されており、この間は車載されたスイッチは操作されることはなく、上記の酸化皮膜が発生しやすい。このため、イグニションスイッチが操作された時、酸化皮膜を突き破るのに充分な大電流を流し、これによりスイッチの接点に発生した酸化皮膜を除去することが行われていた。
特開2000−090796号公報
しかしながら、上記した従来のスイッチ接点腐食除去装置では、スイッチの接点に実際に酸化皮膜が発生しているかどうかに拘らず、スイッチが操作される毎に酸化皮膜を突きための大電流が流される構成とされていた。このため、必然的に酸化皮膜除去の回数多くなり、これに伴いバッテリの電力損失が大きくなるという課題があった。また、スイッチが設けられた回路内に、酸化皮膜除去用の大電流の供給に対応しうるよう、回路部品の強化及び回路構成を変更する必要があり、製品コストの上昇につながってしまうという課題もあった。
本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、スイッチの説点に酸化皮膜が発生しているこが検出された時或いは発生したと推測される時のみに酸化皮膜除去用の電流を流す構成とすることにより、電力損失の低減及び製品コストの削減を図ったスイッチ接点腐食除去装置を提供することを目的とする。
上記の課題を解決するために本発明では、次に述べる各手段を講じたことを特徴とするものである。
請求項1記載の発明は、
スイッチの接点に発生する腐食を常時より過大な腐食除去電流を流すことにより除去するスイッチ接点腐食除去装置において、
前記スイッチに腐食が発生したことを推測或いは検出した際、前記スイッチに対して前記腐食除去電流を供給する腐食除去手段を設けたことを特徴とするものである。
スイッチの接点に発生する腐食を常時より過大な腐食除去電流を流すことにより除去するスイッチ接点腐食除去装置において、
前記スイッチに腐食が発生したことを推測或いは検出した際、前記スイッチに対して前記腐食除去電流を供給する腐食除去手段を設けたことを特徴とするものである。
上記発明によれば、スイッチに腐食が発生したことを推測或いは検出した際にスイッチに対して腐食除去電流を供給する構成としたことにより、従来のように腐食の発生の有無にかかわらず常にスイッチを入れる毎に腐食除去電流を流していた構成に比べ、バッテリの電力損失を削減することができる。また、大電流が頻繁にスイッチに向け流れることがなくなるため、スイッチ回路に大電流に対する耐性を高める必要がなくなり製品コストの低減を図ることができる。
また、請求項2記載の発明は、
請求項1記載のスイッチ接点腐食除去装置において、
前記腐食除去手段は、
イグニションスイッチが前回切られた時から次回入れられた時までの車両放置時間を検出する停止時間検出手段と、
該車両放置時間が既定の腐食発生可能時間を越えた場合に、前記スイッチに対して前記腐食除去電流を供給する第1の電流供給制御手段とを有することを特徴とするものである。
請求項1記載のスイッチ接点腐食除去装置において、
前記腐食除去手段は、
イグニションスイッチが前回切られた時から次回入れられた時までの車両放置時間を検出する停止時間検出手段と、
該車両放置時間が既定の腐食発生可能時間を越えた場合に、前記スイッチに対して前記腐食除去電流を供給する第1の電流供給制御手段とを有することを特徴とするものである。
上記発明によれば、停止時間検出手段によりイグニションスイッチが前回切られた時から次回入れられた時までの車両放置時間が検出される。車両放置時間と腐食の発生とは相関関係があり、車両放置時間が長いほど腐食が発生する可能性は高くなる。第1の電流供給制御手段は、車両放置時間が腐食発生の可能性が高い既定の腐食発生可能時間を越えた場合、スイッチに対して腐食除去電流を供給し腐食を除去する。よって、腐食が発生した可能性が高いと推定される状態においてのみ腐食の除去処理を行うため、バッテリの電力損失を削減することができる。
また、請求項3記載の発明は、
請求項1記載のスイッチ接点腐食除去装置において、
前記腐食除去手段は、
前記スイッチの電流供給側に接続されており、前記スイッチを流れる電流の変化を検出する電流検出手段と、
前記電流の変化が既定の変化量を越えた場合に、前記スイッチに対して前記腐食除去電流を供給する第2の電流供給制御手段とを有することを特徴とするものである。
請求項1記載のスイッチ接点腐食除去装置において、
前記腐食除去手段は、
前記スイッチの電流供給側に接続されており、前記スイッチを流れる電流の変化を検出する電流検出手段と、
前記電流の変化が既定の変化量を越えた場合に、前記スイッチに対して前記腐食除去電流を供給する第2の電流供給制御手段とを有することを特徴とするものである。
上記発明によれば、電流検出手段はスイッチを流れる電流の変化を検出する。スイッチに腐食が発生すると、スイッチの電気抵抗が増大するため流れる電流が減少する。第2の電流検出手段は、この腐食発生により生じる電流の変化を検出し、この変化量が腐食発生の可能性が高い既定の変化量を越えた場合、スイッチに対して腐食除去電流を供給し腐食を除去する。よって、腐食が発生した場合においてのみ腐食の除去処理を行うため、バッテリの電力損失を削減することができる。
また、請求項4記載の発明は、
請求項1乃至3のいずれか1項に記載のスイッチ接点腐食除去装置において、
前記スイッチと並列に電流供給用トランジスタを設け、前記第1または第2の電流供給制御手段が該電流供給用トランジスタを駆動して前記スイッチに対して前記腐食除去電流を供給する構成としたことを特徴とするものである。
請求項1乃至3のいずれか1項に記載のスイッチ接点腐食除去装置において、
前記スイッチと並列に電流供給用トランジスタを設け、前記第1または第2の電流供給制御手段が該電流供給用トランジスタを駆動して前記スイッチに対して前記腐食除去電流を供給する構成としたことを特徴とするものである。
上記発明のように、スイッチと並列に接続された電流供給用トランジスタを第1または第2の電流供給制御手段で制御することにより腐食除去電流をスイッチに供給する構成とすることにより、回路構成の簡単化を図ることができる。
本発明によれば、スイッチに腐食が発生したと推測される時或いは腐食が発生したと検知された時にのみ腐食を除去する腐食除去電流をスイッチに供給するため、電力損失の低減を図ることができる。
次に、本発明を実施するための最良の形態について図面と共に説明する。
図1(A)は、本発明の第1実施例であるスイッチ接点腐食除去装置の構成図である。本実施例では、スイッチ接点腐食除去装置をストップランプスイッチ12(以下、ストップランプSWという)の接点に発生した腐食の除去に適用した例について説明するが、本願発明の適用はこれに限定されるものではなく、ストップランプSW12以外の各種スイッチの接点に発生する腐食の除去に適用できるものである。
スイッチ接点腐食除去装置は、CPU10及び腐食破壊用トランジスタTrとよりなる構成とされている。抵抗Rはストップランプ(STP)の保護抵抗であり、その一端は電源(図示せず)に接続されている。また、抵抗Rの他端部はストップランプSW12を介して接地されている。
腐食破壊用トランジスタTrは、抵抗Rと並列に接続されている。また、腐食破壊用トランジスタTrのエミッタは電源に接続され、コレクタはストップランプSW12及びCPU10に接続され、更にベースはCPU10に接続されている。
CPU10はスイッチ接点腐食除去処理を実行するプログラムが格納されており、このスイッチ接点腐食除去処理により、後述するようにストップランプSW12の接点の腐食除去が行われる。また、CPU10にはイグニションスイッチ16(以下、イグニションSWという)が接続されている。
更に、CPU10にはソークタイマが内蔵されている。図3は、CPU10が実施するソークタイマ処理を示すフローチャートである。同図に示すように、ソークタイマはイグニションSW16がOFFとなることにより起動し、ステップ20(図では、ステップをSと略称する)において、前回実施したソークタイマのカウント値をゼロクリアすると共に、今回のソークタイマのカウントを開始する。従って、このソークタイマにより、イグニションSW16が前回切られた時からの次回入れられた時までの車両放置時間を検出することができる。
通常時(ストップランプSW12の接点に腐食が発生していない時をいう)においては、CPU10は腐食破壊用トランジスタTrをOFF状態としている。よって、ストップランプSW12がONされた場合には、図1(B)に示すように電流INがSTPの抵抗を流れ、これによりSTPがONされたことをCPU10が認識する。
続いて、CPU10が実施するスイッチ接点腐食除去処理について説明する。図2は、CPU10が実施するスイッチ接点腐食除去処理のフローチャートである。このスイッチ接点腐食除去処理は、イグニションSW16がONされることにより起動される処理である。
イグニションSW16がONされ、同図に示す処理が起動すると、先ずステップ10において、前記したソークタイマによりカウントとされているソークタイマ値を読み出し、これを車両放置時間Tに代入する。この車両放置時間Tは、イグニションSW16が前回切られた時から次回入れられた時までの時間である。
この車両放置時間Tの間は、ストップランプSW12が操作されることはなく、よってストップランプSW12の接点に腐食が発生し易い時間である。また、この車両放置時間Tが長いほど、ストップランプSW12の接点に腐食が発生する可能性は大きくなる。このストップランプSW12の接点に腐食が発生する時間は、実験により予め求めることが可能である。以下の説明において、この実験により求められたストップランプSW12の接点に腐食が発生すると推測される時間を酸化進行判定時間Kという。
ステップ10において車両放置時間Tが求められると、続くステップ11では、この車両放置時間Tが酸化進行判定時間Kを過ぎたかどうかが判定される。ステップ11で肯定判断がされた場合、即ちストップランプSW12の接点に腐食が発生している可能性があると判断された場合には、ステップ12において酸化進行判定フラグをONとする。一方、ステップ11で否定判断がされた場合には、ストップランプSW12の接点に腐食が発生している可能性が低いため、ステップ12の処理を実行することなく処理をステップ13に進める。
ステップ13では、酸化進行判定フラグがONとなっているかどうかを判定する。酸化進行判定フラグがONとなっていない場合には、ステップ14以降の腐食除去処理を実施する必要がないため、本スイッチ接点腐食除去処理を終了する。
これに対し、ステップ13で酸化進行判定フラグがONとなっていると判定された場合には、処理はステップ14に進む。ステップ14では、ストップランプSW12がON(閉成)されているかどうかが判定される。
ここで、ストップランプSW12がONであるかどうかを判定するのは、腐食破壊用トランジスタTrがONとなり酸化皮膜を突き破るのに充分な大電流(以下、腐食除去電流IEXという)がストップランプSW12に流れさても、ストップランプSW12がOFFとされている場合には、ストップランプSW12を腐食除去電流IEXが流れず、腐食除去を行うことができないためである。よって、ステップ14で否定判断がされた場合、処理はステップ13に戻され、ストップランプSW12がONされるのを待つ。
一方、ステップ14においてストップランプSW12がONであると判定されると、続くステップ15では、ストップランプSW12に腐食除去電流IEXを流す処理が実行される。具体的には、腐食破壊用トランジスタTrを一定時間(例えば、100μs)だけONとする。このように、腐食破壊用トランジスタTrをCPU10で制御することにより腐食除去電流IEXをストップランプSW12に供給する構成とすることにより、回路構成の簡単化を図ることができる。
図1(C)は、腐食破壊用トランジスタTrをONした状態を示している。CPU10の腐食破壊用トランジスタTrと接続された端子には、CPU10の内部で数10KΩの抵抗によりプルアップされている。このため、腐食除去電流IEXは、CPU10に流れ込むことなく、ストップランプSW12に流れる。これにより、ストップランプSW12の接点に発生している腐食(酸化膜等)は、腐食除去電流IEXにより破壊され除去される。
上記のように本実施例によれば、ソークタイマによりストップランプSW12に腐食が発生したことが推測される場合にのみ、ストップランプSW12に対して腐食除去電流IEXを供給するため、従来のように腐食の発生の有無にかかわらず常にイグニションスイッチを入れる毎に腐食除去電流を流していた構成に比べ、バッテリの電力損失を削減することができる。また、大電流が頻繁にストップランプSW12に向け流れることがなくなるため、スイッチ回路に大電流に対する耐性を高める必要がなくなり製品コストの低減を図ることができる。
尚、ステップ15においてストップランプSW12に対して腐食除去電流IEXが流されて腐食の除去が行われると、酸化進行判定フラグはOFFとされる。
次に、本発明の第2実施例について説明する。図4(A)は、本発明の第2実施例であるスイッチ接点腐食除去装置の構成図である。また、図5は、本実施例においてCPU10が実行するスイッチ接点腐食除去処理のフローチャートである。尚、図4において、図1に示した構成と対応する構成については同一符号を付して、その説明を省略する。
本実施例では、CPU10にAD変換器を含む電圧検出装置14が設けられている。この電圧検出装置14は、ストップランプSW12の接地側と反対側の端部と接続されている。よって、ストップランプSW12に印加される電圧は、電圧検出装置14を介してCPU10に入力される。
ここで、ストップランプSW12に酸化膜等の腐食が発生した場合、ストップランプSW12の抵抗は増大し、これに伴いストップランプSW12に印加される電圧も増大する。このストップランプSW12に印加される電圧は、CPU10の電圧検出装置14にも印加されて検出される。
ストップランプSW12に印加される電圧は、外乱等の影響により若干変化するが、電極に腐食が発生していない場合にはその値は所定の通常許容最大電圧K(例えば、0.5V)よりも小さい値となる。しかしながら、ストップランプSW12に印加される電圧が、この通常許容最大電圧Kを超えた場合には、ストップランプSW12の電極に腐食が発生している可能性が極めて大きい。従って、本実施例では、このストップランプSW12に印加される電圧に基づき、腐食の発生を検出する構成としている。
続いて、上記した原理に基づき、本実施例においてCPU10が実施するスイッチ接点腐食除去処理について説明する。図5は、本実施例においてCPU10が実施するスイッチ接点腐食除去処理のフローチャートである。
同図に示す処理が起動すると、ステップ30において、ストップランプSW12に印加される電圧(以下、この電圧をSW印加電圧という)が2.5V以下であるかどうかが判断される。ここで、CPU10において電圧検出装置14に印加されるSW印加電圧が2.5未満である場合は、ストップランプSW12がONとされた場合である(図4(B)参照)。
このステップ30において否定判断がされた場合、即ちストップランプSW12がOFFされている場合には、上記の腐食判定は行えないため、本処理を終了する。一方、ステップ30で肯定判断がされた場合、即ちストップランプSW12がONされている場合には、処理はステップ31に進む。
ステップ31では、ストップランプSW12に腐食除去電流IEXを流す処理が実行される。具体的には、腐食破壊用トランジスタTrを一定時間(例えば、100μs)だけONとする。図4(C)は、腐食破壊用トランジスタTrをONした状態を示している。本実施例においても、CPU10の腐食破壊用トランジスタTrと接続された端子には、CPU10の内部で数10KΩの抵抗によりプルアップされている。このため、腐食除去電流IEXは、CPU10に流れ込むことなく、ストップランプSW12に流れる。これにより、ストップランプSW12の接点に発生している腐食(酸化膜等)は、腐食除去電流IEXにより破壊され除去される。
上記のように本実施例によれば、電圧検出装置14によりストップランプSW12に腐食が発生したことが検出された場合にのみ、ストップランプSW12に対して腐食除去電流IEXを供給するため、従来の構成に比べてバッテリの電力損失を削減することができる。また、大電流が頻繁にストップランプSW12に向け流れることがなくなるため、スイッチ回路に大電流に対する耐性を高める必要がなくなり製品コストの低減を図ることができる。尚、ステップ32においてストップランプSW12に対して腐食除去電流IEXが流されて腐食の除去が行われると、酸化進行判定フラグはOFFとされる。
10 CPU
12 ストップランプSW
14 電圧検出装置
16 イグニションSW
12 ストップランプSW
14 電圧検出装置
16 イグニションSW
Claims (4)
- スイッチの接点に発生する腐食を常時より過大な腐食除去電流を流すことにより除去するスイッチ接点腐食除去装置において、
前記スイッチに腐食が発生したことを推測或いは検出した際、前記スイッチに対して前記腐食除去電流を供給する腐食除去手段を設けたことを特徴とするスイッチ接点腐食除去装置。 - 請求項1記載のスイッチ接点腐食除去装置において、
前記腐食除去手段は、
イグニションスイッチが前回切られた時から次回入れられた時までの時間を検出する停止時間検出手段と、
該車両放置時間が既定の腐食発生可能時間を越えた場合に、前記スイッチに対して前記腐食除去電流を供給する第1の電流供給制御手段とを有することを特徴とするスイッチ接点腐食除去装置。 - 請求項1記載のスイッチ接点腐食除去装置において、
前記腐食除去手段は、
前記スイッチの電流供給側に接続されており、前記スイッチを流れる電流の変化を検出する電流検出手段と、
前記電流の変化が既定の変化量を越えた場合に、前記スイッチに対して前記腐食除去電流を供給する第2の電流供給制御手段とを有することを特徴とするスイッチ接点腐食除去装置。 - 請求項1乃至3のいずれか1項に記載のスイッチ接点腐食除去装置において、
前記スイッチと並列に電流供給用トランジスタを設け、前記第1または第2の電流供給制御手段が該電流供給用トランジスタを駆動して前記スイッチに対して前記腐食除去電流を供給する構成としたことを特徴とするスイッチ接点腐食除去装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005210045A JP2007026992A (ja) | 2005-07-20 | 2005-07-20 | スイッチ接点腐食除去装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005210045A JP2007026992A (ja) | 2005-07-20 | 2005-07-20 | スイッチ接点腐食除去装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007026992A true JP2007026992A (ja) | 2007-02-01 |
Family
ID=37787485
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005210045A Pending JP2007026992A (ja) | 2005-07-20 | 2005-07-20 | スイッチ接点腐食除去装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007026992A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011064983A (ja) * | 2009-09-17 | 2011-03-31 | Konica Minolta Business Technologies Inc | 画像形成装置 |
JP2011193224A (ja) * | 2010-03-15 | 2011-09-29 | Mitsubishi Electric Corp | 接触抵抗回復装置および監視装置 |
JP2013105550A (ja) * | 2011-11-11 | 2013-05-30 | Mitsubishi Electric Corp | 負荷制御装置、負荷制御装置のためのリレー接触不良防止方法、リレー装置 |
JP2017001566A (ja) * | 2015-06-11 | 2017-01-05 | 矢崎総業株式会社 | 通電制御装置、通電制御方法および断線検知装置 |
FR3063569A1 (fr) * | 2017-03-03 | 2018-09-07 | Leroy Automation | Circuit d'interface d'entree logique d'un automate ou d'un calculateur industriel |
JP2021034297A (ja) * | 2019-08-28 | 2021-03-01 | 株式会社Gsユアサ | 保護装置、蓄電装置及びリレーの接点抵抗の低減方法 |
-
2005
- 2005-07-20 JP JP2005210045A patent/JP2007026992A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011064983A (ja) * | 2009-09-17 | 2011-03-31 | Konica Minolta Business Technologies Inc | 画像形成装置 |
US8290389B2 (en) | 2009-09-17 | 2012-10-16 | Konica Minolta Business Technologies, Inc. | Image forming apparatus and contact-corrosion prevention method performed by same |
JP2011193224A (ja) * | 2010-03-15 | 2011-09-29 | Mitsubishi Electric Corp | 接触抵抗回復装置および監視装置 |
JP2013105550A (ja) * | 2011-11-11 | 2013-05-30 | Mitsubishi Electric Corp | 負荷制御装置、負荷制御装置のためのリレー接触不良防止方法、リレー装置 |
JP2017001566A (ja) * | 2015-06-11 | 2017-01-05 | 矢崎総業株式会社 | 通電制御装置、通電制御方法および断線検知装置 |
FR3063569A1 (fr) * | 2017-03-03 | 2018-09-07 | Leroy Automation | Circuit d'interface d'entree logique d'un automate ou d'un calculateur industriel |
JP2021034297A (ja) * | 2019-08-28 | 2021-03-01 | 株式会社Gsユアサ | 保護装置、蓄電装置及びリレーの接点抵抗の低減方法 |
WO2021039482A1 (ja) * | 2019-08-28 | 2021-03-04 | 株式会社Gsユアサ | 保護装置、蓄電装置及びリレーの接点抵抗の低減方法 |
JP7347006B2 (ja) | 2019-08-28 | 2023-09-20 | 株式会社Gsユアサ | 保護装置、蓄電装置及びリレーの接点抵抗の低減方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2007026992A (ja) | スイッチ接点腐食除去装置 | |
JP4713963B2 (ja) | 過電流検出装置 | |
JP4701052B2 (ja) | 過電流検出装置 | |
WO2011037175A1 (ja) | 電力供給制御装置 | |
US20050024032A1 (en) | Trouble determining apparatus for DC boosting circuit | |
JP2007267584A (ja) | 安全回路を有する充電装置及びその充電方法 | |
JP2009289690A (ja) | リレー制御装置 | |
JP4736569B2 (ja) | 誘導性負荷の異常検出装置 | |
JP2005086968A (ja) | 車両用バッテリー充放電管理装置 | |
JP4693290B2 (ja) | バッテリ上がり防止装置 | |
JP2006246666A (ja) | 空気調和機 | |
JP5555472B2 (ja) | 車両用電子制御システム | |
JP2007336657A (ja) | 電源供給制御装置 | |
JP4693291B2 (ja) | バッテリ上がり防止装置 | |
JP2009189221A (ja) | ジャンクションボックス | |
JP2011182066A (ja) | 電源供給装置 | |
JP6660951B2 (ja) | 部品実装ライン | |
JP6236325B2 (ja) | プロセッサの制御装置及び制御方法 | |
JP2007053898A (ja) | 単一の比較装置を使用して多数の過電流スレッシュホールドを検出する方法及び装置 | |
JP5730703B2 (ja) | スイッチ状態判別装置 | |
JP3210595B2 (ja) | 電気集塵器の制御装置 | |
JP4188627B2 (ja) | X線高電圧装置 | |
WO1991008078A1 (en) | Power supply circuit for electric discharge machine | |
JP3953358B2 (ja) | 永久磁石電動機の制御方法 | |
JP2007257944A (ja) | プロジェクタのランプ駆動装置 |