JP2007013066A - 発光装置 - Google Patents

発光装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2007013066A
JP2007013066A JP2005195609A JP2005195609A JP2007013066A JP 2007013066 A JP2007013066 A JP 2007013066A JP 2005195609 A JP2005195609 A JP 2005195609A JP 2005195609 A JP2005195609 A JP 2005195609A JP 2007013066 A JP2007013066 A JP 2007013066A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reflector
substrate
light emitting
electrode
hole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2005195609A
Other languages
English (en)
Inventor
Goro Narita
悟郎 成田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Element Denshi Kk
Original Assignee
Element Denshi Kk
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Element Denshi Kk filed Critical Element Denshi Kk
Priority to JP2005195609A priority Critical patent/JP2007013066A/ja
Priority to TW094133471A priority patent/TW200704308A/zh
Priority to KR1020050093774A priority patent/KR20070004401A/ko
Priority to CNA2005101187603A priority patent/CN1893127A/zh
Publication of JP2007013066A publication Critical patent/JP2007013066A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B33/00Electroluminescent light sources
    • H05B33/12Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces
    • H05B33/22Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces characterised by the chemical or physical composition or the arrangement of auxiliary dielectric or reflective layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/49105Connecting at different heights
    • H01L2224/49107Connecting at different heights on the semiconductor or solid-state body

Abstract

【課題】 従来の発光装置ではリフレクタは光反射率の高い白色系の樹脂を多く用いるので、樹脂成型で形成されるがリフレクタ自体に反りが発生し、マウント基板との接着に不具合が生じる問題点がある。
【解決手段】 本発明の発光装置では、リフレクタ30と実装基板10と同一のガラスエポキシ基板で形成し、リフレクタ30の板厚を実装基板10より厚くしてリフレクタ30の反りを防止することを特徴とする。
【選択図】 図1

Description

本発明は、発光装置に関し、特に2枚のガラスエポキシ樹脂基板で構成された発光装置に関する。
図8に発光素子から側面への放出される光を効率的に反射する発光効率の高い発光装置が示されている。
この発光装置は発光素子100、基板200、リフレクタ300および封止部材400から構成される。発光素子100は3族窒化物系化合物半導体発光素子である。マウント基板200は絶縁性の基板であり、所望の配線パターンが形成されて発光素子100がマウントされる。リフレクタ300は酸化チタンを一様に分散させたポリアミド系樹脂からなり、カップ状部500を形成する内周面が光軸に対して所望の角度になるように成型され、反射層310はAlの蒸着で作られている。シリコーン樹脂等の封止部材400は発光素子100を被覆するようにカップ状部500に充填される。(特許文献1、図1参照)
また、他の光半導体装置についてもリフレクタとして働くケースがポリカーボネイトに酸化チタンを含ませた光反射率の高い白色系の樹脂の成型により形成されている。(特許文献2、図3参照)
特に、コストを低減するためにリフレクタを樹脂成型で作る場合が多く、その場合には以下に述べる種々の問題点が発生する。
特開2004−134699号公報 特開2000−183407号公報
しかしながら、上述した発光装置では、以下のような問題点がある。
リフレクタは光反射率の高い白色系の樹脂を多く用いるので、樹脂成型で形成されるがリフレクタ自体に反りが発生し、マウント基板との接着に不具合が生じる問題点がある。
また、リフレクタが樹脂製のために発光装置をマザー基板に半田付けする際のリフロー温度が250℃と高いので、リフレクタ自体の変形が発生して不良品を出す問題点もある。
特に、鉛フリーの半田を用いる場合はこのリフロー温度は高くなり、その不良の発生率が高くなる。
リフレクタが樹脂製の場合は金型が必要であり、試作に時間が掛かる問題点もあった。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされ、発光素子と、上面に前記発光素子を載置する共通電極および前記発光素子の電極と接続される個別電極とを備え、裏面に前記共通電極および個別電極と接続された取り出し電極とを有する実装基板と、前記実装基板の上面に接着され、前記発光素子を囲むように斜面状の貫通孔と該貫通孔の斜面内壁に設けた反射メッキ膜とを有するリフレクタとを具備し、前記リフレクタは機械的加工ができるプリント基板材料から形成され、前記リフレクタの板厚を前記実装基板より厚くして前記リフレクタの反りを防止することを特徴とする。
また、本発明では、プリント基板材料はBTレジン、ガラスエポキシ樹脂、コンポジット、ガラスポリイミド樹脂あるいは紙フェノール樹脂のいずれかから選択されることを特徴とする。
更に、本発明では、前記リフレクタと前記実装基板の周端辺は一致させることを特徴とする。
更に、本発明では、反射メッキ膜は銀メッキ膜またはクロムメッキ膜で形成されることを特徴とする。
更に、本発明では、リフレクタの前記貫通孔は機械的加工で形成され、前記貫通孔の内壁の傾斜面の面積は前記リフレクタを形成するリフレクタ基板の板厚で選択されることを特徴とする。
更に、本発明では、リフレクタの下面はガラスエポキシ基板が露出され、半硬化したエポキシ樹脂の接着層で前記実装基板の上面に接着されることを特徴とする。
更に、本発明では、実装基板の前記共通電極および個別電極と前記取り出し電極とはスルーホール電極接続され、該スルーホール電極は前記実装基板の周端に配置することを特徴とする。
本発明に依れば、実装基板とリフレクタ基板とをプリント基板材料で構成することで、両基板の貼り合わせをしても反りなどが発生しない利点を有する。特に、ガラスエポキシ基板を用いることで、通常のプリント基板と同様に半田リフロー温度が250℃以上でも十分に耐熱性があり、リフレクタの変形などが発生しない。
また、本発明によれば、実装基板の両面に設けた導電箔を用いて発光素子を載置する電極と外部電極とをスルーホールで接続することで実装基板を実現できる利点がある。
更に、本発明では、リフレクタ基板に設けられる貫通孔はすべてドリルやリーマー加工などの機械的加工であり、熱処理がないので、リフレクタ基板は従来の樹脂製と異なり金型が一切不要である。貫通孔の大きさはドリルなどの選択で自在であり、傾斜面の大きさもリフレクタ基板の厚みを選択することで対応ができる。リフレクタ基板は機械加工のみで完成されるので、製造中に過熱による反りも発生しない。そのために実装基板とリフレクタ基板を接着剤で貼り合わせるときに反りがないので、隣接する貫通孔との間隔を狭められリフレクタの取れ量を大きくできる。
更に、本発明では実装基板とリフレクタ基板をプリント基板材料で構成するので、両者の基板の厚みの選択のみで発光装置の厚みの選択が容易であり、厚い発光装置から薄い発光装置まで容易に実現できる。
更に、本発明では実装基板とリフレクタとは接着層を挟んで加熱硬化させて一体に接着するので、両者の周端辺は同じであり、1つの基板として扱え、リフレクタの変形も防止できる。
更に、本発明ではリフレクタの貫通孔の斜面内壁に反射メッキ膜として銀メッキ膜またはクロムメッキ膜を用いるので、樹脂に比べてはるかに光沢が得られ反射率を向上できる。
まず、図1に本発明の発光装置を示す。図1(A)はその上面図であり、図1(B)はその断面図である。実装基板10には上面に十字状の共通電極11と、四隅に個別電極12a、12b、12c、12dが設けられ、下面にはそれぞれの対応する電極とスルーホール電極を通じて接続される取り出し電極13a、13bが設けられている。実装基板10の上側には共通電極11と個別電極12a、12b、12c、12dの一部を露出するようにリフレクタ30が接着層50で貼り付けられ、リフレクタ30の貫通孔31の傾斜面32および上面に反射メッキ膜33が設けられている。共通電極11の十字の突出部分にはそれぞれ4個の発光素子14a、14b、14c、14dが固着され、共通電極11は共通アノード電極を構成する。各発光素子のカソード電極は隣接する個別電極12a、12b、12c、12dと金属細線15により接続されている。 なお、図示しないが発光素子14a、14b、14c、14dは透明の保護樹脂で被覆されている。
次に、図2に本発明の個別の実装基板を示す。図2(A)はその上面図であり、図2(B)はその底面図である。実装基板10の上面には中央に十字状の共通電極11が設けられ、四隅に個別電極12a、12b、12c、12dが設けらている。実装基板10の左右両端で終端する共通電極11および個別電極12a、12b、12c、12dには半円状のスルーホールがあり、そこにスルーホール電極が設けられ、裏面に設けた取り出し電極13a、13b、13c、13d、13e,13fと対応する共通電極11および個別電極12a、12b、12c、12dとが電気的に接続される。
実装基板10の裏面には左右方向に平行に延在された取り出し電極13a、13b、13c、13d、13e,13fが設けられ、いずれも実装基板10の左右両端で終端しており、中央にはレジスト層26が設けられている。
本発明では、リフレクタ30は実装基板10と同じように機械的加工ができるプリント基板材料から形成されており、リフレクタの厚みを実装基板10より厚く形成してリフレクタ30の機械的強度を強くして反りの発生を防止している。
プリント基板材料としてはBTレジン、ガラスエポキシ樹脂、コンポジット、ガラスポリイミド樹脂あるいは紙フェノール樹脂のいずれかから選択される。BTレジンはT成分(トリアジン樹脂)を主成分とし、B成分(多官能マレイミド化合物)または他の改質用化合物より構成された高耐熱付加重合型熱硬化性樹脂の総称を言う。コンポジットは複数の基板材料を積層したものである。これらの基板材料はいずれも研削等の機械的加工ができる。
続いて、本発明に用いるリフレクタ付き実装基板の製造方法について説明する。
リフレクタ付き実装基板の製造方法は、発光素子を載置する電極を多数個備えた実装基板を準備する工程と、前記発光素子を載置する前記各電極を取り囲むように内壁に傾斜面を有する貫通孔を形成し、前記貫通孔の傾斜面に反射メッキ膜を形成したリフレクタ基板を準備する工程と、前記実装基板と前記リフレクタ基板とを接着層により接着する工程とから構成される。
図3及び図4を参照して実装基板10を準備する工程を説明する。
図3(A)では、両面に銅などの導電箔16、17を貼り付けたガラスエポキシ基板を用意する。導電箔16、17は18μmの銅箔を用い、基板10は0.15mmの板厚のものを用いる。導電箔16は上側は発光素子を載置する電極を形成するために用いられ、電極は図3で示した十字状の共通電極11と個別電極12a、12b、12c、12dとで構成される。
図3(B)では、スルーホール電極を形成するための約0.3mmのスルーホール用貫通孔18がNC工作機を用いてドリル等で導電箔16、17および基板10を貫通して開けられる。続いて、実装基板10をパラジウム溶液に浸漬して、両導電箔16、17を電極としてスルーホール用貫通孔18の内壁に銅の電解メッキにより約20μmの膜厚のスルーホール電極19を形成する。
図3(C)では、実装基板10の上面および下面の導電箔16、17はレジスト層20で被覆し、上面の導電箔16には図3(A)に示す十字状の共通電極11と個別電極12a、12b、12c、12dのパターンを、下面の導電箔17には図3(B)に示す取り出し電極13a、13b、13c、13d、13e、13fのパターンを露光現像し、残ったレジスト層20をマスクとして導電箔16、17のエッチングを行う。導電箔16、17が銅のときはエッチング溶液として塩化第2鉄を用いる。
図3(D)では、レジスト層20を剥離除去し、上面の十字状の共通電極11と個別電極12a、12b、12c、12dおよび下面の取り出し電極13a、13b、13c、13d、13e、13fの表面に銀メッキ層21を設けて、各電極の表面処理を行う。この銀メッキ層21により発光素子の固着、金属細線のボンディングあるいは半田付けが可能となる。
図4により具体化された実装基板を示す。図4(A)は実装基板10全体の上面図を示し、図4(B)は実装基板10の上面の導電箔16で形成した共通電極11および個別電極12a、12b、12c、12dの拡大平面図を示し、図4(C)は実装基板10の下面の導電箔17で形成した取り出し電極13a、13b、13c、13d、13e、13fの拡大平面図を示している。
実装基板10は60mm×90mmのガラスエポキシ基板を用いる。周辺には位置合わせ孔22を複数個設けられ、内部には行列上に多数の各ユニットの共通電極11および個別電極12a、12b、12c、12dが配置される。また、周辺には電解メッキのための電極として枠状の導電箔23が残されており、各ユニットの共通電極11および個別電極12a、12b、12c、12dはすべてこの枠状の導電箔23と電気的に接続されている。
各ユニットの共通電極11および個別電極12a、12b、12c、12dは図4(B)に示すように、十字状の共通電極11が横方向に連なって配置され、十字の突出部の間に個別電極12a、12b、12c、12dがはめ込まれている。十字の突出部の中間位置に丸印示すスルーホール電極19が各ユニットの共通電極11および個別電極12a、12b、12c、12dに設けられており、下面の取り出し電極13a、13b、13c、13d、13e、13fとの接続を行っている。上側の個別電極12aはその上のユニットの下側の個別電極12bと連絡細条24で接続され、更に同じユニットの共通電極11と蛇行させた連絡細条25で接続されている。この連絡細条24、25およびスルーホール電極19とで各ユニットの共通電極11および個別電極12a、12b、12c、12dと取り出し電極13a、13b、13c、13d、13e、13fとは電気的に接続されていることが分かる。なお後で説明するが、各ユニットに分離するときに各ユニットの境界をダイシングする際に連絡細条24、25は切断されて各ユニットの各電極は電気的に独立する。
各ユニットの取り出し電極13a、13b、13c、13d、13e、13fは図4(C)に示すように3本ほど並列に配置され、丸印で示すスルーホール電極19で上面の共通電極11および個別電極12a、12b、12c、12dと電気的に接続される。上側の取り出し電極13fは他に比べて長めに形成され、ピン配置の目印として用いる。この取り出し電極13a、13b、13c、13d、13e、13fはスルーホール電極19間の6本が1つのユニットを構成し、スルーホール電極19の両側に一体になっている取り出し電極13a、13b、13c、13d、13e、13fは隣接するユニットに属する。これはダイシングラインがちょうどこのスルーホール電極19上にあるためである。また、各ユニットの中央にある斜線部分はレジスト層26であり、マーザー基板への表面実装中に半田が侵入して取り出し電極13a、13b、13c、13d、13e、13f間をショートすることを防止する。
図5及び図6を参照してリフレクタ基板34を準備する工程を説明する。
図5(A)では、両面に銅などの導電箔35、36を貼り付けたガラスエポキシ基板を用意する。導電箔35、36は18μmの銅箔を用い、基板は0.6mmの板厚のものを用いる。リフレクタ30を形成するための貫通孔31をNC工作機を用いてドリル等で導電箔35、36および基板34を貫通して開けられる。貫通孔31はまずリフレクタ30下面の径に合わせて開けられ、たとえば2.2mmに内壁が垂直の貫通孔31が開けられる。なお、リフレクタ基板34はプリント基板材料のBTレジン、ガラスエポキシ樹脂、コンポジット、ガラスポリイミド樹脂あるいは紙フェノール樹脂のいずれかから選択される。
図5(B)では、貫通孔31にリフレクタ30の反射面を形成するためにNC工作機を用いてドリル加工、エンドミル加工あるいはリーマー加工で傾斜面32を形成する。貫通孔31の上面の径はたとえば、2.8mmに選択され、貫通孔31の内壁はすり鉢状の傾斜面32が形成される。なお、基板の板厚を選択することでリフレクタ30の反射面の面積を容易に選択できる。また、リーマーの歯の研削角度を選択することで傾斜面32の角度も容易に選択できる。
図5(C)では、リフレクタ基板34をパラジウム溶液に浸漬して、両導電箔35、36を電極として貫通孔31の内壁の傾斜面32に銅の電解メッキにより約20μmの膜厚の導電メッキ膜37を形成する。
図5(D)では、充填材38を印刷して貫通孔31を穴埋めし、リフレクタ基板34上面を被覆する。充填材38としては石膏の溶液を用いる。石膏の溶液は印刷後に焼成して乾燥し、リフレクタ基板34の下面の導電箔36に付着した石膏はバフ研磨で除去する。従って、本工程ではリフレクタ基板34の下面の導電箔36のみを露出し、上面の導電箔36および導電メッキ膜37は充填材38で被覆される。
図5(E)では、リフレクタ基板34の下面の導電箔36を充填材38をマスクとして選択的にエッチング除去する。エッチング溶液は塩化第二鉄を用いる。エッチング後に充填材38である石膏は苛性ソーダ溶液で剥離して除去する。
図5(F)では、リフレクタ基板34の上面の導電箔35および貫通孔31の導電メッキ膜37上にマスクなしで電解メッキにより銀メッキあるいはクロムメッキを行い、反射メッキ膜33を形成する。特に、クロムメッキの場合は表面に傷が付きにくく、表面を酸化されず、腐食もされ難い特徴があり、長期に渡り良好な反射を実現できる。
図6により具体化されたリフレクタ基板34を示す。図6(A)はリフレクタ基板34全体の上面図を示し、図6(B)はリフレクタ基板34の拡大平面図を示す。
リフレクタ基板34には前述した実装基板11の各ユニットに対応する位置に対応する数のリフレクタ30が設けられる。従って、各ユニットのリフレクタ30も行列上に配置されている。リフレクタ基板34は54.5mm×76.0mmの大きさであり、周辺に突出部40を設けてそこに位置合わせ孔41を設けてガイドピン等で実装基板11の位置合わせ孔22との位置合わせを行う。リフレクタ基板34にはリフレクタ30を構成するための貫通孔31が行列上に並べられ、貫通孔31の内壁の傾斜面32には反射メッキ膜33が設けられている。
貫通孔31の上面開口の径は2.8mmであり、下面開口の径は2.2mmである。また横方向に隣接するユニットの貫通孔31の中心間の間隔は3.56mmであり、縦方向の隣接するユニットの貫通孔31の中心間の間隔は3.36mmである。従って、横方向の隣接する貫通孔31間の離間距離は0.76mmであり、縦方向の隣接する貫通孔31間の離間距離は0.56mmであり、従来の樹脂成型のリフレクタに比べて極めて接近をして配置できるので、リフレクタ基板34当たりのリフレクタ30の取れ量を約20〜30%程度多くできる。
このために樹脂に比べてコストの高いガラスエポキシ基板を用いても金型を用いないこととともにコストアップを抑えられる。
リフレクタ基板34は板厚が0.6mmと実装基板11の板厚0.15mmよりかなり厚いガラスエポキシ基板を用いるので、リフレクタ基板34は平坦であり反りが発生することはない特徴がある。リフレクタ基板34に設けられる各ユニットのリフレクタ30を構成する貫通孔31はNC工作機で機械的に形成されているので、加熱処理もなく形成でき、各ユニット間の貫通孔31の間隔も狭められる。
図7を参照して実装基板10とリフレクタ基板34とを接着層により接着する工程を説明する。
接着層50はガラスクロスにエポキシ系樹脂を半硬化させたスーパーボンディングシート(商品名)を用いる。このシート状のスーパーボンディングシートはNC工作機で実装基板11の電極がリフレクタ基板34の貫通孔31より露出する部分を打ち抜き加工される。この際にスーパーボンディングシートに前述した実装基板10およびリフレクタ基板34と同じ位置に位置合わせ孔(図示せず)を設けておくとガイドピン等で位置合わせを自動的に行える。
次に上述した実装基板10と接着層50となるスーパーボンディングシートとリフレクタ基板34とを重ねて油圧プレス機で3〜5MPaで加圧しながら、160〜170℃で1時間ほどアニールして接着層50を本硬化させて実装基板10とリフレクタ基板34と約50μmの厚みの接着層50で一体に接着してリフレクタ付き実装基板を完成させる。
リフレクタ基板34の下面の導電箔36はリフレクタ基板34の製造工程で除去されているのは実装基板10の共通電極11および個別電極12a、12b、12c、12dと接着層50のみを挟んでリフレクタ基板34の下面は一体になるので、接着層50にピンホールがあったときに水分等でショートするのを防止している。
なお、接着層50をより厚くしてピンホールの発生が防止できれば、リフレクタ基板34の下面の導電箔36の除去を省いて、リフレクタ基板34全面に反射メッキ膜33を設けても良い。この場合はリフレクタ基板34の下面の導電箔除去の工程を省略でき、工程短縮が行える。
以上の工程で完成されたリフレクタ付き実装基板には、まず発光素子を共通電極11上に組み込み、続いて発光素子のアノード電極と個別電極12a、12b、12c、12dとを金属細線でボンディングして接続し、発光素子および金属細線を透明の保護樹脂で被覆する。
その後、リフレクタ付き実装基板はダイシング装置により縦方向ではスルーホール電極上を切断され、横方向ではリフレクタ基板に設けた三角形の目印(図5(B)参照)を基準にして切断され、個々の発光装置に分離される。従って、本発明の発光装置はリフレクタ30と実装基板10の周端辺が一致するので、リフレクタ30と実装基板10とは一体に扱え、あたかも単一のプリント基板材料で形成されたものとみなせる。また、リフレクタ30の機械的強度が強いので反りによる変形もなくなる。
本発明の発光装置の(A)上面図、(B)断面図である。 本発明に用いる実装基板の(A)上面図、(B)底面図である。 (A)〜(D)は本発明に用いる実装基板の製造方法を説明する断面図である。 本発明に用いる実装基板の(A)全体を示す平面図、(B)拡大された上面図、(C)拡大された底面図である。 (A)〜(F)は本発明に用いるリフレクタ基板の製造方法を説明する断面図である。 本発明に用いるリフレクタ基板の(A)全体を示す平面図、(B)拡大された上面図である。 本発明に用いる実装基板とリフレクタ基板の接着方法を説明する断面図である。 従来の発光装置を説明する断面図である。
符号の説明
10 実装基板
11 共通電極
12a、12b、12c、12d 個別電極
13a、13b、13c、13d、13e、13f 取り出し電極
14a、14b、14c、14d 発光素子
15 金属細線
16、17 導電箔
18 スルーホール用貫通孔
19 スルーホール電極
20 レジスト層
21 反射メッキ膜
22 位置合わせ孔
23 枠状の導電箔
30 リフレクタ
31 貫通孔
32 傾斜面
33 反射メッキ膜
34 リフレクタ基板
35、36 導電箔
37 導電メッキ膜
38 充填材
40 突出部
41 位置合わせ孔
50 接着層

Claims (7)

  1. 発光素子と、
    上面に前記発光素子を載置する共通電極および前記発光素子の電極と接続される個別電極とを備え、裏面に前記共通電極および個別電極と接続された取り出し電極とを有する実装基板と、
    前記実装基板の上面に接着され、前記発光素子を囲むように斜面状の貫通孔と該貫通孔の斜面内壁に設けた反射メッキ膜とを有するリフレクタとを具備し、
    前記リフレクタは機械的加工ができるプリント基板材料から形成され、前記リフレクタの板厚を前記実装基板より厚くして前記リフレクタの反りを防止することを特徴とする発光装置。
  2. 前記プリント基板材料はBTレジン、ガラスエポキシ樹脂、コンポジット、ガラスポリイミド樹脂あるいは紙フェノール樹脂のいずれかから選択されることを特徴とする請求項1に記載の発光装置。
  3. 前記リフレクタと前記実装基板の周端辺は一致させることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の発光装置。
  4. 前記反射メッキ膜は銀メッキ膜またはクロムメッキ膜で形成されることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の発光装置。
  5. 前記リフレクタの前記貫通孔は機械的加工で形成され、前記貫通孔の内壁の傾斜面の面積は前記リフレクタを形成するリフレクタ基板の板厚で選択されることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の発光装置。
  6. 前記リフレクタの下面はガラスエポキシ基板が露出され、半硬化した樹脂の接着層で前記実装基板の上面に接着されることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の発光装置。
  7. 前記実装基板の前記共通電極および個別電極と前記取り出し電極とはスルーホール電極接続され、該スルーホール電極は前記実装基板の周端に配置することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の発光装置。
JP2005195609A 2005-07-04 2005-07-04 発光装置 Withdrawn JP2007013066A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005195609A JP2007013066A (ja) 2005-07-04 2005-07-04 発光装置
TW094133471A TW200704308A (en) 2005-07-04 2005-09-27 Illuminating device
KR1020050093774A KR20070004401A (ko) 2005-07-04 2005-10-06 발광 장치
CNA2005101187603A CN1893127A (zh) 2005-07-04 2005-10-31 发光装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005195609A JP2007013066A (ja) 2005-07-04 2005-07-04 発光装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007013066A true JP2007013066A (ja) 2007-01-18

Family

ID=37597765

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005195609A Withdrawn JP2007013066A (ja) 2005-07-04 2005-07-04 発光装置

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP2007013066A (ja)
KR (1) KR20070004401A (ja)
CN (1) CN1893127A (ja)
TW (1) TW200704308A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012059922A (ja) * 2010-09-09 2012-03-22 Stanley Electric Co Ltd 半導体装置用集合基板及びその製造方法
JP2013038190A (ja) * 2011-08-05 2013-02-21 Dainippon Printing Co Ltd リフレクタ付基板の製造方法
JP2013168682A (ja) * 2007-03-30 2013-08-29 Seoul Semiconductor Co Ltd メタルpcbを有するledパッケージ
JP2014203942A (ja) * 2013-04-04 2014-10-27 信越化学工業株式会社 光半導体装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI638410B (zh) * 2017-11-14 2018-10-11 蔡宜興 降低封裝基板翹曲的方法及半成品結構

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013168682A (ja) * 2007-03-30 2013-08-29 Seoul Semiconductor Co Ltd メタルpcbを有するledパッケージ
JP2012059922A (ja) * 2010-09-09 2012-03-22 Stanley Electric Co Ltd 半導体装置用集合基板及びその製造方法
JP2013038190A (ja) * 2011-08-05 2013-02-21 Dainippon Printing Co Ltd リフレクタ付基板の製造方法
JP2014203942A (ja) * 2013-04-04 2014-10-27 信越化学工業株式会社 光半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
TW200704308A (en) 2007-01-16
CN1893127A (zh) 2007-01-10
KR20070004401A (ko) 2007-01-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5496072B2 (ja) 半導体発光装置及びその製造方法
JP2008172125A (ja) チップ型led発光装置及びその製造方法
JP5154039B2 (ja) 半導体装置および半導体装置製造方法
US9257354B2 (en) Wiring substrate, light emitting device, and method for manufacturing wiring substrate
JP2005167086A (ja) 発光素子搭載用基板及びその製造方法
JP2004282004A (ja) 発光素子搭載用基板及びその製造方法
JP2006287126A (ja) Ledランプ、およびそのユニット板の製造方法
JP3963923B2 (ja) リフレクタ付き実装基板の製造方法
TWI403234B (zh) 安裝基板及使用該基板之薄型發光裝置的製造方法
JP5381563B2 (ja) 発光素子用リードフレーム基板の製造方法
JP2007013066A (ja) 発光装置
JP2007317803A (ja) 発光装置およびその製造方法
JP6782579B2 (ja) 発光装置
JPH11340609A (ja) プリント配線板、および単位配線板の製造方法
JP6524526B2 (ja) 半導体素子実装用基板及び半導体装置、並びにそれらの製造方法
JP7260734B2 (ja) 発光装置及びその製造方法
JP2012182207A (ja) Led素子用リードフレームおよびその製造方法
JP2009071199A (ja) 実装基板およびそれを用いた薄型発光装置の製造方法
JP2006013144A (ja) 光半導体パッケージの製造方法およびその製造方法を用いて製造した光半導体パッケージ。
JP2009194112A (ja) Ledモジュール用基板とその作製方法、および該ledモジュール用基板を用いたledモジュール
JP6825780B2 (ja) 多列型led用配線部材及びその製造方法
JP2012064841A (ja) 半導体発光装置
JP5636184B2 (ja) 半導体装置、半導体装置用基板及びこれらの製造方法
JP2010219103A (ja) 半導体装置およびその製法
JP7296201B2 (ja) 半導体発光装置

Legal Events

Date Code Title Description
A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20061214