JP2006295146A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2006295146A5
JP2006295146A5 JP2006072175A JP2006072175A JP2006295146A5 JP 2006295146 A5 JP2006295146 A5 JP 2006295146A5 JP 2006072175 A JP2006072175 A JP 2006072175A JP 2006072175 A JP2006072175 A JP 2006072175A JP 2006295146 A5 JP2006295146 A5 JP 2006295146A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
exposure
measurement
area
control system
temperature control
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006072175A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006295146A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2006072175A priority Critical patent/JP2006295146A/ja
Priority claimed from JP2006072175A external-priority patent/JP2006295146A/ja
Priority to US11/378,511 priority patent/US7312848B2/en
Publication of JP2006295146A publication Critical patent/JP2006295146A/ja
Publication of JP2006295146A5 publication Critical patent/JP2006295146A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Claims (9)

  1. 基板を露光する露光装置であって、
    基板を計測する計測領域と基板を露光する露光領域とを有する定盤と、
    前記定盤の上で駆動される2つの可動体と、
    前記可動体の駆動プロファイルに基づいて前記計測領域の温度を制御する計測領域温度制御系と、
    前記駆動プロファイルに基づいて前記露光領域の温度を制御する露光領域温度制御系とを備え、
    前記計測領域温度制御系および前記露光領域温度制御系は、前記計測領域と前記露光領域との温度差を低減する制御を実行することを特徴とする露光装置。
  2. 前記定盤は、基板を計測する計測領域に配置された計測用定盤と基板を露光する露光領域に配置された露光用定盤とを含み、
    前記計測用定盤と前記露光用定盤との間に、前記計測用定盤と前記露光用定盤との間の熱移動を遮断する遮断部材が配置されていることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
  3. 前記計測領域温度制御系と前記露光領域温度制御系とは、前記駆動プロファイルに基づいて冷媒の流量を制御する冷媒制御器を含むことを特徴とする請求項1または2に記載の露光装置。
  4. 前記計測領域温度制御系と前記露光領域温度制御系とは、前記駆動プロファイルに基づいて冷媒の温度を制御する冷媒制御器を含むことを特徴とする請求項1または2に記載の露光装置。
  5. 前記計測領域温度制御系と前記露光領域温度制御系とは、前記定盤および冷媒の少なくとも一方の温度を測定する温度センサを更に含み、前記駆動プロファイルのほか、前記温度センサによる測定結果に基づいて冷媒を制御することを特徴とする請求項3または4に記載の露光装置。
  6. 前記駆動プロファイルは、前記可動体の駆動速度の経時的変化を表すことを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1項に記載の露光装置。
  7. 前記計測領域温度制御系と前記露光領域温度制御系とは、前記駆動プロファイルをフィードフォワードすることにより前記計測領域と前記露光領域との温度差を低減する制御を実行することを特徴とする請求項1ないし6のいずれか1項に記載の露光装置。
  8. 前記計測領域と前記露光領域とをそれぞれ温調するヒータを有することを特徴とする請求項1ないし7のいずれか1項に記載の露光装置。
  9. 請求項1ないし8のいずれか1項に記載の露光装置を用いて基板を露光する工程と、
    前記基板を現像する工程とを備えることを特徴とするデバイス製造方法。
JP2006072175A 2005-03-18 2006-03-16 位置決め装置、露光装置及びデバイス製造方法 Pending JP2006295146A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006072175A JP2006295146A (ja) 2005-03-18 2006-03-16 位置決め装置、露光装置及びデバイス製造方法
US11/378,511 US7312848B2 (en) 2005-03-18 2006-03-17 Positioning apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005080584 2005-03-18
JP2006072175A JP2006295146A (ja) 2005-03-18 2006-03-16 位置決め装置、露光装置及びデバイス製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006295146A JP2006295146A (ja) 2006-10-26
JP2006295146A5 true JP2006295146A5 (ja) 2009-04-02

Family

ID=37009942

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006072175A Pending JP2006295146A (ja) 2005-03-18 2006-03-16 位置決め装置、露光装置及びデバイス製造方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7312848B2 (ja)
JP (1) JP2006295146A (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1965414A4 (en) * 2005-12-06 2010-08-25 Nikon Corp EXPOSURE METHOD, EXPOSURE DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING COMPONENTS
US8324848B2 (en) * 2009-02-05 2012-12-04 Asm Assembly Automation Ltd System for maintaining thermal stability of a motion stage
JP5708310B2 (ja) * 2011-07-01 2015-04-30 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置
US9778579B2 (en) * 2011-11-10 2017-10-03 Nikon Corporation System and method for controlling a temperature of a reaction assembly
WO2015011829A1 (ja) * 2013-07-26 2015-01-29 株式会社日立国際電気 基板処理装置及び半導体装置の製造方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2928603B2 (ja) * 1990-07-30 1999-08-03 キヤノン株式会社 X線露光装置用ウエハ冷却装置
JP3127525B2 (ja) 1991-11-05 2001-01-29 株式会社ニコン 可動ステージ装置
JP4210871B2 (ja) * 1997-10-31 2009-01-21 株式会社ニコン 露光装置
JPH11307430A (ja) * 1998-04-23 1999-11-05 Canon Inc 露光装置およびデバイス製造方法ならびに駆動装置
TWI238292B (en) * 2000-02-10 2005-08-21 Asml Netherlands Bv Lithographic projection apparatus having a temperature controlled heat shield
JP3870002B2 (ja) * 2000-04-07 2007-01-17 キヤノン株式会社 露光装置
JP2002043213A (ja) * 2000-07-25 2002-02-08 Nikon Corp ステージ装置および露光装置
TW200305927A (en) * 2002-03-22 2003-11-01 Nippon Kogaku Kk Exposure apparatus, exposure method and manufacturing method of device
JP4227452B2 (ja) 2002-12-27 2009-02-18 キヤノン株式会社 位置決め装置、及びその位置決め装置を利用した露光装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2007532863A5 (ja)
JP2006295146A5 (ja)
JP2011082549A5 (ja) リソグラフィ装置、デバイス製造方法、リソグラフィ方法及び基板を取り扱うための方法
JP2017207523A5 (ja)
JP2007533155A5 (ja)
JP2018017910A5 (ja)
JP2009145645A5 (ja)
WO2008020988A3 (en) Method and apparatus for temperature control in a continuous casting furnace
WO2009024746A3 (en) Thermostatic control device
CA2518636A1 (en) Room heating system
JP2010114397A5 (ja)
RU2011122941A (ru) Однотрубная система теплоснабжения с регулированием расхода
JP2007078988A5 (ja)
RU2017113637A (ru) Устройство для подачи отопительной теплой воды для центрального отопления и централизованного теплоснабжения и способ управления
JP2011053685A5 (ja)
DE602007008334D1 (de) Steuerung einer Blende für eine Bildaufnahmevorrichtung, Linsenvorrichtung und Bildaufnahmesystem
JP2014522574A5 (ja)
JP2007123295A5 (ja)
JP2009016385A5 (ja)
JP2005165630A5 (ja)
TW201637077A (zh) 熱處理裝置及熱處理方法
JP2008300702A5 (ja)
JP2018503969A5 (ja) 加工物の温度を制御するシステム及び方法
JP2019502058A5 (ja)
JP2017138148A5 (ja)