JP2006286073A - 最尤復号装置、信号評価方法、再生装置 - Google Patents

最尤復号装置、信号評価方法、再生装置 Download PDF

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Abstract

【課題】 入力信号に応じて基準レベルが適応的に変化される適応型のＰＲＭＬ復号装置において、メトリック差分の分散値と最尤パスと上記第２パスとのユークリッド距離とを用いた信号評価値の信頼性の向上を図る。
【解決手段】 メトリック差分ＭＤの分散値σ2ＭＤと最尤パスＰａと第２パスＰｂとのユークリッド距離ｄ2とを用いた評価値の算出にあたり、固定によるユークリッド距離ｄ2を用いず、最尤パスＰａと第２パスＰｂとのユークリッド距離ｄ2を実際に計算してその値を用いて分散値σ2ＭＤの正規化を行う。適応型とされて基準レベルの値が変化する場合にも実際にユークリッド距離ｄ2の値が計算されることで、固定によるユークリッド距離ｄ2が用いられる場合のように評価値の信頼性が低下する虞はない。
【選択図】図２

Description

本発明は、例えば記録媒体からの再生信号などに対しＰＲＭＬ（Partial Response Maximum Likelihood）による復号処理を行う最尤復号装置、及びこのような最尤復号装置を備えて記録媒体に記録された情報の再生を行う再生装置に関する。また、最尤復号装置における信号評価方法に関する。
特開平１０−２１６５１号公報 特開２００３−１４１８２３号公報 特開２００３−１５１２２０号公報 特開２００３−１７８５３７号公報
例えば、光ディスクの再生信号の信号品質を評価する手法として、タイムインターバルジッタ（ＴＩジッタ）を評価する手法が知られている。ＴＩジッタとは、再生信号と、ビット判定レベルとをコンパレータに入力し、得られた二値レベルのアナログ信号のエッジのタイミングと、再生信号から同期再生されたクロックのエッジのタイミングとの間の時間差（タイムインターバル）のばらつき（ジッタ）のことを意味している。
このような、ＴＩジッタを用いた信号品質の評価法は、アナログの二値信号を用いたビット検出では、二値信号のエッジのタイミングのばらつきがビットエラーレートに直接影響を及ぼすことから、ビットエラーレートと相関のある評価方法として用いられていた。特に、このようなアナログの２値検出を用いていたＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）などでは、非常に有効な信号評価手法として広く用いられていた。
一方、近年、光ディスクの記録情報の密度が高まるにつれて、上述のアナログの二値信号を用いたビット検出では十分に小さなビットエラーレートが確保できないことが判明し、特に現在、より高密度な光ディスクであるとされるブルーレイディスク（Blu-Ray Disc）等では、ビット検出方法として、パーシャルレスポンス最尤（ＰＲＭＬ：Partial Response Maximum Likelihood）検出とよばれる手法が用いる方法が一般的となってきている。
ＰＲＭＬとは、パーシャルレスポンスという過程と最尤検出という技術を組み合わせた技術である。パーシャルレスポンスとは、１ビットの入力に対して、１ビットよりも長く出力を返す過程、すなわち、出力の複数の入力ビットで決定する過程のことをいい、特にブルーレイディスクなどの光ディスクでよく用いられるような、再生信号が、連続する４ビットの情報ビットの入力に対してこれらを順に１、２、２、１を乗じて加算した信号として得られる過程は、ＰＲ（１，２，２，１）と表現される。
また、最尤検出とは、二つの信号列間にパスメトリックとよばれる距離を定義して、実際の信号と想定されるビット系列から予想される信号との間の距離を調べて、その距離が最も近くなるようなビット系列を検出する方法である。なお、ここで、パスメトリックとは、同じ時刻での２つの信号の振幅差の二乗を全時刻にわたって加算した距離として定義される距離である。また、この距離を最小とするビット系列の探索には、ビタビ検出をもちいる。
これらを組み合わせたパーシャルレスポンス最尤検出は、記録媒体のビット情報から得られた信号をイコライザとよばれるフィルタでパーシャルレスポンスの過程となるように調整し、得られた再生信号と想定されるビット系列のパーシャルレスポンスとの間のパスメトリックを調べて、その距離が最も近くなるようなビット系列を検出する方法である。
実際にパスメトリックが最小となるビット系列を探索するには、前述のビタビ検出によるアルゴリズムが効果を発揮する。
ビタビ検出は、所定の長さの連続ビットを単位として構成される複数のステートと、それらの間の遷移によって表されるブランチで構成されるビタビ検出器が用いられ、全ての可能なビット系列の中から、効率よく所望のビット系列を検出するように構成されている。
実際の回路では、各ステートに対してパスメトリックレジスタとよばれるそのステートにいたるまでのパーシャルレスポンス系列と信号のパスメトリックを記憶するレジスタ、および、パスメモリレジスタとよばれるそのステートにいたるまでのビット系列の流れ（パスメモリ）を記憶するレジスタの２つのレジスタが用意され、また、各ブランチに対してはブランチメトリックユニットとよばれるそのビットにおけるパーシャルレスポンス系列と信号のユークリッド距離を計算する演算ユニットが用意されている。
このビタビ検出器では、さまざまなビット系列を、上記のステートを通過するパスのひとつによって一対一の関係で対応付けることができる。また、これらのパスを通過するようなパーシャルレスポンス系列と、実際の信号（再生信号）との間のパスメトリックは、上記のパスを構成するステート間遷移、すなわち、ブランチにおける前述のブランチメトリックを順次加算していくことで得られる。
さらに、上記のユークリッド距離を最小にするようなパスを選択するには、この各ステートにおいて到達する２つ以下のブランチが有するパスメトリックの大小を比較しながら、パスメトリックの小さいパスを順次選択することで実現できる。この選択情報をパスメモリレジスタに転送することで、各ステートに到達するパスをビット系列で表現する情報が記憶される。パスメモリレジスタの値は、順次更新されながら最終的にパスメトリックを最小にするようなビット系列に収束していくので、その結果を出力する。
以上のようにすると、上述したような、再生信号に対しパスメトリックの観点で最も近いパーシャルレスポンス系列を生成するビット系列を効率的に検索することができる。
ところで、このようなＰＲＭＬを用いたビット検出では、時間軸方向の揺らぎであるＴＩジッタは、ビット検出に直接影響を及ぼすものではない。つまりは、ＴＩジッタはＰＲＭＬを用いたビット検出におけるビットエラーレートと必ずしも相関があるわけではなく、信号品質の指標として必ずしも適切ではないことになる。
ＰＲＭＬの場合は、振幅軸方向のゆらぎがビット検出におけるビットエラーレートに直接関係することになる。このため、ＰＲＭＬを用いたビット検出では、従来のビットエラーレートに対応する指標として、振幅軸方向の揺らぎを取り込んだ指標であることが望ましい。
ここで、前述もしているようにＰＲＭＬによるビット検出手法は、正しいビット系列から得られるパーシャルレスポンス系列と再生信号とのパスメトリックと、誤りのあるビット系列から得られるパーシャルレスポンス系列と再生信号とのパスメトリックの大小関係を比較し、より近い、すなわちパスメトリックの値のより小さいものをより確かなパスとして残し、この操作の繰り返しで最終的に生き残ったパス（最尤パス）を検出結果とするアルゴリズムとなる。
このようなアルゴリズムによると、最終的な生き残りパスの選択候補となった、パスメトリックの値の小さい上位２つのパス（最尤パスと第２パスとする）について、その差が大きければ、生き残ったパスはより確からしく、その差が小さければより紛らわしい、つまりは検出誤りの可能性が大きい、ということが分かる(図６（ａ）（ｂ）参照)。
換言すれば、最尤パスに対するパスメトリックが、第２パスに対するパスメトリックよりも小さくなる場合に、正しいビット検出が実行される。また、逆に大きくなる場合には誤りが発生するというものである。
このことから、ＰＲＭＬのビット検出の能力、ひいては再生信号の信号品質は、前者のパスメトリックと後者のパスメトリックの差に基づいて決定することができる。
つまりは、ＰＲＭＬでのビットエラーレートに対応する指標としては、このような最尤パスに対するパスメトリックと、第２パスに対するパスメトリックとの差分を用いることが有効である。具体的に、このようなメトリック差分の分散値などによる統計的情報を用いるようにされている。
ところで、こうしたメトリック差分の分散値に基づいた従来の信号品質評価の手法においては、ビタビ検出器として、固定値による基準レベルが設定されることを前提としている。すなわち、ブランチメトリック計算のための基準レベルとして固定値が設定されるビタビ検出器のみを対象として行われていたものである。このため、評価値の計算に必要である、上記メトリック差分の分散値の規格化に用いられる上記最尤パスと上記第２パスとの符号間のパスメトリックで与えられる、ユークリッド距離としても、固定値で取り扱うようにされているのが現状である。
しかしながら、近年、ビタビ検出器の改良技術として、再生信号に応じて動的に内部の基準レベルを変化させるという、適応型ビタビ技術が提案され、利用され始めている。
図１０は、例えばパーシャルレスポンスのタイプとしてＰＲ（１，２，２，１）が採用された場合での、ビタビ検出器（ＰＲＭＬ検出器）内で設定される各基準レベルと再生信号（アイパターン）との関係を示した図である。
先ず、図１０（ａ）では、ビタビ検出器が採用するＰＲでの各基準レベル（図中Ｒ-Lva〜g）に対し、再生信号中のそれぞれ対応するマーク長の振幅レベルが正規分布しており、そのＰＲのタイプで想定される理想的な再生信号が得られている場合が示されている。
これに対し図１０（ｂ）は、例えば記録媒体の高記録密度化等に伴い、特に最短マーク長の再生信号として、充分な振幅が得られなくなった場合が示されている。
このような場合、最短マーク長に対応して設定されるべきそれぞれの基準レベル（図中破線による基準レベルＲ-Lvc、基準レベルＲ-Lve）は、実際の信号振幅の分布に対してずれた値となってしまう。このようにそのＰＲで想定する理想的な波形とは異なる再生信号波形が得られ、これに伴って基準レベルがずれた値となってしまっていることで、この基準レベルに基づいて算出されるブランチメトリックとしても誤りが生じ、これによってビタビ検出器の検出結果にも誤りが生じてしまう可能性がある。
そこで適応型ビタビでは、再生信号中の各分布の平均値を算出する等して、実際の再生信号に応じた各基準レベルを生成し、これをブランチメトリック計算に用いることでビット検出結果の誤りの抑制を図るようにされている。
但し、このような適応型ビタビ検出では、上記のようにして基準レベルが変動する事が原因で、特定の２つのパス間のユークリッド距離も各々変動する可能性がある。つまりは、これによって最尤パスと第２パスとのユークリッド距離も変化する場合がある。
したがって、適応型ビタビ技術との組み合わせ時において、上述の従来方式、すなわち固定のユークリッド距離を用いて計算された信号品質評価値では、評価値の精度が著しく悪化する可能性がある。
そこで本発明では上記した問題点に鑑み、最尤復号装置として以下のように構成することとした。
つまり、先ず、ビット情報を再生した再生信号からビタビ検出を行ってビット検出を行うビタビ検出手段であって、ブランチメトリックの計算のために用いられる基準レベルが、上記再生信号のレベルに応じて可変的に設定されるビタビ検出手段を備える。
そして、上記ビタビ検出手段におけるパスの選択の結果生き残ったパスである最尤パスと、この最尤パスと最終的に比較された第２パスとのユークリッド距離を算出するユークリッド距離算出手段を備える。
また、上記再生信号と上記最尤パスと上記第２パスとに基づき、上記第２パスに対するパスメトリックの値と上記最尤パスに対するパスメトリックの値との差分であるメトリック差分を算出するメトリック差分算出手段を備える。
また、上記ユークリッド距離算出手段により算出された上記最尤パスと上記第２パスとのユークリッド距離の値をサンプリングしてその平均値を算出するサンプル平均値算出手段を備える。
また、上記メトリック差分算出手段により算出された上記メトリック差分の分散値を算出する分散値算出手段を備えるようにしたものである。
上記のようにして本発明によれば、実際に最尤パスと第２パスとのユークリッド距離が算出される。つまり、本発明によれば、このように実際に算出されたユークリッド距離に基づいてメトリック差分の分散値を正規化することが可能となる。
このようにして本発明によれば、実際に算出された最尤パスと第２パスとのユークリッド距離に基づいてメトリック差分の分散値を正規化することが可能となる。つまり、これによれば、適応型のビタビ検出の手法が採られ基準レベルの値が変動し、これに伴ってユークリッド距離の値が想定される値とは異なる値となった場合も、実際に算出されたユークリッド距離の値に基づいてメトリック差分の分散値を正規化することができる。
この結果、適応型のビタビ検出の手法が採られる場合にも適正に信号品質評価値を算出できる。
以下、本発明を実施するための最良の形態（以下、実施の形態とする）について説明する。
図１は、本発明における第１実施の形態としての再生装置の概要を表すブロック図である。
図１に示すように、本実施の形態の再生装置は、光ディスクなどのディスク状の記録媒体９０、この記録媒体９０からビット情報を再生する光ピックアップ１、光ピックアップ１で読み取られた信号を再生信号（ＲＦ信号）に変換するプリアンプ２を備える。
また、上記再生信号ＲＦをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器３、ＰＬＬ（Phase Locked Loop）処理のために再生信号ＲＦの波形を整えるイコライザ４、再生信号ＲＦからクロックを再生するＰＬＬ回路５を備える。
そして、再生信号ＲＦからビット情報を検出して２値化信号ＤDを得るＰＲＭＬ（Pertial Response Maximum Likelihood）復号器６（ビタビ検出器）、ＰＲＭＬ復号器６からの情報を元に再生信号品質についての評価値ＥＶを算出するための信号評価器７を備える。
さらに、上記２値化信号ＤDに基づきビット情報を復調するＲＬＬ（１−７）ｐｐ復調器などの復調器８、復調された情報の誤り訂正を行うＲＳデコーダ９、誤り訂正された情報を処理してアプリケーションデータを再生するＣＰＵ（Central Processing Unit）ブロック１０などを備えて構成されている。
光ピックアップ１及びプリアンプ２を通じて得られた再生信号ＲＦは、Ａ／Ｄ変換器３で数値化サンプリングされる（ＲＦ(Sampled)）。このサンプリングは、ＰＬＬ回路５で再生されたチャネルビットに同期したクロックと同じタイミングで行われる。
サンプリングされた再生信号ＲＦのサンプリング情報は、イコライザ４で波形を整えられた後、ＰＲＭＬ復号器６に入力されて、ビット情報が検出される。
ここでは、ＰＲＭＬは、記録時の変調方式の制約に従ってＤ１制約（最小ランレングスｄ＝１で最短マーク長が２Ｔ）を満たすように構成し、さらに、ＰＲＭＬのターゲットレスポンス（ＰＲＭＬのタイプ）はＰＲ（１，２，２，１）か、あるいはＰＲ（１，２，２，２，１）であるとする。
ＰＲＭＬ復号器６で得られたビット情報は、２値化信号ＤDとして復調器８に供給され、ここで記録時の変調方式に従って復調される。さらに、ＲＳデコーダ９でＥＣＣブロックのリード・ソロモン符号を復号して誤りを訂正し、ＣＰＵブロック１０はＥＤＣブロックにおける誤り検出符号に誤りが検出されていないことを確認することで、もとのアプリケーションデータを復元する。つまり、これによって再生データが得られる。
なお、本実施の形態の場合のＰＲＭＬ復号器６としては、入力される再生信号ＲＦの振幅レベルに基づき、ブランチメトリック算出のための各基準レベルの値を適応的に変化させる、いわゆる適応型のビタビ検出器として構成されている。
信号評価器７は、少なくともＰＲＭＬ復号器６内のイコライザ（後述）から得られる再生信号ＲＦと、ＰＲＭＬ復号器６にて上記のように再生信号ＲＦに適応して生成される基準レベルと、上記２値化信号ＤDとに基づき、再生信号品質についての評価値ＥＶを得ることができるように構成される。この評価値ＥＶにより信号品質評価がなされる。
図２は、図１に示したＰＲＭＬ復号器６、及び信号評価器７の構成を表している。
なお、実際においてＰＲＭＬ復号器６及び信号評価器７は、図１にて破線で囲っているように同一基板上に一体的に形成される。実施の形態では、このように同一基板上に一体的に形成されたＰＲＭＬ復号器６及び信号評価器７が、１つの最尤復号装置を構成しているものとして扱う。
先ず、ＰＲＭＬ復号器６は、チャネルレスポンスをターゲットレスポンスに等化する波形等化器（ＥＱ-ＰＲ）２１と、このイコライザ２１の出力から各ブランチに対してブランチメトリックを計算するブランチメトリック計算ユニット（ＢＭＣ）２２と、ブランチメトリックを取り込んでブランチを比較してパスの選択を行いパスメトリックの更新を行うパスメトリック更新ユニット（ＡＣＳ）２３と、選択されたパス情報に従いパスメモリの更新を行うパスメモリ更新ユニット（ＰＭＥＭ）２４を備える。
そして、特に本実施の形態の場合では、上述した適応型のビタビ検出動作の実現のため、再生信号ＲＦのレベルに応じた基準レベルを生成するための適応型基準レベル生成回路２５が備えられている。
この図２に示されるイコライザ２１の役割は、チャネルレスポンスをＰＲ（１，２，２，１）、あるいは、ＰＲ（１，２，２，２，１）のターゲットに等化することである。ターゲットレスポンスは、必ずしもこれに限るものではなく、例えばＤ２制約（最小ランレングスｄ＝２で最短マーク長が３Ｔ）のときは、より拘束長の長いターゲットが用いられる。
このイコライザ２１によって等化処理が施された再生信号ＲＦは、ブランチメトリック計算ユニット２２に供給される共に、適応型基準レベル生成回路２５に対して供給される。
ブランチメトリック計算ユニット２２は、イコライザ２１からの再生信号ＲＦの値と、上記した適応型基準レベル生成回路２５から設定される各基準レベルの値（基準レベルデータＲ-Lva〜x）とに基づき、各ブランチに対応するブランチメトリックを計算する。
ここで、以下のビタビ検出動作の説明にあたっては、ＰＲ（１，２，２，２，１）のような５タップの拘束長を有するものを例に説明を絞るものとする。最小ランレングス規則としてのＤ１制約（最小ランレングスｄ＝１で最短マーク長が２Ｔ）がある場合、ブランチメトリック計算ユニット２２，パスメトリック更新ユニット２３、パスメモリ更新ユニット２４を有するＰＲＭＬ復号器６は、４ビットで構成される１０個のステートと、５ビットで構成される１６のブランチが用意され、これらのブランチが、ステートの間をＤ１制約に従って接続するように構成されている。
ここで、４ビットで構成される１０個のステートとは、４ビットで構成される１６個のビット列００００、０００１、００１０、００１１、０１００、０１０１、０１１０、０１１１、１０００、１００１、１０１０、１０１１、１１００、１１０１、１１１０、１１１１のうち、Ｄ１制約、すなわち、０、１が単独で現れないという制約（上記の４ビットのビット列では、４ビットの中の真ん中の２ビットに単独で現れない）を満たす１０のビット列００００、０００１、００１１、０１１０、０１１１、１０００、１００１、１０１１、１１００、１１１０、１１１１で区別される状態のことである。
また、５ビットで構成される１６個のブランチとは、５ビットで構成される３２個のビット列０００００、００００１、０００１０、０００１１、００１００、００１０１、００１１０、００１１１、０１０００、０１００１、０１０１０、０１０１１、０１１００、０１１０１、０１１１０、０１１１１、１００００、１０００１、１００１０、１００１１、１０１００、１０１０１、１０１１０、１０１１１、１１０００、１１００１、１１０１０、１１０１１、１１１００、１１１０１、１１１１０、１１１１１、のうち、Ｄ１制約、すなわち、０、１が単独で現れないという制約（上記の５ビットのビット列では、５ビットの中の真ん中の３ビットに単独で現れない）を満たす１６のビット列、０００００、００００１、０００１１、００１１０、００１１１、０１１００、０１１１０、０１１１１、１００００、１０００１、１００１１、１１０００、１１００１、１１１００、１１１１０、１１１１１、で区別される状態のことである。
なお、ターゲットレスポンスがＰＲ（１，２，２，１）の場合は、３ビットで構成される６個のステートと、４ビットで構成される１０のブランチが用意されて、Ｄ１制約に従ってブランチがステートを接続する。
このステートと、ブランチのビット列の作り方は、ＰＲ（１，２，２，２，１）でのステート、ブランチのビット列の作り方と同様である。
ブランチメトリック計算ユニット２２では、上記した１６のブランチに対してブランチメトリックが計算されて、その結果が、パスメトリック更新ユニット２３に転送される。
パスメトリック更新ユニット（ＡＣＳ）２３では、１０のステートに対して、そのステートに到達するパスメトリックが更新されるのと同時に、パスの選択情報が、パスメモリ更新ユニット２４に転送される。
パスメモリ更新ユニット（ＰＭＥＭ）２４では、上述の１０のステートに対して、そのステートに到達するパスメモリが更新される。そして、パスメモリに記憶されているビット系列は、パスの選択を繰り返しながら尤もらしい系列に収束していく。その結果が、ＰＲＭＬ復号器６によるビット検出結果である２値化信号ＤDとして出力される。
２値化信号ＤDは、図１に示した復調器８に対して供給されると共に、図示するようにしてこの場合は適応型基準レベル生成回路２５と、信号評価器７内の後述する最尤パス生成回路３２と第２パス生成回路３３に対して供給される。
また、上記パスメモリ更新ユニット２４では、上述の１０のステートに対してそのステートに到達するパスメモリが更新されることで、最終的に生き残ることになる尤もらしいパス（最尤パス）のビット系列の情報と、その次に尤もらしいパス（第２パス）のビット系列の情報とが得られる。
第１の実施の形態の場合のパスメモリ更新ユニット２４に対しては、これらのビット系列の情報を利用して、最尤パスのビット系列に対する第２パスのビット系列の誤りのタイプを判定するための、図示する誤り判定部２４ａが設けられている。
なお、このような誤り判定部２４ａによる動作については後述する。
このような誤り判定部２４ａによる判定結果は、図示するパス選択結果情報ＳＰとして信号評価器７内の後述するイネーブラー（enabler）３１と第２パス生成回路３３とに供給される。
適応型基準レベル生成回路２５は、イコライザー２１からの再生信号ＲＦと上記パスメモリ更新ユニット２４からの２値化信号ＤDとに基づき、ブランチメトリック計算ユニット２２に設定されるべき基準レベルデータＲ-Lva〜xを生成する。
具体的に、この場合の適応型基準レベル生成回路２５には、採用されるＰＲのクラスに対応して設定される基準レベルの数（a〜x）に応じて設けられたｘ個のローパスフィルタが設けられる。そして、これらのローパスフィルタに対し、上記再生信号ＲＦの値を、上記２値化信号ＤDのパターンに応じて分配して入力し、これによって各基準レベルごとに再生信号ＲＦの値を平均化する。その結果が基準レベルデータＲ-Lva〜xとして出力される。
ここで、このような適応型基準レベル生成回路２５によって生成される基準レベルデータＲ-Lvについて、図１０を参照して説明する。
図１０は、例えばパーシャルレスポンスのタイプとしてＰＲ（１，２，２，１）が採用された場合での基準レベルと再生信号ＲＦ（アイパターン）との関係を示している。
先ず、ＰＲ（１，２，２，１）が採用される場合、基準レベルデータＲ-Lvとしては図示するようにＲ-Lva〜Ｒ-Lvgまでの７値が設定される。
図１０（ａ）では、基準レベルデータＲ-Lva〜Ｒ-Lvgの各基準レベルに対し、再生信号ＲＦ中のそれぞれ対応するマーク長の振幅レベルが正規分布しており、そのＰＲのタイプで想定される理想的な再生信号波形が得られている場合が示されている。
これに対し図１０（ｂ）は、例えば記録媒体の高記録密度化等に伴い、特に最短マーク長の再生信号として、充分な振幅が得られなくなった場合が示されている。
このような場合、最短マーク長に対応して設定されるそれぞれの基準レベル（図中破線による基準レベルＲ-Lvc、基準レベルＲ-Lve）は、実際の信号振幅の分布に対してずれた値となってしまう。このようにそのＰＲで想定する理想的な波形とは異なる再生信号波形が得られ、これに伴って基準レベルがずれた値となってしまっていることで、この基準レベルの値に基づいて算出されるブランチメトリックとしても誤りが生じ、これによってＰＲＭＬ復号器６による２値化信号ＤDにも誤りが生じてしまう可能性がある。
本実施の形態が備える適応型基準レベル生成回路２５によれば、上記のようにして各基準レベル（Ｒ-Lva〜Ｒ-Lvx）ごとに再生信号ＲＦが分配された上でそれぞれの平均値が算出され、これら平均値が実際に設定されるべき各基準レベルデータＲ-Lva〜Ｒ-Lvxとして得られる。つまりは、このような動作により、例えば図１０（ｂ）の例における基準レベルデータＲ-Lvc、Ｒ-Lveは、実際の再生信号ＲＦの波形に応じてそれぞれ実線により示すレベル、つまりは対応する波形成分の分布の平均値に変化されるようになり、これによって実際の再生信号ＲＦに適応した基準レベルを設定することができる。
このように実際の再生信号ＲＦに適応した基準レベルデータＲ-Lvが得られることで、そのＰＲのクラスで想定される理想的な再生信号ＲＦが得られなかった場合にも、ブランチメトリック計算ユニット２２にて計算されるブランチメトリックとして適正な値を得ることができ、これによって２値化信号ＤDの信頼性の向上を図ることができる。
なお、図１０では最短マークの振幅が小さくなった場合を例示したが、例えばアシンメトリ等によって理想的な再生信号ＲＦが得られなくなる場合もある。このような場合にも、上述した適応型基準レベル生成回路２５の動作によれば、実際の再生信号ＲＦに応じて各基準レベルデータＲ-Lvの値が追従するようにして変化され、再生信号ＲＦの各分布に応じた基準レベルを設定できる。つまりは、このようなアシンメトリにも対応して２値化信号ＤDの信頼性の向上を図ることができる。
なお、このような適応型ビタビの検出手法を実現するための構成は例えば「特許第３０３３２３８号公報」にも記載されている。
適応型基準レベル生成回路２５にて生成された各基準レベルデータＲ-Lva〜Ｒ-Lvxは、ブランチメトリック計算ユニット２２に対して供給される。
また、特に本実施の形態の場合、これら基準レベルデータＲ-Lva〜Ｒ-Lvxは、信号評価器７内の最尤パス生成回路３２、第２パス生成回路３３に対しても供給される。
ところで、上記説明のようにして構成されるＰＲＭＬ復号器６において、２値化信号ＤDの検出精度を表す信号評価指標を求めるにあたっては、先にも述べたように時間軸方向の揺らぎであるＴＩジッタはＰＲＭＬを用いたビット検出におけるビットエラーレートと必ずしも相関があるわけではないことから、他の信号品質の評価指標を得ることが必要となる。
ここで、ＰＲＭＬによるビット検出手法は、正しいビット系列から得られるパーシャルレスポンス系列と再生信号ＲＦとのユークリッド距離（すなわち、正しいビット系列に対するパスメトリック）と、誤りのあるビット系列から得られるパーシャルレスポンス系列と再生信号ＲＦとのユークリッド距離（つまり誤りのあるビット系列に対するパスメトリック）の大小関係を比較し、より近い、すなわちパスメトリックの値のより小さいものをより確かなパスとして残し、この操作の繰り返しで最終的に生き残ったパス（最尤パス）を検出結果とするアルゴリズムとなる。
このようなアルゴリズムによると、最終的な生き残りパスの選択候補となった、パスメトリックの値の小さい上位２つのパス（最尤パスＰａと第２パスＰｂとする）について、それらのパスメトリックの差が大きければ、生き残ったパスはより確からしく、小さければより紛らわしい、つまりは検出誤りの可能性が大きい、ということになる。この点について、次の図６を参照して説明する。
図６は、最尤パスＰａと第２パスＰｂと、実際の再生信号ＲＦ（ＰＲＥＱ）との関係を示した図である。この図において、縦軸にとる「＋３,＋２，＋１，０，−１，−２，−３」の各値は、ＰＲ（１，２，２，１）において想定される各基準レベルの値を示している。
ここで、図示する最尤パスＰａと第２パスＰｂとは、最終的に再生信号ＲＦとの比較が行われる２つのパスであるとみることができる。つまりは、最尤パスＰａに対するパスメトリックの値と、第２パスＰｂに対するパスメトリックの値が比較され、より値の小さい方のパスが生き残りパスとして選択されるというものである。
なお、確認のために述べておくと、パスメトリックとは、この図６で言えば、図中黒丸により示す各サンプリングタイミングで得られる再生信号ＲＦの各サンプリング値に対する、最尤パスＰａ（或いは第２パスＰｂ）における対応するサンプリングタイミングで得られるそれぞれの値とのユークリッド距離の和、すなわちブランチメトリックの和である。
図６において、図６（ａ）と図６（ｂ）とを比較すると、図６（ａ）の場合は最尤パスＰａと再生信号ＲＦとのユークリッド距離が充分に近く、逆に第２パスＰｂと再生信号ＲＦのユークリッド距離は充分に遠い関係となっている。つまりは、最尤パスＰａに対するパスメトリックの値が充分に小さく、第２パスＰｂに対するパスメトリックの値が充分に大きなものとなっているもので、これによってこの場合の検出パスとなる最尤パスＰａは、より確からしいパスであると判断できる。
これに対し、図６（ｂ）では、図６（ａ）の場合よりも最尤パスＰａと再生信号ＲＦとのユークリッド距離が拡大して、第２パスＰｂと再生信号ＲＦのユークリッド距離が近づく関係となっている。つまりこの場合、最尤パスＰａに対するパスメトリックの値は図６（ａ）の場合よりも大きくなり、逆に第２パスＰｂに対するパスメトリックの値がより小さくなることで、この場合の検出パスとしての最尤パスＰａの確からしさは低下する。この場合は他方の第２パスＰｂの確からしさが増すこととなって、この第２パスＰｂが最尤のパスである可能性が高くなるもので、従って最尤パスＰａとしての検出パスは、第２パスＰｂとして示されるパスに対して誤検出されたパスである可能性が高くなる。
このようにして、最尤パスＰａに対するパスメトリックの値が、第２パスＰｂに対するパスメトリックの値よりも充分に小さくなる場合には、より確からしいビット検出が実行されていると判断できる。また、逆に最尤パスＰａに対するパスメトリックの値がより大きくなって、第２パスＰｂに対するパスメトリックの値が小さくなる程、最尤パスＰａとしての検出パスは誤りである可能性が高いと判断することができる。
ＰＲＭＬの手法が採られる場合の検出精度は、このようにして最尤パスＰａに対するパスメトリックの値と、第２パスＰｂに対するパスメトリックの値との差、すなわちメトリック差分を求めることで見積もることができる。
ここで、本実施の形態では、このようなメトリック差分（ＭＤとする）を、以下のようにして求めるものとしている。
Figure 2006286073
 なお、この場合、「ＰＢi」「ＰＡi」「Ｒi」は、それぞれ同じサンプリングタイミングでの第２パスＰｂ、最尤パスＰａ、再生信号ＲＦの値を表している。
すなわち、この場合のメトリック差分ＭＤは、第２パスＰｂに対するパスメトリックの値から、最尤パスＰａに対するパスメトリックの値を減算した値である。
このようなメトリック差分ＭＤは、上式右辺の最尤パスＰａに対するパスメトリックの値が「０」となるとき、すなわち最尤パスＰａと再生信号ＲＦとが完全に一致したときに最大値が得られる。つまり、このメトリック差分ＭＤは、その値が大きい程検出精度が高い（つまり信号品質が最良である）ことを示す情報となる。
ここで先の図６より、上記のように最尤パスＰａと再生信号ＲＦが完全に一致するということは、この場合の第２パスＰｂに対するパスメトリックは、最尤パスＰａと第２パスＰｂとのユークリッド距離となることがわかる。従って上記のようなメトリック差分ＭＤの最大値としては、最尤パスＰａと第２パスＰｂとのユークリッド距離の値となるものである。
また、最小値は、最尤パスＰａに対するパスメトリックの値と第２パスＰｂに対するパスメトリックの値とが同値となる場合の「０」であり、すなわち図６の場合で言えば最尤パスＰａと第２パスＰｂとの間で、再生信号ＲＦがちょうど中間となるような位置で得られている場合である。
これらのことから、メトリック差分ＭＤは、最尤パスＰａと第２パスＰｂとのユークリッド距離の値（最大値）に近い程検出精度が高いことを示し、逆に「０」（最小値）に近い程検出精度が低く、誤りの可能性が高いことを示す情報となる。
このようにして上記式によるメトリック差分ＭＤによっては、ＰＲＭＬ復号器６におけるエラー発生率を見積もることができる。そして、このようなメトリック差分ＭＤについて、例えばその値の分散値などによる統計的情報を得ることで、これをエラー発生率を示す指標として用いることができる。
但し、このようなメトリック差分ＭＤに基づく統計的な情報は、それ自身、単に再生信号ＲＦと最尤パスＰａとのユークリッド距離の近さ或いは遠さについてその割合の情報しか示していないものである。従って、これを単体で信号品質評価値として用いるということは行われず、実際にはこのようなメトリック差分ＭＤの統計的情報（例えば分散値）を、実際にメトリック差分ＭＤを求めたときの最尤パスＰａと第２パスＰｂとの間のユークリッド距離を用いて正規化するということが行われている。
つまりは、このような正規化を行うことで、最尤パスＰａと第２パスＰｂとの間のユークリッド距離を単位として再生信号ＲＦが最尤パスＰａにどれだけ近いかの情報が得られ、これにより具体的にどの程度検出精度が高いかという情報を得ることができるといったものである。
ここで、このようなメトリック差分ＭＤの分散値の正規化にあたって用いる、最尤パスＰａと第２パスＰｂとのユークリッド距離について考察してみる。
先ず、これまでの説明からも理解されるように第２パスＰｂとしては、最尤パスＰａに次いでパスメトリックの値が小さくなるようなパスである。
このとき、これら最尤パス（検出パス）Ｐａと第２パスＰｂとを、それぞれのパスに基づき得られるビット系列の対比により考えてみると、たとえばターゲットレスポンスがＰＲ（１，２，２，１）のＰＲＭＬでは、第２パスＰｂによるビット系列は、理想的には常に検出されたビット系列に対して１ビットのみ誤りがあるビット系列となることが知られている。
ここで、このような最尤パス（検出パス）Ｐａと第２パスＰｂとをそれぞれのパスに基づき得られるビット系列の対比により考えた場合での、最尤パスＰａのビット系列に対する第２パスＰｂのビット系列の誤りのタイプと、そのときの最尤パスＰａと第２パスＰｂとの間のユークリッド距離との関係について、次の図９を参照して説明する。
図９は、ＰＲ（１，１）、ＰＲ（１，２，１），ＰＲ（１，２，２，１）、ＰＲ（１，２，２，２，１）について、それぞれ１ビット誤り（１bit error）、２ビット誤り（２bit error）のビット系列のパーシャルレスポンス系列に対するユークリッド距離を計算した結果を示している。
なお、２ビット誤りのうちで重要と考えられるものは、拘束長の中に２つ以上の誤りがあるようなものである。そのような例の中でも特に重要なのは、マーク長２のマーク（２Ｔマーク）の消滅あるいは出現による誤りと、２Ｔマークのシフトによる誤りである。従ってこの図９では、誤りの種類として、１ビット誤り、最短マークの消滅又は出現による２ビット誤り、及び最短マークシフトによる２ビット誤りの３種類を示している。
図９において、「００００１１０００」などと書かれている列は、誤りのあるビット系列と正しいビット系列の差分をとった列である。
即ち１ビット誤りの差分「００００１０００」は、例えば、誤りのあるビット系列「１１１１１００００」と正しいビット系列「１１１１０００００」の差分であり、つまり信号波形のエッジシフトによるエラーである。
また２ビット誤りとして示した差分「０００１１０００」は、例えば誤りのあるビット系列「０００００００１１」と正しいビット系列「０００１１００１１」の差分（或いはその正誤が反対の場合）などであり、つまり２Ｔマークの消滅あるいは出現による誤りである。
また同じく２ビット誤りとして示した差分「０００１０−１０００」は、例えば誤りのあるビット系列「００００１１００００」と正しいビット系列「０００１１０００００」の差分であり、即ち２Ｔマークがシフトした誤りである。
この図９において、ＰＲ（１，２，２，１）では、ユークリッド距離が最小となる誤りのタイプは、ユークリッド距離「１０」の１ビット誤りであることがわかる。２つのパーシャルレスポンス系列（つまりパス）の間のユークリッド距離が最小であるということは、これらの２つのパスの関係が最尤パスＰａと第２パスＰｂとの関係となることを意味する。従って、このように１ビット誤りの関係となる２つのビット系列に基づくそれぞれのパーシャルレスポンス系列の間のユークリッド距離が最小であるということは、最尤パスＰａと第２パスＰｂとに基づくそれぞれのビット系列の関係としては、常に、このような１ビット誤りの関係となると推測することができる。
但し、このＰＲ（１，２，２，１）において、１ビット誤りに次いでユークリッド距離の値の小さい２ビット誤り「０００１０−１０００」（最短マークのシフト）では、ユークリッド距離の値は「１２」と、１ビット誤りの場合と近接した値となっている。
このように２つの誤りのタイプのユークリッド距離が近接していることで、ＰＲ（１，２，２，１）では、上記のようにユークリッド距離が最小であることで１ビット誤りが支配的にはなるのであるが、実際の再生信号ＲＦのノイズ発生レベル等によっては、このような最短マークシフトによる２ビット誤りも、最尤パスＰａと第２パスＰｂとのビット系列の誤りのタイプとなる可能性がある。
なお、この図９において、他のＰＲのタイプについては、ユークリッド距離が最小となる誤りのタイプは、ＰＲ（１，１）、ＰＲ（１，２，１）では同様に１ビット単独誤りが最小であることがわかる。これに対し、ＰＲ（１，２，２，２，１）では、最短マークのシフトによる２ビット誤りのユークリッド距離が「１２」で最小となっている。つまり１ビット単独誤りの場合のユークリッド距離「１４」より小さくなっている。
図７（ａ）、図７（ｂ）は、ＰＲ（１，２，２，１）が採用される場合において、最尤パスＰａと第２パスＰｂのビット系列の誤りとして支配的となる１ビット誤りのときの最尤パスＰａと第２パスＰｂの関係と、同じく最尤パスＰａと第２パスＰｂのビット系列の誤りとなり得る最短マークシフトによる２ビット誤りのときの最尤パスＰａと第２パスＰｂとの関係をそれぞれ例示的に示している。
図７（ａ）では、１ビット誤りとして、具体的に最尤パスＰａのビット系列「０００００１１１１１」に対して、第２パスＰｂのビット系列「００００００１１１１」となる場合を示している。また、図７（ｂ）では、最短マークシフトによる２ビット誤りとして、最尤パスＰａのビット系列「００００１１００００」に対し第２パスＰｂのビット系列「０００００１１０００」となる場合について例示している。
なお、これらの図において、実線は最尤パスＰａを示し、破線は第２パスＰｂを示している。また、この図においては、図示するように基準レベルとしては「３，２，１，０，−１，−２，−３」が設定され、ＰＲ（１，２，２，１）で想定される理想的な基準レベルが設定されているものとする。
図７（ａ）における１ビット誤りの場合、最尤パスＰａは図のように各サンプリングタイミングに対応して「−３，−２，０，２，３」の値を辿る。これに対し第２パスＰｂは、「−３，−３，−２，０，２」を辿る。
２つのパス間のユークリッド距離ｄ2は、このように各パスが辿る値どうしの差の２乗を求めた上で、それらの和を求めることで計算できる。つまりこの場合、２つのパス間のユークリッド距離ｄ2は、最尤パスＰａ、第２パスＰｂにおける同じサンプリングタイミングでの値をそれぞれＰＡi、ＰＢiとすると、
Figure 2006286073
 で表すことができる。
従ってこの場合の最尤パスＰａと第２パスＰｂとのユークリッド距離ｄ2としては、図示するようにして「ｄ2＝１2＋２2＋２2＋１2」より「１０」となる。このことからも、先の図９に示したように１ビット誤りの場合のユークリッド距離は、「１０」となることがわかる。
また、図７（ｂ）に示す２ビット誤りの場合、最尤パスＰａは「−３，−３，−２，０，１，０，−２，−３，−３，−３」の値を辿り、一方の第２パスＰｂは「−３，−３，−３，−２，０，１，０，−２，−３，−３」を辿る。従ってこの場合の最尤パスＰａと第２パスＰｂとのユークリッド距離ｄ2は、「ｄ2＝１2＋２2＋１2＋（−１2）＋（−２2）＋（−１2）」より「１２」となる。
すなわち、先の図９に示した最短マークシフトによる２ビットエラーの場合のユークリッド距離「１２」である。
これまでの図９、図７の説明より、例えばＰＲ（１，２，２，１）が採用される場合では、最尤パスＰａと第２パスＰｂとのユークリッド距離ｄ2は、最尤パスＰａと第２パスＰｂとのビット系列の誤りタイプとして１ビット誤りが支配的であることで、ほとんどの場合は「１０」となる。或いは、再生信号ＲＦのノイズ発生レベル等によっては最短マークシフトによる２ビットエラーとなる可能性もあり、最尤パスＰａと第２パスＰｂのユークリッド距離は「１２」となる可能性もある。
いずれにせよ、このように最尤パスＰａと第２パスＰｂのビット系列の誤りのタイプに応じては、それら最尤パスＰａと第２パスＰｂとのユークリッド距離として固定の値をとることになるので、先に説明したようなメトリック差分ＭＤに基づく評価値を生成する際の正規化に用いることになる、最尤パスＰａと第２パスＰｂとのユークリッド距離の値としては、これら最尤パスＰａと第２パスＰｂとの誤りのタイプに応じて、固定による「１０」、或いは「１２」の値を用いればよいと推測できる。
なお、上記説明より、この場合は最尤パスＰａと第２パスＰｂのユークリッド距離は「１０」以外にも「１２」となる可能性があるとしているので、この点で算出されるメトリック差分ＭＤの分散値に対応していないユークリッド距離ｄ2によって正規化が行われてしまう虞があることになるが、本実施の形態では、後述もするように１つの誤りタイプのみを対象としてユークリッド距離ｄ2及びメトリック差分ＭＤの計算を行うように構成されるので、この点で評価値の信頼性の低下を招く虞はない。
但し、本実施の形態のＰＲＭＬ復号器６としては、図２に示した適応型基準レベル生成回路２５が設けられることで、先にも説明したように再生信号ＲＦのレベルに応じて基準レベルの値（基準レベルデータＲ-Lv）が可変されるものなる。
このように基準レベルの値が変化されることで、最尤パスＰａと第２パスＰｂとのユークリッド距離としても、変化してしまう場合がある。
このことを、図７及び図８を参照して説明する。
先にも説明したように、図７（ａ）（ｂ）では、各基準レベルの値がそのＰＲで想定される理想的な基準レベルの値に設定されているものとして説明した。つまり、この場合はＰＲ（１，２，２，１）が採用される場合に対応して、「３，２，１，０，−１，−２，−３」が設定されているものとした。
これに対し図８（ａ）（ｂ）は、最尤パスＰａと第２パスＰｂとの関係として、それぞれのビット系列が図７（ａ）（ｂ）に示した１ビット誤り、２ビット誤りと同様の関係となっている場合に、基準レベルの値が図７の場合から変化した場合の最尤パスＰａと第２パスＰｂとの関係を示している。
この図８では、先の図１０で例示したものと同様に、記録媒体の高記録密度化等に伴って再生信号ＲＦ中の最短マークの振幅が低下し、これに適応化されて基準レベル「１」と「−１」の値が変化してそれぞれ「０．６」と「−０．６」とに設定された場合を示している。
先ず、図８（ａ）と先の図７（ａ）の１ビット誤りの場合を比較すると、この例の場合では、図８（ａ）に示す基準レベルの適応化時においても、最尤パスＰａと第２パスＰｂとはそれぞれ図７（ａ）の場合と同様の値を辿るので、これら最尤パスＰａと第２パスＰｂとの間のユークリッド距離ｄ2としてもその値は変化しない。
これに対し、図８（ｂ）と図７（ｂ）の２ビット誤りの場合を比較すると、上記したようにして基準レベルの値が変化されたことで、この場合の最尤パスＰａは「−３，−３，−２，０，０．６，０，−２，−３，−３，−３」と、５番目のサンプリングタイミングでの値が変化することになる。また、一方の第２パスＰｂとしても「−３，−３，−３，−２，０，０．６，０，−２，−３，−３」と、６番目のサンプリングタイミングでの値が変化してしまう。
これに伴い、これら５番目、６番目のサンプリングタイミングでの最尤パスＰａ、第２パスＰｂ間のユークリッド距離は、図７（ｂ）の場合ではそれぞれ「１2」「−１2」であったものが、この場合は「０．６2」「−０．６2」に変化してしまう。そして、この結果、図７（ｂ）の場合は「１２」であったユークリッド距離ｄ2は、図８（ｂ）の場合では図示するように「ｄ2＝１2＋２2＋０．６2＋（−６2）＋（−２2）＋（−１2）」より「１０．７２」に変化してしまうことになる。
このようにして、基準レベルが適応的に可変されることによっては、最尤パスＰａと第２パスＰｂとのユークリッド距離ｄ2も変化してしまう場合がある。
なお、図８の例では最小マークの振幅レベルの低下のみに対応して基準レベルが可変された場合を例示しているので、１ビット誤りの場合（図８（ａ）の場合）にはユークリッド距離ｄ2が変化しないものとなっている。
しかしながら、実際の再生信号ＲＦとしては、先にも述べたアシンメトリによる影響等で理想的な振幅が得られない場合もあり、例えばこれに伴って他の基準レベルの値も適応的に変化される可能性もある。つまりは、このような基準レベルの値の変化の仕方によっては、１ビット誤りの場合としても同様にユークリッド距離ｄ2が変化するケースもあり得る。
このように最尤パスＰａと第２パスＰｂとのユークリッド距離ｄ2が変化する可能性があることで、本実施の形態のように適応型のビタビ検出器の構成が採られる場合において、従来の手法の如く固定によるユークリッド距離ｄ2を用いた正規化を行った場合には、例えば図８（ｂ）の例において本来は「１０．７２」とされるべきユークリッド距離ｄ2に対し、理想的な基準レベルの設定に基づく「１２」による正規化が行われるなど、正確な評価値を得ることができなくなる。
つまりは、このようにして正規化に用いるべき最尤パスＰａと第２パスＰｂとのユークリッド距離ｄ2の情報として誤った値が用いられることで、メトリック差分ＭＤを用いた評価値としてはその分信頼性が低下してしまう虞がある。
そこで、本実施の形態としては、このように基準レベルの値が可変的に設定されることで変化することになるユークリッド距離ｄ2の値を実際に計算することで、より信頼性の高い評価値が得られるようにする。
このような動作を実現する、本実施の形態としての信号評価器７の内部構成は図２に示すものとなる。
図２において、信号評価器７内には、イネーブラー３１、最尤パス生成回路３２、第２パス生成回路３３、遅延補償回路３４、ユークリッド距離算出回路３５、サンプル平均値算出回路３６、メトリック差分算出回路３７、分散値算出回路３８、及び評価値正規化回路３９が備えられている。
ここで、これまでの説明のように、本実施の形態としては、適応型のビタビ検出手法が採用されたことで基準レベルの値が理想的な値から変化する可能性があり、これに伴って最尤パスＰａと第２パスＰｂとのユークリッド距離ｄ2の値も変化してしまうことを主な問題点としている。
しかし実際においては、このような問題点に加え、先の図９での説明のようにして最尤パスＰａと第２パスＰｂとの誤りタイプが必ずしも１つのタイプに特定できる保証がないことも問題となる。
すなわち、図９に示したように例えばＰＲ（１，２，２，１）では、最尤パスＰａと第２パスＰｂと誤りのタイプとしては、ユークリッド距離＝「１０」が最小であることから１ビット誤りが支配的となるが、これに次いでユークリッド距離の小さい最短マークシフトによる２ビット誤りとしては、そのユークリッド距離が「１２」と、上記１ビット誤りのユークリッド距離と近接することになるから、実際には再生信号ＲＦのノイズ発生レベルによってこの２ビット誤りが最尤パスＰａと第２パスＰｂとの誤りのタイプとなる可能性もある。
或いは、ＰＲ（１，２，２，２，１）が採用される場合、図９より最尤パスＰａと第２パスＰｂとの誤りの関係としてはユークリッド距離＝「１２」の最短マークシフトによる２ビット誤りが支配的となる。しかし、これに次いでユークリッド距離が小さい誤りのタイプは、ユークリッド距離＝「１４」の１ビット誤りとなっており、従ってこの場合としてもそれぞれの誤りタイプでのユークリッド距離が近接していることにより、どちらの誤りタイプも最尤パスＰａと第２パスＰｂとの誤りタイプとなる可能性がある。
これらの例のように、最尤パスＰａと第２パスＰｂのビット系列の誤りのタイプとしては、常に一定のタイプが得られるとは断言することができない。
つまりは、このような場合において、常に最尤パスＰａと第２パスＰｂとについてユークリッド距離を計算していたのでは、それぞれ異なる誤りのタイプとなっている最尤パスＰａと第２パスＰｂとについて混在してユークリッド距離ｄ2が算出されてしまうことになり、このように算出されたユークリッド距離ｄ2に基づく正規化が行われるという点でも、評価値の信頼性が低下してしまうといった問題も生じ得るものである。
そこで、本実施の形態では、最尤パスＰａのビット系列に対する第２パスＰｂのビット系列の誤りのタイプが、対象とする所定の誤りのタイプであるときのみ、最尤パスＰａと第２パスＰｂのユークリッド距離ｄ2、及びメトリック差分ＭＤを計算する動作が行われるようにも構成するものとする。
つまり、例えばＰＲ（１，２，２，１）の例で言えば、例えば最尤パスＰａと第２パスＰｂとの誤りのタイプが１ビット誤りとなっている場合のみ、或いは最短マークシフトによる２ビット誤りとなっている場合にのみ、信号評価器７の各部の計算動作が行われるようにするといったものである。
このような最尤パスＰａと第２パスＰｂとの誤りのタイプの判定と、この判定結果に基づく制御を行うための構成として、本実施の形態では、先に説明したＰＲＭＬ復号器６内のパスメモリ更新ユニット２４内に設けた誤り判定部２４ａと、信号評価器７内にイネーブラー３１を設けるようにされる。
先ず、パスメモリ更新ユニット２４内の誤り判定部２４ａは、最尤パスＰａのビット系列に対する第２パスＰｂのビット系列の誤りのタイプが、対象とする所定の誤りのタイプとなっているかについて判定を行う。
すなわち、第１の実施の形態としては、実際に最尤パスＰａに対する第２パスＰｂの誤りのタイプを調べることで、これら最尤パスＰａと第２パスＰｂとの誤りのタイプが対象とする所定の誤りのタイプとなっているかを判定するように構成するものである。
ここで、パスメモリ更新ユニット２４内においては、先にも述べたように最尤パスＰａと第２パスＰｂのビット系列の情報が得られる。そこで誤り判定部２４ａは、このパスメモリ更新ユニット２４内に設けられてこれら最尤パスＰａのビット系列と第２パスＰｂのビット系列とを比較することで、最尤パスＰａのビット系列に対する第２パスＰｂのビット系列の誤りのタイプが、所定の誤りのタイプとなっているかを判定することができる。
このような判定動作としては、例えば以下のような手法を採ることができる。
例えば、ＰＲ（１，２，２，２，１）が採用される場合において、最短マークシフトエラーによる２ビット誤りとなる場合、最尤パスＰａと第２パスＰｂの２つのパスのビット系列は、５番目と７番目のビットが異なり、それ以外の少なくとも１番目から１１番目のビットが一致するなど、誤りのタイプによってそれぞれ一致／不一致となるビット位置を特定することができる。そこで、対象とする所定の誤りのタイプに応じて、このように特定されるビット位置におけるそれぞれの値の一致／不一致を判定した結果に基づくことで、最尤パスＰａのビット系列に対する第２パスＰｂのビット系列の誤りのタイプが、対象とする所定の誤りのタイプとなっているかを判定することができる。
誤り判定部２４ａは、このような判定動作による結果を、図示する誤り判定結果情報ＪＳとしてイネーブラー３１に供給する。
この場合、誤り判定結果情報ＪＳは第２生成回路３３に対しても分岐して供給されるがこれについては後述する。
なお、このような誤り判定部２４ａとしての動作を実現するための構成については、既に本出願人が提案している。
イネーブラー３１は、上記誤り判定部２４ａから供給される誤り判定結果情報ＪＳに基づき、実際に信号評価器７の各部の計算動作の実行／不実行を制御するために設けられる。
イネーブラー３１は、上記誤り判定結果情報ＪＳが、最尤パスＰａに対する第２パスＰｂの誤りのタイプとして対象とする誤りのタイプが判定されたことを示すものである場合に応じて、図示する信号enableを出力する。
この信号enableは、図示は省略したが、信号評価器７内の各部（最尤パス生成回路３２、第２パス生成回路３３、ユークリッド距離算出回路３５、サンプル平均値算出回路３６、メトリック差分算出回路３７、分散値算出回路３８）に対して供給されるようになっている。つまりは、このような構成によって、最尤パスＰａに対する第２パスＰｂの誤りのタイプが対象とする誤りのタイプであるときのみ、上記信号enableによってこれらの各部がアクティブとなるようにされ、この結果、最尤パスＰａに対する第２パスＰｂの誤りのタイプとして対象外の誤りのタイプが得られた場合は、評価値計算のための動作が行われないようにすることができる。換言すれば、このように対象外の誤りのタイプによる最尤パスＰａと第２パスＰｂについては、それらユークリッド距離ｄ2とメトリック差分ＭＤとが評価値に反映されないようにすることができ、これによって評価値の信頼性低下が効果的に防止されるものである。
なお、上記説明より、この場合は、異なる誤りのタイプによる最尤パスＰａと第２パスＰｂとが混在して計算されたユークリッド距離ｄ2及びメトリック差分ＭＤの値が評価値に反映されなければ、評価値の信頼性低下の防止を図ることができる。従って、この考えに基づけば、上記信号enableとしては、少なくともサンプル平均値算出回路３６、分散値算出回路３８に対して供給されるように構成されていればよいことになる。
また、図２において、最尤パス生成回路３２、第２パス生成回路３３は、それぞれ最尤パスＰａ、第２パスＰｂを生成するために設けられる。
先ず、最尤パス生成回路３２は、ＰＲＭＬ復号器６内の適応型基準レベル生成回路２５からの基準レベルデータＲ-Lva〜Ｒ-Lvxと、２値化信号ＤDとに基づき、最尤パスＰａを生成する。
２値化信号ＤDとしては、ＰＲＭＬ復号器６において最尤であるとされて検出されたビット系列の情報である。つまりは、この最尤パス生成回路３２では、このように最尤であるとして検出されたビット系列の情報から、そのパーシャルレスポンス系列（つまり最尤パスＰａ）を再現するようにされている。
ここで、ＰＲＭＬでは、再生信号ＲＦには符号間干渉が生じていることを前提としている。従って、ビット系列の情報からそのパスを再現するにあたっては、そのＰＲのクラスで想定される符号間干渉を再現すればよい。つまりは、例えばＰＲ（１，２，２，１）であれば、入力ビット系列に対して（１，２，２，１）の係数を用いた畳み込み演算を行えばよいといったものである。
但し、本実施の形態の場合、適応型のビタビ検出手法が採られることで、基準レベルの値はそのＰＲで想定される理想的な値に設定されるものではない。このことから、これら畳み込みの係数としてもこれに応じて変化させなければ、正しくパスを再現することはできない。
そこで、実際に設定される基準レベルデータＲ-Lva〜Ｒ-Lvxに応じて、畳み込みの係数を変化させれば、適応型により基準レベルの値が変化した場合にも、実際に設定される基準レベルの値に応じた畳み込みの係数によって正しくパスを再現することができる。
最尤パス生成回路３２には、先ず、ＰＲＭＬ復号器６内の各ブランチに対応する適応基準レベルデータＲ-Lva〜Ｒ-Lvxの値が供給されている。次に、もう一方の入力データである、２値化信号ＤDを検査し、そのビット列に対応するブランチを判定する。最後に、判定されたブランチに対応した、基準レベルデータＲ-Lva〜Ｒ-Lvxのうちの一つを選択し出力する。この動作を毎時刻行うことにより、２値化信号ＤDに対応する、適応型ＰＲＭＬにおける最尤パスPaが復元される。このような最尤パス生成回路３２にて生成された最尤パスＰａの情報は、ユークリッド距離算出回路３５、及びメトリック差分算出回路３７に対して供給される。
一方、第２パス生成回路３３に対しては、最尤パス生成回路３２と同様に基準レベルデータＲ-Lva〜Ｒ-Lvxと２値化信号ＤDとが入力されると共に、さらに誤り判定部２４ａからの誤り判定結果情報ＪＳが入力されている。
誤り判定結果情報ＪＳとしては、最尤パスＰａのビット系列に対する第２パスＰｂの誤りのタイプが、対象とする所定のタイプであるか否かを示す情報である。
ここで、先にも述べたように誤りのタイプが特定できることによっては、最尤パスＰａと第２パスＰｂとの２つのビット系列について所定のビット位置の値が一致／不一致（つまり反転／非反転）となることを特定できる。
このことによれば、対象とする所定の誤りのタイプとなっている場合は、検出ビット系列について、その誤りのタイプによって特定されるビット位置の値を反転させることで、第２パスＰｂに対応するビット系列を生成することができる。
この場合、２値化信号ＤDが検出ビット系列であるので、第２パス生成回路３３としては、上記判定結果情報ＪＳが肯定結果を示すものである場合において、２値化信号ＤDとしての入力ビット系列について、予め対象とする誤りタイプに応じて設定された所定のビット位置の値を反転する動作を行う。これによって、第２パスＰｂに対応したビット系列の情報を得ることができる。
そして、この場合も先の最尤パス生成回路３２の場合と同様に、このように得られたビット系列を検査し、そのビット列に対応するブランチを判定し、判定されたブランチに対応した基準レベルデータＲ-Lva〜Ｒ-Lvxのうちの一つを選択し出力する、という動作を毎時刻行う。これによって第２パスＰｂが生成される。
このようにして第２パス生成回路３３にて生成された第２パスＰｂの情報としても、ユークリッド距離算出回路３５とメトリック差分算出回路３７に対して供給される。
ユークリッド距離算出回路３５は、最尤パスＰａと第２パスＰｂとを入力して、それらのユークリッド距離ｄ2を算出する。
つまり、ユークリッド距離算出回路３５は、同じサンプリングタイミングにおける最尤パスＰａ、第２パスＰｂの値を、それぞれ「ＰＡi」「ＰＢi」とした場合に、先に示した（数２）による計算を行う。
サンプル平均値算出回路３６は、上記ユークリッド距離算出回路３５により算出されたユークリッド距離ｄ2の値をサンプリングし、それらの平均値<ｄ2>を算出する。
このようにしてユークリッド距離ｄ2について、その平均値<ｄ2>を求めるようにしているのは、適応型によるＰＲＭＬの検出手法が採用される場合には、同じ誤りタイプの最尤パスＰａと第２パスＰｂであっても、算出されるユークリッド距離ｄ2の値が若干変化する場合があるからである。
ここで、例えば先の図７（ａ）に示したような１ビット誤りのタイプでは、最尤パスＰａのビット系列「０００００１１１１１」に対し、第２パスＰｂのビット系列が「００００００１１１１」である場合を例に挙げた。しかしながら実際には、これらの全くの反転パターンであるＰａ＝「１１１１１０００００」、Ｐｂ＝「１１１１１１００００」としても１ビット誤りのタイプとなることがわかる。
このように全くの反転パターンとなる最尤パスＰａと第２パスＰｂとしては、図７（ａ）の例に示されるような下方から上方に抜けるパスとは逆に、上方から下方に抜けるようなパスとして得られるものとなる。
このようにして、同じ誤りのタイプであってもそれぞれの場合における最尤パスＰａと第２パスＰｂとのパスの形態が異なることで、基準レベルの値の変化の仕方によっては、それぞれの場合において計算されるユークリッド距離ｄ2の値が異なってしまう可能性がある。つまりは、適応型のＰＲＭＬが採用される場合は、同じ誤りのタイプに属する最尤パスＰａと第２パスＰｂのユークリッド距離が必ずしも同じ値とはならないこともある。
このことからサンプル平均値算出回路３６を設けて、ユークリッド距離ｄ2の平均値<ｄ2>を対象とする誤りのタイプにおける最尤パスＰａと第２パスＰｂとのユークリッド距離ｄ2の値として扱うようにしているものである。
メトリック差分算出回路３７には、最尤パス生成回路３２、第２パス生成回路３３からの最尤パスＰａ、第２パスＰｂが入力されると共に、遅延補償回路３４を介した再生信号ＲＦ（ＰＲＥＱ）が入力される。
この場合、再生信号ＲＦは、上記遅延補償回路３４によって最尤パスＰａと第２パスＰｂとのタイミングに同期されてメトリック差分算出回路３７に入力される（図中Ｘ）。
このメトリック差分算出回路３７は、最尤パスＰａと第２パスＰｂ、及び再生信号ＲＦ（Ｘ）に基づき、先に説明したメトリック差分ＭＤを算出する。つまりメトリック差分算出回路３７は、同じサンプリングタイミングにおける第２パスＰｂ、最尤パスＰａ、再生信号ＲＦの値を、それぞれ「ＰＢi」「ＰＡi」「Ｒi」とした場合に、先に示した（数１）による計算を行う。
分散値算出回路３８は、上記メトリック差分算出回路３７から供給されるメトリック差分ＭＤについて、その分散値σ2ＭＤを算出する。そして、その結果を評価値正規化回路３９に対して供給する。
評価値正規化回路３９は、サンプル平均値算出回路３６から供給されるユークリッド距離ｄ2の平均値<ｄ2>により、上記分散値算出回路３８から供給される分散値σ2ＭＤを、デジタル表現（ビット幅等）によらない値に変換（すなわち正規化）するための計算を行う。そして、このような正規化の結果を、図示する評価値ＥＶとして出力する。
ここで、このような評価値正規化回路３９が行う正規化としては、次式による計算を行えばよい。
Figure 2006286073
 このようにして求められる評価値ＥＶとしては、メトリック差分ＭＤの分散値σ2ＭＤを、ユークリッド距離ｄ2の平均値<ｄ2>（実際には平均値<ｄ2>の平方根）によって除算したものとみることができる。
このような正規化を行うと、従来のＴＩジッタ指標のような、０（％）を最良とし、その値が大きくなるほど信号品質が悪化しているという評価指標を得る事が出来る。この正規化手法は、近年利用され始めた、既存の差メトリックに基づく評価指標と同様であり、これらの指標の適応型ビタビへの対応バージョンとみなすことができる。
ここで、上記式において、分散値σ2ＭＤを１／２の値により扱うものとしているは以下のような理由に依る。
先ず、メトリック差分ＭＤとしては、前述もしたように最尤パスＰａと第２パスＰｂとのユークリッド距離の値を最大値とするものとなるが、先の図６の説明より、再生信号ＲＦとしては、概念的にはこれら最尤パスＰａと第２パスＰｂの間の半分を範囲としてしか動かないことになる。これは、最尤パスＰａと第２パスＰｂの間のユークリッド距離の半分を超えたときは、検出パスは図中の最尤パスＰａと第２パスＰｂとで逆転することになるからである。
このことによると、最尤パスＰａと第２パスＰｂとの間のユークリッド距離を最大値とするメトリック差分ＭＤとしては、実際には再生信号ＲＦの振れ幅を２倍の数で表現した値とされていることがわかる。
そこで、実際の正規化にあたっては、このようにメトリック差分ＭＤの値が再生信号ＲＦの振れ幅を２倍の数で表現した値とされていることに対応させて、分散値σ2ＭＤを１／２の値により取り扱うようにしているものである。
以上のようにして本実施の形態の信号評価器６によれば、最尤パスＰａと第２パスＰｂとのユークリッド距離ｄ2が実際に計算され、そのサンプル平均値<ｄ2>によってメトリック差分ＭＤの分散値σ2ＭＤが正規化される。
このようにしてメトリック差分ＭＤの分散値σ2ＭＤが、実際に計算された最尤パスＰａと第２パスＰｂとの間のユークリッド距離ｄ2に基づき正規化されることで、本例のように適応的に基準レベルの値が変化される場合において、より適正な評価値ＥＶを得ることができる。
また、本実施の形態では、ＰＲＭＬ復号器６内に設けられた誤り判定部２４ａと、イネーブラー３１とによって、所定の誤りのタイプによる最尤パスＰａと第２パスＰｂのみを対象として評価値ＥＶの算出を行うことができる。すなわち、評価値ＥＶの算出にあたり、異なる誤りのタイプの関係となっている最尤パスＰａと第２パスＰｂについてのユークリッド距離ｄ2、メトリック差分ＭＤの混在が防止され、この点でもより適正な評価値ＥＶが得られるように図られている。
なお、このようにして本実施の形態としては、誤り判定部２４ａとイネーブラー３１とによって所定の誤りのタイプのみを対象として評価値ＥＶを算出できるように構成されているのであるが、これは必ずしも１つの誤りのタイプのみを対象とした評価値ＥＶの算出しかできないということを意味するものではない。
つまりは、評価値ＥＶの算出の対象とする誤りのタイプは、複数の誤りタイプの中から択一的に選択できるように構成することで、最尤パスＰａと第２パスＰｂのビット誤りとして生じうるそれぞれの誤りのタイプごとに評価値ＥＶを計算することができる。
具体的に、例えばＰＲ（１，２，２，１）が採用される場合には、１ビット誤りを対象とした評価値ＥＶの計算と、最短マークシフトによる２ビット誤りを対象とした評価値ＥＶの計算とを切り換えて行うことができるようにするといったものである。
その場合の構成としては、先ずパスメモリ更新ユニット２４内の誤り判定部２４ａとして、対象とすべきとして設定された誤りのタイプに応じ、パスの比較が行われる２つのビット系列について、ビットの値の一致／不一致を判定すべきビット位置を変化できるように構成する。すなわち、先にも述べたように誤りのタイプの別によって、２つのビット系列でビット値の異なるビット位置が特定できるので、設定された誤りのタイプに応じた所定のビット位置の値についてそれらの一致／不一致を判定できるように構成するものである。
なおイネーブラー３１としては、この場合も誤り判定部２４ａからの判定結果（誤り判定結果情報ＪＳ）に応じて信号enableを出力するように構成されればよい。
但し、誤りのタイプが異なれば、当然のことながら生成すべき第２パスＰｂとしてもその誤りのタイプに応じたパスを生成しなければならない。そこで、例えばこの場合の第２パス生成回路３３に対しては、設定された誤りのタイプの別を表す情報を別途入力するように構成する。第２パス生成回路３３は、このような誤りタイプの別を示す情報に基づき、２値化信号ＤDについてその値を反転させるべきビット位置を可変的に設定できるように構成する。つまり、これによって設定された誤りのタイプに応じたビット系列を生成することができ、このように生成されたビット系列に基づくことで、設定された誤りのタイプに応じた第２パスＰｂを生成することができる。
続いて、図３には第２の実施の形態としての構成例を示す。
なお、この図３において、既に図２において説明した部分については同一符号を付して説明を省略する。
第２の実施の形態は、先の第１の実施の形態では信号評価器６内において算出するものとしていた評価値ＥＶを、信号評価器７の外部にて算出するようにされた場合に対応させた構成である。
つまり、この場合の信号評価器７としては、図示するようにして評価値正規化回路３９が省略され、サンプル平均値算出回路３６、分散値算出回路３８にてそれぞれ生成される平均値<ｄ2>、分散値σ2ＭＤをそのまま外部に出力する構成が採られる。
この場合の評価値ＥＶは、例えば図２に示される評価値正規化回路３９を信号評価器７の外部に設けることで算出することができる。このように評価値正規化回路３９を外部に設けた場合にも、本実施の形態において評価値計算に用いられる平均値<ｄ2>と分散値σ2ＭＤとは共に平均操作後の値であるので、計算遅延の増加を抑制できる。
或いは、この場合の評価値ＥＶは、例えば信号評価器７の外部において平均値<ｄ2>、分散値σ2ＭＤを入力するマイクロコンピュータ等によるソフトウエア処理により計算することができる。
これによれば、正規化演算に必要となるハードウェアを省略可能となる。例えば本実施の形態で例示した評価値ＥＶの計算式によると、評価値正規化回路３９としては除算器や乗算器、平方根演算等を含み面積オーバーヘッドが比較的大きくなるので、その省略により回路面積を有効に削減できる。
なお、確認のために述べておくとこの図３の構成が採られる場合、図１に示した再生装置の構成において信号評価器７から出力される評価値ＥＶは、実際には信号評価器７外部において計算されて出力されるものとなる。それ以外の再生装置の構成としては、この場合も図１に示すものと同様とされる。
図４は、第３の実施の形態としての構成例を示している。
なお、この図４においても図２において説明した部分については同一符号を付して説明を省略する。また、図４に示すＰＲＭＬ復号器６、信号評価器７の構成が採られる場合、再生装置の全体構成としては図１に示したものと同様となる。
第３の実施の形態は、第１及び第２の実施の形態では最尤パスＰａと第２パスＰｂとの誤りタイプの特定のために誤り判定結果情報ＪＳを参照していたものを、パターンテーブルに基づいて誤りのタイプを特定するように構成したものである。
図４において、先ずこの場合のＰＲＭＬ復号器６としては、パスメモリ更新ユニット２４内に設けられていた誤り判定部２４ａが省略される。
そして、信号評価器７に対しては、図示するパターン検出＆パターンテーブル４０が設けられる。このパターン検出＆パターンテーブル４０としては、パターン検出回路とこのパターン検出回路が参照するパターンテーブルとを一体的に示している。
パターン検出＆パターンテーブル４０における上記パターンテーブルには、評価値ＥＶの算出にあたって対象とする誤りのタイプに応じて、その誤りが生じている場合に想定される最尤パスＰａと第２パスＰｂのビット系列のパターンが格納されている。
そして、上記パターン検出回路としては、図示するようにして入力される２値化信号ＤDの値と、上記パターンテーブルに格納される最尤パスＰａのビット系列の値とを比較し、それらが一致するか否かについて判別を行う。格納される最尤パスＰａのビット系列との一致が判別された場合、そのパターン（つまり２値化信号ＤD：最尤パスＰａのビット系列）を図示する検出パターンＰ１として最尤パス生成回路３２に供給する。このような検出パターンＰ１に基づくことで、この場合も最尤パス生成回路３２は最尤パスＰａを生成することができる。
また、これと共に上記パターン検出回路は、上記パターンテーブルにおいてそのパターンと対応付けられて格納されている第２パスＰｂのビット系列のパターンを、図示する第２パターンＰ２として第２パス生成回路４１に供給する。
この場合、第２パス生成回路４１に対しては、上記第２パターンＰ２により、第２パスＰｂのビット系列の情報がそのまま供給されることになる。従ってこの場合の第２パス生成回路４１としては、先の図２、図３に示した第２パス生成回路３３とは異なり、２値化信号ＤDに基づき第２パスＰｂのビット系列の情報を生成する機能は不要とできる。
さらに、上記のようにして２値化信号ＤDと格納される最尤パスＰａのビット系列との一致が判別された場合、パターン検出回路は、図示する信号enableを信号評価器７内の各部（最尤パス生成回路３２、第２パス生成回路４１、ユークリッド距離算出回路３５、サンプル平均値算出回路３６、メトリック差分算出回路３７、分散値算出回路３８）に供給するように構成される。これにより、対象とすべきとされた誤りのタイプであるときのみ、これらの各部がアクティブとなるように制御が行われる。つまり、この場合としても最尤パスＰａに対する第２パスＰｂの誤りのタイプとして対象の誤りのタイプが得られた場合にのみ、評価値計算のための動作が行われるようにすることができる。換言すれば、対象外の誤りのタイプによる最尤パスＰａと第２パスＰｂについては、それらのユークリッド距離ｄ2とメトリック差分ＭＤとが評価値に反映されないようにすることができ、これによって評価値ＥＶの信頼性低下を抑制できる。
なお、この場合としても、異なる誤りのタイプによる最尤パスＰａと第２パスＰｂとが混在して計算されたユークリッド距離ｄ2及びメトリック差分ＭＤの値が評価値に反映されなければ、評価値の信頼性低下の防止を図ることができるので、上記信号enableとしては、少なくともサンプル平均値算出回路３６、分散値算出回路３８に対して供給されていればよい。
このようにして第３の実施の形態では、対象とする誤りのタイプで想定される最尤パスＰａと第２パスＰｂとのビット系列のパターンを予め格納しておくようにしたことで、格納される最尤パスＰａのビット系列のパターンと２値化信号ＤDのパターンとが一致することを以て、対象とする誤りのタイプであることを推測できる。また、これと同時に、その最尤パスＰａに対応づけられた第２パスＰｂのビット系列の情報も得ることができる。
そして、この場合としも、上記のように対象とする誤りのタイプであると推測された場合にのみ、その最尤パスＰａと第２パスＰｂとに基づく評価値の計算が行われるようにされるので、評価値の信頼性低下が抑制される。
ここで、先の第１及び第２の実施の形態のように誤り判定結果情報ＪＳを用いる場合は、パスメモリ更新ユニット２４内で得られる最尤パスＰａと第２パスＰｂのビット系列の情報から、設定された誤りのタイプとなる最尤パスＰａと第２パスＰｂとが実際に得られたか否かについて判定を行う誤り判定部２４ａを設けることで、確実に対象の誤りであるかを判定できるように構成した。これに対し第３の実施の形態のパターンテーブルを用いる場合では、実際に最尤パスＰａと第２パスＰｂとの関係が対象とする誤りのタイプに属するかを確認するものではないので、この点で確実性には劣ると考えられる。
しかしながら、パターンテーブルを用いる手法では、上記のような誤り判定部２４ａは省略できることから、ＰＲＭＬ復号器６への改造は不要になるというメリットがある。
図５は、第４の実施の形態の構成例を示している。
なお、図５においては、図２及び図４にて説明した部分については同一符号を付して説明を省略する。
第４の実施の形態は、先の図４に示した第３の実施の形態のパターンテーブルを用いた構成において、先の第２の実施の形態のように評価値正規化回路３９を省略して平均値<ｄ2>、分散値σ2ＭＤとをそのまま外部に出力するように構成したものである。
このような構成が採られることで、この場合としても信号評価器７の回路面積を有効に削減できる。
ここで、本発明としてはこれまでで説明してきた各実施の形態に限定されるものではない。
例えば各実施の形態では、再生装置が光ディスクである記録媒体９０に対応して再生を行う構成としたが、ハードディスク等の磁気ディスク、ＭＤ（Mini Disc）等の光磁気ディスクに対応して再生を行う構成とすることもできる。
或いは、本発明の最尤復号装置及び信号評価方法としては、記録媒体からの再生信号について評価する以外にも、有線又は無線によるデータ通信を行う送受信システムにおいて、受信装置側で信号品質についての評価を行うような場合にも好適に適用することができる。
本発明の実施の形態としての再生装置の構成例について示すブロック図である。 第１の実施の形態としての最尤復号装置の構成例について示すブロック図である。 第２の実施の形態としての最尤復号装置の構成例について示すブロック図である。 第３の実施の形態としての最尤復号装置の構成例について示すブロック図である。 第４の実施の形態としての最尤復号装置の構成例について示すブロック図である。 最尤パス及び第２パスと、再生信号との関係について説明するための図である。 １ビット誤りの場合での最尤パスと第２パスとの間のユークリッド距離と、最短マークシフトによる２ビット誤りの場合での最尤パスと第２パスとの間のユークリッド距離とについて説明するための図として、理想的な基準レベルが設定された場合での例を示す図である。 １ビット誤りの場合での最尤パスと第２パスとの間のユークリッド距離と、最短マークシフトによる２ビット誤りの場合での最尤パスと第２パスとの間のユークリッド距離とについて説明するための図として、基準レベルが理想的な値から変化された場合での例を示す図である。 ＰＲのタイプ別に、誤りのタイプごとの最尤パスと第２パスとのユークリッド距離の値を示した図である。 ＰＲ（１，２，２，１）が採用された場合での、ビタビ検出器（ＰＲＭＬ検出器）内で設定される各基準レベルと再生信号（アイパターン）との関係を示した図である。
符号の説明
１ 光ピックアップ、２ プリアンプ、３ Ａ／Ｄ変換器、４ イコライザ、５ ＰＬＬ回路、６ ＰＲＭＬ復号器、７ 信号評価器、８ 復調器、９ ＲＳデコーダ、１０ ＣＰＵブロック、２１ イコライザ、２２ ブランチメトリック計算ユニット、２３ パスメトリック更新ユニット、２４ パスメモリ更新ユニット、２４ａ 誤り判定部、２５ 適応型基準レベル生成回路、３１ イネーブラー、３２,４１ 最尤パス生成回路、３３ 第２パス生成回路、３４ 遅延補償回路、３５ ユークリッド距離算出回路、３６ サンプル平均値算出回路、３７ メトリック差分算出回路、３８ 分散値算出回路、３９ 評価値正規化回路、４０ パターン検出＆パターンテーブル

Claims (7)

  1. ビット情報を再生した再生信号からビタビ検出を行ってビット検出を行うビタビ検出手段であって、ブランチメトリックの計算のために用いられる基準レベルが、上記再生信号のレベルに応じて可変的に設定されるビタビ検出手段と、
    上記ビタビ検出手段におけるパスの選択の結果生き残ったパスである最尤パスと、この最尤パスと最終的に比較された第２パスとのユークリッド距離を算出するユークリッド距離算出手段と、
    上記再生信号と上記最尤パスと上記第２パスとに基づき、上記第２パスに対するパスメトリックの値と上記最尤パスに対するパスメトリックの値との差分であるメトリック差分を算出するメトリック差分算出手段と、
    上記ユークリッド距離算出手段により算出された上記最尤パスと上記第２パスとのユークリッド距離の値をサンプリングしてその平均値を算出するサンプル平均値算出手段と、
    上記メトリック差分算出手段により算出された上記メトリック差分の分散値を算出する分散値算出手段と、
    を備えることを特徴とする最尤復号装置。
  2. さらに、上記分散値算出手段により算出された上記メトリック差分の分散値を、上記サンプル平均値算出手段により算出された上記ユークリッド距離の平均値を用いて正規化することで、上記再生信号の信号品質についての評価値を得る評価値正規化手段を備える、
    ことを特徴とする請求項１に記載の最尤復号装置。
  3. さらに、上記ビタビ検出手段のビット検出結果である２値化信号と上記基準レベルとに基づいて、上記最尤パスを生成する最尤パス生成手段と、
    上記最尤パスに対する上記第２パスのビット誤りの種類として、予め設定された所定の誤りの種類の情報に基づいて、上記２値化信号から上記第２パスに基づくビット系列の情報を生成すると共に、この生成されたビット系列の情報と上記基準レベルとに基づいて上記第２パスを生成する第２パス生成手段とが備えられると共に、
    上記ユークリッド距離算出手段とメトリック差分算出手段とは、
    上記最尤パス生成手段により生成された上記最尤パスと上記第２パス生成手段により生成された第２パスとを入力して、それぞれ上記ユークリッド距離と上記メトリック差分とを算出するように構成される、
    ことを特徴とする請求項１に記載の最尤復号装置。
  4. さらに、上記ビタビ検出手段において得られる上記最尤パスのビット系列の情報と上記第２パスのビット系列の情報とに基づき、上記最尤パスに対する上記第２パスの誤りの種類が、予め設定された所定の誤りの種類であるか否かについて判定を行う誤り判定手段と、
    上記誤り判定手段の判定結果より、上記最尤パスに対する上記第２パスの誤りの種類が予め設定された所定の誤りの種類であるとされた場合にのみ、上記ユークリッド距離の平均値と上記メトリック差分の分散値とが算出されるように制御を行う制御手段と、
    を備えることを特徴とする請求項１に記載の最尤復号装置。
  5. さらに、上記最尤パスに対する上記第２パスの誤りの種類として、予め設定された所定の種類による誤りが生じているときに想定される上記最尤パスと上記第２パスとのビット系列のパターンが格納されるパターンテーブルを備えると共に、
    上記ビタビ検出手段のビット検出結果である２値化信号のパターンと、上記パターンテーブルに格納される上記最尤パスのビット系列のパターンとが一致した場合にのみ、上記上記ユークリッド距離の平均値と上記メトリック差分の分散値とが算出されるように制御を行う制御手段と、
    を備えることを特徴とする請求項１に記載の最尤復号装置。
  6. ビット情報を再生した再生信号の信号品質を評価する信号評価方法であって、
    上記再生信号のレベルに応じてブランチメトリックの計算に用いる基準レベルを可変的に設定すると共に、上記再生信号からビタビ検出を行ってビット検出を行うビタビ検出手順と、
    上記ビタビ検出手順におけるパスの選択の結果生き残ったパスである最尤パスと、この最尤パスと最終的に比較された第２パスとのユークリッド距離を算出するユークリッド距離算出手順と、
    上記再生信号と上記最尤パスと上記第２パスとに基づき、上記第２パスに対するパスメトリックの値と上記最尤パスに対するパスメトリックの値との差分であるメトリック差分を算出するメトリック差分算出手順と、
    上記ユークリッド距離算出手順により算出した上記最尤パスと上記第２パスとのユークリッド距離の値をサンプリングしてその平均値を算出するサンプル平均値算出手順と、
    上記メトリック差分算出手順により算出した上記メトリック差分の分散値を算出する分散値算出手順と、
    上記分散値算出手順により算出した上記メトリック差分の分散値を、上記サンプル平均値算出手順により算出した上記ユークリッド距離の平均値を用いて正規化することで、上記再生信号の信号品質についての評価値を得る評価値正規化手順と、
    を備えたことを特徴とする信号評価方法。
  7. 記録媒体に対する少なくとも再生を行う再生装置として、
    上記記録媒体に記録されたビット情報を読み出して再生信号を得る再生信号生成手段と、
    上記再生信号生成手段により得られた再生信号からビタビ検出を行ってビット検出を行うビタビ検出手段であって、ブランチメトリックの計算のために用いられる基準レベルが、上記再生信号のレベルに応じて可変的に設定されるビタビ検出手段と、
    上記ビタビ検出手段によって検出されたビット情報を復調して再生データを得る復調手段と、
    上記再生信号の信号品質についての評価値を得るための信号評価手段と、
    を少なくとも備え、
    上記信号評価手段は、
    上記ビタビ検出手段におけるパスの選択の結果生き残ったパスである最尤パスと、この最尤パスと最終的に比較された第２パスとのユークリッド距離を算出するユークリッド距離算出手段と、
    上記再生信号と上記最尤パスと上記第２パスとに基づき、上記第２パスに対するパスメトリックの値と上記最尤パスに対するパスメトリックの値との差分であるメトリック差分を算出するメトリック差分算出手段と、
    上記ユークリッド距離算出手段により算出された上記最尤パスと上記第２パスとのユークリッド距離の値をサンプリングしてその平均値を算出するサンプル平均値算出手段と、
    上記メトリック差分算出手段により算出された上記メトリック差分の分散値を算出する分散値算出手段と、を少なくとも備える、
    ことを特徴とする再生装置。
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