JP2006275910A5 - - Google Patents

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Families Citing this family (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100760231B1 (ko) * 2003-06-25 2007-09-20 캐논 가부시끼가이샤 고주파 전기 신호 제어 장치 및 센싱 시스템
JP4533044B2 (ja) * 2003-08-27 2010-08-25 キヤノン株式会社 センサ
JP4136858B2 (ja) * 2003-09-12 2008-08-20 キヤノン株式会社 位置検出装置、及び情報入力装置
JP2005157601A (ja) 2003-11-25 2005-06-16 Canon Inc 電磁波による積層状物体計数装置及び計数方法
JP4217646B2 (ja) * 2004-03-26 2009-02-04 キヤノン株式会社 認証方法及び認証装置
JP4546326B2 (ja) * 2004-07-30 2010-09-15 キヤノン株式会社 センシング装置
JP4250603B2 (ja) * 2005-03-28 2009-04-08 キヤノン株式会社 テラヘルツ波の発生素子、及びその製造方法
JP4390147B2 (ja) * 2005-03-28 2009-12-24 キヤノン株式会社 周波数可変発振器
JP4402026B2 (ja) 2005-08-30 2010-01-20 キヤノン株式会社 センシング装置
JP4773839B2 (ja) * 2006-02-15 2011-09-14 キヤノン株式会社 対象物の情報を検出する検出装置
JP5132146B2 (ja) * 2006-03-17 2013-01-30 キヤノン株式会社 分析方法、分析装置、及び検体保持部材
JP4481946B2 (ja) 2006-03-17 2010-06-16 キヤノン株式会社 検出素子及び画像形成装置
JP4898472B2 (ja) 2006-04-11 2012-03-14 キヤノン株式会社 検査装置
JP4709059B2 (ja) * 2006-04-28 2011-06-22 キヤノン株式会社 検査装置及び検査方法
JP5006642B2 (ja) 2006-05-31 2012-08-22 キヤノン株式会社 テラヘルツ波発振器
JP5196750B2 (ja) 2006-08-25 2013-05-15 キヤノン株式会社 発振素子
JP4873746B2 (ja) * 2006-12-21 2012-02-08 キヤノン株式会社 発振素子
JP4859250B2 (ja) * 2007-08-31 2012-01-25 キヤノン株式会社 検査物に関する距離調整装置及び方法、検査装置及び方法
JP5144175B2 (ja) * 2007-08-31 2013-02-13 キヤノン株式会社 電磁波を用いる検査装置及び検査方法
US7737402B2 (en) * 2007-08-31 2010-06-15 Canon Kabushiki Kaisha Distance adjusting apparatus and method, and object examining apparatus and method
US7869036B2 (en) * 2007-08-31 2011-01-11 Canon Kabushiki Kaisha Analysis apparatus for analyzing a specimen by obtaining electromagnetic spectrum information
JP4807707B2 (ja) * 2007-11-30 2011-11-02 キヤノン株式会社 波形情報取得装置
JP4834718B2 (ja) * 2008-01-29 2011-12-14 キヤノン株式会社 パルスレーザ装置、テラヘルツ発生装置、テラヘルツ計測装置及びテラヘルツトモグラフィー装置
JP5357531B2 (ja) * 2008-02-05 2013-12-04 キヤノン株式会社 情報取得装置及び情報取得方法
WO2010044193A1 (ja) * 2008-10-14 2010-04-22 国立大学法人東北大学 試料分析方法
JP5623061B2 (ja) * 2008-12-12 2014-11-12 キヤノン株式会社 検査装置及び検査方法
JP5665305B2 (ja) * 2008-12-25 2015-02-04 キヤノン株式会社 分析装置
JP5612842B2 (ja) 2009-09-07 2014-10-22 キヤノン株式会社 発振器
US8686865B2 (en) 2010-06-18 2014-04-01 The Invention Science Fund I, Llc Interactive technique to reduce irradiation from external source
US8463288B2 (en) 2010-06-18 2013-06-11 The Invention Science Fund I, Llc Irradiation self-protection from user telecommunication device
US8462002B2 (en) 2010-06-18 2013-06-11 The Invention Science Fund I, Llc Personal telecommunication device with target-based exposure control
US8810425B2 (en) 2010-06-18 2014-08-19 The Invention Science Fund I, Llc Travel route mapping based on radiation exposure risks
CN102129324B (zh) * 2011-03-17 2012-05-02 汉王科技股份有限公司 触控装置及其控制方法和具有该触控装置的电子设备
CN104698466B (zh) * 2014-12-12 2017-02-22 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 远程动态目标测距装置及方法
WO2018009980A1 (en) 2016-07-15 2018-01-18 Fastbrick Ip Pty Ltd Boom for material transport
AU2017294796B2 (en) 2016-07-15 2019-05-30 Fastbrick Ip Pty Ltd Brick/block laying machine incorporated in a vehicle
EP3649616B1 (en) 2017-07-05 2025-01-08 Fastbrick IP Pty Ltd Real time position and orientation tracker
CN111226090B (zh) 2017-08-17 2023-05-23 快砖知识产权私人有限公司 具有改进的横滚角测量的激光跟踪器
AU2018317936B2 (en) 2017-08-17 2024-09-12 Fastbrick Ip Pty Ltd Interaction system configuration
CN111212799B (zh) 2017-10-11 2023-04-14 快砖知识产权私人有限公司 用于传送物体的机器以及与其一起使用的多隔间转盘
CN112689552A (zh) 2018-07-16 2021-04-20 快砖知识产权私人有限公司 主动阻尼系统
WO2020014737A1 (en) 2018-07-16 2020-01-23 Fastbrick Ip Pty Ltd Backup tracking for an interaction system
MX2022013105A (es) 2020-04-22 2023-01-19 Fastbrick Ip Pty Ltd Aparato de transferencia de bloques y ensamble de sujecion mejorado para su uso con el mismo.
WO2022006635A1 (en) 2020-07-08 2022-01-13 Fastbrick Ip Pty Ltd Adhesive application system

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58158506A (ja) * 1982-03-17 1983-09-20 Hitachi Ltd 変位の光学的測定方法
US5293213A (en) * 1992-08-12 1994-03-08 Klein Uwe K A Utilization of a modulated laser beam in heterodyne interferometry
JP3149421B2 (ja) * 1992-11-04 2001-03-26 横河電機株式会社 リフレクトメータ
JP3254477B2 (ja) * 1993-03-26 2002-02-04 独立行政法人産業技術総合研究所 高精度干渉距離計
GB2359716B (en) * 2000-02-28 2002-06-12 Toshiba Res Europ Ltd An imaging apparatus and method
KR100421427B1 (ko) * 2001-01-11 2004-03-09 한국과학기술원 공초점원리의 단위변위센서를 이용한 초정밀 변위측정기및 다양한 변위측정방법
DE10297037B4 (de) * 2001-07-02 2008-01-17 Advantest Corp. Ausbreitungsmessvorrichtung und Ausbreitungsmessverfahren
JP2004163283A (ja) * 2002-11-13 2004-06-10 Tochigi Nikon Corp テラヘルツ受信回路を有するテラヘルツパルス光計測装置
KR100760231B1 (ko) 2003-06-25 2007-09-20 캐논 가부시끼가이샤 고주파 전기 신호 제어 장치 및 센싱 시스템
JP4533044B2 (ja) 2003-08-27 2010-08-25 キヤノン株式会社 センサ
JP4136858B2 (ja) 2003-09-12 2008-08-20 キヤノン株式会社 位置検出装置、及び情報入力装置
JP2005157601A (ja) 2003-11-25 2005-06-16 Canon Inc 電磁波による積層状物体計数装置及び計数方法
JP4217646B2 (ja) 2004-03-26 2009-02-04 キヤノン株式会社 認証方法及び認証装置
US7054339B1 (en) * 2004-07-13 2006-05-30 Np Photonics, Inc Fiber-laser-based Terahertz sources through difference frequency generation (DFG) by nonlinear optical (NLO) crystals
JP4546326B2 (ja) 2004-07-30 2010-09-15 キヤノン株式会社 センシング装置
JP4250603B2 (ja) 2005-03-28 2009-04-08 キヤノン株式会社 テラヘルツ波の発生素子、及びその製造方法
JP4773839B2 (ja) 2006-02-15 2011-09-14 キヤノン株式会社 対象物の情報を検出する検出装置
JP4481946B2 (ja) 2006-03-17 2010-06-16 キヤノン株式会社 検出素子及び画像形成装置
JP5132146B2 (ja) 2006-03-17 2013-01-30 キヤノン株式会社 分析方法、分析装置、及び検体保持部材
JP4898472B2 (ja) 2006-04-11 2012-03-14 キヤノン株式会社 検査装置
JP4709059B2 (ja) 2006-04-28 2011-06-22 キヤノン株式会社 検査装置及び検査方法

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