JP2006266845A - 画像判定装置及び画像判定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 被検査体の表面の明るさを示す画像情報を取得し、複数の閾値を用いて前記画像情報を予め定められた正常な段階を含む複数の明るさの段階毎に分類し、当該分類結果に基づいて前記被検査体の表面の欠陥画像を抽出し、抽出された前記欠陥画像の各々について、各欠陥画像が分類された段階の組み合わせに応じて予め設定された出現パターンを特定し、前記出現パターン毎に設定されたパラメータを予め記憶手段に記憶しておき、前記欠陥画像の各々の前記出現パターンとして特定された出現パターンに応じた各パラメータを用いて前記被検査体の表面の検査結果判定処理を実行する。
【選択図】 図4
Description
<1> 被検査体の表面の明るさを示す画像情報を取得する取得手段と、複数の閾値を用いて前記画像情報を予め定められた正常な段階を含む複数の明るさの段階毎に分類する分類手段と、前記分類手段による分類結果に基づいて前記被検査体の表面の欠陥画像を抽出する欠陥画像抽出手段と、前記欠陥画像抽出手段により抽出された前記欠陥画像の各々について、各欠陥画像が分類された段階の組み合わせに応じて予め設定された出現パターンを特定するパターン特定手段と、予め前記出現パターン毎に設定された前記検査結果判定処理に用いるパラメータを記憶するパラメータ記憶手段と、前記欠陥画像の各々の前記出現パターンに応じた前記パラメータを用いて前記被検査体の表面の検査結果判定処理を実行する判定処理実行手段と、を備えている画像判定装置である。
本実施例1では、4つの閾値を用いた閾値処理を施すと共に出現パターンの特定を行う一方、グレードの付与及び検査結果の判定については従来の方法で行った場合について記載する。
本実施例2では、グレードの付与及び検査結果の判定については実施の形態に記載の方法を用いて行う一方、閾値処理については従来通り1つの閾値を用いて行う(出現パターンの特定を行わない)場合について記載する。
12 モータ
14 光源
16 CCDカメラ(取得手段)
18 制御部
20 感光体ドラム(被検査体)
52 画像情報取得部(取得手段)
54 欠陥画像抽出部(分類手段、欠陥画像抽出手段、特定手段)
56 パターン特定部(パターン特定手段)
58 パターン定義格納部(パラメータ記憶手段、記憶手段)
60 欠陥サイズ演算部(導出手段)
62 グレード付与部(グレード付与手段)
64 検査結果判定部(判定処理実行手段)
Claims (6)
- 被検査体の表面の明るさを示す画像情報を取得する取得手段と、
複数の閾値を用いて前記画像情報を予め定められた正常な段階を含む複数の明るさの段階毎に分類する分類手段と、
前記分類手段による分類結果に基づいて前記被検査体の表面の欠陥画像を抽出する欠陥画像抽出手段と、
前記欠陥画像抽出手段により抽出された前記欠陥画像の各々について、各欠陥画像が分類された段階の組み合わせに応じて予め設定された出現パターンを特定するパターン特定手段と、
予め前記出現パターン毎に設定された前記検査結果判定処理に用いるパラメータを記憶するパラメータ記憶手段と、
前記欠陥画像の各々の前記出現パターンに応じた前記パラメータを用いて前記被検査体の表面の検査結果判定処理を実行する判定処理実行手段と、
を備えた画像判定装置。 - 前記欠陥画像の各々に対して、前記パラメータ記憶手段に予め設定されたパラメータを用いて欠陥の重要度に応じたグレードを付与するグレード付与手段を更に備え、
前記パラメータ記憶手段は、前記各欠陥画像の重要度を判定するために用いるパラメータを予め更に記憶し、
前記判定処理実行手段は、前記各欠陥画像のグレード及び個数に基づいて前記検査結果判定処理を実行する
ことを特徴とする請求項1記載の画像判定装置。 - 被検査体の表面の明るさを示す画像情報を取得する取得手段と、
前記画像情報に基づいて前記被検査体の表面の欠陥を特定する特定手段と、
前記特定手段により特定された欠陥の大きさを導出する導出手段と、
前記導出手段により導出された前記欠陥の大きさと閾値とを比較し、比較結果に応じて予め設定された前記閾値を含む範囲に応じた中間グレードを含む複数のグレードの何れかを当該欠陥に付与するグレード付与手段と、
前記画像情報に含まれる欠陥のうち、各グレードが付与された前記欠陥の個数に応じて前記被検査体の表面の検査結果判定処理を行うと共に、前記中間グレードが付与された欠陥が存在する場合には、前記被検査体を再検査判定する判定処理実行手段と、
を備えた画像判定装置。 - 被検査体の表面の明るさを示す画像情報を取得し、
複数の閾値を用いて前記画像情報を予め定められた正常な段階を含む複数の明るさの段階毎に分類し、
当該分類結果に基づいて前記被検査体の表面の欠陥画像を抽出し、
抽出された前記欠陥画像の各々について、各欠陥画像が分類された段階の組み合わせに応じて予め設定された出現パターンを特定し、
前記出現パターン毎に設定されたパラメータを予め記憶手段に記憶しておき、
前記欠陥画像の各々の前記出現パターンとして特定された出現パターンに応じた各パラメータを用いて前記被検査体の表面の検査結果判定処理を実行する画像判定方法。 - 被検査体の表面の明るさを示す画像情報を取得し、
複数の閾値を用いて前記画像情報を予め定められた正常な段階を含む複数の明るさの段階毎に分類し、
当該分類結果に基づいて前記被検査体の表面の欠陥画像を抽出し、
抽出された前記欠陥画像の各々について、各欠陥画像が分類された段階の組み合わせに応じて予め設定された出現パターンを特定し、
前記出現パターン毎に設定されたパラメータを予め記憶手段に記憶しておき、
特定された前記出現パターンに応じた前記パラメータを用いて、前記欠陥画像の各々に対して欠陥画像の重要度に応じたグレードを付与し、
前記欠陥画像の各々の前記出現パターンとして特定された出現パターンに応じた各パラメータを用いて前記各欠陥画像のグレード及び個数に基づく前記被検査体の表面の検査結果判定処理を実行する画像判定方法。 - 被検査体の表面の明るさを示す画像情報を取得し、
前記画像情報に基づいて前記被検査体の表面の欠陥を特定し、
特定された欠陥の大きさを導出し、
導出された前記欠陥の大きさと閾値とを比較し、比較結果に応じて予め設定された前記閾値を含む範囲に応じた中間グレードを含む複数のグレードの何れかを当該欠陥に付与し、
前記画像情報に含まれる欠陥のうち、各グレードが付与された前記欠陥の個数に応じて前記被検査体の表面の検査結果判定処理を行うと共に、前記中間グレードが付与された欠陥が存在する場合には、前記被検査体を再検査判定する画像判定方法。
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