JP2006258893A - 表示装置及び表示パネル検査方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】本発明は、表示装置の点灯検査のコストを抑制するための技術を提供する。
【解決手段】本発明に係る液晶表示装置は、走査電極及び信号電極と電気的に接続された複数の接合用端子を有する表示パネルと、前記接合用端子と接続される複数のバンプを有する駆動用回路部品と、から構成される表示装置であって、前記接合用端子は、複数の第1の接合用端子と、前記第1の接合用端子と同数以下の第2の接合用端子とを含み、前記第2の接合用端子は、前記第1の接合用端子のいずれか1端子とスイッチング素子を介して接合される。
【選択図】図3
【解決手段】本発明に係る液晶表示装置は、走査電極及び信号電極と電気的に接続された複数の接合用端子を有する表示パネルと、前記接合用端子と接続される複数のバンプを有する駆動用回路部品と、から構成される表示装置であって、前記接合用端子は、複数の第1の接合用端子と、前記第1の接合用端子と同数以下の第2の接合用端子とを含み、前記第2の接合用端子は、前記第1の接合用端子のいずれか1端子とスイッチング素子を介して接合される。
【選択図】図3
Description
本発明は、表示装置に用いる表示パネルの点灯検査に関し、詳細には、点灯検査のコストを抑制する技術に関する。
COG(Chip on Glass)は、液晶パネルのガラス基板上に駆動用回路部品を直接実装する工法で、使用部材数や工程数が比較的少なく低コストで生産可能である。このため、COGは、大量生産に向いた工法である。
COG型の液晶表示装置を生産するための一工程として、液晶パネルの点灯検査がある。点灯検査は、駆動用回路部品の実装工程よりも前に、不良品の液晶パネルを除去するためにより行われ、不良品の液晶パネルに良品の駆動用回路部品を実装する無駄を排除する。
点灯検査では、駆動用回路部品を実装するために液晶パネル上に設けられた複数の接合用端子に所定の点灯電圧を印加し、未点灯の画素が無いことを検査する。多くの場合、多数のプローブピンが基板上に植設されたプローブカードを用いて、全接合用端子に同時に点灯電圧を印加し、点灯検査する。
プローブカードを用いた点灯検査は、全端子に同時に信号が印加できるため検査時間が短い点で優れるが、プローブカードの制作費が高額であるという欠点がある。昨今、駆動用回路部品の集積度が増したこと、液晶表示装置の画素数が増えたこと、等により、駆動用回路部品に形成されるバンプの数が増加し、駆動用回路部品の短辺側にも配置される等の複雑化が進んでいる。
このような、多数、且つ、複雑に配置された全ての端子に接触できるプローブカードは従来のプローブカード以上に高額である。このため、低コストで生産可能であるというCOGの利点が損なわれる。
また、上述の問題は、COG型液晶表示装置に特有の問題とは言えず、有機EL(エレクトロルミネセンス)ディスプレイ、プラズマディスプレイ、COG型以外の液晶表示装置等の他の方式の表示装置にも潜在的にある問題である。
液晶パネルの点灯検査を比較的安価なプローブカードで実施し、プローブカードの高価化を避けるための技術として、例えば、液晶表示パネルの点灯検査を複数回に分けて実行することで、プローブピンの数を減少し、プローブカードの価格を低額に抑えるものが特許文献1に示されている。
特開2004−151449号公報
しかしながら、特許文献1に記載された手法では、表示部の全領域を点灯検査するためには、プローブピンと接合用端子とを接触させる動作を複数回繰り返す必要があり、検査時間が長くなる。また、プローブピンと接合用端子との接触回数が増加すると、プローブピンの先端の劣化が進行する。
本発明は、上記の実情に鑑みてなされたもので、COG型の液晶表示装置の点灯検査を容易にするための技術を提供することを目的とする。
また、本発明は、駆動用回路部品の長辺に沿って配置されたバンプと接続される接合用端子にのみ接触するプローブカードを用いて、液晶パネルの表示部の全領域を点灯検査できる表示パネル検査方法と、それに適した表示装置を提供することを他の目的とする。
また、本発明は、駆動用回路部品の長辺に沿って配置されたバンプと接続される接合用端子にのみ接触するプローブカードを用いて、液晶パネルの表示部の全領域を点灯検査できる表示パネル検査方法と、それに適した表示装置を提供することを他の目的とする。
本発明の第1の観点に係る表示装置は、走査電極及び信号電極と電気的にそれぞれ接続された複数の接合用端子を有する表示パネルと、前記接合用端子に接続される複数のバンプを有する駆動用回路部品と、から構成される表示装置であって、前記接合用端子は、複数の第1の接合用端子と、前記第1の接合用端子と同数以下の第2の接合用端子とを含み、前記第2の接合用端子は、前記第1の接合用端子のいずれか1端子とスイッチング素子を介して接合される、ことを特徴とする。
前記第1の接合用端子は、前記駆動用回路部品の長辺に沿って配置された前記バンプと接続されてもよい。また、前記第2の接合用端子は、前記駆動用回路部品の短辺に沿って配置された前記バンプと接続されてもよい。
前記スイッチング素子を介して接続される、前記第1の接合用端子と、前記第2の接合用端子とは、同じ色の画素に対応する接合用端子であってもよい。
前記表示パネルは、薄膜トランジスタ(TFT:Thin Film Transistor)型の液晶パネルであってもよく、前記スイッチング素子は、薄膜トランジスタにより構成されてもよい。そして、前記薄膜トランジスタは、前記液晶パネルの表面に形成されてもよい。
前記スイッチング素子は、前記表示パネルの前記駆動用回路部品が実装される領域内に形成されてもよい。
本発明の第2の観点に係る表示パネル検査方法は、表示パネル上に形成された複数の第1の接合用端子にプローブピンを接触させる第1の段階と、スイッチング素子を開放状態としてプローブピンから点灯信号を印加して第1の接合用端子に対応する表示部の点灯検査をする第2の段階と、スイッチング素子を導通状態としてプローブピンから点灯信号を印加して第2の接合用端子に対応する表示部の点灯検査をする第3の段階を含む、ことを特徴とする。
本発明の表示装置及び表示パネル検査方法によれば、表示装置の点灯検査を容易にすることができる。
また、本発明の表示装置及び表示パネル検査方法によれば、駆動用回路部品の長辺に沿って配置されたバンプと接続される接合用端子にのみ接触するプローブカードを用いて、プローブピンの接触回数を増加させることなく、表示パネルの表示部の全領域を点灯検査することができる。
また、本発明の表示装置及び表示パネル検査方法によれば、駆動用回路部品の長辺に沿って配置されたバンプと接続される接合用端子にのみ接触するプローブカードを用いて、プローブピンの接触回数を増加させることなく、表示パネルの表示部の全領域を点灯検査することができる。
以下、図面を参照して、COG型の液晶表示装置の点灯検査をする場合を例に、本発明を実施形態について説明する。
はじめに、点灯検査の検査対象となる液晶表示装置1について、図1を参照して説明する。液晶表示装置1は、駆動用回路部品2と、液晶パネル3とから構成される。
はじめに、点灯検査の検査対象となる液晶表示装置1について、図1を参照して説明する。液晶表示装置1は、駆動用回路部品2と、液晶パネル3とから構成される。
図1に示すように、液晶表示装置1の信号電極は、液晶パネル3の一方の辺に延出され、配線6により、ソースドライバ2aが配置される部品実装領域7に導かれ、この部品実装領域7にコの字型に複数配列された接合用端子4に接続され、それぞれの接合用端子4が前記ソースドライバ2aのそれぞれのバンプ21に接続されている。一方、前記液晶表示装置1の走査電極は、液晶パネル3の前記一方の辺に隣接する他方の辺に延出され、この他方の辺から前記一方の辺のゲートドライバ2bが配置される部品実装領域7に導かれ、この部品実装領域7に配列された図示しない接合用端子に接続され、この接合用端子がゲートドライバ2bの図示しないバンプに接続されている。
駆動用回路部品2は、ソースドライバ2aとゲートドライバ2bとから構成される。
ソースドライバ2aは、液晶パネル3の信号電極を駆動する。本実施形態におけるソースドライバ2aは、図2に示すように、部品の長辺及び短辺に沿って千鳥配置に配置されたバンプ21を有する。
一方、ゲートドライバ2bは、液晶パネル3の走査電極を駆動する。本実施形態におけるゲートドライバ2bは、その長辺に沿ってバンプ21が一列に形成された従来型のものである。
これらの駆動用回路部品2は、バンプ21を介して駆動信号を液晶パネル3に供給する。
ソースドライバ2aは、液晶パネル3の信号電極を駆動する。本実施形態におけるソースドライバ2aは、図2に示すように、部品の長辺及び短辺に沿って千鳥配置に配置されたバンプ21を有する。
一方、ゲートドライバ2bは、液晶パネル3の走査電極を駆動する。本実施形態におけるゲートドライバ2bは、その長辺に沿ってバンプ21が一列に形成された従来型のものである。
これらの駆動用回路部品2は、バンプ21を介して駆動信号を液晶パネル3に供給する。
図3は、液晶パネル3のソースドライバ2aを実装する領域とその周辺の模式図である。
液晶パネル3は、図3に示すように、接合用端子4と、表示部5と、配線6と、部品実装領域7と、スイッチング素子9と、スイッチング素子制御端子10とから構成される。上記の各構成要素は、ガラス基板上に形成される。
液晶パネル3は、図3に示すように、接合用端子4と、表示部5と、配線6と、部品実装領域7と、スイッチング素子9と、スイッチング素子制御端子10とから構成される。上記の各構成要素は、ガラス基板上に形成される。
接合用端子4は、配線6に接続された導体であり、当該導体はガラス基板の表面に露出している。接合用端子4は、駆動用回路部品2の長辺に沿ったバンプ21と接合する第1の接合用端子41と、駆動用回路部品2の短辺に沿ったバンプ21と接合する第2の接合用端子42とを含む。第2の接合用端子42の数は、第1の接合用端子41の数と同数又はそれよりも少数である。また、各接合用端子4は、RGB(赤、緑、青)のいずれか一色に対応している(図3中、それぞれR、G、Bと符号を付す)。
表示部5は、駆動用回路部品2から配線6を介して供給される駆動信号に応答して、画像を表示する。
部品実装領域7は、駆動用回路部品2(ソースドライバ)が実装される領域であり、この領域内に接合用端子4と、スイッチング素子9が形成される。
配線6は、接合用端子4と表示部5とを電気的に接続し、接合用端子4に入力された駆動信号を表示部に伝送する。
部品実装領域7は、駆動用回路部品2(ソースドライバ)が実装される領域であり、この領域内に接合用端子4と、スイッチング素子9が形成される。
配線6は、接合用端子4と表示部5とを電気的に接続し、接合用端子4に入力された駆動信号を表示部に伝送する。
スイッチング素子9は、部品実装領域7内にTFT(Thin Film Transistor)により形成される。そして、スイッチング素子9の信号路(ソース−ドレイン間)の一端(例えばソース)は、第2の接合用端子42のいずれか1つと接続される。また、スイッチング素子9の信号路の他端(例えばドレイン)は、第1の接合用端子41であって、第1の信号端子に接続された第2の接合用端子42の対応するRGB色と同じ色に対応するもののいずれか1つと接続される。そして、スイッチング素子9は、制御端子(ゲート)に供給される制御信号に基づいて信号路を導通又は絶縁させる、これにより、第2の接合用端子42と第1の接合用端子41とは、短絡又は絶縁される。
液晶パネル3がTFT型の液晶パネルである場合、TFTによるスイッチング素子9は、液晶パネルの標準的な製造プロセスで形成することができる。このためTFTでスイッチング素子9を形成する手法は、低コストで実現可能である。
また、部品実装領域7内にスイッチング素子9を形成すると、液晶パネル3でスイッチング素子9が占有する領域が無いため、液晶パネル3の面積を小さくできるという利点がある。
スイッチング素子制御用端子10は、部品実装領域7外に配置され、全てのスイッチング素子9の制御端子(ゲート)と接続される。点灯検査時にはスイッチング素子制御用端子10に図示せぬプローブを接触させ、制御信号を印加する。
このような構成の液晶表示装置1の製造工程において、液晶パネル3の製造不良品を除去するため、駆動用回路部品2が実装される前の液晶パネル3を単体で点灯検査する。
点灯検査には、第1の接合用端子41に合わせてプローブピンが植設されたプローブカード(図示しない)を用い、全ての第1の接合用端子41にプローブピンを接触して点灯信号を印加する。
なお、点灯検査の際、液晶パネル3のゲートドライバ2bと接合させるための図示しない接合用端子に対しては、他のプローブカードを用いて全端子のそれぞれにプローブピンを接触し、駆動信号を印加する。
なお、点灯検査の際、液晶パネル3のゲートドライバ2bと接合させるための図示しない接合用端子に対しては、他のプローブカードを用いて全端子のそれぞれにプローブピンを接触し、駆動信号を印加する。
以下では、図4に示すフローチャートを参照して、上記構成の液晶パネル3を点灯検査する手順を説明する。
はじめに、スイッチング素子制御用端子10にスイッチング素子9を開放状態にする信号を入力し(ステップS10)、スイッチング素子9の信号路を電気的に絶縁させる。そして、その状態を保持しつつ、プローブピンを第1の接合用端子41に接触させる(ステップS20)。この状態で、表示部5の第1の接合用端子41に対応する領域を点灯検査する(ステップS30)。
表示部5の第1の接合用端子41に対応する領域の点灯検査は、図5に示すフローチャートの手順で実施される。
まず、赤色の画素に対応する第1の接合用端子41に接触したプローブピンのみが、液晶パネル3に対し点灯電圧を印加する(ステップS31)。このとき、表示部5は、第1の接合用端子41に対応した領域が赤色の単色表示になる。この各赤画素の点灯状態で、検査員の目視又はCCD(Charge
Coupled Device)撮像装置により取り込んだ画像を画像解析することにより、第1の接合用端子41に対応する表示部5内の点灯しない赤画素の有無、輝線の有無、発光色のずれ等を検査する(ステップS32)。検査後、点灯電圧の印加を解除する(ステップS33)。ステップS32において、点灯しない画素、輝線、発光色のずれ等がみつかった液晶パネル3は不良品と判別される。
Coupled Device)撮像装置により取り込んだ画像を画像解析することにより、第1の接合用端子41に対応する表示部5内の点灯しない赤画素の有無、輝線の有無、発光色のずれ等を検査する(ステップS32)。検査後、点灯電圧の印加を解除する(ステップS33)。ステップS32において、点灯しない画素、輝線、発光色のずれ等がみつかった液晶パネル3は不良品と判別される。
次に、緑色の画素に対応する第1の接合用端子41に接触したプローブピンのみが、液晶パネル3に対し点灯電圧を印加する(ステップS34)。このとき、表示部5は、第1の接合用端子41に対応した領域が緑色の単色表示になる。この各緑画素の点灯状態で、検査員の目視又はCCD撮像装置により取り込んだ画像を画像解析することにより、第1の接合用端子41に対応する表示部5内の点灯しない緑画素の有無、輝線の有無、発光色のずれ等を検査する(ステップS35)。検査後、点灯電圧の印加を解除する(ステップS36)。ステップS35において、点灯しない画素、輝線、発光色のずれ等がみつかった液晶パネル3は不良品と判別される。
次に、青色の画素に対応する第1の接合用端子41に接触したプローブピンのみが、液晶パネル3に対し点灯電圧を印加する(ステップS37)。このとき、表示部5は、第1の接合用端子41に対応した領域が青色の単色表示になる。この各青画素の点灯状態で、検査員の目視又はCCD撮像装置により取り込んだ画像を画像解析することにより、第1の接合用端子41に対応する表示部5内の点灯しない青画素の有無、輝線の有無、発光色のずれ等を検査する(ステップS38)。検査後、点灯電圧の印加を解除する(ステップS39)。ステップS38において、点灯しない画素、輝線、発光色のずれ等がみつかった液晶パネル3は不良品と判別される。
図4に戻って、第1の接合用端子41に対応する画素の点灯検査の終了後、プローブピンを第1の接合用端子41に接触させた状態を保持しながら、スイッチング素子制御用信号10にスイッチング素子9を導通状態にする信号を入力し(ステップS40)、スイッチング素子9の信号路を電気的に導通させる。そして、この状態で、表示部5の第2の接合用端子42に対応する領域を点灯検査する(ステップS50)。
第2の接合用端子42に対応する表示部5の点灯検査は、図6に示すフローチャートの手順で実施される。
まず、赤色の画素に対応する第1の接合用端子41に接触したプローブピンのみが、液晶パネル3に対し点灯電圧を供給する(ステップS51)。このとき、表示部5は、全領域が赤色の単色表示になる。この各赤画素の点灯状態で、検査員の目視又はCCD撮像装置により取り込んだ画像を画像解析することにより、第2の接合用端子42に対応する表示部5内の点灯しない赤画素の有無、輝線の有無、発光色のずれ等を検査する(ステップS52)。検査後、点灯電圧の印加を解除する(ステップS53)。ステップS52において、点灯しない画素、輝線、発光色のずれ等がみつかった液晶パネル3は不良品と判別される。
次に、緑色の画素に対応する第1の接合用端子41に接触したプローブピンのみが、液晶パネル3に対し点灯電圧を印加する(ステップS54)。このとき、表示部5は、全領域が緑色の単色表示になる。この各緑画素の点灯状態で、検査員の目視又はCCD撮像装置により取り込んだ画像を画像解析することにより、第2の接合用端子42に対応する表示部5内の点灯しない緑画素の有無、輝線の有無、発光色のずれ等を検査する(ステップS55)。検査後、点灯電圧の印加を解除する(ステップS56)。ステップS55において、点灯しない画素、輝線、発光色のずれ等がみつかった液晶パネル3は不良品と判別される。
次に、青色の画素に対応する第1の接合用端子41に接触したプローブピンのみが、液晶パネル3に対し点灯電圧を印加する(ステップS57)。このとき、表示部5は、全領域が青色の単色表示になる。この各青画素の点灯状態で、検査員の目視又はCCD撮像装置により取り込んだ画像を画像解析することにより、第2の接合用端子42に対応する表示部5内の点灯しない青画素の有無、輝線の有無、発光色のずれ等を検査する(ステップS58)。検査後、点灯電圧の印加を解除する(ステップS59)。ステップS58において、点灯しない画素、輝線、発光色のずれ等がみつかった液晶パネル3は不良品と判別される。
図4に戻って、第2の接合用端子42に対応する画素の点灯検査が終了すると、液晶パネル3全体の点灯検査も終了する。
点灯検査の過程で不良品と判別されなかった液晶パネル3は良品であると判別さる。良品と判別された液晶パネル3には、駆動用回路部品2が実装され、液晶表示装置1が完成する。液晶表示装置1の使用時には、スイッチング素子制御用端子10に、スイッチング素子9を開放状態にする信号を定常的に印加するようにする。これにより、第1の接合用端子41と、第2の接合用端子42とは絶縁され、液晶表示装置1は表示部5の全領域を使用できる。
上述のように、本実施形態の液晶表示装置は、第1の接合用端子41に入力された駆動信号を第2の接合用端子42に伝えるか否かを制御するスイッチング素子9を採用する。これにより、従来から汎用的に用いられる一直線型のプローバを使用して、複雑な配置(例えば、本実施形態に示したように、長辺側だけでなく短辺側にも接合用端子があるような配置)の接合用端子4を有する液晶パネルが点灯検査可能である。
また、本実施形態の液晶表示装置及び液晶表示パネル検査方法によれば、第1の接合用端子41に対応する表示部5の点灯検査と、第2の接合用端子42に対応する表示部5の点灯検査は、一度のプローブピン接触で実施できるので、検査時間を短縮できる。
本実施形態では、第1の接合用端子41に対応する表示部5の点灯検査と、第2の接合用端子42に対応する表示部5の点灯検査とを分けて実施しが、両部分を一度に検査するようにしてもよい。この場合、点灯検査の際には常にスイッチング素子9を短絡状態とし、全画面の点灯検査をすればよい。すなわち、図4に示すフローチャートにおいて、ステップS10及びS30を省略し、ステップS50において第1の接合用端子41に対応する表示部5の検査を併せてするようにすればよい。
本実施形態の液晶表示装置及び液晶表示パネル検査方法によれば、液晶パネル1枚を点灯検査するのに要するプローブピンの接触回数が1回のみであるため、複数回の接触をする場合と比べ、プローブピンの先端の劣化を少なくできる。
本実施形態では、スイッチング素子9を、部品実装領域7内に形成する場合を例に説明したが、スイッチング素子9を、例えば液晶パネル3の表示部5の上、右、左、等の余白領域に形成してもよい。この場合、検査後の工程でスイッチング素子9が形成された領域を切除すれば、駆動用回路部品2の実装後に誤って第1の接合用端子41と第2の接合用端子42とが短絡するといった不具合を確実に防止できる。
本実施形態の変形例として、ゲートドライバ2bと接続される接合用端子4ついても、スイッチング素子9を介して接合用端子4同士を接続してもよい。この場合、ゲートドライバ2bのバンプ配置が複雑であっても、従来のプローブピンで点灯検査ができる。
本実施形態では、表示装置として、COG型の液晶パネルを採用した場合を例に説明したが、本発明における表示装置は、表示領域から多数の配線が引き出される様々な表示装置(例えば有機EL(エレクトロルミネセンス)ディスプレイ、プラズマディスプレイ等)に適用することが可能である。
1・・・液晶表示装置、2・・・駆動用回路部品、2a・・・ソースドライバ、2b・・・ゲートドライバ、3・・・液晶パネル、4・・・接合用端子、5・・・表示部、6・・・配線、7・・・部品実装領域、9・・・スイッチング素子、10・・・スイッチング素子制御用端子、21・・・バンプ、 41・・・第1の接合用端子、42・・・第2の接合用端子、R・・・赤色の画素に対応した接合用端子、G・・・緑色の画素に対応した接合用端子、B・・・青色の画素に対応した接合用端子
Claims (6)
- 走査電極及び信号電極と電気的にそれぞれ接続された複数の接合用端子を有する表示パネルと、前記接合用端子に接続される複数のバンプを有する駆動用回路部品と、から構成される表示装置であって、
前記接合用端子は、複数の第1の接合用端子と、前記第1の接合用端子と同数以下の第2の接合用端子とを含み、
前記第2の接合用端子は、前記第1の接合用端子のいずれか1端子とスイッチング素子を介して接合される、
ことを特徴とする表示装置。 - 前記第1の接合用端子は、前記駆動用回路部品の長辺に沿って配置された前記バンプと接続され、
前記第2の接合用端子は、前記駆動用回路部品の短辺に沿って配置された前記バンプと接続される、
ことを特徴とする請求項1に記載の表示装置。 - 前記スイッチング素子を介して接続される、前記第1の接合用端子と、前記第2の接合用端子とは、同じ色の画素に対応する接合用端子である、
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の表示装置。 - 前記表示パネルは、薄膜トランジスタ(TFT)型の液晶パネルであり、
前記スイッチング素子は、薄膜トランジスタにより構成され、
前記薄膜トランジスタは、前記表示パネルの表面に形成される、
ことを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の表示装置。 - 前記スイッチング素子は、前記表示パネルの前記駆動用回路部品が実装される領域内に形成される、
ことを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の表示装置。 - 表示パネル上に形成された複数の第1の接合用端子にプローブピンを接触させる第1の段階と、
スイッチング素子を開放状態としてプローブピンから点灯信号を印加して第1の接合用端子に対応する表示部の点灯検査をする第2の段階と、
スイッチング素子を導通状態としてプローブピンから点灯信号を印加して第2の接合用端子に対応する表示部の点灯検査をする第3の段階を含む、
ことを特徴とする表示パネル検査方法。
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