JP2006243794A - 原因調査装置、原因調査システム、原因調査方法、原因調査プログラム、および、原因調査プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 対象製品5の現象情報を取得する現象情報取得部9と、対象製品5に付され、対象製品5の履歴因子情報を記憶するトレースタグ4から、当該履歴因子情報を抽出するトレース情報抽出部8と、製品から取得した現象情報と当該製品に付されたトレースタグから読み出した履歴因子情報との対応関係を示す対応関係データベース71に基づき、上記トレース情報抽出部8が抽出した対象製品5の履歴因子情報毎に、対象製品5の現象情報に関連があるか否かを判定する関連性判定部61とを備える。
【選択図】 図1
Description
本発明の一実施形態の原因調査システムについて図1〜図5に基づいて説明すると以下の通りである。
χ2 = (70-51.03) 2 / 51.03 + (300-318.97) 2 / 318.97
+ (10-28.97) 2 / 28.97 + (200-181.03) 2 / 181.03
= 7.05 + 1.13 + 12.42 + 1.99 = 22.59
次に関連性判定部61は、限界値の算出を行う。カイ二乗値の数値が大きいほど影響があることになるが、判断する上での閾値である限界値を算出する。ここでは、以下の自由度と有意水準とを基に算出する。
自由度 = (横のセル数-1)×(縦のセル数-1) = (2-1)×(2-1) = 1
有意水準 = 1%(統計学では一般的に有意水準5%以上で関連あり、1%以上で強い関連ありといえる)
カイ二乗分布表を参照すると、自由度1、有意水準1%の時の限界値は6.635となる。上記算出したカイ二乗値22.59は有意水準1%の限界値6.635より大きいということになる。よって、関連性判定部61は、不具合現象に強い関連ありとみなし、ヘッド製造工程での使用装置が、当該不具合現象(30kHz以上の高周波発生)の一因となっていると判定する。
本発明における実施の他の形態について図6および図7に基づいて説明すれば以下の通りである。なお、本発明はこれに限定されるものではない。なお、説明の便宜上、前記実施の形態1において説明した部材と同じ機能を有するものについては、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
観測値>期待値、かつ、(観測値−期待値)2/期待値>指定した閾値
例えば、実施の形態1の関連性判定のカイ二乗検定の説明では、ヘッド製造工程での使用装置が不具合現象の原因であると判定できた。ここでは更にヘッド製造工程で装置A(あるいは装置Bでもよい)を使用していることが不具合発生の原因であるという判定をすることができる。もちろん、実施の形態1において、ヘッド製造工程でどの装置(装置Aあるいは装置B)を使用していることが不具合発生の原因であるかを判定してもよい。
となる。どの履歴因子情報に対しても関連性がみられなかった場合はその現象に対する知識化は行わないものとする。
本発明における実施の他の形態について図8〜11に基づいて説明すれば以下の通りである。なお、本発明はこれに限定されるものではない。なお、説明の便宜上、前記実施の形態1および2にて説明した部材と同じ機能を有するものについては、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
関連性判定部61’は、ID対応データベース31と対応関係データベース71とを基に、トレース情報抽出部8が抽出した以下で説明するID情報に対応する稼動パラメタ毎に、現象情報取得部9が取得した対象製品5の現象情報に関連があるか否かを判定する。この判定については、後段で説明する。
観測値>期待値、かつ、(観測値−期待値) 2/期待値>指定した閾値であるパラメタ1の値を求めればよい。
2,12,22 原因調査装置
3 トレース情報付与装置(履歴因子情報付与装置)
4 トレースタグ(記憶媒体)
5 製品
8 トレース情報抽出部(履歴因子情報抽出部)
9 現象情報取得部(現象情報取得手段)
31 ID対応データベース
61 関連性判定部(関連性判定手段)
62 対応関係更新部(対応関係更新手段)
63 第1原因推測部(第1原因推測部)
64 第2原因推測部(第2原因推測部)
65 第3原因推測部(第3原因推測部)
66 経験的知識化部(経験的知識化手段)
71 対応関係データベース
72 知識データベース
Claims (13)
- 調査対象の製品である対象製品の現象を示す現象情報を取得する現象情報取得手段と、
上記対象製品に付され当該対象製品に関する履歴の因子の情報である履歴因子情報を記憶する記憶媒体から、当該履歴因子情報を抽出する履歴因子情報抽出手段と、
製品から取得した現象情報と当該製品に付された記憶媒体から読み出した履歴因子情報との対応関係を示す対応関係データベースに基づき、上記履歴因子情報抽出手段が抽出した対象製品の履歴因子情報毎に、上記現象情報取得手段が取得した当該対象製品の現象情報に関連があるか否かを判定する関連性判定手段と、を備えたことを特徴とする原因調査装置。 - 上記記憶媒体は、製品の製造に関する工程毎に履歴因子情報を記憶していることを特徴とする請求項1に記載の原因調査装置。
- 上記現象情報取得手段が取得した対象製品の現象情報と上記履歴因子情報抽出手段が抽出した当該対象製品の履歴因子情報とを追加して、上記対応関係データベースを更新する対応関係更新手段を、さらに備えることを特徴とする請求項1または2に記載の原因調査装置。
- 上記関連性判定手段が関連ありと判定した履歴因子情報を基に、上記現象情報取得手段が取得した対象製品の現象情報の原因である履歴因子情報を推測する第1原因推測手段を、さらに備えることを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載の原因調査装置。
- 製品の現象を示す現象情報と当該現象の原因を示す原因情報とをルール化した知識データベースを基に、上記現象情報取得手段が取得した現象情報の原因を推測する第2原因推測手段と、
上記第1原因推測手段の推測した原因と上記第2原因推測手段の推測した原因とから、上記現象情報取得手段が取得した現象情報の原因を推測する第3原因推測手段と、をさらに備えたことを特徴とする請求項4に記載の原因調査装置。 - 上記対応関係データベースから現象情報と履歴因子情報とを読み出し、当該現象情報の原因である履歴因子情報を推測し、当該推測した履歴因子情報を原因情報として当該現象情報と共に知識データベースに追加する知識化手段を、さらに備えることを特徴とする請求項5に記載に記載の原因調査装置。
- 上記因子情報抽出手段が上記対象製品の記録媒体からID情報を取得すると、
上記関連性判定手段は、ID情報と履歴因子情報との対応関係を示すID対応データベースと上記対応関係データベースとを基に、上記因子情報抽出手段が抽出したID情報に対応する履歴因子情報毎に、上記現象情報取得手段が取得した当該対象製品の現象情報に関連があるか否かを判定することを特徴とする請求項1〜6の何れか1項に記載の原因調査装置。 - 上記現象情報には、製品の異常時の状態を示す現象情報に加え、正常時の状態を示す現象情報が含まれることを特徴とする請求項1〜7の何れか1項に記載の原因調査装置。
- 製品に付される記憶媒体に当該製品に関する履歴の因子の情報である履歴因子情報を記憶させる履歴因子情報付与装置と、
上記請求項1〜8の何れか1項に記載の原因調査装置とを含むことを特徴とする原因調査システム。 - 上記履歴因子情報付与装置は、製品の設計、製造、流通の少なくとも1つの工程で上記製品に付される記憶媒体に上記履歴因子情報を更新して記憶させることを特徴とする請求項9に記載の原因調査システム。
- 調査対象の製品である対象製品の現象を示す現象情報を取得する現象情報取得ステップと、
上記対象製品に付され当該対象製品に関する履歴の因子の情報である履歴因子情報を記憶する記憶媒体から、当該履歴因子情報を抽出する履歴因子情報抽出ステップと、
製品から取得した現象情報と当該製品に付された記憶媒体から読み出した履歴因子情報との対応関係を示す対応関係データベースに基づき、上記履歴因子情報抽出手段が抽出した対象製品の履歴因子情報毎に、上記現象情報取得手段が取得した当該対象製品の現象情報に関連があるか否かを判定する関連判定ステップと、を備えたことを特徴とする原因調査方法。 - 請求項1〜8の何れか1項に記載の原因調査装置を動作させるための原因調査装置の制御プログラムであって、コンピュータを上記各手段として機能させるための原因調査プログラム。
- 請求項12に記載の原因調査プログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
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