JP2006211479A - 半導体集積回路 - Google Patents

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健一 中野
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Abstract

【課題】 良好なスペクトラム拡散効果を有しノイズの発生が少なく周辺回路や電子部品の誤動作を減少させることができるSSCG方式のクロック生成回路およびそれを内蔵した半導体集積回路を提供する。
【解決手段】 電圧制御発振器(116)を有し基準となる信号と出力発振信号を分周したフィードバック信号の位相を比較して前記電圧制御発振器の発振周波数を制御するPLL回路を備え、出力発振信号の周波数を所定の周期で変調させる機能を有するクロック生成回路(110)を内蔵した半導体集積回路において、基準となる信号を分周する分周回路(112)またはフィードバックのため出力発振信号を分周する分周回路(117)のいずれか一方の分周回路をカウンタ回路(121)で構成して、該カウンタ回路をSSCの変調周期を変更するようにカウント動作させるとともに、該カウンタ回路の出力に基づいてSSCのスプレッド幅を変更させるようにフィードバック経路上の分周回路の分周比を変化させる論理回路(124)を設けるようにした。
【選択図】 図1

Description

本発明は、発振器を備えたクロック生成回路さらにはスペクトラム拡散機能を備えたPLL(フェーズ・ロックド・ループ)回路からなるクロック生成回路を内蔵した半導体集積回路に適用して有効な技術に関し、例えばマイクロコンピュータやシステムLSIなど内部回路の動作クロック信号を生成するクロック生成回路を内蔵した半導体集積回路に利用して有効な技術に関する。
マイクロコンピュータ等の論理LSIに内蔵され動作クロック信号を生成するクロック生成回路として、水晶発振器の発振信号を基準クロックとしてそれを逓倍した高周波数のクロック信号を生成するPLL回路を使用したものがある。かかるPLL回路を使用したクロック生成回路を内蔵したLSIでは、クロックの高周波数化に伴って発振回路からの放射ノイズによりコンピュータ本体や、周辺回路、外部機器等の誤動作を誘発するおそれがある。このような事態への対策として、PLL回路にスペクトラム拡散機能を設けてクロックの周波数を変動させるようにしたSSCGと呼ばれるクロック生成用ICが提供されている。
スペクトラム拡散は、電子部品や電子機器が放射する電磁雑音のエネルギーのスペクトルが狭い帯域に集中しないように、クロック信号の周波数を若干変調させるような周波数変調を与え、放射電磁雑音のエネルギーをある周波数の帯域幅に分散させることによってそのピーク値を抑圧する技術である。図9(B)には従来のSSCG回路における周波数制御の説明図が、また図10(B)にはそれによるスペクトラム拡散効果を表わす特性図が示されている。従来の一般的なSSCG回路における周波数制御は、図9(B)に示されているように、生成するクロックの周期よりも充分に長い所定の周期Tで発振周波数を所定の割合(例えば±0.15%)で変化させるというものである。
また、従来のスペクトラム拡散機能を設けたクロック生成回路は、例えば特許文献1や特許文献2に開示されている発明のように、PLL回路のループフィルタとVCOとの間に周波数変調のための加算器を設けて、VCO(発振器)の制御電圧を制御することで変調を行なうとともに制御量を変化させることで変調周期を変化させるようにしているものが多い。
特開2004−208037号公報 特開2003−101408号公報
従来の一般的なSSCG回路における図9(B)に示されているような周波数制御によるスペクトラム拡散では、一定の周期Tで発振周波数を変化させているため、その周波数成分によって図10(B)のスペクトラム特性の一点鎖線で囲まれている頭の部分を拡大して示すように変調周波数fmをピッチとする多数の小ピークが生じ、特定周波数の放射ノイズのピーク値が大きくなったり、システムで使用されている他のクロック信号との配線間複合ノイズ等によりEMI(電磁干渉)ノイズが増大したりして、周辺回路や電子部品の誤動作を招くおそれがある。
また、特許文献1や特許文献2に開示されている先願発明は、スペクトラム拡散のための変調制御をPLLのフォワードパス上にてアナログ信号で行なっている。一般に、アナログ系回路は素子の製造ばらつきに伴う特性のばらつきがディジタル系回路に比べて大きい。そのため、変調制御をアナログ回路で行なう上記先願発明のクロック生成回路にあっては、精度の高い変調制御を行なうには特性ばらつきを調整するためのトリミング回路や制御信号による調整回路が必要であり回路が複雑かつ大規模になるという不具合がある。
そこで、本発明者らは、PLL回路のフィードバックパス上に設けられている分周回路の分周比を変化させることにより周波数変調を行なうようにしたSSCGについて検討した。しかしながら、フィードバック経路の途中に設けられた分周回路の分周比を所定の周期で変化させるだけの周波数変調によるスペクトラム拡散では、周波数制御の精度が粗いため、変調波形が目的とする図9(B)に示されているような三角波にならず、図9(C)に示されている正弦波のようななまった波形になってしまう。そのため、図10(C)に示すようにスペクトラム特性が両端のピークを有するような分布になってしまい、理想的な三角波になるように周波数変調した場合における図10(B)に示すようなスペクトラム特性のSSCGに比べてピーク値の抑制効果が小さくなる。その結果、システムで使用されている他のクロック信号との配線間複合ノイズやEMI(電磁干渉)ノイズを十分に減らすことができないことが明らかになった。なお、図9(A)はスペクトラム拡散をしないクロック生成回路により生成されるクロックの周波数、図10(A)はそのスペクトラム特性を示す。
本発明の目的は、より良好なスペクトラム拡散効果を有しノイズの発生が少なく周辺回路や電子部品の誤動作を減少させることができるSSCG方式のクロック生成回路およびそれを内蔵した半導体集積回路を提供することにある。
本発明の他の目的は、製造ばらつきが小さく比較的小規模な回路でスペクトラム拡散効果を持たせることができるSSCG方式のクロック生成回路およびそれを内蔵した半導体集積回路を提供することにある。
この発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴については、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、電圧制御発振器(VCO)を有し基準となる信号と出力発振信号を分周したフィードバック信号の位相を比較して前記電圧制御発振器の発振周波数を制御するPLL回路を備え、出力発振信号の周波数を所定の周期で変調させる機能を有するクロック生成回路を内蔵した半導体集積回路において、フィードバックパス上に設けられた出力発振信号を分周する分周回路で分周された信号を計数するカウンタ回路と、該カウンタ回路の出力に応じて出力値が変化する論理回路とを設け、上記カウンタ回路をSSCの変調周期を変更するようにカウント動作させるとともに、該カウンタ回路の出力に基づいてSSCのスプレッド幅を変更させるようにフィードバック経路上の分周回路の分周比を変化させる論理回路を構成するようにしたものである。
上記した手段によれば、発振信号の周波数を所定の周期で変調させるため周波数スペクトラムを拡散させることができるとともに、生成されるクロック信号の周波数の変調周期が変化されるため周波数スペクトラムのピーク値を小さくすることができ、これによって、特定周波数の放射ノイズを抑え、システムで使用されている他のクロック信号との配線間複合ノイズやEMIノイズを低減することができるようになる。
また、望ましくは、デコーダもしくは入力によって出力が一義的に決まる組み合わせ回路を上記論理回路として用い、該組み合わせ回路に上記カウンタ回路の出力を入力してその出力によってフィードバック経路上の分周回路の分周比を変化させるタイミングを与えるように構成するとともに、該組み合わせ回路を複数個設けて変調周期ごとに回路を切り替えるようにする。これによって、周波数変調度を可変してSSC特性を向上する事ができ、よりいっそうEMIノイズを低減することができるようになる。
本願において開示される発明のうち代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりである。
すなわち、本願発明に従うと、EMIノイズの発生が少なく周辺回路や電子部品の誤動作を減少させることができるクロック生成回路およびそれを内蔵した半導体集積回路を実現することができる。
以下、本発明の好適な実施例を図面に基づいて説明する。
図1は本発明に係るスペクトラム拡散機能を有するPLL型クロック生成回路の第1の実施例を示す回路ブロック図である。この実施例のクロック生成回路は、特に制限されるものでないが、単結晶シリコンのような1個の半導体チップに半導体集積回路として形成されている。P1〜P3は該半導体チップに設けられた外部端子(電極パッド)であり、このうちP1,P2は水晶振動子等の振動子101が接続される端子、P3は生成されたクロックφ0が出力される端子である。
この実施例のクロック生成回路110は、振動子101が接続される端子P1,P2に結合され振動子101にバイアス電圧を与えて該振動子の固有振動数に応じた周波数で変化する発振信号を出力する発振回路111、該発振回路111の出力をM分周する固定分周回路112、該固定分周回路112の分周信号とフィードバック信号との位相差を検出する位相比較回路113、位相差に応じた電流を出力するチャージポンプ114、チャージポンプ114の出力を平滑するループフィルタ115、平滑電圧に応じた周波数で発振する電圧制御発振回路(VCO)116、VCOの出力をN分周して前記位相比較回路113へフィードバックする分周回路117からなるPLL回路により構成されている。118はVCOの発振出力をバッファリングして生成クロックφ0として外部端子P4よりチップ外部へ出力するバッファである。
本実施例のクロック生成回路110には、さらに、前記分周回路117で分周された信号を各々所定の値までアップダウン計数するカウンタ回路121A,121Bと、前記分周回路117の分周比Nに対して与える所定の変動量ΔNまたは−ΔNを生成する変動量付与回路122と、所定の分周比(初期値)Nに対して前記変動量付与回路122から供給される変動量ΔNまたは−ΔNを加算したものを現在の分周比として前記分周回路117へ与える加算回路123と、前記可変分周回路121Aまたは121Bの計数値を入力とし該入力の状態に応じて信号を出力する論理回路124と、分周回路117で分周された信号をカウンタ回路121Aまたは121Bのいずれに供給するか切り替えるための切替えスイッチ125と、可変分周回路121Aまたは121Bのいずれの計数値を論理回路124へ入力させるか選択するためのセレクタ126が設けられている。
前記変動量付与回路122は、ΔNと−ΔNに対応する所定のバイナリコードを生成する回路と生成されたコードΔNまたは−ΔNのうちいずれの値を出力するか選択するスイッチもしくはセレクタとから構成されるもので、コードを生成する回路にはレジスタもしくはROM(リードオンリメモリ)を用いることもできる。論理回路124は、分周比Nに対して前記変調振幅調整回路122から出力される変動量ΔNまたは−ΔNを加算するタイミングを加算回路123へ与える信号を出力する回路として動作するもので、デコーダ回路もしくはROMあるいは入力によって出力が一義的に決まる組み合わせ回路のようなランダムロジックにより構成することができる。デコーダ回路を用いる場合には、複数の入力信号の組み合わせに対して1つだけ出力がハイレベルもしくはロウレベルになる単位デコーダを複数個用いて構成することができる。
切替えスイッチ125は、カウンタ回路121A,121Bからのカウント終了信号CE1,CE2により制御され、カウンタ回路121Aが所定数までカウントアップして再び"0"までカウントダウンする計数動作を2回繰り返すと、分周回路117で分周された信号をカウンタ回路121Bへ供給するように切り替えられる。また、カウンタ回路121Bが所定数までカウントアップして再び"0"までカウントダウンする計数動作を2回繰り返すと、分周回路117で分周された信号をカウンタ回路121Aへ供給するように切り替えられる。
これにより、変調周期TAと変調周期TBが2回ずつ交互に繰り返されるように動作する。さらに、このカウンタ回路121A,121Bの動作期間に応じてセレクタ126の切替えが行なわれる。一方、変動量付与回路122において変動量ΔNまたは−ΔNのいずれを出力するかの選択は、カウンタ回路121A,121Bから出力されるカウント終了信号CE1,CE2によって、毎回交互に行なわれるように構成されている。
図2(A)には、本実施例のクロック生成回路におけるカウンタ回路121A,121Bの計数動作と組み合わせ論理回路(デコーダ)124の出力による加算回路123への変動量ΔNまたは−ΔNの付与タイミングが示されている。このようなタイミングに従って変調周期と分周比Nの切替えが行なわれることにより、生成されるクロックφ0の周波数が図2(B)のように基準の周波数f0に対して±0.数%だけ変動するようなSSC制御が行なわれる。
変調周期TAはカウンタ回路121Aの計数動作により変調制御される期間、変調周期TBはカウンタ回路121Bの計数動作により変調制御される期間である。
まず変調周期TAの期間における変調制御を説明する。変動量ΔNが出力される期間及び変調量-ΔNが出力される期間の2つの期間がある。図2(A)及び(B)示されるように、変動量ΔNが出力される期間においては、まずカウントアップするに従って変動量ΔNが出力される間隔が短くなる。これによりクロックφ0の周波数がf0+Δfに向かって増えるよう変調される。次にカウンタ回路121Aが所定の値になったらカウントダウンするよう制御される。今度はカウントダウンするに従って変動量ΔNが出力される間隔が長くなる。これによりクロックφ0の周波数がf0に向かって減るよう変調される。そしてカウンタ回路121Aが0となったら、変動量−ΔNが出力される期間となる。変動量−ΔNが出力される期間においては、まずカウントアップするに従って変動量−ΔNが出力される間隔が短くなる。これによりクロックφ0の周波数がf0−Δfに向かって減るよう変調される。次にカウンタ回路121Aが所定の値になったらカウントダウンするよう制御される。今度はカウントダウンするに従って変動量-ΔNが出力される間隔が長くなる。これによりクロックφ0の周波数がf0に向かって増えるよう変調される。そしてカウンタ回路121Aが0となったら、カウント終了信号CE1が出力されて、変調周期TBの期間における変調制御に切り替えられる。
次に変調周期TBの期間における変調制御を説明する。図2(A)及び(B)示されるように、変動量ΔNが出力される期間においては、まずカウントアップするに従って変動量ΔNが出力される間隔が短くなる。これによりクロックφ0の周波数がf0+Δfに向かって増えるよう変調される。次にカウンタ回路121Bが所定の値になったらカウントダウンするよう制御される。今度はカウントダウンするに従って変動量ΔNが出力される間隔が長くなる。これによりクロックφ0の周波数がf0に向かって減るよう変調される。そしてカウンタ回路121Bが0となったら、変動量-ΔNが出力される期間となる。変動量−ΔNが出力される期間においては、まずカウントアップするに従って変動量−ΔNが出力される間隔が短くなる。これによりクロックφ0の周波数がf0−Δfに向かって減るよう変調される。次にカウンタ回路121Bが所定の値になったらカウントダウンするよう制御される。今度はカウントダウンするに従って変動量−ΔNが出力される間隔が長くなる。これによりクロックφ0の周波数がf0に向かって増えるよう変調される。そしてカウンタ回路121Bが0となったら、カウント終了信号CE2が出力されて、変調周期TAの期間における変調制御に切り替えられる。
図2(B)のように理想的な直線的に変調されるのであれば問題ないが、実際にはSSCを行って変調する際に、クロックφ0の周波数がf0+Δf及びf0−Δfの近辺では波形がなまり、変調されたクロックφ0の周波数は正弦波形に近い形となる。これによりクロックφ0の周波数がf0+Δf及びf0−Δfの近辺にクロックφ0が存在する確率が高くなり、ピークの原因となっている。しかしながら、本実施例では変調周期TAの期間における変調制御と変調周期TBの期間における変調制御とはクロックφ0の周波数がf0→f0+Δf→f0−Δf→f0と変調される期間がそれぞれ2×変調周期TAと2×変調周期TBで異なるようになっている。これにより一定の周期でクロックφ0の周波数がf0+Δf及びf0−Δfとなることを避ける事ができる。これにより、図10(B)で示された変調周波数fmでピークが減少し、図3(A)に示すように、生成されるクロックφ0のスペクトラム特性のピークが低減されるようになる。そして、このようにピーク値を小さくすることによって、システムで使用されている他のクロック信号との配線間複合ノイズやEMI(電磁干渉)ノイズを低減することができるようになる。
なお、本実施例のクロック生成回路における変調周波数の変化は、厳密には、変調周期が同じでもΔNまたは−ΔNの付与タイミングが異なると異なるので、図2(B)は正確な周波数変化を表わしたものでなく、大まかな周波数変化の様子を表わしたものである。例えばΔNまたは−ΔNの付与タイミングを時間的に均等に行なうと、周波数変化は図9(C)のような正弦波状になる。これを回避して周波数変化が三角波になるようにするには、例えば本実施例のように、波の頂点付近ほどΔNまたは−ΔNの付与タイミングが時間的に密になるように制御してやればよい。
以上、この実施例では、変調周期TAと変調周期TBを2回ずつ交互に繰り返すように制御した場合を説明したが、変調周期TAと変調周期TBを1回ずつ交互に繰り返し、加算回路123へは変動量としてΔNのみ与えるように制御しても良い。ただし、その場合には、周波数の変動は基準の周波数f0に対してプラス(+)の方向のみとなる。また、変調周期TAと変調周期TBを1回ずつ交互に繰り返し、加算回路123へは変動量として−ΔNのみ与えるように制御しても良い。その場合、周波数の変動は基準の周波数f0に対してマイナス(−)の方向のみとなる。また、この実施例では、基準発振回路111の後段の分周回路112として固定分周回路を用いているが、分周回路112の分周比Mを切り替えることで生成クロックφ0の周波数を切り替えることができるように構成しても良い。
次に、本発明に係るスペクトラム拡散機能を有するPLL型クロック生成回路の第2の実施例を、図4および図5を用いて説明する。図4において、図1の実施例と同一の素子および回路ブロックには同一の符号を付して重複した説明は省略する。
第1の実施例では異なる変調周期を与えるカウンタ121を2個設け論理回路(デコーダ)124を1個設けているのに対し、第2の実施例では変調周期カウンタ121を1個設け組み合わせ回路(デコーダ)124を2個設けている点と、切替えスイッチ125を設ける位置が変調周期カウンタ121の前段ではなく後段になっている点と、セレクタ126を設ける位置が変調周期カウンタ121の後段ではなく論理回路(デコーダ)124A,124Bの後段になっている点が異なる。それ以外の構成は図1の実施例と同様である。切替えスイッチ125およびセレクタ126は、変調周期カウンタ121の1回のアップダウンカウント終了ごとに出力される信号CE1によって切替えが行なわれる。
図5(A)には、本実施例のクロック生成回路におけるカウンタ回路121の計数動作と論理回路(デコーダ)124A,124Bの出力による加算回路123への変動量ΔNまたは−ΔNの付与タイミングが示されている。動作としては実施例1で説明したような動作と異なる部分について説明し、それ以外は省略する。変調周期は一種類の変調周期TAのみとなっており、その代わり変調範囲がクロックφがf0+Δfとf0−Δfとの間を変調される場合と、f0+Δf’とf0−Δf’との間を変調される場合との2つが存在する。動作するカウンタは変調周期カウンタ121のみであり、前半の二回の変調周期TAではデコーダDEC1が動作し、後半の二回の変調周期TAではデコーダDEC2が動作する。それはカウント終了信号CE1で前半の二回の変調周期TAと後半の二回の変調周期TAとの間で切り替えられる。デコーダDEC1の動作時よりもデコーダDEC2の動作時の方が変動量ΔN及び-ΔNの数が多い。このことにより、クロックφ0の周波数がf0+Δf及びf0−Δfの間で変調される期間と、クロックφ0の周波数がf0+Δf’とf0−Δf’の間で変調される期間とに分けられるようになる。このようなタイミングに従って分周回路117の分周比Nの切替えが行なわれることにより、生成されるクロックφ0の周波数が図5(B)のように基準の周波数f0に対して±0.数%だけ変動するようなSSC制御が行なわれる。なお、図5(B)は正確な周波数変化を表わしたものでなく、大まかな周波数変化の様子を表わしたものである。
上記のように、変調周期を一定にしてΔNまたは−ΔNの付与タイミングを周期ごとに変えることにより、図3(B)に示すようにクロックφ0のスペクトラム特性が破線のようにスプレッド幅が狭い期間と、実線のようにスプレッド幅が広い期間とが存在するようになる。尚、スプレッド幅が狭い期間はクロックφがf0+Δf及びf0−Δfの間で変調される期間に対応しておりそのスプレッド幅は2×Δfであり、スプレッド幅が広い期間はクロックφがf0+Δf’とf0−Δf’の間で変調される期間に対応しておりそのスプレッド幅は2×Δf’である。実施例1で上述したように、クロックφ0の周波数はf0+Δf及びf0−Δfのピーク、f0+Δf’とf0−Δf’のピークでそれぞれなまり、正弦波形に近いものとなる。そのため、両端のピークが図3(B)に示す破線及び実線のスペクトラムにも存在する。しかしながら本実施例のように破線及び実線のスペクトラムが組み合わされるよう制御されるSSCを実行することにより、両端のピークを低減することが可能となる。そして、このようにピーク値を小さくすることによって、システムで使用されている他のクロック信号との配線間複合ノイズやEMI(電磁干渉)ノイズを低減することができるようになる。
図6は、本発明に係るスペクトラム拡散機能を有するPLL型クロック生成回路の第3の実施例を示す。この実施例は、第1の実施例と第2の実施例を組み合わせたもの、つまり分周比の変調周期を変化させるとともに分周比の変動量ΔNまたは−ΔNの付与タイミングを周期ごとに変えるようにしたものである。
図7(A)には、本実施例のクロック生成回路におけるカウンタ回路121A,121Bの計数動作と論理回路(デコーダ)124A,124Bの出力による加算回路123への変動量ΔNまたは−ΔNの付与タイミングが示されている。本実施例の動作は実施例1及び2のものを組み合わせたようなものである。このようにすることにより、図3(A)のように生成されるクロックφ0のスペクトラム特性の変調周期ごとのピークが低減されるとともに、図3(B)のように生成されるクロックφ0のスペクトラム特性の両端のピークを低減することが可能となる。
なお、以上の実施例では、分周比Nの変化量ΔN,−ΔNを固定しているが、変動量付与回路122に分周比Nの変化量ΔNを複数個用意しておいて、例えば外部端子からの制御信号によってΔNの値を切り替えることができるように構成することも可能である。これによって、適用システムや動作モード等に応じてスプレッド幅を変化させるような制御を行なうことができるようになる。
図8は、本発明に係るスペクトラム拡散機能を有するPLL型クロック生成回路の第4の実施例を示す。この実施例は、第3の実施例を発展させたもの、つまり各々計数値の異なる変調周期カウンタ121と入力に対する出力値の異なる複数の論理回路(デコーダ)124を3組以上設けて、セレクタ125,126で順次切り替えるように構成したものである。この実施例を適用することにより、生成されるクロックφ0のスペクトラム特性の変調周期ごとのピークを第3の実施例よりもさらに低減するとともに両端のピークをさらに低減することが可能となる。なお、この実施例では、変調周期カウンタ121と論理回路(デコーダ)124の組を順番に選択しているが、順番に選択する代わりに、乱数発生器を設けてランダムに選択させるように構成しても良い。そうすることにより、変調周期ごとのピーク及び両端のピークを更に低減可能となる。
次に、上記実施例のクロック生成回路を、内部動作クロックを生成する回路として内蔵した半導体集積回路の一例としてシステムLSIの構成例を、図11を用いて説明する。図11においては、図1や図4、図6に示されているクロック生成回路110を構成する回路ブロックのうち発振回路111を除いたものが1つのブロック110’として示されている。
この実施例のシステムLSI200は、例えば携帯型の電子機器に搭載されてシステム全体の制御や動画像のデータ処理等を行なうものである。この実施例のシステムLSIには、プログラムを実行するプロセッサ210、外部接続されるSDRAM(Synchronous DRAM)等の主記憶に対してデータアクセス制御を行うメモリインターフェース220、動画像データのエンコードやデコードに必要な演算処理を行うコプロセッサ230、動画像の伸縮や符号化復号化に必要なデータ処理等を行なうビデオスケーラ240、外部接続される入出力機器とのデータのやり取りを行なうIOユニット250、プロセッサ210を介さずに直接周辺モジュール・主記憶間等のデータ転送を行なうDMA(Direct Memory Access)コントローラ260、プロセッサ210に対するタイマ割込み信号を生成したり現在時刻の計時を行なったりするタイマ回路270、外部デバイスとの間のシリアル通信を行なうシリアル通信インタフェース280などが設けられている。
この実施例のシステムLSI200においては、クロック生成回路110’により生成された周波数可変なクロック信号φ0が、周期すなわち動作速度が変動してもかまわないプロセッサ210やコプロセッサ230、DMAコントローラ260に供給される一方、クロック周期が変動すると困るタイマ回路270やシリアル通信インタフェース280には、発振回路(OSC)111で生成されたクロック生成回路110’により周波数が変調される前のクロック信号φsが供給されるようにされている。尚、クロックφsは、タイマ回路270やシリアル通信インタフェース280が誤動作を起こさないようなクロックφ0よりも狭い範囲で変調されていてもよい。
ビデオスケーラ240に供給されるクロック信号もその周波数が変動すると画像の揺れのような現象として人間の目に見えてしまうおそれがあるので、発振回路(OSC)111で生成されたクロック信号φsを供給するのが望ましい。図11のシステムLSI200においては、プロセッサ210やコプロセッサ230に供給される動作クロックφ0の周波数が変化されてスペクトラムが拡散されるため、特定周波数の放射ノイズを抑えることができるようになる。
さらに、この実施例においては、特に制限されるものでないが、クロック生成回路110’内の変動量付与回路122により与える変動量ΔN,−ΔNの値を、プロセッサ210が制御信号で切り替えることで、ダイナミックに変調度を変化させることができるように構成されている。ただし、変動量の値を切り替えるための制御信号は、プロセッサ210からではなくチップ外部から与えるように構成しても良い。
図12は、上記実施例のクロック生成用ICを、該ICに外付けされる水晶振動子とともに1つのパッケージ内に実装した発振モジュールを示す。
図12(A)のモジュールにおいては、クロック生成用IC100は、裏面にそれぞれ一部が露出するようにモールドされた導電材料からなるリード端子301〜304を縁部に有するセラミックのような絶縁基板300上に、水晶振動子101とともに搭載されている。リード端子301〜304のうち2つは電源電圧Vccと接地電位GNDが印加される電源端子、1つは生成されたクロックφ0の出力端子、残りの1つは分周回路112の分周比Mを切り替える制御信号あるいは分周比の変動量付与回路122が複数の変化量ΔN1,−ΔN1,ΔN2,−ΔN2を有する場合にそれらを切り替える制御信号等、制御信号を入力するための端子である。クロック生成用IC100の端子P1,P2は水晶振動子101の端子P11,P12に、また出力端子P3および制御端子P4は絶縁基板300のリード端子301,302に、電源端子P5,P6は絶縁基板300のリード端子303,304にそれぞれボンディングワイヤ311〜316によって接続されている。
図12(B)のモジュールにおいては、絶縁基板300の表面(内面)の対向する2つの辺に沿って導電材料からなる配線パターン321,322が形成され、該配線パターン321,322の一方の端部にクロック生成用IC100の端子P1,P2との間に接続されるボンディングワイヤ311,312の一端がボールボンディングされ、配線パターン321,322の他方の端部に水晶振動子101の端子P11,P12との間に接続されるボンディングワイヤ317,318の一端がボールボンディングされ、配線パターン321,322を介してクロック生成用IC100の端子P1,P2は水晶振動子101の端子P11,P12が電気的に接続される。なお、図12(A),(B)いずれのモジュールにおいても、上記のようにしてクロック生成用IC100と水晶振動子101が実装された絶縁基板300の上に絶縁材料で形成されたキャップが被せられて封止されて完成品とされる。
以上説明したように、上記実施例では、フィードバックパス上に設けられた出力発振信号を分周する分周回路117で分周された信号を計数するカウンタ回路121と、該カウンタ回路の出力に応じて出力値が変化する論理回路(デコーダ)124とを設け、上記カウンタ回路をSSCの変調周期を変更するようにカウント動作させるとともに、該カウンタ回路の出力に基づいてSSCのスプレッド幅を変更させるようにフィードバック経路上の分周回路の分周比を変化させる論理回路を構成したので、より良好なスペクトラム拡散効果を有しEMIノイズの発生が少なく周辺回路や電子部品の誤動作を減少させることができるSSCG方式のクロック生成回路およびそれを内蔵した半導体集積回路を実現することができる。
また、上記実施例を適用すると、アナログ回路ではなくディジタル回路で周波数変調を行なうことができるため製造ばらつきが小さくなり、特性ばらつきを調整するためのトリミング回路や制御信号による調整回路が不要となるので、比較的小規模な回路でスペクトラム拡散効果を持たせることができるSSCG方式のクロック生成回路およびそれを内蔵した半導体集積回路を実現することができる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。例えば、前記実施例においては、フィードバック経路上の分周回路117により分周された信号を計数し変調周期を与えるカウンタ121もしくは該カウンタの計数値に応じてフィードバック経路上の分周回路117の分周比を変化させるタイミングを与える論理回路(デコーダ)124を複数設けたクロック生成回路を説明したが、分周回路117ではなく基準となる信号を生成する基準発振回路111の後段の分周回路112により分周された信号を計数し変調周期を与えるカウンタもしくは該カウンタの計数値に応じて分周回路112の分周比を変化させるタイミングを与える論理回路(デコーダ)を複数設けて変調周期またはスプレッド幅を変更するように構成してもよい。
また、前記実施例においては、変調周期カウンタ121を複数設けているが、変調周期カウンタの代わりにリロード型のカウンタとその計数値を複数個保持可能なレジスタもしくはROMを設けて、計数終了ごとに別の計数値をカウンタにロードして計数動作させるように構成しても良い。さらに、前記実施例のクロック生成回路およびモジュールでは、外部端子が4個のものを示したが、さらに制御端子を1個あるいは2個追加したクロック生成回路およびモジュールとして構成することも可能である。
また、前記実施例においては、振動子を接続する外部端子を有するクロック生成回路に適用したものを説明したが、マイクロコンピュータやSSC方式のクロック生成用ICの中には水晶振動子を接続する外部端子を有するとともにその外部端子に水晶振動子を接続せずに外部で生成されたクロック信号が入力された場合にも所望の内部クロック信号を生成することができるクロック生成回路を備えているものがあり、本発明のクロック生成回路においてもそのような回路として構成することが可能である。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明をその背景となった利用分野であるシステムLSIを例にとって説明したが、本発明はそれに限定されるものでなく、マイクロコンピュータやマイクロプロセッサ、DSP(ディジタルシグナルプロセッサ)その他クロック信号によって動作する論理回路を内蔵する半導体集積回路に広く利用することができる。
本発明に係るスペクトラム拡散機能を有するPLL型クロック生成回路の第1の実施例を示す回路ブロック図である。 図2(A),(B)は、第1の実施例のクロック生成回路における変調周期カウンタの計数動作と生成クロックの周波数の変化の様子をそれぞれ示すタイミングチャートである。 図3(A)は第1の実施例のクロック生成回路による生成クロックのスペクトラム分布を示す特性図、図3(B)は第2の実施例を適用したクロック生成回路による生成クロックのスペクトラム分布を示す特性図である。 本発明に係るスペクトラム拡散機能を有するPLL型クロック生成回路の第2の実施例を示す回路ブロック図である。 図5(A),(B)は、第2の実施例のクロック生成回路における変調周期カウンタの計数動作と生成クロックの周波数の変化の様子をそれぞれ示すタイミングチャートである。 本発明に係るスペクトラム拡散機能を有するPLL型クロック生成回路の第3の実施例を示す回路ブロック図である。 図7(A),(B)は、第3の実施例のクロック生成回路における変調周期カウンタの計数動作と生成クロックの周波数の変化の様子をそれぞれ示すタイミングチャートである。 本発明に係るスペクトラム拡散機能を有するPLL型クロック生成回路の第4の実施例を示す回路ブロック図である。 図9(A)は周波数変調をしないクロック生成回路における周波数の変化、(B)は三角波変調を行なう理想的なクロック生成回路における周波数の変化、(C)は三角波変調を行なう従来のクロック生成回路における周波数の変化の様子をそれぞれ示すタイミングチャートである。 図9の(A),(B),(C)に対応した生成クロックのスペクトラム分布を示す特性図である。 実施例のクロック生成回路を内部動作クロックを生成する回路として内蔵した半導体集積回路の一例としてシステムLSIの構成例を示すブロック図である。 図12(A),(B)は、前記実施例のクロック生成用ICを該ICに外付けされる水晶振動子とともに1つのパッケージ内に実装した発振モジュールの構成例を示す平面図である。
符号の説明
101 振動子
110 クロック生成回路
111 発振回路
112 固定分周回路
113 位相比較回路
114 チャージポンプ
115 ループフィルタ
116 電圧制御発振回路(VCO)
117 フィードバック用分周回路
118 バッファ
121 変調周期カウンタ
122 変調量付与回路
123 加算回路
124 論理回路(デコーダ,ROM)
125 切替えスイッチ
126 セレクタ

Claims (11)

  1. 所定の回路に供給する為のクロック信号の周波数を所定の周期で変調させる機能を有するクロック生成回路を内蔵した半導体集積回路であって、
    上記クロック生成回路は、基準となる信号を生成する第一発振回路と、該第一発振回路の出力発振信号を分周する第一分周回路と、発振周波数が可変な第二発振回路と、該第二発振回路の出力発振信号を分周する第二分周回路と、該第二分周回路で分周されたフィードバック信号の位相と上記第一分周回路の出力信号の位相とを比較する位相比較回路とを有し、該位相比較回路により検出された位相差に応じて上記第二発振回路の発振周波数を制御するPLL回路を備え、
    上記第一分周回路または第二分周回路を分周比可変な分周回路により構成するとともに、
    上記第一分周回路または第二分周回路で分周された信号を計数するカウンタ回路と、該カウンタ回路の出力を入力とし該入力に応じて上記第一分周回路または第二分周回路の分周比を変更するタイミングを与える論理回路とを設け、
    上記カウンタ回路の計数値もしくは上記論理回路の入力に対する出力値を変化させて変調周期またはスプレッド幅を変更させることでスペクトラム拡散された周波数特性を有するクロック信号を生成するように構成されていることを特徴とする半導体集積回路。
  2. 上記カウンタ回路は互いに計数値の異なる複数のカウンタにより構成され、該複数のカウンタが切替え使用されることにより上記クロック信号の発振周波数の変調周期を変化させるように構成されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路。
  3. 上記論理回路は互いに同一入力に対する出力値の異なる複数の論理回路により構成され、該複数の論理回路が切替え使用されることにより上記クロック信号の発振周波数の変調度を変化させるように構成されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路。
  4. 所定の回路に供給する為のクロック信号の周波数を所定の周期で変調させる機能を有するクロック生成回路を内蔵した半導体集積回路であって、
    上記クロック生成回路は、基準となる信号を分周する第一分周回路と、発振周波数が可変な第一発振回路と、該第一発振回路の出力発振信号を分周する分周比可変な第二分周回路と、該第二分周回路で分周されたフィードバック信号の位相と上記第一分周回路の出力信号の位相とを比較する位相比較回路とを有し、該位相比較回路により検出された位相差に応じて上記第一発振回路の発振周波数を制御するPLL回路を備え、
    上記第二分周回路で分周された信号を計数するカウンタ回路と、該カウンタ回路の出力を入力とし該入力に応じて上記第二分周回路の分周比を変更するタイミングを与える論理回路とを設け、
    上記カウンタ回路の計数値および上記論理回路の入力に対する出力値を変化させて変調周期およびスプレッド幅を変更させることでスペクトラム拡散された周波数特性を有するクロック信号を生成するように構成されていることを特徴とする半導体集積回路。
  5. 上記カウンタ回路は互いに計数値の異なる複数のカウンタにより構成され、上記論理回路は互いに同一入力に対する出力値の異なる複数のデコーダ回路により構成され、上記複数のカウンタおよび上記複数のデコーダ回路が切替え使用されることによりスペクトラム拡散された周波数特性を有するクロック信号を生成するように構成されていることを特徴とする請求項4に記載の半導体集積回路。
  6. 上記論理回路は、上記カウンタ回路の出力をデコードして複数の出力値を出力するデコーダ回路と、所定の分周比変化量を出力する変化量付与回路と、上記デコーダ回路の出力タイミングで分周比の初期値に上記変化量付与回路から出力される分周比変化量を加算して上記第二分周回路に与える加算回路とからなることを特徴とする請求項4に記載の半導体集積回路。
  7. 上記論理回路は、上記カウンタ回路の出力に応じた値を出力する記憶回路と、所定の分周比変化量を出力する変化量付与回路と、上記記憶回路の出力値に応じたタイミングで分周比の初期値に上記変化量付与回路から出力される分周比変化量を加算して上記第二分周回路に与える加算回路とからなることを特徴とする請求項4に記載の半導体集積回路。
  8. 固有振動数を有する振動子が接続可能な外部端子と、該外部端子に接続された上記振動子の固有振動数に応じた周波数で変化する発振信号を出力する発振回路とを備え、該発振回路により上記基準となる信号が生成されるようにされていることを特徴とする請求項4〜7のいずれかに記載のOS半導体集積回路。
  9. 所定の回路に供給する為のクロック信号の周波数を所定の周期で変調させる機能を有するクロック生成回路を内蔵した半導体集積回路と、固有振動数を有する振動子とが1つの絶縁基板に実装されている電子デバイスであって、
    上記クロック生成回路は、基準となる信号を分周する第一分周回路と、発振周波数が可変な第一発振回路と、該第一発振回路の出力発振信号を分周する分周比可変な第二分周回路と、該第二分周回路で分周されたフィードバック信号の位相と上記第一分周回路の出力信号の位相とを比較する位相比較回路とを有し、該位相比較回路により検出された位相差に応じて上記第一発振回路の発振周波数を制御するPLL回路を備え、
    上記半導体集積回路は、上記第二分周回路で分周された信号を計数するカウンタ回路と、該カウンタ回路の出力を入力とし該入力に応じて上記第二分周回路の分周比を変更するタイミングを与える論理回路とを設け、
    上記半導体集積回路は、上記カウンタ回路の計数値および上記論理回路の入力に対する出力値を変化させて変調周期およびスプレッド幅を変更させることでスペクトラム拡散された周波数特性を有するクロック信号を生成するように構成されており、
    上記半導体集積回路は、上記振動子が接続可能な外部端子と、該外部端子に接続された上記振動子の上記固有振動数に応じた周波数で変化する第二発振信号を出力する発振回路とを備え、該第二発振回路により上記基準となる信号が生成されるようにされていることを特徴とする電子デバイス。
  10. 所定の回路に供給する為の第一クロック信号の発振周波数を所定の変調周期で変調させる機能を有するクロック生成回路を内蔵した半導体集積回路であって
    上記クロック生成回路は、基準となる信号を分周する第一分周回路と、発振周波数が可変な発振回路と、該発振回路の出力発振信号を分周する分周比可変な第二分周回路と、該第二分周回路で分周されたフィードバック信号の位相と上記第一分周回路の出力信号の位相とを比較する位相比較回路とを有し、該位相比較回路により検出された位相差に応じて上記発振回路の発振周波数を制御するPLL回路を備え、
    上記第二分周回路で分周された信号を計数するカウンタ回路と、該カウンタ回路の出力を入力とし該入力に応じて上記第二分周回路の分周比を変更するタイミングを与える論理回路とを有し、
    上記カウンタ回路の計数値および上記論理回路の入力に対する出力値を変化させて変調周期およびスプレッド幅を変更させることでスペクトラム拡散された周波数特性を有するクロック信号を生成するように構成され、
    上記第1クロック信号により動作する第1論理回路と、上記基準となる信号もしくはそれに基づいて生成された上記第一クロック信号よりも周波数変調されている度合いが小さい第二クロック信号により動作する第二論理回路とを内蔵してなる半導体集積回路。
  11. 上記第二クロック信号は周波数変調されていないことを特徴とする請求項10に記載の半導体集積回路。
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7616038B2 (en) 2007-02-13 2009-11-10 Hynix Semiconductor Inc. Clock modulation circuit for correcting duty ratio and spread spectrum clock generator including the same
JP2011146763A (ja) * 2010-01-12 2011-07-28 Kawasaki Microelectronics Inc スペクトラム拡散クロックジェネレータ
US8269565B2 (en) 2010-01-13 2012-09-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Spread spectrum clock generators and electronic devices including the same
US8270553B2 (en) 2008-07-30 2012-09-18 Renesas Electronics Corporation PLL circuit, communication device, and loopback test method of communication device
WO2013047404A1 (ja) * 2011-09-26 2013-04-04 富士フイルム株式会社 撮像装置及び撮像方法
JP2015198318A (ja) * 2014-04-01 2015-11-09 新電元工業株式会社 制御装置およびそのプログラム
US10122264B2 (en) 2016-03-21 2018-11-06 Shindengen Electric Manufacturing Co., Ltd. Control device and program product for reducing a noise peak level
WO2019156422A1 (ko) * 2018-02-06 2019-08-15 삼성전자 주식회사 신호의 emi를 감소시키는 집적 회로, 방법 및 전자 장치
KR102075086B1 (ko) * 2018-11-13 2020-02-07 현대오트론 주식회사 Dma를 활용한 epm 마이크로틱 생성 긴급 중단 방법

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7616038B2 (en) 2007-02-13 2009-11-10 Hynix Semiconductor Inc. Clock modulation circuit for correcting duty ratio and spread spectrum clock generator including the same
US8660223B2 (en) 2008-07-30 2014-02-25 Renesas Electronics Corporation PLL circuit, communication device, and loopback test method of communication device
US8270553B2 (en) 2008-07-30 2012-09-18 Renesas Electronics Corporation PLL circuit, communication device, and loopback test method of communication device
JP2011146763A (ja) * 2010-01-12 2011-07-28 Kawasaki Microelectronics Inc スペクトラム拡散クロックジェネレータ
US8269565B2 (en) 2010-01-13 2012-09-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Spread spectrum clock generators and electronic devices including the same
US8593228B2 (en) 2010-01-13 2013-11-26 Samsung Electronics Co., Ltd. Spread spectrum clock generators and electronic devices including the same
WO2013047404A1 (ja) * 2011-09-26 2013-04-04 富士フイルム株式会社 撮像装置及び撮像方法
JP2015198318A (ja) * 2014-04-01 2015-11-09 新電元工業株式会社 制御装置およびそのプログラム
US10122264B2 (en) 2016-03-21 2018-11-06 Shindengen Electric Manufacturing Co., Ltd. Control device and program product for reducing a noise peak level
WO2019156422A1 (ko) * 2018-02-06 2019-08-15 삼성전자 주식회사 신호의 emi를 감소시키는 집적 회로, 방법 및 전자 장치
US11218154B2 (en) 2018-02-06 2022-01-04 Samsung Electronics Co., Ltd. Integrated circuit, method, and electronic device for reducing EMI of signal
KR102075086B1 (ko) * 2018-11-13 2020-02-07 현대오트론 주식회사 Dma를 활용한 epm 마이크로틱 생성 긴급 중단 방법
US11307116B2 (en) 2018-11-13 2022-04-19 Hyundai Autoever Corp. Method for controlling production of microticks through DMA

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