JP2006196694A - 半導体発光素子 - Google Patents

半導体発光素子 Download PDF

Info

Publication number
JP2006196694A
JP2006196694A JP2005006704A JP2005006704A JP2006196694A JP 2006196694 A JP2006196694 A JP 2006196694A JP 2005006704 A JP2005006704 A JP 2005006704A JP 2005006704 A JP2005006704 A JP 2005006704A JP 2006196694 A JP2006196694 A JP 2006196694A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
semiconductor light
light emitting
light extraction
semiconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005006704A
Other languages
English (en)
Inventor
Atsushi Suzuki
淳 鈴木
Masato Doi
正人 土居
Hiroyuki Okuyama
浩之 奥山
Tsuyoshi Biwa
剛志 琵琶
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2005006704A priority Critical patent/JP2006196694A/ja
Priority to US11/329,589 priority patent/US7468528B2/en
Publication of JP2006196694A publication Critical patent/JP2006196694A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/20Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S257/00Active solid-state devices, e.g. transistors, solid-state diodes
    • Y10S257/918Light emitting regenerative switching device, e.g. light emitting scr arrays, circuitry

Abstract

【課題】 発光取り出し面から、より高い取り出し効率と、光密度をもって面発光することができるようにした半導体発光素子を提供する。
【解決手段】 第1導電型の第1のクラッド層1と、活性層2と、第2導電型の第2のクラッド層3とを少なくとも有する積層半導体構造部4を有し、この積層半導体構造部4の外周面4sが、その積層方向に関して外側に凸の彎曲ないしは屈曲する曲面形状とする。
【選択図】 図1

Description

本発明は、半導体発光素子例えばGaN系発光ダイオードLEDに関する。
半導体発光素子、例えば発光ダイオードLEDにおいて、できるだけ高い発光効率で発光させると同時に、この発光を外部に高い取り出し効率をもって取り出すことが必要である。
そして、この取り出し効率を高めるための種々の研究開発がなされている(例えば特許文献1および2)。これら発光ダイオードLEDにおいては、そのLEDチップの形状を例えばチップ周面を凹状に湾曲させた斜面とするとか、実質的にチップの厚さが薄くされた階段状とするなどの方法により、活性層端面に傾斜を持たせて光の放出方向を設定できるようにし、また、内部での反射を回避することによって発光の取り出し効率を高めるとか、内部での反射回数を減じて内部での光の減衰を低めて取り出し効率を高めるというものである。
特開平7−153993号 特開2004−111493号
本発明は、従来の半導体発光素子、例えば上述した従来構造とは異なる発想に基く構造によって、特定の発光取り出し面から、より高い取り出し効率と、光密度をもって面発光することができるようにした半導体発光素子を提供するものである。
本発明による半導体発光素子は、第1導電型の第1のクラッド層と、活性層と、第2導電型の第2のクラッド層とを少なくとも有する積層半導体構造部を有し、該積層半導体構造部の外周面が、その積層方向に関して外側に凸の彎曲ないしは屈曲する曲面形状とされて成ることを特徴とする。
また、本発明による半導体発光素子は、上記第1のクラッド層側の主面を、上記半導体発光素子の光取り出し面とされ、上記曲面形状が、上記積層方向に関する各部の接線の上記光取り出し面に対する傾きが、少なくとも一部において45°〜55°とされたことを特徴とする。
また、本発明による半導体発光素子は、上記曲面形状の上記接線の傾きが、上記光取り出し面側に近づくにつれ、急となる彎曲ないしは屈曲形状とされたことを特徴とする。
また、本発明による半導体発光素子は、上記半導体発光素子の上記光取り出し面とは反対側の上記第2導電型側の主面に形成される電極が、上記半導体発光部からの光に対して反射率の高い金属電極によって構成されたことを特徴とする。
上述したように、本発明による半導体発光素子は、第1導電型の第1のクラッド層と、活性層と、第2導電型の第2のクラッド層とを少なくとも有する積層半導体構造部、すなわち発光機能部の外周面形状を、その積層方向に関して外側に凸の彎曲ないしは屈曲する曲面形状とすることにより、一方のクラッド層側の主面を光取り出し面として、この光取り出し面から高い光取り出し効率をもって面発光させることができるものである。
これは、外周形状を外側に凸の曲面形状としたことにより、活性層から積層半導体構造部内を伝播して直接的にこの周面に到来した光や、例えば光取り出し面とは反対側の主面で反射されて周面に向かって到来した光が、この曲面において全反射する確率が高められることによって、目的とする光取り出し面に向わせることができ、これによって光取り出し面からの取り出される光取り出し効率とともに、周面等から外側に取り出される場合に比して本来の目的とする光取り出し面からの導出光の光密度を高めることができるものである。
更に、その曲面形状の接線の傾きを、少なくとも一部において45°〜55°とすることにより、また、さらに、その接線の傾きを、光取り出し面側に近づくにつれ、急となる彎曲ないしは屈曲とすることによって、より光取り出し面近傍の周面に到来する光を効率よく全反射させることができ、これらの光を本来の光取り出し面から高い光取り出し効率と、高い光密度をもって導出することができるものである。
そして、更に、光取り出し面とは反対側の主面に対する半導体発光素子の第2導電型側の電極を反射率の高い金属電極によって構成することにより、より光取り出し面からの取り出し効率を高めることができるものである。
図面を参照して本発明による半導体発光素子の実施の形態を説明する。主として短波長の緑ないしは紫外線の高発光率を有する窒化物半導体発光ダイオードのInGaN系の発光ダイオードLEDに適用した場合を例示するものであるが、本発明は、これら例示する実施の形態に限定されるものではない。
図1および図2は、それぞれ上述したInGaN系のLED10の一例の模式的断面図を示す。この例では、第1導電型例えばn型のGaNによる厚さ例えば3μm〜3.5μmの第1のクラッド層1上にInGaNによる例えば厚さ150nmの活性層2、第2導電型例えばp型の厚さ100nm〜380nmの第2のクラッド層3が積層された積層半導体構造部4を有して成り、平面パターンが例えば方形、あるいは円形等を有する形状とされる。
そして、この場合、積層半導体構造部4の第1のクラッド層1側の主面を光取り出し面5とされる面発光構成とされる。
この光取り出し面5には、第1の電極6例えばn型側電極がコンタクトされ、この光取り出し面5と対向する反対側の第2のクラッド層3側の主面に第2電極7例えばp型側電極がコンタクトされる。
光取り出し面5側の第1電極6は、例えば透明電極あるいは網目電極とするとか、光取り出し面の一部に形成するなど、光取り出しが有効になされるように構成することができる。
また、第2電極7は、Ag電極等の発光波長光に対して反射率が高い電極構成とする。
本発明においては、主として発光機能部を構成する積層半導体構造部4の外周面4sを、その積層方向に関して外側、すなわち外方に凸の彎曲ないしは屈曲する曲面形状とする。
この曲面形状は、上述した積層方向に関して単一の曲率によらない形状とし、図1に示すように、湾曲面とすることもできるし、あるいは図2に示すように複数の屈曲する面によって構成することもできる。
そして、この外周面4sは、その傾きすなわち接線の光取り出し面5とのなす角が、光取り出し面5に近づくにつれ、大に、すなわち急峻となるようにする。例えば図1および図2に示すように、光取り出し面5とは反対側から光取り出し面5に向かう各角度θ1、θ2、θ3が、θ1<θ2<θ3とされる。
更に、この外周面4sの、少なくとも一部例えば中間部の角θ2が、45°〜55°更に望ましくは48°〜49°の曲面とされることが望ましい。
このLED10は、例えばVPA(新日鉄化学社製商品名)、ポリイミド系樹脂等の樹脂によって覆ったパッケージ11が施される。
上述したように、本発明構成において、外周面4sの、少なくとも一部例えば中間部の角θ2が、45°〜55°、更に望ましくは48°〜49°の曲面とすることによって光取り出し効率が高められる。これは、例えば第2のクラッド層3側の主面、第2電極からの反射による光、活性層2からの発光の外周面4sに向かう光が、反射および全反射によって有効に光取り出し面へと向かわせ、繰り返し反射や、迷走する光路を有効に回避できることによるものである。
さらに、この光取り出し効率の向上が図られることについて、次のように考察することができる。すなわち、図3に概略断面図を示すように、サファイア基板21上に、前述した図1および図2におけると同様の第1のクラッド層1、活性層2、第2クラッド層3による積層半導体構造とするが、その外周形状を単一の傾斜角θを有する形状として考察した。この場合においては、その表面を上述した樹脂VPAによって覆うパッケージ11とした。
この構成において、角度θを変化させてサファイア基板21側からの光取り出し効率をみると、図4に示す結果が得られる。
これによって明らかなように、その角度θを45°より大で55°以下とするとき、高い光取り出し効率が得られ、48°〜49°でピークを示すものであり、これによって、本発明において、その傾斜角の選定によって高い光取り出し効率が得られることが理解されるものである。
次に、本発明を実施例を挙げて説明する。この場合、図5の表で示すように、
[実施例1]
前述した図2の構成において、その角度θ1=45°、θ2=50°、θ3=50°とする構造1とした。
[実施例2]
前述した図2の構成において、その角度θ1=45°、θ2=50°、θ3=55°とする構造2とした。
[実施例3]
前述した図2の構成において、その角度θ1=45°、θ2=50°、θ3=60°とする構造3とした。
[実施例4]
前述した図2の構成において、その角度θ1=45°、θ2=50°、θ3=70°とする構造4とした。
[実施例5]
前述した図2の構成において、その角度θ1=45°、θ2=50°、θ3=80°とする構造5とした。
これらについての光取り出し効率を、図6に示す。図6において、横軸は構造1〜5を表し、縦軸に45°の単一傾斜としたときの光取り出し効率に対する各構造1〜5の光取り出し効率の比として示した。
少なくとも45°の単一傾斜とする場合に比し、45°より大で、65°以下を含む外方に凸の曲面形状とすることによって、単一傾斜とする場合に比し、優れた光取り出し効率がえられることがわかる。
上述した本発明による半導体発光素子を製造する方法の一例を、図7の工程図を参照して説明する。
この例においては、図1に示したLED10を製造する場合である。
まず、図7Aに示すように、基板21例えばサファイア基板上に、例えばMOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)によって、順次第1導電型例えばn型のGaNによる第1のクラッド層1、InGaNによる活性層2、第2導電型例えばp型のGaNによる第2のクラッド層3をエピタキシャル成長して積層半導体構造部4を構成する。
そして、第2のクラッド層3上に、例えばAg、あるいはNiPtAuNi構造による第2電極7を所定のパターン、直径50μm以下の例えば14μmの円形パターンの電極を、例えば蒸着、スパッタリング等によって一旦全面的に形成し、フォトリソグラフィによるパターンエッチングによって形成する。
図7Bに示すように、第2電極7を覆って所要直径を有するドライエッチングマスク30となるレジスト層をフォトリソグラフィによって形成し、これを加熱して所要の曲面を有する形状にリフローによって形成する。この形状は、レジストのアスペクト比、リフロー条件の選定によって選定することができる。
図7Cに示すように、マスク30上から例えばClによるドライエッチングを行う。このようにすると、マスク30の表面形状を踏襲した所要の形状に、積層半導体層4の外周部4sを前述した曲面形状とすることができる。
その後、図7Dに示すように、前述した樹脂によるパッケージ11を施す。
そして、サファイア基板21側からレーザー照射を行ってレーザーアブレーションによってサファイア基板21を剥離し、剥離によって第1のクラッド層1側の主面を外部に露呈させ、第1電極6を形成する。
このようにして、図1に示した本発明による半導体発光素子、この例ではGaNのLEDが得られる。
そして、例えば図2に示した例における例えば複数の傾斜を異にする曲面形状による外周面4sを有する半導体発光素子を形成する場合においては、マスク30として所要の]傾斜面をそれぞれ有するマスクを用いて複数のドライエッチングを繰り返すことによって形成することができる。
このようにして、高い発光効率を示す例えばGaAs発光半導体素子を用い、かつ所要光取り出し面、すなわち例えば第1のクラッド層1側の主面から発光光の導出を効率よく行うことができ、高い光密度をもって、また、高い光取り出し効率をもって得ることができるものである。
なお、上述した例では、第1のクラッド層と、活性層と、第2のクラッド層による構成による発光素子とした場合であるが、種々の変形変更を行うことができることはいうまでもないものである。
本発明による半導体発光素子の一例の模式的断面図である。 本発明による半導体発光素子の他の例の模式的断面図である。 光取り出し効率の説明に供する対象とする半導体発光素子の概略断面図である。 本発明の説明に供する素子外周部の傾きと光取り出し効率との関係を示す図である。 本発明による半導体発光素子の実施例の構造1〜5の各部の傾斜角を示す表図である。 図5で示した各構造の半導体発光素子の光取り出し効率の単一傾きによる半導体発光素子のとの光取り出し効率との相対比を示した図である。 A〜Eは、本発明による半導体発光素子の製造方法の一例を示す工程図である。
符号の説明
1……第1のクラッド層、2……活性層、3……第2のクラッド層、4……積層半導体構造部、4s……外周面、5……光取り出し面、6……第1電極、7……第2電極、10……半導体発光素子、11……パッケージ、21……サファイア基板

Claims (4)

  1. 第1導電型の第1のクラッド層と、活性層と、第2導電型の第2のクラッド層とを少なくとも有する積層半導体構造部を有し、
    該積層半導体構造部の外周面が、その積層方向に関して外側に凸の彎曲ないしは屈曲する曲面形状とされて成ることを特徴とする半導体発光素子。
  2. 上記第1のクラッド層側の主面を、上記半導体発光素子の光取り出し面とされ、上記曲面形状が、上記積層方向に関する各部の接線の上記光取り出し面に対する傾きが、少なくとも一部において45°〜55°とされたことを特徴とする請求項1に記載の半導体発光素子。
  3. 上記曲面形状の上記接線の傾きが、上記光取り出し面側に近づくにつれ、急となる彎曲ないしは屈曲形状とされたことを特徴とする請求項1または2に記載の半導体発光素子。
  4. 上記半導体発光素子の上記光取り出し面とは反対側の上記第2導電型側の主面に形成される電極が、上記半導体発光部からの光に対して反射率の高い金属電極によって構成されたことを特徴とする請求項1に記載の半導体発光素子。
JP2005006704A 2005-01-13 2005-01-13 半導体発光素子 Pending JP2006196694A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005006704A JP2006196694A (ja) 2005-01-13 2005-01-13 半導体発光素子
US11/329,589 US7468528B2 (en) 2005-01-13 2006-01-10 Semiconductor light-emitting device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005006704A JP2006196694A (ja) 2005-01-13 2005-01-13 半導体発光素子

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006196694A true JP2006196694A (ja) 2006-07-27

Family

ID=36755586

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005006704A Pending JP2006196694A (ja) 2005-01-13 2005-01-13 半導体発光素子

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7468528B2 (ja)
JP (1) JP2006196694A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012114377A (ja) * 2010-11-26 2012-06-14 Mitsubishi Chemicals Corp 半導体発光素子
WO2014083622A1 (ja) * 2012-11-28 2014-06-05 株式会社日立製作所 液体搬送デバイス及び液体分析装置
WO2017169741A1 (ja) * 2016-03-30 2017-10-05 ソニー株式会社 発光素子
JP2020088383A (ja) * 2018-11-30 2020-06-04 シャープ株式会社 マイクロ発光素子及び画像表示素子

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101261214B1 (ko) * 2006-05-18 2013-05-06 서울옵토디바이스주식회사 발광 다이오드 제조방법
KR100867529B1 (ko) * 2006-11-14 2008-11-10 삼성전기주식회사 수직형 발광 소자
KR100883075B1 (ko) * 2007-03-02 2009-02-10 엘지전자 주식회사 전계발광소자
JP5257231B2 (ja) * 2009-05-13 2013-08-07 ソニー株式会社 発光ダイオードおよびその製造方法
US9660143B2 (en) * 2013-10-07 2017-05-23 Hongseo Yom Substrate and light emitting diode
JP6328497B2 (ja) * 2014-06-17 2018-05-23 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 半導体発光素子、パッケージ素子、および発光パネル装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10341035A (ja) * 1997-06-03 1998-12-22 Hewlett Packard Co <Hp> 半導体発光素子および半導体発光素子の製造方法
JP2004319685A (ja) * 2003-04-15 2004-11-11 Toshiba Corp 半導体発光素子および半導体発光装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07153993A (ja) 1993-11-29 1995-06-16 Daido Steel Co Ltd 発光ダイオード
JP4258191B2 (ja) 2002-09-13 2009-04-30 日亜化学工業株式会社 窒化物半導体発光素子とその製造方法
JP4564234B2 (ja) * 2003-02-17 2010-10-20 株式会社東芝 半導体発光素子
US20050189551A1 (en) * 2004-02-26 2005-09-01 Hui Peng High power and high brightness white LED assemblies and method for mass production of the same
US7683391B2 (en) * 2004-05-26 2010-03-23 Lockheed Martin Corporation UV emitting LED having mesa structure

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10341035A (ja) * 1997-06-03 1998-12-22 Hewlett Packard Co <Hp> 半導体発光素子および半導体発光素子の製造方法
JP2004319685A (ja) * 2003-04-15 2004-11-11 Toshiba Corp 半導体発光素子および半導体発光装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012114377A (ja) * 2010-11-26 2012-06-14 Mitsubishi Chemicals Corp 半導体発光素子
WO2014083622A1 (ja) * 2012-11-28 2014-06-05 株式会社日立製作所 液体搬送デバイス及び液体分析装置
WO2017169741A1 (ja) * 2016-03-30 2017-10-05 ソニー株式会社 発光素子
CN108886074A (zh) * 2016-03-30 2018-11-23 索尼公司 发光器件
CN108886074B (zh) * 2016-03-30 2021-08-27 索尼公司 发光器件
US11393958B2 (en) 2016-03-30 2022-07-19 Sony Corporation Light emitting device to improve the extraction efficiency
JP2020088383A (ja) * 2018-11-30 2020-06-04 シャープ株式会社 マイクロ発光素子及び画像表示素子
US11289634B2 (en) 2018-11-30 2022-03-29 Sharp Kabushiki Kaisha Image display element

Also Published As

Publication number Publication date
US7468528B2 (en) 2008-12-23
US20060169997A1 (en) 2006-08-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2006196694A (ja) 半導体発光素子
JP4623953B2 (ja) 電磁ビームを放出する半導体チップおよびその製造方法
US8410506B2 (en) High efficiency light emitting diode
US9437783B2 (en) Light emitting diode (LED) contact structures and process for fabricating the same
JP5649653B2 (ja) 粗面化された活性層及びコンフォーマルなクラッドを利用する高輝度led
JP2006191068A (ja) 高出力発光ダイオード及びその製造方法
JP6347600B2 (ja) 高効率発光ダイオード
WO2006085514A1 (ja) 半導体発光素子およびその製法
JP2008140918A (ja) 発光素子の製造方法
TWI816970B (zh) 發光元件及其製造方法
JP2009059969A (ja) 半導体発光素子、発光装置、照明装置、表示装置及び半導体発光素子の製造方法
JP2011061036A (ja) Iii族窒化物半導体発光素子
JP2008066442A (ja) 発光ダイオード
JP2004503114A (ja) 光放射形半導体チップ
KR101229834B1 (ko) 수직형 발광 다이오드 및 그 제조방법
US20100178616A1 (en) Method of making a rough substrate
JP2006196692A (ja) 半導体装置の製造方法
JP2006128659A (ja) 窒化物系半導体発光素子及びその製造方法
EP2560216A1 (en) Light emitting diode and manufacturing method thereof, light emitting device
JP2005197473A (ja) 半導体発光素子
JP2006147787A (ja) 発光素子及びその製造方法
KR20210135426A (ko) 발광소자
JP2011513985A (ja) 発光素子
JP2005347700A (ja) 発光素子およびその製造方法
JP2004111493A (ja) 窒化物半導体発光素子とその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070907

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100525

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100525

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100713

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110426