JP2006186082A - 投影露光装置 - Google Patents

投影露光装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2006186082A
JP2006186082A JP2004377438A JP2004377438A JP2006186082A JP 2006186082 A JP2006186082 A JP 2006186082A JP 2004377438 A JP2004377438 A JP 2004377438A JP 2004377438 A JP2004377438 A JP 2004377438A JP 2006186082 A JP2006186082 A JP 2006186082A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
projection
projection lens
refractive index
wafer
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004377438A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4572111B2 (ja
Inventor
Masahiro Takenaka
正浩 竹中
Katsuhiko Harasaki
克彦 原崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP2004377438A priority Critical patent/JP4572111B2/ja
Publication of JP2006186082A publication Critical patent/JP2006186082A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4572111B2 publication Critical patent/JP4572111B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

【課題】投影レンズの表面に屈折率の異なる材料をコーティングし、最適な媒体を用いることにより、制御性を向上させ、NA(開口数)を大きくし、解像力向上により微細なレジストパターンを形成する。
【解決手段】光源からの露光用の光を集光する集光系と、この集光系からの入射光をウエハ上に結像するホトマスクと、このホトマスクからの透過光をウエハ上に投影する投影光学系と、ウエハを支持する支持部と、少なくとも投影光学系からウエハ支持部までを媒体で密閉した密閉系を有する投影露光装置であって、投影レンズの表面に、投影レンズのNA(開口数)を大きくする前記投影レンズと屈折率の異なる材料でコーティングする。
【選択図】図1

Description

本発明は、投影露光装置に関する。さらに詳しくは、投影レンズのNA(開口数)を大きくし、解像度を高め、より微細なパターンを転写できる投影露光装置に関する。
設計寸法の縮小、加工パターンの微細化に伴い縮小投影露光法によるフォトリソグラフィ技術は解像度の限界に近づいている。この解像限界を向上する方法として、投影レンズのNA(開口数)を大きくするために、投影レンズとウエハを空気の屈折率より大きい媒体として、例えば純水などの液体で覆う液浸法、あるいは、媒体として気体を用いるものが知られている。
例えば、特許文献1は、媒体として、適切な屈折率をもつ液体、気体を媒体として用いて、屈折率を調整することのできる投影露光装置を記載している。特許文献1の投影露光装置を図2に示す。この装置では、光源21から出た露光光は、第1反射鏡23、インテグレータ24及び第2の反射鏡25を経て、集光レンズ26に照射される。この集光された露光光は、ホトマスク27、投影レンズ28を経て、ウエハ29に露光光として照射される。ここでホトマスク27からウエハ支持部30までを単一又は複数の媒体31で密閉した密閉系32により密閉する。図2は集光レンズ26からウエは支持部30までを密閉系32で密閉する例を示している。密閉系32には、例えば水とクロロホルムの混合により、最適な屈折率に調整した媒体が満たされる。
特開平6−120113号公報
図2に示した装置を用いて、更に加工パターンを微細化し、そのサイズを露光波長程度にしようとすると、投影レンズのNA(開口数)をより大きくしなければならない。図3の装置で、投影レンズのNA(開口数)を大きくするためには、投影レンズとウエハを覆う媒体として、空気の屈折率=1よりも大きい屈折率の媒体が必要となる。投影レンズとウエハを覆う媒体として純水などの液体が用いられる液浸法、あるいは、媒体として気体が用いられるが、適したものにするためには、複数の媒体を混合する必要もあり、媒体の屈折率に依存するため制御が難しい。
本発明では、投影レンズの表面に屈折率の異なる材料をコーティングし、最適な媒体を用いることにより、制御性を向上させ、NA(開口数)を大きくし、解像力向上により微細なレジストパターンを形成するものである。
本発明の投影露光装置は、光源からの露光用の光を集光する集光系と、この集光系からの入射光をウエハ上に結像するホトマスクと、このホトマスクからの透過光をウエハ上に投影する投影光学系と、ウエハを支持する支持部と、少なくとも投影光学系からウエハ支持部までを単体、あるいは、2成分以上からなる媒体で密閉する密閉系を有する投影露光装置であって、投影レンズの表面に、投影レンズのNA(開口数)を大きくするために前記投影レンズと屈折率の異なる材料でコーティングすることを特徴とする。
この時に投影レンズの表面にコーティングされる材料の屈折率が、前記投影レンズの屈折率よりも大きい材料で、望ましくはコーティングされる材料の屈折率が1.5〜3.0である。好ましくは、水晶、サファイア、ダイヤモンド、または電気石である。
本発明の投影露光装置に用いられる露光用の光は、g線(456nm)、i線(365nm)、KrF(248nm)、ArF(193nm)、F2(156nm)、Ar2、Kr2エキシマレーザー、電子ビームのどれかである。
本発明の投影露光装置は、投影レンズの表面に投影レンジのNA(開口数)を大きくするために投影レンズの屈折率の異なる材料をコーティングすることにより、投影露光レンズのNA(開口数)を、約1.43から1.54に大きくすることができ、解像力を7%向上することができる。この効果は露光波長の短波長化に相当し、更に微細なレジストパターンの形成が可能である。
次に本発明の実施例の形態について説明する。
本発明の投影露光装置の一例として、図1に示した装置について説明する。この装置では、光源1を出た光は、第1反射鏡2、インテグレータ3及び第2反射鏡4を経て、光源からの露光用の光を集光する集光レンズ5に照射される。光源1として使用できる露光光には、g線(456nm4)、i線(365nm)、KrF(248nm)、ArF(193nm)、F2(156nm)、Ar2、Kr2エキシマレーザー、電子ビームなどがあり、どれかを選択して使用する。集光系及び投影光学系に使用できるレンズとしては、公知のものが用いられ、例えば数種の光学ガラスからなる複数枚のレンズで構成されたものを用いることができる。
集光レンズ5に照射された光は、ホトマスク6に照射され、ホトマスク6からの透過光をウエハ7上に投影させるための投影光学系8の投影レンズ9を経て、ウエハ7に照射することによって露光される。ホトマスク6としては遮光パターンのみを用い、マスク基板にはガラス基板を使用する。或いは位相シフターを用いた位相シフトマスクを使用することができる。位相シフトマスクとして、シフタ遮光型、エッジ遮光型、エッジ強調型マスクが使用できる。位相シフトマスクに使用できる材料は特に限定はなく、ガラス、SOG、SiO2等が使用でき、遮光マスクにはCr、CrO、MoSi等が使用できる。
本発明では投影レンズ9を含み、投影レンズ系8からウエハ支持部10までを媒体11を封入した密閉系12により密閉する。密閉系12は投影レンズ系8のなるべく投影レンズ9に近い個所からウエハ支持部10までを密閉する構造とすることにより、密閉系12を小さくすることができる。密閉系12は内部に媒体11の吸入のために吸入系13、排出のために排出系14が設置されており、吸入系13から入った媒体11は、排出系14に向かって流れる(図中、矢印は媒体の流れを示す)。媒体11の流れは逆でもよく、その場合、排出系14を吸入側とし、吸入系13を排出側とする。
密閉系12に封入される媒体11としては、投影レンズからの光の入射角をどこまで使用するかによるため、特に規定されないが、屈折率が1.5以上の媒体を使用することが望ましい。例えば、桂皮油、キノリン、 フェノール、 ベンジルアルコール、 テトラリン、ジヨードメタン、また、ヨウ化メチレンや砒素化合物が主成分の液体などの大きい屈折率の媒体のどれかを選択して使用する。本発明はこれら媒体を単独で用いるが、混合が可能で、屈折率が1.5以上に大きくできるのであれば、複数を混合して用いてもよい。例えば、ヨウ化メチレンが主成分の液体と砒素化合物が主成分の液体の成分を調整することにより、屈折率が1.7より大きい媒体が得られる。
本発明の実施例では、投影レンズ9としてはCaF2を用い、投影レンズ9の表面に密閉系内の媒体11よりも屈折率nが大きく、かつ投影レンズ9と屈折率が異なる屈折材料9aでコーティングする。屈折材料9aは、例えば真空チャンバー内で、水晶をターゲットとして、アルゴンイオンを照射してスパッタリングすることにより、投影レンズ9の表面に水晶のスパッタリング膜を堆積して形成することができる。水晶のスパッタリング膜は、厚さ0.1〜1.0μmコーティングする。また蒸着法により投影レンズ上に堆積して屈折材料9aを形成してもよい。
このコーティングされる屈折材料9aについては、屈折率nの好適な範囲は1.5〜3.0であり、媒体11により自由に変えられることが望ましい。屈折率材料9aは、水晶以外にも、使用する光源の波長領域に強い吸収のある材料以外であれば可能で、屈折率nが1.5よりも大きい材料としてサファイア、ダイヤモンド、または電気石のスパッタリング膜または蒸着膜を使用することができる。本発明は密閉系の媒体の屈折率に対応して、投影レンズ上の屈折材料を変えることにより、NA(開口数)を制御することができる。
本発明の実施例では、投影レンズ9としてCaF2を用い、その屈折率が1.5であり、密閉系12の媒体11として、屈折率が1.5以上の媒体、例えば、桂皮油を用い、投影レンズ8にコーティングする材料9aとして、水晶(屈折率1.54)を用いた。
これらの手段を用いることにより、本実施例ではNA(開口数)を、約1.43から1.54と大きくすることが可能になる。開口数NAは、NA=n・sinθ(nは屈折率、θは最大入射角)で表され、理論的にθは90°未満で、sin(90°)=1とすると、NAは、屈折率nの大きさで何倍になるか見積もることが可能で、特許文献1の実屈折率nは1.43であるのに対して、本発明の上記実施例では水晶の屈折率が1.54であるので、1.54/1.43=1.0769倍になる。
その結果としてレジストの解像力を7%向上することができる。
本実施例では、縮小(×0.4、あるいは、×0.5)投影の場合であるが、半導体LSI製造に限らず、液晶などの製造工程の露光装置における等倍(×1)、拡大(×1.25)投影の場合にも適用可能である。ホトマスクとしては、通常用いられている遮光パターンのみのマスクもしくは位相シフターを用いた位相シフトマスクが挙げられる。使用されるレジスト材料は従来のレジストと同様のものを利用できることが望ましい。
本発明の投影露光装置図である。 従来の投影露光装置の概略断面図である。
符号の説明
1 光源
5 集光レンズ
6 マスク
7 ウエハ
8 投影レンズ系
9 投影レンズ
9a 屈折材料
10 ウエハ支持台
11 媒体
12 密閉系

Claims (5)

  1. 光源からの露光用の光を集光する集光系と、この集光系からの入射光をウエハ上に結像するホトマスクと、このホトマスクからの透過光をウエハ上に投影する投影光学系と、ウエハを支持する支持部と、少なくとも投影光学系からウエハ支持部までを単体、あるいは、2成分以上からなる媒体で密閉した密閉系を有する投影露光装置であって、
    投影レンズの表面に、投影レンズのNA(開口数)を大きくするために前記投影レンズと屈折率の異なる材料でコーティングすることを特徴とする投影露光装置。
  2. 投影レンズの表面にコーティングされる材料の屈折率が、前記投影レンズの屈折率よりも大きい材料である請求項1記載の投影露光装置。
  3. 投影レンズの表面にコーティングされる材料の屈折率が1.5〜3.0である請求項1または2に記載の投影露光装置。
  4. 投影レンズの表面にコーティングされる材料は、水晶、サファイア、ダイヤモンド、または電気石である請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の投影露光装置。
  5. 前記露光用の光は、g線(456nm)、i線(365nm)、KrF(248nm)、ArF(193nm)、F2(156nm)、Ar2、Kr2エキシマレーザー、電子ビームのどれかである請求項1乃至4のいずれか1項に記載の投影露光装置。

JP2004377438A 2004-12-27 2004-12-27 投影露光装置 Expired - Fee Related JP4572111B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004377438A JP4572111B2 (ja) 2004-12-27 2004-12-27 投影露光装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004377438A JP4572111B2 (ja) 2004-12-27 2004-12-27 投影露光装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006186082A true JP2006186082A (ja) 2006-07-13
JP4572111B2 JP4572111B2 (ja) 2010-10-27

Family

ID=36738979

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004377438A Expired - Fee Related JP4572111B2 (ja) 2004-12-27 2004-12-27 投影露光装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4572111B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109990977B (zh) * 2019-03-29 2020-11-24 中国科学院近代物理研究所 一种折射率匹配液

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06120113A (ja) * 1992-10-08 1994-04-28 Sharp Corp 投影露光装置
JPH07220990A (ja) * 1994-01-28 1995-08-18 Hitachi Ltd パターン形成方法及びその露光装置
JPH1172710A (ja) * 1997-06-24 1999-03-16 Olympus Optical Co Ltd 偏光補償光学系を有する光学系
JP2002237448A (ja) * 2000-11-01 2002-08-23 Trw Inc 極限紫外リソグラフィー装置
JP2002258151A (ja) * 2001-03-01 2002-09-11 Ricoh Co Ltd 光ピックアップ用対物レンズおよびその作製方法、装置
JP2004198748A (ja) * 2002-12-19 2004-07-15 Nikon Corp オプティカルインテグレータ、照明光学装置、露光装置および露光方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06120113A (ja) * 1992-10-08 1994-04-28 Sharp Corp 投影露光装置
JPH07220990A (ja) * 1994-01-28 1995-08-18 Hitachi Ltd パターン形成方法及びその露光装置
JPH1172710A (ja) * 1997-06-24 1999-03-16 Olympus Optical Co Ltd 偏光補償光学系を有する光学系
JP2002237448A (ja) * 2000-11-01 2002-08-23 Trw Inc 極限紫外リソグラフィー装置
JP2002258151A (ja) * 2001-03-01 2002-09-11 Ricoh Co Ltd 光ピックアップ用対物レンズおよびその作製方法、装置
JP2004198748A (ja) * 2002-12-19 2004-07-15 Nikon Corp オプティカルインテグレータ、照明光学装置、露光装置および露光方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4572111B2 (ja) 2010-10-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3115185B2 (ja) 露光用マスクとパターン形成方法
TWI470342B (zh) 相位移光罩的製造方法、平面顯示器的製造方法、及相位移光罩
US7812926B2 (en) Optical element, exposure apparatus based on the use of the same, exposure method, and method for producing microdevice
TWI724186B (zh) 罩幕結構與罩幕製程方法
US8563227B2 (en) Method and system for exposure of a phase shift mask
JP2007235088A (ja) 光学素子、それを用いた露光装置、露光方法及びマイクロデバイスの製造方法
KR101123188B1 (ko) 성막용 타깃 및 위상변환 마스크 블랭크의 제조방법
EP3440512A1 (en) Attenuation filter for projection lens, projection lens having attenuation filter for projection exposure apparatus, and projection exposure apparatus having projection lens
US6150058A (en) Method of making attenuating phase-shifting mask using different exposure doses
JPH0695363A (ja) フォトマスクブランク及びその製造方法並びにフォトマスク
CN101065647A (zh) 提供通过不同相移孔径的平衡光强度的相移掩模及形成这种相移掩模的方法
JPH0683034A (ja) 露光用マスク、露光マスク用基板及びその製造方法
US20070134563A1 (en) Photomask and method of manufacturing semiconductor device
JP4572111B2 (ja) 投影露光装置
JP2002062638A (ja) マスクブランクス、フォトマスク、パターン形成方法および半導体装置の製造方法
JPH09127319A (ja) 反射鏡、その製造方法及びこれを用いる投影露光装置
JPH11125896A (ja) フォトマスクブランクス及びフォトマスク
KR20080110468A (ko) 패턴 전사 방법 및 포토마스크
JP2002040625A (ja) 露光用マスク、レジストパターン形成方法及び露光マスク用基板の製造方法
JPH0968790A (ja) フォトマスク
JP3110855B2 (ja) 投影露光用基板の製造方法とこの基板を用いたパターン形成方法
JP2002189283A (ja) 位相シフトマスクブランク、位相シフトマスク及び位相シフトマスクの製造方法
JPH03191347A (ja) 位相シフトマスク,位相シフトマスクの製造方法,及び位相シフトマスクを用いた半導体装置の製造方法
JP2005268265A (ja) コリメーター光学系及び照明光学装置
JP4977794B2 (ja) パターン転写方法およびフォトマスク

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070302

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091022

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091027

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091224

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100803

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100816

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130820

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees