JP2006177768A - 加速度センサ及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】加速度センサは、錘固定部13を可撓的に支持する周辺固定部12と、錘固定部13に固定された錘部23と、この錘部23をパッケージ底部61等のセンサ搭載部から所定の間隔をおいて配置するために周辺固定部12を前記センサ搭載部に固定する台座部21と、前記センサ搭載部に対向する位置に配設され、錘部23の変位を制限するストッパ部15とを備えている。そして、ストッパ部15上等に直接、硬化性の弾性接着剤(例えば、液体から弾性体に硬化するシリコン系ゴム50等)をディスペンサ等を用いて一定量塗布している。これにより、ストッパ部15に加わる衝撃力等を弾性接着剤により吸収及び抑制でき、ストッパ部15を補強して耐衝撃性等の機械的強度を向上できる。
【選択図】図1
Description
図1(a)〜(c)は、本発明の実施例1を示す加速度センサの概略の構成図であり、同図(a)、(b)は一部を省略した平面図、及び同図(c)は同図(b)中のA1−A2線断面図である。図2は図1の加速度センサの一部を省略した斜視図、更に、図3は図1の加速度センサの底面図である。
図4〜図7は、図1の加速度センサの製造方法例を示す概略の工程図(その1、その2、その3及びその4)であり、図4、図5は加速度センサの断面図、図6はシリコン系ゴムの塗装方法を示す図、及び図7は加速度センサの実装例を示す断面図である。
例えば、厚さ10μmで体積抵抗率6〜8Ω/cm程度のN型のシリコン基板10と、厚さ525μmで体積抵抗率16Ω/cm程度のシリコン基板20とを、厚さ4μm程度の酸化シリコンによる接合層30を介して貼り合わせたSOIウエハを準備する。
シリコン基板10の表面に、1000℃程度の加湿雰囲気を用いた熱酸化条件で、厚さ0.4μm程度の酸化シリコンによる保護膜40を形成する。
ホトリソエッチング技術を用いて保護膜40に開口部40aを設け、ボロン拡散法により、シリコン基板10の表面に抵抗素子16等となるP型の拡散層18を形成する。更に、拡散層18の表面にCVD(Chemical Vapor Deposition)法によって保護酸化膜40bを形成する。
ホトリソエッチング技術を用いて保護酸化膜40bに電極取り出し口40cを開口し、メタルスパッタリング技術を用いて保護膜40上にアルミニウムを堆積する。更に、ホトリソエッチング技術を用いてアルミニウムをエッチングし、配線41を形成する。
PRD(Plasma Reactive Deposition)法を用いて、保護膜40及びその上に形成された配線41の表面に、保護用のシリコン窒化膜43を形成する。なお、次の工程6以降の説明では、このシリコン窒化膜43の図示を省略している。
シリコン窒化膜43上にホトレジストを形成し、ホトリソエッチング技術を用いて、梁部14とストッパ部15を区画する溝11と、後の工程で周辺錘部23bとストッパ部15の間に介在する接合層30を除去するために用いる開口部17を形成する。
SOIウエハの裏面、即ちシリコン基板20の表面に、CVD技術を用いて酸化膜44を形成する。台座部21に対応するように周囲の酸化膜44を残し、中央部の酸化膜44をホトリソエッチング技術を用いて除去して、開口部44aを形成する。更に、開口部44aに中に、錘部23に対応するホトレジスト45を形成する。
周辺部に残された酸化膜44とホトレジスト45をエッチングマスクとし、ガスチョッピング・エッチング技術(GCET:Gas Chopping Etching Technology、所謂 Bosch法)を用いてシリコン基板20の表面を20μm程度エッチングし、凹部20aを形成する。その後、ホトレジスト45のみを除去する。
酸化膜44をエッチングマスクとし、GCETを用いてシリコン基板20の表面を5μm程度、追加エッチングする。これにより、厚さが台座部21よりも5μm程度薄い錘部23が得られる。
ホトリソ技術により、シリコン基板20の台座部21と錘部23の間の間隙22及び溝24を形成するためのエッチングマスク46を形成する。
GCETを用いて、シリコン基板20の間隙22と溝24を形成する。
工程11までの処理が完了したSOIウエハを緩衝フッ酸に浸漬し、シリコン基板10,20間の接合層30をエッチングする。この時、シリコン基板10に設けられた開口部17と、シリコン基板20の間隙22及び溝24から緩衝フッ酸が流入し、周辺錘部23bとストッパ部15の間に介在する接合層30が除去される。
図6は、シリコン系ゴム50の塗布方法を示す図である。シリコン系ゴム50を塗布するために、例えば、ディスペンサ70を使用する。ディスペンサ70は、先端にノズル71を有し、内部に装填した高粘度のペースト状のシリコン系ゴム50に所定の圧力を加えながら、そのノズル71から一定量のシリコン系ゴム50を供給する装置である。シリコン系ゴム50の塗布条件(ディスペンス条件)は、例えば、次の通りである。
圧力 ;400KPa
塗布速度 ;400msec
ノズル径 ;150μm
ギャップg ;0.10mm
シリコン系ゴム;開口部17から流出しない高粘度のペースト状のものを使用
通常の半導体製造方法と同様に、SOIウエハから加速度センサチップ80を切り出し、例えば、図7のようなパッケージ60に搭載する。このパッケージ60は、内部が中空になっており、内部にチップ搭載用の底部61を有し、上端開口部が蓋62で封止する構造になっている。この実装例では、底部61に加速度センサ制御用の集積回路チップ(以下「ICチップ」という。)81を固着し、この上に加速度センサチップ80を積層する。そして、加速度センサチップ80をワイヤ82により、ICチップ81及び図示しないパッケージ端子と接続した後、パッケージ60の上端開口部を蓋62により封止すれば、実装工程が終了する。この際、弾性体に変化したシリコン系ゴム50の頂部を蓋62の裏面で接触させる構造にすれば、ストッパ部15に対する補強強度が向上すると共に、パッケージ60の薄型化も可能になる。
前記の製造方法により製造された加速度センサチップ80では、次のように動作する。
パッケージ60に収容された加速度センサチップ80の錘部23に下向きの加速度が加えられると、梁部14が撓んで、その錘部23が下側に変位する。錘部23の下側への変位は、この錘部23の底面がパッケージ60の底部61(積層構造ではICチップ81の上部)に接する位置で停止され、それ以上の変位が阻止される。これに対し、錘部23に上向きの加速度が与えられると、梁部14が撓んでその錘部23が上側に変位するが、周辺錘部23bがストッパ部15に接した位置で停止され、それ以上の変位が阻止される。この際、ストッパ部15の変位がシリコン系ゴム50により補強され、特に、強い衝撃力が加わった時には、この衝撃力がシリコン系ゴム50により吸収され、耐衝撃性が著しく向上する。
本実施例1では、次の(i)〜(iv)のような効果がある。
(i) 錘部23の上側への許容量を越える変位は、シリコン系ゴム50で補強が施されたストッパ部15で阻止され、下側への許容量を越える変位は、パッケージ60の底部61(積層構造ではICチップ81の上部)で阻止される。これにより、過大な加速度による加速度センサの破壊を防止することができる。
12 周辺固定部
13 錘固定部
14 梁部
15 ストッパ部
16 抵抗素子
21 台座部
23 錘部
50,50−1〜50−3,50A シリコン系ゴム
60 パッケージ
70 ディスペンサ
Claims (9)
- 錘固定部を可撓的に支持する周辺固定部と、
前記錘固定部に固定された錘部と、
前記錘部をセンサ搭載部から所定の間隔をおいて配置するために前記周辺固定部を前記センサ搭載部に固定する台座部と、
前記センサ搭載部の底面に対向する位置に配設され、前記錘部の変位を制限するストッパ部と、
を備えた加速度センサにおいて、
前記ストッパ部上に、硬化性の弾性接着剤を一定量塗布したことを特徴とする加速度センサ。 - 錘固定部と、前記錘固定部の周辺に配置された周辺固定部と、前記錘固定部を前記周辺固定部に可撓的に連結する梁部と、前記周辺固定部の内側に配置されて錘部の変位を制限するストッパ部と、前記梁部の表面に設けられた歪検出素子とを一体に形成した第1の基板と、
前記錘固定部よりも大きな面積を有し、且つ前記台座部の厚さよりも許容変位量だけ薄く形成された前記錘部と、前記錘部の周辺に所定の間隙を介して配置されてセンサ搭載部に固定するための台座部とを一体的に形成した第2の基板と、
前記錘部の許容変位量に相当する厚さを有し、前記錘固定部と前記錘部、及び前記周辺固定部と前記台座部をそれぞれ接合する接合層と、
を備えた加速度センサにおいて、
前記ストッパ部上に、硬化性の弾性接着剤を一定量塗布したことを特徴とする加速度センサ。 - 前記弾性接着剤は、前記ストッパ部上から前記周辺固定部上に亘って一定量塗布したことを特徴とする請求項1又は2記載の加速度センサ。
- 前記弾性接着剤は、液体から弾性体に硬化するシリコン系ゴムであり、前記シリコン系ゴムをディスペンサを用いて前記ストッパ部上に1点塗り又は複数点塗りにより一定量塗布したことを特徴とする請求項1又は2記載の加速度センサ。
- 前記弾性接着剤は、液体から弾性体に硬化するシリコン系ゴムであり、前記シリコン系ゴムをディスペンサを用いて前記ストッパ部上から前記周辺固定部上に亘って所定方向の線状塗りにより一定量塗布したことを特徴とする請求項3記載の加速度センサ。
- 前記弾性接着剤の上からセンサ収納用パッケージの蓋を接触させる構成にしたことを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の加速度センサ。
- 接合層を介して貼り合わされた第1及び第2の半導体基板からなる半導体ウエハに対して、前記第1の半導体基板に機械的歪みを電気的出力に変換する歪検出手段を形成する工程と、
前記第1の半導体基板に複数の開口部を設け、錘固定部、周辺固定部、前記錘固定部を前記周辺固定部に可撓性を有するように連結する梁部、及び前記周辺固定部の内側に配置されるストッパ部を形成する工程と、
前記第2の半導体基板の周辺を台座部として残し、錘部を形成する内側に一定の深さの凹部を形成する工程と、
前記第2の半導体基板の凹部に前記台座部と前記錘部を分離する間隙を形成すると共に、前記梁部に対応する前記第2の半導体基板の領域を除去する工程と、
前記錘固定部と前記錘部、及び前記周辺固定部と前記台座部をそれぞれ接合する接合箇所を残し、前記ストッパ部と前記錘部の間の前記絶縁膜を除去する工程と、
を有する加速度センサの製造方法において、
前記絶縁膜を除去する工程の後に、液体から弾性体に硬化するシリコン系ゴムをディスペンサを用いて前記ストッパ部上に、1点塗り又は複数点塗りにより一定量塗布する工程を設けたことを特徴とする加速度センサの製造方法。 - 接合層を介して貼り合わされた第1及び第2の半導体基板からなる半導体ウエハに対して、前記第1の半導体基板に機械的歪みを電気的出力に変換する歪検出手段を形成する工程と、
前記第1の半導体基板に複数の開口部を設け、錘固定部、周辺固定部、前記錘固定部を前記周辺固定部に可撓性を有するように連結する梁部、及び前記周辺固定部の内側に配置されるストッパ部を形成する工程と、
前記第2の半導体基板の周辺を台座部として残し、錘部を形成する内側に一定の深さの凹部を形成する工程と、
前記第2の半導体基板の凹部に前記台座部と前記錘部を分離する間隙を形成すると共に、前記梁部に対応する前記第2の半導体基板の領域を除去する工程と、
前記錘固定部と前記錘部、及び前記周辺固定部と前記台座部をそれぞれ接合する接合箇所を残し、前記ストッパ部と前記錘部の間の前記絶縁膜を除去する工程と、
を有する加速度センサの製造方法において、
前記絶縁膜を除去する工程の後に、液体から弾性体に硬化するシリコン系ゴムをディスペンサを用いて前記ストッパ部上から前記周辺固定部上に亘って、所定方向の線状塗りにより一定量塗布する工程を設けたことを特徴とする加速度センサの製造方法。 - 前記一定量塗布する工程において、前記ディスペンサは、前記ストッパ部上から前記周辺固定部上に亘って前記所定方向に移動させ、塗布終了点で逆方向に戻しつつ前記周辺固定部から引き離すようにして前記シリコン系ゴムを塗布することを特徴とする請求項8記載の加速度センサの製造方法。
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