JP2006170984A - 圧力を検知するためのシステム及び方法 - Google Patents

圧力を検知するためのシステム及び方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2006170984A
JP2006170984A JP2005350087A JP2005350087A JP2006170984A JP 2006170984 A JP2006170984 A JP 2006170984A JP 2005350087 A JP2005350087 A JP 2005350087A JP 2005350087 A JP2005350087 A JP 2005350087A JP 2006170984 A JP2006170984 A JP 2006170984A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
differential pressure
pressure sensor
diaphragm layer
layer
exposed portion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005350087A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4864438B2 (ja
Inventor
Parag Thakre
パラグ・サクレ
Shankar Chandrasekaran
シャンカー・チャンドラセカラン
Kuna Venkat Satya Rama Kishore
クナ・ヴェンカット・サティヤ・ラマ・キショア
Russell William Craddock
ラッセル・ウィリアム・クラドック
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
General Electric Co
Original Assignee
General Electric Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by General Electric Co filed Critical General Electric Co
Publication of JP2006170984A publication Critical patent/JP2006170984A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4864438B2 publication Critical patent/JP4864438B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L9/00Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
    • G01L9/0001Transmitting or indicating the displacement of elastically deformable gauges by electric, electro-mechanical, magnetic or electro-magnetic means
    • G01L9/0008Transmitting or indicating the displacement of elastically deformable gauges by electric, electro-mechanical, magnetic or electro-magnetic means using vibrations
    • G01L9/0019Transmitting or indicating the displacement of elastically deformable gauges by electric, electro-mechanical, magnetic or electro-magnetic means using vibrations of a semiconductive element
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L9/00Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
    • G01L9/0001Transmitting or indicating the displacement of elastically deformable gauges by electric, electro-mechanical, magnetic or electro-magnetic means
    • G01L9/0008Transmitting or indicating the displacement of elastically deformable gauges by electric, electro-mechanical, magnetic or electro-magnetic means using vibrations
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L9/00Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
    • G01L9/0001Transmitting or indicating the displacement of elastically deformable gauges by electric, electro-mechanical, magnetic or electro-magnetic means
    • G01L9/0008Transmitting or indicating the displacement of elastically deformable gauges by electric, electro-mechanical, magnetic or electro-magnetic means using vibrations
    • G01L9/0016Transmitting or indicating the displacement of elastically deformable gauges by electric, electro-mechanical, magnetic or electro-magnetic means using vibrations of a diaphragm
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L9/00Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
    • G01L9/0001Transmitting or indicating the displacement of elastically deformable gauges by electric, electro-mechanical, magnetic or electro-magnetic means
    • G01L9/0008Transmitting or indicating the displacement of elastically deformable gauges by electric, electro-mechanical, magnetic or electro-magnetic means using vibrations
    • G01L9/0022Transmitting or indicating the displacement of elastically deformable gauges by electric, electro-mechanical, magnetic or electro-magnetic means using vibrations of a piezoelectric element

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)

Abstract

【課題】工業用途に使用するための差圧センサ(12)を提供する。
【解決手段】差圧センサ(12)は、被覆部分(38)及び露出部分(40)を持つ隔膜層(36)を含み、隔膜層(36)の露出部分(40)の第1の面が第1の開口と流体連通関係にあり且つ露出部分(40)の第2の面が第2の開口と流体連通関係にある。差圧センサ(12)はまた、隔膜層(36)の被覆部分(38)に固定され且つ所望の周波数で振動するように構成された少なくとも1つの共振装置(42)と、隔膜層(36)の変形を表す該少なくとも1つの共振装置(42)における振動を検出するように構成された検知回路(22)とを含んでいる。
【選択図】図3

Description

本発明は一般的に云えば圧力センサに関し、より具体的には、例えば、様々な工業用途にしばしば採用されているような共振型差圧センサに関するものである。
従来の差圧センサは、システムに関するデータを供給するために、システムの2つの側及び/又は領域の間の差圧を決定するように設計されている。例えば、従来の差圧センサは、センサの部品(1つ又は複数)上の2つの領域の圧力による力の正味の効果を評価することによって、2つの関心のある領域の間の圧力差を検出する。残念なことに、特定のシステムはしばしば比較的過酷である環境を示し、このような環境には一般に頑丈な圧力センサが利用されている。例えば、特定のシステムは比較的高い圧力及び/又は高い温度に露出され、その圧力センサの露出した部品は一般にこのような圧力及び/又は温度に適応するように充分に頑丈である。
米国特許第6796185号
しかしながら、従来の差圧センサでは、過酷な環境内での動作を容易にする機能がセンサの分解能に悪影響を及ぼす恐れがある。すなわち、高圧環境に耐える程に頑丈である従来の差圧センサは、その環境内での圧力差よりも数桁小さいような2つの関心のある領域の間の圧力の差を検出することができない。例えば、5000ポンド/平方インチ(psi)以上の圧力に耐える程に頑丈な従来の差圧センサは、一般に、例えば+/−10psiの圧力差を検出するのに充分な分解能を持っていない。
従って、差圧検知のための改良した方法及びシステムが要望されている。
本発明手法の模範的な一実施形態によれば、加圧環境内で使用するための差圧センサを開示する。模範的な圧力センサは、第1の開口が貫通している第1のハウジング層と、第2の開口が貫通している第2のハウジング層とを含んでいる。模範的な圧力センサはまた、第1及び第2のハウジング層の間に配置されていて、被覆部分及び露出部分を持つ隔膜層を含む。圧力センサはまた、隔膜層に結合されていて、所望の周波数で振動するように構成されている少なくとも1つの共振装置を含む。模範的な圧力センサは更に、隔膜層の変形の関数として共振装置の振動の変化を検出するように構成されている検知回路を含む。
本発明手法の別の模範的な実施形態によれば、差圧センサを製造する方法を提供する。模範的な方法では、1つ又は複数の隔膜層をエッチングして、1つ又は複数のメサ用の領域を画成する工程を含む。本方法はまた、隔膜層上のエッチングされた領域に対応する1つ又は複数のBESOI(絶縁体上のバック・エッチングされたシリコン)を形成する工程を含む。本方法は更に、隔膜層をBESOIへ結合し、隔膜層の対応する被覆部分上に共振装置を配置する工程を含む。
これらの及び他の利点及び特徴は、添付の図面に関連して提供する本発明の好ましい実施形態についての以下の詳しい説明から一層容易に理解されよう。
図1は、工業用途に使用するための差圧センサ12を含む模範的なシステム10の略図を示す。例として、工業用途には、配管用途、容器及び化学製造用途、パイプライン、圧力室、流れ装置又は同様な用途などが挙げられる。差圧センサ12は、圧力室、流れ装置、ポンプ配管又は混合室のような工業用ユニット14内に配置され、或いは本発明の議論から当業者には理解されるような同様な用途に配置される。工業用ユニット14は、それぞれの圧力が同じであるか又は互いから異なっていていよい第1の領域16及び第2の領域18を含む。2つの領域16及び18は障壁19によって互いから隔離される。センサ12はこれらの2つの領域の間の圧力差を測定する。センサ12は約0.1ポンド/平方インチ(psi)〜約15psiまでの範囲内の低い差圧を測定することができ、また、例えば、約1000psi〜約5000psiの高い静圧に耐えるほど充分に頑丈である。圧力センサ12の部品又は一連の部品の第1及び第2の領域内の圧力による力の正味の効果を決定することによって、センサ12は2つの領域の間の圧力の差を決定する。実際に、模範的なセンサ12は、以下により詳しく述べるように、比較的低い圧力差(例えば、+/−10psi)の測定を容易にすると共に、比較的高い圧力の環境(例えば、+/−5000psi)に耐えられると云う特徴を有する。更に、模範的なセンサ12はまた、比較的高い圧力差の検知を容易にすると云う特徴を有する。
システム10は、差圧センサ12に関連した他の機能部品、例えば、制御回路20、検知回路22及び処理回路24を含んでいる。検知回路22は(図3に最も良く示されているように)センサ12内に存在する共振装置の振動の変化を測定することによって隔膜層の変形を検出する。共振装置の振動の変化の測定は(図3に最も良く示されているように)隔膜層の変形に対応する。センサ12において、検知回路22は共振装置の振動の変化を検出する。検知回路22からの出力データは処理回路24によって処理されて、センサ12によって測定された差圧を表す値が生成される。システム10は更に、通信回路26と、データベース28と、遠隔監視センタ30とを含む。データベース28は、システム10に取って有益な、システム10に関する情報、例えば、環境内での差圧についての決定された情報及びセンサ12についての所定の情報を記憶するように構成されている。データベース28はまた、特定の用途又は使用のために必要とされることがあるとき、処理回路24又は検知回路22からの情報を記憶するように構成されている。以下に更に説明するように、データベース28は現地に、又は遠隔に、例えば、遠隔監視センタ30に設置することができる。
センサ12に結合された制御回路20は、センサ12の1つ又は複数の共振装置(図2)を励振して該共振装置をそれ自身の周波数で振動させるようになっている。この励振及びその結果の振動についての詳細は以下に更に説明する。
模範的な実施形態では、通信回路26は処理回路24からデータ信号32を受け取って、該データ信号32を遠隔位置へ、例えば図示の遠隔監視センタ30へ送信する。通信回路26は、通信回路26がデータ信号32を遠隔監視センタ30へ伝送することを可能にするハードウエア又はソフトウエアを含んでいる。一実施形態では、通信回路26はセルラー移動電話プロトコルに従ってデータ信号を遠隔監視センタ30へ伝送するように構成される。別の実施形態では、通信回路26は無線プロトコルに従ってデータ信号32を遠隔監視センタ30へ伝送するように構成される。また別の実施形態では、通信回路26は無線周波プロトコルに従ってデータ信号32を遠隔監視センタ30へ伝送するように構成される。勿論、当業者には、多数の通信プロトコルを採用できることが理解されよう。
図2は、差圧センサ12の上面図を示す。差圧センサ12は、被覆部分38(図3)及び露出部分40を持つ隔膜層36を含んでいる。センサは更に、隔膜層36の被覆部分に固定され且つ外部からの作動時に所望の周波数で振動するように構成されている少なくとも1つの共振装置42を含んでいる。露出部分40は加圧環境と直接に連通しており、これに対し被覆部分は加圧環境に直接には露出されていない。換言すると、隔膜層36は加圧環境から隔離されている被覆部分と加圧環境に露出されている露出部分40を提供する。
加圧環境に関してダンピング(damping) を低減し且つ共振装置42の品質係数(Q係数)を高くするために、共振装置42は真空室46内に真空封止される。すなわち、共振装置42は真空室46内において加圧環境から隔離される。真空室46の少なくとも一部はキャップ層44によって画成される。従って、共振装置42は圧力が直接印加されることに起因する損傷の可能性が少なくなる。更に、真空室46は、取られた測定値の品質係数を改善させる。共振装置42は隔膜層36の4つの側面に沿って放射方向に配置することができる。この放射方向の配列により歪みを放射方向に検出することができ、これによりセンサ12の感度及び分解能が改善される。更に、キャップ層44は共振装置42を覆うと共に、隔膜層36の部分をも覆って、隔膜層36の比較的小さい部分40のみを加圧環境にに対して露出させたままにする。このように、キャップ層44は、隔膜層36を実質的に取り囲むハウジングとして作用する。
例示した実施形態では、差圧センサ12は4つの共振装置42を含み且つ隔膜層36の露出部分40が円形であるものとして図示しているが、この例示した実施形態及び配置構成は制限するものとして見なすべきではない。本発明手法の特定の他の実施形態では、差圧センサ12は共振装置42の数をより少なく又はより多くしてもよく、また隔膜層36の露出部分40は加圧環境内で差圧を検出するために任意の適切な形状であってよい。
図3は、図2の線3−3に沿って見た差圧センサ12の断面図である。例示した実施形態では、差圧センサ12は、隔膜層36の被覆部分38に放射方向に配置された共振装置42を含んでいる。共振装置42は、以下に更に詳しく説明するように、隔膜層36をエッチングすることによって形成されたメサ45上に配置される。これらのメサ45は、隔膜層36について適当なエッチング液を使用することによって形成される隔膜層36の拡張部分である。これらのメサ45は、隔膜層36の撓みをZ方向(平面外)からX方向(平面内)へ変換するのを容易にする。1つ又は複数のBESOI(絶縁体上のバック・エッチングされたシリコン)を、隔膜層36上のエッチングされた領域(例えば、メサ45)に対応して形成することができる。このようなBESOIはウェーハと呼ばれることがあり、BESOIは隔膜層36と結合されて互いとの接触を確立する。すなわち、圧力に起因した隔膜層36の変化はBESOIに、両者の間の結合した性質により作用にして、加圧環境内での差圧の検出を容易にする。
共振装置42は、キャップ層44と隔膜層36とによって画成された真空室46内で真空封止されている。有利なことは、例えば、真空室46が共振装置42を外部の望ましくない擾乱から隔離することである。模範的なセンサ12では、隔膜層36の露出部分40のみが加圧環境内の圧力に露出され、従って、共振装置42は加圧環境内の差圧の直接的な影響を受けない。これは、例えば、共振装置42が環境内での突発的な高圧及び高温により損傷を受けるのを防止するので有利である。
典型的には、共振装置42はメサ45上に設けられており、これらのメサ45は隔膜層36のZ方向(印加圧力の方向に平行な方向)の動きをX方向(Zに対して直角な方向)に変換する。典型的には、メサ45は、平坦な頂部及び急峻な側面を持つ丘状の構造である。メサ45は、隔膜層36のZ方向の動き(すなわち、変形)を、Z方向に対して直角なX方向の有効な動きに変換し易くする。その上、隔膜層36の弾性を使用して、隔膜層36の剛性、従って動きの自由度を制御することができる。隔膜層36のヒンジ領域の変化する幾何学的形状及び寸法により、隔膜層36のコーナー近くの応力集中を最小にすることができる。更に以下に述べるように、隔膜層36が差圧に起因して変形するとき、共振装置の振動周波数が変化する。この振動周波数の変化は環境内の圧力を表す。
隔膜層36は、有益な機械的特性及び高い固有のQ係数を与える単結晶シリコンで作ることができる。背景として説明すると、共振構造のQ係数は、共振装置42のエネルギ損失と比較した1サイクル当たりのシステムの全エネルギの測度であり、またセンサの分解能及び短期安定性の測度でもある。また、シリコンのスチフネス対密度比が高いことにより、金属と比較して共振周波数がより高くなり、その結果、応答時間が速くなり且つ信号の調整が簡単化される。
図4は、本発明手法の模範的な実施形態に従った差圧センサの隔膜層上に配置された模範的な共振装置の共振ウェーハ装置48の略図である。例示した模範的な実施形態では、共振装置42は、エネルギを一入力形態から異なる出力形態へ変換する圧電性材料又は圧抵抗性材料で構成される。例えば、圧電性材料は電気的入力を機械的出力、具体的には材料の振動へ変換する。例えば、圧電性材料は、薄いポリマー・フィルム、単結晶材料又は他の圧電素子構造を含む。これらの材料は、電力源から供給される検出器電圧又は電流のような振動入力によって容易に励振される構造を形成するために使用される。共振装置42への振動入力は単一の独立の周波数、又は複数の周波数の組合せ、又は非常に多数の周波数を含む広帯域の振動であってよい。
図5は、差圧センサ12が何ら圧力差の無い環境内に位置している状態50を表す略図である。圧力検知回路22が共振装置42の振動の変化を測定し、この変化は隔膜層36の変形を表し、この変形は圧力差(すなわち、隔膜層36の対向する両面に印加された圧力P及びPの間の差)を表す。共振装置42への振動入力である検出器電圧又は電流は共振装置42を作動して、共振装置42をその共振又は固有周波数で振動させる。例示しているように、PはPに等しく、従って、何ら圧力差はない。そこで、隔膜層36の露出部分にかかる正味の力はゼロであり、隔膜層36は撓まない。従って、共振装置42はその固有周波数で振動する。
がPから異なる時には、差圧が存在する。この差圧は隔膜層36を撓ませる。隔膜層36の撓みは共振装置42の周波数に変化を生じさせ、この共振装置42の振動の共振周波数のこの差は検出器電圧又は電流を変化させて、差圧についての測度として受け取られる。当業者には理解されるように、共振周波数の変化を検出する同様な用途に容量性トランスデューサを使用することもできる。
図6は、差圧センサ12が圧力差のある環境内にある状態52を表す略図である。隔膜層36は差圧により変形し、この変形は共振装置42へ伝達されて、共振装置42の共振周波数を変化させ、周波数のこの差が差圧の測定を容易にする。共振装置42の共振周波数は隔膜層36の変形に応じて変化(増加又は減少)する。ここで、本図において、被覆部分における隔膜層の変形は例示の目的で誇張されていることに留意されたい。しかしながら、実際の装置では、被覆部分内の隔膜層の変形は露出部分の隔膜層の変形に対して非常に僅かであることがある。
例として、PがPよりも大きい場合、隔膜層36が図6に示されている様に下向きに撓む。共振装置42がまた隔膜層36に接続されているので、隔膜層36のこの下向きの変形は、最初は固有周波数で振動していた共振装置42の共振周波数を変化させる。これらの差圧センサは長期安定性を有する。その理由は、共振周波数が不安定な又は浮動する電気信号に依存せずに、むしろ隔膜層36の機械的特性に依存するからである。
1つ又は複数の共振装置42は、対称な構成をなすように隔膜層36に沿って放射方向に配置することができる。これに加えて、多数の共振装置42により一層良好な結果を得ることができると共に、データの精度を増大させることもできる。しかしながら、共振装置42の任意の他の配置構成も用いることができる。例示した実施形態では、センサ12は高い静圧に耐えると同時に低い差圧を測定することができる。その上、共振装置42は、ダンピングを低減するために真空環境下で隔膜層36の被覆部分38上に配置される。差圧センサ12は、シリコン内に目立つほどの応力を生じることなく約5000ポンド/平方インチ(psi)までの高い静圧に耐えると共に、約0.1ポンド/平方インチ(psi)〜約15ポンド/平方インチ(psi)の範囲内の差圧を0.01%の精度で測定することができるようにすることができる。
本発明手法の別の模範的な実施形態では、圧力を水平方向に差し向けるために複数のチャンネル(図を明瞭にするために図示していない)を隔膜層36の露出部分40上に配置することができる。これらのチャンネルは圧力の流れを隔膜層36に対して水平方向にするための案内部材として作用する。
図7は、差圧センサ12を製造する模範的な方法を全体的に参照数字54で示す流れ図である。先ず工程56で、メサ45用の領域を画成するために1つ又は複数の隔膜層36のエッチングを行う。メサ45は、前に述べたように隔膜層36の撓みをZ方向からX方向へ変換するために構成される。典型的には、共振装置42がメサ45上に配置される。工程58で、1つ又は複数のBESOI(絶縁体上のバック・エッチングされたシリコン)が隔膜層36上にエッチングされた1つ又は複数の領域に対応して形成される。工程60で、1つ又は複数のBESOIを1つ又は複数の隔膜層36に結合し、その場合、BESOI及び隔膜層36は互いと接触を確立する。この時点で、工程62で1つ又は複数の共振装置42を1つ又は複数のBESOI上に配置する。工程64で、キャップ層を共振装置42の頂部に配置して、共振装置42を真空封止する。前に述べたように、隔膜層36は被覆部分38及び露出部分40を有し、また共振装置42が、キャップ層によって形成された隔膜層36の被覆部分38の上に配置される。このプロセスが別の一組の隔膜層36を形成するために繰り返され、2つの隔膜層36が接合されて単一の隔膜層36を形成し、この単一の隔膜層36により差圧センサ12を形成する。隔膜層36は通常シリコン又は当該分野で公知の任意の同様な材料で作られる。BESOIは酸化シリコン及びシリコンの組合せから作られる。最初に、エッチング・プロセスの際、シリコンを先ずエッチングし、次いで当該分野で公知の異なるエッチング媒体を使用して酸化シリコンをエッチングする。ここで、本実施形態では隔膜層をエッチングする方法について述べているが、融着又は陽極結合のような方法、或いは当該分野で公知の同様な方法を上記のプロセスで使用することができることに留意されたい。
図8は差圧センサ66を例示する。前述の実施形態(図3に示したような例)では、差圧センサ12は少なくとも2つ以上の共振装置42の間の中央に配置された隔膜層36の露出部分40を有していた。図8に示す実施形態では、差圧センサ66内の隔膜層36の露出部分40は差圧センサ66の中心から外れて配置され、隔膜層36の被覆部分38上には少なくとも1つの共振装置42が配置されている。しかしながら、図8には1つの共振装置42のみが示されているが、複数の共振装置42をこの特別な配置構成で使用することができることに留意されたい。
有利なことは、本実施形態がねじり効果を実現するために特定の模範的な状態において望ましいことである。ねじりにおける動作は、全ての方向に拘束されている隔膜層36と比べて、所与の圧力差について変位で表される感度を増大させる可能性が高い。隔膜層36は、2つの高圧領域を隔離するために弾性材料を使用して、その縁に沿って封止することが必要である。隔膜層36の弾性は、隔膜層36の剛性、従って動きの自由度を制御するために使用することができる。隔膜層36のヒンジ領域の変化する幾何学的形状及び寸法により、隔膜層36のコーナー近くの応力集中を最小にすることができる。
本発明を限られた数の実施形態のみに関して詳しく説明したが、本発明がこのような開示した実施形態に制限されないことは勿論である。むしろ、本発明は、記述していないが本発明の精神及び範囲に相応する任意の数の変形、変更、置換又は等価構成を取り入れて修正することができる。更に、本発明の様々な実施形態を説明したが、本発明の様々な面は、記述した実施形態の内の幾つかのみを含むことがあることを理解されたい。従って、本発明は上記の説明によって制限されるものと見なすべきではなく、特許請求の範囲によって限定されるものである。また、図面の符号に対応する特許請求の範囲中の符号は、単に本願発明の理解をより容易にするために用いられているものであり、本願発明の範囲を狭める意図で用いられたものではない。そして、本願の特許請求の範囲に記載した事項は、明細書に組み込まれ、明細書の記載事項の一部となる。
本発明手法の模範的な実施形態に従った差圧センサの略図である。 本発明手法の模範的な実施形態に従って作られた差圧センサの上面図である。 図2の線3−3に沿って見た差圧センサの断面図である。 本発明手法の模範的な実施形態に従った差圧センサの隔膜層の上に配置された共振ウェーハ装置の上面図である。 本発明手法の模範的な実施形態に従った、何ら圧力差の無い環境内での差圧センサを表す略図である。 本発明手法の模範的な実施形態に従った、圧力差のある環境内での差圧センサを表す略図である。 本発明手法の模範的な実施形態に従った、差圧センサを製造する方法の工程図である。 本発明手法の模範的な実施形態に従った差圧センサの上面図である。
符号の説明
10 システム
12 差圧センサ
14 工業用ユニット
16 第1の領域
18 第2の領域
19 障壁
36 隔膜層
38 被覆部分
40 露出部分
42 共振装置
44 キャップ層
45 メサ
46 真空室
48 共振ウェーハ装置
50 圧力差の無い状態
52 圧力差のある状態
54 差圧センサを製造する方法
66 差圧センサ

Claims (10)

  1. 加圧環境内で使用するための差圧センサ(12)であって、
    第1の開口が貫通している第1のハウジング層と、
    第2の開口が貫通している第2のハウジング層と、
    前記第1及び第2のハウジング層の間に配置されている隔膜層(36)であって、前記第1又は第2のハウジング層、或いはそれらの層の組合せのいずれかによって覆われている被覆部分(38)、及び露出部分(40)を含んでおり、当該隔膜層(36)の前記露出部分(40)の第1の面が前記第1の開口と流体連通関係にあり且つ前記露出部分(40)の第2の面が前記第2の開口と流体連通関係にある、当該隔膜層(36)と、
    前記被覆部分(38)上に配置され且つ前記隔膜層(36)に結合されていて、所望の周波数で振動するように構成されている少なくとも1つの共振装置(42)と、
    前記隔膜層(36)の変形を表す前記少なくとも1つの共振装置(42)における振動を検出するように構成されている検知回路(22)と、
    を有する差圧センサ(12)。
  2. 前記隔膜層(36)は半導体材料で作られている、請求項1記載の差圧センサ(12)。
  3. 前記少なくとも1つの共振装置(42)は、制御回路(20)を介して外部検出器電圧又は電流によって励振されるように構成されている、請求項1記載の差圧センサ(12)。
  4. 前記差圧センサ(12)の前記露出部分(40)は前記被覆部分(38)に対して非対称に位置している、請求項1記載の差圧センサ(12)。
  5. 前記少なくとも1つの共振装置(42)は圧電材料を含んでいる、請求項1記載の差圧センサ(12)。
  6. 前記少なくとも1つの共振装置(42)は真空環境内に配置されている、請求項1記載の差圧センサ(12)。
  7. 加圧環境内で使用するための差圧センサ(12)であって、
    第1の面及び反対側の第2の面を持つハウジングと、
    前記ハウジングによって実質的に囲まれている隔膜層(36)であって、前記加圧環境から隔離されている被覆部分(38)及び前記加圧環境に露出している露出部分(40)を持っている隔膜層(36)と、
    前記隔膜層(36)の前記被覆部分(38)内に配置された少なくとも1つの共振装置(42)と、
    前記少なくとも1つの共振装置(42)に結合されていて、前記隔膜層(36)の変形を表す前記少なくとも1つの共振装置(42)の振動の変化を検出するように構成されている検知回路(22)と、
    を有する差圧センサ(12)。
  8. 前記少なくとも1つの共振装置(42)は、前記隔膜層(36)の前記露出部分(40)よりも前記ハウジングの外周縁の近くに配置されている、請求項7記載の差圧センサ(12)。
  9. 前記少なくとも1つの共振装置(42)は、制御回路(20)を介して外部検出器電圧又は電流によって励振されるように構成されている、請求項7記載の差圧センサ(12)。
  10. 前記隔膜層は半導体材料で作られている、請求項7記載の差圧センサ(12)。
JP2005350087A 2004-12-15 2005-12-05 圧力を検知するためのシステム及び方法 Active JP4864438B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/012,417 US7017418B1 (en) 2004-12-15 2004-12-15 System and method for sensing pressure
US11/012,417 2004-12-15

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006170984A true JP2006170984A (ja) 2006-06-29
JP4864438B2 JP4864438B2 (ja) 2012-02-01

Family

ID=36084282

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005350087A Active JP4864438B2 (ja) 2004-12-15 2005-12-05 圧力を検知するためのシステム及び方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7017418B1 (ja)
EP (1) EP1672345B1 (ja)
JP (1) JP4864438B2 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7305884B1 (en) * 2004-04-29 2007-12-11 Henkel Corporation In situ monitoring of reactive material using ultrasound
NO324582B1 (no) * 2006-02-03 2007-11-26 Roxar As Anordning for differensialtrykkmaling
US9486579B2 (en) * 2012-04-03 2016-11-08 Bayer Healthcare Llc High pressure sensor for use with a fluid delivery system
US9880063B2 (en) * 2013-03-13 2018-01-30 Invensense, Inc. Pressure sensor stabilization
CN105509958B (zh) * 2014-10-20 2018-11-02 华记科技有限公司 超微差压力表结构
US9903779B2 (en) * 2015-02-09 2018-02-27 Infineon Technologies Ag Sensor network supporting self-calibration of pressure sensors
TWI602084B (zh) * 2017-03-15 2017-10-11 宏碁股份有限公司 壓力辨識系統以及壓力辨識方法
EP3631810A1 (en) 2017-05-26 2020-04-08 Bayer Healthcare LLC Injector state logic with hemodynamic monitoring
US11221266B2 (en) 2019-05-22 2022-01-11 Baker Hughes Oilfield Operations Llc Automatic zero reset for a pressure transducer

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58165638A (ja) * 1982-03-26 1983-09-30 Toshiba Corp 塊状突極形回転子
JPS646837A (en) * 1987-06-30 1989-01-11 Yokogawa Electric Corp Vibration type differential pressure sensor
JPH10332512A (ja) * 1997-06-03 1998-12-18 Osaka Gas Co Ltd 差圧センサ、流量測定装置及び流量測定方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS587182B2 (ja) * 1974-03-08 1983-02-08 横河電機株式会社 サアツオウドウソウチ
US4669316A (en) * 1986-05-05 1987-06-02 The Foxboro Company Differential-pressure apparatus employing a resonant force sensor
US4878385A (en) * 1988-02-02 1989-11-07 Fisher Controls International, Inc. Differential pressure sensing apparatus
US5177661A (en) * 1989-01-13 1993-01-05 Kopin Corporation SOI diaphgram sensor
SE462874B (sv) * 1989-04-06 1990-09-10 Erik Stemme Trycksensor innefattande en tryckkaenslig flat kapsel
US5165289A (en) * 1990-07-10 1992-11-24 Johnson Service Company Resonant mechanical sensor
US5189777A (en) * 1990-12-07 1993-03-02 Wisconsin Alumni Research Foundation Method of producing micromachined differential pressure transducers
US5275055A (en) * 1992-08-31 1994-01-04 Honeywell Inc. Resonant gauge with microbeam driven in constant electric field
US5458000A (en) * 1993-07-20 1995-10-17 Honeywell Inc. Static pressure compensation of resonant integrated microbeam sensors
US5511427A (en) * 1993-07-21 1996-04-30 Honeywell Inc. Cantilevered microbeam temperature sensor
US5417115A (en) 1993-07-23 1995-05-23 Honeywell Inc. Dielectrically isolated resonant microsensors
EP0753728A3 (en) * 1995-07-14 1998-04-15 Yokogawa Electric Corporation Semiconductor differential pressure measuring device
EP0774651A3 (de) * 1995-11-14 1998-02-25 Landis & Gyr Technology Innovation AG Differenzdrucksensor
US5672808A (en) * 1996-06-11 1997-09-30 Moore Products Co. Transducer having redundant pressure sensors
FR2754342B1 (fr) * 1996-10-09 1998-11-27 Schlumberger Ind Sa Cellule de conversion d'une pression differentielle en signal electrique
EP0947815A1 (de) * 1998-04-01 1999-10-06 HAENNI & CIE. AG Differentieller Druckmessumformer
JP3800623B2 (ja) 2002-08-30 2006-07-26 横河電機株式会社 差圧/圧力伝送器

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58165638A (ja) * 1982-03-26 1983-09-30 Toshiba Corp 塊状突極形回転子
JPS646837A (en) * 1987-06-30 1989-01-11 Yokogawa Electric Corp Vibration type differential pressure sensor
JPH10332512A (ja) * 1997-06-03 1998-12-18 Osaka Gas Co Ltd 差圧センサ、流量測定装置及び流量測定方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4864438B2 (ja) 2012-02-01
EP1672345A1 (en) 2006-06-21
EP1672345B1 (en) 2015-04-15
US7017418B1 (en) 2006-03-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4864438B2 (ja) 圧力を検知するためのシステム及び方法
KR101346455B1 (ko) 차압 감지용 시스템, 차압 센서 및 차압 센서 제조 방법
US7779700B2 (en) Pressure sensor
JP5719921B2 (ja) 共鳴周波数に基づく圧力センサ
JP4998860B2 (ja) 圧力センサー素子、圧力センサー
JP2009258085A (ja) 圧力センサおよびその製造方法
JP2008232886A (ja) 圧力センサ
CN213818184U (zh) 声换能器和麦克风组件
CN102455232A (zh) 压力传感器
JP2010197374A (ja) 圧力検出ユニット、及び圧力センサー
CN109154533A (zh) 微机械本体声波谐振器压力传感器
US5969257A (en) Pressure measuring membrane with resonant element vibrating orthogonal to membrane movement
JP2004132913A (ja) 感圧素子、及びこれを用いた圧力センサ
JPH09297082A (ja) 圧力センサ
JP5712674B2 (ja) 力検出器収容ケース、力測定器
CN109461728B (zh) 封装电子时钟产生器中的密封腔
JP2010243276A (ja) 相対圧力センサー、相対圧力測定装置及び相対圧力測定方法
JP2011141186A (ja) 圧力感知ユニット、及び圧力センサー
Yu et al. A resonant high-pressure sensor based on integrated resonator-diaphragm structure
JPS60186725A (ja) 圧力センサ
JP2011149708A (ja) 力検出ユニット、及び力検出器
JP2010014572A (ja) 圧力センサ
CN117346947A (zh) 一种可实现静压测量的谐振式差压传感器及制备方法
JP2013156197A (ja) 圧力センサー、圧力計、電子機器
JP2011141223A (ja) 圧力感知ユニット、及び圧力センサー

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20081203

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20101221

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20101221

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110712

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110907

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20111018

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111109

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141118

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4864438

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250