JPS587182B2 - サアツオウドウソウチ - Google Patents
サアツオウドウソウチInfo
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- JPS587182B2 JPS587182B2 JP49027454A JP2745474A JPS587182B2 JP S587182 B2 JPS587182 B2 JP S587182B2 JP 49027454 A JP49027454 A JP 49027454A JP 2745474 A JP2745474 A JP 2745474A JP S587182 B2 JPS587182 B2 JP S587182B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detection coil
- diaphragm
- supports
- support body
- chambers
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
- G01L9/0041—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
- G01L9/007—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in inductance
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
- G01L9/10—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in inductance, i.e. electric circuits therefor
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、差圧に応動した電気信号を得るための差圧応
動装置に関するものである。
動装置に関するものである。
この種差圧応動装置の一つに、特許第534164号(
特公昭43−14313号)に示されるような装置があ
る。
特公昭43−14313号)に示されるような装置があ
る。
この装置は、第1図にその断面を示すように、ケース1
の中央にタイヤフラム2を配置させ、このダイヤフラム
によって隔てられた二つの室31,32に被測定圧力を
導びき、この圧力差によって生ずるダイヤフラム2の変
位を、検出コイル41.42で渦電流の原理を用いて検
出するようになっている。
の中央にタイヤフラム2を配置させ、このダイヤフラム
によって隔てられた二つの室31,32に被測定圧力を
導びき、この圧力差によって生ずるダイヤフラム2の変
位を、検出コイル41.42で渦電流の原理を用いて検
出するようになっている。
この装置においては、ケース1、ダイヤフラム2、検出
コイル51,52等をいずれも非磁性材料で構成するこ
とが特徴となっており、全体構成が簡単であるという利
点がある。
コイル51,52等をいずれも非磁性材料で構成するこ
とが特徴となっており、全体構成が簡単であるという利
点がある。
しかしながら、この装置においては、ケース1、ダイヤ
フラム2、検出コイルコアをいずれも非磁性材料で構成
しているため、高精度で差圧を検出するためには、例え
ば検出コイルに加える交番電源の周波数を高くする等の
工夫が必要となる。
フラム2、検出コイルコアをいずれも非磁性材料で構成
しているため、高精度で差圧を検出するためには、例え
ば検出コイルに加える交番電源の周波数を高くする等の
工夫が必要となる。
交番電源の周波遂を余り高くすると、ストレイ容量の影
響や、周囲温度の影響を受けやすくなり工業用としては
不向きである。
響や、周囲温度の影響を受けやすくなり工業用としては
不向きである。
本発明は、上記のような欠点をなくし、低周波の交流電
源を利用できるようにし、しかも温度の影響の受けない
工業用に適する差圧応動装置を実現しようとするもので
ある。
源を利用できるようにし、しかも温度の影響の受けない
工業用に適する差圧応動装置を実現しようとするもので
ある。
第2図は本発明の一実施例を示す構成図で、Aは平面図
、BはA図におけるB−B線で切断した断面図である。
、BはA図におけるB−B線で切断した断面図である。
図において、10は例えばべリリウム銅のような高導電
率、高強度材の平円板で構成された測定ダイヤフラム、
21,22は、いずれも厚さが例えば0.1mm程度の
薄さであって、耐蝕性の良い金属平円板で構成されたシ
ールダイヤフラム、31,32は支持体で、測定ダイヤ
フラム10とシールダイヤフフム21,22を支持する
。
率、高強度材の平円板で構成された測定ダイヤフラム、
21,22は、いずれも厚さが例えば0.1mm程度の
薄さであって、耐蝕性の良い金属平円板で構成されたシ
ールダイヤフラム、31,32は支持体で、測定ダイヤ
フラム10とシールダイヤフフム21,22を支持する
。
41,42は測定ダイヤフラム10と僅かばかりの空隙
を隔てて支持体31,32中に配置した検出コイル、5
1,52はケース、71,72はリード線である。
を隔てて支持体31,32中に配置した検出コイル、5
1,52はケース、71,72はリード線である。
支持体31,32は、周縁隆起部33,34を具備して
おり、測定ダイヤフラム10は、この周縁隆起部33,
34によって両側から押圧され、ネジ30によって支持
体31,32に固着されている。
おり、測定ダイヤフラム10は、この周縁隆起部33,
34によって両側から押圧され、ネジ30によって支持
体31,32に固着されている。
これによって、測定ダイヤフラム10は、支持体31と
32とによって形成される内部を二つの室11,12に
分ける。
32とによって形成される内部を二つの室11,12に
分ける。
支持体31,32の他方の面は、シールダイヤフラム2
1,22の変位曲面と一致するように凹面35,36が
設けてあり、シールダイヤフラム21,22は、この凹
面を覆い、凹面の周縁部37,38に、例えば溶接、ハ
ンダ付または類似の任意の方法によって固着される。
1,22の変位曲面と一致するように凹面35,36が
設けてあり、シールダイヤフラム21,22は、この凹
面を覆い、凹面の周縁部37,38に、例えば溶接、ハ
ンダ付または類似の任意の方法によって固着される。
これによって、シールダイヤフラム21は、支持体31
とケース51とで形成される内部を二つの室23,24
に分け、また、凹面35はシールダイヤフラム21のバ
ックアップ面を構成し、過圧が加わった場合、シールダ
イヤフラム21が凹面に接触し、測定ダイヤフラム10
が極端に撓曲するのを防いでいる。
とケース51とで形成される内部を二つの室23,24
に分け、また、凹面35はシールダイヤフラム21のバ
ックアップ面を構成し、過圧が加わった場合、シールダ
イヤフラム21が凹面に接触し、測定ダイヤフラム10
が極端に撓曲するのを防いでいる。
同様にシールダイヤフラム22は、支持体32とケース
52で形成される内部を二つの室25,26に分け、凹
面36はシールダイヤフラム22のバックアップ面を構
成している。
52で形成される内部を二つの室25,26に分け、凹
面36はシールダイヤフラム22のバックアップ面を構
成している。
支持体31の内部には、検出コイル41から一定距離だ
け隔てた位置に開口する導圧孔27が設けられており、
支持体31の両側に形成されている室11と室23とを
互に連通している。
け隔てた位置に開口する導圧孔27が設けられており、
支持体31の両側に形成されている室11と室23とを
互に連通している。
支持体32の内部にも同様に、検出コイル42から一定
距離だけ隔てた位置に開口する導圧孔28が設けられて
おり、支持体32の両側に形成されている室12と室2
5とを互に連通している。
距離だけ隔てた位置に開口する導圧孔28が設けられて
おり、支持体32の両側に形成されている室12と室2
5とを互に連通している。
ここで、この導圧孔の開口部を検出コイルからどれだけ
離すかは、検出コイルの大きさ、ここに流れる電流など
によって決められる。
離すかは、検出コイルの大きさ、ここに流れる電流など
によって決められる。
室11、導圧孔27、室23内および室12、導圧孔2
8、室25内には、それぞれ内部空間を完全に充満する
ように非圧縮性のシール流体が充填されている。
8、室25内には、それぞれ内部空間を完全に充満する
ように非圧縮性のシール流体が充填されている。
したがって、一方のシールダイヤフラムに加わる圧力は
、シール流体を介して測定ダイヤフラム10の一方の面
に正確に伝達できる。
、シール流体を介して測定ダイヤフラム10の一方の面
に正確に伝達できる。
ここで、シール流体が充填されている全容積は、測定ダ
イヤフラムおよびシールダイヤフラムが、いずれも平円
板で構成されているので、これらダイヤフラムで形成さ
れる室11,12および23,25を小さくでき、全体
で微小である。
イヤフラムおよびシールダイヤフラムが、いずれも平円
板で構成されているので、これらダイヤフラムで形成さ
れる室11,12および23,25を小さくでき、全体
で微小である。
また、温度変化によるシール流体の体積変化は、シール
ダイヤフラム21とシールダイヤフラム22とでほぼ均
等に吸収される。
ダイヤフラム21とシールダイヤフラム22とでほぼ均
等に吸収される。
したがって、温度変化によって生ずるシール流体の体積
の変化による影響を、極めて小さくすることができる。
の変化による影響を、極めて小さくすることができる。
検出コイル41,42は、例えばフエライト系ステンレ
ス鋼のような磁性材料で構成されるコア43,44に巻
回されている。
ス鋼のような磁性材料で構成されるコア43,44に巻
回されている。
そして、本発明の装置においては、これらコア43,4
4は、磁性材料であって、温度に依存する諸特性がコア
43,44の特性とほゞ逆な特性をもつスペーサ45,
46を介して、ネジ47,48により支持体31,32
のほぼ中央部に取付けられている。
4は、磁性材料であって、温度に依存する諸特性がコア
43,44の特性とほゞ逆な特性をもつスペーサ45,
46を介して、ネジ47,48により支持体31,32
のほぼ中央部に取付けられている。
したがって、周囲温度変化に伴う諸特性の変化は互にコ
ア43,44と、スペーサ45,46とで相殺し合うこ
ととなり、温度による影響を小さくすることができる。
ア43,44と、スペーサ45,46とで相殺し合うこ
ととなり、温度による影響を小さくすることができる。
また、各スペーサ45,46は、検出コイル41,42
がつくる磁束に対して磁路を形成し、検出感度を向上さ
せることができる。
がつくる磁束に対して磁路を形成し、検出感度を向上さ
せることができる。
ケース51,52は、周縁隆起部53,54を具備して
おり、この周縁隆起部53,54が支持体31,32に
固着したシールダイヤフラム21,22を覆うように支
持体31,32の表面にボルト61およびナット62に
よって押圧されている。
おり、この周縁隆起部53,54が支持体31,32に
固着したシールダイヤフラム21,22を覆うように支
持体31,32の表面にボルト61およびナット62に
よって押圧されている。
これによって、ケース51とシールダイヤフラム21と
は、密閉した室24を形成している。
は、密閉した室24を形成している。
同様に、ケース52とシールダイヤ7ラム22とで、密
閉した室26を形成している。
閉した室26を形成している。
ケース51,52には、室24,26に通ずる圧力導入
口55,56が設けてある。
口55,56が設けてある。
このように構成した装置の動作を次に説明してみよう。
圧力導入口55,56から室24,26に導入された被
測定圧は、シールダイヤフラム21,22に加えられる
。
測定圧は、シールダイヤフラム21,22に加えられる
。
シールダイヤフラム21,22に加えられた圧力は、シ
ール流体を介して室11,12に導入される。
ール流体を介して室11,12に導入される。
測定ダイヤフラム10は、室11と室12の圧力差、す
なわち被測定圧の差に応じて低圧室の方向に、測定ダイ
ヤフラム10が差圧によって受ける力と測定ダイヤフラ
ムが変位することによって生ずる反発力とが等しくなる
位置まで変位し、そこで平衡する。
なわち被測定圧の差に応じて低圧室の方向に、測定ダイ
ヤフラム10が差圧によって受ける力と測定ダイヤフラ
ムが変位することによって生ずる反発力とが等しくなる
位置まで変位し、そこで平衡する。
検出コイル41,42は、この測定ダイヤフラム10の
変位量を、例えばインダクタンス変化として検出し、こ
れから差圧に対応する電気信号を得ることができる。
変位量を、例えばインダクタンス変化として検出し、こ
れから差圧に対応する電気信号を得ることができる。
第3図は検出コイル41,42を含む電気回路の一例を
示す接続図である。
示す接続図である。
この回路は、測定ダイヤフラムの変位(例えば最大差圧
で0.1mm変位する)を高精度(例えば0.1%以下
の誤差)で検出できること、低電力で作動すること等、
工業用に適するように考慮されている。
で0.1mm変位する)を高精度(例えば0.1%以下
の誤差)で検出できること、低電力で作動すること等、
工業用に適するように考慮されている。
図において、Dは変位検出回路で、測定ダイヤフラムの
両側に配置した検出コイル41,42、ダイオードD1
〜D6、コンデンサC1〜C3、抵抗素子R1,R2で
構成されている。
両側に配置した検出コイル41,42、ダイオードD1
〜D6、コンデンサC1〜C3、抵抗素子R1,R2で
構成されている。
OSCは検出コイル41,42を励磁する発振器、Aは
発振器OSCの電源電圧を制御する増幅器、ESは定電
圧源、T1,T2は出力端子である。
発振器OSCの電源電圧を制御する増幅器、ESは定電
圧源、T1,T2は出力端子である。
いま、検出コイル41,42に交番信号を加えると、検
出コイル41,42の周囲に交番磁束が生じ、この交番
磁束は、測定ダイヤフラム10内において渦電流を誘起
させる。
出コイル41,42の周囲に交番磁束が生じ、この交番
磁束は、測定ダイヤフラム10内において渦電流を誘起
させる。
測定ダイヤフラム内に渦電流が生ずると、この渦電流に
よって新たに磁束が発生し、この渦電流による磁束は、
検出コイル41,42を流れる交番電流によって生じて
いる交番磁束を減ずるように作用する。
よって新たに磁束が発生し、この渦電流による磁束は、
検出コイル41,42を流れる交番電流によって生じて
いる交番磁束を減ずるように作用する。
交番磁束の大きさの変化は、測定ダイヤフラムの変位に
正確に対応し、検出コイル41,42の差動的なインダ
クタンス分の変化となって現われる。
正確に対応し、検出コイル41,42の差動的なインダ
クタンス分の変化となって現われる。
ここで、本発明においては、検出コイルのコア43,4
4に磁性体を使用するようにしているので、交番磁束の
変化は、検出コイル41,42において交番信号の周波
数を余り高くしなくとも大きなインダクタンス変化とな
る。
4に磁性体を使用するようにしているので、交番磁束の
変化は、検出コイル41,42において交番信号の周波
数を余り高くしなくとも大きなインダクタンス変化とな
る。
検出コイル41,42のインダクタンス分が、測定ダイ
ヤフラムの変位に対応して差動的に変化すると、ここを
流れる電I1,I2も、このインダクタンス分の変化に
対応して差動的に変化する。
ヤフラムの変位に対応して差動的に変化すると、ここを
流れる電I1,I2も、このインダクタンス分の変化に
対応して差動的に変化する。
いま、発振器OSCの出力端O1側が正、出力端O2側
が負である半周期キ考えてみると、検出コイル41を流
れる電流■■1は、D5→R2(C2)→R1(C1)
→D2→C3の経路で流れ、また、検出コイル42を流
れる電流■2は、D4→R1(C1)→D2→C3の経
路で流れる。
が負である半周期キ考えてみると、検出コイル41を流
れる電流■■1は、D5→R2(C2)→R1(C1)
→D2→C3の経路で流れ、また、検出コイル42を流
れる電流■2は、D4→R1(C1)→D2→C3の経
路で流れる。
したがって、この半周期においては、コンデンサC2に
は検出コイル41のインダクタンスに関連した電圧が貯
えられ、また、コンデンサC1には検出コイル41と4
2のインダクタンスに関連した電圧が貯えられる。
は検出コイル41のインダクタンスに関連した電圧が貯
えられ、また、コンデンサC1には検出コイル41と4
2のインダクタンスに関連した電圧が貯えられる。
発振器OSCの出力端O1側が正である次の半周期にお
いては、電流■1はC3→D1→D3の経路で流れ、ま
た電流■2はC3→D1→R2(C2)→D6の経路で
流れる。
いては、電流■1はC3→D1→D3の経路で流れ、ま
た電流■2はC3→D1→R2(C2)→D6の経路で
流れる。
したがって、この次の半周期においては、コンデンサC
2には、検出コイル42のインダクタンスに関連した電
圧が貯えられる。
2には、検出コイル42のインダクタンスに関連した電
圧が貯えられる。
よって、一周期でみるとコンデンサC2には、検出コイ
ル41と442のインダクタンスの差、すなわち測定ダ
イヤフラムの変位に対応した電圧E0が貯えられ、出力
端子T1,T2から差圧に対応した信号を得ることがで
きる。
ル41と442のインダクタンスの差、すなわち測定ダ
イヤフラムの変位に対応した電圧E0が貯えられ、出力
端子T1,T2から差圧に対応した信号を得ることがで
きる。
一方、コンデンサC1に貯えられた電流■1と■2の和
に対応した電圧e0は、増幅器Aで定電圧ESと比較さ
れ、この増幅器Aは、電圧e0が定電圧ESに対応した
一定値になるように発振器OSCの出力を制御する。
に対応した電圧e0は、増幅器Aで定電圧ESと比較さ
れ、この増幅器Aは、電圧e0が定電圧ESに対応した
一定値になるように発振器OSCの出力を制御する。
これによつって、回路の動作の安定化を得ている。
なお、上記の実施例においては、測定ダイヤフラム10
を支持体31,32によって両側からネジ30で押圧し
固着するものについて説明したが、測定ダイヤフラム1
0を支持体31,32に例えば溶接等の手段で固着する
ようにしてもよい。
を支持体31,32によって両側からネジ30で押圧し
固着するものについて説明したが、測定ダイヤフラム1
0を支持体31,32に例えば溶接等の手段で固着する
ようにしてもよい。
また、支持体31,32の両側の室を連通する導圧孔2
7,28は、ここでは4個設けたものであるが、1個で
もよいし、更に多数個設けるようにしてもよい。
7,28は、ここでは4個設けたものであるが、1個で
もよいし、更に多数個設けるようにしてもよい。
また、検出コイル41,42が接続される電気回路は、
第3図に示す以外他の回路を用いてもよい。
第3図に示す以外他の回路を用いてもよい。
以上説明したように、本発明によれば、周囲温度の影響
を受けず、しかも交番電源の周波数を余り高くしなくと
も高感度である差圧応動装置が実現できる。
を受けず、しかも交番電源の周波数を余り高くしなくと
も高感度である差圧応動装置が実現できる。
第1図は従来装置の一例を示す構成図、第2図は本発明
の一実施例を示す構成説明図で、Aは平面図、BはA図
におけるB−B断面図、第3図は本発明装置に使用され
る電気回路の一例を示す接続図である。 第2図において、10・・・測定ダイヤフラム、21,
22・・・シールダイヤフラム、31,32・・・支持
体、41,42・・・検出コイル、43,44・・・検
出コイルコ7、45,46・・・スペーサ、27,28
・・・導圧孔。
の一実施例を示す構成説明図で、Aは平面図、BはA図
におけるB−B断面図、第3図は本発明装置に使用され
る電気回路の一例を示す接続図である。 第2図において、10・・・測定ダイヤフラム、21,
22・・・シールダイヤフラム、31,32・・・支持
体、41,42・・・検出コイル、43,44・・・検
出コイルコ7、45,46・・・スペーサ、27,28
・・・導圧孔。
Claims (1)
- 1 二個の支持体、これら支持体の間に配置した測定ダ
イアフラム、前記支持体の他方の面を覆うとともに周縁
に固着したシールダイヤスラム、前記測定ダイヤフラム
と僅かばかりの間隔を隔てて前記支持体内に配置した検
出コイル、磁性体で構成した前記検出コイルのコア、前
記検出コイルに流れる電流によって生ずる磁束が通る位
置に配置され前記検出コイルコアの温度に依存する諸特
性とほぼ逆な温度特性をもつ磁性材料で構成したスペー
サを具備し、前記支持体に前記検出コイルから一定距離
だけ隔てた位置に開口し支持体の両側の室を連通する導
圧孔を設け、この導圧孔および支持体の両側の室内にシ
ール流体を充填するようにしだ差圧応動装置。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP49027454A JPS587182B2 (ja) | 1974-03-08 | 1974-03-08 | サアツオウドウソウチ |
DE2503401A DE2503401B2 (de) | 1974-03-08 | 1975-01-28 | Differenzdruckwandler |
AU77838/75A AU484365B2 (en) | 1974-03-08 | 1975-02-03 | Differential pressure transducer |
GB547375A GB1447956A (en) | 1974-03-08 | 1975-02-10 | Differntial pressure transducer |
NL7502341A NL7502341A (nl) | 1974-03-08 | 1975-02-27 | Differentiele drukopnemer. |
US05/554,491 US3995493A (en) | 1974-03-08 | 1975-03-03 | Differential pressure transducer |
CA221,622A CA1024773A (en) | 1974-03-08 | 1975-03-07 | Differential pressure transducer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP49027454A JPS587182B2 (ja) | 1974-03-08 | 1974-03-08 | サアツオウドウソウチ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS50120883A JPS50120883A (ja) | 1975-09-22 |
JPS587182B2 true JPS587182B2 (ja) | 1983-02-08 |
Family
ID=12221557
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP49027454A Expired JPS587182B2 (ja) | 1974-03-08 | 1974-03-08 | サアツオウドウソウチ |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3995493A (ja) |
JP (1) | JPS587182B2 (ja) |
CA (1) | CA1024773A (ja) |
DE (1) | DE2503401B2 (ja) |
GB (1) | GB1447956A (ja) |
NL (1) | NL7502341A (ja) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2657933C3 (de) * | 1976-12-21 | 1984-01-05 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Differenzdruck-Meßumformer mit Überlastschutz |
DE2659376C2 (de) * | 1976-12-29 | 1982-10-21 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Differenzdruck-Meßzelle |
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