JP2006157926A - 低密度パリティ検査符号の生成方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】パリティ検査行列を構成する段階と、情報部分行列とパリティ部分行列とに分割する段階と、パリティ部分行列をサブブロックに分割する段階と、第1対角部分と第2対角部分とを決定する段階と、サブブロックにシフトされた単位行列をそれぞれ配置する段階と、残りのサブブロックをゼロ行列で充填する段階と、1つのサブブロック列に奇数個のデルタ行列を配置する段階と、パリティ検査行列を記憶する段階とを含む。
【選択図】図4
Description
したがって、下記数式(6)からp1が求められ、このように順次にパリティビットを求めることができる。
20b 変数ノード
22a 検査ノード
24 検査ノードメッセージ
26 変数ノードメッセージ
22 検査ノード
25 ブランチ(エッジ)
100 パリティ検査行列
102 情報部分
104 パリティ部分
106 第1列
110 パリティ検査行列
112 情報部分
114 パリティ部分
116 ブロック
30a、30b、32 対角部分
40、42a、42b 対角部分
120 パリティ検査行列
122 情報部分
124 パリティ部分
50、50a、50b 対角部分
142 情報部分
144 パリティ部分
170、172a、172b 二重対角部分
200 コンピューターシステム
212 プロセッサ
210 メインメモリ
214 入力装置
216 出力装置
218 メモリシステム
230 システムバス
160 パリティ検査行列
162 情報部分
164 パリティ部分
470 ブロック制御器
400 変数ノード部分
410 ブロック制御器
415 加算器
417 デインタリーバ
419 インタリーバ
421 制御器
423 メモリ
425 加算器
450 検査ノード部分
429 硬判定復号器
411 変数ノードプロセッサ
413、414 スイッチ
427 検査ノードプロセッサ
Claims (17)
- 低密度パリティ検査符号の生成方法において、
長さKの情報シーケンスを長さNの符号語に符号化するために、検査ノードに対する(N−K)個の行及び変数ノードに対するN個の列を有するパリティ検査行列を構成する段階と、
前記パリティ検査行列をK個の列を有する情報部分行列と(N−K)個の列を有するパリティ部分行列とに分割する段階と、
前記パリティ部分行列をP*Pのサイズを有するサブブロックに分割する段階(ここで、Pは(N−K)の約数である)と、
前記パリティ部分行列の第1対角部分と、前記第1対角部分からサブブロックシフト量fだけシフトされた第2対角部分とを決定する段階と、
前記第1対角部分及び第2対角部分のサブブロックにシフトインデックスを有するシフトされた単位行列をそれぞれ配置する段階と、
前記第1及び第2対角部分を除いた残りのサブブロックをゼロ行列で充填する段階と、
前記パリティ部分行列の1つのサブブロック列に、それぞれただ1つの1元素だけを含み、残りの元素は全部0である奇数個のデルタ行列を配置する段階と、
前記パリティ検査行列を記憶する段階と、
を含むことを特徴とする低密度パリティ検査符号の生成方法。 - 第1対角部分は、最初のサブブロック行及び最初のサブブロック列から最終のサブブロック行及び最終のサブブロック列までのサブブロックで形成されることを特徴とする請求項1記載の低密度パリティ検査符号の生成方法。
- 前記シフトインデックスは、前記第1及び第2対角部分におけるシフトされた単位行列の全てのシフトインデックスを合算した和をPを法とした値が、Pと互いに素になるように決められることを特徴とする請求項1記載の低密度パリティ検査符号の生成方法。
- 前記デルタ行列を配置する段階において、
前記パリティ部分行列における第一サブブロック列の1つのゼロ行列をデルタ行列に置換することを特徴とする請求項1記載の低密度パリティ検査符号の生成方法。 - 前記デルタ行列は、第一列にそれぞれただ1つの1元素を含むことを特徴とする請求項1記載の低密度パリティ検査符号の生成方法。
- 前記記憶する段階は、
各検査ノードの次数、各変数ノードの次数、各行における非ゼロ行列の位置、各非ゼロ行列のシフトインデックス、各非ゼロ行列が前記デルタ行列であるか否かを示す1ビットのサブブロック情報を記憶することを特徴とする請求項1記載の低密度パリティ検査符号の生成方法。 - 前記デルタ行列である非ゼロ行列のシフトインデックスは前記デルタ行列に含まれる1元素の位置を示すことを特徴とする請求項6記載の低密度パリティ検査符号の生成方法。
- 前記記憶する段階は、
各検査ノードの次数、各変数ノードの次数、各行における非ゼロ行列の位置、各非ゼロ行列のシフトインデックスに対する情報を記憶し、デルタ行列である前記非ゼロ行列の シフトインデックスは前記Pより小さいか等しいことを特徴とする請求項1記載の低密度パリティ検査符号の生成方法。 - 低密度パリティ検査符号の生成装置において、
低密度パリティ検査符号を定義するパリティ検査行列を生成するプログラムコード及び前記生成されたパリティ検査行列を記憶するメモリシステムと、
前記プログラムコードを実行して前記パリティ検査行列を生成するプロセッサとからなり、前記プロセッサは、
長さKの情報シーケンスを長さNの符号語に符号化するために、検査ノードに対する(N−K)個の行及び変数ノードに対するN個の列を有するパリティ検査行列を構成する段階と、
前記パリティ検査行列をK個の列を有する情報部分行列と(N−K)個の列を有するパリティ部分行列とに分割する段階と、
前記パリティ部分行列をP*Pのサイズを有するサブブロックに分割する段階(ここで、Pは(N−K)の約数である)と、
前記パリティ部分行列の第1対角部分と、前記第1対角部分からサブブロックシフト量fだけシフトされた第2対角部分とを決定する段階と、
前記第1対角部分及び第2対角部分のサブブロックにシフトインデックスを有するシフトされた単位行列をそれぞれ配置する段階と、
前記第1及び第2対角部分を除いた残りのサブブロックをゼロ行列で充填する段階と、
前記パリティ部分行列の1つのサブブロック列に、それぞれただ1つの1元素だけを含み、残りの元素は全部0である奇数個のデルタ行列を配置する段階と、
前記パリティ検査行列を記憶する段階と、
を実行することを特徴とする低密度パリティ検査符号の生成装置。 - 第1対角部分は、最初のサブブロック行及び最初のサブブロック列から最終のサブブロック行及び最終のサブブロック列までのサブブロックで形成されることを特徴とする請求項9記載の低密度パリティ検査符号の生成装置。
- 前記シフトインデックスは、前記第1及び第2対角部分におけるシフトされた単位行列の全てのシフトインデックスを合算した和をPを法とした値が、Pと互いに素になるように決められることを特徴とする請求項9記載の低密度パリティ検査符号の生成装置。
- 前記デルタ行列を配置する段階において、
前記プロセッサは、前記パリティ部分行列における第一サブブロック列の1つのゼロ行列をデルタ行列に置換することを特徴とする請求項9記載の低密度パリティ検査符号の生成装置。 - 前記デルタ行列は、第一列にそれぞれただ1つの1元素を含むことを特徴とする請求項9記載の低密度パリティ検査符号の生成装置。
- 前記メモリシステムは、
各検査ノードの次数、各変数ノードの次数、各行における非ゼロ行列の位置、各非ゼロ行列のシフトインデックスに対する情報及び、各非ゼロ行列が前記デルタ行列であるか否かを示す1ビットのサブブロック情報を用いる前記パリティ検査行列で構成されることを特徴とする請求項9記載の低密度パリティ検査符号の生成装置。 - 前記デルタ行列である非ゼロ行列のシフトインデックスは前記デルタ行列に含まれる1元素の位置を示すことを特徴とする請求項14記載の低密度パリティ検査符号の生成装置。
- 前記メモリシステムは、
各検査ノードの次数、各変数ノードの次数、各行における非ゼロ行列の位置に対する情報及び各非ゼロ行列のシフトインデックスを用いる前記パリティ検査行列で構成され、デルタ行列である前記非ゼロ行列のシフトインデックスはPより小さいか等しいことを特徴とする請求項9記載の低密度パリティ検査符号の生成装置。 - 低密度パリティ検査符号の符号化方法において、
情報シーケンスを受信する段階と、
(N−K)個の行及びK個の列からなる情報部分行列及び、K個の行及びK個の列からなるパリティ部分行列で構成される(N、K)パリティ検査行列を用いて、長さKの情報シーケンスを長さNの符号語に符号化する段階と、
前記符号語を受信機に伝送する段階とから構成され、
前記パリティ検査行列はサブブロックの集合から構成され、次数が1である列が存在しないように、前記サブブロックのうち少なくとも1つにだた1つの1元素を含む行列を含んで構成されることを特徴とする低密度パリティ検査符号の符号化方法。
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