JP2006154022A - 電気光学装置、電気光学装置の検査方法及び電子機器 - Google Patents

Abstract

【課題】 断線位置を簡単に且つ迅速に特定することができる電気光学装置の検査方法及びその検査方法を用いて検査された電気光学装置を備えた電子機器を提供する。
【解決手段】 データ線駆動回路用ＩＣ１２を実装する第１ＦＰＣ基板３aを、予め、信
号出力配線１３a1〜１３aj、及び信号入力配線１４といった各種配線パターンの他に、信号出力配線１３a1〜１３ajの一端側を短絡するショートパターンＢを備えたフレキシブルプリント回路基板２５を切り出して製造するようにした。そして、フレキシブルプリント回路基板２５上にデータ線駆動回路用ＩＣ１２を実装した状態で、ショートパターンＢを介して各信号出力配線１３a1〜１３ajに検査電流Ｉｋを供給し、検流計２６によって検査電流Ｉｋが信号出力配線１３a1〜１３ajに流れたか否かを判断するようにした。
【選択図】 図８

Description

本発明は、電気光学装置、電気光学装置の検査方法及び電子機器に関するものである。

一般に、有機エレクトロルミネッセンスディスプレイや液晶ディスプレイ等といったフラットパネルディスプレイ（ＦＰＤ）は、高精細化する傾向にあり、そのためには画素ピッチを縮小する必要がある。このような高精細表示可能なディスプレイでは、画素電極と各種駆動回路用半導体集積回路との間で、電気的な接続不良が生じやすくなる。この原因としては、たとえば、データ線駆動回路用半導体集積回路（以下、「データ線駆動回路用ＩＣ」という）や走査線駆動回路用半導体集積回路（以下、「走査線駆動回路用ＩＣ」という）を実装するフレキシブルプリント回路基板上の配線パターンの断線が考えられる。またこの他に、各駆動回路用ＩＣとフレキシブルプリント回路基板との実装部分の断線、電気光学パネル上の配線パターンの断線が考えられる。

配線パターンに断線がある場合、その位置に対応した画素は、データ信号が供給されないため、同画素にある電気光学素子は発光せず暗線として表示されるため、表示品質が劣化してしまう。従って、出荷前において、各駆動回路や配線パターンに断線があるか否かを検査している。そして、断線が検出された場合は、さらに、その位置を特定するために、各種基板上の配線パターン及びＣＯＦ等の接続部の顕微鏡観察による検査及び修正を行い、また、場合によっては、一旦、実装した各種回路基板を取り外して、新しい回路基板に交換するようにしていた。このため、多大な労力と相当の時間を要していた。また、高精細なディスプレイや大型パネルを搭載したディスプレイでは、複数のデータ線駆動回路用ＩＣが必要となるため、フレキシブルプリント回路基板が複数必要になり、さらに多大な労力と相当の時間が費やされることとなる。

そこで、フレキシブルプリント回路基板を電気光学パネルに接続する前に、同フレキシブルプリント回路基板上の出力端子部にショートバーを当てて全て短絡させて、短絡した出力端子の電気的特性からフレキシブルプリント回路基板上に断線があるか否かを特定するようにしたものが提案されている。このようにすることで、断線位置がフレキシブルプリント回路基板上にあるのか、電気光学パネル上にあるのかを検出することができるので、ディスプレイ全体の断線検査する場合と比べて迅速に断線位置を特定することができる（例えば、特許文献１）。
特開平１１−６５４７６号公報

しかしながら、上記特許文献１に記載の方法では、出力端子部にショートバーを当てる等の作業が必要であり、検査作業が煩わしくなる。
そこで本発明の目的は、断線位置を簡単に且つ迅速に特定することができる電気光学装置の検査方法及びその検査方法を用いて検査された電気光学装置を備えた電子機器を提供することである。

本発明の電気光学装置は、複数のデータ線、複数の走査線、及び、前記各データ線と前記各走査線との交差に対応して各々電気光学素子を備えた複数の画素を有する電気光学パネルと、前記データ線にデータ信号を供給するデータ線駆動回路及び前記走査線に走査信号を供給する走査線駆動回路のいずれかを内蔵した半導体集積回路とを備えた電気光学装
置において、前記半導体集積回路は、前記データ線または前記走査線に対応した複数の駆動用信号線を備え、前記電気光学パネルは、前記データ線または前記走査線の一端側を短絡状態可能にする短絡配線と、前記データ線または前記走査線に電流を供給する入力端子とを備えた短絡回路を含む。

これによれば、電気光学パネルを製造した後、データ線または走査線の一端側を短絡する。そして、入力端子から電流を供給し、複数の駆動用信号線のうちの１本の駆動用信号線を選択してその駆動用信号線に前記電流が流れたか否かを確認する。その結果、電流が流れたことを確認した場合は、前記駆動用信号線が対応するデータ線または走査線と電気的に接続された状態であることが分かる。一方、電流が流れないことを確認した場合は、前記駆動用信号線が対応するデータ線または走査線と電気的に接続された状態でなく、たとえば、その接続部に断線部分があることが分かる。同様にして、他の駆動用信号線を順次選択し、入力端子から電流を供給し、その駆動用信号線に電流が流れたか否かを確認する。このようにすることで、複数本ある駆動用信号線のうち、どの駆動用信号線に対応したデータ線または走査線に断線があるのかその断線位置を簡単に且つ迅速に特定することができる。

この電気光学装置において、前記電気光学パネルは、前記短絡回路の前記データ線または前記走査線の一端側の前記短絡状態を制御する検査回路制御部を備えていてもよい。
これによれば、検査回路制御部に各種信号を入力することで前記短絡回路の前記データ線または前記走査線の一端側の前記短絡状態を制御することができる。

この電気光学装置において、前記電気光学パネルは、前記データ線または前記走査線を所定の位置で電気的に接続または切断するスイッチング手段を具備していてもよい。
これによれば、電気光学パネルを製造した後、たとえば、全てのデータ線を所定の位置でそれぞれ電気的に切断する。そして、短絡回路を制御して全てのデータ線の一端側を短絡する。上記状態で、入力端子から電流を供給し、複数の駆動用信号線のうちの１本の駆動用信号線を選択して、その駆動用信号線に前記電流が流れたか否かを確認する。その結果、電流が流れたことを確認した場合は、前記駆動用信号線と対応するデータ線とが電気的に接続された状態であることが分かる。一方、電流が流れないことを確認した場合は、前記駆動用信号線と対応するデータ線とが電気的に接続された状態でなく、断線部分があることが分かる。そして、同様にして、他の駆動用信号線を順次選択し、入力端子から電流を供給し、その駆動用信号線に前記電流が流れたか否かを確認する。このようにすることで、複数本ある駆動用信号線のうち、どの駆動用信号線が対応するデータ線と断線しているのかその断線位置を簡単に且つ迅速に特定することができる。

続いて、全てのデータ線を所定の位置でそれぞれ電気的に接続する。そして、短絡回路を制御して各データ線の一端側を短絡しないようにする。上記状態で、複数の駆動用信号線のうちの１本の駆動用信号線を選択してその駆動用信号線にデータ信号を供給し、同データ線に対応して形成された画素の電気光学素子が発光するか否かを確認する。その結果、画素の電気光学素子が発光したことを確認した場合は、前記データ線に断線部分が無いことが分かる。

一方、前記電気光学素子が発光しないことを確認した場合は、前記データ線に断線部分があることが分かる。また、同様にして、他の駆動用信号線を順次選択し、入力端子から電流を供給し、対応する画素の電気光学素子が発光するか否かを確認する。このようにすることで、複数本あるデータ線のうち、どのデータ線が断線しているのかその断線位置を簡単に且つ迅速に特定することができる。

また、走査線についても上記と同様にすることで、複数本ある駆動用信号線のうち、ど
の駆動用信号線が対応する走査線と断線しているのかその断線位置を簡単に且つ迅速に特定することができる。また、複数本ある走査線のうち、どの走査線が断線しているのかその断線位置を簡単に且つ迅速に特定することができる。

この電気光学装置において、前記半導体集積回路は、前記電気光学パネル上に実装されていてもよい。
これによれば、電気光学パネル上にＩＣを実装した状態で、複数の駆動用信号線の各々に順に検査電流を供給し、駆動用信号線を介してデータ線または走査線に検査電流が流れたか否かを確認するようにする。このようにすることで、電気光学パネル上のどのデータ線上または走査線上に断線しているかを特定することができる。

この電気光学装置において、前記電気光学パネルは、前記駆動用信号線に接続する複数の信号配線を備えた回路基板に接続され、前記半導体集積回路は、前記回路基板上に実装されていてもよい。

これによれば、回路基板上に半導体集積回路を実装した状態で、複数の信号配線の各々に順に検査電流を供給し、各信号配線に検査電流が流れたか否かを確認するようにする。このようにすることで、複数の信号配線のうち、どの信号配線上に断線があるかを特定することができる。また、複数の回路基板を備えた場合では、どの回路基板の信号配線上に断線があるかを特定することができる。

また、電気光学パネルに回路基板を接続した状態で、複数の信号配線の各々に順に電力を供給し、各信号配線を介してデータ線または走査線に接続する各画素の電気光学素子が発光するか否かを確認するようにする。このようにすることで、どのデータ線または走査線が断線しているかを特定することができる。

この電気光学装置において、前記回路基板は、ＴＣＰやＣＯＦのパッケージ形体であってもよい。
これによれば、ＣＯＦ（Chip On Flexible Board）及びＴＣＰ（Tape Carrier Package）のパッケージ形体によって実装された半導体集積回路と回路基板との接続部での各信号配線上に断線しているかを特定することができる。

この電気光学装置において、前記電気光学素子は、エレクトロルミネッセンス素子または電流駆動型素子であってもよい。
これによれば、電気光学素子として、たとえば、その発光層が有機物で構成された有機エレクトロルミネッセンス素子を備えた、所謂有機エレクトロルミネッセンスディスプレイ等の製造工程において、その製造されたディスプレイの各データ線や走査線に断線部分があるか否かを確実に判断することができる。

本発明の電気光学装置の検査方法は、複数のデータ線、複数の走査線、及び、前記各データ線と前記各走査線との交差に対応して各々電気光学素子を備えた複数の画素を有する電気光学パネルと、前記データ線にデータ信号を供給するデータ線駆動回路及び前記走査線に走査信号を供給する走査線駆動回路のいずれかを内蔵した半導体集積回路とを備えた電気光学装置の検査方法において、前記半導体集積回路内の前記データ線または前記走査線に接続される複数の駆動用信号線の一端側を短絡するステップと、前記各駆動用信号線に検査電流を供給するステップと、前記駆動用信号線の一端側に前記検査電流が出力されるか否かを検出するステップとを備えている。

これによれば、電気光学パネルを製造した後、データ線または走査線の一端側を短絡する。そして、入力端子から電流を供給し、複数の駆動用信号線のうちの１本の駆動用信号
線を選択してその駆動用信号線に前記電流が流れたか否かを確認する。その結果、電流が流れたことを確認した場合は、前記駆動用信号線が対応するデータ線または走査線と電気的に接続された状態であることが分かる。一方、電流が流れないことを確認した場合は、前記駆動用信号線が対応するデータ線または走査線と電気的に接続された状態でなく、たとえば、その接続部に断線部分があることが分かる。同様にして、他の駆動用信号線を順次選択し、入力端子から電流を供給し、その駆動用信号線に電流が流れたか否かを確認する。このようにすることで、複数本ある駆動用信号線のうち、どの駆動用信号線に対応したデータ線または走査線に断線があるのかその断線位置を簡単に且つ迅速に特定することができる。

この電気光学装置の検査方法において、前記データ線または前記走査線を所定の位置で電気的に切断した状態で前記各駆動用信号線に検査電流を供給するステップを備えていてもよい。

これによれば、電気光学パネルを製造した後、たとえば、全てのデータ線を所定の位置でそれぞれ電気的に切断する。そして、短絡回路を制御して全てのデータ線の一端側を短絡する。上記状態で、入力端子から電流を供給し、複数の駆動用信号線のうちの１本の駆動用信号線を選択して、その駆動用信号線に前記電流が流れたか否かを確認する。その結果、電流が流れたことを確認した場合は、前記駆動用信号線と対応するデータ線とが電気的に接続された状態であることが分かる。一方、電流が流れないことを確認した場合は、前記駆動用信号線と対応するデータ線とが電気的に接続された状態でなく、断線部分があることが分かる。そして、同様にして、他の駆動用信号線を順次選択し、入力端子から電流を供給し、その駆動用信号線に前記電流が流れたか否かを確認する。このようにすることで、複数本ある駆動用信号線のうち、どの駆動用信号線が対応するデータ線と断線しているのかその断線位置を簡単に且つ迅速に特定することができる。

続いて、全てのデータ線を所定の位置でそれぞれ電気的に接続する。そして、短絡回路を制御して各データ線の一端側を短絡しないようにする。上記状態で、複数の駆動用信号線のうちの１本の駆動用信号線を選択してその駆動用信号線にデータ信号を供給し、同データ線に対応して形成された画素の電気光学素子が発光するか否かを確認する。その結果、画素の電気光学素子が発光したことを確認した場合は、前記データ線に断線部分が無いことが分かる。

一方、前記電気光学素子が発光しないことを確認した場合は、前記データ線に断線部分があることが分かる。また、同様にして、他の駆動用信号線を順次選択し、入力端子から電流を供給し、対応する画素の電気光学素子が発光するか否かを確認する。このようにすることで、複数本あるデータ線のうち、どのデータ線が断線しているのかその断線位置を簡単に且つ迅速に特定することができる。

また、走査線についても上記と同様にすることで、
複数本ある駆動用信号線のうち、どの駆動用信号線が対応する走査線と断線しているのかその断線位置を簡単に且つ迅速に特定することができる。また、複数本ある走査線のうち、どの走査線が断線しているのかその断線位置を簡単に且つ迅速に特定することができる。

本発明の電子機器は、上記電気光学装置の検査方法を用いて製造された電気光学装置を備えている。
これによれば、製造時に各信号配線上の断線位置を迅速に且つ確実に特定されるので、歩留まりの少ない電子機器が製造される。

（第１実施形態）
以下、本発明の電気光学装置を有機エレクトロルミネッセンスディスプレイ（以下、「有機ＥＬディスプレイ」という）に具体化した一実施形態について説明する。

図１は、本発明の有機ＥＬディスプレイの上面図であり、図２は有機ＥＬパネルの電気的構成図である。図１に示すように、有機ＥＬディスプレイ１は、ガラス基板ＧＳを用いて構成された有機ＥＬパネル２と、該有機ＥＬパネル２の一側に接続された４個のフレキシブルプリント回路基板（以下、「ＦＰＣ基板という」）３a〜３dと、各ＦＰＣ基板３a
〜３dに接続された制御基板４とを備えている。

有機ＥＬパネル２は、その略中央部に画像を表示する表示領域６と、表示領域６を囲む外周部に非表示領域７とを備えている。表示領域６上には、各種配線パターンが形成されている。詳しくは、図２に示すように、表示領域６上には、ｎ本の走査線ＬＹ1〜ＬＹn及び各走査線ＬＹ1〜ＬＹnに対して交差するように配置されたｍ本のデータ線ＬＸ1〜ＬＸmが形成されている。また、表示領域６上には、各走査線ＬＹ1〜ＬＹnに平行にｎ本の電源供給線ＬＺが形成されている。さらに、各走査線ＬＹ1〜ＬＹnと各データ線ＬＸ1〜ＬＸmとの交差に対応して有機エレクトロルミネッセンス素子（以下、「有機ＥＬ素子」という）８を備えた画素９が配置されている。

各走査線ＬＹ1〜ＬＹnは、図３に示すように、第１副走査信号ＳＣ1aを供給する第１副走査線ＬＹ1aと、第２副走査信号ＳＣ1bを供給する第２副走査線ＬＹ1bとから構成されている。そして、例えば、本実施形態では、図２中最上側に位置する第１走査線ＬＹ1から
最下側に位置する第ｎ走査線ＬＹnに向かって、第１走査線ＬＹ1→第２走査線ＬＹ2→…
→第ｎ走査線ＬＹnの順に選択されるようになっている。一方、各データ線ＬＸ1〜ＬＸm
には、アナログ信号であるデータ信号ＳＤ1〜ＳＤmが供給されるようになっている。また、各電源供給線ＬＺには外部電源供給回路から供給される定電圧Ｖｄｄが供給されるようになっている。

本実施形態の画素９は、有機ＥＬ素子８に供給される駆動電流Ｉｄを制御するスイッチングトランジスタや駆動トランジスタ等といった各種電子回路素子で構成された公知の画素である。

図３は、画素９の内部構成を示す回路図である。尚、画素９の回路構成は、全て同じであるので、説明の便宜上、第１走査線ＬＹ1と第１データ線ＬＸ1との交差に対応して配置された画素９の回路構成についてのみ説明し、他の画素９の回路構成についての説明は省略する。

図３に示すように、画素９は、有機ＥＬ素子８、駆動トランジスタＱd、第１スイッチ
ングトランジスタＱsw1、第２スイッチングトランジスタＱsw2、制御用トランジスタＱc
、及び保持コンデンサＣoを有している。

保持コンデンサＣoは、データ線ＬＸ1を介して供給されるデータ信号（アナログ電流）ＳＤ1に応じた電荷を保持し、これにより、駆動電流Ｉｄの電流値を制御することで有機
ＥＬ素子８の発光輝度を調節するためのものである。第１及び第２スイッチングトランジスタＱsw1，Ｑsw2、制御用トランジスタＱcは、それぞれｎチャネル型ＴＦＴであり、駆
動トランジスタＱdはｐチャネル型ＴＦＴである。有機ＥＬ素子８は、発光ダイオードと
同様に電流駆動型の発光素子なので、ここではダイオードの記号で描かれている。

第１スイッチングトランジスタＱsw1のソースは、第２スイッチングトランジスタＱsw2
及び制御用トランジスタＱcの各ドレインと接続されている。第１スイッチングトランジ
スタＱsw1のドレインは、駆動トランジスタＱdのゲートに接続されている。保持コンデンサＣoは、駆動トランジスタＱdのゲート／ソース間に接続されている。また、駆動トランジスタＱdのソースは、電源供給線ＬＺにも接続されている。

第２スイッチングトランジスタＱsw2は、そのソースが第１データ線ＬＸmに接続されている。有機ＥＬ素子８は、その陽極が制御用トランジスタＱcのソースに接続され、陰極
が接地されている。

第１及び第２スイッチングトランジスタＱsw1，Ｑsw2の各ゲートは第１副走査線ＬＹ1aに共通に接続され、第１副走査信号ＳＣ1aが入力される。また、制御用トランジスタＱc
のゲートは、第２副走査線ＬＹ1bに接続され、第２副走査信号ＳＣ1bが入力される。そして、前記したように、この第１副走査信号ＳＣ1aと第２副走査信号ＳＣ1bとで第１走査信号ＳＣ1が構成され、また、第１副走査線ＬＹ1aと第２副走査線ＬＹ1bとで第１走査線Ｌ
Ｙ1が構成されている。

図７は、画素９の動作を説明するためのタイミングチャートである。ここでは、第１副走査線ＬＹ1aを介して入力される第１副走査信号ＳＣ1a、第２副走査線ＬＹ1bを介して入力される第２副走査信号ＳＣ1b、データ線ＬＸ1を介して入力されるデータ信号ＳＤ1、及び、有機ＥＬ素子８に流れる駆動電流Ｉｄが示されている。

また、フレーム期間Ｔｃは、ｎ本の全ての走査線ＬＹ1〜ＬＹnが一巡して選択され終わる期間である。プログラム期間Ｔ1は、有機ＥＬ素子８の発光輝度を画素９内に設定する
期間であり、第１副走査線ＬＹ1aを介して入力される第１副走査信号ＳＣ1aによって決定される。発光期間Ｔ2は、有機ＥＬ素子８が発光する期間であり、第２副走査線ＬＹ1bを
介して入力される第２副走査信号ＳＣ1bによって決定される。

プログラム期間Ｔ1では、まず、第１副走査線ＬＹ1aを介してＨレベルの第１副走査信
号ＳＣ1aが供給され、第１及び第２スイッチングトランジスタＱsw1，Ｑsw2が共にオン状態になる。また、第２副走査線ＬＹ1bを介してＬレベルの第２副走査信号ＳＣ1bが供給され、制御用トランジスタＱcがオフ状態になる。第１スイッチングトランジスタＱsw1がオン状態になると駆動トランジスタＱdがダイオード接続される。このタイミングで、第１
データ線ＬＸ1を介して第１データ信号ＳＤ1が供給される。従って、プログラム期間Ｔ1
では、駆動トランジスタＱd→第２スイッチングトランジスタＱsw2→第１データ線ＬＸ1
に沿って第１データ信号ＳＤ1が流れる。その結果、保持コンデンサＣoには、第１データ信号ＳＤ1に対応した電荷が保持される。その後、第１副走査線ＬＹ1aを介してＬレベル
の第１副走査信号ＳＣ1aが供給され、第１及び第２スイッチングトランジスタＱsw1，Ｑsw2が共にオフ状態になり、プログラム期間Ｔ1が終了する。

プログラム期間Ｔ1が終了すると、発光期間Ｔ2に入り、第２副走査線ＬＹ1bを介してＨレベルの第２副走査信号ＳＣ1bが供給され、制御用トランジスタＱcがオン状態になる。
このとき、第１及び第２スイッチングトランジスタＱsw1，Ｑsw2は共にオフ状態が保持されている。また、このタイミングで、第１データ線ＬＸ1を介して第１データ信号ＳＤ1の供給が停止する。

この状態では、保持コンデンサＣoには、データ信号ＳＤ1に対応した電荷が保持されているので、駆動トランジスタＱｄのソース／ドレイン間には、データ信号ＳＤ1に応じた
電流値を有した電流が流れ、この電流が制御用トランジスタＱcを介して駆動電流Ｉdとして有機ＥＬ素子８の陽極／陰極間に流れ込む。この結果、発光期間Ｔ2の間では、有機Ｅ
Ｌ素子８は、データ信号ＳＤ1に応じた輝度で発光する。

尚、有機ＥＬ素子８は、発光層が有機材料で構成されたエレクトロルミネッセンス素子であって、赤色の光を出射する赤用有機ＥＬ素子、緑色の光を出射する緑用有機ＥＬ素子、青色の光を出射する青用有機ＥＬ素子である。そして、各色用有機ＥＬ素子は、たとえば行方向に沿って赤用有機ＥＬ素子→緑用有機ＥＬ素子→青用有機ＥＬ素子→赤用有機ＥＬ素子→…の順に繰り返して配置されている。そして、各色用の有機ＥＬ素子８がデータ信号ＳＤ1〜ＳＤmに応じた輝度で発光することにより表示領域６上には所望のフルカラーの画像が表示される。

一方、図１及び図２に示すように、非表示領域７には、走査線駆動回路１０が形成されている。走査線駆動回路１０は、図示しないシフトレジスタ、出力回路等を内蔵している。本実施形態では、シフトレジスタ、出力回路等といった走査線駆動回路１０を構成する電子回路素子は、ガラス基板ＧＳ上に直接形成されている。走査線駆動回路１０は、図示しない外部回路から水平同期信号HSYNC及び垂直同期信号VSYNCを入力する。そして、走査線駆動回路１０は、水平同期信号HSYNCに基づいて、Ｈレベルの第１副走査信号ＳＣ1a〜
ＳＣnaを順次出力することで走査線ＬＹ1〜ＬＹnを第１走査線ＬＹ1→第２走査線ＬＹ2→…→第ｎ走査線ＬＹn→第１走査線ＬＹ1→…の順に選択する。

また、図２に示すように、非表示領域７の下側には、各データ線ＬＸ1〜ＬＸmに対応したｍ個のアナログスイッチ１１a1〜１１amが形成されている。さらに、図１に示すように、非表示領域７上の各アナログスイッチ１１a1〜１１amの下方側には、４個の接続部７ａが形成されている。各接続部７ａは、ｊ本のデータ線ＬＸ1〜ＬＸjに対応したｊ個の入力端子Ｐi1〜Ｐijが形成されている。そして、非表示領域７上全体としてはｍ本のデータ線ＬＸ1〜ＬＸmに対応したｍ個の入力端子Ｐi1〜Ｐimが形成されている。各アナログスイッチ１１a1〜１１amは、例えば、ＭＯＳ型トランジスタで構成され、オン・オフ制御されることで入力端子Ｐi1〜Ｐimと、対応するデータ線ＬＸ1〜ＬＸmとを電気的に接続または切断するためのものである。また、各入力端子Ｐi1〜Ｐijは、各第１〜第４ＦＰＣ基板３a
〜３d（図１参照）上に形成された出力端子Ｐo1〜Ｐoj（図４参照）と異方導電性膜（ACF）によって接続（ACF接続）されるようになっている。

また、非表示領域７には、外部入力端子３１及び検査用配線Ｌｔが形成されている。外部入力端子３１は、検査電流Ｉｋを入力するための端子である。検査用配線Ｌｔは、接続部７ａとアナログスイッチ１１a1〜１１amとの間に各データ線ＬＸ1〜ＬＸmを横切るように配線されている。検査用配線Ｌｔは、所定の１つのアナログスイッチ１１a1〜１１amと外部入力端子３１とを電気的に接続・遮断可能にするためのｍ−１個の検査用スイッチ３０a1〜３０am―1を備えている。この検査用スイッチ３０a1〜３０am―1がオン状態になることで各アナログスイッチ１１a1〜１１amを介して各データ線ＬＸ1〜ＬＸm同士が電気的に接続され短絡する短絡回路を構成する。

さらにまた、非表示領域７には、第１検査回路制御部ＨＡが設けられている。第１検査回路制御部ＨＡは、コントロール端子Ｔa1を備えている。そして、各アナログスイッチ１１a1〜１１amは、コントロール端子Ｔa1の状態により第１検査回路制御部ＨＡから供給される第１制御信号ＳＰaによってオン・オフ制御されるようになっている。また、各検査
用スイッチ３０a1〜３０am―1は、第１検査回路制御部ＨＡから供給される制御信号Ｓに
応じてオン・オフ制御されるようになっている。

図１に示すように、制御基板４上には、制御用半導体集積回路（以下、「制御用ＩＣ」という）４ａが実装されている。この制御用ＩＣ４ａは、データ信号ＳＤ1〜ＳＤmを決定するための画像データＤ（図４参照）を生成し対応する各第１〜第４ＦＰＣ基板３a〜３dに供給するためのＩＣである。また、図１に示すように、各第１〜第４ＦＰＣ基板３a〜
３d上には、データ線駆動回路用半導体集積回路（以下、「データ線駆動回路用ＩＣ」と
いう）１２が実装されている。

図４及び図５は、それぞれ第１〜第４ＦＰＣ基板３a〜３dの構成を説明するための図である。図４は第１ＦＰＣ基板３aの上面図であり、図５は第１ＦＰＣ基板３aの一部断面図である。尚、第１〜第４ＦＰＣ基板３a〜３dは基本的に全て同じ構成であるので、第１ＦＰＣ基板３aについてのみ説明し、他の第２〜第４ＦＰＣ基板３b〜３dの説明は省略する
。

図４に示すように、第１ＦＰＣ基板３a上には、データ線駆動回路用ＩＣ１２の他に各
種配線パターンが形成されている。詳しくは、データ信号ＳＤ1〜ＳＤjを供給するｊ本の信号出力配線１３a1〜１３aj、及び画像データＤを供給する信号入力配線１４が形成されている。また、信号出力配線１３a1〜１３ajの一端側には、同信号出力配線１３a1〜１３ajのそれぞれに接続されたｊ個の出力端子Ｐo1〜Ｐojが形成されている。本実施形態の第１ＦＰＣ基板３aは、図５に示すように、ＣＯＦ（Chip On Flexible Board）のパッケー
ジ形体である。つまり、データ線駆動回路用ＩＣ１２が実装される実装部分に対向した各信号出力配線１３a1〜１３aj及び信号入力配線１４上には、例えば、金（Ａｕ）で構成されたバンプＢＰが配置されている。そして、データ線駆動回路用ＩＣ１２は、バンプＢＰを介してデータ線駆動回路用ＩＣ１２の入出力端子（図示略）と、各信号出力配線１３a1〜１３aj及び信号入力配線１４と接続されるようになっている。

そして、信号入力配線１４に供給された画像データＤは、各バンプＢＰを介してデータ線駆動回路用ＩＣ１２に入力され、また、同データ線駆動回路用ＩＣ１２から出力されたデータ信号ＳＤ1〜ＳＤjは、各バンプＢＰを介して対応する信号出力配線１３a1〜１３ajに出力される。尚、データ線駆動回路用ＩＣ１２近傍の各信号出力配線１３a1〜１３aj及び信号入力配線１４上にはソルダーレジスト１５が設けられている。そして、該ソルダーレジスト１５とデータ線駆動回路用ＩＣ１２との間には、例えばアンダーフィル材Ａoで
コーティングされることでデータ線駆動回路用ＩＣ１２が第１ＦＰＣ基板３a上に強固に
固定されている。

図６は、データ線駆動回路用ＩＣ１２内部の電気的構成を説明するための図である。図６に示すように、データ線駆動回路用ＩＣ１２は、ｊ個の単一ラインドライバ１６を備えたデータ線駆動回路を内蔵したＩＣである。

各単一ラインドライバ１６は、デジタル・アナログ変換回路２０と、同デジタル・アナログ変換回路２０に接続しデータ信号ＳＤ1〜ＳＤjを供給する駆動用信号線Ｌ1〜Ｌjと、同駆動用信号線Ｌ1〜Ｌj上に形成されたスイッチＳｗ1〜Ｓｗjと、各駆動用信号線Ｌ1〜
Ｌjに接続してなる出力端子２２a1〜２２ajとを備えている。

デジタル・アナログ変換回路２０は、信号入力配線１４に接続され同信号入力配線１４を介して入力された画像データＤをそのデータ値に応じた大きさのアナログ信号であるデータ信号ＳＤ1〜ＳＤjに変換する公知のデジタル・アナログ変換回路である。スイッチＳｗ1〜Ｓｗjは、オン状態に制御された状態では、デジタル・アナログ変換回路２０にて生成されたデータ信号ＳＤ1〜ＳＤjを駆動用信号線Ｌ1〜Ｌjを介して対応する出力端子２２a1〜２２ajに供給する。

また、データ線駆動回路用ＩＣ１２の内部には、第２検査回路制御部ＨＢが設けられている。第２検査回路制御部ＨＢは、コントロール端子Ｔb1及びクロック信号入力端子Ｔb2を備えている。そして、各スイッチＳｗ1〜Ｓｗjは、コントロール端子Ｔb1の状態により第２検査回路制御部ＨＢから供給される第２制御信号ＳＰbによってオン・オフ制御され
るようになっている。また、各スイッチＳｗ1〜Ｓｗjをオンするタイミングは、クロック信号入力端子Ｔb2から入力されるクロック信号ＣＬＫに同期して第１スイッチＳｗ1→第
２スイッチＳｗ2→第３スイッチＳｗ3→第４スイッチＳｗ4→第５スイッチＳｗ5→…→第ｊスイッチＳｗjの順にオン状態に制御される。

このような構成を成した第１ＦＰＣ基板３aは、図８（ａ）に示すような縦長のフレキ
シブルプリント回路基板２５を切り出して製造されたものである。図８（ａ）に示すように、フレキシブルプリント回路基板２５上には、信号出力配線１３a1〜１３aj、及び信号入力配線１４といった各種配線パターンの他に、ショートパターンＢ、該ショートパターンＢに接続してなる入力ランド２５ａが形成されている。

ショートパターンＢは、各信号出力配線１３a1〜１３ajの一端側を短絡するものである。入力ランド２５ａには、検流計２６を介して図示しない外部電流生成回路にて生成された検査電流Ｉｋが供給されるようになっている。従って、入力ランド２５ａから入力された検査電流Ｉｋは、ショートパターンＢを介して各信号出力配線１３a1〜１３ajに入力可能となっている。

次に、このように構成された有機ＥＬディスプレイ１の検査方法について説明する。
尚、有機ＥＬディスプレイ１の製造工程において、予め、有機ＥＬパネル２、第１〜第４ＦＰＣ基板３a〜３d、データ線駆動回路用ＩＣ１２がそれぞれ別々に製造された状態である。そして、本実施形態では、第１〜第４ＦＰＣ基板３a〜３dは予め制御基板４に接続された状態になっている。

先ず、図８（ａ）に示したように、フレキシブルプリント回路基板２５上にバンプＢＰを介してデータ線駆動回路用ＩＣ１２を実装する。このとき、初期条件として、第２検査回路制御部ＨＢから全てのスイッチＳｗ1〜Ｓｗjをオフ状態にする旨の第２制御信号ＳＰbを供給し、各スイッチＳｗ1〜Ｓｗjがオフ状態になるように設定する。尚、各データ線
駆動回路用ＩＣ１２は、公知の検査方法によって各単一ラインドライバ１６同士がショートしていなく、正常動作することが確認されたものである。

次に、フレキシブルプリント回路基板２５上にデータ線駆動回路用ＩＣ１２が実装された状態で、入力ランド２５ａに検流計２６を介して検査電流Ｉｋを入力可能な状態にする。そして、第２検査回路制御部ＨＢのクロック信号入力端子Ｔb2にクロック信号ＣＬＫを入力し、先ず、第１スイッチＳｗ1のみがオンになる旨の第２制御信号ＳＰbが供給される。すると、第１スイッチＳｗ1のみがオン状態になり、他の第２〜第ｊスイッチＳｗ2〜Ｓｗjを全てオフ状態にする。また、入力ランド２５ａに検流計２６を介して検査電流Ｉｋ
を入力する。

そして、検査電流Ｉｋが流れたか否かを検流計２６によって確認する。その結果、検査電流Ｉｋが流れた場合は、第１信号出力配線１３a1と第１駆動用信号線Ｌ1とがバンプＢ
Ｐを介して電気的に接続されていることが示される。従って、この場合、デジタル・アナログ変換回路２０にて変換された第１データ信号ＳＤ1が第１駆動用信号線Ｌ1を介して第１信号出力配線１３a1に出力可能であり、第１信号出力配線１３a1については正常に機能することが分かる。

一方、検査電流Ｉｋが流れていないことが確認された場合は、第１信号出力配線１３a1と第１駆動用信号線Ｌ1とが電気的に切断状態であることが示される。この場合、デジタ
ル・アナログ変換回路２０にて変換された第１データ信号ＳＤ1が第１駆動用信号線Ｌ1を介して第１信号出力配線１３a1に出力不可能であり、第１信号出力配線１３a1、及びバンプＢＰを介して同第１信号出力配線１３a1と第１駆動用信号線Ｌ1との接続部に断線部分
があることが分かる。そして、断線部分があると判断された場合は、従来のように、顕微鏡観察等することで断線位置を特定し修繕する。

次に、第２スイッチＳｗ2のみをオンにする旨の第２制御信号ＳＰbが供給されて、第２スイッチＳｗ2のみがオン状態になり、他の第１スイッチＳｗ1及び第３〜第ｊスイッチＳｗ3〜Ｓｗjがオフ状態になる。そして、検査電流Ｉｋが流れたか否かを検流計２６によって確認する。その結果、検査電流Ｉｋが流れた場合は、第２信号出力配線１３a2と第２駆動用信号線Ｌ2とがバンプＢＰを介して電気的に接続されていることが示される。従って
、この場合、デジタル・アナログ変換回路２０にて変換された第２データ信号ＳＤ2が第
２駆動用信号線Ｌ２を介して第２信号出力配線１３a2に出力可能であり、第２信号出力配線１３a2については正常に機能することが分かる。

一方、検査電流Ｉｋが流れていないことが確認された場合は、第２信号出力配線１３a2と第２駆動用信号線Ｌ2とが電気的に切断状態であることが示される。従って、この場合
、デジタル・アナログ変換回路２０にて変換された第２データ信号ＳＤ2が第２駆動用信
号線Ｌ2を介して第２信号出力配線１３a2に出力不可能であり、第２信号出力配線１３a2
、及びバンプＢＰを介して同第２信号出力配線１３a2と第２駆動用信号線Ｌ2との接続部
に断線部分があることが分かる。そして、断線部分があると判断された場合は、従来のように、顕微鏡観察等することで断線位置を特定し修繕する。

以降、前記と同様にして、データ線駆動回路用ＩＣ１２に第３スイッチＳｗ3、第４ス
イッチＳｗ4、第５スイッチＳｗ5、…、第ｊスイッチＳｗjを順次オンさせる旨の第２制
御信号ＳＰbを入力し、検査電流Ｉｋが流れたか否かを検流計２６によって確認する。こ
のようにすることで、各信号出力配線１３a3〜１３aj、及び信号出力配線１３a3〜１３ajと第３〜第ｊ駆動用信号線Ｌ3〜Ｌjとの接続部に断線部分があるか否かが分かる。そして、断線部分があると判断された場合は、従来のように、顕微鏡観察等することで断線位置を特定し修繕する。

また、前記と同様にして、他のデータ線駆動回路用ＩＣ１２が実装された３つのフレキシブルプリント回路基板２５についても各信号出力配線、及び信号出力配線と対応する駆動用信号線との接続部に断線部分があるか否かを順次検査する。

このように、各ＦＰＣ基板３a〜３dは、予め、信号出力配線１３a1〜１３aj、及び信号入力配線１４といった各種配線パターンの他に、信号出力配線１３a1〜１３ajの一端側を短絡するショートパターンＢを備えたフレキシブルプリント回路基板２５を切り出して製造されたものである。このため、従来のように、出力端子にショートバーを当てる等の作業が必要は無い。また、第１〜第４ＦＰＣ基板３ａ〜３ｄのうち、どのＦＰＣ基板に断線部分があるか、及び、そのＦＰＣ基板上に形成されたｊ本の信号出力配線１３a1〜１３ajのうち、どの信号出力配線上若しくは対応する駆動用信号線との接続部に断線部分があるかを確実に特定することができる。

次に、図８（ｂ）に示すように、フレキシブルプリント回路基板２５の上部側の所定の位置で切断して入力ランド２５ａ及びショートパターンＢを切り取り、その切り取ったデータ線駆動回路用ＩＣ１２が実装された側のフレキシブルプリント回路基板を第１ＦＰＣ基板３aとする。このとき、第１ＦＰＣ基板３a上の第１〜第ｊ信号出力配線１３a1〜１３ajの一端側が前記した第１〜第ｊ出力端子Ｐo1〜Ｐojとなる。

続いて、前記のようにして切り出した第１ＦＰＣ基板３aの第１〜第ｊ出力端子Ｐo1〜
Ｐojを予め製造した有機ＥＬパネル２の入力端子Ｐi1〜ＰijにＡＣＦ接続する。このとき、初期条件として前記第１検査回路制御部ＨＡから有機ＥＬパネル２上に形成された全て
のアナログスイッチ１１a1〜１１aｍを全てオフにする旨の第１制御信号ＳＰaを供給し、各アナログスイッチ１１a1〜１１aｍをオフ状態になるように設定する。従って、このと
き、入力端子Ｐi1〜Ｐimと対応するデータ線ＬＸ1〜ＬＸmとは電気的に切断した状態になっている。また、前記第１検査回路制御部ＨＡから全ての検査用スイッチ３０a1〜３０am―1を全てオンにする旨の制御信号Ｓを供給し、各アナログスイッチ１１a1〜１１aｍをオン状態になるように設定する。

そして、有機ＥＬパネル２の入力端子Ｐi1〜ＰijにＡＣＦ接続した状態で、外部入力端子３１に検流計２６を介して検査電流Ｉｋを入力可能な状態にする。次に、前記と同様に、第１スイッチＳｗ1のみがオンになる旨の第２制御信号ＳＰbが供給される。すると、第１スイッチＳｗ1のみがオン状態になり、他の第２〜第ｊスイッチＳｗ2〜Ｓｗjを全てオ
フ状態にする。また、入力ランド２５ａに検流計２６を介して検査電流Ｉｋを入力する。

そして、検査電流Ｉｋが流れたか否かを検流計２６によって確認する。その結果、検査電流Ｉｋが流れた場合は、検査電流Ｉｋが各検査用スイッチ３０a1〜３０am―1→入力端
子Ｐi1→第１出力端子Ｐo1→データ線駆動回路用ＩＣ１２の順に流れたことになるので、接続部７ａでの第１出力端子Ｐo1と第１入力端子Ｐi1との電気的接続（ＡＣＦ接続）には断線部分が無いことがわかる。

一方、検査電流Ｉｋが流れなかった場合は、接続部７ａでの第１出力端子Ｐo1と第１入力端子Ｐi1との電気的接続（ＡＣＦ接続）に電気的に切断された部分があることがわかる。断線部分があると判断された場合は、従来のように、顕微鏡観察等することで断線位置を特定し修繕する。

次に、第２スイッチＳｗ2のみをオンにする旨の第２制御信号ＳＰbが入力されて、第２スイッチＳｗ2のみがオン状態になり、他の第１スイッチＳｗ1及び第３〜第ｊスイッチＳｗ3〜Ｓｗjがオフ状態になる。そして、検査電流Ｉｋが流れたか否かを検流計２６によって確認する。その結果、検査電流Ｉｋが流れた場合は、検査電流Ｉｋが各検査用スイッチ３０a1〜３０am―1→入力端子Ｐi2→第２出力端子Ｐo2→データ線駆動回路用ＩＣ１２の
順に流れたことになるので、接続部７ａでの第２出力端子Ｐo2と第２入力端子Ｐi2との電気的接続（ＡＣＦ接続）には断線部分が無いことがわかる。

一方、検査電流Ｉｋが流れなかった場合は、接続部７ａでの第２出力端子Ｐo2と第２入力端子Ｐi2との電気的接続（ＡＣＦ接続）に電気的に切断された部分があることがわかる。断線部分があると判断された場合は、従来のように、顕微鏡観察等することで断線位置を特定し修繕する。

以降、前記と同様にして、データ線駆動回路用ＩＣ１２に第３スイッチＳｗ3、第４ス
イッチＳｗ4、第５スイッチＳｗ5、…、第ｊスイッチＳｗjを順次オンさせる旨の第２制
御信号ＳＰbを入力し、検査電流Ｉｋが流れたか否かを検流計２６によって確認する。こ
のようにすることで、接続部７ａでの各出力端子Ｐo3〜Ｐojと入力端子Ｐi3〜Ｐijとの電気的接続（ＡＣＦ接続）に断線部分があるか否かが分かる。そして、断線部分があると判断された場合は、従来のように、顕微鏡観察等することで断線位置を特定し修繕する。

また、前記と同様にして、他の接続部７ａについてもその出力端子Ｐoj〜Ｐomと入力端子Ｐij〜Ｐimとの電気的接続（ＡＣＦ接続）に断線部分があるか否かを順次検査する。
このようにすることで、各ＦＰＣ基板３a〜３dのＡＣＦ接続に断線部分があるかを確実に特定することができる。

次に、第１検査回路制御部ＨＡから有機ＥＬパネル２上に形成された全てのアナログス
イッチ１１a1〜１１aｍを全てオンにする旨の第１制御信号ＳＰaを供給し、各アナログスイッチ１１a1〜１１aｍをオン状態になるように設定する。従って、このとき、入力端子
Ｐi1〜Ｐi mと対応するデータ線ＬＸ1〜ＬＸmとは電気的に接続した状態になっている。
また、第１検査回路制御部ＨＡから全ての検査用スイッチ３０a1〜３０am―1を全てオフ
にする旨の制御信号Ｓを供給し、各アナログスイッチ１１a1〜１１aｍをオフ状態になる
ように設定する。さらに、外部入力端子３１から検流計２６を取り外す。

そして、前記と同様に、第１スイッチＳｗ1のみがオンになる旨の第２制御信号ＳＰbを供給する。すると、第１スイッチＳｗ1のみがオン状態になり、他の第２〜第ｊスイッチ
Ｓｗ2〜Ｓｗjを全てオフ状態にする。この状態で、データ線駆動回路用ＩＣ１２を駆動させ、画像データＤをデータ線駆動回路用ＩＣ１２に供給する。また、このとき、走査線駆動回路１０を駆動する。そして、データ線駆動回路用ＩＣ１２に第１データ線ＬＸ1に接
続されたｎ個の各画素９の各有機ＥＬ素子８が、例えば最高輝度で発光するような画像データＤを供給する。そして、各画素９の有機ＥＬ素子８が発光するか否かを目視によって確認する。

その結果、有機ＥＬ素子８が発光した場合は、第１信号出力配線１３a1が第１データ線ＬＸ1を介して画素９に電気的に接続されていることが示される。従って、この場合、デ
ジタル・アナログ変換回路２０にて変換された第１データ信号ＳＤ1が第１データ線ＬＸ1に接続された画素９に出力可能であり、第１データ線ＬＸ1に電気的に切断された部分が
無いことが分かる。

一方、有機ＥＬ素子８が発光しなかった場合は、第１信号出力配線１３a1が第１データ線ＬＸ1を介して画素９に電気的に接続されていないことが示される。つまり、第１デー
タ線ＬＸ1に電気的に切断された部分があることがわかる。従って、この場合、デジタル
・アナログ変換回路２０にて変換された第１データ信号ＳＤ1が第１データ線ＬＸ1に接続された画素９に出力不可能であることが分かる。断線部分があると判断された場合は、従来のように、顕微鏡観察等することで断線位置を特定し修繕する。

このようにすることで、各接続部７ａでの出力端子Ｐo1〜Ｐojと入力端子Ｐi1〜ＰijのＡＣＦ接続の部分のうち、どのＡＣＦ接続の部分に断線部分があるかを確実に特定することができる。

次に、前記と同様に、第２スイッチＳｗ2のみがオンになる旨の第２制御信号ＳＰbを供給する。すると、第２スイッチＳｗ2のみがオン状態になり、第１スイッチＳｗ1及び他の第３〜第ｊスイッチＳｗ3〜Ｓｗjが全てオフ状態になる。この状態で、画像データＤをデータ線駆動回路用ＩＣ１２に供給し、また、走査線駆動回路１０及びデータ線駆動回路用ＩＣ１２を駆動する。そして、データ線駆動回路用ＩＣ１２からは、第２データ線ＬＸ2
に接続されたｎ個の各画素９に、各有機ＥＬ素子８を例えば最高輝度で発光するような第２データ信号ＳＤ2を出力する。そして、各画素９の有機ＥＬ素子８が発光するか否かを
目視によって確認する。

その結果、有機ＥＬ素子８が発光した場合は、第２信号出力配線１３a2が第２データ線ＬＸ2を介して画素９に電気的に接続されていることが示される。つまり、第２データ線
ＬＸ2には断線部分が無いことがわかる。従って、この場合、デジタル・アナログ変換回
路２０にて変換された第２データ信号ＳＤ2が第２データ線ＬＸ2に接続された画素９に出力可能であり、第２データ線ＬＸ2電気的接続については正常に機能することが分かる。

一方、有機ＥＬ素子８が発光しなかった場合は、第２信号出力配線１３a2が第２データ線ＬＸ2を介して画素９に電気的に接続されていないことが示される。つまり、接続部７
ａでの第２出力端子Ｐo2と第２入力端子Ｐi 2との電気的接続、及び、第２データ線ＬＸ2上に断線部分があることがわかる。従って、この場合、デジタル・アナログ変換回路２０にて変換された第２データ信号ＳＤ2が第２データ線ＬＸ2に接続された画素９に出力不可能であることが分かる。断線部分があると判断された場合は、従来のように、顕微鏡観察等することで断線位置を特定し修繕する。

以降、前記と同様にして、データ線駆動回路用ＩＣ１２に第２検査回路制御部ＨＢから順次、他のスイッチを順次オンさせる旨の第２制御信号ＳＰbを入力し、オン状態のスイ
ッチに接続された画素の有機ＥＬ素子８が発光したか否かを目視して確認する。このようにすることで、データ線に断線された部分があることがわかる。そして、断線部分があると判断された場合は、従来のように、顕微鏡観察等することで断線位置を特定し修繕する。

また、前記と同様にして、他の第２〜第４ＦＰＣ基板３b〜３dについてもデータ線に断線された部分があるか否かを検査する。
このようにすることで、第１〜第ｍデータ線ＬＸ1〜ＬＸmのうち、どのデータ線に断線部分があるかを確実に特定することができる。

特許請求の範囲に記載の電気光学装置は、例えば、本実施形態においては有機ＥＬディスプレイ１に対応している。特許請求の範囲に記載の電気光学パネルは、例えば、本実施形態においては有機ＥＬパネル２に対応している。特許請求の範囲に記載の回路基板は、例えば、本実施形態においては第１〜第４フレキシブルプリント回路基板３a，３b，３c
，３dに対応している。特許請求の範囲に記載の電気光学素子またはエレクトロルミネッ
センス素子は、例えば、本実施形態においては有機ＥＬ素子８に対応している。特許請求の範囲に記載のスイッチング手段は、例えば、本実施形態においてはアナログスイッチ１１に対応している。

さらに、特許請求の範囲に記載のＩＣは、例えば、本実施形態においてはデータ線駆動回路用ＩＣ１２に対応している。特許請求の範囲に記載の信号配線は、例えば、本実施形態においては信号出力配線１３a1〜１３ajに対応している。特許請求の範囲に記載のデータ線駆動回路は、例えば、本実施形態においては単一ラインドライバ１６に対応している。特許請求の範囲に記載の短絡回路は、例えば、本実施形態においては検査用スイッチ３０a1〜３０am―1を備えた検査用配線Ｌｔに対応している。特許請求の範囲に記載の入力
端子は、例えば、本実施形態においては外部入力端子３1に対応している。

上記したように、本実施形態によれば、以下の効果を有する。
（１）本実施形態では、各ＦＰＣ基板３a〜３dは、予め、信号出力配線１３a1〜１３aj、及び信号入力配線１４といった各種配線パターンの他に、信号出力配線１３a1〜１３ajの一端側を短絡するショートパターンＢを備えたフレキシブルプリント回路基板２５を切り出して製造されたものである。従って、従来のように、出力端子にショートバーを当てる等の作業が必要無い。この結果、断線検査の煩わしさを解消することができる。
（２）本実施形態では、第１〜第４ＦＰＣ基板３a〜３dを、各信号出力配線１３a1〜１３ajの一端側を互いに短絡するようにして配線されたショートパターンＢと、ショートパターンＢに接続してなる入力ランド２５ａとが形成されたフレキシブルプリント回路基板２５を用いて製造した。また、第１〜第４ＦＰＣ基板３a〜３d上に実装されるデータ線駆動回路用ＩＣ１２内の各単一ラインドライバ１６にスイッチＳｗ1〜Ｓｗjを設けた。そして、第１〜第４ＦＰＣ基板３a〜３d上にデータ線駆動回路用ＩＣ１２を実装した状態で、各スイッチＳｗ1〜Ｓｗjを順にオンし、スイッチＳｗ1〜Ｓｗjをオン状態にする毎に入力ランド２５ａから検査電流Ｉｋを供給するようにした。そして、検流計２６によって検査電流Ｉｋが流れたか否かを判断するようにした。これにより、第１〜第４ＦＰＣ基板３a〜
３dのうち、どのＦＰＣ基板に断線部分があるか、及び、そのＦＰＣ基板上に形成された
ｊ本の信号出力配線１３a1〜１３ajのうち、どの信号出力配線上若しくは対応する駆動用信号線との接続部に断線部分があるかを確実に特定することができる。
（３）本実施形態では、有機ＥＬパネル２の非表示領域７の下側に、アナログスイッチ１１a1〜１１am、第１検査回路制御部ＨＡ、外部入力端子３１及び検査用スイッチ３０a1〜３０am―1を備えた検査用配線Ｌｔを設けた。

前記有機ＥＬパネル２に、スイッチＳｗ1〜Ｓｗjを備え、第２検査回路制御部ＨＢからの第２制御信号ＳＰbに応じてオン・オフ制御されるスイッチＳｗ1〜Ｓｗjを備えたデー
タ線駆動回路用ＩＣ１２を実装した各ＦＰＣ基板３a〜３dをＡＣＦ接続する。そして、その状態で、全てのアナログスイッチ１１a1〜１１amをオフにし、また全ての検査用スイッチ３０a1〜３０am―1をオンにする。そして、外部入力端子３１に検査電流Ｉｋを供給す
るとともに、第２検査回路制御部ＨＢから第２制御信号ＳＰｂを供給して、スイッチＳｗ1〜Ｓｗjを第１スイッチＳｗ1→第２スイッチＳｗ2→…→第ｊスイッチＳｗjにオンする
ようにした。そして、各スイッチＳｗ1〜Ｓｗjがオンになる毎に検査電流Ｉｋが流れたか否かを確認するようにした。これにより、とＦＰＣ基板３a〜３dとの各ＡＣＦ接続の部分のうち、どのＡＣＦ接続の部分に断線部分があるかを確実に特定することができる。
（４）本実施形態では、有機ＥＬパネル２の非表示領域７の下側に、アナログスイッチ１１a1〜１１am、第１検査回路制御部ＨＡ、外部入力端子３１及び検査用スイッチ３０a1〜３０am―1を備えた検査用配線Ｌｔを設けた。

前記有機ＥＬパネル２に、スイッチＳｗ1〜Ｓｗjを備え、第２検査回路制御部ＨＢからの第２制御信号ＳＰbに応じてオン・オフ制御されるスイッチＳｗ1〜Ｓｗjを備えたデー
タ線駆動回路用ＩＣ１２を実装した各ＦＰＣ基板３a〜３dをＡＣＦ接続する。そして、その状態で、全てのアナログスイッチ１１a1〜１１amをオンにし、また全ての検査用スイッチ３０a1〜３０am―1をオフにする。第２検査回路制御部ＨＢから第２制御信号ＳＰｂを
供給して、スイッチＳｗ1〜Ｓｗjを第１スイッチＳｗ1→第２スイッチＳｗ2→…→第ｊスイッチＳｗjにオンするようにした。そして、各スイッチＳｗ1〜Ｓｗjがオンになる毎に
、データ線駆動回路用ＩＣ１２から所定のデータ信号ＳＤ1〜ＳＤjを対応するデータ線ＬＸ1〜ＬＸjに供給し、対応する画素９の有機ＥＬ素子８が発光するか否かを目視によって確認するようにした。これにより、第１〜第ｍデータ線ＬＸ1〜ＬＸmのうち、どのデータ線に断線部分があるかを確実に特定することができる。
（５）本実施形態では、信号出力配線１３a1〜１３aj、信号入力配線１４及び各信号出力配線１３a1〜１３ajに接続されたｊ個の出力端子Ｐo1〜Ｐojといった各種配線パターンが形成された第１〜第４ＦＰＣ基板３a〜３d上に複数の単一ラインドライバ１６等といったデータ線駆動回路を備えたデータ線駆動回路用ＩＣ１２を実装した。そして、第１〜第４ＦＰＣ基板３a〜３dを、各信号出力配線１３a1〜１３ajの一端側を短絡するようにして配線されたショートパターンＢと、ショートパターンＢに接続してなる入力ランド２５ａとが形成されたフレキシブルプリント回路基板２５を用いて製造した。

従って、第１〜第４ＦＰＣ基板３a〜３d上に形成された各種配線パターンの断線があるか否か、及びその位置を特定することができる。
（６）本実施形態では、データ線駆動回路用ＩＣ１２を実装する第１〜第４ＦＰＣ基板３a〜３dは、それぞれ、ＣＯＦ（Chip On Flexible Board）のパッケージ形体である。従って、ＣＯＦのパッケージ形体によるデータ線駆動回路用ＩＣ１２と第１〜第４ＦＰＣ基板３a〜３dとの接続部での各配線の断線の位置を確実に特定することができる。
（第２実施形態）
次に、第１実施形態で説明した電気光学装置の検査方法を用いて検査された有機ＥＬディスプレイ１を備えた電子機器の適用について図９に従って説明する。有機ＥＬディスプレイ１は、モバイル型のパーソナルコンピュータ、携帯電話、デジタルカメラ等種々の電
子機器に適用できる。

図９は、大型テレビ４０の斜視図である。この大型テレビ４０は、有機ＥＬディスプレイ１を搭載した大型テレビ用の表示ユニット４１と、スピーカー４２と、複数の操作ボタン４３とを備えている。この場合でも、有機ＥＬディスプレイ１を用いた表示ユニット４１は、上記第１実施形態で説明した検査方法によって各配線パターン上に断線があるか否かを検査されたものである。従って、製造時に各配線パターン上の断線位置を迅速且つ確実に特定されるので、歩留まりの少ない大型テレビ４０が製造される。

尚、発明の実施形態は、上記実施形態に限定されるものではなく、以下のように実施してもよい。
○上記第１実施形態では、各アナログスイッチ１１a1〜１１aｍ、各スイッチＳｗ1〜Ｓｗj、及び各検査用スイッチ３０a1〜３０amは、それぞれ外部回路から出力される各制御
信号によって任意に独立してオン・オフ制御されるものであったが、そうではなく、たとえば、外部クロック信号に同期して制御されるものであってもよい。

○上記第１実施形態では、データ線駆動回路用ＩＣ１２を実装する第１〜第４ＦＰＣ基板３a〜３dを、予め、信号出力配線１３a1〜１３aj、及び信号入力配線１４といった各種配線パターンの他に、信号出力配線１３a1〜１３ajの一端側を短絡するショートパターンＢを備えたフレキシブルプリント回路基板２５を切り出して製造する。そして、データ線駆動回路用ＩＣ１２を実装した状態で、ショートパターンＢを介して各信号出力配線１３a1〜１３ajに検査電流Ｉｋを供給し、検流計２６によって検査電流Ｉｋが信号出力配線１３a1〜１３ajに流れたか否かを判断するようにした。また、走査線駆動回路１０は、ガラス基板ＧＳ上に直接、同走査線駆動回路１０を構成する各種電子回路を形成するようにした。

これを、走査線駆動回路１０を備えた走査線駆動回路用半導体集積回路を実装するＦＰＣ基板を備えた有機ＥＬディスプレイにおいて、その走査線駆動回路用半導体集積回路を実装するＦＰＣ基板上の各種配線パターンの断線を検査する際の検査方法に適用してもよい。このようにすることで、走査線駆動回路用ＩＣを実装するＦＰＣ基板上の各種配線パターンの断線検査を、従来のように、ショートバーを出力端子に当てることなく、行うことができる。

○上記第１実施形態では、電気光学素子として有機ＥＬ素子８を用いたが、そうではなく、例えば発光ダイオードといった電流駆動型素子であってもよく、上記各実施形態と同様な効果を得ることができる。

○上記第１実施形態では、ＦＰＣ基板３a〜３dのパッケージ形体は、ＣＯＦ（Chip On Flexible Board）であったが、ＴＣＰ（Tape Carrier Package）であってもよい。
○上記各実施形態では、有機ＥＬ素子８を備えた有機ＥＬディスプレイ１に具体化して好適な効果を得たが、有機ＥＬディスプレイ以外の例えばデジタルマイクロミラーデバイス（DMD）を用いたディスプレイ、電子放出素子を用いたディスプレイ（FED）やＳＥＤ（Surface−Conduction Electron−Emitter Display）に具体化してもよい。また。電子
写真装置の光ヘッド（光プリンタのヘッドやデジタルラボのヘッド）に使用してもよい。

本実施形態の有機ＥＬディスプレイの上面図である。 第１実施形態に係る有機ＥＬパネルの電気的構成図である。 画素の内部構成を示す回路図である。 第１ＦＰＣ基板の上面図である。 第１ＦＰＣ基板の一部断面図である。 データ線駆動回路用半導体集積回路内部の電気的構成を説明するための図である。 画素の動作を示すタイミングチャートである。 （ａ）及び（ｂ）は、それぞれ有機ＥＬディスプレイの検査方法を説明するための図である。 第２実施形態に係る電子機器としての大型テレビの斜視図である。

符号の説明

Ｉｋ…検査電流、Ｌ1〜Ｌj…駆動用信号線、ＬＸ1〜ＬＸm…データ線、ＬＹ1〜ＬＹn…走査線、ＳＣ1〜ＳＣn…走査信号、ＳＤ1〜ＳＤm…データ信号、１…電気光学装置としての有機ＥＬディスプレイ、２…電気光学パネルとしての有機ＥＬパネル、３a〜３d…回路基板としての第１〜第４フレキシブルプリント回路基板、８…電気光学素子としての有機ＥＬ素子、９…画素、１０…走査線駆動回路、１２…半導体集積回路としてのデータ線駆動回路用半導体集積回路、１３a1〜１３aj…信号配線としての信号出力配線、１６…データ線駆動回路としての単一ラインドライバ、４０…電子機器としての大型テレビ。

Claims (10)

1. 複数のデータ線、複数の走査線、及び、前記各データ線と前記各走査線との交差に対応して各々電気光学素子を備えた複数の画素を有する電気光学パネルと、
   前記データ線にデータ信号を供給するデータ線駆動回路及び前記走査線に走査信号を供給する走査線駆動回路のいずれかを内蔵した半導体集積回路と
   を備えた電気光学装置において、
   前記半導体集積回路は、前記データ線または前記走査線に対応した複数の駆動用信号線を備え、
   前記電気光学パネルは、前記データ線または前記走査線の一端側を短絡状態可能にする短絡配線と、前記データ線または前記走査線に電流を供給する入力端子とを備えた短絡回路を含むことを特徴とする電気光学装置。
2. 請求項１に記載の電気光学装置において、
   前記電気光学パネルは、前記短絡回路の前記データ線または前記走査線の一端側の前記短絡状態を制御する検査回路制御部を備えたことを特徴とする電気光学装置。
3. 請求項１または２に記載の電気光学装置において、
   前記電気光学パネルは、前記データ線または前記走査線を所定の位置で電気的に接続または切断するスイッチング手段を具備することを特徴とする電気光学装置。
4. 請求項１乃至３のいずれか一つに記載の電気光学装置において、
   前記半導体集積回路は、前記電気光学パネル上に実装されていることを特徴とする電気光学装置。
5. 請求項１乃至３のいずれか一つに記載の電気光学装置において、
   前記電気光学パネルは、前記駆動用信号線に接続する複数の信号配線を備えた回路基板に接続され、
   前記半導体集積回路は、前記回路基板上に実装されていることを特徴とする電気光学装置。
6. 請求項５に記載の電気光学装置において、
   前記回路基板は、ＴＣＰやＣＯＦのパッケージ形体であることを特徴とする電気光学装置。
7. 請求項１乃至６のいずれか一つに記載の電気光学装置において、
   前記電気光学素子は、エレクトロルミネッセンス素子または電流駆動型素子であることを特徴とする電気光学装置。
8. 複数のデータ線、複数の走査線、及び、前記各データ線と前記各走査線との交差に対応して各々電気光学素子を備えた複数の画素を有する電気光学パネルと、
   前記データ線にデータ信号を供給するデータ線駆動回路及び前記走査線に走査信号を供給する走査線駆動回路のいずれかを内蔵した半導体集積回路と
   を備えた電気光学装置の検査方法において、
   前記半導体集積回路内の前記データ線または前記走査線に接続される複数の駆動用信号線の一端側を短絡するステップと、
   前記各駆動用信号線に検査電流を供給するステップと、
   前記駆動用信号線の一端側に前記検査電流が出力されるか否かを検出するステップと
   を備えたことを特徴とする電気光学装置の検査方法。
9. 請求項８に記載の電気光学装置の検査方法において、
   前記データ線または前記走査線を所定の位置で電気的に切断した状態で前記各駆動用信号線に検査電流を供給するステップを備えたことを特徴とする電気光学装置の検査方法。
10. 請求項１乃至７のいずれか一つに記載の電気光学装置の検査方法を用いて製造された電気光学装置を備えたことを特徴とする電子機器。

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