JP2006150347A - 生成物製造装置並びに微粒子の製造方法 - Google Patents

生成物製造装置並びに微粒子の製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】本発明は、超微粒子の粒径分布が非常に狭く、かつ、量産化が可能な反応装置を提供することを目的とする。
【解決手段】流体を流路13を経由して、反応路1に流通させ、該反応路1内にて、前記流体から所定の生成物を生成せしめるための生成物製造装置において、前記反応路1における最小幅Tが1mm以下であり、前記反応路における最大幅Wに対して、W≧2Tを満たすことを特徴とする。
【選択図】図1

Description

本発明は、1μm以下、特に、ナノサイズの微粒子を迅速に製造することのできる生成物製造装置ならびに微粒子の製造方法に関するものである。
近年、ナノテクノロジーの発達が著しく、いろいろな分野にナノテクノロジーの適用や応用がなされている。それに伴い、微粒子の合成技術も発達し、種々の合成技術が考案されている。特に、半導体微粒子の粒径制御として、逆ミセルを用いたホットソープ法を用いた量産化技術の検討がなされている(特許文献1、2参照)。
これらの方法により量産化するためには、管状で反応場の容積を大きくする必要があるため、管内で温度分布が発生し、粒径分布が広くなる傾向となる。そこで、ホットソープ法の温度制御を精密に行う方法として、マイクロリアクター方式が考案されている(特許文献3参照)。この方法は微少領域で反応場を与えるので、温度が均一となり、粒径分布が狭い非常に均一なサイズの粒子を得ることができる。
特開2002−79075号公報 特開2003−160336号公報 特開2003−225900号公報
しかしながら、管状のマイクロリアクターを用いた場合には、粒径分布の小さい超微粒子を得る事はできるものの、量産性にとぼしく、実用にはほど遠いという問題がある。
本発明は、超微粒子の粒径分布が非常に狭く、かつ、量産化が可能な反応装置を提供することを目的とする。
本発明の生成物製造装置は、流体を流路を経由して反応路に流通させ、該反応路内にて、前記流体から所定の生成物を生成せしめるための生成物製造装置において、前記反応路における最小幅Tが1mm以下であり、前記反応路における最大幅Wに対して、W≧2Tを満たすことを特徴とする。
また、本発明の生成物製造装置は、前記最小幅Tを変えるための調整機構を備えたことが望ましい。
また、本発明の生成物製造装置は、最大幅Wを変えるための調整機構を備えたことが望ましい。
また、本発明の生成物製造装置は、前記反応路に沿って、反応路の内壁に溝が形成されてなることが望ましい。
また、本発明の生成物製造装置は、前記反応路の入口の断面積が、出口の断面積よりも大きいことが望ましい。
また、本発明の生成物製造装置は、前記反応路の入口に接続してなる複数の流路を具備することが望ましい。
また、本発明の生成物製造装置は、前記反応路を加熱するための加熱装置を具備することが望ましい。
また、本発明の生成物製造装置は、前記反応路の入口側に、前記流体を加圧するための加圧装置を具備することが望ましい。
また、本発明の生成物製造装置は、前記反応路の断面が略楕円であることが望ましい。
また、本発明の微粒子の製造方法は、以上説明した生成物製造装置の前記反応路に前記流体に流通させるとともに、前記反応路で前記流体から微粒子を形成することを特徴とする。
本発明の生成物製造装置は、反応路の断面を扁平にすることにより、あたかも管状路を任意の本数並べたかのようになるため、均一で粒径の狭い微粒子の量産化が可能となる。
また、本発明の生成物製造装置は、最小幅Tの調整機構を備えることにより、流体のレオロジー特性に合わせて反応路の大きさを自由に変化させることができるため、種々のレオロジー特性を有する流体を容易に処理することができる。
本発明の生成物製造装置は、最大幅Wを変化させる調整機構を備えることにより、生産量の調整が可能となる。
また、本発明の生成物製造装置は、反応路の内壁に溝を形成することにより、流体が反応路において、溝に対して直行する方向へ流れることを防止することができ、流体の流れを制御しやすくなる。
また、本発明の生成物製造装置は、反応路の入口の大きさを、出口よりも大きくすることで、反応路内に発生する圧力損失による流量減を防止し、全体が一様な流れにすることが可能となる。
また、本発明の生成物製造装置は、反応路に複数の流路を接続することで、複数の異なる流体を反応路内で、容易に混合、反応させることができる。
また、本発明の生成物製造装置は、反応路を加熱する加熱装置を具備することにより反応場に対して任意の温度にて精度の高い温度制御を行うことが可能となる。
また、本発明の生成物製造装置は、流体を加圧して流体を反応路に流通させる加圧装置を具備することにより流量を容易に制御することができる。
また、本発明の生成物製造装置は、反応路の断面を楕円とすることにより、流体の流速が遅くなる反応路の内壁が略直角となる部分を排除することができるため、より均質な生成物を形成することができる。
本発明の微粒子の製造によれば、以上説明した生成物製造装置の反応路の入口側から流体を反応路に流通させながら反応させることで、粒度分布の狭い均質な微粒子を容易に多量に製造することが可能となる。
本発明の生成物製造装置は、例えば、図1(a)に示すように、少なくとも流体を流通させる反応路1を備えたものである。そして、この反応路1は流体の流れ方向に対して垂直な断面が扁平状に形成されていることが重要である。すなわち、この断面において、高さ方向の距離を最小幅Tとし、幅方向の距離を最大幅Wとしたとき、W≧2Tであることが重要で、また、Wが1mm以下であることが重要なのである。
このように、反応路1の最小幅Tを1mm以下とすることで、反応路1の中を流通する流体を均一に加熱、あるいは混合、反応させることが容易となり、均質な生成物を容易に作製することができる。また、反応路1の最大幅Wを2T以上とすることで、反応路1の断面積を増加させることができるため、容易に大量の生成物を作製することができる。しかも、反応路1の最小幅Tは、1mm以下を維持しているため反応路1内での温度差や、混合、反応の偏りがほとんどなく、生成物の生成量を増加させたとしても生成物の均質性が劣化することがない。
なお、本発明の生成物製造装置においては、反応路1と呼称しているが、化学反応を伴わず、例えば、複数の流体を均一に混合するために用いることができるのはいうまでもない。
このような反応路1は、一体の扁平な管により構成してもよいのはいうまでもないが、反応路1を形成する複数の部材を組み合わせて反応路部材2を形成することで、例えば、反応路1の最小幅T、反応路1の最大幅Wを自在に制御することができる。
具体的に複数の部材を用いて反応路1を具備する反応路部材2を形成する例について、説明する。反応路部材2は、例えば、互いに対向する第一の反応路壁3aと第二の反応路壁3b、第一の反応路壁3aと第二の反応路壁3bに狭持され、互いに対向する反応路側壁5によって構成される。
例えば、反応路側壁5を構成する反応路側壁材5の厚みを変化させることで、容易に反応路1の最小幅Tを制御することができる。また、対向する反応路側壁材5同士の距離を変化させることで反応路1の最大幅Wを制御することができる。
このような形態の反応路部材2には、図1(b)に示すように、流体を反応路1に供給する入口7である供給口7と、反応路1から流体を排出する出口9である排出口9が形成されている。
そして、図1(c)に示すように反応路部材2の供給口7には接続部材11aを介して、供給流路13a、13bが接続されている。また、反応路部材2の排出口9には接続部材11bを介して、排出流路15が接続されている。
この供給流路13は、図1(c)の例では、2本接続されているが、必要に応じて、さらに多数の供給流路13を接続してもよいことはいうまでもなく、また、供給流路13が1系統のみであってもよい。
この供給流路13は、反応路1に流体を供給する機能を有するものであって、供給流路13には、ポンプ(図示せず)や、タンク(図示せず)が接続されている。また、ポンプやタンク、供給流路13の間には流体の流量を制御する流量制御装置(図示せず)が配設されていてもよい。
流体を流通させるために用いるポンプは、特に、流体を加圧することが可能なものが好適に用いられ、精度良く定容量輸送可能なギャーポンプが好ましい。
また、排出流路15は、反応路1で、反応あるいは混合された流体、生成物を回収する機能を有している。そして、この排出流路15には、生成物を貯蔵するタンク(図示せず)が接続されている。また、排出口9以降の系統に測定装置を接続し、流体あるいは生成物の状態をモニタし、その情報により流量制御を行ってもよい。
また、反応路部材2を加熱する温度制御装置(図示せず)を反応路部材2の周囲に配設して、測定装置の情報により、温度を制御してもよい。
このような反応路1を備えた生成物製造装置では、反応路1において容易に、多量の流体を均一に流通させることができる。しかも、反応路1の最小幅Tは、1mm以下であるために、温度分布も非常に狭く制御することができるため、生成物の製造に反応を伴う場合であっても、反応条件を精密に制御することができる。
即ち、本発明の生成物製造装置においては、反応路1の形態が重要である。
そして、図2に示すように、この反応路1を形成する反応路壁3と反応路側壁5に、流体の流通方向に沿って、溝21を形成することにより、流体が反応路1において流れに対して直角方向に流れることを抑制することが可能となり、全流体をプラグフロー(押し出し流れ)とすることができる。そのため、反応路1において、流体の不均一な流れが発生しにくく、流体が反応路1内で淀んだり、逆流したりすることを効果的に防止することができる。
また、流体を加熱、冷却する必要がある場合には、流体と反応路部材2との伝熱面積が格段に増加するために、流体の温度制御を迅速に行うことができる。なお、この溝21の構造は、任意に選択できる。
特に、伝熱性を向上させるという観点からは、図2において、T1、T2≦1mm、T1+T2≦2mm、W1≦1mm、W2≧1mmであることが望ましい。
流体を加熱する場合には、オイルを用いた方式が精度良く温度を制御することができる。コントロール可能である。反応路側壁5は形状を自由に変更可能なポリテトラフルオロエチレンシートをカットして配置することにより、任意の形状を実現可能となる。
また、図3に示すように、反応路1の中心部は一定の流速分布をもつが、流体のレオロジーによっては両端にて摩擦が発生し、流速が遅くなる現象が起こる場合がある。このような場合であっても、反応路側壁5の形状を反応路1の供給口7側が広く、排出口側9が狭くなるように調製することで、反応路1の速度分布を一様に調製することができる。
また、本発明の生成物製造装置に用いられる流体に接触する部材には、材料として金属、セラミック材料が好適に用いられ、製造の目的に合して選択できる。熱伝導を考慮すると金属が望ましく、精度良く加工し、変形が少ない超鋼がさらに望ましい。また、耐薬品性に優れたセラミック材料を用いることで過酷な環境を与える流体を用いた場合であっても、容易に生成物を製造することができる。
以上説明した本発明の生成物製造装置を好適に用いて作製される生成物として半導体微粒子が挙げられる。半導体微粒子は微妙な温度のずれ、反応時間で粒径分布が生じ、均質な材料を精度よく製造することが困難な材料であり、しかも、量産性が低いことから、コストも非常に高くなっている。本発明によれば、このように均質に、大量に製造することが困難な材料であっても、容易に作製することができるのである。
そして、本発明の生成物製造装置により得られる半導体微粒子の例としては、酸化錫(IV)(SnO)、硫化錫(II,IV)(Sn(II)Sn(IV)S)、硫化錫(IV)(SnS)、硫化錫(II)(SnS)、セレン化錫(II)(SnSe)、テルル化錫(II)(SnTe)、硫化鉛(PbS)、セレン化鉛(PbSe)、テルル化鉛(PbTe)等の周期表第14族元素と周期表第16族元素との化合物、窒化ホウ素(BN)、リン化ホウ素(BP)、砒化ホウ素(BAs)、窒化アルミニウム(AlN)、リン化アルミニウム(AlP)、砒化アルミニウム(AlAs)、アンチモン化アルミニウム(AlSb)、窒化ガリウム(GaN)、リン化ガリウム(GaP)、砒化ガリウム(GaAs)、アンチモン化ガリウム(GaSb)、窒化インジウム(InN)、リン化インジウム(InP)、砒化インジウム(InAs)、アンチモン化インジウム(InSb)等の周期表第13族元素と周期表第15族元素との化合物(本発明においては第13−15族化合物半導体と称する)、硫化アルミニウム(Al)、セレン化アルミニウム(AlSe)、硫化ガリウム(Ga)、セレン化ガリウム(GeSe)、テルル化ガリウム(GaTe)、酸化インジウム(In)、硫化インジウム(In)、セレン化インジウム(InSe)、テルル化インジウム(InTe)等の周期表第13族元素と周期表第16族元素との化合物、塩化タリウム(I)(TlCl)、臭化タリウム(I)(TlBr)、ヨウ化タリウム(I)(TlI)等の周期表第13族元素と周期表第17族元素との化合物、酸化亜鉛(ZnO)、硫化亜鉛(ZnS)、セレン化亜鉛(ZnSe)、テルル化亜鉛(ZnTe)、酸化カドミウム(CdO)、硫化カドミウム(CdS)、セレン化カドミウム(CdSe)、テルル化カドミウム(CdTe)、硫化水銀(HgS)、セレン化水銀(HgSe)、テルル化水銀(HgTe)等の周期表第12族元素と周期表第16族元素との化合物(本発明においては第12−16族化合物半導体と称する)、硫化アンチモン(III)(Sb)、セレン化アンチモン(III)(SbSe)、テルル化アンチモン(III)(SbTe)、硫化ビスマス(III)(Bi)、セレン化ビスマス(III)(BiSe)テルル化ビスマス(III)(BiTe)等の周期表第15族元素と周期表第16族元素との化合物、酸化銅(I)(CuO)等の周期表第11族元素と周期表第16族元素との化合物、塩化銅(I)(CuCl)、臭化銅(I)(CuBr)、ヨウ化銅(I)(CuI)、ヨウ化銀(AgI)、塩化銀(AgCl)、臭化銀(AgBr)等の周期表第11族元素と周期表第17族元素との化合物(本発明においては第11−17族化合物半導体と称する)、酸化ニッケル(II)(NiO)等の周期表第10族元素と周期表第16族元素との化合物、酸化コバルト(II)(CoO)、硫化コバルト(II)(CoS)等の周期表第9族元素との周期表第16族元素との化合物、四酸化三鉄(Fe)、硫化鉄(II)(FeS)等の周期表第8族元素と周期表第16族元素との化合物、酸化マンガン(II)(MnO)等の周期表第7族元素と周期表第16族元素との化合物、硫化モリブデン(IV)(MoS)、酸化タングステン(IV)(WO)等の周期表第6族元素と周期表第16族元素との化合物、酸化バナジウム(II)(VO)、酸化バナジウム(II)(VO)、酸化タンタル(V)(Ta)等の周期表第5族元素と周期表第16族元素との化合物、酸化チタン(TiO、Ti、Ti、Ti等)等の周期表第4族元素との周期表第16族元素との化合物、硫化マグネシウム(MgS)、セレン化マグネシウム(MgSe)等の周期表第2族元素と周期表第16族元素との化合物、酸化カドミウム(II)クロム(III)(CdCr)、セレン化カドミウム(II)クロム(III)(CdCrSe)、硫化銅(II)クロム(III)(CuCr)、セレン化水銀(II)クロム(III)(HgCrSe)等のカルコゲンスピネル類、バリウムチタネート(BaTiO)等が挙げられる。
上述した中でも特に、AgI等の第11−17族化合物半導体、CdSe、CdS、ZnS、ZnSe等の第12−16族化合物半導体、InAs、InP等の第13−15族化合物半導体を主体とする化合物半導体は、容易に化合物が得られる。なお、本発明で使用する周期表は、IUPAC無機化学命名法1990年規則に従うものとする。
本発明はホットソープ法を応用したものである。ホットソープ法は、半導体原料を例えば100℃以上の高温に加熱された配位性有機化合物中で熱分解させた結果開始する反応により半導体結晶の核生成と結晶成長を進行させる方法である。かかる結晶核生成と結晶成長の過程の反応速度を望ましく制御する目的で、半導体構成元素に適切な配位力のある配位性有機化合物が必須成分として反応に使用される。かかる配位性有機化合物が、半導体結晶に配位して安定化する状況が、石鹸分子が油滴を水中で安定化する状況に似ているため、この反応形式はホットソープ(Hot soap)法と呼ばれる。
すなわち、本発明の生成物製造装置に用いられる半導体原料は、製造操作上の簡便性の理由で液状であるのが好ましい。原料物質自身が常温で液体であればそのまま使用して良く、必要に応じて適当な有機溶媒の溶液としても構わない。かかる有機溶媒としては、n−ヘキサン等のアルカン類、トルエン等の芳香族炭化水素等の適当な有機溶媒が用いられる。
反応に使用される配位性有機化合物が、高温液相において半導体結晶に配位して安定化する物質の例としては、トリブチルホスフィン、トリオクチルホスフィン等のトリアルキルホスフィン類、トリブチルホスフィンオキシド、トリオクチルホスフィンオキシド等のトリアルキルホスフィンオキシド類、ヘキサデシルアミン、ドデシルアミン等のアルキルアミン類が代表的であり、中でもアルキル基の炭素数が4〜10のトリアルキルホスフィン類、特にトリオクチルホスフィンオキシドは高沸点であり、空気の存在下でも安定に存在するので最も好適に用いられる。かかる配位性有機化合物は、必要に応じ複数種を混合して使用しても構わない。また、適当な有機溶媒の溶液としても構わない。
化合物半導体超微粒子を本発明で得る場合、使用する半導体原料における前記の第11〜13族元素の第15〜17族元素に対するモル比は、通常0.5〜5、好ましくは0.8〜3、最も好ましくは0.9〜2.5程度である。本発明では、陽性元素と陰性元素の比率(陽性元素/陰性元素)を1.1倍以上とすることにより、半導体超微粒子上の配位子量を多くすることができ、このように原料の量比をかえることで、流体(溶媒、ポリマー)の性質により最適な分散性能を有する超微粒子を制御できる。
本発明の生成物製造装置により得られる半導体超微粒子の大きさは、透過型電子顕微鏡(TEM)で観察される平均粒径として、通常0.5〜20nm、好ましくは1〜8nm程度となる。本発明の製造方法で得られる半導体超微粒子は、前記のようにその表層として有機成分を含有する場合があるが、TEMで観察される粒子像(平均粒径)はかかる有機成分を含まない部分、即ち半導体組成の部分に由来する。
半導体超微粒子の量子効果により生ずる量子準位での電子遷移に起因する光吸収及び/又は発光(蛍光)の波長は、その粒子の大きさにより決まるので、波長を制御するには粒径分布が重要となる。粒径は発光スペクトル(蛍光スペクトル)から逆に計算可能であり、TEMで測定困難場合は間接的だが、簡易的に粒径を測定できる。
CdSeの超微粒子を製造する方法について説明する。
まず、39.5g(0.5M)のSe粉末をトリオクチルフォスフィン(TOP)1.25kgに溶解させる。これを溶液1とする。次に酢酸カドミウム26.6g(0.1M)及びステアリン酸0.5kgを混合し、130℃にて溶解する。この溶液にトリオクチルフォスフィンオキサド(TOPO)を2kg加え130℃にて溶解させる。100℃以下に冷却したら溶液1を添加し、さらにTOPを0.75kg添加しプリカーサー液と呼ぶ。
このプリカーサー液を原料タンク(図示せず)に溜める。反応路部材2の温度を40℃に制御し、ギャーポンプ(図示せず)にて、供給する。反応路部材2の流れ方向長さLを1m、最大幅Wを400mmとした。
本実施例では反応路側壁5は、図3に示すように供給口の幅Winを400mm、排出口幅Woutを360mmとした。第一の反応路壁1と第二の反応路壁3との距離:最小幅Tを0.2mmで固定して、反応路1の内壁の温度、すなわち反応温度を280℃とし、反応時間を変化させた場合の発光スペクトルを測定した。
実験条件と結果を表1に示す。そして、比較例として、直径0.2mmの反応路を用いて、CdSeの超微粒子を作製した例を試料No.5に示す。
Figure 2006150347
試料No.1は反応時間を0.5分、試料No.2は反応時間1分、試料No.3は反応時間を5分、試料No.4は反応時間10分、試料No.5は反応時間1分で反応させたものである。
図4は、島津製作所製の蛍光分光光度計(RF―5300)を用いて測定した試料No.1〜4の発光スペクトルである。測定法について述べる。反応液200μlを300mlのトルエンに溶解希釈する。希釈液を蛍光分光光度計にて、励起光365nmで蛍光を測定した。図4はピーク高さを同じになる様に規格化した。
これらの4種の条件で作製した超微粒子の平均粒子径は透過型電子顕微鏡(TEM)を使用して測定した。その結果を表1に示す。この表より、ナノサイズの超粒子を作製できるとともに、反応時間を変化させることで粒径を制御できることがわかる。
使用した透過型電子顕微鏡はJEOL製JEM2010Fであり、以下の手順で加速電圧200kVの観察を行った。反応液1mlを10mlのエタノール(貧溶媒)にて超微粒子を懸濁させ、遠心分離機にて、2000G、10分間処理し、沈澱させる。更に、沈殿させた半導体超微粒子をサンプル瓶にとり、粒子濃度が0.002〜0.02モル/リットルの範囲となる量のIPAやトルエンを加えて分散させた。これをCuメッシュの表面に薄いコロジオン膜が形成されたTEM観察用マイクログリッドですくい取り、乾燥後、透過型電子顕微鏡にセットした。平均粒子径の測定は格子像より粒子を確認して行った。まず、粒子がメッシュに付着している部分を低倍率で探した。この時、半導体超微粒子が多く付着している部分は粒子が電子線の方向に重なっているため平均粒子径の測定には適さない。また、マイクログリッドのCuメッシュの部分に付着している半導体超微粒子も格子像が観察できないため平均粒子径の観察には適さない。従って、平均粒子径を測定する半導体超微粒子はマイクログリッドの樹脂の部分にある極力重なりの少ない部分を選んで行なった。次に、この部分を1,000,000倍程度に拡大して格子像の確認を行なう。
このとき、半導体超微粒子の周囲に合成時に使用したTOPOなどの有機成分が多く残っている場合には格子像がぼやけてしまうため、平均粒子径を正しく測定することができない。このような場合には場所を変えて観察を行なうか、場合によっては合成時の有機成分の除去を繰り返し行なったサンプルを準備し直して観察を行なった。
合成時の有機成分の除去は、沈殿させた半導体超微粒子にクロロホルム、トルエンもしくはヘキサンを加えて超音波で分散させた後、ここにアルコール(例えばエタノール)を加えて、遠心分離機にかけることで行なうことができる。合成時の有機成分は上澄みのエタノールに溶解し、半導体超微粒子は沈殿する。必要に応じてこの操作を繰り返した。このようにして合成時に使用した有機成分の付着の少ない半導体超微粒子を探し出した後、この部分を倍率4,000,000倍として格子像の写真撮影を行なった。このとき電子線を長く当て続けると半導体超微粒子は変質してしまうため、速やかに撮影を行なった。
半導体超微粒子の平均粒子径は撮影した格子像200個の直径を元に以下の方法で処理することにより求めた。
測定した格子像の直径を、ヒストグラムを書いて統計的に計算することで、長さ平均直径を算出した。長さ平均直径の算出方法は、直径区に属する個数をカウントし、直径区の中心値と個数のそれぞれの積の和を、測定した格子像の個数の総数で割るという方法を用いた(平均粒子径の形状とその計算式、「セラミックの製造プロセス」p.11〜12、窯業協会編集委員会講座小委員会編)。このようにして計算した長さ平均直径を半導体超微粒子の平均粒子径とみなした。
そして、このTEM観察の結果と、図4に示す発光スペクトルのピークとの関係から、図5に示す発光スペクトルと粒子の平均粒径との関係を明らかにした。
次に、第一の反応路壁1と第二の反応路壁3との距離T:最小幅を0.2〜2mmの範囲で変化させ、反応時間を1分とした以外は実施例1と同じ条件で、溶液1を反応路に流通させた。
表2に反応後の平均粒径を示す。また、図6に示す作製した粒子の発光スペクトルの半値幅と粒度分布の半値幅が一致すると仮定して、図5を基に、作製した粒子の半値幅を計算した。
Figure 2006150347
表2に示すように、距離:最小幅Tが1mmを超える本発明の範囲外の試料No.8では、粒径の半値幅が±0.6nmとなり、粒度分布が広くなった。
一方、距離Tが1mm以下である本発明の試料No.6、7では、粒径の半値幅が±0.4nm以下となり、非常に狭い粒度分布を実現することができた。
また、反応路1の形状を凹凸構造とし、W1=W2=1mm、T1=T2=1mm、流れ方向長さを1m、W=400mとし、反応時間1分とした以外は実施例1と同じ条件でCdSeの合成反応を行った。この場合の作製した粒子の平均粒径は3.5nmとなり、計算上の粒径の半値幅は±0.38nmとなり、非常に狭い粒度分布を実現することができた。
本発明の反応路装置を説明する断面図である。 本発明の反応路装置を説明する模式図である。 本発明の反応路装置を説明する模式図である。 本発明の製造結果を説明する図である。 本発明の製造結果を説明する図である。 本発明の製造結果を説明する図である。
符号の説明
1・・・反応路
2・・・反応路部材
3a・・第一の反応路壁
3b・・第二の反応路壁
5・・・反応路側壁
7・・・入口、供給口
9・・・出口、排出口
11・・・接続部材
13・・・供給流路
15・・・排出流路

Claims (10)

  1. 流体を流路を経由して、反応路に流通させ、該反応路内にて、前記流体から所定の生成物を生成せしめるための生成物製造装置において、前記反応路における最小幅Tが1mm以下であり、前記反応路における最大幅Wに対して、W≧2Tを満たすことを特徴とする生成物製造装置。
  2. 前記最小幅Tを変えるための調整機構を備えたことを特徴とする請求項1に記載の生成物製造装置。
  3. 最大幅Wを変えるための調整機構を備えたことを特徴とする請求項1又は2に記載の生成物製造装置。
  4. 前記反応路に沿って、反応路の内壁に溝が形成されてなることを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれかに記載の生成物製造装置。
  5. 前記反応路の入口の断面積が、出口の断面積よりも大きいことを特徴とする請求項1乃至4のうちいずれかに記載の生成物製造装置。
  6. 前記反応路の入口に接続してなる複数の流路を具備することを特徴とする請求項1乃至5のうちいずれかに記載の生成物製造装置。
  7. 前記反応路を加熱するための加熱装置を具備することを特徴とする請求項1乃至6のうちいずれかに記載の生成物製造装置。
  8. 前記反応路の入口側に、前記流体を加圧するための加圧装置を具備することを特徴とする請求項1乃至7のうちいずれかに記載の生成物製造装置。
  9. 前記反応路の断面が略楕円であることを特徴とする請求項1乃至8のうちいずれかに記載の生成物製造装置。
  10. 請求項1乃至9のうちいずれかに記載の前記生成物製造装置の前記反応路に前記流体に流通させるとともに、前記反応路で前記流体から微粒子を形成することを特徴とする微粒子の製造方法。

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