JP2006143488A - 結晶成長装置 - Google Patents

結晶成長装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2006143488A
JP2006143488A JP2004332068A JP2004332068A JP2006143488A JP 2006143488 A JP2006143488 A JP 2006143488A JP 2004332068 A JP2004332068 A JP 2004332068A JP 2004332068 A JP2004332068 A JP 2004332068A JP 2006143488 A JP2006143488 A JP 2006143488A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
crystal
raw material
crucible
furnace
crystal growth
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004332068A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiro Sasaura
正弘 笹浦
Hiroki Koda
拡樹 香田
Kazuo Fujiura
和夫 藤浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP2004332068A priority Critical patent/JP2006143488A/ja
Publication of JP2006143488A publication Critical patent/JP2006143488A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

【課題】 結晶欠陥であるセクタ境界面の影響を低減する。
【解決手段】 炉5内に設置されたるつぼ1内の原料溶液8に、種子結晶7を浸して引き上げながら結晶を育成する結晶成長装置において、種子結晶7が先端に取り付けられた引き上げ軸6の軸中心が、炉5の軸中心およびるつぼ1の軸中心からずれている。原料溶液の液面の最低温度点を、炉5の軸中心および引き上げ軸6の軸中心からずらしてもよい。
【選択図】 図6

Description

本発明は、結晶成長装置に関し、より詳細には、TSSG法による結晶成長における結晶欠陥であるセクタ境界面の影響を低減するための結晶成長装置に関する。
従来、酸化物バルク単結晶の結晶成長方法として、浮遊帯域溶融(FZ:Floating Zone)法、ブリッジマン法、炉温降下法などが知られている(例えば、特許文献1参照)。 また、溶融した溶液に種子結晶を浸して引き上げながら結晶を育成する、溶液引き上げ(TSSG:Top-Seeded Solution-Growth)法が知られている。TSSG法は、Si,GaAs,LiNbO単結晶の結晶成長法として知られているチョクラルスキー法(CZ法)と同様に、結晶の形状制御が可能であり、大型ウェハを作製するための結晶母材を得ることができる。
図1に、従来のTSSG法による結晶製造装置を示す。結晶製造装置は、ヒータ4によって温度制御可能な縦型管状炉5を有し、縦型管状炉5内のるつぼ台2に原料溶液8を入れたるつぼ1を設置している。縦型管状炉5は、炉体ふた10により密閉され、内面に設置された均熱管3により、炉内の温度が一定に保たれるようになっている。このような構成において、引き上げ軸6の先端に取り付けられた種子結晶7を、溶融した原料溶液8に浸して、引き上げながら成長結晶9を育成する。この結晶製造装置を用いてKTaNb1−x(0≦x≦1)結晶を製造する方法を説明する。
KTaNb1−x結晶を単結晶として成長させるには、縦型管状炉5内、すなわち、るつぼ1と原料溶液8と成長結晶9とが位置する付近において、均一な温度分布が必要である。そこで上述したように、温度の均一性の高い抵抗加熱式の縦型管状炉5を構成している。また、引き上げ軸6には、アルミナや白金で形成された引き上げ軸を用いるのが、一般的である。
KTaNb1−x原料は、素原料であるKCOとTaとNbとを所望の組成比となるよう秤量し、るつぼ1に充填する。KTaNb1−x原料が投入されたるつぼ1を、縦型管状炉5内に設置されたるつぼ台2上に設置する。ヒータ4を加熱することで、KTaNb1−x原料を昇温溶解し、原料溶液8を準備する。種子結晶7が先端に取り付けられた引き上げ軸6を縦型管状炉5に導入し、原料溶液8に接触させ、結晶育成を開始する。
種子結晶7を原料溶液8に接触させる際、すなわち種子付け過程では、原料溶液8の温度を調整し、種子結晶7が溶解せずかつ結晶成長も生じない状態を実現する必要がある。 その後、引き上げ軸6を回転しながら引き上げると同時に、原料溶液8を、加熱量の調整により一定冷却速度で冷却して行く。この一定速度の冷却により、原料溶液8は、過飽和状態となる。加えて、引き上げ軸6は、低温の炉外から導入されているため、脱熱の伝熱経路となる。結晶成長に十分な過飽和状態が原料溶液8に実現すると、種子結晶7の先端に結晶が析出し始め、結晶成長が始まる。そして、種子付け、肩拡げ、定径部と順に成長過程が進行する。育成中は、その状態を形状センサもしくは質量センサを用いて検出し、成長が早い場合には昇温、成長が遅い場合には、一定速度の冷却に微調整の冷却を加えて、成長結晶9の直径制御を行う。
特開昭59−107996号公報
図2を参照して、従来の結晶成長方法における結晶欠陥であるセクタ境界面の影響を説明する。図2(a)は、成長結晶9の斜視図である。成長したKTaNb1−x結晶は、種子結晶を軸中心として、結晶断面の対角線上にセクタ境界面11が内在し、4つのセクタ12に分割される。図2(b)に成長結晶9の横断面図を示す。セクタ12は、それぞれ一方向に成長した領域であり、セクタ境界面11は、隣接するセクタ12同士の成長がぶつかり合ってできた境界面である。成長結晶9の歪み検査を行うと、セクタ境界面11付近に歪みが集中し、セクタ境界面11付近の物性が、セクタ12内部の物性と異なっている。従って、成長結晶9を引き上げ軸に対して垂直に輪切りに切断し、研磨を施して作製したウェハには、等方的な対角線上に物性の特異領域が存在する。
作製されたウェハ上には複数の機能素子が形成されるので、対角線上に物性の特異領域が存在すると、対角線上に形成された機能素子は、所望の機能を満たすことができない。従って、機能素子を作製上の歩留まりが低いという問題があった。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、結晶欠陥であるセクタ境界面の影響を低減することができる結晶成長装置を提供することにある。
本発明は、このような目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、炉5内に設置されたるつぼ1内の原料溶液8に、種子結晶7を浸して引き上げながら結晶を育成する結晶成長装置において、前記種子結晶7が先端に取り付けられた引き上げ軸6の軸中心が、前記炉5の軸中心および前記るつぼ1の軸中心からずれていることを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の結晶成長装置において、前記ずれをaとし、前記るつぼの半径をrとすると、0<a<r/4であることを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、炉5内に設置されたるつぼ1内の原料溶液8に、種子結晶7を浸して引き上げながら結晶を育成する結晶成長装置において、前記原料溶液の液面の最低温度点14が、前記炉5の軸中心および前記種子結晶7が先端に取り付けられた引き上げ軸6の軸中心13からずれていることを特徴とする。
請求項4に記載の発明は、請求項3に記載の結晶成長装置において、前記ずれをa’とし、前記原料溶液の液面の最低温度点と前記るつぼの内壁までの最小距離をr’とすると、0<a’<r’/4であることを特徴とする。
請求項5に記載の発明は、請求項1、2または3に記載の前記結晶の主成分は、周期率表Ia族とVa族から構成されており、Ia族はカリウムであり、Va族はニオブ、タンタルの少なくとも1つを含むことを特徴とする。
請求項6に記載の発明は、請求項1、2または3に記載の前記結晶の主成分は、周期率表Ia族とVa族から構成されており、Ia族はカリウムであり、Va族はニオブ、タンタルの少なくとも1つを含み、添加不純物として周期率表Ia、IIa族の1または複数種を含むことを特徴とする。
請求項7に記載の発明は、炉内に設置されたるつぼ内の原料溶液に、種子結晶を浸して引き上げながら結晶を育成する結晶成長方法において、前記種子結晶が先端に取り付けられた引き上げ軸の軸中心が、前記炉の軸中心および前記るつぼの軸中心と一致しない状態で、前記種子結晶を前記原料溶液に接触させ、前記種子結晶が溶解せずかつ結晶成長も生じない状態を実現する種子付け過程と、前記炉内の温度を調整し、成長する結晶の直径制御を行う成長過程とを備えることを特徴とする。
請求項8に記載の発明は、請求項7に記載の結晶成長方法において、前記引き上げ軸の軸中心と前記炉の軸中心および前記るつぼの軸中心とのずれをaとし、前記るつぼの半径をrとすると、0<a<r/4であることを特徴とする。
請求項9に記載の発明は、炉内に設置されたるつぼ内の原料溶液に、種子結晶を浸して引き上げながら結晶を育成する結晶成長方法において、前記原料溶液の液面の最低温度点が、前記炉の軸中心および前記種子結晶が先端に取り付けられた引き上げ軸の軸中心と一致しない状態で、前記種子結晶を前記原料溶液に接触させ、前記種子結晶が溶解せずかつ結晶成長も生じない状態を実現する種子付け過程と、前記炉内の温度を調整し、成長する結晶の直径制御を行う成長過程とを備えることを特徴とする。
請求項10に記載の発明は、請求項9に記載の結晶成長方法において、前記原料溶液の液面の最低温度点と前記炉の軸中心および前記引き上げ軸の軸中心とのずれをa’とし、前記原料溶液の液面の最低温度点と前記るつぼの内壁までの最小距離をr’とすると、0<a’<r’/4であることを特徴とする。
以上説明したように、本発明によれば、引き上げ軸の軸中心が、炉の軸中心およびるつぼの軸中心からずれていること、または原料溶液の液面の最低温度点が、炉の軸中心および引き上げ軸の軸中心からずれていることにより、結晶成長の方向と速度が制御できるので、結晶欠陥であるセクタ境界面の影響を低減することが可能となる。
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について詳細に説明する。本発明の実施形態においては、引き上げ軸の軸中心とるつぼの軸中心とをずらして結晶成長を行う。TSSG法による結晶成長装置では、引き上げ軸、均熱管、るつぼを軸対称に配置するのが一般的である。従って、引き上げ軸の先端に取り付けられた種子結晶も軸対称に配置され、種子結晶の中心軸とるつぼの中心軸とは一致する。
このとき、るつぼ内の原料溶液の液面における温度分布を図3に示す。温度分布は、るつぼ1の軸中心を、原料溶液8の液面の最低温度点14として、同心円上の等温線15を描く。結晶は、原料溶液8の温度の低いところから高い方へ成長する。従って、種子付け過程から肩拡げ成長過程において、結晶成長は、るつぼ1の軸中心から径方向に等方的に進む。成長した結晶は、原料溶液8の等温線15に対応した軸対称の形状となる。図2に示したように、セクタ12は、それぞれ一方向に成長した領域であり、セクタ境界面11は、隣接するセクタ12同士の成長がぶつかり合ってできた境界面である。
結晶成長が、径方向に等方的であるから、{001}方向に引き上げたKTaNb1−x結晶は、ファセット面である{100}面で構成された断面が正方形の結晶となる。定形部の成長に際しては、肩拡げ成長過程で形成されたセクタ12を継承して、引き上げ方向に成長する。従って、図2に示したように、対角線上にセクタ境界面11を有するセクタ12が形成される。
本発明の実施形態においては、図3に示したように、引き上げ軸の軸中心を、るつぼ、均熱管の軸中心と距離aだけずらして設置する。このとき、半径rとすると、0<a<r/4の範囲で軸中心をずらす。結晶成長は、低温方向に向かって優先的に成長するので、図4(a)に示したように、肩拡げ成長過程おいて、種子結晶の軸中心13からるつぼ1の軸中心に向かって優先的に成長する。このようにして、図4(b)に示したように、種子結晶の軸中心と成長結晶の軸中心とが一致しない結晶が育成される。
この方法によれば、4つのセクタのうち一部が優先的に成長した結晶を製造することができる。この結晶を切り出してウェハを作製すれば、面積の大きいセクタを含むウェハとなる。面積の大きいセクタでは、物性が均一であるから、このウェハから機能素子を作製する場合の歩留まりを向上することができる。
また、図5に示したように、種子結晶の軸中心13と原料溶液8の液面の最低温度点14とをずらしても同様の効果を得ることができる。これは、るつぼの軸中心を、引き上げ軸、均熱管の軸中心からずらすことにより、実現することができる。このとき、種子結晶の軸中心13と最低温度点14とを距離a’だけずらして設置する。このとき、るつぼの内壁までの最小距離r’とすると、0<a’<r’/4の範囲で軸中心をずらす。肩拡げ成長過程おいて、るつぼ1の軸中心から最低温度点14に向かって優先的に成長する。このようにして、種子結晶の軸中心と成長結晶の軸中心とが一致しない結晶が育成される。
なお、距離a,a’は、成長結晶が結晶回転により、るつぼの内壁に接触しない範囲で成長できるように、実験的に見いだした値である。
以下に本発明の具体的実施例を説明する。本発明の精神を逸脱しない範囲で、種々の変更あるいは改良を行いうることは言うまでもない。
図6に、本発明の実施例1にかかるTSSG法による結晶製造装置の構成を示す。結晶製造装置は、図1に示した従来の結晶製造装置と同じ構成要素には、同じ参照符号を付して表す。従来の結晶製造装置との相違は、引き上げ軸6の軸中心を、るつぼ1、均熱管3の軸中心から距離aだけずらして配置している点である。ここでは、a=7.5mmである。
KTaNb1−x原料は、素原料であるKCOとTaとNbとを所望の組成比となるよう秤量し、直径60mmφのるつぼ1に充填する。KTaNb1−x原料が投入されたるつぼ1を、縦型管状炉5内に設置されたるつぼ台2上に設置する。ヒータ4を加熱することで、KTaNb1−x原料を昇温溶解し、原料溶液8を準備する。ソーキングと呼ばれる高温処理を原料溶液8に対して行い、原料溶液8内の炭酸基の蒸発、溶液内分子クラスターの分解を促進させる。種子結晶7が先端に取り付けられた引き上げ軸6を縦型管状炉5に導入し、原料溶液8に接触させ、結晶育成を開始する。
種子結晶7を原料溶液8に接触させる際、すなわち種子付け過程では、原料溶液8の温度を調整し、種子結晶7が溶解せずかつ結晶成長も生じない状態を実現する必要がある。 その後、引き上げ軸6を回転しながら、引き上げると同時に、一定冷却速度で冷却すると、種子結晶7の先端に結晶が析出し始め、成長結晶9が育成する。
肩拡げおよび定径部成長過程の間は、結晶成長の状態を形状センサまたは重量センサを用いて検出し、成長が早い場合には昇温、成長が遅い場合には冷却の微調整を加えて、成長結晶9の直径制御を行う。
実施例1によれば、種子結晶の軸中心と成長結晶の軸中心とが一致せず、4つのセクタのうちの1つが優先的に成長したKTaNb1−x単結晶を得ることができる。
図7に、本発明の実施例2にかかるTSSG法による結晶製造装置の構成を示す。結晶製造装置は、図1に示した従来の結晶製造装置と同じ構成要素には、同じ参照符号を付して表す。従来の結晶製造装置との相違は、るつぼ1の軸中心を、引き上げ軸6、均熱管3の軸中心からずらして配置している点である。ここでは、原料溶液の液面の最低温度点が引き上げ軸6、均熱管3の軸中心から距離a’=7.5mmだけずれるように、るつぼ1を配置する。
KTaNb1−x原料は、素原料であるKCOとTaとNbとを所望の組成比となるよう秤量し、直径60mmφのるつぼ1に充填する。KTaNb1−x原料が投入されたるつぼ1を、縦型管状炉5内に設置されたるつぼ台2上に設置する。ヒータ4を加熱することで、KTaNb1−x原料を昇温溶解し、原料溶液8を準備する。ソーキングと呼ばれる高温処理を原料溶液8に対して行い、原料溶液8内の炭酸基の蒸発、溶液内分子クラスターの分解を促進させる。種子結晶7が先端に取り付けられた引き上げ軸6を縦型管状炉5に導入し、原料溶液8に接触させ、結晶育成を開始する。
種子結晶7を原料溶液8に接触させる際、すなわち種子付け過程では、原料溶液8の温度を調整し、種子結晶7が溶解せずかつ結晶成長も生じない状態を実現する必要がある。 その後、引き上げ軸6を回転しながら、引き上げると同時に、一定冷却速度で冷却すると、種子結晶7の先端に結晶が析出し始め、成長結晶9が育成する。
肩拡げおよび定径部成長過程の間は、結晶成長の状態を形状センサまたは重量センサを用いて検出し、成長が早い場合には昇温、成長が遅い場合には冷却の微調整を加えて、成長結晶9の直径制御を行う。
実施例2によれば、種子結晶の軸中心と成長結晶の軸中心とが一致せず、4つのセクタのうちの1つが優先的に成長したKTaNb1−x単結晶を得ることができる。
本実施形態において、結晶の主成分は、周期率表Ia族とVa族から構成されており、Ia族はカリウムであり、Va族はニオブ、タンタルの少なくとも1つを含むことができる。さらに、添加不純物として周期率表Ia族、例えばリチウム、またはIIa族の1または複数種を含むこともできる。
従来のTSSG法による結晶製造装置の構成を示す図である。 従来の結晶成長方法における結晶欠陥であるセクタ境界面の影響を説明するための図である。 るつぼ内の原料溶液の液面における温度分布を示す図である。 引き上げ軸の軸中心とるつぼの軸中心とをずらして結晶成長を行う方法を示す図である。 原料溶液の液面の最低温度点と引き上げ軸および均熱管の軸中心とをずらして結晶成長を行う方法を示す図である。 本発明の実施例1にかかるTSSG法による結晶製造装置の構成を示す図である。 本発明の実施例2にかかるTSSG法による結晶製造装置の構成を示す図である。
符号の説明
1 るつぼ
2 るつぼ台
3 均熱管
4 ヒータ
5 縦型管状炉
6 引き上げ軸
7 種子結晶
8 原料溶液
9 成長結晶
10 炉体ふた

Claims (10)

  1. 炉内に設置されたるつぼ内の原料溶液に、種子結晶を浸して引き上げながら結晶を育成する結晶成長装置において、
    前記種子結晶が先端に取り付けられた引き上げ軸の軸中心が、前記炉の軸中心および前記るつぼの軸中心からずれていることを特徴とする結晶成長装置。
  2. 前記ずれをaとし、前記るつぼの半径をrとすると、0<a<r/4であることを特徴とする請求項1に記載の結晶成長装置。
  3. 炉内に設置されたるつぼ内の原料溶液に、種子結晶を浸して引き上げながら結晶を育成する結晶成長装置において、
    前記原料溶液の液面の最低温度点が、前記炉の軸中心および前記種子結晶が先端に取り付けられた引き上げ軸の軸中心からずれていることを特徴とする結晶成長装置。
  4. 前記ずれをa’とし、前記原料溶液の液面の最低温度点と前記るつぼの内壁までの最小距離をr’とすると、0<a’<r’/4であることを特徴とする請求項3に記載の結晶成長装置。
  5. 前記結晶の主成分は、周期率表Ia族とVa族から構成されており、Ia族はカリウムであり、Va族はニオブ、タンタルの少なくとも1つを含むことを特徴とする請求項1、2または3に記載の結晶成長装置。
  6. 前記結晶の主成分は、周期率表Ia族とVa族から構成されており、Ia族はカリウムであり、Va族はニオブ、タンタルの少なくとも1つを含み、添加不純物として周期率表Ia、IIa族の1または複数種を含むことを特徴とする請求項1、2または3に記載の結晶成長装置。
  7. 炉内に設置されたるつぼ内の原料溶液に、種子結晶を浸して引き上げながら結晶を育成する結晶成長方法において、
    前記種子結晶が先端に取り付けられた引き上げ軸の軸中心が、前記炉の軸中心および前記るつぼの軸中心と一致しない状態で、前記種子結晶を前記原料溶液に接触させ、前記種子結晶が溶解せずかつ結晶成長も生じない状態を実現する種子付け過程と、
    前記炉内の温度を調整し、成長する結晶の直径制御を行う成長過程と
    を備えることを特徴とする結晶成長方法。
  8. 前記引き上げ軸の軸中心と前記炉の軸中心および前記るつぼの軸中心とのずれをaとし、前記るつぼの半径をrとすると、0<a<r/4であることを特徴とする請求項7に記載の結晶成長方法。
  9. 炉内に設置されたるつぼ内の原料溶液に、種子結晶を浸して引き上げながら結晶を育成する結晶成長方法において、
    前記原料溶液の液面の最低温度点が、前記炉の軸中心および前記種子結晶が先端に取り付けられた引き上げ軸の軸中心と一致しない状態で、前記種子結晶を前記原料溶液に接触させ、前記種子結晶が溶解せずかつ結晶成長も生じない状態を実現する種子付け過程と、
    前記炉内の温度を調整し、成長する結晶の直径制御を行う成長過程と
    を備えることを特徴とする結晶成長方法。
  10. 前記原料溶液の液面の最低温度点と前記炉の軸中心および前記引き上げ軸の軸中心とのずれをa’とし、前記原料溶液の液面の最低温度点と前記るつぼの内壁までの最小距離をr’とすると、0<a’<r’/4であることを特徴とする請求項9に記載の結晶成長方法。
JP2004332068A 2004-11-16 2004-11-16 結晶成長装置 Pending JP2006143488A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004332068A JP2006143488A (ja) 2004-11-16 2004-11-16 結晶成長装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004332068A JP2006143488A (ja) 2004-11-16 2004-11-16 結晶成長装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006143488A true JP2006143488A (ja) 2006-06-08

Family

ID=36623605

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004332068A Pending JP2006143488A (ja) 2004-11-16 2004-11-16 結晶成長装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2006143488A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104471118B (zh) SiC单晶锭及其制造方法
JP5434801B2 (ja) SiC単結晶の製造方法
JP4810346B2 (ja) サファイア単結晶の製造方法
TWI324643B (ja)
KR101048831B1 (ko) 단결정 제조용 흑연 히터 및 단결정 제조장치와 단결정 제조방법
JP4151474B2 (ja) 単結晶の製造方法及び単結晶
JP2007099579A (ja) 結晶製造方法およびその装置
JP4899608B2 (ja) 半導体単結晶の製造装置及び製造方法
JP2004224577A (ja) Pドープシリコン単結晶の製造方法及びpドープn型シリコン単結晶ウェーハ
JP2007284324A (ja) 半導体単結晶の製造装置及び製造方法
KR100848549B1 (ko) 실리콘 단결정 성장 방법
JP2006143488A (ja) 結晶成長装置
JP4314974B2 (ja) シリコン単結晶の製造方法及びシリコン単結晶
JP4218460B2 (ja) 単結晶製造用黒鉛ヒーター及び単結晶製造装置ならびに単結晶製造方法
JP2006248808A (ja) 結晶製造装置
JP4146835B2 (ja) 結晶成長方法
JP4817670B2 (ja) 結晶成長装置
JP4148060B2 (ja) 単結晶製造用黒鉛ヒーター及び単結晶製造装置ならびに単結晶製造方法
JP2020037499A (ja) 熱遮蔽部材、単結晶引き上げ装置及び単結晶の製造方法
JP4146829B2 (ja) 結晶製造装置
JP2008260663A (ja) 酸化物単結晶の育成方法
JP4148059B2 (ja) 単結晶製造用黒鉛ヒーター及び単結晶製造装置ならびに単結晶製造方法
JP6414161B2 (ja) シリコン単結晶の製造方法及び装置
JP2012036015A (ja) 結晶成長方法
KR100880436B1 (ko) 실리콘 단결정 성장 방법의 평가 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Effective date: 20070620

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070626

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070824

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080603

RD13 Notification of appointment of power of sub attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7433

Effective date: 20080723

A521 Written amendment

Effective date: 20080804

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

A521 Written amendment

Effective date: 20080723

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20080912