JP2006121057A - 拡散器重力支持体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】少なくとも1つの支持部材15は、拡散器20を通る1つ以上ののガスの流れを妨げることのない噛み合い接続によって拡散器20と係合し、かつ拡散器から外すができ、また、その周辺を支持された拡散器20を垂直方向に吊り下げるように設計され、あるいは周辺支持体を備えることなく、拡散器を支持することができる。1つの態様においては、少なくとも1つの支持部材15は、ガス供給導管の一部分であり、拡散器の中央領域を垂直方向に並進させて持ち上げ、あるいは垂直方向に圧縮することができる。
【選択図】 図1
Description
[0001]本発明の実施形態は、一般的には、1つ以上ののガスをプラズマチャンバに供給することに関する。より詳細には、本発明は、チャンバ内においてガス分配プレートを支持することに関する。
[0002]フラットパネルディスプレイは、絶縁体、導体、および薄膜トランジスタ(TFT)のような電子デバイスからなるアクティブマトリックスを用い、テレビモニタ、携帯情報端末(PDA)、およびコンピュータ画面のような様々なデバイスに使用されるフラットスクリーンを製造する。一般的には、これらのフラットパネルディスプレイは、ガラス、高分子材料、またはその他の適切な基板材料からなる2つの薄いパネルから作られる。液晶材料または金属接点のマトリックスからなる層、半導体アクティブ層、および誘電体層は、一連のステップによって堆積され、2つの薄いパネルの間にサンドイッチ状に挟まれ、この2つの薄いパネルは、お互いに結合され、その上に設置された少なくとも1つのフラットパネルディスプレイを有する大面積基板を形成する。パネルの少なくとも一方は、電源に結合される導電膜を含み、この電源は、液晶材料の配向を変化させ、パターン化された表示をスクリーン面上に作成する。
Claims (46)
- チャンバ内においてガス分配プレートを支持するための装置であって、
チャンバと、
中央領域と中央領域に存在する少なくとも1つの開口とを有するチャンバ内におけるバッキングプレートと、
中央領域を有するチャンバ内におけるガス分配プレートと、
バッキングプレートにおける少なくとも1つの開口内に存在しかつガス分配プレートの中央領域に係合する少なくとも1つの支持部材であって、ガス分配プレートが、少なくとも1つの支持部材によって吊り下げられる、少なくとも1つの支持部材と、
を備える装置。 - 少なくとも1つの支持部材が、拡散器重力支持体である、請求項1に記載の装置。
- 少なくとも1つの支持部材が、ねじ付き支持体である、請求項1に記載の装置。
- 少なくとも1つの支持体が、ピボット支持体である、請求項1に記載の装置。
- ガス分配プレートの少なくとも一部分が、チャンバに結合された柔軟性のある接続によって、周辺を支持される、請求項1に記載の装置。
- 拡散器重力支持体が、雄型の噛み合い機構を有し、ガス分配プレートが、雌型の噛み合い機構を有する、請求項2に記載の装置。
- 支持部材が、電源に結合するように構成され、かつガス分配プレートに電気的に結合するように構成される、請求項2に記載の装置。
- チャンバが、
平面の水平方向プロフィールを有する基板支持体であって、基板支持体が、ガス分配プレートの下方に配置され、かつガス分配プレートが、凹状の水平方向プロフィールを有する基板支持体を、
更に備える、請求項1に記載の装置。 - チャンバが、プロセスガスをガス分配プレートに供給するためのガス通路を更に備える、請求項1に記載の装置。
- プロセスガスをプロセスチャンバ内の反応域に供給するためのガス分配プレートであって、
長方形プレートであって、この長方形プレートを貫通して形成された複数のオリフィスを備え、かつ中央領域を有する、長方形プレートと、
少なくとも1つの取り外し可能な支持部材を収容するように適合された中央領域に形成された少なくとも1つの雌型噛み合い機構と、
を備えるガス分配プレート。 - 少なくとも1つの雌型噛み合い機構が、ねじ接続である、請求項10に記載の装置。
- 少なくとも1つの雌型噛み合い機構が、複数のキーと噛み合うように適合された複数のスロットである、請求項10に記載の装置。
- 取り外し可能な支持部材が、プロセスガスを複数のオリフィスに供給するように構成される、請求項10に記載の装置。
- 取り外し可能な支持部材が、長方形プレートに電気的に結合するように構成される、請求項10に記載の装置。
- 長方形プレートが、平面の水平方向プロフィール、凹状の水平方向プロフィール、凸状の水平方向プロフィールの中の1つを呈する、請求項10に記載の装置。
- プロセスガスをチャンバ内の反応域に供給するための拡散器であって、
長方形プレートであって、この長方形プレートを貫通して形成された複数の開口を有し、かつ4つの縁および1つの中央領域を有する、長方形プレートと、
4つの縁のそれぞれに結合された支持体と、
中央領域に結合された少なくとも1つの支持部材であって、少なくとも1つの支持部材を調節することによって、中央領域が、平面、凹状、または凸状の中の1つである水平方向プロフィールを提供するように調節可能である支持部材と、
を備える拡散器。 - 水平方向プロフィールが、凹状であり、かつチャンバ内の基板支持体上に配置された基板の水平方向プロフィールが、平面である、請求項16に記載の拡散器。
- 中央領域に結合された複数の支持部材であって、複数の支持部材の中の1つが、ガス供給源に結合され、かつプロセスガスを長方形プレートに供給するように適合された支持部材を更に備える、請求項16に記載の拡散器。
- 複数の支持部材を収容するための複数の雌型噛み合い機構を更に備える、請求項18に記載の拡散器。
- 堆積チャンバ内においてガス分配プレートを支持するように適合された装置であって、
長方形プレートであって、中央領域を有し、かつ堆積チャンバに結合される、長方形プレートと、
少なくとも1つの取り外し可能な支持部材を収容するように適合された中央領域における少なくとも1つの開口と、
を備える装置。 - 長方形プレートの下方に存在する拡散器であって、少なくとも1つの取り外し可能な支持部材を収容するために、この拡散器に形成された少なくとも1つの雌型噛み合い機構を有する、拡散器を更に備える、請求項20に記載の装置。
- 少なくとも1つの雌型噛み合い機構が、複数のキーと噛み合うように適合された複数のスロットである、請求項21に記載の装置。
- 少なくとも1つの雌型噛み合い機構が、拡散器に形成されたねじ接続と噛み合うように適合されたボルトである、請求項21に記載の装置。
- 取り外し可能な支持部材が、プロセスガスを複数のオリフィスに供給するように構成される、請求項21に記載の装置。
- 取り外し可能な支持部材が、長方形プレートに電気的に結合するように構成される、請求項21に記載の装置。
- 長方形プレートが、平面であり、拡散器が、平面の水平方向プロフィール、凹状の水平方向プロフィール、または凸状の水平方向プロフィールの中の1つを呈するように構成される、請求項21に記載の装置。
- プロセスガスをチャンバ内の反応域に供給するための拡散器であって、
長方形プレートであって、この長方形プレートを貫通して形成された複数の開口を有し、かつ4つの縁および1つの中央領域を有する、長方形プレートと、
4つの縁のそれぞれに結合された支持体と、
中央領域に結合するように適合された少なくとも1つの支持部材であって、少なくとも1つの支持部材を調節することによって、中央領域が、平面、凹状、または凸状の中の1つである水平方向プロフィールを提供するように調節可能である、支持部材と、
を備える拡散器。 - 水平方向プロフィールが、凹状であり、かつチャンバ内の基板支持体上に配置された基板の水平方向プロフィールが、平面である、請求項27に記載の拡散器。
- 中央領域に結合された複数の支持部材であって、複数の支持部材の中の1つが、ガス供給源に結合され、かつプロセスガスを長方形プレートに供給するように適合される、支持部材、
を更に備える、請求項27に記載の拡散器。 - 複数の支持部材を収容するための複数の雌型噛み合い機構を更に備える、請求項27に記載の拡散器。
- ガス分配プレートを支持するための支持部材であって、
第1の端部および第2の端部を有する本体であって、第2の端部が、ガス分配プレートに配置された雌型噛み合い機構に結合するように適合された雄型噛み合い機構を有する、本体を備える支持部材。 - 雄型噛み合い機構が、ねじ接続を備える、請求項31に記載の支持部材。
- 雄型噛み合い機構が、複数のキーを備える、請求項31に記載の支持部材。
- 支持部材が、ピボット支持体を備える、請求項31に記載の支持部材。
- 支持部材が、重力支持体を備える、請求項31に記載の支持部材。
- 薄膜堆積のためのガス分配プレートであって、
長方形プレートを貫通して形成された複数のオリフィスを有する長方形プレートと、
中央領域および周辺と、
中央領域に形成された少なくとも1つの雌型噛み合い機構であって、周辺が平面であり、中央領域が凹状である、少なくとも1つの雌型噛み合い機構と、
を備えるガス分配プレート。 - 少なくとも1つの雌型噛み合い機構が、支持部材を収容するように構成される、請求項36に記載のガス分配プレート。
- 支持部材が、重力支持体である、請求項37に記載のガス分配プレート。
- 支持部材が、ピボット支持体である、請求項37に記載のガス分配プレート。
- 支持部材が、ボルトである、請求項37に記載のガス分配プレート。
- 基板上に薄膜を堆積する方法であって、
プロセスチャンバ内においてガス分配プレートの下方に存在する基板支持体上に基板を配置するステップであって、このガス分配プレートが、調節可能な水平方向プロフィールを有する、基板を配置するステップと、
ガス分配プレートに配置された複数の開口を介してプロセスガスを流し込むステップと、
ガス分配プレートと基板との間にプラズマを形成するステップと、
基板上に薄膜を堆積するステップと、
を備える方法。 - 水平方向プロフィールが、凹状の形状を呈するように調節される、請求項41に記載の方法。
- プラズマを形成するステップが、
プロセスチャンバを約350℃から約450℃までの温度に加熱するステップ、
を更に備える、請求項41に記載の方法。 - 薄膜が、アモルファスシリコンである、請求項41に記載の方法。
- 水平方向プロフィールが、少なくとも1つの支持部材を用いて調節される、請求項41に記載の方法。
- 水平方向プロフィールが、複数の支持部材を用いて調節される、請求項41に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US61151204P | 2004-09-20 | 2004-09-20 | |
US65361705P | 2005-02-16 | 2005-02-16 | |
US11/188,922 US7429410B2 (en) | 2004-09-20 | 2005-07-25 | Diffuser gravity support |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009193343A Division JP5105335B2 (ja) | 2004-09-20 | 2009-08-24 | 拡散器重力支持体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006121057A true JP2006121057A (ja) | 2006-05-11 |
JP4662144B2 JP4662144B2 (ja) | 2011-03-30 |
Family
ID=36072566
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2005272673A Expired - Fee Related JP4662144B2 (ja) | 2004-09-20 | 2005-09-20 | 拡散器プロフィールを調節し膜を堆積する方法 |
JP2009193343A Active JP5105335B2 (ja) | 2004-09-20 | 2009-08-24 | 拡散器重力支持体 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009193343A Active JP5105335B2 (ja) | 2004-09-20 | 2009-08-24 | 拡散器重力支持体 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JP4662144B2 (ja) |
KR (2) | KR101019766B1 (ja) |
CN (1) | CN1758826B (ja) |
TW (1) | TWI287279B (ja) |
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- 2005-09-20 KR KR1020050087454A patent/KR101019766B1/ko active IP Right Grant
- 2005-09-20 JP JP2005272673A patent/JP4662144B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
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JP7049488B2 (ja) | 2015-09-22 | 2022-04-06 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | シャワーヘッド支持構造 |
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WO2019244790A1 (ja) * | 2018-06-20 | 2019-12-26 | 株式会社アルバック | 真空処理装置、支持シャフト |
JPWO2019244790A1 (ja) * | 2018-06-20 | 2021-01-07 | 株式会社アルバック | 真空処理装置、支持シャフト |
JP7121121B2 (ja) | 2018-06-20 | 2022-08-17 | 株式会社アルバック | 真空処理装置、支持シャフト |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20060092886A (ko) | 2006-08-23 |
JP2010013733A (ja) | 2010-01-21 |
KR20100082334A (ko) | 2010-07-16 |
TW200611386A (en) | 2006-04-01 |
KR101019766B1 (ko) | 2011-03-08 |
CN1758826A (zh) | 2006-04-12 |
JP5105335B2 (ja) | 2012-12-26 |
CN101921997A (zh) | 2010-12-22 |
CN1758826B (zh) | 2010-05-05 |
JP4662144B2 (ja) | 2011-03-30 |
KR101019845B1 (ko) | 2011-03-04 |
TWI287279B (en) | 2007-09-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090224 |
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A601 | Written request for extension of time |
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|
A602 | Written permission of extension of time |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20101210 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20101222 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |