JP2006119335A - 端末装置の表示部駆動方法及び駆動システム - Google Patents

Abstract

【課題】使用による有機ＥＬ素子の劣化を抑制し、補正をすることなく、より長時間の使用が可能な有機ＥＬディスプレイを提供することを目的とし、特に有機ＥＬ素子の劣化の大きい高温での使用による劣化を抑制すること。
【解決手段】有機ＥＬ素子をマトリクス状に配置した表示部を持つ端末装置の表示部駆動方法において、前記表示部の温度を検出し、前記表示部の温度によって表示データの変換をする。ここで、表示データの変換とは、表示時間を変化させることであり、表示時間の変化とは、スタンバイ状態に入るまでの時間を変化させること又は表示データを間引くことにより変化させること、或は１フレームの中の点灯Ｄｕｔｙを変化させることである。
【選択図】図１

Description

本発明は、有機ＥＬ素子をマトリクス状に配置した表示部を持つ端末装置の表示部駆動方法及び駆動システムに関する。

近年、薄型の表示装置が携帯電話やデジタルカメラ等の携帯可能な端末装置の小型の表示部として一般に使用されている。薄型の表示装置の一例としては、液晶ディスプレイが挙げられる。一方、ここ数年、前記液晶ディスプレイの問題点である視野角特性、消費電力等を解決することができるとされている有機ＥＬ素子を用いた有機ＥＬディスプレイが次世代のディスプレイとして注目され、実用化され始めている。

しかし、有機ＥＬ素子は、自発光素子であり、長時間の使用によって表示輝度が低下してしまうという問題点がある。更に、前記表示輝度の低下は温度によって大きく左右され、高温での使用における低下が大きいことが知られている。

上記輝度低下を防止する方法として、特許文献１では、動作している累積時間及び表示部の温度に基づいて、表示部の輝度を制御し、表示輝度を一定に保つ方法が開示されている。更に、特許文献２においては、有機ＥＬ素子の経時変化を検出し、輝度や色味補正を実施する技術が開示されている。

特開２００２−３７２９４９号公報 特開２００２−２７８５１４号公報

しかし、何れの技術も使用によって輝度劣化が発生した有機ＥＬ素子の輝度を一定に保つための技術であり、輝度を一定にするために消費電力の上昇等のデメリットが懸念される。

そこで、本発明は、使用による有機ＥＬ素子の劣化を抑制し、補正をすることなく、より長時間の使用が可能な有機ＥＬディスプレイを提供することを目的とし、特に有機ＥＬ素子の劣化の大きい高温での使用による劣化を抑制することを目的としてる。

本発明は、上記目的を達成するために以下のように構成されている。
（１）有機ＥＬ素子をマトリクス状に配置した表示部を持つ端末装置の表示部駆動方法において、前記表示部の温度を検出し、前記表示部の温度によって表示データの変換をする。
（２）（１）の表示データの変換とは、表示時間を変化させる。
（３）（２）の表示時間の変化とは、スタンバイ状態に入るまでの時間を変化させる。
（４）（２）の表示時間の変化とは、表示データを間引くことにより変化させる。
（５）（２）の表示時間の変化とは、１フレームの中の点灯Ｄｕｔｙを変化させる。
（６）有機ＥＬ素子をマトリクス状に配置した表示部を持つ端末装置の表示部駆動システムにおいて、前記表示部の温度を検知する温度検知部と、温度検知部からデータを受け取り表示部の温度を検出する温度検出部と前記表示部の温度に基づいて表示データを変換する表示データ変換部とを有する駆動システム。
（７）（６）の表示データ変換部とは、表示時間変換部である。
（８）（７）の表示時間変換部とは、スタンバイ状態に入るまでの時間調整部である。
（９）（７）の表示時間変換部とは、表示データを間引く間引き部である。
（１０）８７）の表示時間変換部とは、点灯Ｄｕｔｙの変換部である。
（１１）（６）の温度検知部は、ＴＦＴから成る。

本発明によれば、使用による有機ＥＬ素子の劣化による輝度低下を抑制することができ、より長時間、表示品位を保つことができる。

以下、本発明の具体的実施の形態を示し、本発明を更に詳細に説明する。
＜実施の形態１＞
図１に本実施の形態で使用した端末装置の表示部周辺のブロック図を示す。１０１は有機ＥＬ素子をマトリクス状に配置した有機ＥＬディスプレイ、１０２は表示部の温度を検知する検知部、１０３は温度検知部からの温度を検出する温度検出部、１０４はメモリ１０５に蓄積されたデータを読み出し、温度検出部１０３の表示部温度に基いて表示部に表示させる制御部である。ここで、温度検知部１０３は、通常温度検出用として使用されるサーミスタや抵抗センサが考えられ、温度を検知できれば良く、特に限定はない。

次に、図１と図２を用いて本実施の形態の制御方法を説明する。

端末装置の電源がＯＮ（Ｓ２００）されると表示部１０１に映像が表示される。制御部１０４が温度検出部１０３から温度データを取得し、表示部の温度が６０℃以上か判定する（Ｓ２０１）。表示部が６０℃以上だった場合、制御部は、表示部が高温状態であると判断し、高温駆動処理（Ｓ２０２）を実行する。次に、前回の温度取得から１分以上経過（Ｓ２０４）したら、再度表示部の温度を取得する。又、表示部が６０℃以上でなかった場合、駆動処理をリセット（Ｓ２０３）し、表示部の駆動を通常駆動に戻す。

本実施の形態では、端末装置におけるユーザー操作が一定時間実施されなかった場合に、制御部が表示部の輝度を低下させたり、表示部の表示をＯＦＦにしたりする（以下、スタンバイ状態と言う）表示部制御において、検出温度に基づいてスタンバイ状態に移行する時間を変更する。ここでは、６０℃以上の高温駆動処理は１分としている。又、通常駆動（６０℃以下のデフォルト）では、３分とした。これによって、高温状態での表示部に表示されている時間が少なくすることができ、有機ＥＬ素子の劣化を抑制することができる。

又、本実施の形態では、６０℃を超えているか否かでスタンバイ状態への移行時間を変えたが、温度を２段階以上の複数段階持ち、温度レンジに応じて細かくスタンバイ状態への移行時間を設定することが好ましい。
＜実施の形態２＞
本実施の形態が、前記実施の形態１と異なる点は高温駆動処理の方法である。

図３と図４を用いて説明する。

メモリデータ（３０２）は、メモリ１０５から制御に読み出されるデータ、間引きデータ（３０１）は、不図示のメモリから表示部の温度に基づいて読み出されるデータである。これらのメモリデータと間引きデータの乗算により、表示データ３０３が生成され表示部１０１に表示される。図４の（１）のＡは、メモリから読み出された或る行の１０画素分のデータである。データは、８ｂｉｔの２５６階調であり、ＩからIIIの領域がレベル２５５IV〜Ｖがレベル０、VI〜Ｘがレベル２５５である。４０１に６０℃以下の通常駆動時の画素の表示状態を示している。レベル２５５の位置の画素は、白、レベル０の位置の画素は黒となっている。

更に、間引きデータをＢに示している。ここでは、５０％の間引きとしている。間引きデータは、Ｉの位置が１、IIの位置が０、以降１と０が交互に出力されるパターンとなっている。ＣにＡとＢを乗算した表示データ３０３を示す。Ｉの領域のレベル２５５はそのまま表示されるが、IIの位置の２５５のデータはレベル０となっている。６０℃以上の高温駆動処理時の表示状態４０２を見ると通常駆動時の４０１に比べて間引かれているのが分かる。更に、本実施の形態において表示部の表示は、６０ｍｓｅｃ毎にメモリ１０５のデータから読み出されて更新されている。次の画素データの表示更新の際には、（２）のように間引きデータのパターンＥを（１）の間引きデータパターンＢの反転データとしている。それによって、所定位置の画素に着目した際に、点灯時間が通常表示の５０％となるように制御している。

又、本実施の形態では、６０℃を超えているか否かで間引きを変えたが、温度レンジを２段階以上の複数段階持ち、温度レンジに応じて細かく間引きを設定することが好ましい。

本実施の形態の制御によって、表示部が高温時に所定画素の点灯時間が短くなり、有機ＥＬ素子の劣化を抑制することができる。
＜実施の形態３＞
本実施の形態が実施の形態１と異なる点は、高温駆動処理の方法である。
図５を用いて説明する。

本実施の形態の表示部は、１フレーム６０ｍｓｅｃで駆動している。図５において５００の範囲が１フレームに相当する。Ａは、表示部温度が６０℃通常駆動時のある画素の輝度の変化の状態を示している。データを更新するためにブランク５０１（約６０μｓｅｃ）が存在するが１フレームの間同じ輝度で発光している。それに対してＢは、６０℃以上の恒温駆動時であるが、発光している期間が通常駆動に比べて短くなっている。従って、Ａの時に比べてＢの方が表示時間が短く輝度が低くなっているのが分かる。

又、本実施の形態では、６０℃を超えているか否かで発光期間を変えたが、温度レンジを２段階以上の複数段階持ち、温度レンジに応じて細かく発光期間を設定することが好ましい。

本実施の形態の制御によって、表示部が高温時に所定画素の点灯時間が短くなり、有機ＥＬ素子の劣化を抑制することができる。
＜実施の形態４＞
本実施の形態において、温度検知部としてＴＦＴを利用している。

図６及び図７を用いて説明する。

図６は、一般的なＴＦＴの温度特性を示す図である。ＴＦＴ６００のドレイン６０２とソース６０３、ゲート６０１とソース６０３に一定電圧を印加した際のドレイン−ソース電流特性を示したものである。温度が上昇するに従い、ＴＦＴのＯＮ抵抗の上昇により電流値が低下する。

図７は、図６に流れる電流を検出する温度検出部１０３の詳細を示したものである。ＴＦＴ７００のドレイン−ソースに流れる電流を所定の抵抗値を持つ抵抗７０１に流し、オペアンプ７０２により出力される電圧をＡ／Ｄ変換器７０３を介して、制御部１０４に接続される。

ＴＦＴを用いるメリットとして、ＴＦＴを用いたアクティブマトリクスにより駆動する表示部を持つ場合、同じ回路作製プロセスにて温度検知部を設けることができる点が挙げられる。

本発明の全実施の形態で使用されるシステムのブロック図である。 本発明の全実施の形態で使用される駆動処理のフロー図である。 本発明の実施の形態２で使用される高温駆動処理のブロック図である。 本発明の実施の形態２の高温駆動処理時の表示データの説明図である。 本発明の実施の形態３の高温駆動処理時の表示データの説明図である。 本発明の実施の形態４で使用される温度検知部の図である。 本発明の実施の形態４で使用される温度検出部の図である。

符号の説明

１０１ 有機ＥＬディスプレイ
１０２ 検知部
１０３ 温度検知部
１０４ 制御部
１０５ メモリ

Claims (11)

1. 有機ＥＬ素子をマトリクス状に配置した表示部を持つ端末装置の表示部駆動方法において、
   前記表示部の温度を検出し、前記表示部の温度によって表示データの変換をすることを特徴とする端末装置の表示部駆動方法。
2. 前記表示データの変換とは、表示時間を変化させることを特徴とする請求項１記載の端末装置の表示部駆動方法。
3. 前記表示時間の変化とは、スタンバイ状態に入るまでの時間の変化であることを特徴とする請求項２記載の端末装置の表示部駆動方法。
4. 前記表示時間の変化とは、表示データを間引くことにより変化させることを特徴とする請求項２記載の端末装置の表示部駆動方法。
5. 前記表示時間の変化とは、１フレームの中の点灯Ｄｕｔｙを変化させることを特徴とする請求項２記載の端末装置の表示部駆動方法。
6. 有機ＥＬ素子をマトリクス状に配置した表示部を持つ端末装置の表示部駆動システムにおいて、
   前記表示部の温度を検知する温度検知部と、温度検知部からデータを受け取り表示部の温度を検出する温度検出部と、前記表示部の温度に基づいて表示データを変換する表示データ変換部とを有することを特徴とする端末装置の表示部駆動システム。
7. 前記表示データ変換部とは、表示時間変換部であることを特徴とする請求項６記載の端末装置の表示部駆動システム。
8. 前記表示時間変換部とは、スタンバイ状態に入るまでの時間調整部であることを特徴とする請求項７記載の端末装置の表示部駆動システム。
9. 前記表示時間変換部とは、表示データを間引く間引き部であることを特徴とする請求項７記載の端末装置の表示部駆動システム。
10. 前記表示時間変換部とは、点灯Ｄｕｔｙの変換部であることを特徴とする請求項７記載の端末装置の表示部駆動システム。
11. 前記温度検知部は、ＴＦＴから成ることを特徴とする請求項６記載の端末装置の表示部駆動システム。

Images