JP2006090902A - 濃度測定装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 測定精度が高く、測定作業が容易な濃度測定装置を提供する。
【解決手段】 装置ケース60内に、装置ブロック2を内蔵し、装置ブロック2には、この装置ブロック2の一方の側面に設けられた複数の光源モジュール3と、装置ブロック2の他方の側面に設けられた、光源モジュール3と同数の検出器4とが一体的に設けられている。装置ブロック2の上には、被測定物を載せたガラスチップ40を固定するためのチップホルダ30Aおよび保持部材30Bが設けられている。
【選択図】 図1

Description

本発明は濃度測定装置に関し、さらに詳しくは、被測定試料の濃度を光を用いて測定する濃度測定装置に関する。
従来、インスリンなどの各種のホルモン、タンパク質、血糖などの有機物質の濃度測定方法としては、電極反応で発生する電圧を測定する方法や、物質と反応して吸着される色素を用いて色変化をレーザ光などの光量の変化で測定する光学式濃度測定方法(例えば、特許文献1参照。)などがある。この光学式濃度測定方法は、測定の分解能が高いという利点がある。
以下、この光学式濃度測定方法を簡単に説明する。先ず、ガラスチップの上に液体状の被測定物を配置し、被測定物に例えば色素を反応させて被測定物の濃度に応じて入射光が吸収されるようにする。その後、ガラスチップ内にレーザ光を導き、被測定物が配置された領域を通過したレーザ光をガラスチップの外側に取り出して光量検出を行う。この光量の検出値から被測定物の濃度を算出している。
特開2004−184381号(第1頁、図1)
上述した光学式濃度測定方法では、ガラスチップに対して光源および検出器を所定位置に配置し、光源から出射された光が被測定物を配置した領域へ最適な状態で入射されるように、ガラスチップと、光源と、検出器とを精度よく配置させる必要があった。
また、上述した光学式濃度測定方法では、検出器に入射する光に濃度測定に関与しない光が混入する場合があり、測定精度に悪影響を与える場合があった。
そこで、本発明の目的は、測定精度が高く、測定作業が容易な濃度測定装置を提供することにある。
本発明の特徴は、光導波路となる光導波路基板上に配置された被測定物に、光導波路を通る光を当てて濃度測定を行う濃度測定装置であって、光導波路基板を載置してこの光導波路基板と対向する基板載置面を有するブロックと、濃度検出用の光を出射する光源を備える光源モジュールと検出器とを備え、光源モジュールと検出器とがブロックに固定され、光源から出射される光がブロックに載置された光導波路基板に規定の入射角度で入射するように設定され、光導波路基板から出射される光を受ける位置に検出器の受光面が配置されていることを要旨としている。
本発明によれば、測定作業が容易で測定精度の高い濃度測定装置を提供することを可能とする。
以下、本発明の実施の形態に係る濃度測定装置の詳細を図面に基づいて説明する。
(第1の実施の形態)
図1は本発明の第1の実施の形態に係る濃度測定装置を示す斜視図、図2は濃度測定装置の使用方法を示す分解斜視図、図3は図2のA−A断面図を示している。
図1〜図3に示すように、本実施の形態の濃度測定装置1は、装置ケース60内に、装置ブロック2を内蔵している。
装置ブロック2には、この装置ブロック2の一方の側面に設けられた複数の光源モジュール3と、装置ブロック2の他方の側面に設けられた、光源モジュール3と同数の検出器4とを備えている。また、装置ブロック2の上には、被測定物を載せたガラスチップ40を固定するためのチップホルダ30Aおよび保持部材30Bが設けられている。また、装置ブロック2上には、ガラスチップ40を収納するチップキャリア50が配置されるようになっている。
〔装置ブロックの構成〕
図2および図3に示すように、装置ブロック2は略台状の構造を有する金属ブロックで形成されている。具体的には、装置ブロック2の外形は、長方形状の上面5と、この上面5に対して平行をなす長方形状の下面6と、図中に矢印yで示す方向の両側に位置する、台形状で互いに平行をなす一対の側面7と、図中に矢印xで示す方向の両側に位置する一対のテーパ面8、9と、を備えている。
上面5には、図中に矢印xで示す方向の中央に長方形状にやや高く形成された基板載置面10が設けられている。基板載置面10には、基板載置領域11が互いに平行をなすように矢印y方向に沿って複数配置されている。この基板載置領域11のそれぞれには、チップキャリア50に収納されたガラスチップ40が一枚ずつ載置されるようになっている。
図3に示すように、装置ブロック2には、基板載置面10のそれぞれの基板載置領域11の所定位置と、一方のテーパ面8の所定位置と、を結ぶように貫通する光出射通路12が形成されている。装置ブロック2におけるテーパ面8側には、光出射通路12の一方の開口端12Aが形成されている。また、それぞれの基板載置領域11における光源モジュール3側の領域には、基板載置領域11上に載置されるガラスチップ40に光を入射させるための、光出射通路12の他方の開口端である出射開口部12Bが形成されている。
また、図3に示すように、基板載置領域11における検出器4側の領域と、他方のテーパ面9と、の間には、光入射通路13が形成されている。この光入射通路13のテーパ面9における開口端13A側には、検出器4が配置、固定され、検出器4の受光面が開口端13Aに臨んでいる。光入射通路13の他方の開口端は、基板載置領域11に開口された入射開口部13Bである。
さらに、図3に示すように、基板載置領域11における、出射開口部12Bと入射開口部13Bとの間で、かつ出射開口部12Bに隣接する領域には、下面6まで貫通する非検出光除去通路14が形成されている。この非検出光除去通路14は、出射開口部12Bから出てガラスチップ40に入射する光のうち、ガラスチップ40内に進まないフレネル反射成分が入射するようになっている。基板載置領域11における非検出光除去通路14の開口端は、非検出光入射開口部14Aとなっている。また、下面6には、非検出光除去通路14の他方の開口端14Bが形成されている。本実施の形態では、非検出光除去通路14は、中間部で屈曲して装置ブロック2の下面6側に向かうように形成されており、開口端14Bから開口部14Aが見通せない位置関係となるように形成されている。
そして、上述した光出射通路12、光入射通路13、および非検出光除去通路14の内壁面は、光吸収性を有するように黒色の塗装などの処理が施されている。
なお、装置ブロック2の一方のテーパ面8に固定された光源モジュール3から出射される光の光軸は、光出射通路12内を通ってガラスチップ40の下面に所定入射角度で入射されるように設定されている。本実施の形態では、光源モジュール3を装置ブロック2に固定することにより、ガラスチップ40への所定入射角度の±0.2度以内の精度を達成することができる。
図2に示すように、基板載置面10のそれぞれの基板載置領域11は、ガラスチップ40を所定の高さで受ける突堤20で取り囲まれている。この突堤20は、装置ブロック2に一体に形成されている。この突堤20の内側には、上述した出射開口部12B、非検出光入射開口部14Aおよび入射開口部13Bが配置されている。なお、本実施の形態では、これら開口部12B、14A、13Bが露出しているが、光源モジュール3から発せられる光が透過可能な性質を有する保護ガラスでこれら開口部12B、14A、13Bを閉じる構造としてもよい。このため、保護ガラスでゴミや液体の侵入を抑止することができる。
図2に示すように、この突堤20から矢印x方向の光源モジュール3側に延在する台座部20Aには、ネジ穴25が形成されており、このネジ穴25に上記した保持部材30Bが取り付けられている。
図2および図3に示すように、基板載置面10の矢印x方向の検出器4側の矢印y方向の両側部には、チップホルダ30Aを載置するための、一対の突出部21が形成されている。突出部21には、チップホルダ30Aを保持するためのボルト22が螺合するネジ穴21Aが形成されている。また、一方の突出部21には、チップホルダ30Aに形成された長穴31に嵌合する突出ピン21Bが一体に形成されている。
図2に示すように、基板載置領域11の矢印y方向の両側には、ガラスチップ40の位置決めに供される位置決めピン23が2本ずつ突設されている。なお、互いに隣接する基板載置領域11同士の間の位置決めピン23、23は、両方の基板載置領域11で共用されている。
図2に示すように、これら複数の基板載置領域11全体の矢印y方向の両側には、チップキャリア50の縦フレーム52に開設された位置決め穴55,55に嵌合してチップキャリア50の位置決めを行うキャリア位置決めピン24が突設されている。
〔光源モジュールの概略構成〕
図3に示すように、光源モジュール3は、半導体レーザ15、コリメートレンズ16、半導体レーザ15を固定するスリーブ17A、スリーブホルダ17B、レンズホルダ19などを備えている。
光源モジュール3は、半導体レーザ15の出射光の光軸が光出射通路12のほぼ中心を通るように設定されている。なお、半導体レーザ15を固定するスリーブ17Aは、スリーブホルダ17Bに対して、光軸と直角をなす方向に移動調整可能にする図示しない調整手段が設けられている。また、コリメートレンズ16と半導体レーザ15とは、光軸方向に相対移動可能する図示しない調整手段に設けられている。
上述の構成により、光源モジュール3では、半導体レーザ15から出射される光の光軸を平行移動させる微調整と、光出射通路12内を進むレーザ光の広がり角度を微調整することが可能である。本実施の形態では、コリメートレンズ16の集光作用により、ガラスチップ40内に入射する光の広がり角度を0.5度以下に設定することが可能となる。
〔検出器〕
検出器4は、受光素子として、入射光に基づき光電変換を行うフォトダイオードが用いられている。この検出器4は、装置ブロック2における光入射通路13のテーパ面9における開口端13Aに、受光面が臨むように固定されている。
〔ガラスチップ〕
図2に示すように、光導波路基板としてのガラスチップ40は、長方形状のガラス基板であり、例えばホウケイ酸ガラスなどの光透過性のある材料からなる。そして、図4に示すように、ガラスチップ40の上面中央には、被測定物を収容するサンプル配置部41が形成されている。このサンプル配置部41は、例えばABS樹脂でなる突堤42で囲まれたものであり、内側の凹部に、被測定物としての例えばタンパク質などを含む液体を収容するようになっている。
また、ガラスチップ40の上面における、サンプル配置部41の両側(ガラスチップ40の長手方向の両側)には、入射側グレーティング43Aと出射側グレーティング43Bが形成されている。これら入射側グレーティング43Aと出射側グレーティング43Bは、例えば、二酸化チタン(TiO)膜をストライプ状にパターニングすることにより形成されている。
このような構成のガラスチップ40では、図4に示すように、光源モジュール3から出射された光Lが所定の入射角度θで入射すると、ガラスチップ40内に入射した1次光L1は、入射側グレーティング43Aで回折してガラスチップ40の下面側で全反射し、その反射光がガラスチップ40の上面で全反射するというように、反射を繰り返して光導波路を形成する。そして、サンプル配置部41を通過した光は、出射側グレーティング43Bで回折してガラスチップ40の下面側から出射して光入射通路13に入射するようになっている。
なお、最初にガラスチップ40の下面で反射された0次光L0は、装置ブロック2の非検出光除去通路14内に入射する。
〔チップキャリア〕
図2に示すように、チップキャリア50は、複数の(本実施の形態では、8枚)のガラスチップ40を載置する矩形状のフレームである。このチップキャリア50は、互いに平行な一対の横フレーム51,51と、これら横フレーム51同士の端部同士を連結する互いに平行な一対の縦フレーム52,52と、からなる。横フレーム51同士の互いに対向する内側縁部には、間にガラスチップ40を配置して、ガラスチップ40の幅方向の位置決めを行う位置決めリブ53が等間隔に形成されている。互いに隣接する位置決めリブ53同士の間は、切り欠き54が形成され、この切り欠き54の両側縁54Aの上にガラスチップ40の端部が載るように形成されている。チップキャリア50の上に載置されたガラスチップ40は、位置決めリブ53にて幅方向の移動のみが規制されている。
それぞれの縦フレーム52の中間部には、装置ブロック2の基板載置面10に突設されたキャリア位置決めピン24が嵌合する位置決め穴55が形成されている。また、チップキャリア50のそれぞれの縦フレーム52には、搬送操作を行うための操作用ロッド56が突設されている。
〔チップホルダ〕
図2および図3に示すように、チップホルダ30Aは、チップキャリア50の一方の側部を保持すると共に、ガラスチップ40を長手方向および表面に対して垂直方向に付勢する機能を有している。具体的には、チップホルダ30Aは、チップキャリア50の横フレーム51とほぼ同じ長さの細長いプレート状のホルダ本体32と、ホルダ本体32に組み込まれた付勢用ブロック33と、付勢用ブロック33に取り付けられた撓み反発性を有する押圧片34と、付勢用ブロック33を付勢するコイルバネ35と、を備えている。なお、押圧片34は、ガラスチップ40の上面に対して、100gf以下の加重で押圧されるように設定されている。
ホルダ本体32には、長手方向に沿って付勢用ブロック33をホルダ本体32の幅方向に進退可能に収容する収容室36が複数(本実施の形態で8つ)形成されている。付勢用ブロック33は、収容室36内にコイルバネ35で側方に付勢される状態で収容されている。
そして、付勢用ブロック33の下端部33Aは、ホルダ本体32の下面よりわずかに突出するように設定されている。この付勢用ブロック33の下端部33Aでガラスチップ40の側面を押圧する加重も100gf以下となるように設定されている。
また、ホルダ本体32の両側には、ボルト22を挿通させるボルト挿通孔37が形成されている。このため、チップホルダ30Aは、ボルト22をホルダ本体32のボルト挿通孔37に挿通し、装置ブロック2のネジ穴21Aに螺合させることにより、装置ブロック2側へ固定されるようになっている。
〔保持部材〕
保持部材30Bは、装置ブロック2における突堤20から矢印x方向の光源モジュール3側に延在する台座部20A上を基板載置領域11の長手方向(矢印x方向)に沿ってスライド可能となるように長穴38Aが形成された位置決め片38と、この位置決め片38を装置ブロック2に固定する固定ボルト39と、から構成されている。このため、台座部20A上に載置された位置決め片38は、固定ボルト39を緩めることにより、基板載置領域11の長手方向に沿って進退移動が可能となる。
〔装置ケース〕
装置ケース60は、上面に矩形状の開口部61が形成されている。装置ケース60内には、上述の装置ブロック2が内蔵され、装置ブロック2の上面の複数の基板載置領域11が形成された領域を開口部61で露出させるようになっている。
また、装置ケース60の上面には、開口部61を開閉させる蓋板62が回動自在に支持されている。この蓋板62の端部には、装置ケース60の上面に形成されたスイッチ穴63に嵌合するピン64が突設されている。さらに、蓋板62の内側面は、黒色に塗装されて光吸収性が付与されている。
スイッチ穴63の下方には、リミットスイッチ65が配置されており、蓋板62が閉じられたときに、装置ブロック2側の光源モジュール3の駆動が可能となっている。そして、装置ケース60の上面には、光源モジュール3の駆動スイッチ66が設けられている。上述するように、リミットスイッチ65がピン64で押されている状態、すなわち、蓋板62が閉塞している状態のみに、駆動スイッチ66をONにできるようになっている。
(第1の実施の形態の濃度測定装置の操作手順)
まず、本実施の形態に係る濃度測定装置1を用いて被測定物の濃度を測定する手順を説明する。
(イ)ガラスチップ40の上面における、サンプル配置部41に例えばタンパク質溶液などの被測定物を滴下して配置する。また、被測定物によっては、適宜反応処理や色素の付加などを行っておく。
(ロ)次に、図2に示すように、ガラスチップ40をチップキャリア50に載置する。なお、図2においては、1枚のガラスチップ40を示すが、複数のガラスチップ40をチップキャリア50に載置しておく。
(ハ)その後、作業者は、ガラスチップ40を載置したチップキャリア50を操作用ロッド56を持って装置ブロック2の基板載置面10に搬送する。このとき、チップキャリア50に形成した位置決め穴55に、装置ブロック2側のキャリア位置決めピン24を嵌合させて、チップキャリア50の位置決めを行う。また、保持部材30Bの位置決め片38は、予め適正な位置に固定しておく。
(ニ)次に、チップホルダ30Aを装置ブロック2に装着する。この際、最初にホルダ本体32の一方の端部に形成したボルト挿通孔37にボルト22を螺合させると共に、ホルダ本体32の他端側の長穴31に装置ブロック2側の突出ピン21Bを嵌合させておく。ここで、チップホルダ30Aは、ボルト22を支点にして長穴31の長さ範囲でチップキャリア50から離れるようにしておく。このとき、それぞれの押圧片34は、それぞれに対応する位置のガラスチップ40の上面を押圧するように設定されている。
(ホ)そして、ホルダ本体32の一方の端部側のボルト22を支点として、チップホルダ30Aを長穴31に沿って、ガラスチップ40の端面を付勢用ブロック33の下端部33Aで押圧するように、長穴31の端部に突出ピン21Bが当たるまで回転移動させて、ホルダ本体32の両端のボルト22を締めて固定する。
(ヘ)次に、装置ケース60の蓋板62を閉じた状態で、光源モジュール3の駆動スイッチ66をONにして光を出射させ、検出器4でガラスチップ40を経た入射光を検出するように操作する。そして、入射光の光量を検出することにより、サンプル配置部41に配置された被測定物の濃度を特定することができる。
(第1の実施の形態の作用・効果)
本実施の形態に係る濃度測定装置1では、光源モジュール3および検出器4が、削り出しの金属ブロック単体からなる装置ブロック2の表面に、それぞれ固定された構造であるため、光源モジュール3から出射される光の光軸の設定精度を高めると共に、温度変動や衝撃、振動などの要因によって設定後に光軸がずれることを抑制できる。このため、本実施の形態では、光出射通路12内を出射する光がガラスチップ40の下面に入射させる所定の入射角度θに対して、±0.2度以内の精度で光をガラスチップ40に繰り返し当てることが可能となる。
また、装置ブロック2に光出射通路12および光入射通路13が形成されていることにより、光が不必要な方向に照射されることを防止できる。
さらに、装置ブロック2に非検出光除去通路14を形成したことにより、ガラスチップ40下面で反射したフレネル反射成分を有効に除去することができる。このため、被測定物の濃度検出に用いられないフレネル反射成分を非検出光除去通路14から排除することができる。このため、濃度測定装置1の検出精度を向上させることができる。
また、本実施の形態では、装置ブロック2における基板載置領域11上にチップキャリア50を載置して、チップホルダ30Aと保持部材30Bとで押さえるだけで位置決めが行えるため、測定作業を容易にすると共に、押圧片34、付勢用ブロック33の下端部33A、および位置決め片38でガラスチップ40が押圧される力が100gf以下の加重であるため、測定時にガラスチップ40が変形することを回避でき、測定精度をさらに高めることができる。
さらに、本実施の形態では、装置ブロック2に形成した光出射通路12、光入射通路13および非検出光除去通路14の内壁に、光吸収性を有するように黒色の塗装などの処理を施したことにより、光軸方向と異なる光成分を吸収して測定精度を向上させている。
このように、本実施の形態では、装置ブロック2に光源モジュール3と検出器4とを固定すると共に、装置ブロック2の基板載置面10にガラスチップ40を載置することにより、ガラスチップ40を交換する毎に光軸とガラスチップ40との角度調節などの作業を省くことができる。このため、本実施の形態では、測定作業が容易で測定精度の高い濃度測定装置を実現できる。
(第2の実施の形態)
次に、本発明の第2の実施の形態に係る濃度測定装置について図5を用いて説明する。なお、本実施の形態に係る濃度測定装置1Aは、上述の第1の実施の形態の濃度測定装置1とほぼ同様の構成を有するものである。本実施の形態の説明では、構成の異なる部分のみ説明し、構成の同様な部分には同様の符号を付して説明は省略する。
本実施の形態の濃度測定装置1Aは、装置ブロック2の光出射通路12に、光源モジュール3側から順次、アパーチャ71と、光学部材でなる光軸方向変更部材72と、が配置されている。また、装置ブロック2の光入射通路13には、ガラスチップ40から出射された光を集光して検出器4へ確実に入射させるための、集光レンズ73が配置されている。
アパーチャ71は、光源モジュール3から出射された光のビーム径を規定してガラスチップ40内を通過する光のビーム径を、ガラスチップ40のサンプル配置部41に確実にビームが入射し得るように設定している。このように設定することにより、光軸が異なる迷光が光出射通路12を通過することを防止できる。
光軸方向変更部材72は、例えばミラーやプリズムレンズなどでアパーチャ71側から入射した光の向かう角度を任意に調整可能としている。なお、図5においては、光出射通路12は、直線状であるが、途中で屈曲する形状にして、屈曲する部分に光軸方向変更部材72を配置する構成としてもよい。
なお、本実施の形態では、光入射通路13に集光レンズ73を配置したが、これに換えてピンホールをリレーレンズにより構成されるスペイシャルフィルタを用いる構成としてもよい。
本実施の形態では、光軸の角度調整、光ビームの径寸法の調整、検出器4へ入射する光の集光調整などが行えるため、上述の第1の実施の形態の作用・効果に加えて、迷光の除去効果を向上でき、さらに測定精度を高めることができる。
(その他の実施の形態)
上述した実施の形態の開示の一部をなす論述および図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例および運用技術が明らかとなろう。
例えば、上述した第1および第2の実施の形態において、光入射通路13内に絞りを配置する構成としても勿論よい。
また、上述した第1および第2の実施の形態では、装置ブロック2を金属ブロックで形成したが、所定の剛性および低熱膨張性を有する材料であれば、金属で構成することに限定されるものではない。
本発明の第1の実施の形態に係る濃度測定装置を示す斜視図である。 本発明の第1の実施の形態に係る濃度測定装置の装置ブロックとチップキャリアとチップホルダなどを示す分解斜視図である。 図2のA−A断面図である。 ガラスチップの光導波路を示す断面説明図である。 本発明の第2の実施の形態に係る濃度測定装置を示す断面図である。
符号の説明
1,1A…濃度測定装置、2…装置ブロック、3…光源モジュール、4…検出器、10…基板載置面、11…基板載置領域、12…光出射通路、12A…開口端、12B…出射開口部、13…光入射通路、13A…開口端、13B…入射開口部、14…非検出光除去通路、15…半導体レーザ、16…コリメートレンズ、17A…スリーブ、17B…スリーブホルダ、19…レンズホルダ、30A…チップホルダ、30B…保持部材、40…ガラスチップ(光導波路基板)、41…サンプル配置部、50…チップキャリア、60…装置ケース、62…蓋板、71…アパーチャ、72…光軸方向変更部材、73…集光レンズ。

Claims (8)

  1. 光導波路基板上に配置された被測定物に、前記光導波路基板中を通る光を照射し、前記光導波路基板からの戻り光を受光することによって濃度測定を行う濃度測定装置であって、
    前記光導波路基板を載置して前記光導波路基板と対向する基板載置面を有するブロックと、前記光を出射する光源を備える光源モジュールと、前記戻り光を受光する検出器と、を備え、
    前記光源モジュールと前記検出器とが前記ブロックに固定され、前記光源から出射される光が前記ブロックに載置された前記基板に規定の入射角度で入射するように設定され、前記光導波路基板から出射される光を受ける位置に前記検出器の受光面が配置されていることを特徴とする濃度測定装置。
  2. 前記ブロックの内部には、前記光源から出射する光を通過させる光出射通路と、前記検出器に前記光導波路基板側から入射する光を通過させる光入射通路と、が形成され、
    前記ブロックの前記基板載置面には、前記光出射通路の一端である出射開口部と、前記光入射通路の一端である入射開口部とが形成され、前記光出射通路の他端周縁には光源モジュールが取り付けられる光源取付面が設けられ、前記光入射通路の他端周縁には検出器の光電変換面が対向して設けられる検出器取付面が設けられていることを特徴とする請求項1記載の濃度測定装置。
  3. 前記ブロックの前記基板載置面の前記出射開口部と前記入射開口部との間には、前記出射開口部から出射された光が前記光導波路基板に入射して反射された光のうち濃度測定に用いられない成分が入射する迷光除去通路の一端である迷光入射開口部が形成されていることを特徴とする濃度測定装置。
  4. 前記光源モジュールは、光源と集光レンズとを備えてなり、前記光源と前記集光レンズは、前記ブロックの前記光源取付面に取り付け可能な取付基準面を有するホルダにより保持され、このホルダによって前記光源と前記集光レンズは、光軸方向の距離と、光軸と垂直な面方向の相対位置との調整が可能に設けられていることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の濃度測定装置。
  5. 前記ブロック内の前記光出射通路に、前記光源の光軸と前記基板載置面側に載置された光導波路基板とのなす角度が調整可能な光学部材が設けられたことを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載の濃度測定装置。
  6. 前記光出射通路にピンホールを配置し、前記ピンホールが、前記光導波路基板上の被測定物に入射する光のビーム径より小さくすることを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載の濃度測定装置。
  7. 前記光導波路基板を載置する位置と検出器との間にレンズが配置され、前記光導波路基板上の被測定物を通過した光の全てもしくはその一部を検出器の受光面に入射されるように設定可能としたことを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか一項に記載の濃度測定装置。
  8. 前記基板載置面および前記光源から前記検出器までの光の経路に臨む前記ブロックの壁面が他の表面に比して光吸収性を有することを特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれか一項に記載の濃度測定装置。
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