JP2006090902A - 濃度測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 測定精度が高く、測定作業が容易な濃度測定装置を提供する。
【解決手段】 装置ケース６０内に、装置ブロック２を内蔵し、装置ブロック２には、この装置ブロック２の一方の側面に設けられた複数の光源モジュール３と、装置ブロック２の他方の側面に設けられた、光源モジュール３と同数の検出器４とが一体的に設けられている。装置ブロック２の上には、被測定物を載せたガラスチップ４０を固定するためのチップホルダ３０Ａおよび保持部材３０Ｂが設けられている。
【選択図】 図１

Description

本発明は濃度測定装置に関し、さらに詳しくは、被測定試料の濃度を光を用いて測定する濃度測定装置に関する。

従来、インスリンなどの各種のホルモン、タンパク質、血糖などの有機物質の濃度測定方法としては、電極反応で発生する電圧を測定する方法や、物質と反応して吸着される色素を用いて色変化をレーザ光などの光量の変化で測定する光学式濃度測定方法（例えば、特許文献１参照。）などがある。この光学式濃度測定方法は、測定の分解能が高いという利点がある。

以下、この光学式濃度測定方法を簡単に説明する。先ず、ガラスチップの上に液体状の被測定物を配置し、被測定物に例えば色素を反応させて被測定物の濃度に応じて入射光が吸収されるようにする。その後、ガラスチップ内にレーザ光を導き、被測定物が配置された領域を通過したレーザ光をガラスチップの外側に取り出して光量検出を行う。この光量の検出値から被測定物の濃度を算出している。
特開２００４−１８４３８１号（第１頁、図１）

上述した光学式濃度測定方法では、ガラスチップに対して光源および検出器を所定位置に配置し、光源から出射された光が被測定物を配置した領域へ最適な状態で入射されるように、ガラスチップと、光源と、検出器とを精度よく配置させる必要があった。

また、上述した光学式濃度測定方法では、検出器に入射する光に濃度測定に関与しない光が混入する場合があり、測定精度に悪影響を与える場合があった。

そこで、本発明の目的は、測定精度が高く、測定作業が容易な濃度測定装置を提供することにある。

本発明の特徴は、光導波路となる光導波路基板上に配置された被測定物に、光導波路を通る光を当てて濃度測定を行う濃度測定装置であって、光導波路基板を載置してこの光導波路基板と対向する基板載置面を有するブロックと、濃度検出用の光を出射する光源を備える光源モジュールと検出器とを備え、光源モジュールと検出器とがブロックに固定され、光源から出射される光がブロックに載置された光導波路基板に規定の入射角度で入射するように設定され、光導波路基板から出射される光を受ける位置に検出器の受光面が配置されていることを要旨としている。

本発明によれば、測定作業が容易で測定精度の高い濃度測定装置を提供することを可能とする。

以下、本発明の実施の形態に係る濃度測定装置の詳細を図面に基づいて説明する。

（第１の実施の形態）
図１は本発明の第１の実施の形態に係る濃度測定装置を示す斜視図、図２は濃度測定装置の使用方法を示す分解斜視図、図３は図２のＡ−Ａ断面図を示している。

図１〜図３に示すように、本実施の形態の濃度測定装置１は、装置ケース６０内に、装置ブロック２を内蔵している。

装置ブロック２には、この装置ブロック２の一方の側面に設けられた複数の光源モジュール３と、装置ブロック２の他方の側面に設けられた、光源モジュール３と同数の検出器４とを備えている。また、装置ブロック２の上には、被測定物を載せたガラスチップ４０を固定するためのチップホルダ３０Ａおよび保持部材３０Ｂが設けられている。また、装置ブロック２上には、ガラスチップ４０を収納するチップキャリア５０が配置されるようになっている。

〔装置ブロックの構成〕
図２および図３に示すように、装置ブロック２は略台状の構造を有する金属ブロックで形成されている。具体的には、装置ブロック２の外形は、長方形状の上面５と、この上面５に対して平行をなす長方形状の下面６と、図中に矢印ｙで示す方向の両側に位置する、台形状で互いに平行をなす一対の側面７と、図中に矢印ｘで示す方向の両側に位置する一対のテーパ面８、９と、を備えている。

上面５には、図中に矢印ｘで示す方向の中央に長方形状にやや高く形成された基板載置面１０が設けられている。基板載置面１０には、基板載置領域１１が互いに平行をなすように矢印ｙ方向に沿って複数配置されている。この基板載置領域１１のそれぞれには、チップキャリア５０に収納されたガラスチップ４０が一枚ずつ載置されるようになっている。

図３に示すように、装置ブロック２には、基板載置面１０のそれぞれの基板載置領域１１の所定位置と、一方のテーパ面８の所定位置と、を結ぶように貫通する光出射通路１２が形成されている。装置ブロック２におけるテーパ面８側には、光出射通路１２の一方の開口端１２Ａが形成されている。また、それぞれの基板載置領域１１における光源モジュール３側の領域には、基板載置領域１１上に載置されるガラスチップ４０に光を入射させるための、光出射通路１２の他方の開口端である出射開口部１２Ｂが形成されている。

また、図３に示すように、基板載置領域１１における検出器４側の領域と、他方のテーパ面９と、の間には、光入射通路１３が形成されている。この光入射通路１３のテーパ面９における開口端１３Ａ側には、検出器４が配置、固定され、検出器４の受光面が開口端１３Ａに臨んでいる。光入射通路１３の他方の開口端は、基板載置領域１１に開口された入射開口部１３Ｂである。

さらに、図３に示すように、基板載置領域１１における、出射開口部１２Ｂと入射開口部１３Ｂとの間で、かつ出射開口部１２Ｂに隣接する領域には、下面６まで貫通する非検出光除去通路１４が形成されている。この非検出光除去通路１４は、出射開口部１２Ｂから出てガラスチップ４０に入射する光のうち、ガラスチップ４０内に進まないフレネル反射成分が入射するようになっている。基板載置領域１１における非検出光除去通路１４の開口端は、非検出光入射開口部１４Ａとなっている。また、下面６には、非検出光除去通路１４の他方の開口端１４Ｂが形成されている。本実施の形態では、非検出光除去通路１４は、中間部で屈曲して装置ブロック２の下面６側に向かうように形成されており、開口端１４Ｂから開口部１４Ａが見通せない位置関係となるように形成されている。

そして、上述した光出射通路１２、光入射通路１３、および非検出光除去通路１４の内壁面は、光吸収性を有するように黒色の塗装などの処理が施されている。

なお、装置ブロック２の一方のテーパ面８に固定された光源モジュール３から出射される光の光軸は、光出射通路１２内を通ってガラスチップ４０の下面に所定入射角度で入射されるように設定されている。本実施の形態では、光源モジュール３を装置ブロック２に固定することにより、ガラスチップ４０への所定入射角度の±０．２度以内の精度を達成することができる。

図２に示すように、基板載置面１０のそれぞれの基板載置領域１１は、ガラスチップ４０を所定の高さで受ける突堤２０で取り囲まれている。この突堤２０は、装置ブロック２に一体に形成されている。この突堤２０の内側には、上述した出射開口部１２Ｂ、非検出光入射開口部１４Ａおよび入射開口部１３Ｂが配置されている。なお、本実施の形態では、これら開口部１２Ｂ、１４Ａ、１３Ｂが露出しているが、光源モジュール３から発せられる光が透過可能な性質を有する保護ガラスでこれら開口部１２Ｂ、１４Ａ、１３Ｂを閉じる構造としてもよい。このため、保護ガラスでゴミや液体の侵入を抑止することができる。

図２に示すように、この突堤２０から矢印ｘ方向の光源モジュール３側に延在する台座部２０Ａには、ネジ穴２５が形成されており、このネジ穴２５に上記した保持部材３０Ｂが取り付けられている。

図２および図３に示すように、基板載置面１０の矢印ｘ方向の検出器４側の矢印ｙ方向の両側部には、チップホルダ３０Ａを載置するための、一対の突出部２１が形成されている。突出部２１には、チップホルダ３０Ａを保持するためのボルト２２が螺合するネジ穴２１Ａが形成されている。また、一方の突出部２１には、チップホルダ３０Ａに形成された長穴３１に嵌合する突出ピン２１Ｂが一体に形成されている。

図２に示すように、基板載置領域１１の矢印ｙ方向の両側には、ガラスチップ４０の位置決めに供される位置決めピン２３が２本ずつ突設されている。なお、互いに隣接する基板載置領域１１同士の間の位置決めピン２３、２３は、両方の基板載置領域１１で共用されている。

図２に示すように、これら複数の基板載置領域１１全体の矢印ｙ方向の両側には、チップキャリア５０の縦フレーム５２に開設された位置決め穴５５，５５に嵌合してチップキャリア５０の位置決めを行うキャリア位置決めピン２４が突設されている。

〔光源モジュールの概略構成〕
図３に示すように、光源モジュール３は、半導体レーザ１５、コリメートレンズ１６、半導体レーザ１５を固定するスリーブ１７Ａ、スリーブホルダ１７Ｂ、レンズホルダ１９などを備えている。

光源モジュール３は、半導体レーザ１５の出射光の光軸が光出射通路１２のほぼ中心を通るように設定されている。なお、半導体レーザ１５を固定するスリーブ１７Ａは、スリーブホルダ１７Ｂに対して、光軸と直角をなす方向に移動調整可能にする図示しない調整手段が設けられている。また、コリメートレンズ１６と半導体レーザ１５とは、光軸方向に相対移動可能する図示しない調整手段に設けられている。

上述の構成により、光源モジュール３では、半導体レーザ１５から出射される光の光軸を平行移動させる微調整と、光出射通路１２内を進むレーザ光の広がり角度を微調整することが可能である。本実施の形態では、コリメートレンズ１６の集光作用により、ガラスチップ４０内に入射する光の広がり角度を０．５度以下に設定することが可能となる。

〔検出器〕
検出器４は、受光素子として、入射光に基づき光電変換を行うフォトダイオードが用いられている。この検出器４は、装置ブロック２における光入射通路１３のテーパ面９における開口端１３Ａに、受光面が臨むように固定されている。

〔ガラスチップ〕
図２に示すように、光導波路基板としてのガラスチップ４０は、長方形状のガラス基板であり、例えばホウケイ酸ガラスなどの光透過性のある材料からなる。そして、図４に示すように、ガラスチップ４０の上面中央には、被測定物を収容するサンプル配置部４１が形成されている。このサンプル配置部４１は、例えばＡＢＳ樹脂でなる突堤４２で囲まれたものであり、内側の凹部に、被測定物としての例えばタンパク質などを含む液体を収容するようになっている。

また、ガラスチップ４０の上面における、サンプル配置部４１の両側（ガラスチップ４０の長手方向の両側）には、入射側グレーティング４３Ａと出射側グレーティング４３Ｂが形成されている。これら入射側グレーティング４３Ａと出射側グレーティング４３Ｂは、例えば、二酸化チタン（ＴｉＯ_２）膜をストライプ状にパターニングすることにより形成されている。

このような構成のガラスチップ４０では、図４に示すように、光源モジュール３から出射された光Ｌが所定の入射角度θで入射すると、ガラスチップ４０内に入射した１次光Ｌ１は、入射側グレーティング４３Ａで回折してガラスチップ４０の下面側で全反射し、その反射光がガラスチップ４０の上面で全反射するというように、反射を繰り返して光導波路を形成する。そして、サンプル配置部４１を通過した光は、出射側グレーティング４３Ｂで回折してガラスチップ４０の下面側から出射して光入射通路１３に入射するようになっている。

なお、最初にガラスチップ４０の下面で反射された０次光Ｌ０は、装置ブロック２の非検出光除去通路１４内に入射する。

〔チップキャリア〕
図２に示すように、チップキャリア５０は、複数の（本実施の形態では、８枚）のガラスチップ４０を載置する矩形状のフレームである。このチップキャリア５０は、互いに平行な一対の横フレーム５１，５１と、これら横フレーム５１同士の端部同士を連結する互いに平行な一対の縦フレーム５２，５２と、からなる。横フレーム５１同士の互いに対向する内側縁部には、間にガラスチップ４０を配置して、ガラスチップ４０の幅方向の位置決めを行う位置決めリブ５３が等間隔に形成されている。互いに隣接する位置決めリブ５３同士の間は、切り欠き５４が形成され、この切り欠き５４の両側縁５４Ａの上にガラスチップ４０の端部が載るように形成されている。チップキャリア５０の上に載置されたガラスチップ４０は、位置決めリブ５３にて幅方向の移動のみが規制されている。

それぞれの縦フレーム５２の中間部には、装置ブロック２の基板載置面１０に突設されたキャリア位置決めピン２４が嵌合する位置決め穴５５が形成されている。また、チップキャリア５０のそれぞれの縦フレーム５２には、搬送操作を行うための操作用ロッド５６が突設されている。

〔チップホルダ〕
図２および図３に示すように、チップホルダ３０Ａは、チップキャリア５０の一方の側部を保持すると共に、ガラスチップ４０を長手方向および表面に対して垂直方向に付勢する機能を有している。具体的には、チップホルダ３０Ａは、チップキャリア５０の横フレーム５１とほぼ同じ長さの細長いプレート状のホルダ本体３２と、ホルダ本体３２に組み込まれた付勢用ブロック３３と、付勢用ブロック３３に取り付けられた撓み反発性を有する押圧片３４と、付勢用ブロック３３を付勢するコイルバネ３５と、を備えている。なお、押圧片３４は、ガラスチップ４０の上面に対して、１００ｇｆ以下の加重で押圧されるように設定されている。

ホルダ本体３２には、長手方向に沿って付勢用ブロック３３をホルダ本体３２の幅方向に進退可能に収容する収容室３６が複数（本実施の形態で８つ）形成されている。付勢用ブロック３３は、収容室３６内にコイルバネ３５で側方に付勢される状態で収容されている。

そして、付勢用ブロック３３の下端部３３Ａは、ホルダ本体３２の下面よりわずかに突出するように設定されている。この付勢用ブロック３３の下端部３３Ａでガラスチップ４０の側面を押圧する加重も１００ｇｆ以下となるように設定されている。

また、ホルダ本体３２の両側には、ボルト２２を挿通させるボルト挿通孔３７が形成されている。このため、チップホルダ３０Ａは、ボルト２２をホルダ本体３２のボルト挿通孔３７に挿通し、装置ブロック２のネジ穴２１Ａに螺合させることにより、装置ブロック２側へ固定されるようになっている。

〔保持部材〕
保持部材３０Ｂは、装置ブロック２における突堤２０から矢印ｘ方向の光源モジュール３側に延在する台座部２０Ａ上を基板載置領域１１の長手方向（矢印ｘ方向）に沿ってスライド可能となるように長穴３８Ａが形成された位置決め片３８と、この位置決め片３８を装置ブロック２に固定する固定ボルト３９と、から構成されている。このため、台座部２０Ａ上に載置された位置決め片３８は、固定ボルト３９を緩めることにより、基板載置領域１１の長手方向に沿って進退移動が可能となる。

〔装置ケース〕
装置ケース６０は、上面に矩形状の開口部６１が形成されている。装置ケース６０内には、上述の装置ブロック２が内蔵され、装置ブロック２の上面の複数の基板載置領域１１が形成された領域を開口部６１で露出させるようになっている。

また、装置ケース６０の上面には、開口部６１を開閉させる蓋板６２が回動自在に支持されている。この蓋板６２の端部には、装置ケース６０の上面に形成されたスイッチ穴６３に嵌合するピン６４が突設されている。さらに、蓋板６２の内側面は、黒色に塗装されて光吸収性が付与されている。

スイッチ穴６３の下方には、リミットスイッチ６５が配置されており、蓋板６２が閉じられたときに、装置ブロック２側の光源モジュール３の駆動が可能となっている。そして、装置ケース６０の上面には、光源モジュール３の駆動スイッチ６６が設けられている。上述するように、リミットスイッチ６５がピン６４で押されている状態、すなわち、蓋板６２が閉塞している状態のみに、駆動スイッチ６６をＯＮにできるようになっている。

（第１の実施の形態の濃度測定装置の操作手順）
まず、本実施の形態に係る濃度測定装置１を用いて被測定物の濃度を測定する手順を説明する。

（イ）ガラスチップ４０の上面における、サンプル配置部４１に例えばタンパク質溶液などの被測定物を滴下して配置する。また、被測定物によっては、適宜反応処理や色素の付加などを行っておく。

（ロ）次に、図２に示すように、ガラスチップ４０をチップキャリア５０に載置する。なお、図２においては、１枚のガラスチップ４０を示すが、複数のガラスチップ４０をチップキャリア５０に載置しておく。

（ハ）その後、作業者は、ガラスチップ４０を載置したチップキャリア５０を操作用ロッド５６を持って装置ブロック２の基板載置面１０に搬送する。このとき、チップキャリア５０に形成した位置決め穴５５に、装置ブロック２側のキャリア位置決めピン２４を嵌合させて、チップキャリア５０の位置決めを行う。また、保持部材３０Ｂの位置決め片３８は、予め適正な位置に固定しておく。

（ニ）次に、チップホルダ３０Ａを装置ブロック２に装着する。この際、最初にホルダ本体３２の一方の端部に形成したボルト挿通孔３７にボルト２２を螺合させると共に、ホルダ本体３２の他端側の長穴３１に装置ブロック２側の突出ピン２１Ｂを嵌合させておく。ここで、チップホルダ３０Ａは、ボルト２２を支点にして長穴３１の長さ範囲でチップキャリア５０から離れるようにしておく。このとき、それぞれの押圧片３４は、それぞれに対応する位置のガラスチップ４０の上面を押圧するように設定されている。

（ホ）そして、ホルダ本体３２の一方の端部側のボルト２２を支点として、チップホルダ３０Ａを長穴３１に沿って、ガラスチップ４０の端面を付勢用ブロック３３の下端部３３Ａで押圧するように、長穴３１の端部に突出ピン２１Ｂが当たるまで回転移動させて、ホルダ本体３２の両端のボルト２２を締めて固定する。

（ヘ）次に、装置ケース６０の蓋板６２を閉じた状態で、光源モジュール３の駆動スイッチ６６をＯＮにして光を出射させ、検出器４でガラスチップ４０を経た入射光を検出するように操作する。そして、入射光の光量を検出することにより、サンプル配置部４１に配置された被測定物の濃度を特定することができる。

（第１の実施の形態の作用・効果）
本実施の形態に係る濃度測定装置１では、光源モジュール３および検出器４が、削り出しの金属ブロック単体からなる装置ブロック２の表面に、それぞれ固定された構造であるため、光源モジュール３から出射される光の光軸の設定精度を高めると共に、温度変動や衝撃、振動などの要因によって設定後に光軸がずれることを抑制できる。このため、本実施の形態では、光出射通路１２内を出射する光がガラスチップ４０の下面に入射させる所定の入射角度θに対して、±０．２度以内の精度で光をガラスチップ４０に繰り返し当てることが可能となる。

また、装置ブロック２に光出射通路１２および光入射通路１３が形成されていることにより、光が不必要な方向に照射されることを防止できる。

さらに、装置ブロック２に非検出光除去通路１４を形成したことにより、ガラスチップ４０下面で反射したフレネル反射成分を有効に除去することができる。このため、被測定物の濃度検出に用いられないフレネル反射成分を非検出光除去通路１４から排除することができる。このため、濃度測定装置１の検出精度を向上させることができる。

また、本実施の形態では、装置ブロック２における基板載置領域１１上にチップキャリア５０を載置して、チップホルダ３０Ａと保持部材３０Ｂとで押さえるだけで位置決めが行えるため、測定作業を容易にすると共に、押圧片３４、付勢用ブロック３３の下端部３３Ａ、および位置決め片３８でガラスチップ４０が押圧される力が１００ｇｆ以下の加重であるため、測定時にガラスチップ４０が変形することを回避でき、測定精度をさらに高めることができる。

さらに、本実施の形態では、装置ブロック２に形成した光出射通路１２、光入射通路１３および非検出光除去通路１４の内壁に、光吸収性を有するように黒色の塗装などの処理を施したことにより、光軸方向と異なる光成分を吸収して測定精度を向上させている。

このように、本実施の形態では、装置ブロック２に光源モジュール３と検出器４とを固定すると共に、装置ブロック２の基板載置面１０にガラスチップ４０を載置することにより、ガラスチップ４０を交換する毎に光軸とガラスチップ４０との角度調節などの作業を省くことができる。このため、本実施の形態では、測定作業が容易で測定精度の高い濃度測定装置を実現できる。

（第２の実施の形態）
次に、本発明の第２の実施の形態に係る濃度測定装置について図５を用いて説明する。なお、本実施の形態に係る濃度測定装置１Ａは、上述の第１の実施の形態の濃度測定装置１とほぼ同様の構成を有するものである。本実施の形態の説明では、構成の異なる部分のみ説明し、構成の同様な部分には同様の符号を付して説明は省略する。

本実施の形態の濃度測定装置１Ａは、装置ブロック２の光出射通路１２に、光源モジュール３側から順次、アパーチャ７１と、光学部材でなる光軸方向変更部材７２と、が配置されている。また、装置ブロック２の光入射通路１３には、ガラスチップ４０から出射された光を集光して検出器４へ確実に入射させるための、集光レンズ７３が配置されている。

アパーチャ７１は、光源モジュール３から出射された光のビーム径を規定してガラスチップ４０内を通過する光のビーム径を、ガラスチップ４０のサンプル配置部４１に確実にビームが入射し得るように設定している。このように設定することにより、光軸が異なる迷光が光出射通路１２を通過することを防止できる。

光軸方向変更部材７２は、例えばミラーやプリズムレンズなどでアパーチャ７１側から入射した光の向かう角度を任意に調整可能としている。なお、図５においては、光出射通路１２は、直線状であるが、途中で屈曲する形状にして、屈曲する部分に光軸方向変更部材７２を配置する構成としてもよい。

なお、本実施の形態では、光入射通路１３に集光レンズ７３を配置したが、これに換えてピンホールをリレーレンズにより構成されるスペイシャルフィルタを用いる構成としてもよい。

本実施の形態では、光軸の角度調整、光ビームの径寸法の調整、検出器４へ入射する光の集光調整などが行えるため、上述の第１の実施の形態の作用・効果に加えて、迷光の除去効果を向上でき、さらに測定精度を高めることができる。

（その他の実施の形態）
上述した実施の形態の開示の一部をなす論述および図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例および運用技術が明らかとなろう。

例えば、上述した第１および第２の実施の形態において、光入射通路１３内に絞りを配置する構成としても勿論よい。

また、上述した第１および第２の実施の形態では、装置ブロック２を金属ブロックで形成したが、所定の剛性および低熱膨張性を有する材料であれば、金属で構成することに限定されるものではない。

本発明の第１の実施の形態に係る濃度測定装置を示す斜視図である。 本発明の第１の実施の形態に係る濃度測定装置の装置ブロックとチップキャリアとチップホルダなどを示す分解斜視図である。 図２のＡ−Ａ断面図である。 ガラスチップの光導波路を示す断面説明図である。 本発明の第２の実施の形態に係る濃度測定装置を示す断面図である。

符号の説明

１，１Ａ…濃度測定装置、２…装置ブロック、３…光源モジュール、４…検出器、１０…基板載置面、１１…基板載置領域、１２…光出射通路、１２Ａ…開口端、１２Ｂ…出射開口部、１３…光入射通路、１３Ａ…開口端、１３Ｂ…入射開口部、１４…非検出光除去通路、１５…半導体レーザ、１６…コリメートレンズ、１７Ａ…スリーブ、１７Ｂ…スリーブホルダ、１９…レンズホルダ、３０Ａ…チップホルダ、３０Ｂ…保持部材、４０…ガラスチップ（光導波路基板）、４１…サンプル配置部、５０…チップキャリア、６０…装置ケース、６２…蓋板、７１…アパーチャ、７２…光軸方向変更部材、７３…集光レンズ。

Claims (8)

1. 光導波路基板上に配置された被測定物に、前記光導波路基板中を通る光を照射し、前記光導波路基板からの戻り光を受光することによって濃度測定を行う濃度測定装置であって、
   前記光導波路基板を載置して前記光導波路基板と対向する基板載置面を有するブロックと、前記光を出射する光源を備える光源モジュールと、前記戻り光を受光する検出器と、を備え、
   前記光源モジュールと前記検出器とが前記ブロックに固定され、前記光源から出射される光が前記ブロックに載置された前記基板に規定の入射角度で入射するように設定され、前記光導波路基板から出射される光を受ける位置に前記検出器の受光面が配置されていることを特徴とする濃度測定装置。
2. 前記ブロックの内部には、前記光源から出射する光を通過させる光出射通路と、前記検出器に前記光導波路基板側から入射する光を通過させる光入射通路と、が形成され、
   前記ブロックの前記基板載置面には、前記光出射通路の一端である出射開口部と、前記光入射通路の一端である入射開口部とが形成され、前記光出射通路の他端周縁には光源モジュールが取り付けられる光源取付面が設けられ、前記光入射通路の他端周縁には検出器の光電変換面が対向して設けられる検出器取付面が設けられていることを特徴とする請求項１記載の濃度測定装置。
3. 前記ブロックの前記基板載置面の前記出射開口部と前記入射開口部との間には、前記出射開口部から出射された光が前記光導波路基板に入射して反射された光のうち濃度測定に用いられない成分が入射する迷光除去通路の一端である迷光入射開口部が形成されていることを特徴とする濃度測定装置。
4. 前記光源モジュールは、光源と集光レンズとを備えてなり、前記光源と前記集光レンズは、前記ブロックの前記光源取付面に取り付け可能な取付基準面を有するホルダにより保持され、このホルダによって前記光源と前記集光レンズは、光軸方向の距離と、光軸と垂直な面方向の相対位置との調整が可能に設けられていることを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれか一項に記載の濃度測定装置。
5. 前記ブロック内の前記光出射通路に、前記光源の光軸と前記基板載置面側に載置された光導波路基板とのなす角度が調整可能な光学部材が設けられたことを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれか一項に記載の濃度測定装置。
6. 前記光出射通路にピンホールを配置し、前記ピンホールが、前記光導波路基板上の被測定物に入射する光のビーム径より小さくすることを特徴とする請求項１乃至請求項５のいずれか一項に記載の濃度測定装置。
7. 前記光導波路基板を載置する位置と検出器との間にレンズが配置され、前記光導波路基板上の被測定物を通過した光の全てもしくはその一部を検出器の受光面に入射されるように設定可能としたことを特徴とする請求項１乃至請求項６のいずれか一項に記載の濃度測定装置。
8. 前記基板載置面および前記光源から前記検出器までの光の経路に臨む前記ブロックの壁面が他の表面に比して光吸収性を有することを特徴とする請求項１乃至請求項７のいずれか一項に記載の濃度測定装置。

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