JP2006038757A

JP2006038757A - 分析装置及び記憶媒体並びに分析方法

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Publication number: JP2006038757A
Application number: JP2004222006A
Authority: JP
Inventors: Yasuo Yamagishi; 康男山岸
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 2004-07-29
Filing date: 2004-07-29
Publication date: 2006-02-09
Anticipated expiration: 2024-07-29
Also published as: JP4547204B2

Abstract

【課題】本発明の課題は、購入または販売する材料や部品中の有害元素の有無を蛍光Ｘ線によって分析する分析装置に係り、特に、材料に関する専門的知識を必要とすることなく、有害物質の有無を効率的に検査可能とする分析装置を提供することを目的とする。
【解決手段】上記課題は、元素を測定する測定器と、
製品の構成素材毎に、該構成素材に含まれる元素の使用実態に基づく含有可能性の度合いを対応させたデータ構成による第一の対応表と、所定濃度以上を含有する可能性の度合いを示す構成素材に含まれる元素毎に、分析方法と測定条件とを対応付けたデータ構成による第二の対応表と、前記分析方法に対応するプログラムを実行することによって、前記測定条件に従って前記測定器に前記元素を測定させて分析をする分析手段とを有する分析装置によって達成される。
【選択図】図３

Description

本発明は、購入または販売する材料や部品中の有害元素の有無を蛍光Ｘ線によって分析する分析装置に係り、特に、材料に関する専門的知識を必要とすることなく、有害物質の有無を効率的に検査可能とする分析装置に関する。

従来より、蛍光Ｘ線分析は材料の構成元素を特定する手段として、素材生産における品質管理や材料研究に広く利用されている。また、最近では、欧州のＲｏＨＳ規制(Restriction of Hazardous Substances)やＥＬＶ(End of Life Vehicle)など消費者向け製品中の有害物質に関する規制が強化されつつあり、欧州への輸出対象となる外部から購入した部品中に規制対象元素が含まれているか否かをチェックする手段として、電機メーカなどにおける部品仕様化部門や受け入れ部門で装置を大量に導入するケースが増加している。

有害物質の非使用については製造者が意図的に使用していない事が基本であるが、意図的か非意図的かを材料自体から判断することは難しため、有害元素の含有チェックにおいては、含有濃度が不純物として混入し得るレベル以下であるか、または通常の経済合理性のある分析手段による検出限界以下であることを以して非含有と判断する。例えば、ＰｂやＣｄなどの規制対象元素からの蛍光X線を検出しやすくするための一次Ｘ線側のフィルタや、測定試料からの蛍光X線の量を含有量既知の標準材料からの量と比較して濃度を推定する検量線法プログラムなどが広く実用化されている。

また、分析に係る情報処理の観点において、分析業務に必要な分析試料の受付・登録から分析結果報告書の作成までの分析情報を分析者が必要とする際に即座に提供可能とする分析情報一元管理システムが提案されている（例えば、特許文献１）。

更に、製品に使用されている部品の全容と、部品に含まれる科学物質の内容とをデータベース化しておき、これらデータベースを用いて含有化学物質の種類と量を算出するようにした製品含有化学物質管理システムが提供されている（例えば、特許文献２）。
特開平９−１１９９３３号特開２００３−２５６５０４号

上記のような従来技術によって、有害元素の含有チェックが可能な高感度の蛍光Ｘ線分析装置が開発され、また、分析に係る情報処理が迅速に行えるようになった。しかしながら、購入部品中の有害元素含有分析においては、従来の素材生産管理や材料研究の場合と異なる下記のような特有の課題がある。

第一に、検査対象とする部品が多様であるうえ、各部品は他種類の材料で構成されているため、分析すべき対象材料の数が膨大となる。

第二に、各種検量線やフィルタ、測定時間、定量化のための濃度計算アルゴリズムは、対象とする材料の種類毎に異なる。このため、分析担当者は、事前に材料や対象元素毎に適正な分析条件，計算方法等を定めておき、分析を行う際には対象毎に分析条件やアルゴリズム等の必要な情報を予め設定する必要がある。

第三に、サンプルの量が微量である、或いは、極めて薄い場合の検出限界が把握されていない。例えば、塗装膜や印刷されたインク中の微量元素の検出限界は、そもそもサンプル上に存在する塗料やインクの量自体が非常に少ないため、バルクの塗料やインクの検出限界よりも低い。プラスチックの場合も板とフィルムでは検出限界が異なる。こうしたデータは分析装置のユーザが自身のノウハウとして蓄える必要がある。

第四に、しかし、装置のユーザは必ずしも材料や分析の専門家ではない。
以上の理由により、購入部品中の有害元素含有分析においては分析作業の生産性が低く、ミスも生じやすいという問題があった。

上記課題を解決するため、本発明は、元素を測定する測定器と、製品の構成素材毎に、該構成素材に含まれる元素の使用実態に基づく含有可能性の度合いを対応させたデータ構成による第一の対応表と、所定濃度以上の量を含有する可能性の度合いを示す構成素材に含まれる元素毎に、分析方法と測定条件とを対応付けたデータ構成による第二の対応表と、前記分析方法に対応するプログラムを実行することによって、前記測定条件に従って前記測定器に前記元素を測定させて分析をする分析手段とを有するように構成される。

このような分析装置では、使用実態に基づく構成素材の含有リスク度合いに基づいて、分析がなされるため、不要な分析を行なわなくて済む。また、含有リスク度合いに分析方法と測定条件とが対応付けされているので、環境に影響を与える元素を含むと思われる構成素材について効率的かつ効果的な分析を実施することができる。

上記所定濃度とは、不可避的不純物レベルないし経済合理的な分析手段で検出可能な濃度を意味する。

上記所定濃度以上の量を含有する可能性の度合いを示す構成素材に含まれる元素とは、現実の使用実態において、必ずしも、全ての構成素材が所定の元素を含有するとは限らないため、構成素材に含有される可能性がありうる元素を意味する。上記可能性の度合いには、使用実態において、含有される可能性がないことを含んでいる。

上記第一の対応表は、例えば、図２（Ａ）及び図２（Ｂ）に示されるような含有リスクマップ１２に相当し、上記第二の対応表は、例えば、図３（Ａ）及び図３（Ｂ）に示されるようなバルク材中の含有リスクマップ１３に相当する。これら第一の対応表と第二の対応表とは、例えば、図１に示される記憶装置５７内の記憶領域に予め格納されている、或いは、記憶媒体５９に記憶されており、必要に応じてＣＰＵ５１によって参照される。

上記課題を解決するための手段として、本発明は、コンピュータにこのような分析装置として機能させるコンピュータ読取可能な記憶媒体、及び、このような分析装置での処理を行なう分析方法とすることもできる。

使用実態に基づく構成素材の含有リスク度合いに基づいて、分析がなされるため、不要な分析を行なわなくて済む。また、含有リスク度合いに分析方法と測定条件とが対応付けされているので、環境に影響を与える元素を含むと思われる構成素材について効率的かつ効果的な分析を実施することができる。

以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。なお、下記の実施例は、本発明を説明するための一例である。従って、含有可能性の表示方法、分析対象元素の選定基準、分析条件、表示方法等は一つの例であり、本発明は記載内容に限定されるものではない。

本発明の一実施形態に係る分析装置は、例えば、図１に示すようなハードウェア構成を有する。図１は、本発明の一実施形態に係る分析装置のハードウェア構成を示す図である。

図１において、分析装置１００は、コンピュータによって制御される端末であって、ＣＰＵ（Central Processing Unit）５１と、メモリユニット５２と、表示ユニット５３と、出力ユニット５４と、入力ユニット５５と、通信ユニット５６と、記憶装置５７と、記憶媒体５９へのアクセスを行なうためのドライバ５８と、蛍光Ｘ線測定器６２と接続するためのインターフェイス（Ｉ／Ｆ）６１とで構成され、システムバスＢに接続される。

ＣＰＵ５１は、メモリユニット５２に格納されたプログラムに従って分析装置１００を制御する。メモリユニット５２は、ＲＡＭ（Random Access Memory）及びＲＯＭ（Read-Only Memory）等にて構成され、ＣＰＵ５１にて実行されるプログラム、ＣＰＵ５１での処理に必要なデータ、ＣＰＵ５１での処理にて得られたデータ等を格納する。また、メモリユニット５２の一部の領域が、ＣＰＵ５１での処理に利用されるワークエリアとして割り付けられている。

表示ユニット５３は、ＣＰＵ５１の制御のもとに必要な各種情報を表示する。出力ユニット５４は、プリンタ等を有し、分析担当者等のユーザからの指示に応じて各種情報を出力するために用いられる。入力ユニット５５は、マウス、キーボード等を有し、ユーザが分析装置１００が処理を行なうための必要な各種情報を入力するために用いられる。通信ユニット５６は、分析装置１００が例えばインターネット、ＬＡＮ（Local Area Network）等を介して分析装置１００と接続する場合に、分析装置１００との間の通信制御をするための装置である。記憶装置５７は、例えば、ハードディスクユニットにて構成され、各種処理を実行するプログラム等のデータを格納する。

分析装置１００よって行われる処理を実現するプログラムは、例えば、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc Read-Only Memory）等の記憶媒体５９によって分析装置１００に提供される。即ち、プログラムが保存された記憶媒体５９がドライバ５８にセットされると、ドライバ５８が記憶媒体５９からプログラムを読み出し、その読み出されたプログラムがシステムバスＢを介して記憶装置５７にインストールされる。そして、プログラムが起動されると、記憶装置５７にインストールされたプログラムに従ってＣＰＵ５１がその処理を開始する。尚、プログラムを格納する媒体としてＣＤ−ＲＯＭに限定するものではなく、コンピュータが読み取り可能な媒体であればよい。本発明に係る処理を実現するプログラムは、通信ユニット５６によってネットワークを介してダウンロードし、記憶装置５７にインストールするようにしても良い。

ユーザが材料や分析の専門家でない場合であっても、ユーザが、製品に含まれる元素が有害となる度合いを視覚的に理解し、分析を行なうことができるような画面例について図２及び図３で説明する。

図２は、含有リスク度合いを色別に表示する含有リスクマップの例を示す図である。図２（Ａ）に示される含有リスク度合い１１は、含有リスクの度合いに対応する表示形式を示している。表示形式は、例えば、色１から６による異なる６種類の色が用いられる。図２（Ａ）に示される含有リスク度合い１１に従って、図２（Ｂ）に示すような含有リスクマップ１２が表示ユニット５３に表示され、製品の構成素材毎に有害物質となり得る元素の含有リスク度合いを視覚的に表示する。例えば、色１は灰色、色２は青色、色３は水色、色４は黄色、色５はオレンジ色、そして色６は赤色などのように、色のグラデーションで含有リスクの低い元素から含有リスクの高い元素が直感的に判るように配色する。

図２（Ａ）に示される含有リスク度合い１１おいて、色１（灰色）は、除外項目であることを示す。色２（青色）は、構成素材に原理上含まれ得ない元素であることを示す。例えば、金属中には六価クロムやＰＢＢ／ＰＢＤＥ（芳香属臭素化合物の一種）は含まれ得ない。なぜなら、金属結晶を構成する格子の金属元素は価数が定義されなし、格子間に金属イオンが挿入されることはない。有機物であるＰＢＢ／ＰＢＤＥは金属ではないし、分子が大きいので金属格子間に挿入されることもない。

色３（水色）は、原理的には含有され得るが、実際の工業材料に意図的に含有されることが無い、或いは、市販される材料に不純物として管理が必要になるほどの量が残留することが無いことを表す。例えば、赤の顔料としてＨｇＳが現在でも少量生産されており、油絵の具の顔料、高級漆器や神社の鳥居などの文化財補修に使用されている。しかし、プラスチックの着色用には、有毒であることに加えて、赤系の有機顔料や他の無機系顔料に比べて著しく値段が高いことから使用されていない。

そして、色４（黄色）、色５（オレンジ色）、そして色６（赤色）の順に含有可能性が高くなる。色４（黄色）は、構成素材に極めて稀に含有される元素であることを示す。色５（オレンジ色）は、構成素材に稀に含有される元素であることを示す。色６（赤色）は、構成素材にまだ使用されていることを示す。図２（Ｂ）に示される含有リスクマップ１２において、色６（赤色）で示す電極端子などの「めっき」、金属表面に施される「表面化成処理」、及び「塩素樹脂（ポリ塩化ビニル）（ＰＶＣ）」には、鉛や六価クロムを含む材料が現在でも広く使用されていることを示す。

このように、有害リスクの度合いを製品中に含まれる割合で分類するのではなく、現実的に使用される状況に基づいて示すことによって、上記色毎に説明したような専門的な知識が無くとも、無駄な分析処理を行なわずに済ませることが可能となる。

図２（Ａ）に示される含有リスク度合い１１に基づいて、表示ユニット５３に図２（Ｂ）に示すような含有リスクマップ１２が表示される。ユーザは、表示された含有リスクマップ１２を参照して、含有リスク度合いが色４から色６で示される構成素材を確認し、分析を要する構成素材を、マウス等を用いて選択する。例えば、色６で示される構成素材「バルク材」を選択すると、図３に示すような「バルク材」の詳細な構成素材毎の含有リスクが表示ユニット５３に表示される。

図３は、含有リスクを色別に表示するバルク材中の含有リスクマップを示す図である。図３（Ａ）に示されるバルク材の含有リスクマップ１３は、図２（Ａ）に示す含有リスク度合い１１に従って、バルク材の構成素材毎に元素Ｐｂ及びＣｄの含有リスク度合いを対応させて色によって示すマップである。

この詳細な含有リスクマップ１３では、元素Ｐｂについて、ＲｏＨＳ規制によって指定される許容値内である場合の含有リスク度合いと、許容値を超える場合の含有リスク度合いとに分けて示される。元素Ｐｂは、金属材料の切削性を上げる目的で鉄やアルミニウム、銅合金に添加されるが、一定量以内のＰｂの添加はＲｏＨＳ規制において許容されている。

含有リスクマップ１３は、金属メーカで生産され汎用材料として流通している材料は工業規格に従って品質管理されているので、各種規格に基づいて、ＰｂやＣｄがどの金属材料に含まれるか、許容値を超える場合はあるかを示す。

バルク材の構成素材が「鉄系（鋼材）」であって、元素Ｐｂが許容値内である場合、セル１３ａは、構成素材が「アルミ（合金）」又は「鋼材」である場合と同様に色６（赤）によって「まだ使用されている」ことが示されるが、これら「アルミ（合金）」又は「鋼材」である場合とは別の分析方法が必要となるため、色６（赤）とは別の強調表示と組み合わせて表示される。

バルク材の構成素材が「黄鋼」の元素Ｃｄのセル１３ｂの表示方法も同様である。この場合、バルク材の構成素材が「銅」、「黄鋼」及び「青銅」の元素Ｐｂが許容値を超える場合に示される色４（黄色）と、色４（黄色）とは別の強調表示と組み合わせて表示される。

ユーザは、含有リスク度合いが同様であっても異なる分析方法が要求される構成素材を視覚的に判断することができる。ユーザは、例えば、バルク材の構成素材「黄鋼」をマウス等で選択するのみで、蛍光Ｘ線測定器６２に適切な測定条件にて適切な分析方法を行なわせることができる。

分析方法は、図３（Ｂ）に示す分析方法１４に従って蛍光Ｘ線測定器６２によって行なわれる。例えば、色４（黄色）又は色５（オレンジ色）で示される元素に対して、ファンダメンタルパラメータ（Fundamental Parameter）法を実行するためのプログラムを呼び出して、管球電圧５０ｋＶで測定時間６０秒を測定条件として、蛍光Ｘ線測定器６２によって分析が行なわれる。色５（オレンジ）及び強調表示で示される元素Ｐｂに対して、Ｐｂフィルタを起動し、管球電圧５０ｋＶで測定時間６０秒を測定条件として、検量線（ＰｂｉｎＦｅ）を呼び出して定量計算を行なう。検量線（ＰｂｉｎＦｅ）は、過去における分析結果を示す情報であって、予め、記憶装置５７の所定記憶領域に格納されている。色４（黄色）及び強調表示で示される元素Ｃｄに対して、Ｃｄフィルタを起動し、管球電圧５０ｋＶで測定時間６０秒を測定条件として、検量線（ＣｄｉｎＣｕ−Ｚｎ）を呼び出して定量計算を行なう。

このような図３（Ｂ）に示される分析方法テーブル１４は、予め、記憶装置５７の記憶領域に格納されており、図２（Ｂ）に示される含有リスクマップ１２の構成素材毎の詳細な含有リスクマップ（例えば、図３（Ａ）のバルク材の含有リスクマップ１３）の構成素材毎に対応する分析方法と測定条件とを格納している。

図３（Ａ）及び図３（Ｂ）を参照しつつ、分析処理の例について図４及び図５で説明する。図４は、分析処理の一例を説明するためのフローチャート図である。

図４において、表示ユニット５３に表示されたバルク材の含有リスクマップ１３にて、ユーザによって鉄系（鋼材）が指定された場合（ステップＳ１０ａ）、或いは、定性分析の結果によって鉄系の材料であると判明した場合（ステップＳ１０ｂ）、色６（赤色）によって元素Ｐｂが許容値内でまだ使用されており、また、色３（水色）によって元素Ｐｂが許容値を超えることは実際上あり得ないであり、更に、色３（水色）によって元素Ｃｄが含有されることも実際上あり得ないと判断する（ステップＳ１１）。元素Ｐｂの一定量以内の添加はＲｏＨＳ規制において許容されている。

分析装置１００は、判断結果を示すと共に、元素Ｐｂの定量計算を行なうか否かを確認する画面を表示ユニット５３に表示する（ステップＳ１２）。分析装置１００は、ステップＳ１１での判断結果に基づいて、定量計算アルゴリズムによる測定が不要であると判断し、不要であることをユーザに通知して、この分析処理において、ステップＳ１２からＳ１８までを省略するようにしても良い。

ユーザの入力に応じて、ユーザが元素Ｐｂの定量計算を行なうことを指示したか否かを判断する（ステップＳ１３）。ユーザが元素Ｐｂの定量計算を指示しなかった場合、分析処理を終了する。一方、ユーザが元素Ｐｂの定量計算を指示した場合、更なるユーザの入力に応じて、デフォルトの測定条件を変更するか否かを判断する（ステップＳ１４）。変更しない場合、ステップＳ１６へ進む。一方、変更する場合、測定条件を設定するための画面を表示ユニット５３に表示し、ユーザから測定条件を取得する（ステップＳ１５）。

分析装置１００は、測定条件に従って、Ｐｂフィルタを起動し、蛍光Ｘ線測定を行なう（ステップＳ１６）。鉄系（鋼材）をマトリックスとした場合の元素Ｐｂの検量線を呼び出して、元素Ｐｂの定量計算を行なう（ステップＳ１７）。元素Ｐｂの検量線とは、以前に行なった元素Ｐｂの定量計算の結果を示し、予め所定記憶領域に格納されている。

分析装置１００は、分析結果を表示ユニット５３に表示して（ステップＳ１８）、分析処理を終了する。

次に、バルク材に黄銅が含有されていると判断した場合の分析処理の他の例について図５で説明する。図５は、分析処理の他の例を説明するためのフローチャート図である。

図５において、分析装置１００では、陽極にＲｈを用いたＸ線発生用管球と、ＥＤＸタイプの検出器を備えた蛍光Ｘ線測定器６２による分析処理の例について説明する。表示ユニット５３に表示されたバルク材の含有リスクマップ１３にて、ユーザによって黄銅が指定された場合（ステップＳ３０ａ）、或いは、定性分析の結果によって黄銅であると判明した場合（ステップＳ３０ｂ）、色６（赤色）によって元素Ｐｂが許容値内でまだ使用されており、また、色４（黄色）によって元素Ｐｂが許容値を超えることは極めて稀であり、更に、色４（黄色）と強調表示によって元素Ｃｄが含有されることも極めて稀であると判断する（ステップＳ１１）。元素Ｐｂの一定量以内の添加はＲｏＨＳ規制において許容されている。

黄銅の場合、黄銅中の元素Ｐｂの測定に際しては、ＲｏＨＳ規制の許容値である４ｗｔ％近辺で定量精度を確保できる分析条件で行なう必要がある。一方、黄銅中の元素Ｃｄの測定に際しては、ＲｏＨＳ規制では不純物としての許容値がまだ決定していないため、仮に１００ｐｐｍとなった場合を仮定すると、数十ｐｐｍレベルの微量分析が可能な条件に設定する必要がある。蛍光Ｘ線測定器６２を用いた分析装置１００において、ハードウェア及び解析ソフトウェアによって最適な測定条件が異なるものの、通常、４ｗｔ％近辺の元素Ｐｂと数十ｐｐｍの元素Ｃｄでは、適正な測定条件が異なる。

例えば、ステップＳ３０ｂでは、ファンダメンタルパラメータ法の定量計算アルゴリズム（プログラム）を呼び出して、管球電圧５０ｋＶで６０秒間、蛍光Ｘ線測定を行うことによって、黄銅であることが判明される。

分析装置１００は、判断結果を示すと共に、色４（黄色）と強調表示に基づいて、元素Ｃｄの測定を推奨する画面を表示ユニット５３に表示すると共に、測定条件を確認する（ステップＳ３１）。分析装置１００は、元素Ｃｄに関する色４（黄色）と強調表示に基づいて、自動的にＣｄフィルタを起動し、元素Ｃｄを測定するようにしても良い。この場合、ステップＳ３１からＳ３６までの処理が省略される。

分析装置１００は、ユーザによって入力された指示がデフォルトの測定条件を変更することを示しているか否かを判断する（ステップＳ３２）。変更を指示していない場合、ステップＳ３５へ進む。一方、変更を指示している場合、測定条件を設定するための画面を表示ユニット５３に表示し、ユーザから測定条件を取得する（ステップＳ３３）。

分析装置１００は、測定条件に従って、Ｃｄフィルタを起動し蛍光Ｘ線測定を行なう（ステップＳ３４）。黄銅をマトリックスとした場合の元素Ｃｄの検量線を呼び出して、元素Ｃｄの定量計算を行なう（ステップＳ３５）。元素Ｃｄの検量線とは、以前に行なった元素Ｃｄの定量計算の結果を示し、予め所定記憶領域に格納されている。

分析装置１００は、分析結果を表示ユニット５３に表示して（ステップＳ３６）、分析処理を終了する。

ユーザの選択によって、分析による検出限界及び分析制度を表示するように設定されている場合、例えば、Ｐｂ４ｗｔ％近傍における分析精度は、±５％（すなわち、４±０．２ｗｔ％）、Ｃｄの検出限界は２０ｐｐｍであって、１００ｐｐｍ近傍における分析精度は±２０％（１００±２０ｐｐｍ）であることを分析結果に併記して、或いは、分析処理を開始する際に表示するようにしても良い。また、ユーザの指示に応じて出力ユニット５４にて印刷するようにしても良い。

分析精度が併記されることによって、元素Ｐｂの分析結果が３．８ｗｔ％以下で、かつＣｄが８０ｐｐｍであれば（Ｃｄの許容値が１００ｐｐｍと仮定した場合）、ユーザは、分析対象となった構成素材は使用可能（輸出可能）であると判断することができる。

図４及び図５を参照しつつ説明したように、分析装置１００は、構成素材に対応する分析方法及び測定条件に基づいて、元素に対する必要とされる定量計算アルゴリズム（プログラム）を実行するため、ユーザは、構成素材毎に含まれる元素に関する含有リスクの度合いに関する専門知識、及び、元素を測定するための専門知識を必要とすることなく、適切な測定条件によって分析を行なうことができる。

また、含有リスクマップ１２及びバルク材の含有リスクマップ１３等によって、現実的な含有リスクの度合いを視覚的に把握することができるので、実際に分析を行なう前に不要な分析の実施をしないようにすることができる。

図５のステップＳ３１にて表示ユニット５３に表示される画面について図６で説明する。図６は、測定条件を確認するための画面の例を示す図である。

図６において、画面２００は、元素Ｃｄの測定を促すメッセージ２００ａと、デフォルトの測定条件であることを示すメッセージ２００ｂと、デフォルトの測定条件の一覧を示す測定条件２００ｃと、測定の開始を確認するメッセージ２００ｄと、デフォルト測定条件にて測定を実行するためのボタン２００ｅと、測定をキャンセルするためのボタン２００ｆと、測定条件を変更して測定を実行するためのボタン２００ｇとを有する。

画面２００の測定条件２００ｃには、例えば、管球電圧、管電流、測定時間、一次フィルタ、検量線などの項目に対応させて、５０ｋＶ、自動、１２０ｓｅｃ、Ｃｄ用、Ｎｏ．○○○○などが測定条件として表示される。ユーザは、測定条件２００ｃを確認し、この測定条件２００ｃにて測定をする際には、ボタン２００ｅを選択する。一方、測定条件２００ｃを変更する際には、ユーザはボタン２００ｇを選択し、選択することによって表示される測定条件を設定するための画面に従って、設定値を変更し、測定を実行する。

本実施例において、含有リスクマップ１２からバルク材が選択された場合について説明したが、含有リスクマップ１２に示される各構成素材に、図３（Ａ）に示すような詳細な含有リスクマップ（例えば、バルク材用のバルク材含有リスクマップ１３）が対応させておくことによって、各構成素材に対する同様の分析処理が可能となる。

更に、ユーザによっては、一つの部品のどの構成部材のどの構成素材について分析するべきかを判断するための知識を持っていない場合もある。その場合には、部品単位に図２（Ａ）に示す含有リスク度合い１１を適用することができる。ＬＳＩ部品を例に、図７で説明する。図７は、部品単位の含有リスクマップの例を示す図である。

図７において、部品単位の含有リスクマップ１５は、ＬＳＩ部品に関する構成素材毎の含有リスク度合いを示すマップであって、パッケージタイプ、構成部材、構成素材、ＲｏＨＳ対象物質、環境関連代替素材等の項目で構成される。

ユーザは、部品単位の含有リスクマップ１５を参照することによって、分析の必要な構成素材が、色６（赤色）で表示される、パッケージタイプ「リードフレーム型」、構成部材「リードフレーム」、構成素材「正面処理Ｓｎ−Ｐｂ、鉛フリーめっき」の元素Ｐｂ、パッケージタイプ「ＢＧＡ型」、構成部材「バンプ」、構成素材「Ｓｎ−Ｐｂ、鉛フリーはんだ、Ａｕ」の元素Ｐｂ、そしてパッケージタイプ「ＢＧＡ型」、構成部材「バンプ」、構成素材「Ｓｎ−Ｐｂ、Ｓｎ−Ａｇ−Ｃｕ」の元素Ｐｂであることが視覚的に判断することができる。

更に、色による度合いの表示に加えて、「注１」、「注２」、「注３」のように捕捉情報があることを示すようにしても良い。例えば、「注１」は「常識的に有り得ない。根拠を重ねて今後不要にすることも可能」、「注２」は「Ｃｕ箔の密着処理にクロメート使用の可能性有り。但し、溶出量は検出限界以下である」、「注３」は「Ｐｂ８０％を含む高温はんだは規制対象外」などの捕捉情報によって、より正確に分析処理の要否を判断することができる。

部品単位の含有リスクマップ１５において、ユーザが、例えば、パッケージタイプ「リードフレーム型」、構成部材「リードフレーム」、構成素材「正面処理Ｓｎ−Ｐｂ、鉛フリーめっき」を選択すると、分析装置１００は、図２（Ｂ）に示す含有リスクマップ１２を表示ユニット５３に表示する。以後の処理は、上述した通りであるので、その説明を省略する。

このように、含有リスク度合い１１を部品に適応することによって、ユーザが部品の構成素材に関する知識が十分になくても、視覚的に分析すべき対象を特定することができる。

上述したように、ユーザは、使用実態に基づく構成素材の含有リスク度合いを視覚的かつ直感的に確認しつつ、単に分析すべき構成素材を選択するのみで、適切な分析方法を適切な測定条件にて容易に行なうことができる。また、分析装置１００の操作は、通常のパーソナルコンピュータの操作と同様であるので、ユーザは、特別な操作演習などをする必要がない。

以上の説明に関し、更に以下の項を開示する。
（付記１）
元素を測定する測定器と、
製品の構成素材毎に、該構成素材に含まれる元素の使用実態に基づく含有可能性の度合いを対応させたデータ構成による第一の対応表と、
所定濃度以上を含有する可能性の度合いを示す構成素材に含まれる元素毎に、分析方法と測定条件とを対応付けたデータ構成による第二の対応表と、
前記分析方法に対応するプログラムを実行することによって、前記測定条件に従って前記測定器に前記元素を測定させて分析をする分析手段とを有することを特徴とする分析装置。
（付記２）
前記第二の対応表は、前記使用実態に基づくと共に前記所定濃度以上の前記元素に対して、分析方法と測定条件とを対応付けたデータ構成を有し、
前記分析手段は、ユーザによる測定実行の指示に応じて、前記分析方法に対応するプログラムを実行することによって、前記測定条件に従って前記測定器に前記元素の測定を行なわせることを特徴とする請求項１記載の分析装置。
（付記３）
前記分析手段は、
前記測定条件を表示ユニットに表示させる測定条件表示手段と、
ユーザに前記測定条件表示手段によって表示された前記測定条件の変更を可能とし、該ユーザによって変更された測定条件を取得する測定条件取得手段とを有することを特徴とする付記１又は２記載の分析装置。
（付記４）
前記分析手段による分析処理が開始される際又は前記分析手段による分析結果を表示ユニットに表示させる際に、前記測定器及び前記プログラムによる検出限界と分析精度とを該表示ユニットに表示させる分析結果表示手段とを有すること特徴とする付記１乃至３のいずれか一項記載の分析装置。
（付記５）
部品の種別毎に、その構成部材を示し、該構成部材の構成素材毎に、該構成素材に含まれる元素の使用実態に基づく含有可能性の度合いを対応させたデータ構成による第三の対応表を有することを特徴とする付記１乃至４のいずれか一項記載の分析装置。
（付記６）
前記測定器は、蛍光Ｘ線によって元素を測定する装置であることを特徴とする付記１乃至５のいずれか一項記載の分析装置。
（付記７）
コンピュータに、
製品の構成素材毎に、該構成素材に含まれる元素の使用実態に基づく含有可能性の度合いを対応させたデータ構成による第一の対応表を表示ユニットに表示させる表示手順と、
所定濃度以上を含有する可能性の度合いを示す構成素材に含まれる元素毎に、分析方法と測定条件とを対応付けたデータ構成による第二の対応表を参照することによって、前記分析方法に対応するプログラムを実行して、前記測定条件に従って、元素を測定する測定器に前記元素を測定させて分析をする分析手順とを実行させるプログラムを記憶したコンピュータ実行可能な記憶媒体。
（付記８）
コンピュータに、
製品の構成素材毎に、該構成素材に含まれる元素の使用実態に基づく含有可能性の度合いを対応させたデータ構成による第一の対応表を表示ユニットに表示させる表示手順と、
所定濃度以上を含有する可能性の度合いを示す構成素材に含まれる元素毎に、分析方法と測定条件とを対応付けたデータ構成による第二の対応表を参照することによって、前記分析方法に対応するプログラムを実行して、前記測定条件に従って、元素を測定する測定器に前記元素を測定させて分析をする分析手順とを行なわせる分析方法。

本発明は、具体的に開示された実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲から逸脱することなく、種々の変形や変更が可能である。

本発明の一実施形態に係る分析装置のハードウェア構成を示す図である。含有リスク度合いを色別に表示する含有リスクマップの例を示す図である。含有リスクを色別に表示するバルク材中の含有リスクマップを示す図である。分析処理の一例を説明するためのフローチャート図である。分析処理の他の例を説明するためのフローチャート図である。測定条件を確認するための画面の例を示す図である。部品単位の含有リスクマップの例を示す図である。

符号の説明

１１含有リスク度合い
１２含有リスクマップ
１３バルク材の含有リスクマップ
１４分析方法テーブル
５１ＣＰＵ
５２メモリユニット
５３表示ユニット
５４出力ユニット
５５入力ユニット
５６通信ユニット
５７記憶装置
５８ドライバ
５９記憶媒体
６１インターフェイス（Ｉ／Ｆ）
６２蛍光Ｘ線測定器

Claims

元素を測定する測定器と、
製品の構成素材毎に、該構成素材に含まれる元素の使用実態に基づく含有可能性の度合いを対応させたデータ構成による第一の対応表と、
所定濃度以上を含有する可能性の度合いを示す構成素材に含まれる元素毎に、分析方法と測定条件とを対応付けたデータ構成による第二の対応表と、
前記分析方法に対応するプログラムを実行することによって、前記測定条件に従って前記測定器に前記元素を測定させて分析をする分析手段とを有することを特徴とする分析装置。
前記第二の対応表は、前記使用実態に基づくと共に前記所定濃度以上の前記元素に対して、分析方法と測定条件とを対応付けたデータ構成を有し、
前記分析手段は、ユーザによる測定実行の指示に応じて、前記分析方法に対応するプログラムを実行することによって、前記測定条件に従って前記測定器に前記元素の測定を行なわせることを特徴とする請求項１記載の分析装置。
前記分析手段は、
前記測定条件を表示ユニットに表示させる測定条件表示手段と、
ユーザに前記測定条件表示手段によって表示された前記測定条件の変更を可能とし、該ユーザによって変更された測定条件を取得する測定条件取得手段とを有することを特徴とする請求項１又は２記載の分析装置。
コンピュータに、
製品の構成素材毎に、該構成素材に含まれる元素の使用実態に基づく含有可能性の度合いを対応させたデータ構成による第一の対応表を表示ユニットに表示させる表示手順と、
所定濃度以上を含有する可能性の度合いを示す構成素材に含まれる元素毎に、分析方法と測定条件とを対応付けたデータ構成による第二の対応表を参照することによって、前記分析方法に対応するプログラムを実行して、前記測定条件に従って、元素を測定する測定器に前記元素を測定させて分析をする分析手順とを実行させるプログラムを記憶したコンピュータ実行可能な記憶媒体。
コンピュータに、
製品の構成素材毎に、該構成素材に含まれる元素の使用実態に基づく含有可能性の度合いを対応させたデータ構成による第一の対応表を表示ユニットに表示させる表示手順と、
所定濃度以上を含有する可能性の度合いを示す構成素材に含まれる元素毎に、分析方法と測定条件とを対応付けたデータ構成による第二の対応表を参照することによって、前記分析方法に対応するプログラムを実行して、前記測定条件に従って、元素を測定する測定器に前記元素を測定させて分析をする分析手順とを行なわせる分析方法。