JP2006030873A - 画像形成装置および画像形成方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 オートフォーカシング機構においてフォーカシングを行なったときに生じるビーム位置ズレを自動的に補正できる画像形成装置および画像形成方法を提供
【解決手段】複数の画素を選択的にon/offして光ビームを照射する1または2以上の露光ヘッドを被露光体の被露光面に対して一定方向に走査して画像を形成する画像形成装置であって、前記露光ヘッドから照射される光ビームの焦点を前記被露光面に合わせるフォーカシングをおこなうフォーカシング手段と、各露光ヘッドを制御し、前記フォーカシングによって生じた前記被露光面における前記光ビームの照射位置のずれであるビーム位置ズレを補正するビーム位置ズレ補正手段とを備える画像形成装置および画像形成方法。
【選択図】 図1

Description

本発明は、画像形成装置および画像形成方法に関し、特に、光ビームのフォーカシングの際に生じるビーム位置ズレを自動的に補正でき、高精度な画像を形成できる画像形成装置および画像形成方法に関する。
近年、画像記録装置の一例として、デジタル・マイクロミラー・デバイス(DMD)等の空間光変調素子(SLM)を利用し、画像データに応じて変調された光ビームで画像露光を行う露光装置が種々提案されている(たとえば、非特許文献1および2を参照)。このDMDは、たとえばSRAMの各メモリセル上に多数の微小なマイクロミラーが設けられて構成され、各メモリセルに蓄えた電荷による静電気力でマイクロミラーの反射面の角度を変化させる。実際に描画を行うときには、各SRAMに画像データを書き込んだ状態で各マイクロミラーをリセットして所定角度とし、光の反射方向を所望の方向とする。
前記露光装置の応用分野の1つとして、たとえば液晶ディスプレーやプラズマディスプレーなどのフラットパネルディスプレーの基板の製造、およびプリント基板の製造がある。
パネルやプリント基板の製造用の露光装置としては、露光範囲を広げる目的で、前記DMDを有する露光ヘッドを、前記基板などの感光材料の送り方向に交差する方向に沿って複数配列したマルチヘッド露光装置がある。
前記マルチヘッド露光装置においては、各ヘッド間の相対位置は、つなぎ目が実用上問題にならない程度に高精度に調整されている。
前記マルチヘッド露光装置は、更に、露光すべき感光材料に対する露光位置ずれ(X,Y方向)を補正するアライメント機構、及び、感光材料のうねりや厚さ(Z方向)のバラツキに追従して被露光面にレーザ光の焦点を合わせるオートフォーカシング機構を備えている。
Larry J. Hornbeck, Digital Light Processing and MEMS: reflecting the digital display needs of the networked society, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Proceedings of SPIE Volume: 2783, 8/1996, P.2-13 W.E.Nelson and Robit L Bhuva,. Digital micromirror device imaging bar for hard copy, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Proceedings of SPIE Volume: 2413, 4/1995, P.58-65 特許第3305448号公報
しかしながら、近年、フラットパネルやプリント基板において高精細化が進んだので、オートフォーカシング機構においてフォーカシングを行なったときにビーム位置がX,Y方向に微妙にずれることが問題視されるようになってきた。
とくに、マルチヘッド露光装置においては、一の露光ヘッドで形成される画像を他の露光ヘッドで形成される画像に繋げる繋ぎ部においてこのようなずれが生じると、画像間にズレが生じ、画質が劣化するという問題がある。
本発明は、上記事実を考慮し、オートフォーカシング機構においてフォーカシングを行なったときに生じるビーム位置のX,Y方向のズレを自動的に補正でき、マルチヘッド露光装置であっても画像間にズレが生じることのない画像形成装置および画像形成方法を提供することを目的とする。
請求項1に記載の発明は、複数の画素を選択的にon/offして光ビームを照射する1または2以上の露光ヘッドを被露光体の被露光面に対して相対的に走査して画像を形成する画像形成装置であって、前記露光ヘッドから照射される光ビームの焦点を前記被露光面に合わせるフォーカシングをおこなうフォーカシング手段と、各露光ヘッドにおいて光ビームの露光位置を移動させることにより、前記フォーカシングによって生じた前記被露光面における前記光ビームの照射位置のずれであるビーム位置ズレを補正するビーム位置ズレ補正手段とを備えてなることを特徴とする画像形成装置に関する。
前記画像形成装置においては、オートフォーカシング機構においてフォーカシングを行なったときに生じるビーム位置ズレは、前記ビーム位置ズレ補正手段によって自動的に補正される。
したがって、複数の露光ヘッドを有するマルチヘッド露光装置において隣接する画像を繋ぐ画像繋ぎを行なう場合において、画像間にズレや隙間が生じることが効果的に防止される。また、フォーカシング手段においてビーム位置の綿密な調整を行なわなくてもX軸方向およびY軸方向のビーム位置ズレが防止できるので、フォーカシング手段を構成する部品点数や調整工数を削減できる。
前記ビーム位置ズレ補正手段においてビーム位置ズレを補正する態様としては、前記露光ヘッドにおいて、前記ビーム位置ずれが最も小さくなるようにonにすべき画素を選択したり、画素の点灯タイミングを制御したりする態様、および前記露光ヘッドにおいて光ビームを光学的に屈折させることにより、被露光面における前記光ビームの照射位置を移動させる態様などがある。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の画像形成装置において、前記フォーカシング手段におけるフォーカシング量とビーム位置ズレの大きさとの関係に関するビーム位置ズレ補正データを各露光ヘッド毎に求め、前記ビーム位置ズレ補正データに基き、露光ヘッドのビーム露光位置を移動させてビーム位置ズレを補正する露光装置に関する。
マルチヘッド露光装置においては、フォーカシングを行なったときのビーム位置ズレの大きさが露光ヘッド毎に異なる場合がある。
前記露光ヘッドにおいては、各露光ヘッド毎に求められた光ビームのフォーカス位置とビーム位置ズレの大きさとの関係に基き、露光ヘッドを制御しているから、ビーム位置ズレの大きさが露光ヘッド毎に異なる場合においても画像の繋ぎ部にズレや隙間が生じることがない。
請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の画像形成装置において、前記露光ヘッドから出射される光ビームの露光位置を検出するビーム位置検出手段を有し、前記ビーム位置ズレ補正手段が、前記露光ヘッドにおける特定の画素を点灯させて光ビームを出射させ、前記フォーカシング手段で前記光ビームの焦点を2点以上設定し、それぞれの焦点について焦点位置検出手段で焦点位置を検出するとともにビーム位置検出手段で露光位置を検出し、前記焦点位置検出手段で検出された前記ビームの焦点位置と前記ビーム位置検出手段で検出された露光位置とからビーム位置ズレ補正データを求め、前記ビーム位置ズレ補正データに基づいて露光ヘッドのビーム露光位置を移動させる画像形成装置に関する。
マルチヘッド露光装置においては、また、前記フォーカシング手段におけるフォーカシング量とビーム位置ズレの大きさとの関係が経時的に変化する場合がある。
前記画像形成装置においては、前述のように露光ヘッドにおいてある特定の画素をonにしたときの光ビームの焦点位置と露光位置とを実際に焦点位置検出手段とビーム位置検出手段とによって測定した結果に基づいてビーム位置ズレ補正データを求めている。したがって、一定時間毎に前記測定を行ってビーム位置ズレ補正データを更新するビーム位置ズレ補正データ更新モードを用意することにより、光ビームの焦点位置とビーム位置ズレの大きさとの関係が経時的に変化する場合にも対応できる。
請求項4に記載の発明は、請求項3に記載の画像形成装置において、前記ビーム位置ズレ補正手段が、前記フォーカシング手段によって前記光ビームの焦点を露光ヘッドから最も遠い+Max、中間位置、および露光ヘッドに最も近い−Maxに設定し、夫々の焦点について、焦点位置検出手段で焦点位置を検出するとともにビーム位置検出手段で光ビームの露光位置を検出してビーム位置ズレ補正データを求める画像形成装置に関する。
点灯する画素の位置や露光ヘッドそのものの光学的特性によっては、フォーカシング量とビーム位置ズレの大きさとが直線関係にない場合もあると考えられる。
前記画像形成装置においては、光ビームの焦点を3点設定し、前記3点の焦点について焦点位置と露光位置とを測定しているから、上のような場合においても信頼性の高いビーム位置ズレ補正データが得られる。なお、設定する焦点の数は4点以上であってもよい。
請求項5に記載の発明は、請求項1〜4の何れか1項に記載の画像形成装置において、露光ヘッドから被露光面までの距離を測定する焦点距離測定手段を備えてなり、前記被露光面を露光する前に、前記焦点距離測定手段によって、前記被露光面の各点における露光ヘッドからの距離を示すフォーカスマップを前記被露光面の全面について作製し、各露光ヘッドにおいては、前記フォーカスマップに従ってフォーカシングを行なう画像形成装置に関する。
前記画像形成装置によれば、被露光面の全ての点において焦点の合った鮮明な画像が自動的に形成できるから、高い解像度が得られる。
前記画像形成装置においては、前記ビーム位置ズレ補正手段は、前記ビーム位置ズレ補正データと前記フォーカスマップとに基いてビーム位置ズレを補正する画像形成装置に関する。
これにより、被露光面の全ての点において焦点が合っているだけでなく、フォーカシングに伴うビーム位置ズレに起因する歪みや画像間の隙間、重なりのない良質な画像が得られる。
請求項6に記載の発明は、請求項1〜5の何れか1項に記載の画像形成装置において、前記ビーム位置ズレ補正手段は、露光ヘッドにおいて点灯する画素をずらすことによって主走査方向に沿ったX軸方向および副走査方向に沿ったY軸方向のビーム位置ずれを補正する画像形成装置に関する。
前記画像形成装置においては、露光ヘッドにおいて点灯すべき画素を変更することによってX軸方向およびY軸方向のビーム位置ズレを補正しているから、ソフトウェアのみでビーム位置ズレを補正できる。したがって、ビーム位置ズレを補正するための付加的な機構が不要である。
ここで、主走査方向は露光ヘッドの並びの方向であり、副走査方向は露光ヘッドの被露光面に対する走査方向に沿った方向であるから、X軸方向は露光ヘッドの被露光面に対する走査方向に対して直角な方向であり、Y軸方向は、露光ヘッドの被露光面に対する走査方向に平行な方向とも換言できる。
請求項7に記載の発明は、請求項1〜5の何れか1項に記載の画像形成装置において、前記ビーム位置ズレ補正手段が、露光ヘッドにおいて点灯する画素をずらすことによってX軸方向のビーム位置ズレを補正し、露光ヘッドにおいて画素を点灯する点灯タイミングをずらすことによってY軸方向のビーム位置ズレを補正する画像形成装置に関する。
請求項7の画像形成装置においては、請求項6に記載の画像形成装置と同様に、ソフトウェアのみでビーム位置ズレを補正できるから、ビーム位置ズレを補正するための付加的な機構が不要である。
さらに、X軸方向についてのみ、露光ヘッドにおいて点灯すべき画素の位置設定を変更し、Y軸方向については、画素の点灯タイミングを変更しているから、ビーム位置ズレを補正するためのソフトウェアの構成を、請求項6に記載の画像形成装置に比較して更に簡略にできる。
請求項8に記載の発明は、請求項3〜7の何れか1項に記載の画像形成装置において、前記ビーム位置検出手段が、Y軸方向に沿って基準面上を移動可能に形成され、前記露光ヘッドの画素配列に対して相対的に斜めであって互いに交差するように配設された少なくとも1対のスリット部と、前記スリット部を通過する光ビームの光量を測定する光量測定手段とを有し、前記露光ヘッドの特定の画素をonして前記ビーム位置検出手段をY軸方向に沿って移動させ、前記スリット部の一方および他方を透過する光ビームの光量がピークに達したときの前記ビーム位置検出手段の位置と前記スリット部の位置と前記スリット部が互いに成す角度とに基いて前記がその位置を特定する画像形成装置に関する。
前記画像形成装置においては、前記光量測定手段は、前記スリット部を透過する露光ビームの光量を測定できればよいから、通常の受光素子で充分である。したがって、前記露光ビームの位置を検出するのに、2次元PSDや4分割ディテクタなどの高価な位置検出素子を使用する必要がないから、ビーム位置検出手段を安価に構成できる。
また、従来の技術の欄で述べたマルチヘッド露光装置は、通常、露光しようとする基板を載置して一定方向に送る露光ステージを有し、前記露光ステージは、リニアエンコーダなどによって高精度に送り方向、即ちY軸方向の位置が検出される。
したがって、前記露光ステージの非露光面に前記ビーム位置検出手段を固定し、前記露光ステージを前記送り方向に送りつつ、前記リニアエンコーダで位置検出すれば、前記ビーム位置検出手段の位置も高精度で検出できるから、前記光ビームの露光位置も高精度で求められる。
このように前記画像形成装置は、従来のマルチヘッド露光装置を殆どそのまま利用して光ビームの露光位置の検出を高精度で行うことができるという特長を有する。
前記スリット部としては、スリットのほか、回折格子も使用できる。
前記画像形成装置においては、前記ビーム位置検出手段には、前記スリット部をX軸方向に向かって開くV字型、X字型、またはT字型に配設できる。
請求項9に記載の発明は、請求項3〜7の何れか1項に記載の画像形成装置において、前記ビーム位置検出手段が、基準面上をY軸方向およびX軸方向に沿って移動可能に形成され、Y軸方向に長い第1スリット部と、X軸方向に長い第2スリット部と、前記第1および第2のスリット部を透過する前記露光ビームの光量を測定する光量測定手段とを有する画像形成装置に関する。
前記画像形成装置によれば、前記特定の画素から出射された光ビームの露光位置のX座標とY座標とを直接に特定できる。
前記画素位置特定方法で使用できるビーム位置検出手段としては、たとえばマルチ露光ヘッドの露光ステージにおける被露光面に、X軸方向に高精度で移動可能な基台を有し、リニアエンコーダ等により基台の位置が検出可能であるとともに、前記第1スリット部と第2スリット部とが前記基台上に設けられたビーム検出装置などが挙げられる。
請求項10に記載の発明は、請求項1〜9の何れか1項に記載の画像形成装置において、前記フォーカシング手段が、前記露光ヘッドを前記被露光面に対して相対的に走査しつつ、前記露光ヘッドと前記被露光面との距離を測定する距離測定手段と、前記距離測定手段からの距離測定情報に基いて露光ヘッドからの光ビームの焦点の位置を変化させる焦点位置変更手段とを備えてなる画像形成装置に関する。
前記画像形成装置においては、前記距離測定手段の測定結果に基づいて焦点位置変更手段を駆動するから、被露光面が凹凸を有する場合においても高精度でフォーカシングを行なうことができる。
請求項11に記載の発明は、請求項10に記載の画像形成装置において、前記焦点位置変更手段が、各露光ヘッドの出射側に配設されてなるとともに、光透過性材料によって楔状に形成され、前記光ビームの光軸に沿って互いに反転した向きに隣接配置された複数の楔状光学部材と、前記複数の楔状光学部材における一の楔状光学部材を他の楔状光学部材と相対する面に沿って移動可能に支持する光学部材支持手段と、前記一の楔状光学手段を前記相対する面に沿って前記他の楔状光学部材に対して移動させる光学部材走査手段とを備えてなる画像形成装置に関する。
前記画像形成装置では、前記焦点位置変更手段の備える複数のクサビ状光学部材は互いに反転した向きで光ビームの光軸に沿って隣接配置されている。したがって、前記光学部材走査手段によって一の楔状光学部材が他の楔状光学部材と相対する面に沿って他の楔状光学部材に対して相対移動することにより、光ビームが1つのクサビ状光学部材へ入射する入射面と、入射後に複数のクサビ状光学部材を透過して他の1つのクサビ状光学部材から出射する光出射面との光ビームの光軸方向における相対距離が変化し、換言すれば、光ビームが複数のクサビ状光学部材を透過する透過距離が変化する。これにより、光ビームの焦点距離が変更される。
前記焦点距離変更手段は、従来のように感光材料を焦点深度方向に移動させるような機構的手段を用いる場合と比較して、構成が簡素になるとともに、コンパクトに構成でき、夫々の露光ヘッドの出射側に組み込むのも容易である。
請求項12に記載の発明は、複数の画素を選択的にon/offして光ビームを照射する1または2以上の露光ヘッドを被露光体の被露光面に対して一定方向に走査して画像を形成する画像形成方法であって、前記露光ヘッドから照射される光ビームの焦点を前記被露光面に合わせるフォーカシングを行なうフォーカシング工程と、各露光ヘッドにおける光ビームの露光位置を移動させて前記フォーカシングによって生じた前記光ビームの露光位置のずれであるビーム位置ズレを補正するビーム位置ズレ補正工程とを有してなることを特徴とする画像形成方法に関する。
請求項1のところで述べたように、前記画像形成方法においては、オートフォーカシング機構においてフォーカシングを行なったときに生じるビーム位置ズレは、前記ビーム位置ズレ補正手段によって自動的に補正される。
したがって、複数の露光ヘッドを有するマルチヘッド露光装置において隣接する画像を繋ぐ画像繋ぎを行なう場合において、画像間にズレや隙間が生じることが効果的に防止される。また、フォーカシング手段においてビーム位置の綿密な調整を行なわなくてもX軸方向およびY軸方向のビーム位置ズレが防止できるので、フォーカシング手段を構成する部品点数や調整工数を削減できる。
以上説明したように、本発明によれば、オートフォーカシング機構においてフォーカシングを行なったときに生じるビーム位置のX,Y方向のズレを自動的に補正でき、マルチヘッド露光装置であっても画像間にズレが生じることのない画像形成装置および画像形成方法が提供される。
1.実施形態1
本発明の画像形成装置の一例である露光装置について以下に説明する。
1−1 露光装置の構成
実施形態1に係る露光装置100は、いわゆるフラッドベッドタイプであり、図1に示すように、シート状の感光材料150を表面に吸着して保持する平板状の露光ステージ152を備えている。
露光装置100は、4本の脚部154に支持された厚い板状の設置台156と、設置台156の上面に、図1において矢印で示すステージ移動方向に沿って設けられた2本のガイド158と、ガイド158によって往復移動可能に支持された露光ステージ152とを備えている。露光ステージ152は、感光材料150などの被露光物が載置される台であって、その長手方向がステージ移動方向を向くように配置され、駆動装置(図示せず。)により、ガイド158に沿って移動するとともに、高さも調節できるように形成されている。
なお、感光材料150としては、プリント配線基板や液晶表示装置等のパターンを形成(画像露光)する材料としての基板やガラスプレート等の表面に、感光性エポキシ樹脂等のフォトレジストを塗布したもの、およびフォトレジスト樹脂のドライフィルムをラミネートしたものなどが挙げられる。
設置台156の中央部には、露光ステージ152の移動経路を跨ぐようにコ字状のゲート160が設けられている。コ字状のゲート160の各端部は、設置台156の両側面に固定されている。このゲート160を挟んで一方の側にはスキャナ162が設けられ、他方の側には感光材料150の先端及び後端を検知する複数(例えば3個)の検出ユニット164が設けられている。スキャナ162及び検出ユニット164はゲート160に各々取り付けられて、露光ステージ152の移動経路の上方に固定配置されている。スキャナ162及び検出ユニット164は、これらを制御するコントローラ190に接続され、後述するように、露光ヘッド166によって露光する際に所定のタイミングで露光するように制御される。また、コントローラ190は、後述するフォーカシングによってビーム位置ズレが生じたときに、これを補正するように各露光ヘッド166を補正するから、本発明におけるビーム位置ズレ補正手段にも相当する。
夫々の検出ユニット164においては、ステージ移動方向に対して上流側に配設されたCCDカメラ182と下流側に配設された変位センサ184とが一体化されて箱型に形成されている。CCDカメラ182のレンズ部186と変位センサ184のセンサ部188とは、何れも露光ステージ152に向かって下方を向いている。
露光ステージ152における搬送方向(走査方向)に沿って上流側(以下、単に「上流側」ということがある。)の端縁部には、X軸方向に向かって開く「く」の字型に形成されたVスリット120が複数形成されている。なお、X軸方向は主走査方向であり、Y軸方向は副走査方向でもある。
Vスリット120は、上流側に位置するVスリット120aと下流側に位置するVスリット120bとからなっている。Vスリット120aとVスリット120bとは互いに直交するとともに、Y軸に対してVスリット120aは135度、Vスリット120bは45度の角度を有している。
Vスリット120の下方には、露光ヘッド166からの光を検出するディテクタ122が形成されている。なお、図1においてはディテクタ122は省略されている。
Vスリット120とディテクタ122とは、本発明におけるビーム位置検出手段に相当し、露光ステージ152とともにY軸方向および上下方向に移動する。
なお、Vスリット120aおよびVスリット120bは、実施形態1においては、走査方向に対して45度の角度を成すように形成されているが、Vスリット120aおよびVスリット120bは、露光ヘッド166の画素配列に対して傾斜していると同時に、走査方向、即ちステージ移動方向に対して傾斜していれば、走査方向に対する角度は前記角度には限定されない。また、Vスリット120に代えて回折格子を使用してもよい。
スキャナ162は、図2及び図3の(B)に示すように、m行n列(例えば、2行5列)の略マトリックス状に配列された複数の露光ヘッド166を備えている。
露光ヘッド166で露光される領域である画像領域168は、図2に示すように、短辺が走査方向に沿った矩形状であり、走査方向に対し、所定の傾斜角θで傾斜している。そして、露光ステージ152の移動に伴い、感光材料150には露光ヘッド166毎に帯状の露光済み領域170が形成される。なお、図1および図2に示すように、走査方向は、ステージ移動方向とは向きが反対である。
また、図3において(A)及び(B)に示すように、帯状の露光済み領域170のそれぞれが、隣接する露光済み領域170と部分的に重なるように、ライン状に配列された各行の露光ヘッドの各々は、配列方向に所定間隔(画像領域の長辺の自然数倍、本実施の形態では1倍)ずらして配置されている。このため、たとえば、1行目の最も左側に位置する画像領域168Aと、画像領域168Aの右隣に位置する画像領域168Cとの間の露光できない部分は、2行目の最も左側に位置する画像領域168Bにより露光される。同様に、画像領域168Bと、画像領域168Bの右隣に位置する画像領域168Dとの間の露光できない部分は、画像領域168Cにより露光される。
露光ヘッド166A〜166Jの各々は、図4、および図5の(A)、(B)に示すように、入射された光ビームを画像データに応じて各画素毎に変調する空間光変調素子として、デジタル・マイクロミラー・デバイス(DMD)50を備えている。DMD50はコントローラ190に接続されている。コントローラ190は、データ処理部とミラー駆動制御部とを備え、データ処理部では、入力された画像データに基づいて、各露光ヘッド166毎にDMD50の制御すべき領域内の各マイクロミラーを駆動制御する制御信号を生成する。
また、ミラー駆動制御部では、画像データ処理部で生成した制御信号に基づいて、各露光ヘッド166毎にDMD50の各マイクロミラーの反射面の角度を制御する。なお、反射面の角度の制御に付いては後述する。
DMD50の光入射側には、光ファイバの出射端部(発光点)が画像領域Pの長辺方向と対応する方向に沿って一列に配列されたレーザ出射部を備えたファイバアレイ光源66、ファイバアレイ光源66から出射されたレーザ光を補正してDMD上に集光させるレンズ系67、レンズ系67を透過したレーザ光をDMD50に向けて反射する反射鏡69がこの順に配置されている。
レンズ系67は、ファイバアレイ光源66から出射されたレーザ光を平行光化する1対の組合せレンズ71、平行光化されたレーザ光の光量分布が均一になるように補正する1対の組合せレンズ73、及び光量分布が補正されたレーザ光をDMD上に集光する集光レンズ75で構成されている。組合せレンズ73は、レーザ出射端の配列方向に対しては、レンズの光軸に近い部分は光束を広げ且つ光軸から離れた部分は光束を縮め、且つこの配列方向と直交する方向に対しては光をそのまま通過させる機能を備えており、光量分布が均一となるようにレーザ光を補正する。
また、DMD50の光反射側には、DMD50で反射されたレーザ光を感光材料150の走査面(被露光面)56上に結像するレンズ系54およびレンズ系58が配置されている。レンズ系54及び58は、DMD50と被露光面56とが共役な関係となるように配置されている。
本実施形態では、ファイバアレイ光源66から出射されたレーザ光は、均一化され、DMD50に入射された後、各画素がこれらのレンズ系54およびレンズ系58によって約5倍に拡大され、集光されるように設定されている。
レンズ系58の出射側には、更に、ファイバアレイ光源66から出射されたレーザ光の焦点を被露光面56に合わせるフォーカシング機構59が設けられている。フォーカシング機構59は、本発明におけるフォーカシング手段に相当する。
以下、DMD50およびフォーカシング機構59について説明する。
DMD50は、図6に示すように、SRAMセル(メモリセル)60上に、微小ミラー(マイクロミラー)62が支柱により支持されて配置されたものであり、画素(画素)を構成する多数の(例えば、ピッチ13.68μm、1024個×768個)の微小ミラーを格子状に配列して構成されたミラーデバイスである。各画素には、最上部に支柱に支えられたマイクロミラー62が設けられており、マイクロミラー62の表面にはアルミニウム等の反射率の高い材料が蒸着されている。なお、マイクロミラー62の反射率は90%以上である。また、マイクロミラー62の直下には、ヒンジ及びヨークを含む支柱を介して通常の半導体メモリの製造ラインで製造されるシリコンゲートのCMOSのSRAMセル60が配置されており、全体はモノリシック(一体型)に構成されている。
DMD50のSRAMセル60に、マイクロミラー60の傾斜状態(変調状態)を示すデジタル信号が書き込まれ、さらにSRAMセル60からマイクロミラー62にデジタル信号が出力されると、支柱に支えられたマイクロミラー62が、対角線を中心としてDMD50が配置された基板側に対して±α度(例えば±10度)の範囲で傾けられる。図7において(A)は、マイクロミラー62がオン状態である+α度に傾いた状態を示し、(B)は、マイクロミラー62がオフ状態である−α度に傾いた状態を示す。従って、画像信号に応じて、DMD50の各画素におけるマイクロミラー62の傾きを、図6に示すように制御することによって、DMD50に入射された光はそれぞれのマイクロミラー62の傾き方向へ反射される。
なお、図6には、DMD50の一部を拡大し、マイクロミラー62が+α度又は−α度に制御されている状態の一例を示す。それぞれのマイクロミラー62のオンオフ制御は、DMD50に接続されたコントローラ190によって行われる。なお、オフ状態のマイクロミラー62により光ビームが反射される方向には、光吸収体(図示せず)が配置されている。
フォーカシング機構59は、図5に示すように、透明ガラス材料によって楔状(台形柱状)に形成された一対のガラス部材であるペア楔ガラス210、212を備えている。本実施形態では、ペア楔ガラス210、212は、屈折率:nがn=1.53に設定され、しかも互いに反転した向きでレーザ光の光軸に沿って隣接配置されている。
前記1対のペア楔ガラス210、212のうち、ペア楔ガラス210は、レーザ光の入射側(DMD50側)に配設されている。そして、ペア楔ガラス210において両側面に対して直角に形成された側の面が、レーザ光が入射する側の面、即ち入射面210Aになり、しかも入射面210Aがレーザ光の入射方向に対して直角になるように配設されている。したがって入射面210Aに相対する側の面がレーザ光が出射する光出射面210Bになる。光出射面210Bは、ペア楔ガラス210の側面に対して傾斜している。
一方、ペア楔ガラス212は、ペア楔ガラス210に隣接し、しかもレーザ光の出射側(被露光面56側)に配設されている。そして、ペア楔ガラス212において両側面に対して傾斜した側の面が入射面212Aになり、両側面に対して直角な面が光出射面212Bになるように配設されている。なお、ペア楔ガラス212は、光出射面212Bがレーザ光の光軸に対して略直交し、光入射面212Aが傾斜する向きに配置されている。
そしてこの一対のペア楔ガラス210、212は、図5において(A)および(B)に示すように、ペア楔ガラス210の光出射面210Bとペア楔ガラス212の光入射面212Aとが僅かな隙間をあけて相対する非接触の状態で、ペア楔ガラス210の光入射面210Aとペア楔ガラス212の光出射面212Bとが平行にされる共に上記のようにレーザ光の光軸に対して略直交している。また本実施形態では、ペア楔ガラス210の光出射面210Bとペア楔ガラス212の光入射面212Aの間隔が0.1mmに設定されている。
フォーカシング機構59の外観を図8に示す。
図8に示すように、フォーカシング機構59は、一対のペア楔ガラス210、212の各々を個別に保持するベースホルダ214及びスライドホルダ216を備えている。上述したレーザ光の出射側に配置されたペア楔ガラス212は、ベースホルダ214に保持され、レーザ光の入射側に配置されたペア楔ガラス210は、スライドホルダ216に保持されている。
ベースホルダ214は、ペア楔ガラス212と略相似形の楔状に形成され、上面(傾斜面)214A及び下面214Bに矩形状の開口部218、220が形成されている。そして、ペア楔ガラス212を収容するための空洞部(収容部)222が内部に設けられている。
空洞部222は、上面214A側の開口部218の大きさで略垂直下方へ所定の深さ寸法だけ掘り込まれた凹状とされており、ペア楔ガラス212を収容したときに空洞部222を構成する底面及び内周面がペア楔ガラス212の下面(光出射面212B)及び外周面に略隙間なく接触する大きさに形成されている。
下面214B側の開口部220は、上面214A側の開口部218及び空洞部222の開口形状よりも少し小さくされて下面214Bの略中央に配置されている。また、この下面214Bの一側端部(図8では左側端部)には、ベースホルダ214を含むフォーカシング機構59全体をスキャナ162のフレーム(図示省略)にネジ止め固定するための固定部224が突設されている。
一方、スライドホルダ216は、ペア楔ガラス210と略相似形のクサビ状で、上面216A及び下面(傾斜面)216Bに矩形状の開口部226、228が形成され、内部にペア楔ガラス210を収容するための空洞部(収容部)230が設けられた略枠状に形成されている。
空洞部230は、上面214A側の開口部226の大きさで略垂直下方へ掘り込まれ下面側の開口部228へ貫通された貫通孔状であり、ペア楔ガラス210を収容した際に、空洞部230を構成する内周面がペア楔ガラス212の外周面に略隙間なく接触する大きさに形成されている。
このスライドホルダ216は、図8に示すように、下面216Bがベースホルダ214の上面214Aに向かい合わせられると共に、下面216Bの傾斜方向がベースホルダ214の上面214Aとは反対向きにされてベースホルダ214上に配置され、ベースホルダ214との間(ベースホルダ214の上面214A及びスライドホルダ216の下面216Bにおける各前後端部)に設けられた一対のガイドレール232(図8では後側のガイドレールの図示を省略している)によってベースホルダ214に組み付けられ、ユニット化されている。
また、ユニット化された状態では、スライドホルダ216の図8における左右方向の長さ寸法はベースホルダ214よりも少し短くされており、スライドホルダ216の図8における前後方向の長さ寸法はベースホルダ214とほぼ同じくされ、それぞれの前端面同士及び後端面同士が略同一面となるよう位置合わせされている。
そして、この一対のガイドレール232により、ベースホルダ214の上面214Aとスライドホルダ216の下面216Bとは所定の間隔を置いて略平行に配置され、スライドホルダ216はベースホルダ214に対し、下面216B及び上面214Aの傾斜方向に沿って略左右方向(図8の矢印S方向)に相対移動可能とされている。さらに、このスライドホルダ216の移動における所定の位置(ペア楔ガラス210、212の組み付け位置)では、図8の平面視方向(矢印L方向)において、スライドホルダ216の空洞部230がベースホルダ214の空洞部222にほぼ重なるようになる。
スライドホルダ216の上面214A側の開口部226には、矩形枠板状のペア楔ガラス押さえ板234が嵌め込まれて取り付けられるようになっている。このペア楔ガラス押さえ板234の外形は、開口部226にほぼ隙間なく嵌合する大きさとされている。また、ペア楔ガラス押さえ板234の略中央に形成された矩形状の開口部236は、その大きさがベースホルダ214の下面214B側の開口部220とほぼ同じ大きさとされ、スライドホルダ216を上記の所定の位置に移動させた際に、図8の平面視方向において、開口部220にほぼ重なる位置に配置されている。
このユニット化されたベースホルダ214及びスライドホルダ216へのペア楔ガラス210、212及びペア楔ガラス押さえ板234の組み付けは、スライドホルダ216を上記の所定の位置に移動させ、スライドホルダ216の空洞部230をベースホルダ214の空洞部222に位置合わせして、各空洞部222、230にペア楔ガラス212、ペア楔ガラス210、ペア楔ガラス押さえ板234の順に組み付けることにより行う。
最初に組み付けるペア楔ガラス212は、スライドホルダ216を所定の位置に配置した後、傾斜している光入射面212Aを上側とし所定の向きにしてスライドホルダ216の開口部226及び空洞部230を通し、ベースホルダ214の空洞部222に嵌め込む。ここで、ペア楔ガラス212は、下側に向けられた光出射面212Bが空洞部222を構成する底面に面接すると共に、外周面が空洞部222を構成する内周面に面接して、ベースホルダ214の空洞部222にガタなく収容される。
続いてペア楔ガラス210は、傾斜している光出射面210Bを下側にして開口部226からスライドホルダ216の空洞部230に嵌め込む。ここで、ペア楔ガラス210は、下側に向けられた光出射面210Bがペア楔ガラス212の光入射面212Aに僅かな隙間(0.1mm)をあけて相対すると共に、外周面が空洞部230を構成する内周面に面接して、スライドホルダ216の空洞部230にガタなく収容される。
最後に、スライドホルダ216の開口部226に、ペア楔ガラス押さえ板234を所定の向きにして嵌め込み、ペア楔ガラス押さえ板234の下面をペア楔ガラス210の光入射面210Aに面接させた状態で、固定部材(図示せず。)によりスライドホルダ216にネジ止め固定する。
以上の組み付けにより、一対のペア楔ガラス210、212は、図8及び図5(A)に示すような隣接状態で、各々が個別にスライドホルダ216、ベースホルダ214に保持される。またペア楔ガラス210は、スライドホルダ216の移動に伴い、ペア楔ガラス212の光入射面212Aと相対する光出射面210Bの面方向に沿って矢印S方向へ移動する。また、DMD50側からペア楔ガラス210、212へ向けて出射されたレーザ光は、ペア楔ガラス押さえ板234の開口部236を通ってペア楔ガラス210の光入射面210Aへ入射し、ペア楔ガラス210、212を透過すると、ペア楔ガラス212の光出射面212Bからベースホルダ214の下面214B側の開口部220を通って出射される。
なお、このベースホルダ214、スライドホルダ216によるペア楔ガラス210、212の保持では、加工精度のバラツキや温度変化等により、空洞部222、230の内周面とペア楔ガラス210、212の外周面との隙間(密着性)が許容範囲を超えてしまい、ペア楔ガラス210、212にガタが生じる可能性もある。その場合には、例えば、空洞部222、230を構成する内周面の必要部位に板バネや圧縮コイルバネ等の弾性部材を備えるガタ取り機構を設け、この弾性部材の弾性力によりペア楔ガラス210、212を付勢してガタ取りすればよい。また、代りにベースホルダ214およびスライドホルダ216の外周面から空洞部222、230を構成する内周面へ貫通するネジ孔及びこのネジ孔に螺合する押しネジを備えるガタ取り機構を必要部位に設け、この押しネジによりペア楔ガラス210、212を押圧してガタ取りするようにしてもよい。
図8に示すように、ベースホルダ214の右側面214Cにおける略中央位置には、アクチュエータ取付板238がネジ止め固定されている。ベースホルダ214の右側面214Cは、上面214Aと略直角にされており、この右側面214Cに取り付けられているアクチュエータ取付板238は、ベースホルダ214の上面214Aと略直角の向きで取付部(下部)から上方へ延出され、その上部側の外側面に、スライドホルダ216に移動動力を与える駆動源としてのアクチュエータ240が取り付けられている。
アクチュエータ240は、駆動軸242の延出方向及び移動方向(矢印D方向)がスライドホルダ216の移動方向(矢印S方向)に合わせられてアクチュエータ取付板238に取り付けられており、駆動軸242の先端部242Aがスライドホルダ216の右側面216Cに連結されている。また、アクチュエータ240はコントローラ190のフォーカシング機構制御部に接続され、このフォーカシング機構制御部により制御されて作動するようになっている。
スライドホルダ216の上面216Aの右前角部には、切り欠き部244が形成されている。この切り欠き部244の底面とベースホルダ214の上面214Aの右前角部とには、一対の支柱246、248が立設されており、一対の支柱246、248には、アクチュエータ240の駆動軸242の駆動力よりもバネ力が小さく設定された引張コイルバネ250が架設されている。この引張コイルバネ250のバネ力によって、ガイドレール232及びアクチュエータ240を介して連結されているスライドホルダ216とベースホルダ214との間には予圧が掛けられている。
ここで、コントローラ190のフォーカシング機構制御部からの信号によってアクチュエータ240が作動し、駆動軸242を矢印D方向に駆動させると、スライドホルダ216及びペア楔ガラス210は一対のガイドレール232にガイドされて矢印S方向へ移動する。また、スライドホルダ216及びペア楔ガラス210は、アクチュエータ240の駆動軸242やガイドレール232に若干の遊び(ガタ分)がある場合でも、引張コイルバネ250によって加えられている予圧により、静止状態ではガタつきなく保持され、また移動では円滑に動作するようになる。
ベースホルダ214の下面214Bにおける右前角部には、矩形状のセンサ取付板252がネジ止め固定されている。センサ取付板252は、ベースホルダ214の下面214Bへの取付部(左側部)から右方へ延出されて突出している右側部が、ベースホルダ214の上面214Aと略平行になるよう取付部に対して屈曲されており、その右側部の上面に、ペア楔ガラス210を保持したスライドホルダ216の基準位置(ホームポジション)を検出するための基準位置センサユニット254が取り付けられている。
基準位置センサユニット254は、直方体形状とされたユニット本体の上部に光センサ258が搭載され、ユニット本体の内部に光センサ258から出力される電気信号(検出信号)を増幅する回路基板(図示省略)が設けられている。光センサ258は、スリット部256の内壁面に投受光素子(図示省略)が設けられ、このスリット部256がスライドホルダ216の移動方向(矢印S方向)と略平行になる向きに配置されている。また、基準位置センサユニット254はコントローラ190のフォーカシング機構制御部に接続され、このフォーカシング機構制御部により制御されて作動するようになっている。
スライドホルダ216の右側面216Cにおける前端部には、基準位置センサユニット254に対応する基準位置検出板260がネジ止め固定されている。基準位置検出板260は、L字形であり、スライドホルダ216の右側面216Cへの取付部(左側部)から略直角に屈曲されて右方へ所定長さ寸法だけ延出された右側部が検出部(光センサ遮光部)である。基準位置検出板260はは、スライドホルダ216の移動に伴い、検出部が光センサ258のスリット部256内を通過したり、スリット部256内から離脱したりするのが可能な位置に配置されている。
スライドホルダ216の移動に伴い、基準位置検出板260の検出部先端が光センサ258のスリット部256内を通過(スリット部256内に配置される)したり、スリット部256内から離脱したりすると、光センサ258は投受光素子により遮光/非遮光の状態を検出して各状態に応じたHigh/Lowの検出信号を出力する。そして、基準位置センサユニット254は、この検出信号を回路基板により増幅してコントローラ190のフォーカシング機構制御部に出力する。
また、コントローラ190のフォーカシング機構制御部は、アクチュエータ240を駆動制御してスライドホルダ216を移動させた際に、基準位置センサユニット254から入力された検出信号の出力レベルのHigh/Lowが切り替わる位置を、スライドホルダ216及びペア楔ガラス210の基準位置と認識し、この基準位置の情報をメモリに記憶する。そして、アクチュエータ240の駆動制御では、この基準位置の情報に基づいてアクチュエータ240を駆動制御する制御信号を生成し、また必要に応じて基準位置の情報に補正を加えて制御信号を生成し、アクチュエータ240へ出力する。
1−2 露光装置の作用
フォーカシング機構59においてレーザ光の焦点距離が調整される原理について以下に説明する。
フォーカシング機構59においては、コントローラ190のフォーカシング機構制御部からの信号によってアクチュエータ240が駆動制御されると、スライドホルダ216に保持されたペア楔ガラス210は、図9に示すように、図中の二点鎖線で示した基準位置から、図9(A)に示す矢印SA方向、又は、図9(B)に示す矢印SB方向へ移動する。
ここで、ペア楔ガラス210が基準位置にある場合のペア楔ガラス210の光入射面210Aとペア楔ガラス212の光出射面212Bとの距離、すなわち互いの間に設けられた僅かな隙間を含むペア楔ガラス210、212のトータルの厚さ寸法をtとすると、厚さ寸法:tは、ペア楔ガラス210が基準位置から矢印SA方向へ所定距離だけ移動した場合にはΔtだけ減少し(−Δt)、ペア楔ガラス210が基準位置から矢印SB方向へ所定距離だけ移動した場合にはΔtだけ増加する(+Δt)。
このように、ペア楔ガラス210、212の厚さ寸法:tが変化すると(±Δt)、レーザ光がペア楔ガラス210、212を透過する透過距離が変化して、レーザ光の焦点距離:FDが変化する(±ΔFD)。なお、図9に示したPSは結像面を表している。
また、ペア楔ガラス210、212の屈折率:n(本実施形態ではn=1.53)とすると、このペア楔ガラス210、212の厚さ寸法:tの変化量に応じたレーザ光の焦点距離:FDの変化量は、下式によって求められる。
+ΔFD=+Δt−(+Δt)/n
−ΔFD=−Δt−(−Δt)/n
ペア楔ガラス210の光入射面210Aとペア楔ガラス212の光出射面212Bとがレーザ光の光路に対して完全に直角であり、ペア楔ガラス210の光出射面210Bとペア楔ガラス212の光入射面212Aとが完全な並行関係を保持するようにペア楔ガラス210がペア楔ガラス212に対して移動するようにフォーカシング機構59が構成されていれば、ペア楔ガラス210がペア楔ガラス212に対してどのような位置にあっても、図9において(A)および(B)に示すように、レンズ系58から出射したレーザ光は、ペア楔ガラス210とペア楔ガラス212との境界で屈折することなく、ペア楔ガラス210および212を真直ぐに通過するから、前記レーザ光による被露光面56上の露光位置がずれることはない。
しかし、現実には、フォーカシング機構59の構造上の誤差を皆無にすることは殆ど不可能である。
フォーカシング機構59の構造上の誤差としては、たとえば、ペア楔ガラス210がペア楔ガラ212に対して完全には平行に移動しないという誤差がなどある。
ペア楔ガラス210がペア楔ガラ212に対して完全には平行に移動しない例としては、たとえば、図10において(A)に示すように、右方に移動するときにペア楔ガラス212に近接するように移動するものや、同図において(B)に示すようにペア楔ガラス212から遠ざかるように移動したりするものがある。
ペア楔ガラス210が右方に向かって移動するときにペア楔ガラス212に近接すると、図10の(A)において二点鎖線でに示すように、レーザ光の光路は左側に移動するから、被露光面56における露光位置も左側にずれる。
一方、ペア楔ガラス210が右方に向かって移動するときにペア楔ガラス212から遠ざかると、図10の(B)において二点鎖線でに示すように、レーザ光の光路は右側に移動するから、被露光面56における露光位置も右側にずれる。
フォーカシング機構59の構造上の誤差としては、また、図11に示すようにベースホルダ214およびスライドホルダ216の組み立てに誤差があり、レーザ光のペア楔ガラス210の光入射面210Aへの入射角が完全には直角ではないものがある。
このような場合には、図11において二点鎖線で示すようにペア楔ガラス210が右側に移動すると、レーザ光の光路は同じく二点鎖線で示すように左方向に移動し、したがって、被露光面56における露光位置も左側にずれる。
そこで、コントローラ190において本発明のビーム位置ズレ補正手段に相当するビーム位置ズレ補正部においては、以下の手順にしたがってフォーカシング機構59におけるフォーカシング量すなわちレーザ光の焦点の移動量と前記露光位置のズレ即ちビーム位置ズレの大きさとの関係を示すビーム位置ズレ補正データを求め、このビーム位置ズレ補正データに基いてフォーカシング機構59におけるフォーカシングの際に生じるビーム位置ズレを自動的に補正する。
ビーム位置ズレ補正データを求めるには、先ず、レーザ真直度計により、露光ステージ昇降時の真直度を予め測定し、コントローラ190のビーム位置ズレ補正部に記憶させる。
次いで、図12に示すように、露光ヘッド166のフォーカシング機構59においてペア楔ガラス210をAの位置に移動させ、レーザ光の焦点位置を露光ヘッドから最も遠い+Maxの位置に合わせる。そして、露光ステージ152を昇降させて露光ステージ152の高さを焦点位置+Maxに合わせる。
露光ステージ152の高さを焦点位置+Maxに合わせたら、露光ヘッド166のある特定の画素を点灯し、露光ステージ152をY軸方向に移動させてVスリット120をY軸方向にスキャニングして前記画素からのレーザ光の照射点PAの座標(XA,YA)を求める。
次に、ペア楔ガラス210をBの位置に移動させ、レーザ光の焦点位置を焦点位置の中心、即ち0の位置に合わせる。
露光ステージ152の高さを焦点位置+0に合わせたら、露光ヘッド166において同じ画素を点灯し、Vスリット120をY軸方向にスキャニングして前記画素からのレーザ光の照射点PBの座標(XB,YB)を求める。
最後に、ペア楔ガラス210をCの位置に移動させ、レーザ光の焦点位置を露光ヘッドに最も近い−Maxの位置に合わせる。そして、露光ステージ152を昇降させて露光ステージ152の高さを焦点位置−Maxに合わせる。
露光ステージ152の高さを焦点位置+0に合わせたら、露光ヘッド166において同じ画素を点灯し、Vスリット120をY軸方向にスキャニングして前記画素からのレーザ光の照射点PCの座標(XC,YC)を求める。
夫々の焦点位置+Max、0、−Maxと、対応する照射点PA、PB、PCの座標(XA,YA)、(XB,YB)、(XC,YC)とが求められたら、照射点PA、PB、PCの座標を、露光ステージ真直度のデータに基づいて補正し、ビーム位置ズレ補正データを求める。
このようにして求められたビーム位置ズレ補正データの一例を図13に示す。
上記の手順に従い、露光ヘッド166A〜166Jの夫々についてビーム位置ズレ補正データを求め、コントローラ190のビーム位置ズレ補正部に記憶させる。
なお、露光ヘッド166の画素を点灯して照射されたレーザ光の照射位置の座標をVスリット120によって求める手順につき、露光ヘッド166Aを例にとって図14を用いて説明する。
露光ヘッド166Aのある特定画素を点灯したときのレーザ光の照射位置を図14においてpとする。
先ず、図14に示すように、露光ステージ152をゆっくり移動させてVスリット120をY軸方向に沿って移動させ、露光ヘッド166Aによって照射される画像領域168Aに位置させる。このときのVスリット120aとVスリット120bとの交点を(x0,y0)とする。ここで、前述のように、Vスリット120aはY軸に対して135度の角度を成し、Vスリット120bはY軸に対して45度の角度を成している。なお、本明細書においてはY軸から反時計方向に回転する方向を正の角とする。
次に、露光ステージ152を移動させ、Vスリット120をY軸に沿って図14における右方に移動させる。そして、図14において二点鎖線で示すように、露光ヘッド166Aからのレーザ光が左側のVスリット120aを通過してディテクタで検出されたところで露光ステージ152を停止させる。このときのVスリット120aとVスリット120bとの交点を(x0,y11)とする。
今度は露光ステージ152を反対方向に移動させ、Vスリット120をY軸に沿って図14における左方に移動させる。そして、図14において二点鎖線で示すように、露光ヘッド166Aからの光が右側のVスリット120bを通過してディテクタで検出されたところで露光ステージ152を停止させる。このときのVスリット120aとVスリット120bとの交点を(x0,y12)とする。
ここで、照射点pの座標を(x1,y1)とすると、x1=x0+(y11−y12)/2で表され、y1=(y11+y12)/2で表される。
露光装置100において感光材料150を露光する露光動作について以下に説明する。
先ず、露光パターンに応じた画像データがコントローラ190に入力され、コントローラ190内のフレームメモリに一旦記憶される。
以下、露光装置100に感光材料を150をセットしてから露光を終了するまでの一連の手順について説明する。
感光材料150を露光ステージ152にセットし、オペレータがコントローラ190の操作部から露光開始の入力操作を行うと、コントローラ190は、露光ヘッド166A〜露光ヘッド166Jの夫々について、隣接する画像同士を繋ぐ繋ぎ画素を以下の手順に従って決定する。
図3において(A)に示すように、たとえば、1行目の最も左側に位置する画像領域168Aと、画像領域168Aの右隣に位置する画像領域168Cとの間の露光できない部分は、2行目の最も左側に位置する画像領域168Bにより露光されるから、画像領域168Aに繋がれる画像領域は画像領域168Bである。したがって、図15に示すように、感光材料150の被露光面においては、画像領域168Aと画像領域168Bとはその一部が重なり合うはずであり、画像領域168Aに形成された画像と、画像領域168Bで形成された画像とは前記重なり部分で繋げられて始めて隙間や重なりのない画像が得られると考えられる。そこで、図15に示すように、露光ヘッド166Aの画素のうち、画像領域168Aだけでなく画像領域168Bにも光ビームを投射するものを選択して繋ぎ画素P1とする。なお、以下において繋ぎ画素P1から照射されたレーザ光の露光位置もP1とする。同様に、露光ヘッド166Bの画素のうち、画像領域168Bだけでなく画像領域168Aにも光ビームを投射するものを選択して繋ぎ画素p2とする。
先ず、露光ステージ152を移動させてVスリット120をスキャナ162の下方に位置させ、露光ヘッド166Aにおいて繋ぎ画素P1を点灯させる。
そして、図16および図17に示すように、露光ステージ152をゆっくり移動させてVスリット120をY軸方向に沿って移動させ、画像領域168Aに位置させる。このときのVスリット120aとVスリット120bとの交点を(X0,Y0)とする。ここで、前述のように、Vスリット120aはY軸に対して135度の角度を成し、Vスリット120bはY軸に対して45度の角度を成している。
次に、図17に示すように、露光ステージ152を移動させ、Vスリット120をY軸に沿って図17における右方に移動させる。そして、図17において二点鎖線で示すように、繋ぎ画素P1からの光が左側のVスリット120aを通過してディテクタで検出されたところで露光ステージ152を停止させる。このときのVスリット120aとVスリット120bとの交点を(X0,Y11)とする。
今度は露光ステージ152を移動させ、Vスリット120をY軸に沿って図17における左方に移動させる。そして、図17において二点鎖線で示すように、繋ぎ画素P1からの光が右側のVスリット120bを通過してディテクタで検出されたところで露光ステージ152を停止させる。このときのVスリット120aとVスリット120bとの交点を(X0,Y12)とする。
ここで、繋ぎ画素P1の露光位置の座標を(X1,Y1)とすると、X1=X0+(Y11−Y12)/2で表され、Y1=(Y11+Y12)/2で表される。
繋ぎ画素P1の座標が求められたら、繋ぎ画素P1を消燈し、露光ヘッド166Bにおいて繋ぎ画素p2を点灯する。
そして、図16に示すように、露光ステージ152をYだけ移動させてVスリット120を画像領域168Bに位置させる。このときのVスリット120aとVスリット120bとの交点の座標は(X0,Y0+Y)である。
そして、図18に示すように、露光ステージ152を移動させ、Vスリット120をY軸に沿って図18における右方に移動させる。図18において二点鎖線で示すように、繋ぎ画素p2からの光が左側のVスリット120aを通過してディテクタで検出されたところで露光ステージ152を停止させる。このときのVスリット120aとVスリット120bとの交点を(X0,Y21)とする。
今度は露光ステージ152を移動させ、Vスリット120をY軸に沿って図18における左方に移動させる。そして、図18において二点鎖線で示すように、繋ぎ画素P1からの光が右側のVスリット120bを通過してディテクタで検出されたところで露光ステージ152を停止させる。このときのVスリット120aとVスリット120bとの交点を(X0,Y22)とする。
ここで、繋ぎ画素p2の露光位置の座標を(x2,y2)とすると、x2=X0+(Y21−Y22)/2で表され、y2=(Y21+Y22)/2で表される。
このようにして求められた繋ぎ画素P2(x2,y2)について、図19に示すように、繋ぎ画素P1とのX座標の差ΔX=x2−X1を求める。そして、前記画素p2のうち、X座標の差ΔXが最も小さなものを繋ぎ画素P2(X2,Y2)として選択する。
繋ぎ画素P1と繋ぎ画素P2とは、X方向のずれは極めて小さいから、露光タイミングを補正してY軸方向のずれを除去し、X方向については画像が重なるように露光ヘッド166Aと露光ヘッド166Bに入力される画像データを制御することにより、図20に示すように繋ぎ画素P1と繋ぎ画素P2との間の画像のずれや重なりを除去できる。
なお、露光ヘッド166Aにおいて繋ぎ画素P1を複数指定し、前記複数の繋ぎ画素P1のそれぞれについて前記手順に従って実際のXY座標(X1,Y1)を特定するとともに、前記複数の繋ぎ画素P1のそれぞれについて露光ヘッド166Bの画素から繋ぎ画素P2を指定して実際のXY座標(X2、Y2)を特定すれば、露光ヘッド166Aと露光ヘッド166Bとの間の画像のずれや重なりをさらに小さくすることができる。
上に述べた手順に従って、露光ヘッド166A〜露光ヘッド166Jの全てについてどの画素を繋ぎ画素とするかが決定されたら、コントローラ190からの指令により、露光ステージ152は、一旦原点位置に戻り、ガイド158に沿って下流側に一定速度で移動を開始する。このステージの移動開始に同期したタイミング、または感光材料150の先端が検出ユニット180のCCDカメラ182の真下に達する少し手前のタイミングで、各検出ユニット180はコントローラ190により制御されて作動する。
露光ステージ152の移動に伴い、感光材料150が検出ユニット180の下方を通過すると、図21において(A)に示すように、CCDカメラ182によるアライメント測定と、変位センサ184による焦点測定とが同時に行われる。
先ず、感光材料150が3台のCCDカメラ182の下方を通過すると、各CCDカメラ182が感光材料150を撮影し、その撮影した画像データ(撮影データ)をコントローラ190のデータ処理部へ出力する。
データ処理部は、入力された撮影データから、アライメント用の基準部として感光材料150に設けられたアライメントマークや基準孔、あるいは感光材料150の縁部や角部等を検出して感光材料150の位置及び被露光面56に対する適正な露光位置を把握する。そして、スキャナ162による画像露光時に、フレームメモリに記憶されている露光パターンの画像データに基づいて生成する制御信号をその適正な露光位置に合わせ込んで画像露光する補正制御(アライメント)を行う。
また、感光材料150が3台の変位センサ184の下方を通過する際には、各変位センサ184が、感光材料150の先端と後端の検出(エッジ検出処理)を含む被露光面56との距離測定を行い、得られた距離データ(焦点距離データ)をコントローラ190のスキャナ制御部へ出力する。
スキャナ制御部は、入力された焦点測定データに基づいて感光材料150の先端及び後端を認識すると共に、感光材料150のうねりや厚さ寸法誤差を把握するための演算処理を実行する。さらに、この処理結果に基づいて、各露光ヘッド166のフォーカシング機構59のアクチュエータ240を駆動制御する制御信号を生成してスキャナ162へ出力し、各露光ヘッド166から照射される光ビームの焦点位置を感光材料150の被露光面56に一致させるフォーカス制御を行う。
ここで、上記の演算処理とフォーカス制御とは、以下の手順に従って行なわれる。
感光材料150の移動方向であるY方向の演算処理は、最初に、変位センサ184によって感光材料150の移動に伴い所定の移動間隔で測定した焦点距離データの平均値を複数求める。実施形態1では、図22において(A)に示すように、感光材料150の移動に伴い焦点距離データの平均値を演算する平均演算間隔は1mmに設定され、測定間隔は200μmに設定されている。したがって、1つの平均演算間隔において5回づつデータを取得して平均化演算を行う。
コントローラ190のスキャナ制御部においては、図22において(B)に示すように、測定動作スタート後、感光材料150が測定開始位置からY方向に沿って1mm移動する度に算出される移動平均値データ(5回測定の平均値データ)をフレームメモリに順次保存する。前記移動平均値データは、測定開始位置から測定終了位置までのものが保存される。
また、ノイズデータを除去するため、予め設定された計測範囲を超えたデータは平均化演算処理の対象外として扱い、このデータが所定回数(例えば15回)以上続いた場合はクリアデータ(無効データ)として扱う。例えば、感光材料となるプリント配線板の基板にスルーホールが形成されており、そのスルーホールを検出した場合などは、クリアデータとして保存される。また、感光材料150が測定開始位置に達する前(感光材料150の先端検出前)、および測定終了位置を通過した後(感光材料150の後端検出後)も、測定データはクリアデータとして保存される。ただし、スルーホールのようにその形成位置が事前に把握できるものについては、対応する領域の焦点距離測定を行わないよう予め指定するか、または、あるいは対応する領域のデータをキャンセルすることも可能である。
続いて、スキャナ制御部は、保存した各移動平均値データを、平均演算間隔の1/2だけ(1mm×1/2=0・5mm)測定開始方向へシフトして、各平均化演算測定区間の中間点のX−Y座標値に対応するZ座標値として設定する。さらにこのZ座標値を、各Y座標値、及び、3台の変位センサ184の設置位置である各X座標値にマッピングして図23において(A)に示すマッピングデータを作成する。なお、(A)に示すマッピングデータは、X座標値x1、x2、x3、Y座標値y1、y2、y3に対応するマッピングデータである。
次に、コントローラ190のビーム位置ズレ補正部において、図13に示すビーム位置ズレ補正データを用いて前記マッピングデータのX座標値およびY座標値を補正し、図23において(B)に示すマッピングデータを作成する。なお、前記マッピングデータにおいて修正後のX座標値をX1、X2、X3で示し、修正後のY座標値をY1、Y2、Y3で示す。
同時に、各露光ヘッド166A〜露光ヘッド166Jについて定められた繋ぎ画素についても、前記繋ぎ画素からの光ビームが照射される照射点のZ座標と図13に示すビーム位置ズレ補正データとを用いて前記繋ぎ画素からの照射点のX座標およびY座標が正しくなるように修正する。
露光ヘッド166Aおよび露光ヘッド166Bの画素の点灯状態および露光ヘッド166Aおよび露光ヘッド166Bによって形成される画像を図24に示す。図24において(A)は前記修正を加える前の画像投影状態を、(B)は前記修正を加えた後の画像投影状態を示す。なお、露光ヘッド166Aは図24において左側に位置するからLで示され、露光ヘッド166Bは右側に位置するからRで示されている。
露光ヘッド166Aの繋ぎ画素P1および露光ヘッド166Bの繋ぎ画素P2においては、フォーカシング機構59によるフォーカシングの際にビーム位置ズレが生じて図24において(A)に示すように投射点P1と投射点P2との部分において画像に切れ目が生じたものとする。
投影点P1およびP2のZ座標と図13のビーム位置ズレ補正データとから、露光ヘッド166Aの画像についてはX軸方向およびY軸方向に画素+1個分のズレが生じ、露光ヘッド166Bの画像についてはY軸方向に画素−1個分のズレが生じたものとする。
そこで、点灯する画素を、露光ヘッド166AについてはX軸方向およびY軸方向に−1画素ずらし、露光ヘッド166BについてはY軸方向に+1画素ずらすことにより、図24において(B)に示すように、繋ぎ画素P1およびP2で滑らかに繋がった画像が得られる。
マッピングデータおよび繋ぎ画素の修正が終了したら、各露光ヘッド166から照射される光ビームの焦点がマッピングデータから求められる近似曲線に倣うように各露光ヘッド166のフォーカシング機構59を駆動制御する制御信号を生成する。
先ず、X方向の近似曲線は以下の演算処理により求める。
図25に示すように、特定のY方向位置(修正後のY座標値)におけるX方向断面が、感光材料150の中央部が両側端部に対して盛り上がるように反っている場合、3台の変位センサ184がぞれぞれ測定した被露光面−変位センサ間距離から被露光面56の3点の(X,Y,Z)座標値が取得され、この座標値から以下の(1)式にあてはまる曲率半径:Rを導く。
(X−X0)2+(Z−Z0)2=R2…(1)
この(1)式から算出されたRによって描かれる曲線(曲率円)が被露光面56のX方向断面における近似曲線になる。
また、Rで描かれる近似曲線の曲率中心(X0,Y0,Z0)から露光ヘッド166の光軸LまでのX方向距離:HX、曲率中心から近似曲線までの露光ヘッド166の光軸位置におけるZ方向距離:Zとすると、R、HX、Zには以下の(2)式の関係が成立する。
2=HX2+Z2・・・(2)
この(2)式によって算出されるZから、露光ヘッド166の光軸位置(Xn,Yn)におけるZ座標値(Zn)が得られる。したがって、(Xn,Yn)では、光ビームの焦点が(Zn)に一致するよう露光ヘッド166のフォーカシング機構59のアクチュエータ240を駆動制御する制御信号を生成する。
また、図22において(C)に示すように、露光ヘッド166の光軸位置(Xn,Yn)におけるZ座標値(Zn)を、各移動平均値データをシフトした各Y座標値で繋いだ曲線が、Y方向の近似曲線になる。感光材料150がY方向へ移動するのに伴うフォーカス制御は、光ビームの焦点がこの近似曲線に倣うよう、フォーカシング機構59のスライドホルダ216に保持されたペア楔ガラス210を滑らかに移動させるようにアクチュエータ240を駆動制御する。以上が演算処理とフォーカス制御の内容である。
また、スキャナ制御部は、図23に示したマッピングデータで、Z座標値の最大値と最小値の差が予め設定されている閾値を超えたか否かを判別し、閾値を超えたと判定した場合には、感光材料150のうねり又は厚さ寸法誤差が大きく精度不良であると判断して、コントローラ190によりエラー制御を行う。エラー制御では、感光材料150が精度不良である判断されると、スキャナ162による画像露光には移行せず、露光動作を直ちに中止して露光ステージ152を最上流側にある原点位置に戻す。そして、コントローラ190のモニタには露光動作を中止したことを報知する情報(エラー情報)を表示する。
感光材料150が検出ユニット180を通過すると、検出ユニット180によるアライメント測定及び焦点測定(同時測定)が完了する。さらに、検出ユニット180を通過した感光材料150は露光ステージ152の移動に伴いスキャナ162側へ移動し、露光開始位置に達すると、スキャナ162の各露光ヘッド166は光ビームを照射して感光材料150の被露光面56に対する画像露光を開始する。
ここで、コントローラ内のフレームメモリに記憶された画像データが複数ライン分ずつ順次読み出され、データ処理部は、読み出された画像データに基づいて各露光ヘッド166毎に制御信号を生成する。この制御信号には、前述した補正制御(アライメント)により、アライメント測定した感光材料150に対する露光位置ずれの補正が加えられる。そして、ミラー駆動制御部は、生成及び補正された制御信号に基づいて各露光ヘッド166毎にDMD50のマイクロミラーの各々をオンオフ制御する。
ファイバアレイ光源66からDMD50にレーザ光が出射されると、DMD50のマイクロミラーがオン状態のときに反射されたレーザ光は、レンズ系54およびレンズ系58により感光材料150の被露光面56上に結像される。ここで、レーザ光の焦点は、前述したフォーカシング機構59を用いて行うフォーカス制御により、その露光位置での被露光面−露光ヘッド(レンズ系)間距離に応じて被露光面56上に合わせられる。
このようにして、ファイバアレイ光源66から出射されたレーザ光が画素毎にオンオフされ、感光材料150の被露光面56は、DMD50の使用画素数と略同数の画素単位で露光される。また、感光材料150が露光ステージ152と共に下流側へ移動することにより、被露光面56はレーザ光によりステージ移動方向と反対の方向に走査露光される。そして被露光面56には、各露光ヘッド166のレーザ光により走査露光された帯状の露光済み領域170が形成される。この走査露光では、フォーカス制御により走査に同期してレーザ光の焦点が被露光面56の形状に倣い滑らかに追従するよう被露光面56上に合わせられる。
感光材料150がスキャナ162を通過し、スキャナ162による感光材料150の画像露光が完了すると、露光ステージ152は駆動装置により逆方向へ駆動され、ガイド158に沿って最上流側にある原点に復帰する。以上により、露光装置100による感光材料150に対する露光動作が終了する。
1−3 露光装置の特長
露光装置100においては、露光ステージ152を移動させてVスリット120をY軸方向に移動させ、スリット120aおよびスリット120bを透過する露光ビームの光量をディテクタで検出することにより、各露光ヘッド166において繋ぎ画素を選択すると共に対応する投射点の実際の位置を特定している。
したがって、繋ぎ画素を選択し、位置を特定するのに、高価で大型な付加設備は不要である。
また、露光ヘッド166の間の相対的な位置関係が何らかの理由でずれた場合においても、繋ぎ画素および対応する投射点に関する位置情報に基いて露光ヘッド166に入力する画像データを制御することにより、露光ヘッドの位置がずれたことによる画像のずれや重なりを精度よく補正できる。
更に、フォーカシング機構59でフォーカシングを行なったときに生じるビーム位置ズレはコントローラ190のビームズレ補正部によって自動的に補正されるから、フォーカシングによって隣接する2つの画像の間に隙間や重なりが生じたりすることが防止される。
更に、フォーカシングを行なったときの焦点位置とビーム位置ズレとの関係が経時的に変化する場合においても、所定の時間毎にビーム位置ズレ補正データを求めてコントローラ190におけるビーム位置ズレ補正部に記憶されたビーム位置ズレ補正データを更新することにより、前記経時変化によって隣接する2つの画像の間に隙間や重なりが生じたりするのを防止できる。
更に、コントローラ190においては、変位センサ184による検出情報に基いてフォーカシングを行ない、レーザ光の焦点位置を感光材料150の被露光面56に一致させる制御を行っているから、微細画像であっても所謂キレのよい画像が形成できる。
以上の理由により、露光装置100は、高精細なフラットパネル基板やプリント基板の形成に好適に使用できる。
また、フォーカシング機構59は、ペア楔ガラス210をペア楔ガラス212に対して移動させることによりレーザ光の焦点距離を変更しているから、露光ステージ152を上下させて焦点を合わせる場合と比較して装置の構成を簡素化でき、大型化を抑制できるだけでなく、高精度のフォーカシングが可能になる。
2.実施形態2
本発明の画像形成装置に包含される露光装置の別の例について以下に説明する。
実施形態2に係る露光装置102の構成を図26に示す。図26において、図1と同一の符号は、前記符号が図1で示す要素と同一の要素を示す。
図26から明らかなように、露光装置102は、露光ステージ152の移動方向に対して最も上流側に、Vスリット120に替えて、互いに直交する2つのスリットからなるT字型のTスリット130が設けられている以外は、実施形態1に係る露光装置100と同様の構成を有している。Tスリット130も本発明におけるビーム位置検出手段に相当する。
Tスリット130を構成するスリット130aとスリット130bとは、T字型に交差するように設けられている。スリット130aとスリット130bとの下方には、スリット130aとスリット130bとを透過した露光ビームを検出するディテクタが設けられている。
実施形態2に係る露光装置において、露光ヘッド166Aの画素から繋ぎ画素P1を選定して繋ぎ画素P1の照射位置を特定する手順について説明する。
先ず、スリット130が、画像領域168Aと画像領域168Bとの繋ぎ目付近に位置するように露光ステージ152を移動させる。
スリット130が露光ヘッド166Aと露光ヘッド166Bとの下方に位置したら、露光ステージ152を前記位置で停止させる。そして、図27に示すように、露光ヘッド166Aのある行方向(横方向)に沿って画素を順次点灯させる。同様に、露光ヘッド166Aのある列方向(縦方向)に沿って画素を下方から上方に向かって順次点灯させる。
図27に示すように、画素P1(a,n)を点灯させたときにスリット130aのディテクタが光量のピークを検出し、画素P*1(m,b)を点灯させたときにスリット130bのディテクタが光量のピークを検出したとき、露光ヘッド166Aの画素P1を繋ぎ画素P1として選択し、画素P*1を補助画素として選択する。なお、繋ぎ画素P1(a,n)および補助画素P*1(m,b)の(a,n)および(m,b)は、それぞれ繋ぎ画素P1および補助画素P*1の照射位置のX座標およびY座標を示す。
ここで、図28に示すように、繋ぎ画素P1(a,n)と補助画素P*1(m,b)とのY軸方向の位置差ΔY1は、以下の式:
ΔY1=b−n
で与えられる。
次に、露光ステージ152を距離Ysだけ移動させ、露光ヘッド166Bのある行の画素を左方から右方に向かって順次点灯させ、同様に、ある列の画素をX軸方向に沿って下方から上方に向かって順次点灯させる。
このとき、画素P2(c,n´)を点灯させたときにスリット130aのディテクタが光量のピークを検出し、画素P*2(m´,d)を点灯させたときにスリット130bのディテクタが光量のピークを検出したとすると、前記画素P2(c,n´)を繋ぎ画素として選択し、画素画素P*2を補助画素として選択する。
繋ぎ画素P2(c,n´)と補助画素P*2(m´,b)とのY軸方向の位置差ΔY2
は、以下の式:
ΔY2=(d−n´)
で与えられる。
繋ぎ画素P1(a,n)を検出したときと、繋ぎ画素P2(c,n´)を検出したときとで、スリット130は、X軸方向には全く移動していないから、繋ぎ画素P1(a,n)と繋ぎ画素P2(c,n´)とは、X座標が一致している。一方、Y軸方向の距離は、以下の式:
Ys+ΔY2−ΔY1=Ys+d−n´−(b−n)
で与えられる。
したがって、繋ぎ画素P1(a,n)と繋ぎ画素P2(c,n´)との間で、前記Y軸方向の距離に応じた点灯タイミング補正を行うことにより、露光ヘッド166Aと露光ヘッド166Bとの間のずれや重なりを除去できる。
以上、スリット130aおよびスリット130bを1つづつ用いて繋ぎ画素P1(a,n)と繋ぎ画素P2(c,n´)とを選定し、位置を特定する例について述べたが、図29ののようにスリット130aおよびスリット130bを露光ヘッド166Aおよび露光ヘッド166Bの画素のX方向およびY方向に沿ったピッチに合わせて複数個設ければ、透過光量がアップするから、画素の検出精度が向上し、より高精度な画像繋ぎが可能になる。
以上、露光ヘッド166Aおよび露光ヘッド166Bについて繋ぎ画素を選定する手順について述べたが、露光ヘッド166A〜166Jのすべてについて同じ手順を繰り返すことにより、繋ぎ画素を選択できる。
また、ビーム位置ズレ補正データを求める際に、ある露光ヘッド166において特定の画素を点灯させたときのレーザ光の照射位置を特定するのも、繋ぎ画素P1およびP2の照射位置を特定する上に述べた手順と同様の手順によって行なうことができる。
露光装置102は、露光装置100と同様の特長に加え、たとえば、繋ぎ画素P2が繋ぎ画素P1とX座標が同一であるから、露光ヘッド166Aと露光ヘッド166Bとに、X方向については同一の画像データが入力されるように画像データ入力を制御すれば、露光ヘッド166Aと露光ヘッド166Bとの間の画像のずれは完全に除去できる故に、さらに高精度の画像繋ぎが可能になるという特長を有する。
また、繋ぎ画素P1および繋ぎ画素P2を選択しているあいだは、露光ステージ152を停止しているから、実施形態1に係る露光装置に比較して、繋ぎ画像の選定および位置特定時に露光ステージ152を移動させる頻度をさらに少なくすることができる。
3.実施形態3
本発明の画像形成装置に包含される露光装置の更に別の例について以下に説明する。
実施形態3に係る露光装置104の構成を図30に示す。図30において、図1と同一の符号は、前記符号が図1で示す要素と同一の要素を示す。
図30から明らかなように、露光装置104は、露光ステージ152の移動方向に対して最も上流側に、Vスリット120に替えて、ビーム位置検出装置140を設けた以外は実施形態1に係る露光装置100と同様の構成を有している。ビーム位置検出装置140もまた、本発明におけるビーム位置検出手段に相当する。
ビーム位置検出装置140の詳細を図31に示す。
図30および図31から明らかなように、ビーム位置検出装置140は、露光ステージ152の上流側端縁部に、X軸方向に沿って設けられた溝148の内部を摺動する基台142と、基台142の移動方向に沿って溝148の中央部に設けられているとともに、基台142のX軸方向の位置を検出するリニアエンコーダ144と、溝148の内側に、基台142を移動させる1対のボールねじ146とを備えている。基台142にはリニアガイド(図示せず。)が互いに平行に2本設けられている。なお、ボールねじ146はモータ(図示せず。)により回転して基台142を移動させる。
基台142は、上面が、露光ステージ152の露光面と同一面上に位置するように形成されている。基台142の上面には、X軸方向に沿ってスリット140aが、Y軸方向に沿ってスリット140bが設けられている。スリット140aとスリット140bとは、互いに直交している。スリット140aとスリット140bとの下方には、スリット140aとスリット140bとを透過した露光ビームの光を検出するディテクタ(図示せず。)が設けられている。
以下、前記露光装置において露光ヘッド166Aおよび露光ヘッド166Bの画素から特定画素P1および特定画素P2を選定し、その実際の位置を特定する手順について説明する。
先ず、露光ステージ152を移動させてビーム位置検出装置140をY軸方向に沿って移動させるとともに、ビーム位置検出装置140の基台142を溝148に沿って移動させ、基台142を画像領域168Aと画像領域168Bとの繋ぎ目部分に位置させる。
つぎに、露光ヘッド166Aの画素の内、画像領域168Bに繋ごうとするものを選択し、繋ぎ画素P1とする。
そして、図32に示すように、露光ステージ152を微細に移動させることにより、基台142をY軸方向に沿って移動させる。繋ぎ画素P1からの露光ビームがスリット140aを透過した光量がピークに達したら露光ステージ152を停止させ、露光ステージ152に設けられたリニアエンコーダ(図示せず。)によって露光ステージのY軸方向の位置を検出する。そして前記Y軸方向の位置を繋ぎ画素P1のY座標Y1とする。
次に、ボールねじ146によって基台142をX軸方向に移動させ、露光ビームがスリット140bを透過した光量がピークに達したら、リニアエンコーダ144によってこのときの基台142のX軸方向の位置を検出する。そして前記X軸方向の位置を繋ぎ画素P1のX座標X1とする。
繋ぎ画素P1の位置が特定されたら、繋ぎ画素P1を消灯し、代わりに露光ヘッド166Bの画素の内、画像領域168Aに繋ごうとする画素p2を点灯させ、ビーム位置検出装置140により、同様の手順に従って画素p2のXY座標(x2,y2)を求める。
このようにして座標を求めた画素p2のXY座標(x2,y2)を、繋ぎ画素P1のXY座標(X1,Y1)と比較し、繋ぎ画素P1に最も近い画素p2を繋ぎ画素P2(X2,Y2)として選択する。
このようにして繋ぎ画素P1と繋ぎ画素P2との実際の位置が特定されたら、前記位置に基いて露光ヘッド166Aと露光ヘッド166Bに入力される画像データを制御し、繋ぎ画素P1と繋ぎ画素P2とで画像が繋がるようにする。
以上、露光ヘッド166Aおよび露光ヘッド166Bについて繋ぎ画素を選定する手順について述べたが、露光ヘッド166A〜166Jのすべてについて同じ手順を繰り返すことにより、繋ぎ画素を選択できる。
また、ビーム位置ズレ補正データを求める際に、ある露光ヘッド166において特定の画素を点灯させたときのレーザ光の照射位置を特定するのも、繋ぎ画素P1およびP2の照射位置を特定する上に述べた手順と同様の手順によって行なうことができる。
露光装置104は、露光装置100の有する特長に加え、ビーム位置検出装置140によって繋ぎ画素P1および繋ぎ画素P2の正確なXY座標が短時間で求まるから、繋ぎ画素P1および繋ぎ画素P2として、X座標が必ずしも同一でないものを選択した場合においても、正確に画像を繋げることができる。また、ビーム位置ズレ補正データを求める際に、ある露光ヘッド166において特定の画素を点灯させたときのレーザ光の露光位置を特定する場合においても、X座標およびY座標を正確に特定できる。
図1は、実施形態1に係る露光装置の全体的な構成を示す斜視図である。 図2は、実施形態1に係る露光装置の備えるスキャナの構成を示す斜視図である。 図3は、感光材料に形成される露光済み領域を示す平面図および各露光ヘッドによる画像領域の配列を示す概略図である。 図4は、実施形態1に係る露光装置の備える露光ヘッドの概略構成を示す斜視図である。 図5は、図4に示す露光ヘッドの構成を示す光軸に沿った走査方向の断面図である。 図6は、図4に示す露光ヘッドの備えるデジタルマイクロミラーデバイス(DMD)の構成を示す部分拡大図である。 図7は、図6に示すDMDの動作を示す説明図である。 図8は、図1に示す露光装置の備える路光ヘッドに設けられたフォーカシング機構の外観を示す斜視図である 図9は、図8に示すフォーカシング機構の動作を示す説明図である。 図10は、図8に示すフォーカシング機構においてビーム位置ズレが生じる理由を示す説明図である。 図11は、図8に示すフォーカシング機構においてビーム位置ズレが生じる理由を示す説明図である。 図12は、図1に示す露光装置においてビーム位置ズレ補正データを求める手順を示す説明図である。 図13は、図12に示す手順で求められたビーム位置ズレ補正データの一例を示すグラフである。 図14は、ビーム位置ズレ補正データを求める際に、露光ヘッドのある特定の画素を点灯したときのレーザ光の照射位置をVスリットを用いて特定する手順を示す説明図である。 図15は、実施形態1に係る露光装置において、一の露光ヘッドによって照射される一の画像領域、他の露光ヘッドによって照射されるとともに、前記一の画像領域に繋げるべき他の画像領域、およびこれらの画像領域と繋ぎ画素との位置関係を示す平面図である。 図16は、前記一の画像領域および他の画像領域において、前記露光装置の露光ステージに設けられたVスリットを用いて繋ぎ画素の照射位置を特定するところを示す外略図である。 図17は、前記一の露光ヘッドの繋ぎ画素である一の繋ぎ画素の照射位置を前記Vスリットによって特定する手順を示す説明図である。 図18は、前記他の露光ヘッドの画素のうち、前記一の画像領域に繋げようとする他の繋ぎ画素の照射位置を前記スリットによって特定する手順を示す説明図である。 図19は、前記他の露光ヘッドの他の繋ぎ画素のうち、図22の手順によって位置が特定されたものから、画像が最も正確に繋げるものを選択する手順を示す説明図である。 図20は、前記一の繋ぎ画素と前記他の繋ぎ画素とによって前記一の画像領域と他の画像領域とが繋げられた状態を示す平面図である。 図21は、図1の露光装置において感光材料のフォーカス測定を行ない、前記フォーカス測定結果に基づいてスキャナで露光するところを示す説明図である。 図22は、図1の露光装置によるフォーカス測定及び制御における演算処理の内容を示す説明図である。 図23は、図1の露光装置によるフォーカス測定及び制御における演算処理において作成されるマッピングデータの一例を示す表である。 図24は、2つの露光ヘッドによって形成され、互いに繋がれる2つの画像の間に形成される隙間を修正する手順を示す説明図である。 図25は、図1の露光装置によるフォーカス測定及び制御において感光材料の被露光面のX方向断面における近似曲線を求める手順を示す説明図である。 図26は、実施形態2に係る露光装置の構成を示す斜視図である。 図27は、実施形態2に係る露光装置において、露光ステージに設けられたTスリットによって一の露光ヘッドにおける一の繋ぎ画素の位置を特定する手順を示す説明図である。 図28は、繋ぎ画素P1と補助画素P*1とのY軸方向に沿った位置の差を示す説明図である。 図29は、実施形態2に係る露光装置において、互いに平行な複数のスリットを用いて繋ぎ画素の位置を特定する手順を示す説明図である。 図30は、実施形態3に係る露光装置の構成を示す斜視図である。 図31は、実施形態3に係る露光装置の備えるビーム検出装置の構成の詳細を示す拡大図である。 図32は、実施形態3に係る露光装置において、ビーム位置検出装置によって繋ぎ画素の照射位置のXY座標を特定する手順を示す説明図である。
符号の説明
54 レンズ系
56 被露光面
58 レンズ系
59 フォーカシング機構
60 セル
62 マイクロミラー
100 露光装置
102 露光装置
104 露光装置
120 Vスリット
120a スリット
120b スリット
122 ディテクタ
130 Tスリット
130a スリット
130b スリット
140 ビーム位置検出装置
140a スリット
140b スリット
142 基台
144 リニアエンコーダ
148 溝
150 感光材料
152 露光ステージ
162 スキャナ
164 検出ユニット
166 露光ヘッド
168 画像領域
180 検出ユニット
182 カメラ
184 変位センサ
190 コントローラ
210 ペア楔ガラス
210A 光入射面
210B 光出射面
212 ペア楔ガラス
212A 光入射面
212B 光出射面
214 ベースホルダ
216 スライドホルダ

Claims (12)

  1. 複数の画素を選択的にon/offして光ビームを照射する1または2以上の露光ヘッドを被露光面に対して相対的に走査して画像を形成する画像形成装置であって、
    前記露光ヘッドから照射される光ビームの焦点を前記被露光面に合わせるフォーカシングをおこなうフォーカシング手段と、
    各露光ヘッドにおいて光ビームの露光位置を移動させることにより、前記フォーカシングによって生じた前記光ビームの位置ズレを補正するビーム位置ズレ補正手段とを備えてなることを特徴とする画像形成装置。
  2. 前記ビーム位置ズレ補正手段は、前記フォーカシング手段におけるフォーカシング量とビーム位置ズレの大きさとに関するビーム位置ズレ補正データを各露光ヘッド毎に求め、実際のフォーカシング量に基き、露光ヘッドのビーム露光位置を移動させてビーム位置ズレを補正する請求項1に記載の画像形成装置。
  3. 前記露光ヘッドから出射される光ビームの露光位置を検出するビーム位置検出手段を有し、
    前記ビーム位置ズレ補正手段は、
    前記露光ヘッドにおける特定の画素を点灯させて光ビームを出射させ、前記フォーカシング手段で前記光ビームの焦点位置を2点以上設定し、それぞれの焦点について前記ビーム位置検出手段で前記ビームの露光位置を検出し、
    前記焦点位置に対応するフォーカシング量と前記ビーム位置検出手段で検出された露光位置とからビーム位置ズレ補正データを求め、前記ビーム位置ズレ補正データに基づいて露光ヘッドのビーム露光位置を移動させる請求項2に記載の画像形成装置。
  4. 前記ビーム位置ズレ補正手段は、前記フォーカシング手段によって前記光ビームの焦点を露光ヘッドから最も遠い+Max、中間位置、および露光ヘッドに最も近い−Maxに設定し、夫々の焦点位置について、ビーム位置検出手段で光ビームの露光位置を検出してビーム位置ズレ補正データを求める請求項3に記載の画像形成装置。
  5. 露光ヘッドから被露光面までの距離を測定する焦点距離測定手段を備えてなり、前記被露光面を露光する前に、前記焦点距離測定手段によって、前記被露光面の各点における露光ヘッドからの距離を示すフォーカスマップを前記被露光面の全面について作製し、
    各露光ヘッドにおいては、前記フォーカスマップに従ってフォーカシングを行なう請求項1〜4の何れか1項に記載の画像形成装置。
  6. 前記ビーム位置ズレ補正手段は、露光ヘッドにおいて点灯する画素をずらすことによって主走査方向に沿ったX軸方向および副走査方向に沿ったY軸方向のビーム位置ずれを補正する請求項1〜5の何れか1項に記載の画像形成装置。
  7. 前記ビーム位置ズレ補正手段は、露光ヘッドにおいて点灯する画素をずらすことによって前記X軸方向のビーム位置ズレを補正し、露光ヘッドにおいて画素を点灯する点灯タイミングをずらすことによって前記Y軸方向のビーム位置ズレを補正する請求項1〜5の何れか1項に記載の画像形成装置。
  8. 前記ビーム位置検出手段は、
    Y軸方向に沿って基準面上を移動可能に形成され、前記露光ヘッドの画素配列に対して相対的に斜めであって互いに交差するように配設された少なくとも1対のスリット部と、
    前記スリット部を通過する光ビームの光量を測定する光量測定手段とを有し、
    前記露光ヘッドの特定の画素をonとして前記ビーム位置検出手段をY軸方向に沿って移動させ、前記スリット部の一方および他方を透過する光ビームの光量がピークに達したときの前記ビーム位置検出手段の位置と前記スリット部の位置と前記スリット部が互いに成す角度とに基いて前記がその位置を特定する
    請求項3〜7の何れか1項に記載の画像形成装置。
  9. 前記ビーム位置検出手段は、基準面上をY軸方向およびX軸方向に沿って移動可能に形成され、
    Y軸方向に長い第1スリット部と、
    X軸方向に長い第2スリット部と、
    前記第1および第2のスリット部を透過する前記露光ビームの光量を測定する光量測定手段とを
    有する請求項3〜7の何れか1項に記載の画像形成装置。
  10. 前記フォーカシング手段は、
    前記露光ヘッドを前記被露光面に対して相対的に走査しつつ、前記露光ヘッドと前記被露光面との距離を測定する距離測定手段と、
    前記距離測定手段からの距離測定情報に基いて露光ヘッドからの光ビームの焦点の位置を変化させる焦点位置変更手段とを備えてなる請求項1〜8の何れか1項に記載の画像形成装置。
  11. 前記焦点位置変更手段は、各露光ヘッドの出射側に配設されてなるとともに、
    光透過性材料によって楔状に形成され、前記光ビームの光軸に沿って互いに反転した向きに隣接配置された複数の楔状光学部材と、
    前記複数の楔状光学部材における一の楔状光学部材を他の楔状光学部材と相対する面に沿って移動可能に支持する光学部材支持手段と、
    前記一の楔状光学手段を前記相対する面に沿って前記他の楔状光学部材に対して移動させる光学部材走査手段とを
    備えてなる請求項10に記載の画像形成装置。
  12. 複数の画素を選択的にon/offして光ビームを照射する1または2以上の露光ヘッドを被露光面に対して一定方向に走査して画像を形成する画像形成方法であって、
    前記露光ヘッドから照射される光ビームの焦点を前記被露光面に合わせるフォーカシングをおこなうフォーカシング工程と、
    各露光ヘッドにおける光ビームの露光位置を移動させて前記フォーカシングによって生じた前記光ビームの露光位置のずれであるビーム位置ズレを補正するビーム位置ズレ補正工程とを
    有してなることを特徴とする画像形成方法。
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