JP2006012254A - 光ディスク装置および記録媒体 - Google Patents

Abstract

【課題】 出射波長のシフトによってもパワー設定を円滑かつ適正に行い得る光ディスク装置およびそれに必要な記録媒体の構造を提案する。
【解決手段】 レーザ波長と補償係数を対応づけた波長補償テーブルをウォブルやピット等にてディスクに記録しておく。コントローラ１１１は、ディスク装着時に波長補償テーブルをディスクから読み出し内蔵メモリに保持する。
ＯＰＣ時に温度センサー１１２から供給される温度情報をもとに出射レーザ光の波長λ１を判定し、この波長λ１と基準波長λ０にそれぞれ対応する補償係数α１、α０を波長補償テーブルから取得する。そして、初期パワーＰｗ０と補償係数α１、α０から、Ｐｗ１＝Ｐｗ０×（α１／α０）を演算し、ＯＰＣ時の初期パワーＰｗ１を設定する。
【選択図】 図２

Description

本発明は、光ディスク装置および記録媒体に関し、特に、レーザパワーを調整する際に用いて好適なものである。

ＣＤ−Ｒ（Compact Disc - Recordable）やＤＶＤ−Ｒ（Digital Versatile Disc - Recordable）等のディスクに記録再生を行う光ディスク装置においては、予め設定されたレーザパワー調整エリアに試し書きを行って、記録レーザパワーを最適パワーに設定する処理が行われる。かかるパワー設定は、通常、β法に従って行われる（特許文献１）。すなわち、レーザパワー調整エリアに所定パワーにて試し書きを行い、その再生ＲＦ信号（アシンメトリ）からβ値を求め、このβ値と、当該ディスクにて要求される目標β値とを比較して、記録レーザパワーを設定する。

図６にβ値の算出方法を示す。図示の如く、β値は、基準電位Ｉrefに対するアシンメトリの振幅値Ｉtop、Ｉbtmから、β＝（Ｉtop＋Ｉbtm）／（Ｉtop−Ｉbtm）を演算して求められる。記録レーザパワーの設定は、たとえば、異なるレーザパワーにて試し書きを行ってβ値を複数取得し、これらβ値を直線近似したときに目標β値を与えるレーザパワーを求め、求めたレーザパワーを記録レーザパワーに設定するようにして行われる。

ここで、試し書き時のレーザパワーは、ディスクのリードインに記録されている初期パワー、あるいは、ドライブ側にて予め設定しておいた初期パワーに設定される。ずなわち、最初に、この初期パワーＰｗ１にて試し書きを行ってβ値を取得し、取得したβ値と目標β値を比較して、次に行う試し書きのレーザパワーＰｗ２を設定する。そして、パワーＰｗ２にて再度試し書きを行ってβ値を取得し、試し書き回数が２回の場合には、これら２つのβ値を直線近似し、この近似直線上、目標β値を与えるレーザパワーを記録レーザパワーとして設定する。
特開２００２−２６０２３０号公報

ここで、上述の初期パワーは、通常、半導体レーザの雰囲気温度（ＣＡＮ温度、等）が常温程度である状態で設定される。このため、記録パワー設定時の雰囲気温度が常温からかけ離れていると、出射レーザ光の波長が、初期設定時の波長に対してシフトすることとなってしまう。なお、ＤＶＤ−Ｒ用の半導体レーザ（波長：約６５０ｎｍ）の場合、ＣＡＮ温度が１０度上昇すると波長が２ｎｍ程度長くなることが知られている。

また、出射レーザ光の波長は、あるメーカ製の半導体レーザは６５０ｎｍであり、他のメーカ製の半導体レーザは６５５ｎｍである等、半導体レーザ毎にばらつきが見られる。このため、同じ雰囲気温度でも、出射波長が異なる場合が生じ、これによっても、記録パワー設定時の出射波長が、初期パワー設定時の出射波長に対してシフトすることが起こり得る。

しかし、このように出射波長がシフトすると、それに応じて記録層の感度特性（反射率、光吸収率）が相違し、初期設定されたパワーをそのまま用いると、パワー不足またはパワー過剰となってしまうこととなり得る。そして、パワー不足やパワー過剰の程度が大きいと、再生ＲＦ信号のアシンメトリに乱れが生じ、最悪の場合、β値を取得できない事態が起こり得る。この場合には、β値が取得できるまで、初期パワーを変化させながら試し書きを繰り替えし行う処理が必要となる。しかし、こうなると、パワー設定に長時間が掛かり、さらには、試し書き領域を無駄に浪費する結果ともなる。

そこで、本発明は、かかる不都合を解消し、出射波長のシフトによってもパワー設定を円滑かつ適正に行い得る光ディスク装置およびそれに必要な記録媒体の構造を新たに提案することを課題とする。

第１の発明は、レーザ光を用いてディスク上に情報を記録再生する光ディスク装置において、レーザ波長と記録特性の関係を規定する波長特性規定手段と、出射レーザ光の波長を判定する波長判定手段と、前記波長判定手段にて判定された波長を前記波長特性規定手段に適用して当該波長に対する記録特性を取得する記録特性取得手段と、前記記録特性取得手段にて取得された記録特性に基づいてレーザパワーを調整するレーザパワー調整手段とを有することを特徴とする。

ここで、前記波長特性規定手段は、レーザ波長とレーザパワーの補正値とを関係付けたテーブルを含むよう構成することができる。この場合、前記記録特性取得手段は、前記判定された波長に対する補正値をこのテーブルから取得し、前記レーザパワー調整手段は、テーブルから取得した補正値をもとにレーザパワーの設定値を補正するようにする。

また、前記波長判定手段は、半導体レーザの雰囲気温度を取得する温度取得手段を含むよう構成し、この温度取得手段にて取得した温度と、雰囲気温度に対するレーザ波長の変化特性の関係から、出射レーザ光の波長を判定するよう構成することができる。ここで、前記雰囲気温度に対するレーザ波長の変化特性は、関係式またはテーブルにて規定することができる。

なお、「雰囲気温度」とは、半導体レーザ（レーザ素子）の直近周囲の温度のことをいい、半導体レーザ（レーザ素子）を収容するＣＡＮの温度や、半導体レーザデバイスが装着される放熱フィンの温度等、半導体レーザ（レーザ素子）自身の温度と密接に関連する温度のことを意味する。

これら第１の発明において、前記レーザパワー調整手段は、記録レーザパワーの設定時に試し書き用として使用する初期レーザパワーを、前記記録特性取得手段にて取得された記録特性に基づいて調整するものとして構成することができる。この構成は、以下の実施の形態では、ＯＰＣ（Optical Power Control）時の初期パワーを調整するものとして具体化されている。

また、前記レーザパワー調整手段は、既設定の記録レーザパワーを、前記記録特性取得手段にて取得された記録特性に基づいて調整するものとして構成することもできる。この構成は、以下の実施の形態では、ＯＰＣにて設定された記録レーザパワーを、その後の温度変化に応じて、Ｒ−ＯＰＣ（Running-OPC）前に調整するものとして具体化されている。

第２の発明は、記録媒体に関するものであって、レーザ波長と記録特性の関係を規定する波長特性情報が物理的性状の設定をもって記録されていることを特徴とする。ここで、波長特性情報は、ピットあるいはウォブルによって光ディスク上に記録することができる。あるいは、記録層に対して予めデータ書き込みを行うことで、光ディスク上に記録することができる。

なお、前記波長特性情報は、レーザ波長とレーザパワーの補正値とを関係付けたテーブルを含むよう構成することができる。また、レーザ波長と記録層の光反射率または光吸収率とを関係付けたテーブルを含むよう構成することもできる。なお、補正値と光反射率または光吸収率は、何れか一方をテーブル上に規定する他、両方を同時にテーブル上に規定するようにしてもよい。

本発明によれば、出射レーザ光の波長を判定し、判定した波長に対応する記録特性を取得し、取得した記録特性に基づいてレーザパワーを調整するようにしたことから、温度変化や半導体レーザのばらつき等によって波長シフトが生じても、レーザパワーを適正なものとすることができる。よって、本発明を、β法によるレーザパワー設定に適用した場合には、初期パワーを適宜補正した適正パワーにて試し書きが行われることとなり、もって、パワー設定を円滑に行うことができる。

本発明の特徴は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。但し、以下の実施の形態は、本発明の一つの実施形態であって、本発明ないし各構成要件の用語の意義は、以下の実施の形態に記載されたものに制限されるものではない。

以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。なお、本実施の形態は、青紫レーザ光を用いた高密度ＤＶＤ−Ｒ（ＨＤＤＶＤ−Ｒ）の記録再生装置に本発明を適用したものである。

まず、図１に実施の形態に係るディスク（ＨＤＤＶＤ−Ｒ）の構成を示す。図示の如く、ディスク１００は、その径方向に、インナードライブエリア、リードインエリア、データエリア、リードアウトエリア、アウタードライブエリアに領域分割されている。さらに、インナードライブエリアとアウタードライブエリアは種々のゾーンに区分されており、このうち、インナーディスクテストゾーンおよびアウターディスクテストゾーンを用いて、レーザパワーの初期設定（ＯＰＣ：Optimum Write Power Control）が行われる。

また、ディスク１００には、内周から外周に向かって螺旋状のグルーブが形成されており、このグルーブに対してデータの記録が行われる。ここで、グルーブは、径方向に蛇行（ウォブル）しており、このウォブルによってアドレス情報が保持されている。すなわち、ＡＤＩＰ（Address in pre-groove）と呼ばれる位相変調区間が、単調蛇行区間中に一定周期で挿入されており、かかる位相変調区間をビームが走査するとき、その反射光強度の変化からグルーブ上のアドレス情報が読み取られ再生される。また、リードイン領域のＡＤＩＰには、当該ディスクに対する種々の制御データが位相変調によって記録されており、その中に、当該ディスクを製造したディスク製造業者の識別情報（マニュファクチャＩＤ）が含まれている。

なお、後述する波長補償テーブル（図３参照）は、かかるＡＤＩＰ情報中に含まれている。かかる波長補償テーブルは、当該ディスクの波長特性（波長と反射率の関係）からＯＰＣ時の初期パワーを補正するためのものである。

図２に、実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示す。

図示の如く、光ディスク装置は、エンコーダ１０１と、変調回路１０２と、レーザ駆動回路１０３と、レーザパワー調整回路１０４と、光ピックアップ１０５と、信号増幅回路１０６と、復調回路１０７と、デコーダ１０８と、サーボ回路１０９と、ＡＤＩＰ再生回路１１０と、コントローラ１１１と、温度センサー１１２から構成されている。

エンコーダ１０１は、入力された記録データに対し誤り訂正符号の付加等のエンコード処理を施し、変調回路１０２へと出力する。変調回路１０２は、入力された記録データに所定の変調を施し、さらに記録信号を生成してレーザ駆動回路１０３に出力する。レーザ駆動回路１０３は、記録時には変調回路１０２からの記録信号に応じた駆動信号を半導体レーザ１０５ａに出力し、再生時には一定強度のレーザ光を出射するための駆動信号を半導体レーザ１０５ａに出力する。ここで、レーザパワーは、レーザパワー調整回路１０４によって調整・設定されたレーザパワーに設定される。

レーザパワー調整回路１０４は、コントローラ１１１からの設定値に応じて、記録および再生時のレーザパワーを初期設定するとともに、設定したレーザパワーを、コントローラ１１１から供給される調整値に応じて適宜調整し、これをレーザ駆動回路１０３に供給する。ここで、レーザパワーの設定（ＯＰＣ）は、たとえばβ法に従って行われる。すなわち、コントローラ１１１から当該ディスクのβ値（βtarget）を取得し、取得したβtargetをもとに、当該ディスクに対する記録レーザパワーを最適パワーに設定する。なお、ＯＰＣの詳細については後述する。

光ピックアップ１０５は、半導体レーザ１０５ａおよび光検出器１０５ｂを備え、レーザ光をグルーブ上に収束させることにより、ディスクに対するデータの書き込み／読み出しを行う。なお、光ピックアップ１０５は、この他、グルーブに対するレーザ光の照射状態を調整するための対物レンズアクチュエータと、半導体レーザ１０５ａから出射されたレーザ光を対物レンズに導き、且つ、ディスク１００からの反射光を光検出器１０５ｂに導くための光学系等を備えている。

信号増幅回路１０６は、光検出器１０５ｂから受信した信号を増幅および演算処理して各種信号を生成し、これを対応する回路に出力する。復調回路１０７は、信号増幅回路１０６から入力された再生ＲＦ信号を復調して再生データを生成し、デコーダ１０８に出力する。デコーダ１０８は、復調回路１０７から入力されたデータに対し誤り訂正等のデコード処理を施し、後段回路に出力する。

サーボ回路１０９は、信号増幅回路１０６から入力されたフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号からフォーカスサーボ信号およびトラッキングサーボ信号を生成し、光ピックアップ１０５の対物レンズアクチュエータに出力する。また、信号増幅回路１０６から入力されたウォブル信号からモータサーボ信号を生成し、ディスク駆動モータに出力する。

ＡＤＩＰ再生回路１１０は、信号増幅回路１０６から入力されたウォブル信号からアドレス情報および各種コントロール情報を再生し、これらをコントローラ１１１に出力する。

コントローラ１１１は、内蔵メモリに各種データを格納するとともに、あらかじめ設定されたプログラムに従って、各部を制御する。

なお、コントローラ１１１には、マニュファクチャＩＤと目標β値（βtarget）とを対応付けたβ値テーブルが保持されている。コントローラ１１１は、当該ディスクのリードイン領域（ＡＤＩＰ）から取得したマニュファクチャＩＤと、上記β値テーブルとを比較し、対応するβtargetを読み出してレーザパワー調整回路１０４に出力する。これをもとに、レーザパワー調整回路１０４は、記録レーザパワーの初期設定を行う。

また、コントローラ１１１には、半導体レーザ１０５ａの雰囲気温度が常温（Ｔ０＝２５℃）であるときの出射レーザ光の波長（基準波長：λ０）に関する情報が保持されている。さらに、コントローラ１１１には、ＯＰＣ時に使用するレーザパワーの初期値Ｐｗ０に関する情報が保持されている。コントローラ１１１は、ＯＰＣ時に温度センサー１１２から入力される半導体レーザ１０５ａの雰囲気温度Ｔをもとに、現時点における出射レーザ光の波長λを判定する。そして、判定した波長λから、レーザパワーの初期値Ｐｗ０を補正し、補正後のパワーをもとにＯＰＣを行う。なお、ＯＰＣ時の処理動作については、追って詳述する。

温度センサー１１２は、半導体レーザ１０５ａの雰囲気温度を検出し、検出結果をコントローラ１１１に出力する。かかる温度センサー１１２は、たとえば、半導体レーザ１０５ａを収容するＣＡＮにサーミスタを固着して構成されている。この場合、サーミスタからの検出値がコントローラ１１１に入力される。コントローラ１１１は、入力された検出値をもとに、半導体レーザ１０５ａの雰囲気温度を取得する。

図３に、ディスク１００の波長特性（レーザ波長とディスク反射率の関係）と波長補償テーブルの構成例を示す。

同図上段の波長特性のうち実線は、記録マークの形成によって反射率が低下する、いわゆるHigh-to-Lowディスクの波長特性の一般的傾向を示し、また、点線は、記録マークの形成によって反射率が上昇する、いわゆるLow-to-Highディスクの波長特性の一般的傾向を示すものである。

High-to-Lowディスクの場合、レーザ波長が４０６ｎｍのときの反射率を７０％とすると、これよりもレーザ波長が大きくなれば反射率が増加し、逆に、レーザ波長が小さくなれば反射率は減少する。ここで、反射率が増加すると、それに応じて光吸収率が低下するため、記録マークの形成にはその分大きなパワーが必要となる。逆に、反射率が減少すると、光吸収率が増加するため、小さなパワーで記録マークを形成できる。

同図下段に示す波長補償テーブルは、レーザ波長４０６ｎｍを基準波長としたときに、各波長における必要パワー強度を係数として関係付けたものである。すなわち、波長４０８ｎｍの場合には、４０６ｎｍのときのレーザパワーの１．０２倍のパワーが必要となり、また、波長４０４ｎｍの場合には、４０６ｎｍのときのレーザパワーの０．９６倍のパワーが必要となる。なお、同図は一例であって、補償係数の値は、各ディスクの波長特性に応じて適宜修正される。同様に、Low-to-Highディスクの場合にも、当該ディスクの波長特性に応じて、補償係数が適宜設定される。

なお、上記の如く本実施例では、波長補償テーブルは、リードイン領域のＡＤＩＰに含まれている。この他、ディスク上にピットの形態で波長補償テーブルを記録しておく形態や、記録レーザを用いたデータ記録の形態で波長テーブルを予め記録しておく形態とすることもできる。

図４に、ＯＰＣ時における処理動作フローを示す。

ディスクが装着されると、リードイン領域のＡＤＩＰが読み取られ、コントローラ１１１の内蔵メモリに格納される（Ｓ１０１）。しかる後、ＯＰＣが開始されると（Ｓ１０２：Ｙ）、コントローラ１１１は、温度センサー１１２から現時点の温度Ｔ１を取得し（Ｓ１０３）、取得した温度Ｔ１と、出射レーザ光の波長が基準波長λ０であるときの半導体レーザ１０５ａの雰囲気温度Ｔ０との差ΔＴを求める（Ｓ１０４）。そして、求めた温度差ΔＴから、基準波長λ０に対するシフト量Δλを算出し（Ｓ１０５）、算出したシフト量Δλを基準波長λ０に加算して、現時点の波長λ１を算出する（Ｓ１０６）。

なお、シフト量Δλの算出は、青紫レーザ光を出射する半導体レーザの雰囲気温度対波長シフトの関係式をもとに算出する。たとえば、赤色レーザ光の場合、雰囲気温度が１０℃変化すると波長が２ｎｍシフトする。これと同様に、青紫レーザ光を出射する半導体レーザの雰囲気温度対波長シフトの一般的傾向を統計的または実験的手法等をもとに把握し、この一般的傾向を示す関係式から、温度差ΔＴから波長のシフト量Δλを算出する。

なお、関係式から算出する手法に代えて、雰囲気温度対波長シフトの一般的傾向をテーブルにて規定しておき、このテーブルをもとに、温度差ΔＴに対する波長シフト量Δλを取得するようにしても良い。あるいは、温度差ΔＴではなく、温度Ｔ１から直接、現在温度Ｔ１における波長λ１を取得するようにしても良い。この場合、上記関係式とテーブルは、波長λ１と温度Ｔ１との関係を示すものに修正される。

しかして、現時点における出射レーザ波長λ１を取得すると、次にコントローラ１１１は、Ｓ１０１にて保持されたＡＤＩＰ情報から波長補償テーブル（図３下段）を読み出し、読み出した波長補償テーブルから、基準波長λ０と現時点の波長λ１の補償係数α０、α１を取得する（Ｓ１０７）。そして、レーザパワーの初期値Ｐｗ０に補償係数α０、α１の比（α１／α０）を乗算し、その結果算出したレーザパワーＰｗ１を、当該ＯＰＣ時の初期パワーに設定する（Ｓ１０８）。

このようにして初期パワーＰｗ１を設定した後、コントローラ１１１は、初期パワーＰｗ１にて、インナードライブエリアまたはアウタードライブエリアの何れかに試し書きを行い、さらにこれを再生して、β値（＝β１）を取得する（Ｓ１０９）。そして、取得したβ値と、ＡＤＩＰ情報から取得したマニュファクチャＩＤをもとにβ値テーブルから取得した目標β値（βtarget）とを比較し、比較結果をもとに、たとえば、βtarget−β１をβtargetに加算して、次の試し書き時に用いるレーザパワーＰｗ２を設定する（Ｓ１１０）。

しかる後、コントローラ１１１は、初期パワーＰｗ２にて、インナードライブエリアまたはアウタードライブエリアの何れかに試し書きを行い、さらにこれを再生して、β値（＝β２）を取得する（Ｓ１１１）。そして、β１、β２から近似直線を算出し（Ｓ１１２）、この近似直線上、目標β値（βtarget）を与えるパワーＰｐを取得する（Ｓ１１３）。

しかして、パワーＰｐを取得すると、コントローラ１１１は、パワーＰｐにて、インナードライブエリアまたはアウタードライブエリアの何れかに試し書きを行い（Ｓ１１４）、さらにこれを再生して、デコーダ１０８からエラーレートＥｒを取得する。そして、このエラーレートＥｒと閾値Ｅｓを比較し、エラーレートＥｒが閾値Ｅｓ未満であれば（Ｓ１１５：Ｙ）、パワーＰｐを記録パワーに設定する（Ｓ１１６）。他方、エラーレートＥｒが閾値Ｅｓ以上であれば（Ｓ１１５：Ｎ）、Ｓ１０９に戻り、以降の処理を繰り返す。

以上、本実施の形態によれば、温度から波長シフトを検出し、その検出結果に応じて、ＯＰＣ時の初期パワーを調整するようにしたことから、適正な初期パワーにて円滑にＯＰＣを行うことができる。特に、ディスクがHigh-to-Lowディスクであるか、Low-to-Highディスクであるかに関係なく、当該ディスクに予め記録されている波長補償テーブルをもとに初期パワーＰｗ０を補償するのみで、それぞれのディスクに対し、ＯＰＣ時の初期パワーを円滑に調整することができる。

上記実施の形態では、ＯＰＣ時の初期パワーＰｗ０を、波長補償テーブルをもとに補正するようにしたが、ＯＰＣにて設定された記録レーザパワーＰｐを調整する際に、波長補償テーブルを用いるようにすることもできる。

たとえば、ＯＰＣにて記録レーザパワーを設定した後、長時間そのまま放置し、再度、記録動作を行うような場合に、現時点の雰囲気温度と波長補償テーブルをもとに、記録レーザパワーＰｐを調整する。

図５は、この場合の処理フローを示す。この場合、コントローラ１１１は、まず、温度センサー１１２から現時点の温度Ｔ１を取得し（Ｓ２０１）、取得した温度Ｔ１と、出射レーザ光の波長が基準波長λ０であるときの半導体レーザ１０５ａの雰囲気温度Ｔ０（本実施の形態では常温：２５℃）との差ΔＴを求める（Ｓ２０２）。次に、求めた温度差ΔＴから、基準波長λ０に対するシフト量Δλを算出し（Ｓ２０３）、算出したシフト量Δλを基準波長λ０に加算して、現時点の波長λ１を算出する（Ｓ２０４）。そして、内蔵メモリに保持してあるＡＤＩＰ情報から波長補償テーブルを読み出し、読み出した波長補償テーブルから、現時点の波長λ１の補償係数α１を取得する（Ｓ２０５）。

しかる後、コントローラ１１１は、基準波長λ０と、記録レーザパワーＰｐおよび初期パワーＰｗ０からλ２＝λ０×（Ｐｐ／Ｐｗ０）を演算し、波長λ２を取得する（Ｓ２０６）。この波長λ２は、記録レーザパワー設定時（ＯＰＣ時）のレーザ波長を与える。そして、波長補償テーブルから、波長λ２に対する補償係数α２を取得する（Ｓ２０７）。

しかして、補償係数α１、α２を取得すると、コントローラ１１１は、先に設定されている記録レーザパワーＰｐに補償係数α１、α２の比（α１／α２）を乗算し（Ｓ２０８）、その結果算出したレーザパワーＰｐを、当該記録時の記録レーザパワーＰｐに設定する（Ｓ２０９）。そして、設定した記録レーザパワーＰｐにて順次記録を行い（Ｓ２１０）、その後、記録レーザパワーの調整タイミング（Ｒ−ＯＰＣ：Running-OPC）となる毎に、たとえば、再生ＲＦ信号の変調度がレーザパワー設定時（ＯＰＣ時）の変調度に追従するようにして、レーザパワー調整を行う（Ｓ２１１）。かかるＳ２１０とＳ２１１に処理は、記録データが終了するまで繰り返し行われる（Ｓ２１２）。そして、記録データが終了すると（Ｓ２１２：Ｙ）、当該記録動作が終了される。

本実施の形態によれば、記録動作の再開時に、再度の試し書きによって記録レーザパワーを設定（ＯＰＣ）しなくとも、記録レーザパワーを適正パワーに設定することができる。よって、インナードライブエリアまたはアウタードライブエリアを消費することなく、円滑かつ迅速に、記録動作に移行することができる。

以上、本発明に係る実施の形態について説明したが、本発明は、かかる実施の形態に限定されるものではなく、他に種々の変更が可能であることは言うまでもない。

たとえば、上記実施の形態では、ＯＰＣ時の初期パワーＰｗ０として、コントローラ１１１の内蔵メモリに保持されている初期パワーを用いるようにしたが、ディスクのＡＤＩＰ情報中に含まれている初期パワーを用いるようにしても良い。

また、上記実施の形態では、波長補償テーブルに補償係数を記述するようにしたが、これに代えて、反射率や光吸収率などの波長特性値を記述するようにしても良い。なお、この場合には、波長補償テーブルの記述内容に応じて、ＯＰＣ時の初期パワーＰｗ０の補正処理（実施例１）ないし記録動作再開時の記録レーザパワーＰｐの補正処理（実施例２）を適宜変更する必要がある。

たとえば、波長補償テーブルに反射率が記述されている場合には、実施例１においては、Ｓ１０７にて、基準波長λ０と現時点の波長λ１にそれぞれ対応する反射率ｒ０とｒ１を波長補償テーブルから取得し、Ｓ１０８にて、Ｐｗ１＝Ｐｗ０×（ｒ１／ｒ０）×γを演算してＯＰＣ時の初期パワーＰｗ１を設定する。なお、γは、反射率比を必要パワー比に変換する補正係数である。同様に、実施例２においては、Ｓ２０５とＳ２０７にて、現時点の波長λ１とＯＰＣ時の波長λ２にそれぞれ対応する反射率ｒ１とｒ２を波長補償テーブルから取得し、Ｓ２０８にて、Ｐｐ＝Ｐｐ×（ｒ１／ｒ２）×γを演算して当該記録時の記録レーザパワーＰｐを設定する。

なお、波長補償テーブルに光吸収率が記述されている場合には、反射率＋光吸収率＝１００％の関係から、反射率＝１００−光吸収率として、上記反射率における算出式を光吸収率による算出式に変更すれば良い。すなわち、実施例１においては、Ｓ１０７にて、基準波長λ０と現時点の波長λ１にそれぞれ対応する光吸収率ａ０とａ１を波長補償テーブルから取得し、Ｓ１０８にて、Ｐｗ１＝Ｐｗ０×｛（１００−ａ１）／（１００−ａ０）｝×γを演算してＯＰＣ時の初期パワーＰｗ１を設定する。また、実施例２においては、Ｓ２０５とＳ２０７にて、現時点の波長λ１とＯＰＣ時の波長λ２にそれぞれ対応する光吸収率ａ１とａ２を波長補償テーブルから取得し、Ｓ２０８にて、Ｐｐ＝Ｐｐ×｛（１００−ａ１）／（１００−ａ２）｝×γを演算して当該記録時の記録レーザパワーＰｐを設定する。

この他、上記実施の形態では、β法にて記録レーザパワーを設定（ＯＰＣ）するようにしたが、これ以外の設定手法を用いるものであっても良い。さらに、本発明は、ＨＤＤＶＤ−Ｒの記録再生装置に限らず、他の光ディスク装置にも適宜適用可能なものである。

本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。

実施の形態に係る光ディスクの構成を示す図 実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示す図 実施の形態に係る波長補償テーブルの構成を示す図 実施の形態に係るＯＰＣ処理を示すフローチャート 実施の形態に係るレーザパワー調整処理を示すフローチャート β法によるレーザパワーの設定方法を説明する図

符号の説明

１００ ディスク
１０３ レーザ駆動回路
１０４ レーザパワー調整回路
１０５ 光ピックアップ
１０６ 信号増幅回路
１１０ ＡＤＩＰ再生回路
１１１ コントローラ
１１２ 温度センサー

Claims (8)

1. レーザ光を用いてディスクに情報を記録再生する光ディスク装置において、
   レーザ波長と記録特性の関係を規定する波長特性規定手段と、
   出射レーザ光の波長を判定する波長判定手段と、
   前記波長判定手段にて判定された波長を前記波長特性規定手段に適用して当該波長に対する記録特性を取得する記録特性取得手段と、
   前記記録特性取得手段にて取得された記録特性に基づいてレーザパワーを調整するレーザパワー調整手段と、
   を有することを特徴とする光ディスク装置。
2. 請求項１において、
   前記波長特性規定手段は、レーザ波長とレーザパワーの補正値とを関係付けたテーブルを含み、前記記録特性取得手段は、前記判定された波長に対する補正値を前記テーブルから取得し、前記レーザパワー調整手段は、前記テーブルから取得した補正値をもとにレーザパワーの設定値を補正する、
   ことを特徴とする光ディスク装置。
3. 請求項１または２において、
   前記波長判定手段は、半導体レーザの雰囲気温度を取得する温度取得手段を含み、該温度取得手段にて取得した温度と、雰囲気温度に対するレーザ波長の変化特性の関係から、出射レーザ光の波長を判定する、
   ことを特徴とする光ディスク装置。
4. 請求項１ないし３の何れかにおいて、
   前記レーザパワー調整手段は、記録レーザパワーの設定時に試し書き用として使用する初期レーザパワーを、前記記録特性取得手段にて取得された記録特性に基づいて調整する、
   ことを特徴とする光ディスク装置。
5. 請求項１ないし４の何れかにおいて、
   前記レーザパワー調整手段は、既設定の記録レーザパワーを、前記記録特性取得手段にて取得された記録特性に基づいて調整する、
   ことを特徴とする光ディスク装置。
6. レーザ波長と記録特性の関係を規定する波長特性情報が物理的性状の設定にて記録されている記録媒体。
7. 請求項６において、
   前記波長特性情報は、レーザ波長とレーザパワーの補正値とを関係付けたテーブルを含む、記録媒体。
8. 請求項６または７において、
   前記波長特性情報は、レーザ波長と記録層の光反射率または光吸収率とを関係付けたテーブルを含む、記録媒体。

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