JP2006010347A - 光学測定装置及び光ピックアップレンズ調整装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 装置の大型化を防止しつつ、光ピックアップレンズの位置測定等の可能な光学測定装置及び光ピックアップレンズ調整装置を提供する。
【解決手段】 レーザ光源22からの平行光がレンズW上に照射されることにより正反射した光を、ビームスプリッタ24により角度測定用正反射光L1と位置測定用正反射光L2とに分岐させ、角度測定用正反射光L1を収束レンズ25により収束して角度測定用撮像手段27の撮像面27Aに集光させるとともに、位置測定用正反射光L2を収束レンズ25を介さずに位置測定用撮像手段28の撮像面28Aに照射させ、角度測定用撮像手段27の撮像面27Aにおける集光位置に基づいてレンズWの傾きを測定するとともに、測定されたレンズWの傾き及び位置測定用撮像手段28の撮像面28Aにおける照射位置に基づいてレンズWの位置を測定する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、光学測定装置及び光ピックアップレンズ調整装置に関する。
光ピックアップレンズ調整装置は、例えば、CD(Compact Disk)やDVD(Digital Versatile Disk又はDigital Video Disk)等に搭載される光ピックアップ装置に備えられた光ピックアップレンズ(以下、「レンズW」という)の組付けが正しく行なわれているか否か、即ち、レンズWが水平状態で組付けられているか(傾きが水平であるか)否かを光ピックアップレンズ調整装置内の光学測定装置により測定し、この測定結果に基づいて駆動手段によりレンズWの傾きを正規角度(水平)に調整するものである。
ここで、この光学測定装置として、例えば、図6に示すように、オートコリメータを用いたものが知られている。これは、投光手段たるレーザ光源1からの光をコリメータレンズ2により平行光に変えてレンズW表面に照射し、その正反射光をハーフミラー3を介して収束レンズ4により集光し、CCD5の撮像面5A上に形成された集光位置に基づいてレンズWの傾きを測定する構成とされている。
特開2001−304831号公報
ところで、レンズWの組付けに際して、その傾きだけでなくレンズWの位置(水平方向の位置)についても正確に組付けなければ、所定の位置に向けて光が出射されないため、光ピックアップ装置の所望の精度を達成することができない。
一方、上記した構成ではレンズWの位置(水平方向の位置)を測定できないため、レンズWの位置を測定しようとした場合には、位置検出用の構成が別に必要になり、装置が大型化してしまうという問題があった。
本発明は上記のような事情に基づいて完成されたものであって、装置の大型化を防止しつつ、レンズWの位置測定等の可能な光学測定装置及び光ピックアップレンズ調整装置を提供することを目的とする。
上記の目的を達成するための手段として、請求項1の発明は、測定対象物に光を照射し、その反射光に基づいて測定対象物の傾きを測定する光学測定装置であって、
光を出射する投光手段と、
前記投光手段からの光を平行光にするコリメータレンズと、
前記コリメータレンズからの平行光が、この平行光の照射領域内に収まる大きさの測定対象物上に照射されることにより当該測定対象物上で正反射した光を、前記投光手段とは異なる位置に向かう角度測定用正反射光と位置測定用正反射光とに分岐させる分岐手段と、
前記分岐手段により分岐された角度測定用正反射光を収束させる収束レンズと、
前記収束レンズにより収束された前記角度測定用正反射光を撮像面に集光させる角度測定用撮像手段と、
前記位置測定用正反射光を前記収束レンズを介さずに撮像面に照射させる位置測定用撮像手段と、
前記角度測定用撮像手段の撮像面における集光位置に基づいて前記測定対象物の傾きを測定するとともに、前記測定された測定対象物の傾き及び前記位置測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて前記測定対象物の位置を測定する測定手段と、を備えている構成としたところに特徴を有する。
光を出射する投光手段と、
前記投光手段からの光を平行光にするコリメータレンズと、
前記コリメータレンズからの平行光が、この平行光の照射領域内に収まる大きさの測定対象物上に照射されることにより当該測定対象物上で正反射した光を、前記投光手段とは異なる位置に向かう角度測定用正反射光と位置測定用正反射光とに分岐させる分岐手段と、
前記分岐手段により分岐された角度測定用正反射光を収束させる収束レンズと、
前記収束レンズにより収束された前記角度測定用正反射光を撮像面に集光させる角度測定用撮像手段と、
前記位置測定用正反射光を前記収束レンズを介さずに撮像面に照射させる位置測定用撮像手段と、
前記角度測定用撮像手段の撮像面における集光位置に基づいて前記測定対象物の傾きを測定するとともに、前記測定された測定対象物の傾き及び前記位置測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて前記測定対象物の位置を測定する測定手段と、を備えている構成としたところに特徴を有する。
請求項2の発明は、測定対象物に光を照射し、その反射光に基づいて測定対象物の傾き及び距離を測定する光学測定装置であって、
光を出射する投光手段と、
前記投光手段からの光を平行光にするコリメータレンズと、
前記コリメータレンズからの平行光が当該平行光の照射領域内に収まる大きさの測定対象物上に照射されることにより前記測定対象物上で正反射した光を、前記投光手段とは異なる位置に向かう角度測定用正反射光と位置測定用正反射光とに分岐させる分岐手段と、
距離測定に用いる光を出射する距離測定用投光手段と、
前記距離測定用投光手段からの光が前記測定対象物に照射されることにより前記測定対象物で正反射した距離測定用正反射光及び前記分岐手段により分岐された角度測定用正反射光を収束する収束レンズと、
前記収束レンズにより収束された前記角度測定用正反射光を撮像面に集光させる角度測定用撮像手段と、
前記収束レンズにより収束された前記距離測定用正反射光を撮像面に集光させる距離測定用撮像手段と、
前記分岐手段により分岐された位置測定用正反射光を前記収束レンズを介さずに撮像面に照射させる位置測定用撮像手段と、
前記角度測定用撮像手段の撮像面における集光位置に基づいて前記測定対象物の傾きを測定するとともに、前記測定された測定対象物の傾き及び前記距離測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて前記測定対象物までの距離を測定する一方、前記測定された測定対象物の傾き及び前記位置測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて前記測定対象物の位置を測定する測定手段と、を備えている構成としたところに特徴を有する。
光を出射する投光手段と、
前記投光手段からの光を平行光にするコリメータレンズと、
前記コリメータレンズからの平行光が当該平行光の照射領域内に収まる大きさの測定対象物上に照射されることにより前記測定対象物上で正反射した光を、前記投光手段とは異なる位置に向かう角度測定用正反射光と位置測定用正反射光とに分岐させる分岐手段と、
距離測定に用いる光を出射する距離測定用投光手段と、
前記距離測定用投光手段からの光が前記測定対象物に照射されることにより前記測定対象物で正反射した距離測定用正反射光及び前記分岐手段により分岐された角度測定用正反射光を収束する収束レンズと、
前記収束レンズにより収束された前記角度測定用正反射光を撮像面に集光させる角度測定用撮像手段と、
前記収束レンズにより収束された前記距離測定用正反射光を撮像面に集光させる距離測定用撮像手段と、
前記分岐手段により分岐された位置測定用正反射光を前記収束レンズを介さずに撮像面に照射させる位置測定用撮像手段と、
前記角度測定用撮像手段の撮像面における集光位置に基づいて前記測定対象物の傾きを測定するとともに、前記測定された測定対象物の傾き及び前記距離測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて前記測定対象物までの距離を測定する一方、前記測定された測定対象物の傾き及び前記位置測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて前記測定対象物の位置を測定する測定手段と、を備えている構成としたところに特徴を有する。
請求項3の発明は、請求項2に記載のものにおいて、前記距離測定用撮像手段と前記位置測定用撮像手段とは、その撮像面を共通とする構成とされており、
前記測定手段は、前記投光手段の投光時には、前記共通の撮像面における照射位置に基づいて前記測定対象物の位置を測定する一方、前記距離測定用投光手段の投光時には、前記共通の撮像面における照射位置に基づいて前記測定対象物の距離を測定するところに特徴を有する。
前記測定手段は、前記投光手段の投光時には、前記共通の撮像面における照射位置に基づいて前記測定対象物の位置を測定する一方、前記距離測定用投光手段の投光時には、前記共通の撮像面における照射位置に基づいて前記測定対象物の距離を測定するところに特徴を有する。
請求項4の発明は、請求項1ないし請求項3のいずれかに記載のものにおいて、前記角度測定用撮像手段と前記位置測定用撮像手段とは、その撮像面を共通とする構成とされており、
前記角度測定用正反射光は、第1の光路により前記収束レンズを介して前記共通の撮像面に集光されるとともに、前記位置測定用正反射光は、第2の光路により前記収束レンズを介さずに前記共通の撮像面に照射される一方、前記投光手段により投光された光を前記第1の光路と前記第2の光路とに切替える切替手段を備え、
前記測定手段は、前記切替手段により前記第1の光路に切替えられたときには、前記測定対象物の傾きを測定する一方、前記切替手段により前記第2の光路に切替えられたときには、前記測定対象物の位置を測定するところに特徴を有する。
前記角度測定用正反射光は、第1の光路により前記収束レンズを介して前記共通の撮像面に集光されるとともに、前記位置測定用正反射光は、第2の光路により前記収束レンズを介さずに前記共通の撮像面に照射される一方、前記投光手段により投光された光を前記第1の光路と前記第2の光路とに切替える切替手段を備え、
前記測定手段は、前記切替手段により前記第1の光路に切替えられたときには、前記測定対象物の傾きを測定する一方、前記切替手段により前記第2の光路に切替えられたときには、前記測定対象物の位置を測定するところに特徴を有する。
請求項5の発明は、光源と、その光源からの光を収束して外部に出射させる光ピックアップレンズとを備えた光ピックアップ装置において当該光ピックアップレンズに光を照射し、その反射光に基づいて前記光ピックアップレンズの傾きを測定する光学測定装置と、この光学測定装置による測定結果に基づいて前記光ピックアップレンズの傾きを調整する機能と、を備えた光ピックアップ装置の光ピックアップレンズ調整装置であって、
前記光ピックアップレンズの傾きを調整可能な傾角可変機構を駆動させる駆動手段と、
前記光ピックアップ装置を固定する調整ステージと、
前記調整ステージを移動させるステージ駆動手段と、
前記駆動手段及び前記ステージ駆動手段を駆動させることにより、前記光ピックアップレンズを所望の傾き及び位置に調整する制御手段とを備え、
前記光学測定装置は、
光を出射する投光手段と、
前記投光手段からの光を平行光にするコリメータレンズと、
前記コリメータレンズからの平行光が、この平行光の照射領域内に収まる大きさの前記光ピックアップレンズ上に照射されることにより当該光ピックアップレンズ上で正反射した光を、前記投光手段とは異なる位置に向かう角度測定用正反射光と位置測定用正反射光とに分岐させる分岐手段と、
前記分岐手段により分岐された角度測定用正反射光を収束する収束レンズと、
前記収束レンズにより収束された前記角度測定用正反射光を撮像面に集光させる角度測定用撮像手段と、
前記位置測定用正反射光を前記収束レンズを介さずに撮像面に照射させる位置測定用撮像手段と、
前記角度測定用撮像手段の撮像面における集光位置に基づいて前記光ピックアップレンズの傾きを測定するとともに、前記測定された光ピックアップレンズの傾き及び前記位置測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて前記光ピックアップレンズの位置を測定する測定手段とを備え、
前記測定手段による測定結果に基づいて、前記制御手段により前記光ピックアップレンズを正規の傾き及び位置に調整する構成としたところに特徴を有する。
前記光ピックアップレンズの傾きを調整可能な傾角可変機構を駆動させる駆動手段と、
前記光ピックアップ装置を固定する調整ステージと、
前記調整ステージを移動させるステージ駆動手段と、
前記駆動手段及び前記ステージ駆動手段を駆動させることにより、前記光ピックアップレンズを所望の傾き及び位置に調整する制御手段とを備え、
前記光学測定装置は、
光を出射する投光手段と、
前記投光手段からの光を平行光にするコリメータレンズと、
前記コリメータレンズからの平行光が、この平行光の照射領域内に収まる大きさの前記光ピックアップレンズ上に照射されることにより当該光ピックアップレンズ上で正反射した光を、前記投光手段とは異なる位置に向かう角度測定用正反射光と位置測定用正反射光とに分岐させる分岐手段と、
前記分岐手段により分岐された角度測定用正反射光を収束する収束レンズと、
前記収束レンズにより収束された前記角度測定用正反射光を撮像面に集光させる角度測定用撮像手段と、
前記位置測定用正反射光を前記収束レンズを介さずに撮像面に照射させる位置測定用撮像手段と、
前記角度測定用撮像手段の撮像面における集光位置に基づいて前記光ピックアップレンズの傾きを測定するとともに、前記測定された光ピックアップレンズの傾き及び前記位置測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて前記光ピックアップレンズの位置を測定する測定手段とを備え、
前記測定手段による測定結果に基づいて、前記制御手段により前記光ピックアップレンズを正規の傾き及び位置に調整する構成としたところに特徴を有する。
請求項6の発明は、光源と、その光源からの光を収束して外部に出射させる光ピックアップレンズとを備えた光ピックアップ装置の当該光ピックアップレンズに光を照射し、その反射光に基づいて前記光ピックアップレンズの傾き及び距離を測定する光学測定装置と、この光学測定装置による測定結果に基づいて前記光ピックアップレンズの傾きを調整する機能と、を備えた光ピックアップ装置の光ピックアップレンズ調整装置であって、
前記光ピックアップレンズの傾きを調整可能な傾角可変機構を駆動させる駆動手段と、
前記光ピックアップ装置を固定する調整ステージと、
前記調整ステージを移動させるステージ駆動手段と、
前記駆動手段及び前記ステージ駆動手段を駆動させることにより、前記光ピックアップレンズを所望の傾き及び位置に調整する制御手段とを備え、
前記光学測定装置は、
光を出射する投光手段と、
前記投光手段からの光を平行光にするコリメータレンズと、
前記コリメータレンズからの平行光が当該平行光の照射領域内に収まる大きさの前記光ピックアップレンズ上に照射されることにより前記光ピックアップレンズ上で正反射した光を、前記投光手段とは異なる位置に向かう角度測定用正反射光と位置測定用正反射光とに分岐させる分岐手段と、
距離測定に用いる光を出射する距離測定用投光手段と、
前記距離測定用投光手段からの光が前記光ピックアップレンズに照射されることにより前記光ピックアップレンズで正反射した距離測定用正反射光及び前記分岐手段により分岐された角度測定用正反射光を収束する収束レンズと、
前記収束レンズにより収束された前記角度測定用正反射光を撮像面に集光させる角度測定用撮像手段と、
前記収束レンズにより収束された前記距離測定用正反射光を撮像面に集光させる距離測定用撮像手段と、
前記分岐手段により分岐された位置測定用正反射光を前記収束レンズを介さずに撮像面に照射させる位置測定用撮像手段と、
前記角度測定用撮像手段の撮像面における集光位置に基づいて前記光ピックアップレンズの傾きを測定するとともに、前記測定された光ピックアップレンズの傾き及び前記距離測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて前記光ピックアップレンズまでの距離を測定する一方、前記測定された光ピックアップレンズの傾き及び前記位置測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて前記光ピックアップレンズの位置を測定する測定手段とを備え、
前記測定手段による測定結果に基づいて、前記制御手段により前記光ピックアップレンズを正規の傾き及び位置に調整する構成としたところに特徴を有する。
前記光ピックアップレンズの傾きを調整可能な傾角可変機構を駆動させる駆動手段と、
前記光ピックアップ装置を固定する調整ステージと、
前記調整ステージを移動させるステージ駆動手段と、
前記駆動手段及び前記ステージ駆動手段を駆動させることにより、前記光ピックアップレンズを所望の傾き及び位置に調整する制御手段とを備え、
前記光学測定装置は、
光を出射する投光手段と、
前記投光手段からの光を平行光にするコリメータレンズと、
前記コリメータレンズからの平行光が当該平行光の照射領域内に収まる大きさの前記光ピックアップレンズ上に照射されることにより前記光ピックアップレンズ上で正反射した光を、前記投光手段とは異なる位置に向かう角度測定用正反射光と位置測定用正反射光とに分岐させる分岐手段と、
距離測定に用いる光を出射する距離測定用投光手段と、
前記距離測定用投光手段からの光が前記光ピックアップレンズに照射されることにより前記光ピックアップレンズで正反射した距離測定用正反射光及び前記分岐手段により分岐された角度測定用正反射光を収束する収束レンズと、
前記収束レンズにより収束された前記角度測定用正反射光を撮像面に集光させる角度測定用撮像手段と、
前記収束レンズにより収束された前記距離測定用正反射光を撮像面に集光させる距離測定用撮像手段と、
前記分岐手段により分岐された位置測定用正反射光を前記収束レンズを介さずに撮像面に照射させる位置測定用撮像手段と、
前記角度測定用撮像手段の撮像面における集光位置に基づいて前記光ピックアップレンズの傾きを測定するとともに、前記測定された光ピックアップレンズの傾き及び前記距離測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて前記光ピックアップレンズまでの距離を測定する一方、前記測定された光ピックアップレンズの傾き及び前記位置測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて前記光ピックアップレンズの位置を測定する測定手段とを備え、
前記測定手段による測定結果に基づいて、前記制御手段により前記光ピックアップレンズを正規の傾き及び位置に調整する構成としたところに特徴を有する。
請求項7の発明は、請求項6に記載のものにおいて、前記光学測定装置における前記距離測定用撮像手段と前記位置測定用撮像手段とは、その撮像面を共通とする構成とされており、
前記測定手段は、前記投光手段の投光時には、前記共通の撮像面における照射位置に基づいて前記光ピックアップレンズの位置を測定する一方、前記距離測定用投光手段の投光時には、前記共通の撮像面における照射位置に基づいて前記光ピックアップレンズの位置を測定するところに特徴を有する。
前記測定手段は、前記投光手段の投光時には、前記共通の撮像面における照射位置に基づいて前記光ピックアップレンズの位置を測定する一方、前記距離測定用投光手段の投光時には、前記共通の撮像面における照射位置に基づいて前記光ピックアップレンズの位置を測定するところに特徴を有する。
請求項8の発明は、請求項5ないし請求項7のいずれかに記載のものにおいて、前記光学測定装置における前記角度測定用撮像手段と前記位置測定用撮像手段とは、その撮像面を共通とする構成とされており、
前記角度測定用正反射光は、第1の光路により前記収束レンズを介して前記共通の撮像面に集光されるとともに、前記位置測定用正反射光は、第2の光路により前記収束レンズを介さずに前記共通の撮像面に照射される一方、前記投光手段により投光された光を前記第1の光路と前記第2の光路とに切替える切替手段を備え、
前記測定手段は、前記切替手段により前記第1の光路に切替えられたときには、前記光ピックアップレンズの傾きを測定する一方、前記切替手段により前記第2の光路に切替えられたときには、前記光ピックアップレンズの位置を測定するところに特徴を有する。
前記角度測定用正反射光は、第1の光路により前記収束レンズを介して前記共通の撮像面に集光されるとともに、前記位置測定用正反射光は、第2の光路により前記収束レンズを介さずに前記共通の撮像面に照射される一方、前記投光手段により投光された光を前記第1の光路と前記第2の光路とに切替える切替手段を備え、
前記測定手段は、前記切替手段により前記第1の光路に切替えられたときには、前記光ピックアップレンズの傾きを測定する一方、前記切替手段により前記第2の光路に切替えられたときには、前記光ピックアップレンズの位置を測定するところに特徴を有する。
<請求項1の発明及び請求項5の発明>
本構成によれば、投光手段から出射された光がコリメータレンズにより平行光とされた後に当該平行光の照射領域内に収まる大きさの測定対象物(光ピックアップレンズ)上に導かれる。
そして、測定対象物(光ピックアップレンズ)で正反射した光のうち、分岐手段で分岐した角度測定用正反射光が収束レンズにより収束されて角度測定用撮像手段の撮像面に集光されるから、この集光位置に基づいて測定対象物(光ピックアップレンズ)の傾きを測定することができる。
また、測定対象物(光ピックアップレンズ)で正反射した光のうち、分岐手段で分岐された位置測定用正反射光は、収束レンズを介さずに位置測定用撮像手段の撮像面に照射されるから、この照射位置及び測定対象物(光ピックアップレンズ)の傾きに基づいて測定対象物(光ピックアップレンズ)の位置を測定することができる。
したがって、共通の投光手段から投光された光により、測定対象物(光ピックアップレンズ)の傾きと位置とを測定することができるから、位置測定用の投光手段を別に設ける必要がなく、光学測定装置(光ピックアップレンズ調整装置)の大型化を防止することができる。
本構成によれば、投光手段から出射された光がコリメータレンズにより平行光とされた後に当該平行光の照射領域内に収まる大きさの測定対象物(光ピックアップレンズ)上に導かれる。
そして、測定対象物(光ピックアップレンズ)で正反射した光のうち、分岐手段で分岐した角度測定用正反射光が収束レンズにより収束されて角度測定用撮像手段の撮像面に集光されるから、この集光位置に基づいて測定対象物(光ピックアップレンズ)の傾きを測定することができる。
また、測定対象物(光ピックアップレンズ)で正反射した光のうち、分岐手段で分岐された位置測定用正反射光は、収束レンズを介さずに位置測定用撮像手段の撮像面に照射されるから、この照射位置及び測定対象物(光ピックアップレンズ)の傾きに基づいて測定対象物(光ピックアップレンズ)の位置を測定することができる。
したがって、共通の投光手段から投光された光により、測定対象物(光ピックアップレンズ)の傾きと位置とを測定することができるから、位置測定用の投光手段を別に設ける必要がなく、光学測定装置(光ピックアップレンズ調整装置)の大型化を防止することができる。
<請求項2の発明及び請求項6の発明>
本構成によれば、請求項1及び請求項5の構成に加えて、距離測定用投光手段により出射された光は、測定対象物(光ピックアップレンズ)上に照射されるとともに、測定対象物(光ピックアップレンズ)にて反射した距離測定用正反射光が収束レンズにより収束されて距離測定用撮像手段の撮像面に集光される。
そして、測定手段により、角度測定用撮像手段の撮像面における集光位置に基づいて測定対象物(光ピックアップレンズ)の傾きを測定するとともに、測定された測定対象物(光ピックアップレンズ)の傾き及び距離測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて測定対象物(光ピックアップレンズ)までの距離を測定する一方、測定された測定対象物(光ピックアップレンズ)の傾き及び位置測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて測定対象物(光ピックアップレンズ)の位置を測定するから、より正確に測定対象物(光ピックアップレンズ)までの距離及び測定対象物(光ピックアップレンズ)の位置を測定することができる。
したがって、共通の投光手段から投光された光により、測定対象物(光ピックアップレンズ)の傾きと位置とを測定することができるから、位置測定用の投光手段を別に設ける必要がなく、光学測定装置(光ピックアップレンズ調整装置)の大型化を防止できる。 また、測定対象物(光ピックアップレンズ)の傾きと距離とに基づいて測定対象物(光ピックアップレンズ)の距離を測定するから、正確に測定対象物(光ピックアップレンズ)の距離を測定することができる。
本構成によれば、請求項1及び請求項5の構成に加えて、距離測定用投光手段により出射された光は、測定対象物(光ピックアップレンズ)上に照射されるとともに、測定対象物(光ピックアップレンズ)にて反射した距離測定用正反射光が収束レンズにより収束されて距離測定用撮像手段の撮像面に集光される。
そして、測定手段により、角度測定用撮像手段の撮像面における集光位置に基づいて測定対象物(光ピックアップレンズ)の傾きを測定するとともに、測定された測定対象物(光ピックアップレンズ)の傾き及び距離測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて測定対象物(光ピックアップレンズ)までの距離を測定する一方、測定された測定対象物(光ピックアップレンズ)の傾き及び位置測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて測定対象物(光ピックアップレンズ)の位置を測定するから、より正確に測定対象物(光ピックアップレンズ)までの距離及び測定対象物(光ピックアップレンズ)の位置を測定することができる。
したがって、共通の投光手段から投光された光により、測定対象物(光ピックアップレンズ)の傾きと位置とを測定することができるから、位置測定用の投光手段を別に設ける必要がなく、光学測定装置(光ピックアップレンズ調整装置)の大型化を防止できる。 また、測定対象物(光ピックアップレンズ)の傾きと距離とに基づいて測定対象物(光ピックアップレンズ)の距離を測定するから、正確に測定対象物(光ピックアップレンズ)の距離を測定することができる。
<請求項3の発明及び請求項7の発明>
本構成によれば、距離測定用撮像手段と位置測定用撮像手段とは、その撮像面を共通とする構成とされているから、部品点数を削減し、光学測定装置(光ピックアップレンズ調整装置)を小型化することができる。
本構成によれば、距離測定用撮像手段と位置測定用撮像手段とは、その撮像面を共通とする構成とされているから、部品点数を削減し、光学測定装置(光ピックアップレンズ調整装置)を小型化することができる。
<請求項4の発明及び請求項8の発明>
本構成によれば、角度測定用撮像手段と位置測定用撮像手段とは、その撮像面を共通とする構成とされており、切替手段により、第1の光路に切替えたときには、共通の撮像面に角度測定用正反射光が集光されて、測定対象物(光ピックアップレンズ)の傾きが測定されるとともに、第2の光路に切替えたときには、共通の撮像面に位置測定用正反射光が照射されて、測定対象物(光ピックアップレンズ)の位置が測定される。
本構成によれば、角度測定用撮像手段と位置測定用撮像手段とは、その撮像面を共通とする構成とされており、切替手段により、第1の光路に切替えたときには、共通の撮像面に角度測定用正反射光が集光されて、測定対象物(光ピックアップレンズ)の傾きが測定されるとともに、第2の光路に切替えたときには、共通の撮像面に位置測定用正反射光が照射されて、測定対象物(光ピックアップレンズ)の位置が測定される。
したがって、角度測定用撮像手段と位置測定用撮像手段のそれぞれについて、撮像面を構成する必要がないから、部品点数を削減し、光学測定装置(光ピックアップレンズ調整装置)を小型化することができる。
<実施形態1>
本発明に係る光ピックアップレンズ調整装置の実施形態1を図1を参照して説明する。
本実施形態の光ピックアップレンズ調整装置10は、CD(Compact Disk)やDVD(Digital Versatile Disk)等に搭載されている光ピックアップ装置20の対物レンズとしての光ピックアップレンズ(以下、「レンズW」という)の傾き及び位置の調整が可能となっている。なお、図1において、図面横方向をX軸、図面と直交する方向をY軸、図面上下方向をZ軸と定める。
本発明に係る光ピックアップレンズ調整装置の実施形態1を図1を参照して説明する。
本実施形態の光ピックアップレンズ調整装置10は、CD(Compact Disk)やDVD(Digital Versatile Disk)等に搭載されている光ピックアップ装置20の対物レンズとしての光ピックアップレンズ(以下、「レンズW」という)の傾き及び位置の調整が可能となっている。なお、図1において、図面横方向をX軸、図面と直交する方向をY軸、図面上下方向をZ軸と定める。
1.光ピックアップ装置の構成
光ピックアップ装置20は、図1に示すように、投受光素子11(本発明の「光源」に相当)と、1/4波長板12と、反射ミラー13と、コリメートレンズ14と、レンズWと、このレンズWの支持角度を変更可能な支持部材15とを備えて構成されており、この光ピックアップ装置20の全体は水平な調整ステージ31上に固定された状態とされている。
光ピックアップ装置20は、図1に示すように、投受光素子11(本発明の「光源」に相当)と、1/4波長板12と、反射ミラー13と、コリメートレンズ14と、レンズWと、このレンズWの支持角度を変更可能な支持部材15とを備えて構成されており、この光ピックアップ装置20の全体は水平な調整ステージ31上に固定された状態とされている。
そして、投受光素子11から出射された光は1/4波長板12、反射ミラー13を介して、コリメートレンズ14を透過することで平行光に変えられ、その後レンズWにより収束されて外部に出射されるよう構成されている。
支持部材15(本発明の「レンズ傾角可変機構」に相当)は、例えばこの対角位置に設けられた2本の螺子(図示せず)のうち、一方を回すことでθX方向(X軸を中心にレンズWを回動させる方向)に回動し、他方を回すことでθY方向(Y軸を中心にレンズWを回動させる方向)に回動するようになっており、この支持部材15の回動に伴なってレンズWの傾きも変更される。なお、これらの螺子は後述する光ピックアップレンズ調整装置10のドライバ駆動手段32の駆動により回動するようになっている。
2.光ピックアップレンズ調整装置の構成
光ピックアップレンズ調整装置10は、レンズWの傾き及び位置を測定する光学測定装置21と、この光学測定装置21による測定結果に基づいてレンズWの傾き及び位置を調整するレンズ調整部26とからなる。
光ピックアップレンズ調整装置10は、レンズWの傾き及び位置を測定する光学測定装置21と、この光学測定装置21による測定結果に基づいてレンズWの傾き及び位置を調整するレンズ調整部26とからなる。
(1)光学測定装置
光学測定装置21は、図1に示すように、レーザ光源22(本発明の「投光手段」に相当)の前方にコリメータレンズ23とビームスプリッタ24が配されており、CPU35からの投光信号Saを受けてレーザ光源22から出射された光はコリメータレンズ23により平行光とされ、この平行光がビームスプリッタ24でほぼ直角に反射してレンズWに照射されるようになっている。なお、この平行光の光幅(照射領域)はレンズWよりも大きい幅(照射領域)とされており、レンズWの全体が平行光の照射領域内に収まるようになっている。
光学測定装置21は、図1に示すように、レーザ光源22(本発明の「投光手段」に相当)の前方にコリメータレンズ23とビームスプリッタ24が配されており、CPU35からの投光信号Saを受けてレーザ光源22から出射された光はコリメータレンズ23により平行光とされ、この平行光がビームスプリッタ24でほぼ直角に反射してレンズWに照射されるようになっている。なお、この平行光の光幅(照射領域)はレンズWよりも大きい幅(照射領域)とされており、レンズWの全体が平行光の照射領域内に収まるようになっている。
そして、レンズWで正反射した光は、ビームスプリッタ24にて、このビームスプリッタ24を透過する角度測定用正反射光L1と、このビームスプリッタ24にてレーザ光源22側に反射する位置測定用正反射光L2とに分岐する(ビームスプリッタ24が本発明の「分岐手段」に相当)。
角度測定用正反射光L1は、収束レンズ25にて収束された後、例えば2次元CCDからなる角度測定用撮像手段27の撮像面27Aに集光される。そして、この集光位置に応じたディジタル信号列からなる撮像信号ScがCPU35に出力される。
位置測定用正反射光L2は、ビームスプリッタ24とコリメータレンズ23との間に配されたハーフミラー36によりほぼ直角に反射した後に、同じく2次元CCDからなる位置測定用撮像手段28の撮像面28Aに平行光のままで照射される。そして、この照射位置に応じたディジタル信号列からなる撮像信号SdがCPU35に出力される。
CPU35(本発明の「測定手段」に相当)は、撮像信号Sc,Sdを受信すると以下に示す「傾き測定」,「位置測定」の処理を行う。
「傾き測定」
本実施形態では周知のオートコリメーション法を用いて傾き測定を行なう構成とされており、ここでは、詳細な説明は割愛する。まず、CPU35は、角度測定用撮像手段27からの撮像信号Scより、最大の受光量を有する画素を集光スポット位置と決定し、撮像面27Aにおける基準位置(レンズWに傾きがないとするときの撮像面27Aにおける集光スポット位置。例えば、撮像面27Aの中央位置)と集光位置との距離及び方向からレンズWの傾きを算出する。
「傾き測定」
本実施形態では周知のオートコリメーション法を用いて傾き測定を行なう構成とされており、ここでは、詳細な説明は割愛する。まず、CPU35は、角度測定用撮像手段27からの撮像信号Scより、最大の受光量を有する画素を集光スポット位置と決定し、撮像面27Aにおける基準位置(レンズWに傾きがないとするときの撮像面27Aにおける集光スポット位置。例えば、撮像面27Aの中央位置)と集光位置との距離及び方向からレンズWの傾きを算出する。
「位置測定」
位置測定では、まずCPU35は、上記の傾き測定によりレンズWの傾きを測定する。そして、位置測定用撮像手段28からの撮像信号Sdより、レンズWで反射した位置測定用正反射光L2の撮像面28Aにおける照射位置(撮像面28A上にレンズWの形(写像)とほぼ同じ(相似)形が照射される領域)を求めるとともに、この照射位置から求められるレンズWの位置に傾き測定で算出された傾きに応じて補正を行ない、XY方向におけるレンズWの実際の位置を測定する。これによりレンズWの傾きにより撮像面28Aにおける照射位置が変わっても、傾きに応じて位置が補正されるから正確にレンズWの位置を測定することができる。
位置測定では、まずCPU35は、上記の傾き測定によりレンズWの傾きを測定する。そして、位置測定用撮像手段28からの撮像信号Sdより、レンズWで反射した位置測定用正反射光L2の撮像面28Aにおける照射位置(撮像面28A上にレンズWの形(写像)とほぼ同じ(相似)形が照射される領域)を求めるとともに、この照射位置から求められるレンズWの位置に傾き測定で算出された傾きに応じて補正を行ない、XY方向におけるレンズWの実際の位置を測定する。これによりレンズWの傾きにより撮像面28Aにおける照射位置が変わっても、傾きに応じて位置が補正されるから正確にレンズWの位置を測定することができる。
(2)レンズ調整部
レンズ調整部26は、ドライバ駆動手段32(本発明の「駆動手段」に相当)と調整ステージ31とステージ駆動手段33とCPU35とを備えて構成されている。
ドライバ駆動手段32は、支持部材15に設けられた2本の螺子を回動可能とされており、CPU35から駆動信号を受信すると2本の螺子を回動させることにより、レンズWの傾き(θX,θY方向)を変更する。
レンズ調整部26は、ドライバ駆動手段32(本発明の「駆動手段」に相当)と調整ステージ31とステージ駆動手段33とCPU35とを備えて構成されている。
ドライバ駆動手段32は、支持部材15に設けられた2本の螺子を回動可能とされており、CPU35から駆動信号を受信すると2本の螺子を回動させることにより、レンズWの傾き(θX,θY方向)を変更する。
調整ステージ31上には光ピックアップ装置20が固定されている。また、調整ステージ31にはサーボ機構(図示せず)が備え付けられており、後述するステージ駆動手段33からサーボ駆動信号を受けるとXY平面を2次元的に移動するようになっており、これに伴なって光ピックアップ装置20もXY平面上を移動することによりXY平面上でのレンズWの位置(X,Y方向)を変更できるようになっている。
ステージ駆動手段33は、CPU35から駆動信号を受信すると調整ステージ31のサーボ機構(図示せず)を駆動するようになっている。
CPU35は、上記したように光学測定装置21により測定したレンズWの傾きを予め設定されている基準となる傾き(水平)と比較し、これらの傾きが異なる場合には、ドライバ駆動手段32を駆動させることによりレンズWの傾きが基準位置(水平)となるように調整される。
また、CPU35は、光学測定装置21により測定したレンズWの位置を予め設定されている基準位置(レンズWの中心が光の光軸中心と等しくなる位置)と比較し、これらの位置が異なる場合には、ステージ駆動手段33を駆動させてレンズWの傾きが基準位置となるように調整ステージ31の位置を調整する。なお、CPU35が本発明の「制御手段」に相当する。
3.本実施形態の効果
本構成によれば、レーザ光源22から出射された光がコリメータレンズ23により平行光とされた後に当該平行光の照射領域内に収まる大きさのレンズW上に導かれる。
本構成によれば、レーザ光源22から出射された光がコリメータレンズ23により平行光とされた後に当該平行光の照射領域内に収まる大きさのレンズW上に導かれる。
そして、レンズWで正反射した光のうち、ビームスプリッタ24で分岐した角度測定用正反射光L1が収束レンズ25により収束されて角度測定用撮像手段27の撮像面27Aに集光されるから、この集光位置に基づいてレンズWの傾きを測定することができる。
また、レンズWで正反射した光のうち、ビームスプリッタ24で分岐された位置測定用正反射光L2は、収束レンズ25を介さずに位置測定用撮像手段28の撮像面28Aに照射されるから、この照射位置及びレンズWの傾きに基づいてレンズWの位置を測定することができる。
したがって、共通の投光手段から投光された光により、レンズWの傾きと位置とを調整(測定)することができるから、位置測定用の投光手段を別に設ける必要がなく、光ピックアップレンズ調整装置10(光学測定装置21)の大型化を防止することができる。
<実施形態2>
実施形態2について図2を参照して説明する。
実施形態2は、実施形態1の光学測定装置21にレンズWの距離(Z軸方向の位置)を測定するための構成が付加されたものである。以下、同一の構成に付いては同一の符号を付して説明を省略し、異なる構成を説明する。
実施形態2について図2を参照して説明する。
実施形態2は、実施形態1の光学測定装置21にレンズWの距離(Z軸方向の位置)を測定するための構成が付加されたものである。以下、同一の構成に付いては同一の符号を付して説明を省略し、異なる構成を説明する。
符号41は距離測定用レーザ光源であって、CPU35からの投光信号Sbに基づいて距離測定用レーザ光L3が投光される。
距離測定用レーザ光源41から出射された距離測定用レーザ光L3は、コリメータレンズ42(収束レンズ)により平行光(若干の収束光も含む)とされ、この平行光がミラー43、ビームスプリッタ24にて反射した後、レンズWの表面に斜めから入光するようになっている。
レンズWの表面における距離測定用レーザ光L3の正反射光である距離測定用正反射光L3’は、ビームスプリッタ24を透過したのち収束レンズ25によって収束されつつ、ビームスプリッタ46、ハーフミラー44で反射した後に、位置測定用撮像手段28と共通の撮像面28Aに集光されるようになっている。すなわち、位置測定用撮像手段28は距離測定用撮像手段29を兼ねる構成となっている。
<CPUの処理>
CPU35は、タイミングをずらして投光信号Sa,Sbを送信し、レーザ光源22と距離測定用レーザ光源41とに投光タイミングをずらして投光させる(例えば、交互に投光させる)。これにより、レーザ光源22の投光タイミングに同期して角度測定用正反射光L1及び位置測定用正反射光L2による撮像信号Sc,Sdが角度測定用撮像手段27及び位置測定用撮像手段28からCPU35に入力されるから、CPU35は撮像信号Sc,Sdに基づいてレンズWの傾き及び位置を測定する。
また、CPU35には、距離測定用レーザ光源41の投光タイミングに同期して距離測定用撮像手段29から距離測定用正反射光L3’による撮像信号Seが入力されるから、以下に示す距離測定を行うことができる。
なお、本実施形態では、レーザ光源22と距離測定用レーザ光源41とから出射される光の波長は同一波長であるが、レーザ光源22と距離測定用レーザ光源41とから異なる波長の光が出射されるように構成してもよい。
CPU35は、タイミングをずらして投光信号Sa,Sbを送信し、レーザ光源22と距離測定用レーザ光源41とに投光タイミングをずらして投光させる(例えば、交互に投光させる)。これにより、レーザ光源22の投光タイミングに同期して角度測定用正反射光L1及び位置測定用正反射光L2による撮像信号Sc,Sdが角度測定用撮像手段27及び位置測定用撮像手段28からCPU35に入力されるから、CPU35は撮像信号Sc,Sdに基づいてレンズWの傾き及び位置を測定する。
また、CPU35には、距離測定用レーザ光源41の投光タイミングに同期して距離測定用撮像手段29から距離測定用正反射光L3’による撮像信号Seが入力されるから、以下に示す距離測定を行うことができる。
なお、本実施形態では、レーザ光源22と距離測定用レーザ光源41とから出射される光の波長は同一波長であるが、レーザ光源22と距離測定用レーザ光源41とから異なる波長の光が出射されるように構成してもよい。
「距離測定」
距離測定では、実施形態1と同様の傾き測定により、レンズWの傾きを測定する。そして、距離測定用撮像手段29からの撮像信号Seに基づいて例えば最大の受光量とされている画素を光像として代表する。そして、傾き測定で算出された傾きに基づいて補正を行ない、光像の位置と基準位置との距離及び方向からレンズWの距離を算出する。
距離測定では、実施形態1と同様の傾き測定により、レンズWの傾きを測定する。そして、距離測定用撮像手段29からの撮像信号Seに基づいて例えば最大の受光量とされている画素を光像として代表する。そして、傾き測定で算出された傾きに基づいて補正を行ない、光像の位置と基準位置との距離及び方向からレンズWの距離を算出する。
本実施形態によれば、レンズWの傾きと距離とに基づいてレンズWの距離を測定するから、正確にレンズWの距離を測定することができる。また、距離測定用撮像手段と位置測定用撮像手段28とは、その撮像面28Aを共通とする構成とされているから、部品点数を削減し、光ピックアップレンズ調整装置10(光学測定装置21)を小型化することができる。
<実施形態3>
実施形態3は、図3に示すように、実施形態1の光学測定装置21における角度測定用撮像手段27と位置測定用撮像手段28の撮像面27Aを共通とし、位置測定用正反射光L2を2枚のハーフミラー51,52に反射させて共通の撮像面27Aに導く構成としたものである。
具体的には、位置測定用正反射光L2の光路上にハーフミラー51を配し、位置測定用正反射光L2を反射させるとともに、角度測定用正反射光L1の光路(本発明の「第1の光路」に相当)上に至る箇所(但し、収束レンズ25よりも撮像面27A側)にハーフミラー52を配し、再び位置測定用正反射光L2を反射させることとした(この位置測定用正反射光L2の光路が本発明の「第2の光路」に相当)。なお、ハーフミラー51の代わりに全反射ミラーを用いる構成としてもよい。
実施形態3は、図3に示すように、実施形態1の光学測定装置21における角度測定用撮像手段27と位置測定用撮像手段28の撮像面27Aを共通とし、位置測定用正反射光L2を2枚のハーフミラー51,52に反射させて共通の撮像面27Aに導く構成としたものである。
具体的には、位置測定用正反射光L2の光路上にハーフミラー51を配し、位置測定用正反射光L2を反射させるとともに、角度測定用正反射光L1の光路(本発明の「第1の光路」に相当)上に至る箇所(但し、収束レンズ25よりも撮像面27A側)にハーフミラー52を配し、再び位置測定用正反射光L2を反射させることとした(この位置測定用正反射光L2の光路が本発明の「第2の光路」に相当)。なお、ハーフミラー51の代わりに全反射ミラーを用いる構成としてもよい。
また、ビームスプリッタ24とコリメータレンズ23との間に角度測定用正反射光L1の通過を遮る遮光板53を駆動装置(図示しない)により挿脱可能に設けるとともに、ハーフミラー36の一端を回動装置(図示しない)により回動可能とし、この回動により平行光の光路上からハーフミラー36を離脱可能に構成した(遮光板53の駆動装置とハーフミラー36の回動装置とが本発明の「切替手段」に相当)。
そして、遮光板53の駆動装置及びハーフミラー36の回動装置は、CPU35の駆動信号により駆動されるようになっている。
そして、遮光板53の駆動装置及びハーフミラー36の回動装置は、CPU35の駆動信号により駆動されるようになっている。
以下、レンズWの傾き及び位置のそれぞれの測定時におけるCPU35の処理について説明する。
(1)レンズの傾き測定
レンズWの傾き測定時には、CPU35は、ハーフミラー36の回動装置を駆動させ、ハーフミラー36を位置測定用正反射光L2の光路上から離脱した位置(図3の2点鎖線の位置)まで回動させるとともに、遮光板53の駆動装置を駆動させ、遮光板53を角度測定用正反射光L1の光路外へ脱着(離脱)させる(2点鎖線の位置)。
(1)レンズの傾き測定
レンズWの傾き測定時には、CPU35は、ハーフミラー36の回動装置を駆動させ、ハーフミラー36を位置測定用正反射光L2の光路上から離脱した位置(図3の2点鎖線の位置)まで回動させるとともに、遮光板53の駆動装置を駆動させ、遮光板53を角度測定用正反射光L1の光路外へ脱着(離脱)させる(2点鎖線の位置)。
これにより共通の撮像面27Aには、角度測定用正反射光L1のみが集光されて、位置測定用正反射光L2は撮像面27Aに照射されないから、CPU35は、撮像面27Aの集光位置に基づいてレンズWの傾き測定を行うことができる。
(2)レンズの位置測定
レンズWの位置測定時には、CPU35は、ハーフミラー36の回動装置を駆動させ、ハーフミラー36を位置測定用正反射光L2の光路上を遮る位置(図3の実線の位置)まで回動させるとともに、遮光板53の駆動装置を駆動させ、遮光板53を角度測定用正反射光L1の光路上を遮る位置(実線の位置)に挿着させる。
レンズWの位置測定時には、CPU35は、ハーフミラー36の回動装置を駆動させ、ハーフミラー36を位置測定用正反射光L2の光路上を遮る位置(図3の実線の位置)まで回動させるとともに、遮光板53の駆動装置を駆動させ、遮光板53を角度測定用正反射光L1の光路上を遮る位置(実線の位置)に挿着させる。
これにより、これにより共通の撮像面27Aには、位置測定用正反射光L2のみが照射されて、角度測定用正反射光L1は撮像面27Aに集光されないから、CPU35は、撮像面27Aの照射位置に基づいてレンズWの位置測定を行うことができる。
本実施形態によれば、角度測定用撮像手段27と位置測定用撮像手段28とは、その撮像面27Aを共通とする構成とされており、ハーフミラー36の回動装置及び遮光板53の駆動装置により、第1の光路に切替えたときには、共通の撮像面27Aに角度測定用正反射光L1が集光されて、レンズWの傾きが測定されるとともに、第2の光路に切替えたときには、共通の撮像面27Aに位置測定用正反射光L2が照射されて、レンズWの位置が測定される。
したがって、角度測定用撮像手段27と位置測定用撮像手段28のそれぞれについて、撮像面を構成する必要がないから、部品点数を削減し、光ピックアップレンズ調整装置10(光学測定装置21)を小型化することができる。
<実施形態4>
実施形態4は、図4に示すように、実施形態1の光学測定装置21におけるレーザ光源22とコリメータレンズ23の間に中心軸を等しくする発散レンズ61とスリット板62を設けたものであり、レーザ光源22から出射された光は発散レンズ61により発散光とされ、この発散光の一部がスリット板62の光通過孔Aを通過してコリメータレンズ23により平行光とされる。
実施形態4は、図4に示すように、実施形態1の光学測定装置21におけるレーザ光源22とコリメータレンズ23の間に中心軸を等しくする発散レンズ61とスリット板62を設けたものであり、レーザ光源22から出射された光は発散レンズ61により発散光とされ、この発散光の一部がスリット板62の光通過孔Aを通過してコリメータレンズ23により平行光とされる。
このような構成とすることにより、レーザ光源22からの光は、光軸付近の光(光束中心部分の光)がスリット板62の光通過孔Aを通過してコリメータレンズ23へ入射され、それ以外の光はスリット板62で遮断されてコリメータレンズ23へ入射しない。これにより、光軸部分の光(光束中心部分に光)以外の光がコリメータレンズ23に入射されることにより生じる平行光の光強度分布の偏りをできる。
<実施形態5>
実施形態5は、図5に示すように、実施形態1の光学測定装置21におけるレーザ光源22とコリメータレンズ23の間に中心軸を等しくする集光レンズ71、ホログラフィックディフューザー72及びスリット板73を設け、レーザ光源22からの光を一旦集光レンズ71にて収束させ、その収束光をホログラフィックディフューザー72の入射面に入射させ、ホログラフィックディフューザー72を通過して拡散した光がスリット板73を通過した後コリメータレンズ23により平行光とされるようになっている。
実施形態5は、図5に示すように、実施形態1の光学測定装置21におけるレーザ光源22とコリメータレンズ23の間に中心軸を等しくする集光レンズ71、ホログラフィックディフューザー72及びスリット板73を設け、レーザ光源22からの光を一旦集光レンズ71にて収束させ、その収束光をホログラフィックディフューザー72の入射面に入射させ、ホログラフィックディフューザー72を通過して拡散した光がスリット板73を通過した後コリメータレンズ23により平行光とされるようになっている。
ここで、集光レンズ71とホログラフィックディフューザー72との離間距離は集光レンズ71の焦点距離と同一距離に設定されており、ホログラフィックディフューザー72とスリット板73との離間距離は、このホログラフィックディフューザー72のホログラムパターンによって決定される拡散角度に基づいて設定されている。換言すると、拡散角度が増大するほど離間距離が小さくなり、逆に拡散角度が減少するほど離間距離が大きく設定されることとなる。
なお、レーザ光源22からの光を一旦集光レンズ71にて収束させ、その収束光をホログラフィックディフューザー72の入射面に入射させる構成としたのは、次のような理由による。
仮に、レーザ光源22からの光を直接にホログラフィックディフューザー72へ入射させた場合、その入射面からみた仮想的な光源は面光源をなす。従って、複数の点光源が存在し、これら点光源からの発散光がそれぞれ拡散されることとなるから、光束を構成する各光線の進行方向が無秩序的となって、コリメータレンズ23で平行光に変換することができなくなる。
仮に、レーザ光源22からの光を直接にホログラフィックディフューザー72へ入射させた場合、その入射面からみた仮想的な光源は面光源をなす。従って、複数の点光源が存在し、これら点光源からの発散光がそれぞれ拡散されることとなるから、光束を構成する各光線の進行方向が無秩序的となって、コリメータレンズ23で平行光に変換することができなくなる。
このような事情により、集光レンズ71にて投光素子からの光をホログラフィックディフューザー72の入射面に集光させ、入射面において仮想的に形成される光源を点光源としているのである。
ホログラフィックディフューザー72(ホログラフィック光学素子あるいはホログラム光拡散体ともいう)は、例えばシート状に形成されたポリカーボネイトを基板として、この基板の表面(入出射面)に形成された無数の溝によりホログラムパターンが構成されている。
このホログラムパターンは拡散角度を決定付けており、ホログラムパターンの異なる複数のディフューザーの中から所望の拡散角度に合致したものを適宜選択することができる。
<他の実施形態>
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれ、さらに、下記以外にも要旨を逸脱しない範囲内で種々変更して実施することができる。
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれ、さらに、下記以外にも要旨を逸脱しない範囲内で種々変更して実施することができる。
(1)上記実施形態では、レンズWからの正反射光のうちビームスプリッタ24を透過した光を角度測定用正反射光L1し、ビームスプリッタ24を反射した光を位置測定用正反射光L2したが、これとは反対に、ビームスプリッタ24を透過した光を位置測定用正反射光L2し、ビームスプリッタ24を反射した光を角度測定用正反射光L1としてもよい。なお、このようにした場合にも、角度測定用正反射光L1を収束レンズ25により収束させ、位置測定用正反射光L2は収束レンズ25と通さない。
(2)上記実施形態では、レーザ光源22からの光は、ビームスプリッタ24で反射させてレンズWに照射したが、レンズWをレーザ光源22とビームスプリッタ24との同軸上に配し、ビームスプリッタ24を透過させた光をレンズWに照射し、その正反射光を分岐手段により分岐させるようにしてもよい。また、ビームスプリッタ24を透過させた光をレンズWに照射し、その正反射光を一旦投光手段とは異なる方向に全反射した後に分岐手段により位置測定用正反射光L2と角度測定用正反射光L1に分岐する構成としてもよい。
(3)上記実施形態では、レンズWの位置等の測定及び、その測定結果に基づいてレンズWの位置等の調整を行うこととしたが、位置等の測定や調整を行う対象物としては、レンズWに限らず、他の(測定)対象物であってもよい。
(4)実施形態3では、位置測定の際には、角度測定用正反射光L1を遮光板53により遮光したが、要するに、位置測定の際に角度測定用正反射光L1が撮像面27Aに照射されない構成であればこれに限られない。例えば、ハーフミラー52を全反射ミラー52’に代えるとともに、この全反射ミラー52’を回動可能に構成(図3の2点鎖線部分)し、位置測定の際には、全反射ミラー52’を光路上に配する(図3のハーフミラー52と同じ位置)ことで角度測定用正反射光L1を遮光するようにしてもよい。この場合、角度測定の際には、全反射ミラー52’を回動させて光路上から離脱(図3の2点鎖線の位置)させることで、位置測定用正反射光L2が撮像面27Aに照射されないようにすればよい。なお、全反射ミラー52’は両面が反射するミラーが用いられているが、全反射ミラー52’の代わりにワークW側の面は反射しない(遮光される)ミラーを用いてもよい。
(5)実施形態3では、ハーフミラー36を回動可能に構成したが、ハーフミラー36を回動不能とし、固定(図3の実線の位置)した構成であってもよい。
(6)上記実施形態では、位置測定用正反射光L2を平行光のまま撮像面に照射させる構成としたが、位置測定用正反射光L2を倍率変換レンズ(収束レンズ)を通した後に撮像面に照射させる構成としてもよい。このとき、撮像面の位置は、倍率変換レンズ(収束レンズ)の焦点位置でなければよく、倍率変換レンズ(収束レンズ)の焦点位置の手前でも後方でもよい。
10…光ピックアップレンズ調整装置
20…光ピックアップ装置
21…光学測定装置
22…レーザ光源(投光手段)
23…コリメータレンズ
24…ビームスプリッタ(分岐手段)
25…収束レンズ
27…角度測定用撮像手段
28…位置測定用撮像手段
27A, 28A…撮像面
29…距離測定用撮像手段
31…調整ステージ
32…ドライバ駆動手段(駆動手段)
33…ステージ駆動手段
36…ハーフミラー
41…距離測定用レーザ光源(距離測定用投光手段)
53…遮光板
35…CPU (測定手段,制御手段)
L1…角度測定用正反射光
L2…位置測定用正反射光
L3…距離測定用レーザ光
L3’…距離測定用正反射光
W…光ピックアップレンズ
20…光ピックアップ装置
21…光学測定装置
22…レーザ光源(投光手段)
23…コリメータレンズ
24…ビームスプリッタ(分岐手段)
25…収束レンズ
27…角度測定用撮像手段
28…位置測定用撮像手段
27A, 28A…撮像面
29…距離測定用撮像手段
31…調整ステージ
32…ドライバ駆動手段(駆動手段)
33…ステージ駆動手段
36…ハーフミラー
41…距離測定用レーザ光源(距離測定用投光手段)
53…遮光板
35…CPU (測定手段,制御手段)
L1…角度測定用正反射光
L2…位置測定用正反射光
L3…距離測定用レーザ光
L3’…距離測定用正反射光
W…光ピックアップレンズ
Claims (8)
- 測定対象物に光を照射し、その反射光に基づいて測定対象物の傾きを測定する光学測定装置であって、
光を出射する投光手段と、
前記投光手段からの光を平行光にするコリメータレンズと、
前記コリメータレンズからの平行光が、この平行光の照射領域内に収まる大きさの測定対象物上に照射されることにより当該測定対象物上で正反射した光を、前記投光手段とは異なる位置に向かう角度測定用正反射光と位置測定用正反射光とに分岐させる分岐手段と、
前記分岐手段により分岐された角度測定用正反射光を収束させる収束レンズと、
前記収束レンズにより収束された前記角度測定用正反射光を撮像面に集光させる角度測定用撮像手段と、
前記位置測定用正反射光を前記収束レンズを介さずに撮像面に照射させる位置測定用撮像手段と、
前記角度測定用撮像手段の撮像面における集光位置に基づいて前記測定対象物の傾きを測定するとともに、前記測定された測定対象物の傾き及び前記位置測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて前記測定対象物の位置を測定する測定手段と、を備えていることを特徴とする光学測定装置。 - 測定対象物に光を照射し、その反射光に基づいて測定対象物の傾き及び距離を測定する光学測定装置であって、
光を出射する投光手段と、
前記投光手段からの光を平行光にするコリメータレンズと、
前記コリメータレンズからの平行光が当該平行光の照射領域内に収まる大きさの測定対象物上に照射されることにより前記測定対象物上で正反射した光を、前記投光手段とは異なる位置に向かう角度測定用正反射光と位置測定用正反射光とに分岐させる分岐手段と、
距離測定に用いる光を出射する距離測定用投光手段と、
前記距離測定用投光手段からの光が前記測定対象物に照射されることにより前記測定対象物で正反射した距離測定用正反射光及び前記分岐手段により分岐された角度測定用正反射光を収束する収束レンズと、
前記収束レンズにより収束された前記角度測定用正反射光を撮像面に集光させる角度測定用撮像手段と、
前記収束レンズにより収束された前記距離測定用正反射光を撮像面に集光させる距離測定用撮像手段と、
前記分岐手段により分岐された位置測定用正反射光を前記収束レンズを介さずに撮像面に照射させる位置測定用撮像手段と、
前記角度測定用撮像手段の撮像面における集光位置に基づいて前記測定対象物の傾きを測定するとともに、前記測定された測定対象物の傾き及び前記距離測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて前記測定対象物までの距離を測定する一方、前記測定された測定対象物の傾き及び前記位置測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて前記測定対象物の位置を測定する測定手段と、を備えていることを特徴とする光学測定装置。 - 前記距離測定用撮像手段と前記位置測定用撮像手段とは、その撮像面を共通とする構成とされており、
前記測定手段は、前記投光手段の投光時には、前記共通の撮像面における照射位置に基づいて前記測定対象物の位置を測定する一方、前記距離測定用投光手段の投光時には、前記共通の撮像面における照射位置に基づいて前記測定対象物の距離を測定することを特徴とする請求項2に記載の光学測定装置。 - 前記角度測定用撮像手段と前記位置測定用撮像手段とは、その撮像面を共通とする構成とされており、
前記角度測定用正反射光は、第1の光路により前記収束レンズを介して前記共通の撮像面に集光されるとともに、前記位置測定用正反射光は、第2の光路により前記収束レンズを介さずに前記共通の撮像面に照射される一方、前記投光手段により投光された光を前記第1の光路と前記第2の光路とに切替える切替手段を備え、
前記測定手段は、前記切替手段により前記第1の光路に切替えられたときには、前記測定対象物の傾きを測定する一方、前記切替手段により前記第2の光路に切替えられたときには、前記測定対象物の位置を測定することを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の光学測定装置。 - 光源と、その光源からの光を収束して外部に出射させる光ピックアップレンズとを備えた光ピックアップ装置において当該光ピックアップレンズに光を照射し、その反射光に基づいて前記光ピックアップレンズの傾きを測定する光学測定装置と、この光学測定装置による測定結果に基づいて前記光ピックアップレンズの傾きを調整する機能と、を備えた光ピックアップ装置の光ピックアップレンズ調整装置であって、
前記光ピックアップレンズの傾きを調整可能な傾角可変機構を駆動させる駆動手段と、
前記光ピックアップ装置を固定する調整ステージと、
前記調整ステージを移動させるステージ駆動手段と、
前記駆動手段及び前記ステージ駆動手段を駆動させることにより、前記光ピックアップレンズを所望の傾き及び位置に調整する制御手段とを備え、
前記光学測定装置は、
光を出射する投光手段と、
前記投光手段からの光を平行光にするコリメータレンズと、
前記コリメータレンズからの平行光が、この平行光の照射領域内に収まる大きさの前記光ピックアップレンズ上に照射されることにより当該光ピックアップレンズ上で正反射した光を、前記投光手段とは異なる位置に向かう角度測定用正反射光と位置測定用正反射光とに分岐させる分岐手段と、
前記分岐手段により分岐された角度測定用正反射光を収束する収束レンズと、
前記収束レンズにより収束された前記角度測定用正反射光を撮像面に集光させる角度測定用撮像手段と、
前記位置測定用正反射光を前記収束レンズを介さずに撮像面に照射させる位置測定用撮像手段と、
前記角度測定用撮像手段の撮像面における集光位置に基づいて前記光ピックアップレンズの傾きを測定するとともに、前記測定された光ピックアップレンズの傾き及び前記位置測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて前記光ピックアップレンズの位置を測定する測定手段とを備え、
前記測定手段による測定結果に基づいて、前記制御手段により前記光ピックアップレンズを正規の傾き及び位置に調整することを特徴とする光ピックアップ装置の光ピックアップレンズ調整装置。 - 光源と、その光源からの光を収束して外部に出射させる光ピックアップレンズとを備えた光ピックアップ装置の当該光ピックアップレンズに光を照射し、その反射光に基づいて前記光ピックアップレンズの傾き及び距離を測定する光学測定装置と、この光学測定装置による測定結果に基づいて前記光ピックアップレンズの傾きを調整する機能と、を備えた光ピックアップ装置の光ピックアップレンズ調整装置であって、
前記光ピックアップレンズの傾きを調整可能な傾角可変機構を駆動させる駆動手段と、
前記光ピックアップ装置を固定する調整ステージと、
前記調整ステージを移動させるステージ駆動手段と、
前記駆動手段及び前記ステージ駆動手段を駆動させることにより、前記光ピックアップレンズを所望の傾き及び位置に調整する制御手段とを備え、
前記光学測定装置は、
光を出射する投光手段と、
前記投光手段からの光を平行光にするコリメータレンズと、
前記コリメータレンズからの平行光が当該平行光の照射領域内に収まる大きさの前記光ピックアップレンズ上に照射されることにより前記光ピックアップレンズ上で正反射した光を、前記投光手段とは異なる位置に向かう角度測定用正反射光と位置測定用正反射光とに分岐させる分岐手段と、
距離測定に用いる光を出射する距離測定用投光手段と、
前記距離測定用投光手段からの光が前記光ピックアップレンズに照射されることにより前記光ピックアップレンズで正反射した距離測定用正反射光及び前記分岐手段により分岐された角度測定用正反射光を収束する収束レンズと、
前記収束レンズにより収束された前記角度測定用正反射光を撮像面に集光させる角度測定用撮像手段と、
前記収束レンズにより収束された前記距離測定用正反射光を撮像面に集光させる距離測定用撮像手段と、
前記分岐手段により分岐された位置測定用正反射光を前記収束レンズを介さずに撮像面に照射させる位置測定用撮像手段と、
前記角度測定用撮像手段の撮像面における集光位置に基づいて前記光ピックアップレンズの傾きを測定するとともに、前記測定された光ピックアップレンズの傾き及び前記距離測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて前記光ピックアップレンズまでの距離を測定する一方、前記測定された光ピックアップレンズの傾き及び前記位置測定用撮像手段の撮像面における照射位置に基づいて前記光ピックアップレンズの位置を測定する測定手段とを備え、
前記測定手段による測定結果に基づいて、前記制御手段により前記光ピックアップレンズを正規の傾き及び位置に調整することを特徴とする光ピックアップ装置の光ピックアップレンズ調整装置。 - 前記光学測定装置における前記距離測定用撮像手段と前記位置測定用撮像手段とは、その撮像面を共通とする構成とされており、
前記測定手段は、前記投光手段の投光時には、前記共通の撮像面における照射位置に基づいて前記光ピックアップレンズの位置を測定する一方、前記距離測定用投光手段の投光時には、前記共通の撮像面における照射位置に基づいて前記光ピックアップレンズの位置を測定することを特徴とする請求項6に記載の光ピックアップ装置の光ピックアップレンズ調整装置。 - 前記光学測定装置における前記角度測定用撮像手段と前記位置測定用撮像手段とは、その撮像面を共通とする構成とされており、
前記角度測定用正反射光は、第1の光路により前記収束レンズを介して前記共通の撮像面に集光されるとともに、前記位置測定用正反射光は、第2の光路により前記収束レンズを介さずに前記共通の撮像面に照射される一方、前記投光手段により投光された光を前記第1の光路と前記第2の光路とに切替える切替手段を備え、
前記測定手段は、前記切替手段により前記第1の光路に切替えられたときには、前記光ピックアップレンズの傾きを測定する一方、前記切替手段により前記第2の光路に切替えられたときには、前記光ピックアップレンズの位置を測定することを特徴とする請求項5ないし請求項7のいずれかに記載の光ピックアップ装置の光ピックアップレンズ調整装置。
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---|---|---|---|
JP2004184164A JP2006010347A (ja) | 2004-06-22 | 2004-06-22 | 光学測定装置及び光ピックアップレンズ調整装置 |
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JP2004184164A JP2006010347A (ja) | 2004-06-22 | 2004-06-22 | 光学測定装置及び光ピックアップレンズ調整装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009068942A (ja) * | 2007-09-12 | 2009-04-02 | Ricoh Co Ltd | ダハミラー測定装置 |
JP2011033436A (ja) * | 2009-07-31 | 2011-02-17 | Katsura Opto Systems:Kk | チルトセンサ |
CN106197262A (zh) * | 2015-05-29 | 2016-12-07 | 宝山钢铁股份有限公司 | 一种矩形工件位置和角度测量方法 |
-
2004
- 2004-06-22 JP JP2004184164A patent/JP2006010347A/ja active Pending
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JP2009068942A (ja) * | 2007-09-12 | 2009-04-02 | Ricoh Co Ltd | ダハミラー測定装置 |
JP2011033436A (ja) * | 2009-07-31 | 2011-02-17 | Katsura Opto Systems:Kk | チルトセンサ |
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CN106197262B (zh) * | 2015-05-29 | 2019-02-05 | 宝山钢铁股份有限公司 | 一种矩形工件位置和角度测量方法 |
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