JPH11218686A - 光学像記録装置及びそれを利用する方法 - Google Patents

光学像記録装置及びそれを利用する方法

Info

Publication number
JPH11218686A
JPH11218686A JP10300707A JP30070798A JPH11218686A JP H11218686 A JPH11218686 A JP H11218686A JP 10300707 A JP10300707 A JP 10300707A JP 30070798 A JP30070798 A JP 30070798A JP H11218686 A JPH11218686 A JP H11218686A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
image recording
optical
light
detector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10300707A
Other languages
English (en)
Inventor
Hans-Juergen Dr Mair
ハンス−ユルゲン・マイアー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss SMT GmbH
Carl Zeiss AG
Original Assignee
Carl Zeiss SMT GmbH
Carl Zeiss AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss SMT GmbH, Carl Zeiss AG filed Critical Carl Zeiss SMT GmbH
Publication of JPH11218686A publication Critical patent/JPH11218686A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/24Base structure
    • G02B21/241Devices for focusing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 焦点ずれを生じない焦点検出のための光学記
録装置を提供する。 【解決手段】 照明ラスタ発生器が第1の焦点面に多数
の隔離した光の点を同時に形成し、第1の焦点面の光の
点を複数の光学要素により三次元物体上の第2の焦点面
に結像させ、光の点の像を複数の光学要素により複数の
検出器素子を有する第1の検出器装置に結像させる、三
次元物体の光学像記録装置に関する。本発明によれば、
照明ラスタ発生器の光路に、第1の焦点面の少なくとも
2段階の位置切替えを行うことができる調整手段が配設
されている。本発明による方法は、三次元物体の光学像
記録装置において鮮鋭に結像された領域を検出するため
に利用される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、照明ラスタ発生器
が第1の焦点面で多数の隔離した光の点を同時に形成
し、第1の焦点面の光の点を複数の光学要素により三次
元物体上の第2の焦点面に結像させ、光の点の像を複数
の光学要素により複数の検出器素子を有する第1の検出
器装置に結像させる三次元物体の光学像記録装置、並び
にこの光学像記録装置と組合わせて有利に使用できる像
記録方法に関する。
【0002】
【従来の技術】多くの焦点センサ光学系は、焦点信号を
発生するために2つの異なるチャネルの反射エネルギー
を互いに比較する効果を利用する。これには、一方のチ
ャネルにおける強度の変動が焦点の見かけのずれを生じ
させ、光学系の望ましくない反応を招くという欠点があ
る。周知の光学系における制御回路は多くの場合に純粋
にアナログ方式で動作するため、非常に障害を受けやす
い。焦点光学系は唯一つの平面しか実質的に鮮鋭に結像
できないが、多くの観察物体は、像視野の場所が異なれ
ば、異なる状態で焦点合わせされなければならないであ
ろう。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、焦点
のずれを生じない、特に焦点検出のための光学像記録装
置を提供することである。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明による二次元物体
の光学像記録装置は、第1の焦点面に多数の隔離した光
の点を同時に形成する照明ラスタ発生器を有する。第1
の焦点面でのそれらの光の点は複数の光学要素により三
次元物体上の第2の焦点面に結像され、光の点の像は複
数の光学要素により複数の検出器素子を有する第1の検
出器装置に結像される。本発明によれば、光学像記録装
置は、照明ラスタ発生器の光路内に、第1の焦点面を少
なくとも2つの軸の方向に傾斜(位置変化)させること
ができる調整手段を有する。
【0005】照明ラスタ発生器は、複数のレンズの二次
元構造から構成されているのが好ましい。単色光は光路
から容易に偏向させることができるので、照明ラスタ発
生器の光源の光は単色光であると有利である。調整手段
を照明ラスタ発生器に装着することにより、小さな傾斜
角を実現するだけで良いようにするのが好ましい。調整
手段は、円に沿って少なくともほぼ等しい間隔をおいて
配列された3つの調整要素から構成されているのが好ま
しい。これにより、所望の傾斜方向と傾斜の大きさをそ
れぞれ調整できる。
【0006】調整要素は短い経路をたどるだけで良いの
で、特にピエゾ調整器の適用が特に勧められる。第1の
検出器装置が1つの面で二次元的に検出すると、走査過
程を実行しなくてすむので、迅速な評価が得られる。第
1の検出器装置としてCCDアレイセンサを使用する
と、迅速にデータを獲得できる。照明光路に、光点ラス
タを照明光路に入射させる入射手段を配置すべきであろ
う。これにより、焦点センサをコンパクトに構成でき
る。同様に、照明光路に、光点ラスタの像を第2の検出
器装置に結像する偏向手段(焦点合わせ構造にのみ使
用)を配置すべきであろう。検出器装置により発生され
る信号を迅速に処理するためには、出力信号を評価する
ために2つの検出器装置の少なくとも一方を評価手段と
接続すると有利である。
【0007】像記録のために、像記録装置でさらに広帯
域照明を行うのが好ましいであろう。広帯域照明と光点
ラスタは同一の照明光路を利用し、その結果、装置の寸
法を小さく保持できるのが好ましい。対物レンズ又は物
体に作用するZ運動手段は、三次元物体の鮮鋭な像の迅
速な記録を可能にする。この場合、調整要素は同時に物
体に対するレンズプレートの調整のためにZ運動を実行
できるべきであろう。物体が半導体チップの製造に利用
されるウェハである場合、本発明による光学像記録装置
を適用することができると特に有利である。
【0008】三次元物体の光学像記録装置の鮮鋭に結像
された領域を検出するための本発明による方法は、像記
録装置内で、第1の焦点面に多数の隔離した光の点を同
時に形成する照明ラスタ発生器を使用する。第1の焦点
面のそれらの光の点は複数の光学要素により三次元物体
上の第2の焦点面に結像され、光の点の像は複数の光学
要素により複数の検出器素子を有する第1の検出器装置
に結像され、且つ物体の像は第2の検出器装置により記
録される。
【0009】本発明によれば、2つの検出器装置の像の
相関関係を得る。そこで、物体の像記録と焦点位置の検
出を同時に行うことができる。光点ラスタは像の鮮鋭領
域を確定するのが好ましい。第1の位置において、1)
光の点により記録すべき像の部分領域の選択を行い、
2)次に、光点ラスタを遮断し、その後、部分像の記録
を行い、次に、3)少なくとも物体を第1の位置から別
の位置へ移動させ、位置が変化するたびに、1)から
3)の過程を繰り返すのが好ましい。さらに、第1の焦
点面において光の点の位置を傾斜させることにより、物
体深度の検出を実行し、第1の焦点面で光の点の位置を
まっすぐにした後に本来の像記録を行うのが好ましい。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、添付の図面を参照して実施
形態に基づいて本発明をさらに詳細に説明する。以下に
示す実施形態は本発明を限定する性質のものではなく、
本発明の有利な他の構成を含む。
【0011】本実施形態は、本発明を顕微鏡の焦点セン
サとして使用しており、最小限の光学要素から構成され
ている。これらの光学要素は、焦点測定のために個々の
部分像のそれぞれ異なる強さではなく、位置を利用する
ように使用される。この場合、焦点センサ光学系には、
顕微鏡自体の光路における結像に使用される波長とは異
なる波長を使用する。
【0012】図示した焦点センサは、焦点センサ又は検
出器の光源としてレーザー1を有する。レーザー1から
平行に射出した光束2は、図示した実施形態では2つの
正レンズ4,5から成り、それらのレンズの間に発散フ
ィルタとしての穴絞り6が配設されているビーム横断面
拡大手段3により、所望の照射面8、この場合には半導
体素子を製造するためのウェハ7の全面を照射できるよ
うに拡張される。
【0013】この拡張された光束10は、その後、45
°の角度で配置されたミラー9(本発明の別の実施形態
においては異なる角度であっても良い)により、円形レ
ンズアレイ11へ方向を変える。拡張光束10に対する
レンズアレイ11の角度位置は、レンズアレイ11に装
着された(周囲に少なくとも2つの互いに対向するよう
に配置されるか、又は周囲に配置される3つの)ピエゾ
調整器(12a,12b)により調整自在である。ミラ
ー9でビームを偏向するため、装置の構造はコンパクト
になる。
【0014】このマイクロレンズアレイ11の焦点面1
3は、光学系14,15により、アレイ11の焦点13
の像を観察すべき物体7に結像するように、顕微鏡の観
察光路16内へ入射される。このために、レンズアレイ
11(マイクロレンズプレート)は、入射した光束10
を多数の互いに独立した細い光束17a〜fに分割す
る。すなわち、このレンズアレイは光点ラスタを発生さ
せる照明ラスタ発生器を構成している。これらの細い光
束17a〜fは、全ての光束17a〜fに対して1つの
平面13に位置する個別の焦点を有する。この平面13
には、多数の光束17a〜fの各々に対し1つの開口を
有する別の穴絞り板18が配置されている(通常の場
合、この穴絞り板18を省略できる)。焦点面13の背
面には、正の屈折力を有するレンズ14が配置されてお
り、このレンズ14を経て光束17a〜fは観察光路1
6にある第1の平坦な板15に共に入射する。この平坦
な板15は、焦点センサ用の光束17a〜fの光の一部
を照射すべき物体7の照射面8へ偏向する被覆膜を有す
る。
【0015】物体7の前方には、正の屈折力を有し、光
束17a〜fを物体7の表面の、照射面8の領域に集束
する対物レンズ19がある。光束17a〜fは物体表面
8上にスポットを形成する。このスポットの大きさは、
装置の光学的構成により確定できる。
【0016】正しく焦点合わせされれば、物体7の表面
は、アレイ11の焦点13を対物レンズ19へ反射する
ミラーのように作用する。その場合、物体表面8から反
射した光は対物レンズ19及び第1の平坦な板15によ
り第2の平坦な板20に入射する。この第2の平坦な板
20は、正の屈折力を有する対物レンズ21へ光を偏向
する。第2の平坦な板20は、ダイクロイック分光ミラ
ーとして構成されており、レーザー光は第2の平坦な板
20により再び分割されて、対物レンズ21のレンズ光
学系を経てCCD検出器22に結像される。すなわち、
この対物レンズ21により、スポットの多数の光束はC
CD検出器22の感光表面へと導かれる。このCCD検
出器22は、CCD検出器22から受信した信号を評価
して測定信号を発生するコンピュータ23と接続してい
る。この測定信号の種類と値は、物体7が顕微鏡の焦点
面にあるか否かを表わす尺度である。物体7が顕微鏡の
焦点面になければ、Z軸に沿って物体7の位置を移動さ
せるか又は顕微鏡の光学系を調整する。従って、CCD
アレイ22上には、物体7に焦点が合っていればアレイ
の焦点の像が現れ、そうでない場合には個々の光のはん
点がぼんやりと現れることになる。
【0017】マイクロレンズプレート11は3つのピエ
ゾ位置調整器12a,12b,(12cは図示せず)に
より容易に傾斜させることができ、それに伴ってレンズ
プレートの焦点面13も傾斜し、焦点面の像は焦点位置
が厳密に一致する光点のみで物体7上に鮮鋭に結像され
る。そこで、CCD検出器22の像の中には鮮鋭な一連
の像点しか見えない。像点の位置は焦点位置を表わす尺
度である。焦点合わせ過程の間、鮮鋭な像点列はCCD
検出器22に沿って移動する。CCD検出器に接続する
コンピュータ23におけるソフトウェアの目的は、像点
の位置から焦点位置を計算し、焦点調整器を制御するこ
とである。マイクロレンズアレイ11の傾斜角を自在に
設定できるので、光学系の感度を様々に異なる倍率に容
易に適合させることができる。
【0018】物体平面8が光軸24に対し垂直ではない
場合、結像は鮮鋭に結像される焦点をマイクロレンズプ
レート11の傾斜方向に対して回転させるものである。
この回転角から傾斜方向と傾斜の大きさを計算すること
ができ、そこで、それぞれ任意の方向にマイクロレンズ
アレイ11の傾斜方向を設定できる。アレイプレート1
1と物体7の双方が互いに平行である場合には、個別の
焦点の列が現れるのではなく、全ての焦点の一様なエリ
アが現れるのみである。センサの利点は、デジタル方式
であることに加えて、焦点と共に物体平面の傾斜を容易
に検出できることである。
【0019】そこで、以下に説明する方法は、焦点検出
用光学系を唯一つの平面で実質的に鮮鋭に結像する問題
を解決し、三次元物体7のあらゆる深さの部分をほぼ同
時に鮮鋭に結像できる像を提供する。しかし、観察すべ
き多くの物体7は像視野8の様々に異なる場所で異なる
高さを有し、従って、像視野8全体で鮮鋭な像を維持し
たいときには物体7の焦点合わせを様々に異なる状態で
行わなければならないので、上記の問題の解決は不可欠
である。顕微鏡に正規に備わっている焦点深度がこの目
的に十分である場合はまれである。
【0020】物体7の広帯域照明25に加えて、レーザ
ー光2により照明される上述のマイクロレンズアレイ1
1の像が物体7(ウェハの表面)上に結像される。この
場合、マイクロレンズアレイ11は、物体7の表面8の
前方の対物レンズ19の焦点平面と厳密に平行に整列さ
れている。物体7の表面8から反射したレーザー光は平
坦な板20によりダイクロイック的に広帯域照明から分
離されて、CCD検出器22へ偏向される。
【0021】広帯域光25の中の物体7の表面8の像も
同様にそれ専用のCCD検出器27に結像されるが、こ
のとき、対物レンズ19は最適の鮮鋭平面に沿った焦点
の移動を絶えず経ている(焦点ディザ)。この目的のた
めに、対物レンズ19の、物体7の表面8の前方に、図
示した実施形態では対物レンズ19の周囲に一様に配列
された3つのピエゾ調整器29a〜cからなる高速調整
手段28が装着されている。ディザ運動の間に像の個々
のある領域は鮮鋭になるが、他の領域は不鮮明になる。
この特性はマイクロレンズアレイ11のレーザー光2
と、物体7の広帯域光25の双方に一様に現れる。CC
D検出器27の前方には、物体7の表面8をCCD検出
器27上に鮮鋭に結像する対物レンズ30が配置されて
いる。
【0022】本発明によれば、広帯域照明25による像
記録に際して焦点センサのデータとCCD検出器27の
データとの相関関係を利用して、ディザ中のそれぞれの
傾斜ごとに鮮鋭に結像された全ての点を3次元物体7の
唯一つの先鋭な像へと組合わせる。このために、ディザ
位置ごとに像情報のみを伝送し、その像情報のアナログ
像視野ゾーンをレーザー光2により鮮鋭に結像されたも
のとして認識する。像記録用のCCD検出器27並びに
焦点検出用のCCD検出器22と接続するコンピュータ
23における評価ソフトウェアは、物体7からの広帯域
光25に関してより、レーザー光2の中の鮮鋭領域に関
してのほうが著しく容易に実現できる。それは、レンズ
アレイ11の鮮鋭な像点の目標形態がわかっているから
である。
【0023】この方法の利点は、多数の広帯域光像の評
価ではなく広帯域光像の直接記録であるために、データ
量が大幅に減少すると共に、像記録に要する時間も大幅
に短縮されるところにある。
【0024】図示した構造は、まず第1に、マイクロレ
ンズアレイ11が容易に傾斜する焦点センサとして利用
される。この形態では、ディザ零位置の発見にも利用す
ることができる。ピエゾ調整器12を使用して鮮鋭平面
と厳密に平行になるように調整されるのであれば、CC
D検出器22を三次元の用途に使用することも可能であ
ろう。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明による装置を示す概略図。
【符号の説明】
1…レーザー、7…物体、11…マイクロレンズアレ
イ、12a,12b…ピエゾ調整器、13…焦点面、1
4…レンズ、15…第1の平坦な板、19…対物レン
ズ、20…第2の平坦な板、21…対物レンズ、22…
CCD検出器、23…コンピュータ、27…CCD検出
器、28a,28b…ピエゾ調整器、30…対物レン
ズ。

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 照明ラスタ発生器が第1の焦点面に、多
    数の隔離した光の点を同時に形成し、第1の焦点面の光
    の点を複数の光学要素により三次元物体上の第2の焦点
    面に結像させ、光の点の像を複数の光学要素により複数
    の検出器素子を有する第1の検出器装置に結像させる三
    次元物体の光学像記録装置において、照明ラスタ発生器
    の光路に、第1の焦点面の少なくとも二段階の位置切替
    えを行うことができる調整手段が配設されていることを
    特徴とする光学像記録装置。
  2. 【請求項2】 照明ラスタ発生器は複数のレンズの二次
    元構造であることを特徴とする請求項1記載の光学像記
    録装置。
  3. 【請求項3】 調整手段は照明ラスタ発生器に配設され
    ていることを特徴とする請求項1又は2記載の光学像記
    録装置。
  4. 【請求項4】 調整手段は、1つの円に沿って少なくと
    もほぼ等しい間隔をおいて配列された3つの調整要素か
    ら構成されていることを特徴とする請求項1から3のい
    ずれか1項に記載の光学像記録装置。
  5. 【請求項5】 第1の検出器装置は二次元であることを
    特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の光学
    像記録装置。
  6. 【請求項6】 照明光路に、光点ラスタの像を第2の検
    出器装置に結像させる偏向手段が配設されていることを
    特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の光学
    像記録装置。
  7. 【請求項7】 少なくとも2つの検出器装置の一方から
    出力信号を評価するために、検出器手段は評価手段と接
    続していることを特徴とする請求項1から6のいずれか
    1項に記載の光学像記録装置。
  8. 【請求項8】 像記録装置に広帯域照明がさらに付属し
    ていることを特徴とする請求項1から7のいずれか1項
    に記載の光学像記録装置。
  9. 【請求項9】 物体に対してレンズプレートを調整する
    ための調整要素はZ運動を行うことができることを特徴
    とする請求項1から8のいずれか1項に記載の光学像記
    録装置。
  10. 【請求項10】 像記録装置で照明ラスタ発生器が第1
    の焦点面に多数の隔離した光の点を同時に形成し、第1
    の焦点面の光の点を複数の光学要素により三次元物体上
    の第2の焦点面に結像させ、光の点の像を複数の光学要
    素により複数の検出器素子を有する第1の検出器装置に
    結像させると共に、物体の像を第2の検出器装置により
    記録する、三次元物体の光学像記録装置の鮮鋭に結像さ
    れた領域を検出する方法において、2つの検出器装置の
    像の相関関係を得ることを特徴とする方法。
  11. 【請求項11】 光点ラスタは像の鮮鋭領域を確定する
    ことを特徴とする請求項10記載の方法。
  12. 【請求項12】 第1の位置において、 1)光の点により像の記録すべき領域の選択を行い、 2)その後に光点ラスタを遮断し、 3)部分像の記録を行い、部分像記録の終了後に少なく
    とも物体の第1の位置から少なくとも別の位置への移動
    を行い、位置切替えのたびに過程1)から3)を繰返す
    ことを特徴とする請求項10記載の方法。
  13. 【請求項13】 第1の焦点面における光の点の位置を
    傾斜させることにより物体深度の検出を行い、次に、第
    1の焦点面で光の点をまっすぐに位置させた後に本来の
    像記録を行うことを特徴とする請求項10記載の方法。
JP10300707A 1997-10-22 1998-10-22 光学像記録装置及びそれを利用する方法 Pending JPH11218686A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19746575.7 1997-10-22
DE19746575A DE19746575A1 (de) 1997-10-22 1997-10-22 Optische Bildaufnahmeeinrichtung und Verfahren zu deren Nutzung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11218686A true JPH11218686A (ja) 1999-08-10

Family

ID=7846241

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10300707A Pending JPH11218686A (ja) 1997-10-22 1998-10-22 光学像記録装置及びそれを利用する方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6088083A (ja)
EP (1) EP0911664A3 (ja)
JP (1) JPH11218686A (ja)
DE (1) DE19746575A1 (ja)
IL (1) IL126571A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007086095A (ja) * 2005-09-16 2007-04-05 Toshiba Corp 表面検査装置

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6480259B1 (en) * 2000-09-28 2002-11-12 Eastman Kodak Company Method and apparatus for printing monochromatic images using a spatial light modulator having a selectable light source
US7256881B2 (en) * 2002-02-15 2007-08-14 Coopervision, Inc. Systems and methods for inspection of ophthalmic lenses
US6967780B2 (en) * 2004-01-21 2005-11-22 Searete Llc Image correction using individual manipulation of microlenses in a microlens array
US7417797B2 (en) * 2003-12-16 2008-08-26 Searete, Llc Image correction using individual manipulation of microlenses in a microlens array
US7742233B2 (en) * 2003-12-16 2010-06-22 The Invention Science Fund I, Llc Image correction using a microlens array as a unit
US7251078B2 (en) * 2004-01-21 2007-07-31 Searete, Llc Image correction using a microlens array as a unit
US7826139B2 (en) 2003-12-16 2010-11-02 The Invention Science Fund I, Llc Image correction using individual manipulation of microlenses in a microlens array
US8643955B2 (en) * 2003-12-16 2014-02-04 The Invention Science Fund I, Llc Image correction using individual manipulation of microlenses in a microlens array
US7231097B2 (en) * 2003-12-16 2007-06-12 Searete, Llc Lens defect correction
WO2005070149A2 (en) * 2004-01-21 2005-08-04 Searete Llc Image correction using a microlens array as a unit
JP5627698B2 (ja) 2009-10-19 2014-11-19 ベンタナ メディカル システムズ, インコーポレイテッド 撮像システムおよび技法
EP2572226A1 (en) * 2010-05-18 2013-03-27 Koninklijke Philips Electronics N.V. Autofocus imaging
EP2390706A1 (en) * 2010-05-27 2011-11-30 Koninklijke Philips Electronics N.V. Autofocus imaging.
JP6074429B2 (ja) * 2011-09-09 2017-02-01 ベンタナ メディカル システムズ, インコーポレイテッド フォーカスおよびイメージングシステムならびにエラー信号を使用する技術
JP6798990B2 (ja) * 2014-08-13 2020-12-09 サマー ガロー ダニエル 線走査、標本走査、多モード共焦点顕微鏡
DE102016115140B4 (de) * 2016-08-16 2022-07-28 Leica Microsystems Cms Gmbh Wechselsystem für ein Mikroskop sowie Mikroskop

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3883689A (en) * 1973-09-04 1975-05-13 Nasa Servo-controlled intravital microscope system
US4629324A (en) * 1983-12-29 1986-12-16 Robotic Vision Systems, Inc. Arrangement for measuring depth based on lens focusing
US4614864A (en) * 1984-05-29 1986-09-30 The Perkin-Elmer Corporation Apparatus for detecting defocus
US4943733A (en) * 1987-05-15 1990-07-24 Nikon Corporation Projection optical apparatus capable of measurement and compensation of distortion affecting reticle/wafer alignment
US4795260A (en) * 1987-05-15 1989-01-03 Therma-Wave, Inc. Apparatus for locating and testing areas of interest on a workpiece
US5323082A (en) * 1989-05-03 1994-06-21 Spectra Physics Lasers, Inc. Piezoelectric actuator for planar alignment
ATE137588T1 (de) * 1990-11-10 1996-05-15 Grosskopf Rudolf Dr Ing Optische abtastvorrichtung mit konfokalem strahlengang, in der lichtquellen- und detektormatrix verwendet werden
DE4133788A1 (de) * 1991-10-11 1993-04-15 Leica Ag Verfahren zur autofokussierung von mikroskopen und autofokussystem fuer mikroskope
US5483079A (en) * 1992-11-24 1996-01-09 Nikon Corporation Apparatus for detecting an in-focus position of a substrate surface having a movable light intercepting member and a thickness detector
JP3211491B2 (ja) * 1993-06-07 2001-09-25 キヤノン株式会社 投影露光装置及びそれを用いた半導体製造方法並びに装置
DE9308486U1 (de) * 1993-06-07 1993-07-15 Carl Zeiss Jena Gmbh, O-6900 Jena Anordnung zur Projektion eines Testmusters auf eine zu untersuchende Oberfläche
JP3368653B2 (ja) * 1994-03-11 2003-01-20 株式会社ニコン 照明方法及び装置、並びに露光方法及び装置
IL111229A (en) * 1994-10-10 1998-06-15 Nova Measuring Instr Ltd Autofocusing microscope
JPH08136961A (ja) * 1994-11-08 1996-05-31 Minolta Co Ltd 手ぶれ補正装置
DE19502472A1 (de) * 1995-01-27 1996-08-01 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren und Vorrichtung zum Aufnehmen eines Objektes
JP3462006B2 (ja) * 1996-05-20 2003-11-05 株式会社ミツトヨ オートフォーカス装置
JPH10223525A (ja) * 1997-02-10 1998-08-21 Nikon Corp 露光装置のフォーカス制御方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007086095A (ja) * 2005-09-16 2007-04-05 Toshiba Corp 表面検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
IL126571A0 (en) 1999-08-17
DE19746575A1 (de) 1999-04-29
EP0911664A3 (de) 2002-03-13
EP0911664A2 (de) 1999-04-28
US6088083A (en) 2000-07-11
IL126571A (en) 2001-08-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6825454B2 (en) Automatic focusing device for an optical appliance
JPH11218686A (ja) 光学像記録装置及びそれを利用する方法
US7598502B2 (en) Confocal laser scanning microscope
JPS61116360A (ja) レ−ザ光線リトグラフ
JP3227106B2 (ja) 内径測定方法および内径測定装置
US4711576A (en) Wave front aberration measuring apparatus
US6556307B1 (en) Method and apparatus for inputting three-dimensional data
JP3081278B2 (ja) 物体の位置と方位を光学的に決定する装置
JP3509088B2 (ja) 3次元形状計測用光学装置
JPS6383931A (ja) 発光素子
JPH1068616A (ja) 形状計測装置
JPS6161178B2 (ja)
JP2002228421A (ja) 走査型レーザ顕微鏡
US6414325B1 (en) Charged particle beam exposure apparatus and exposure method capable of highly accurate exposure in the presence of partial unevenness on the surface of exposed specimen
JPH11173821A (ja) 光学式検査装置
KR20000011676A (ko) 노출된시료의표면상에부분적인불균일이있는경우에도고도로정밀한노출을할수있는대전입자빔노출장치및노출방법
JP3299144B2 (ja) 近接露光に適用される位置検出装置及び位置検出方法
CN110678290A (zh) 用于反射或透射扫描仪射束的扫描头设备和方法、具有扫描头设备的扫描设备和扫描仪
US20220390733A1 (en) Compact microscope auto-focus assembly
JPH1090581A (ja) 対物レンズの傾き調整用光学系
US6824056B1 (en) Auto-focus method for a scanning microscope
JPS61117831A (ja) 焦点合せ装置
KR20190063027A (ko) 라인 스캐닝 방식의 공초점 현미경에서의 자동초점조절 방법 및 장치
JPH11201719A (ja) 位置測定装置及びレーザ加工装置
JP2004317480A (ja) 角度測定装置及び光ピックアップレンズの傾き測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20040819