JP2005537348A - 高効率の画素化高分子エレクトロルミネセンス・デバイス用の高抵抗ポリアニリン・ブレンド - Google Patents

高効率の画素化高分子エレクトロルミネセンス・デバイス用の高抵抗ポリアニリン・ブレンド Download PDF

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Abstract

対イオンとしてポリ(2−アクリルアミド−2−メチル−1−プロパンスルホン酸)(PAAMPSA)を有するポリアニリン(PANI)(PANI/PAAMPSA)、および、PANI/PAAMPSAと比較して、この組成物の電気伝導度を低下させるのに十分な量のポリ(スチレンスルホン酸)(PSS)を含む組成物が提供される。本発明の組成物は、ポリ(アクリルアミド)(PAM)をさらに含むことができる。本発明の組成物は、エレクトロルミネセンス・デバイス(有機発光ダイオード(OLED)など)に使用するための高抵抗バッファ層として有用である。

Description

本発明は、例えば高分子発光ダイオードなどの、画素化したエレクトロルミネセンス・デバイスの製造における導電性有機高分子の使用に関する。
導電性高分子は、元々20年以上前に研究者の関心を引きつけた。従来の導電性材料(例えば金属)と比較して、これらの高分子によって生み出される利益は、主として軽量さ、柔軟性、耐久性、および処理の潜在的容易さなどの因子による。現在までのところ、商業的に最も成功した導電性高分子は、ポリアニリンおよびポリチオフェンであり、それらは、様々な商品名の下で上市されている。
近年、発光型ディスプレイに使用するためのエレクトロルミネセンス(EL)デバイスの開発において、導電性高分子が使用されてきた。導電性高分子を含む有機発光ダイオード(OLED)などのELデバイスは、一般に、以下の形態
アノード/バッファ層/ELポリマー/カソード
を有する。アノードは、通常、例えば、インジウム/酸化スズ(ITO)などの、半導体すなわちELポリマーの普通なら充満しているπ−バンドの中にホールを注入する能力を有する任意の材料である。アノードは、任意選択でガラスまたはプラスチック基板により支持される。ELポリマーは、通常、ポリ(パラフェニレンビニレン)またはポリフルオレンなどの共役半導体高分子である。カソードは、通常、半導体すなわちELポリマーの普通なら空のπ*−バンドの中に電子を注入する能力を有する任意の材料(例えばCaまたはBaなど)である。
バッファ層は、通常導電性高分子であり、アノードからELポリマー層へのホールの注入を容易にする。バッファ層はまた、正孔注入層、正孔輸送層と呼ばれることがあり、あるいは、二層アノードの一部として特徴づけることができる。バッファ層として使用される典型的な導電性高分子は、ポリアニリン(PANI)またはスルホン酸をドープした高分子ジオキシチオフェンの暗緑色染料の塩の形態をしている。最も広く使用されているジオキシチオフェンは、ポリスチレン・スルホン酸をドープしたポリ(3,4−エチレンジオキシチオフェン)であり、PEDT/PSSと略記される。PEDT/PSSは、バイトロン(Baytron)(登録商標)Pとしてバイエル(Bayer)から市販されている。
PANI/PAAMPSAは、通常、PAAMPSAの存在下でアニリンの酸化重合によって水溶液中で調製される(例えば、(非特許文献1)および(非特許文献2)を参照されたい)。(特許文献1)は、PANI分散剤として高分子量PSSを記載している。(特許文献2)は、水溶性のホストポリマーとしてPSSの使用を記載している。
特開平5−262981号明細書 国際公開第20014120号パンフレット 国際公開第01/41230号パンフレット カオ,Y.(Cao,Y.)らのポリマー(Polymer)(30、(1989)2305) アーメス,S.P.(Armes,S.P.)らのジャーナル・オブ・ケミカル・ソサイアティ(J.Chem.Soc.)、ケミカル・コミニュケーション(Chem.Comm.)((1989)88) H.ベッカー(Becker)、H.スプライツェル(Spreitzer)、W.クレデュル(Kreduer)、E.クラッジ(Kluge)、H.シェンク(Schenk)、I.D.パーカー(Parker)、およびY.カオのアドバンスト・マテリアルズ(Adv.Mater.)(12、42(2000))
PANIは、OLEDのある種のタイプのバッファ層として首尾よく使用されてきたが、PANIの典型である低電気抵抗が、画素化したディスプレイにおいてその使用を妨げている。画素化したディスプレイの場合、隣接する画素間の混信をなくす、または最小にするために、PANIによって提供されるものに比べて高い抵抗を有する(すなわち低い電気伝導度)バッファ層が要望されている。画素間の電流漏れは、出力効率をかなり低下させ、ディスプレイの分解能および透明性を制限する。したがって、バッファ層は、電荷移動を容易にするために、ある程度の電気伝導度を有していなければならないが、PANIバッファ層の電気伝導度は、一般に必要なものより高く、したがって、PANIがバッファ層として使用されているディスプレイの分解能および透明性を制限している。したがって、エレクトロルミネセンス・デバイスに使用するための高抵抗PANIバッファ層、および、PANIバッファ層の抵抗を増加させる方法に対するニーズがある。
本発明は、対イオンとしてポリ(2−アクリルアミド−2−メチル−1−プロパンスルホン酸)(PAAMPSA)を有するポリアニリン(PANI)を含む組成物(PANI/PAAMPSA)に、ポリ(スチレンスルホン酸)(PSS)を添加すると、PSSの添加なしのPANI/PAAMPSAと比較して電気伝導度の著しい低下が得られるという発見に基づいている。したがって、本発明の一実施形態では、PANI、PAAMPSA、および、この組成物の電気伝導度を低下させるのに十分な量のポリ(スチレンスルホン酸)(PSS)を含む組成物が提供される。本発明の別の実施形態では、この組成物は、ポリ(アクリルアミド)(PAM)をさらに含む。
さらに他の実施形態では、PANI/PAAMPSAおよびPSSを含む高抵抗のバッファ層、並びに高抵抗フィルムが提供される。
本発明のさらなる実施形態では、低電気伝導度のバッファ層を含む電子デバイスが提供される。本発明のなおさらなる実施形態では、PANI/PAAMPSAおよびPSSを含む高抵抗のバッファ層を含む有機発光ダイオード(OLED)が提供される。
本発明のさらに別の実施形態では、水溶液から基板上にキャストされるPANI/PAAMPSAフィルムの電気伝導度を、この水溶液にPSSの有効量を添加することによって、約1×10−4S/cm未満の値に低下させる方法が提供される。
本発明によれば、ポリアニリン(PANI)、ポリ(2−アクリルアミド−2−メチル−1−プロパンスルホン酸)(PAAMPSA)、および、この組成物の電気伝導度を低下させるのに十分な量のポリ(スチレンスルホン酸)(PSS)を含む組成物が提供される。
一実施形態では、この組成物は、対イオンとしてポリ(2−アクリルアミド−2−メチル−1−プロパンスルホン酸)を有するポリアニリン(PANI/PAAMPSA)、および、この組成物の電気伝導度を低下させるのに十分な量のポリ(スチレンスルホン酸)(PSS)を含む。本発明の組成物は、それぞれの成分の所与の量を水溶液に分散することによって調製される。溶液からキャストされる高分子フィルム中のPANI/PAAMPSA:PSSの重量%比は、水溶性PANI/PAAMPSA溶液の中に分散されたPSSの量を変化させることによって、簡単に制御することができる(重量%(wt%)は、合計溶液の重量パーセントを指す)。本発明の一実施形態では、PANI/PAAMPSA:PSSの重量%比は、約1:0.05から約1:2までの範囲である。さらなる実施形態では、PANI/PAAMPSA:PSSの重量%比は、約1:0.2から約1:1までの範囲である。組成物がPAMを含む本発明の実施形態では、PANI/PAAMPSA:PAMの重量%比は、約1:0.5から約1:2までの範囲である。
本発明の他の実施形態によれば、エレクトロルミネセンス・デバイスに使用するための高抵抗(低電気伝導度)バッファ層が提供され、この場合、このバッファ層は、PANI/PAAMPSA、および、PSSの添加なしのPANI/PAAMPSAバッファ層と比較して、バッファ層の電気伝導度を低下させるのに十分な量のPSSを含む。一実施形態では、この高抵抗バッファ層は、ポリアクリルアミド(PAM)をさらに含む。
電気抵抗は、電気伝導度に反比例する。したがって、本明細書で使用されるように、フレーズ「高抵抗」および「低電気伝導度」は、本明細書で記載するバッファ層に関して互換性があるように使用される。本明細書で使用されるように、フレーズ「高抵抗」および「低電気伝導度」それぞれは、商業的に入手可能なPANI/PAAMPSAの電気伝導度未満、すなわち約5.1×10−4S/cm未満の電気伝導度レベルを示す。抵抗率および電気伝導度の値は、通常、それぞれオーム−センチメートル(ohm−cm)およびセンチメートルあたりのジーメンス(S/cm)を単位にして報告される。本明細書で使用されるように、電気伝導度の値は、抵抗率の値ではなくS/cmの単位を使用して報告される。
PANI/PAAMPSAバッファ層へPSSを組込むことによって、バッファ層の電気伝導度を、3桁以上低下させることができる。本発明の一実施形態では、バッファ層は、約1×10−4S/cm未満の電気伝導度を有する。別の実施形態では、バッファ層は、約1×10−6S/cm未満の電気伝導度を有する。
本発明のバッファ層の電気伝導度は、層厚を薄くせずに、低下させることができる(PANI/PAAMPSAを含むバッファ層は通常、2000オングストロームより厚い厚さを有する)。これは、薄いバッファ層はしばしば電気的短絡を引き起こすので、本発明によって提供される魅力的な利点である。したがって、バッファ層へのPSSの組込みによって、2000オングストロームを超える厚さを有する層について、約10−6S/cmもの低さの電気伝導度が観察される。
本発明のさらに別の実施形態によれば、水溶液から基板の上にキャストされるPANI/PAAMPSA−PAMフィルムの電気伝導度を、約1×10−4S/cm未満の値に低下させる方法が提供され、この方法は、水溶液にPSSの有効量を加える工程を含む。本発明の一実施形態では、フィルムの電気伝導度は、約1×10−6S/cm未満である。
本発明に従って調製されるPSSを含むPANI/PAAMPSA層は、当業者に良く知られている様々な技術を使用して基板の上にキャストすることができる。キャスティングは、通常室温で実行するが、ただし、キャスティングは、当技術分野で知られているように、より高い温度、またはより低い温度でも実行することができる。バッファ層は、通常、水、水と水溶性のアルコールとの混合物、水とテトラヒドロフラン(THF)との混合物、水とジメチルスルホキシド(DMSO)との混合物、水とジメチルホルムアミド(DMF)との混合物、または水と他の水溶解性溶媒との混合物などの、様々な水溶液からキャストされる。
本発明のさらに別の実施形態では、本発明の少なくとも1つのバッファ層を含む電子デバイスが提供され、このバッファ層は、約1×10−4S/cm未満の電気伝導度を有することが好ましい。図1に示すように、典型的なデバイスは、アノード層110、バッファ層120、エレクトロルミネセンス層130、およびカソード層150を有する。カソード層150に隣接して、任意選択の電子注入/輸送層140がある。バッファ層120とカソード層150(または、任意選択の電子注入/輸送層140)との間に、エレクトロルミネセンス層130がある。
このデバイスは、アノード層110またはカソード層150に隣接することができる支持体または基板(図示せず)を含むことができる。この支持体は、アノード層110に隣接していることが最も多い。この支持体は、可撓性または剛性、あるいは有機物または無機物でよい。一般に、ガラスまたは可撓性有機フィルムが、支持体として使用される。アノード層110は、カソード層150と比較して、ホールを注入するのにより効率のよい電極である。アノードは、金属、混合金、合金、金属酸化物、または混合酸化物を含む材料を含むことができる。適切な材料には、第2族の元素(すなわちBe、Mg、Ca、Sr、Ba、Ra)、第11族元素、第4、5、および6族の元素、並びに、第8〜10族の遷移元素の混合酸化物が含まれる。アノード層110が光透過性であるべき場合、インジウムスズ酸化物などの、第12、13、および14族の元素の混合酸化物を、使用することができる。本明細書で使用されるように、フレーズ「混合酸化物」は、第2族の元素、あるいは、第12、13、または14族の元素から選択される2種以上の異なる陽イオンを有する酸化物を指す。アノード層110用の材料のいくつかの限定されない具体的な例には、インジウムスズ酸化物(「ITO」)、アルミニウムスズ酸化物、金、銀、銅、およびニッケルが含まれる。アノードは、ポリアニリンなどの有機材料をさらに含むことができる。
アノード層110は、化学的もしくは物理的蒸着法、またはスピン・キャスト法によって、形成することができる。化学的蒸着法は、プラズマ増強化学蒸着(「PECVD」)または有機金属化学蒸着(「MOCVD」)として行うことができる。物理的蒸着法は、e−ビーム蒸発および抵抗蒸発として、イオンビームスパッタリングを含めて、スパッタリングの全ての形態を含むことができる。物理的蒸着法の具体的な形態には、rfマグネトロンスパッタリングまたは誘導結合高周波プラズマ物理的蒸着法(「IMP−PVD」)が含まれる。これらの堆積技術は、半導体製造技術の範囲内では周知である。
通常、アノード層110は、リトグラフの操作を通じてパターン化される。このパターンは、所望通りに変化させることができる。この層は、例えば、パターン化したマスクまたはレジストを、第1の可撓性複合バリヤー構造体上に配置し、その後第1の電気接触層材料を塗布することによって、パターン状に形成することができる。あるいは、この層を、全体にわたる層(ブランケット堆積物とも呼ばれる)として塗布し、続いて、例えば、パターン化したレジスト層、および湿式の化学的もしくはドライエッチング技術を使用して、パターン化することができる。当技術分野でよく知られている、パターン化するための他の方法もまた使用することができる。電子デバイスが配列内に配置される場合、アノード層110は、通常、実質的に同じ方向に延在する全長を有する、実質的に並列のストリップに形成される。
バッファ層120は、通常、当業者に周知の様々な技術を使用して、基板の上にキャストされる。典型的なキャスティング技術には、例えば、溶液キャスティング、滴下キャスティング、カーテンキャスティング、スピンコーティング、スクリーン印刷、インクジェット印刷などが含まれる。あるいは、インクジェット印刷などのいくつかの上記方法を使用して、バッファ層をパターン化することができる。
エレクトロルミネセンス(EL)層130は、通常、ポリ(パラフェニレンビニレン)またはポリフルオレンなどの共役ポリマとすることができる。選択される具体的な材料は、具体的な用途、動作中に使用される電位、または他の因子に依存することになる。エレクトロルミネセンス有機材料を含むEL層130は、スピンコーティング、キャスティング、および印刷を含めて、任意の従来技術によって、溶液から塗布することができる。EL有機材料を、材料の種類に応じて、蒸着法によって直接塗布することができる。別の実施形態では、ELポリマー前駆体を塗布し、次いで、典型的には加熱または外部エネルギーの他の供給源(例えば可視光または紫外線)によって、高分子に転化することができる。
任意選択の層140は、電子注入/輸送を容易にする機能、およびまた、層インターフェイスでの消光反応を防ぐための閉込め層として働く機能の両方を果たすことができる。より詳しくは、層140は、電子移動度を向上させ、かつ、層130と150が普通なら直接接触している場合の消光反応の可能性を、低下させることができる。任意選択の層140用の材料の例には、金属キレート化オキシノイド化合物(例えばAlqなど);フェナントロリンベースの化合物(例えば2,9−ジメチル−4,7−ジフェニル−1,10−フェナントロリン(「DDPA」)、4,7−ジフェニル−1,10−フェナントロリン(「DPA」)など);アゾール化合物(例えば2−(4−ビフェニリル)−5−(4−t−ブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール(「PBD」など)、3−(4−ビフェニリル)−4−フェニル−5−(4−t−ブチルフェニル)−1,2,4−トリアゾール(「TAZ」など);他の類似化合物;または、それらの任意の1種若しくはそれ以上の組合せが含まれる。あるいは、任意選択の層140は、無機物とし、BaO、LiF、LiOなどを含むことができる。
カソード層150は、電子または負電荷キャリアを注入するのに特に効率のよい電極である。カソード層150は、第1の電気接触層(この場合、アノード層110)に比べて低い仕事関数を有する任意の金属または非金属とすることができる。本明細書で使用されるように、用語「低い仕事関数」は、約4.4eV以下の仕事関数を有する材料を意味することを意図する。本明細書で使用されるように、「高い仕事関数」は、少なくとも約4.4eVの仕事関数を有する材料を意味することを意図する。
カソード層用の材料は、第1族のアルカリ金属(例えば、Li、Na、K、Rb、Cs)、第2族の金属(例えば、Mg、Ca、Baなど)、第12族の金属、ランタニド(例えば、Ce、Sm、Euなど)、およびアクチニド(例えば、Th、Uなど)から選択することができる。アルミニウム、インジウム、イットリウム、およびその組合せなどの材料もまた使用することができる。カソード層150用の具体的な材料の限定されない例には、バリウム、リチウム、セリウム、セシウム、ユウロピウム、ルビジウム、イットリウム、マグネシウム、およびサマリウムが含まれる。
カソード層150は、通常化学的または物理的蒸着法によって形成される。通常、カソード層は、上記アノード層110に関して議論したように、パターン化されることになる。デバイスが配列内にある場合、カソード層150は、実質的に並列のストリップにパターン化されることになり、その場合、カソード層ストリップの全長は、実質的に同じ方向に、および、アノード層ストリップの全長に対して実質的に垂直に延在する。画素と呼ばれる電子素子は、交差点で(ここで、配列を平面または上部から見て、アノード層ストリップがカソード層ストリップと交差する)形成される。
他の実施形態では、追加の層が、有機電子デバイス内に存在することができる。例えば、バッファ層120とEL層130との間の層(図示せず)は、正電荷輸送、層のバンドギャップ整合、保護層としての機能などを促進することができる。同様に、EL層130とカソード層150との間の追加の層(図示せず)は、負の電荷輸送、層間のバンドギャップ整合、保護層としての機能などを促進することができる。当技術分野で知られている層を使用することができる。加えて、上記層のいずれも、2つ以上の層から作ることができる。あるいは、無機アノード層110、バッファ層120、EL層130、およびカソード層150のいくつかまたは全てを表面処理して、電荷キャリアの輸送効率を増加させることができる。構成要素の層それぞれの材料の選択は、デバイスに高いデバイス効率を付与する目標と、製造コスト、製造の複雑さ、または潜在的な他の因子とを釣り合わせることによって、定めることができる。
制限することを意味しないが、これら様々な層は、以下の範囲の厚さを有することができる:無機アノード層110、通常約500nm以下、例えば約10〜200nm;バッファ層120、通常約250nm以下、例えば約20〜200nm;EL層130、通常約1000nm以下、例えば約10〜80nm;任意選択の層140、通常約100nm以下、例えば約20〜80nm;カソード層150、通常約100nm以下、例えば約1〜50nm。アノード層110またはカソード層150が、少なくともある程度の光を透過させることを必要とする場合、上記層の厚さは、約100nmを超えることができない。
電子デバイスの用途に応じて、EL層130を、信号によって活性化される発光層(発光ダイオードなど)、または、かけられた電位の有無にかかわらず、放射エネルギーに応答して信号を発生させる材料の層(検出器またはボルタ電池など)とすることができる。放射エネルギーに応答できる電子デバイスの例は、光導電セル、光抵抗器、光スイッチ、ホトトランジスタ、および光電管、並びに光電池から選択される。この明細書を読んだ後、当業者は、それらの具体的な用途に適切な材料を選択することができるだろう。発光材料は、添加物の有無にかかわらず、他の材料のマトリックス中に分散することができるが、しかし、単独で層を形成するのが好ましい。EL層130は、一般に約50〜500nmの範囲の厚さを有する。
有機発光ダイオード(OLED)では、カソード150およびアノード110の層それぞれからEL層130の中に注入される電子およびホールは、高分子中で負および正に帯電したポラロンを形成する。これらのポラロンは、印加した電場の影響により移動して、反対に帯電した化学種とともにポラロン励起子を形成し、続いて発光を伴う再結合を経る。アノードとカソード間の十分な電位差を、通常約12ボルト未満、多くの場合約5ボルト以下を、デバイスにかけることができる。実際の電位差は、より大きい電子部品において、デバイスの使用方法に依存することがある。多くの実施形態では、アノード層110は、正の電圧にバイアスをかけ、カソード層150は、電子デバイスの動作の間、実質的に大地電位またはゼロ・ボルトである。電池または他の電力供給源を、回路の一部として電子デバイスに電気的に接続することができるが、図1には示してない。
本発明のさらに別の実施形態によれば、水溶液から基板の上にキャストされるPANI/PAAMPSA:PAMフィルムの電気伝導度を、約1×10−4S/cm未満の値に低下させる方法が提供され、この方法は、水溶液にPSSの有効量を添加する工程を含む。本発明の一実施形態では、フィルムの電気伝導度は、約1×10−6S/cm未満である。
本発明のさらなる実施形態では、基板の上にキャストされるPANI/PAAMPSA:PSS層の乾燥条件を、大幅に単純化できることが知見された。例えば、本発明に従って調製したPANI/PAAMPSA:PSS層を、約90℃未満の温度で乾燥させることができる。これらのよりマイルドな乾燥温度(約200℃を超える典型的な乾燥温度と比較して)は、可撓性LED用途にとって望ましい。
さて、本発明は、次の限定されない実施例を参照することにより、より詳細に記載されるだろう。
(実施例1)
この実施例では、PANI/PAAMPSAの調製が記載される。PANI/PAAMPSAを、(特許文献3)に記載されているものに類似した手順を使用して、より詳しくは後述のように、調製した。
PANI/PAAMPSAを、参考文献の(非特許文献1)に記載されているものに類似した手順を使用して、より詳しくは後述のように、調製した。この参考文献のHClを、ポリ(2−アクリルアミド−2−メチル−1−プロパンスルホン酸)(PAAMPSA)(アルドリッチ(Aldrich)、ウィスコンシン州ミルウォーキー(Milwaukee)53201から市販)で置き換えた。
暗緑色染料塩(ES)の形態は、典型的な緑色相によって確かめられた。まず、水中15%のPAAMPSA30.5g(0.022モル)(アルドリッチ)を、水170mlを加えることによって2.3%まで希釈した。攪拌しながら、アニリン2.2g(0.022M)をPAAMPSA溶液に加えた。水10ml中の過硫酸アンモニウム2.01g(0.0088M)を、激しい攪拌下でアニリン/PAAMPSA溶液にゆっくり加えた。この反応混合物を、室温で24時間撹拌した。生成物のPANI/PAAMPSAを沈澱させるため、アセトン1000mlをこの反応混合物に加えた。大部分のアセトン/水をデカントして、次に、PANI/PAAMPSA沈殿物をフィルタにかけた。得られたゴム状の生成物を、アセトンで数回洗浄し、ダイナミック真空(dynamic vacuum)の下、40℃で24時間乾燥させた。
この実施例は、PANI/PAAMPSAの例示的な合成を示す。
(実施例2)
実施例1で調製したPANI/PAAMPSA粉末1グラム(1.0g)を、プラスチック瓶中で脱イオン水100gと混合させた。この混合物を、室温で48時間回転させた。次いで、この溶液/分散液を、0.45μmのポリプロピレン・フィルタを通じてフィルタにかけた。水中PANI/PAAMPSAの種々の濃度を、水の中に混合するPANI/PAAMPSAの量を変化させることによって、規定とおりに調製した。
この実施例は、PANI/PAAMPSAを、水に溶解/分散し、続いて、0.45μmのフィルタを通じてフィルタにかけることができることを示す。
(実施例3)
ポリサイエンシズ(Polysciences)(ペンシルバニア州ウォーリントン(Warrinton)18976)から市販のポリアクリルアミド4グラム(4.0g)(PAM)(M.W.5,000,000〜6,000,000)を、プラスチックの瓶中で脱イオン水400mlと混合させた。この混合物を、室温で少なくとも48時間回転させた。次いで、この溶液/分散液を、1μmのポリプロピレン・フィルタを通じてフィルタにかけた。PAMの種々の濃度を、溶解するPAMの量を変化させることによって、規定とおりに調製した。
この実施例は、PAMを、水に溶解/分散し、続いて、1μmフィルタを通じてフィルタにかけることができることを示す。
(実施例4)
実施例2で調製したPANI/PAAMPSA溶液20gを、実施例3で調製した1重量%のPAM溶液10g、および、15%のPAAMPSA溶液2.0g(アルドリッチから市販)と混合させた(室温で12日間)。次いで、この溶液を、0.45μmのポリプロピレン・フィルタを通じてフィルタにかけた。PANI/PAAMPSA:PAM:PAAMPSAの重量比は、1:0.5:1.5であった。種々のブレンド比のPANI/PAAMPSA:PAM:PAAMPSAのブレンド溶液を、出発溶液中の濃度を変化させることによって、調製した。
(実施例5)
実施例2で調製した溶液30gを、脱イオン水15g、および、PAM0.6g(M.W.5,000,000〜6,000,000、ポリサイエンシズから市販)と攪拌下に室温で4〜5日間混合させた。ブレンド溶液中のPAMに対するPANI/PAAMPSAの比は、1:2であった。PANI/PAAMPSAの含量が、それぞれ0、10、25、および40%であるブレンド溶液も調製した。
(実施例6)
実施例2で調製したPANI/PAAMPSA溶液16.7gを、実施例3で調製した1.67重量%のPAM溶液10.1g、および、30%のポリ(スチレンスルホン酸)(PSS)溶液0.55g(ポリサイエンシズ、ペンシルバニア州ウォーリントン18976から市販)と混合させた(室温で2〜4日間)。次いで、この溶液を、0.45μmのポリプロピレン・フィルタを通じてフィルタにかけた。ブレンド溶液中のPANI/PAAMPSA:PSS:PAMの重量比は、1:1:1であった。種々のブレンド比のPANI/PAAMPSA:PSS:PAMブレンド溶液を、出発溶液中の濃度を変化させることによって調製した。
(実施例7)
実施例5で調製したPANI/PAAMPSA:PAM溶液25gを、30%のポリ(スチレンスルホン酸)(PSS)溶液(ポリサイエンシズから市販)0.35gと混合させた(室温で2〜4日間)。次いで、この溶液を、0.45μmのポリプロピレン・フィルタを通じてフィルタにかけた。ブレンド溶液中のPANI/PAAMPSA:PAM:PSSの重量比は、1:0.2:2であった。種々のブレンド比のPANI/PAAMPSA:PSS:PAMブレンド溶液を、出発溶液中の濃度を変化させることによって調製した。
(実施例8)
実施例6で調製した溶液に他の処理を行った。この場合、PANI/PAAMPSA:PSS:PAM溶液を、ろ過の前に、超音波浴中で1時間超音波処理にかけた。
(実施例9)
パターン化したITO電極を有するガラス基板を調製した。実施例2、4、5、6、7、および8で調製したブレンド溶液を使用して、ポリアニリン・ブレンド層を、パターン化した基板の上にスピン・キャストし、その後、真空オーブン中で90℃で0.5時間ベークした。ITO電極間の抵抗を、ケースレイ・インストルメンツ社(Keithley Instruments Inc.)(オハイオ州クリーブランド(Cleveland)44139)からの高抵抗ケースレイ487ピコ電流計(Keithley 487 Picoammeter)を使用して測定した。表1は、種々のブレンド組成物の場合のPANIブレンドフィルムの電気伝導度を示す。表1から分かるように、電気伝導度を、広い範囲にわたって制御することができる。
この実施例は、PSSをブレンドの中に組み込むことによって、10−4S/cm未満の、さらには10−6S/cm未満ものバルク電気伝導度を有するPANI/PAAMPSAブレンドを調製できることを示す。これらの電気伝導度は十分に低いので、PANI/PAAMPSAブレンド・フィルムをパターン化する必要性なしで、画素間電流漏れを制限できる。
Figure 2005537348
(実施例10)
フェニル置換されたPPVモノマーの共重合(非特許文献3)によって調製した可溶性ポリ(1,4フェニレンビニレン)共重合体(C−PPV)を使用して、活性半導体すなわち発光性高分子として、発光ダイオードを製作した。C−PPVフィルムの厚さは、500〜1000オングストロームであった。二層アノードの第1の層として、インジウム/酸化スズを使用した。(実施例6の)PANI/PAAMPSA:PSS:PAMを、水中の溶液/分散液からITOの上に、厚さ1000〜3000オングストロームの範囲でスピンコートした。その後、真空オーブン中で90℃で0.5時間ベークした。デバイス構成は、ITO/(PANI/PAAMPSA:PSS:PAM)/C−PPV/金属であった。基板としてガラス上のITO(塗布したITO/ガラス)を使用して、および、基板としてプラスチックすなわちポリエチレンテレフタレート(PET)上のITO(コートールドの(Courtauld’s)ITO/PEI)を使用して、デバイスを製作した。両方の場合とも、ITO/(PANI/PAAMPSA:PSS:PAM)二層が、アノードであり、正孔注入接点であった。デバイスを、カソードとしてBaの層で製造した。1×10−6トール未満の圧力の真空蒸着を使用して、C−PPV層の上に金属カソード・フィルムを製作した。3cmの面積の活性層を生成した。サイコン・インストルメンツ社(Sycon Instruments,Inc.)(ニューヨーク州イースト・シラキュース(East Syracuse)13057)から市販のSTM−100 厚さ/レート・メータで、堆積を監視した。2,000オングストローム〜5,000オングストロームのアルミニウムが、カルシウム層の上に堆積された。それぞれのデバイスに対して、電流対電圧曲線、光対電圧曲線、および量子効率を測定した。二層ITO/(PANI/PAAMPSA:PSS:PAM)アノードを有するデバイスの外部効率は、ITOアノードを有するデバイスよりかなり高い。
この実施例は、二層アノードの第2の層としてPANI/PAAMPSA:PSS:PAMを使用して、高性能の高分子LEDを製作できることを示す。
(実施例11)
実施例10のデバイス測定を繰り返した。しかし、PANIブレンド層は、実施例4、5、6、および7で調製したブレンド溶液からスピン・キャストした。表2は、種々のホストポリマーを有する、ポリブレンドしたフィルムから製作したLEDのデバイス性能を示す。
この実施例は、PANI/PAAMPSAブレンドの使用を、かなり高い効率を有する高分子LEDを製作するのに使用できることを示す。バッファ層として高抵抗PANIブレンドを使用することによって、画素間電流漏れがかなり低下されたので、この高い効率が得られた。
Figure 2005537348
(実施例12)
実施例10のデバイスを、UV硬化性エポキシでサンドイッチしたカバーガラスを使用して被包した。温度80℃のオーブン中で定電流で、被包したデバイスの測定を行った。デバイスを通る合計電流は10mA、輝度約150cd/cmであった。図2は、80℃で動作中の光出力(実線)および電圧増加(破線)を示す。真空オーブン中で85℃で30分間乾燥させたPANI/PAAMPSA:PAM(1:2)を有するデバイスとは対照的に、このデバイスは80℃での応力のため10時間内に劣化するが、同じ条件で乾燥させたPANI/PAAMPSA:PSS:PAM(1:1:1)を有するデバイスの半減期は、低い電圧増加(10.0mV/時間)を伴って100時間を超える。50、70、および85℃で集めた輝度失活と電圧増加データのアレニウス・プロットから、温度加速係数は、約35であると算定された。したがって、室温に外挿した応力寿命は、約3,500時間であると決定された。
この実施例は、90℃真空オーブンで乾燥させた高抵抗PANI/PAAMPSA:PSS:PAM層で製作した有機LEDの場合、長い寿命を得ることができることを示す。
(実施例13)
実施例10および12を繰り返した。しかし、バッファ層として種々のPANI/PAAMPSA:PSS:PAMの比(実施例6)を使用した。図3は、7.4mAで、デバイスが80℃の応力下にある間の、輝度(破線)および電圧(定電流で)(実線)対時間、を示す
この実施例は、バッファ層としてPANI/PAAMPSA:PSS:PAMブレンドを使用して、長寿命の高性能ディスプレイを製作できることを示す。
(実施例14)
実施例10および12を繰り返した。しかし、バッファ層としてPANI/PAAMPSA:PSS:PAM溶液(実施例9)を使用した。図4は、8.2mAで、デバイスが80℃の応力下にある間の、輝度(破線)および電圧(定電流で)(実線)対時間、を示す。
この実施例は、バッファ層としてPANI/PAAMPSA:PSS:PAMブレンドを使用して、長寿命の高性能ディスプレイを製作できることを示す。
本発明の特定の好適な実施形態に関して本発明を詳細に記載してきたが、修正形態および変形形態は、記載し、特許請求したものの趣旨および範囲内にあることを理解されたい。
本発明によるバッファ層を含む電子デバイスの横断面図を示す図である。 応力起因性の、80℃でのPANI/PAAMPSA:PSS:PAM(1:1:1)層を有するデバイスの劣化を示すグラフである。このPANI/PAAMPSA:PSS:PAM(1:1:1)層は、真空オーブン中で90℃で30分間乾燥させた。実線は動作電圧を表し、破線は光出力を表す。 応力起因性の、80℃でのPANI/PAAMPSA:PSS:PAM比が異なるデバイスの劣化を示すグラフである。このPANI/PAAMPSA:PSS:PAM層は、真空オーブン中で90℃で30分間乾燥させた。実線は動作電圧を表し、破線は光出力を表す。 超音波処理時間が異なる場合、応力起因性の、80℃でのPANI/PAAMPSA:PSS:PAM(1:0.05:1.95)のデバイスの劣化を示すグラフである。このPANI/PAAMPSA:PSS:PAM層は、真空オーブン中で90℃で30分間乾燥させた。実線は動作電圧を表し、破線は光出力を表す。

Claims (27)

  1. ポリアニリン(PANI)、ポリ(2−アクリルアミド−2−メチル−1−プロパンスルホン酸)(PAAMPSA)、および、この組成物の電気伝導度を低下させるのに十分な量のポリ(スチレンスルホン酸)(PSS)を含むことを特徴とする組成物。
  2. 対イオンとしてポリ(2−アクリルアミド−2−メチル−1−プロパンスルホン酸)を有するポリアニリン(PANI/PAAMPSA)、および、この組成物の電気伝導度を低下させるのに十分な量のポリ(スチレンスルホン酸)(PSS)を含むことを特徴とする請求項1に記載の組成物。
  3. ポリアクリルアミド(PAM)をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の組成物。
  4. PANI/PAAMPSA:PSSの重量%比が、約1:0.05から約1:2までの範囲であることを特徴とする請求項1に記載の組成物。
  5. PANI/PAAMPSA:PSSの重量%比が、約1:0.2から約1:1までの範囲であることを特徴とする請求項1に記載の組成物。
  6. PANI/PAAMPSAおよびPSSを含むことを特徴とする、高抵抗バッファ層。
  7. PAMをさらに含むことを特徴とする請求項6に記載の高抵抗バッファ層。
  8. 前記層が、約1×10−4S/cm未満の電気伝導度を有することを特徴とする請求項6に記載の高抵抗バッファ層。
  9. 前記層が、約1×10−6S/cm未満の電気伝導度を有することを特徴とする請求項6に記載の高抵抗バッファ層。
  10. 前記バッファ層を、約90℃未満の温度で乾燥させることができることを特徴とする請求項6に記載の高抵抗バッファ層。
  11. PANI/PAAMPSAおよびPSSを含むことを特徴とする高抵抗フィルム。
  12. PAMをさらに含むことを特徴とする請求項11に記載の高抵抗フィルム。
  13. 前記フィルムが、約1×10−4S/cm未満の電気伝導度を有することを特徴とする請求項11に記載の高抵抗フィルム。
  14. 前記フィルムが、約1×10−6S/cm未満の電気伝導度を有することを特徴とする請求項11に記載の高抵抗フィルム。
  15. 前記フィルムを、約90℃未満の温度で乾燥させることができることを特徴とする請求項11に記載の高抵抗フィルム。
  16. PANI/PAAMPSAおよびPSSを含む高抵抗バッファ層を含むことを特徴とする有機発光ダイオード(OLED)。
  17. 前記バッファ層が、PAMをさらに含むことを特徴とする請求項16に記載のOLED。
  18. 前記バッファ層が、約1×10−4S/cm未満の電気伝導度を有することを特徴とする請求項16に記載のOLED。
  19. 前記バッファ層が、約1×10−6S/cm未満の電気伝導度を有することを特徴とする請求項16に記載のOLED。
  20. PANI/PAAMPSAおよびPSSを含む高抵抗バッファ層を含むことを特徴とする電子デバイス。
  21. 前記バッファ層が、PAMをさらに含むことを特徴とする請求項20に記載の電子デバイス。
  22. 前記バッファ層が、約1×10−4S/cm未満の電気伝導度を有することを特徴とする請求項20に記載の電子デバイス。
  23. 前記バッファ層が、約1×10−6S/cm未満の電気伝導度を有することを特徴とする請求項20に記載の電子デバイス。
  24. 前記電子デバイスが、ディスプレイを含むことを特徴とする請求項20に記載の電子デバイス。
  25. 水溶液から基板の上にキャストされるPANI/PAAMPSAフィルムの電気伝導度を、約1×10−4S/cm未満の値に低下させる方法であって、
    前記方法が、PSSの有効量を前記水溶液に加える工程を含むことを特徴とする方法。
  26. 前記フィルムの前記電気伝導度が、約1×10−6S/cm未満であることを特徴とする請求項25に記載の方法。
  27. 前記フィルムを、約90℃未満の温度で乾燥させることができることを特徴とする請求項25に記載の方法。
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