JP2005528948A - 電離放射線の検出のための方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
Description
透過率=exp(μPE(E,Z)*ρ*t)
ここで、μPEは検査される物質の光電吸収係数、ρはその物質の密度、tはその物質の厚さである。透過率が積μ*ρ*tに関して指数関数的に依存するため、撮像される標的上でこの積が制限された範囲内で変化する場合にのみ、その標的はX線撮影に適している。この積の過大な変化により、積が平均に比べ極めて大きな値となる領域では照射不足を、積が平均に比べ極めて小さな値となる領域では過度照射をもたらす。光電吸収の吸収係数μPEはまた検査される物質の原子番号Zに著しく依存し、通常、べき法則Z2-3である。それゆえ、標的の基本的組成の変化が僅かなものであっても、それは積μ*ρ*tを著しく変化させ、一部の画像領域において容易に照射不足、又は過度照射を引き起こす。
X線の画像検出器を設計する際に非常に重要な別の問題は患者に対する放射線量である。過去10年間、効率的なコリメータ、適切なフィルタ及び感知検出器の配列の開発により、患者に対する線量は効果的に低減されたが、まだ多くのことがなされなければならない。さらに、放射線量の低減は今日の検出器設計における駆動装置である。
この点に関して、検出される標的に蓄積するエネルギーを少量しか与えないような方法及び装置を提供するという特定の目的がある。
さらなる本発明の目的は、画像の一部の領域における照射不足、又は過度照射の危険を削減するスペクトル範囲における放射線を使用するような方法及び装置を提供することにある。
本発明のさらなる目的は、高いX線エネルギーにおいても位置分解能が低下しない検出器を提供することにある。
その上、患者に蓄積されるエネルギーは、光電吸収されるX線の光子の場合はその全てのエネルギーであるが、散乱X線の光子の場合はそのエネルギーの一部にしか過ぎない。それゆえ、光電吸収されるX線に代えて、散乱X線を撮影用に使用することにより、患者に対する線量は著しく低減される。
一次元的な気体イオン化検出器であって、その間にイオン化気体が配置される二つの電極と、前記電離放射線が電極間にある前記検出器の横道に入射し、かつその電離放射線が気体と相互作用することにより解放された電子が、そこで本質的に垂直な方向に加速されるよう配置された放射線の入口とを備えており、本質的に電極間の平面に平行な放射線のみが前記気体をイオン化できるように、電極間の距離は短く保たれている一次元的な気体イオン化検出器によって、コンプトン散乱された放射線の検出の抑制を実行できる。電極間の距離は約2mmを下回るよう、好ましくは約1mmを下回るよう、より好ましくは約0.5mmを下回るよう、最も好ましくは約0.1mm〜0.5mmの間であればよい。(入射X線の放射線の方向における)電極の深さは1〜50cm、好ましくは3〜10cmであればよい。
好ましくは、そのフィルタにかけられた放射線は、標的7において光電効果により吸収されるフィルタにかけられた放射線の光子よりも少なくとも2倍、より好ましくは少なくとも5倍、最も好ましくは少なくとも10倍の多くの光子がコンプトン散乱されるようなスペクトル範囲内にある。
フィルタにかけられた広帯域の放射線を使用する際において、標的7において光電効果により吸収されるフィルタにかけられた広帯域の放射線の光子よりも多くの光子がコンプトン散乱されるようなスペクトル範囲内にある放射線を得るためには、その光子のほとんど全てが50%カットオフエネルギーを上回るエネルギーを有する必要がある。そのような条件を満足するためには、非常に高いカットオフエネルギーを有する特製フィルタを使用しないのであれば、通常、X線管1の電圧を3〜5倍の高電圧にする必要がある。しかしながら、そのような場合においても、非常に低い放射線フラックスが得られるのみである。
記録画像用の信号作用ソースとして、光電吸収される放射線に代えて、散乱、特にコンプトン散乱される放射線の量を主として使用することによって、数多くの利点が発生する。
・その放射線は、標的7に吸収されるのではなく主として散乱されるため、その標的に対する放射線量は低減される。50keVの光子のエネルギーにおいて、コンプトン散乱された光子は、光電吸収される光子に比べ、そのエネルギーの約10%を蓄積させるのみである。
・光電吸収の減衰係数と比較したコンプトン散乱の減衰係数により)その放射線を大量のフィルタにかける必要がないため、フィルタはより薄く製造されていてもよい。
・厚いフィルタに比べ、薄いフィルタの方が散乱される放射線が少ないため、フィルタ装置4からの散乱放射線は、従来のフィルタ装置の場合と比較して低減されている。
・放射されるスペクトルの大部分が使用可能であるため、X線管の効率は上昇する。このことにより、X線管の負荷をより低下させることもできる。
・より高いX線光子のフラックスを得ることができるため、その照射時間を削減できる。
・10〜300keVの光子エネルギーにおいては、コンプトン散乱の減衰係数は原子番号及び光子エネルギーに僅かに依存するのみであり、それゆえ、仮に標的の厚さが一定である、もしくは、既知でありかつ補正されているならば、捕捉画像の変化は本質的に標的の密度の変化によるもののみである。
TPE=exp(μPE(E,Z)*ρ*t)
ここで、μPEは検査される物質の光電吸収係数、ρはその物質の密度、tはその物質の厚さである。
TPE=#γOUT-PE/#γIN-PE
ここで、#γIN-PEは特定の位置において標的に入射するX線の数、#γOUT-PEは光電吸収されることなくその標的を透過したX線の数である。(エネルギーに依存した検出器の効率及び検出器において起こり得るエネルギーに依存した信号強度に対する補正の後、)#γOUT-PEは従来技術の検出器において検出された光子の数#γDET-PEに比例している。
TCS=exp(μCS*ρ*t)
ここで、μCSは検査される物質におけるコンプトンの散乱減衰係数である。
TCS=#γOUT-CS/#γIN-CS
ここで、#γIN-CSは特定の位置において標的に入射するX線の数、#γOUT-CSはコンプトン散乱されることなくその標的を透過したX線の数である。(エネルギーに依存した検出器の効率及び検出器において起こり得るエネルギーに依存した信号強度に対する補正の後、)#γOUT-CSは検出器11において検出された光子の数#γDET-CSに比例している。
ここでは平面放射線ビームであるX線ビーム3が、陰極23及び陽極24に平行で、かつその間にある横道に入射できるように、検出装置11は配向されている。スリット形状の絞り9及び放射線透過窓21が検出装置11の前に備えられ、X線ビーム3に対する検出装置11への入口を形成する。スリット形状の絞り9は、例えばタングステンからなる薄い金属箔であればよく、その薄いスリットはエッチングされていても、カットされていてもよい。さらに、放射線透過窓21は薄いビニールもしくは炭素繊維箔であればよい。
カンバセ−ション媒体においてコンプトン散乱されたX線に起因する信号は、入射X線のエネルギーのほとんどを担う散乱X線(50keVにおいては約90%)としては検出されず、それは、通常、カンバセ−ション媒体からは離れる。検出されるべきは、検出器のノイズレベルと同程度である非常に低いエネルギーを有する反跳電子である。
または、検出装置11は、上記の米国特許第6134297号、並びに米国特許第5649997号及び米国特許第5771269号のそれぞれにおいて記載されているデュアル検出器又はデュアルエネルギー法に基づいた飛散防止メカニズムを備えている。前記文献の内容は参考として本明細書に組み入れられる。
Claims (41)
- 検査される標的(7)の方向に電離放射線を向けるステップと、
コンプトン散乱された放射線(3a,3c)が検出されることを抑制するステップと、
前記標的の空間分解された密度を明らかにするために、前記標的を透過した電離放射線を空間分解して検出するステップとを備え、
前記電離放射線は、前記標的において光電効果により吸収される前記電離放射線の光子よりも多くの光子がコンプトン散乱されるようなスペクトル範囲内で提供され、よって、前記標的に対する放射線量を低減することを特徴とする電離放射線の検出のための方法。 - 少なくとも90%、好ましくは少なくとも99%、より好ましくは少なくとも99.9%の前記標的においてコンプトン散乱された放射線が検出されることを抑制する請求項1に記載の方法。
- 前記標的は人体の組織である請求項1又は2に記載の方法。
- 前記人体の組織は胸部である請求項3に記載の方法。
- 前記電離放射線は10〜300keVの間の、好ましくは20〜100keVの間の、より好ましくは30keVを上回る広帯域のX線の放射線として提供される請求項3又は4に記載の方法。
- 前記電離放射線は30keV上回る放射線として提供される請求項1から4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記電離放射線は前記標的において光電吸収が本質的に発生しないスペクトル範囲内で提供される請求項1から4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記標的において光電効果により吸収される前記電離放射線の光子よりも少なくとも2倍、好ましくは少なくとも5倍、より好ましくは少なくとも10倍の多くの光子がコンプトン散乱されるようなスペクトル範囲内で、前記電離放射線は提供される請求項1から4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記標的の密度変化を例示する第一X線画像が、空間分解して検出された前記透過電離放射線から提供され、
前記標的の密度及び基本的組成の変化の組み合わせを例示する第二X線画像が提供され、
かつ前記標的の基本的組成のみを本質的に例示する第三X線画像が前記第一及び第二X線画像から推定される請求項1から8のいずれか一項に記載の方法。 - 前記標的を透過した電離放射線を空間分解して検出するステップは、二つの電極(23,24)を有し、その間にはイオン化もしくは興奮性材料が配置され、かつ前記電離放射線が、前記イオン化もしくは興奮性の材料に向かって電極間にある横道に入射できるような放射線の入口が配置された一次元的な検出器(11)により実施される請求項1から9のいずれか一項に記載の方法。
- 前記イオン化もしくは興奮性の材料はイオン化液体である請求項10に記載の方法。
- 前記イオン化もしくは興奮性の材料は固体、好ましくは半導体物質である請求項10に記載の方法。
- 前記標的を透過した電離放射線を空間分解して検出するステップは、二つの電極(23,24)を有し、その間にはイオン化気体が配置され、かつ前記電離放射線が電極間にある横道に入射できるような放射線の入口が配置された一次元的な気体イオン化検出器(11)により実施される請求項1から9のいずれか一項に記載の方法。
- コンプトン散乱された放射線が検出されることを抑制するステップは、電極間の中間面に平行な放射線のみが本質的に前記気体をイオン化できるように、電極間の距離(h)を短く保つことにより実施される請求項13に記載の方法。
- 入射電離放射線の方向に関する電極の長さに比べ、電極間の距離は少なくとも10倍、好ましくは少なくとも25倍、最も好ましくは100倍短く保たれている請求項13に記載の方法。
- 電極間の距離が約2mmを下回るように、好ましくは約1mmを下回るように、より好ましくは約0.5mmを下回るように、最も好ましくは約0.1mm〜0.5mmの間に保たれている請求項13に記載の方法。
- 前記二つの電極は平行であり、かつ前記電離放射線は前記二つの電極に対し平行に前記検出器に入射する請求項13から16のいずれか一項に記載の方法。
- 入射する前記電離放射線による前記イオン化気体のイオン化の結果として解放される電子が検出される前に雪崩増幅される請求項13から17のいずれか一項に記載の方法。
- 前記電離放射線による前記イオン化気体のイオン化の結果として解放される電子、及び続いて増幅される雪崩は前記イオン化気体における前記電離放射線のコンプトン散乱からの反跳電子である請求項18に記載の方法。
- 前記イオン化気体は、低い原子番号の原子の気体もしくは気体の混合物、特に、アルゴン、ネオン、CO2、メタン、エタン、イソブタン、ヘリウムもしくはその混合物のいずれかである請求項19に記載の方法。
- 前記標的を透過した電離放射線が、第一に絞りにより平行にされることなく、前記検出器の電極間の横道に入射する請求項13から20のいずれか一項に記載の方法。
- 前記標的を透過した電離放射線を空間分解して検出するステップは、前記電離放射線の入射光子をそれぞれ計測することにより実施される請求項10から21のいずれか一項に記載の方法。
- 前記標的を透過した電離放射線を空間分解して検出するステップは、前記電離放射線により前記気体に誘導された積算電荷により実施される請求項10から21のいずれか一項に記載の方法。
- 前記標的を透過した電離放射線を空間分解して検出するステップは、好ましくはTFTをベースにした検出器、シンチレータをベースにした検出器、CMOS、CCD、CdZn又はCdZnTeをベースにした検出器のような固体状態の検出器、気体をベースにした検出器もしくはそれらの組み合わせのいずれかである検出器(11)により実施される請求項1から9のいずれか一項に記載の方法。
- コンプトン散乱された放射線が検出されることを抑制するステップは、特に前記検出器の前に配置された放射線透過チャンネルの配列である飛散防止装置(8)により実施される請求項24に記載の方法。
- 検査される標的(7)の方向に電離放射線を向けるステップと、
前記標的中での対生成に起因する放射線(3b)が検出されることを抑制するステップと、
前記標的の空間分解された密度を明らかにするために、前記標的を透過した電離放射線を空間分解して検出するステップとを備え、
前記電離放射線は、前記標的において光電効果により吸収される前記電離放射線の光子よりも多くの光子が対生成過程により電子及び陽電子に転化されるようなスペクトル範囲内で提供されることを特徴とする電離放射線の検出のための方法。 - 少なくとも90%、好ましくは少なくとも99%、より好ましくは少なくとも99.9%の前記標的中での対生成に起因する放射線が検出されることを抑制する請求項26に記載の方法。
- 標的(7)のX線画像の測定のための装置であって、その装置は、
広帯域の放射線を放射するためのX線ソース(1)と、
前記放射された広帯域の放射線をフィルタにかけるために、前記X線ソースの前に配置されたフィルタ装置(4)と、
前記放射された広帯域の放射線を平行にするために、前記X線ソースの前に配置されたソースの絞り(5)と、
前記フィルタにかけられ、かつ平行にされた広帯域の放射線が前記標的を透過できるように配置された、前記X線画像の測定の最中に前記標的を収容するための標的領域と、
前記標的を透過する、前記フィルタにかけられ、かつ平行にされた広帯域の放射線の画像を記録するために配置された検出装置(11)とからなり、
前記フィルタにかけられた放射線が、前記標的において光電効果により吸収されるX線光子よりも多くのX線光子がコンプトン散乱される(3a,3c)ようなスペクトル範囲内にあるように、測定される標的に依存したフィルタ機能を前記フィルタ装置は有し、
前記検出装置は、前記標的においてコンプトン散乱された放射線(3a,3c)が検出されることを抑制するように配置されていることを特徴とするX線画像の測定のための装置。 - 前記検出装置は、少なくとも90%、好ましくは少なくとも99%、より好ましくは少なくとも99.9%の前記標的においてコンプトン散乱された放射線が検出されることを抑制するように配置されている請求項28に記載の装置。
- 前記標的は人体の組織、特に胸部組織である請求項28又は29に記載の装置。
- 前記フィルタにかけられた放射線は、10〜300keVの間の、好ましくは20〜100keVの間の、より好ましくは30keVを上回るスペクトル範囲内にある請求項30に記載の装置。
- 前記フィルタにかけられた放射線は、前記標的において光電効果により吸収される前記放射線の光子よりも少なくとも2倍、好ましくは少なくとも5倍、より好ましくは少なくとも10倍の多くの光子がコンプトン散乱されるようなスペクトル範囲内にある請求項28から31のいずれか一項に記載の装置。
- 前記検出装置は、二つの電極(23,24)を有し、その間にはイオン化液体又は興奮性の半導体が配置され、かつ前記放射線が電極間の前記検出器の横道に入射できるような放射線の入口が配置された一次元的な検出器である請求項28から32のいずれか一項に記載の装置。
- 前記検出装置は、二つの電極(23,24)を有し、その間にはイオン化気体が配置され、かつ前記放射線が電極間の前記検出器の横道に入射できるような放射線の入口が配置された一次元的な気体イオン化検出器である請求項29から33のいずれか一項に記載の装置。
- コンプトン散乱された放射線が検出されることを抑制するために、電極間の距離(h)が、電極間の中間面に平行な放射線のみが本質的に前記気体をイオン化できるように短くなっている請求項34に記載の装置。
- 電極間の距離(h)は約2mmを下回る、好ましくは約1mmを下回る、より好ましくは約0.5mmを下回る、最も好ましくは約0.1mm〜0.5mmの間にある請求項35に記載の装置。
- 前記二つの電極は平行であり、かつ前記放射線の入口は、前記放射線が前記二つの電極に対し平行に前記検出器に入射できるように配置されている請求項34から36のいずれか一項に記載の装置。
- 前記一次元的な気体イオン化検出器は、前記放射線による前記イオン化気体のイオン化の結果として解放された電子を、前記気体中において雪崩増幅するための電子雪崩増幅器を備えている請求項34から37のいずれか一項に記載の装置。
- 前記検出装置は、TFTをベースにした検出器、シンチレータをベースにした検出器、CMOS、CCD、CdZn又はCdZnTeをベースにした検出器のような固体状態の検出器、気体をベースにした検出器もしくはそれらの組み合わせのいずれかであり、特に、前記検出器の前に配置された放射線透過チャンネルの一次元的な、もしくは二次元的な配列である飛散防止装置(8)を備えている請求項28から32のいずれか一項に記載の装置。
- 標的(7)のX線画像の測定のための装置であって、その装置は、
広帯域の放射線を放射するためのX線ソース(1)と、
前記放射された広帯域の放射線をフィルタにかけるために、前記X線ソースの前に配置されたフィルタ装置(4)と、
前記放射された広帯域の放射線を平行にするために、前記X線ソースの前に配置されたソースの絞り(5)と、
前記フィルタにかけられ、かつ平行にされた広帯域の放射線が前記標的を透過できるように配置された、前記X線画像の測定の最中に前記標的を収容するための標的領域と、
前記標的を透過する、前記フィルタにかけられ、かつ平行にされた広帯域の放射線の画像を記録するために配置された検出装置(11)とからなり、
前記フィルタにかけられた放射線が、前記標的において光電効果により吸収されるX線光子よりも多くのX線光子が対生成過程により電子及び陽電子に転化されるようなスペクトル範囲内にあるように、測定される標的に依存したフィルタ機能を前記フィルタ装置は有し、
前記検出装置は、前記標的内での対生成に起因する放射線(3b)が検出されることを抑制するように配置されていることを特徴とするX線画像の測定のための装置。 - 前記検出装置は、少なくとも90%、好ましくは少なくとも99%、より好ましくは少なくとも99.9%の前記標的内での対生成に起因する放射線が検出されることを抑制するように配置されている請求項40に記載の装置。
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