JP2005526904A - Hidランプの石英バーナーの被覆方法 - Google Patents

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Abstract

HIDランプのエネルギー/バランスを良くするため、石英バーナー、好ましくはその内側にUV反射層系を被覆する。そしてこれを、一般的化学量論組成をTiO及びSiOとする酸化チタン及び酸化ケイ素から少なくとも成る非晶質の薄層を、高出力密度及び100〜400℃の範囲の高い基体温度とし、1nm/sec〜100nm/secの低い成長速度で行うPICVD法により、交互に付着することにより、厚みが1200nmより薄く、UV活性欠陥スポット率を最小にする干渉層系を形成するようにして行う。

Description

本発明は、HIDランプの石英バーナーをUV反射層系で被覆する方法に関する。
高照度での照明のため、高輝度灯又は高輝度放電灯(HIDランプ)が用いられるが、これはランプとしてプラズマ石英バーナーを有し、このランプが管状ジャケットの内側に有るものである。
UV光子はプラズマ内の原子を励起して可視域の光を発生するが、HIDランプのバーナーにおけるプラズマでの光発生に際して中心的役割を果たす。だが公知のHIDランプでは、大きなUV光子束が未使用のまま石英バーナーから漏出する。そのため、HIDランプのエネルギー効率が小さくなる。
石英バーナーにUV反射層系を設けられるなら、この未使用のままUVフォトン束が漏出するのを有意に減じられるが、このような層系はランプの全有効寿命に亘って持続できるようなものでなければならない。だが、石英バーナー内のプラズマ媒体が攻撃的であることと、バーナーの作動温度が高いことから、これを確実にすることは容易ではない。
種々の基体でのUV反射層系は種々の刊行物で知られている。以下、これ等を個々に説明する。これ等の公知の層系は、HID用の石英バーナーでは所望の結果が得られない。その理由の一つとして、被覆工程自体が困難なことである。もう一つの理由としては、エネルギーバランスが際立って良くなっていないことである。
本発明の目的は、HIDランプの石英バーナーにUV反射層系を被覆する方法であって、このUV反射層系を石英バーナーに比較的簡単な手段で付着させることができ、またその有効寿命を十分、且つ適合したものとし、そしてエネルギーバランスを際立った良くするようにした方法を創生することである。
この目的は本発明に従って、一般的化学量論組成をTiO及びSiOとする酸化チタン及び酸化ケイ素から少なくとも成る非晶質の薄層を、高出力密度及び100〜400℃の範囲の高い基体温度とし、1nm/sec〜100nm/secの低成長速度で行うPICVD法により、交互に付着することにより、厚みが1200nmより薄く、UV活性欠陥スポット率を最小にする干渉層系を形成することにより達成される。
本発明に従って、100〜400℃の範囲の高基体温度で、低成長速度を用いて、基準素成分である非晶質の酸化チタン層と非晶質酸化ケイ素層から組成される干渉層をUV反射層系に当てることにより、そうしなければ石英バーナーから漏出してしまうUV光子を、石英バーナーのプラズマ内で反射させて、かなりの程度まで確実に再捕捉して可視域の光を更に発生でき、それによりHIDランプのエネルギーバランスを著しく良くすることができる。波長360nmで、本発明による干渉被膜はUV反射率70%を達成することが明らかになった。
ここで用いられるPICVD法は十分良く知られており、更に詳細な説明を要しないが、その特別のプロセスパラメタのおかげで、石英バーナーの内部及びそれ自体に干渉層を比較的簡単に付着させることができる。
内部被膜に関しては意外にも、攻撃的プラズマ媒体の存在下でもそれが不活性であることも明らかになっている。
本発明による被膜は意外にも、C、H、N等のドーピング元素を何ら要せず、Al、Nb、Ta等の異種元素を要しない標準元素Si/Tiで十分である。
PICVD法を用いると、マルチステーションシステムでの適用が可能になり、特に石英バーナー被覆の処理能力を高めることができ有利である。
干渉層の厚みは<1200nm、好ましくは<500nmである。この種の層は柔軟性が高い。更に、固有応力(層が剥がれる原因となる)も、このように薄層とすることで防止できる。典型的な層構成は、各層の厚みを5〜100nmとする酸化Ti層と酸化Si層を交互に含む約50層であって、この場合これ等の厚みが必ずしも厳密に均一に分布する必要はなく、設計によっては、色々な微小厚みの層が色々集まったものでも良い。従って、層パケット(積層)内の層厚みの分布は混合したものであり、極薄層が頻繁に現れる等、5〜100nmの厚みが混ざって現れて良い分布である。
欠陥スポットの発生率が極めて低いので、干渉被膜のUV吸収を極めて低くすることができる。ここで意味することは構造欠陥スポット、即ち異元素包有が非常に低いことである。本発明のより的確な理解のため、下記に言及する。
HIDランプの石英バーナーでは、プラズマを、適宜のガラスジャケット(放電容器)、即ちハロゲン化金属と始動ガス、例えばキセノンから成る混合ガス中で、100〜300HzのAC/DCで点火する。UV光子はガスの原子殻内で電子遷移を惹起し、次のように光を発する。
a.約40%が可視光。この収量は高いほど良い。
b.UV光。この部の光は本発明による被膜により反射し、その結果加わって得られる光子が可視域の光波長の光収量を高める。その結果、電流の節約と共に、同一の光収量が可能となる。
c.赤外光。これも反射可能である。
これ等の効果のため、本発明による反射層パケット(積層)を有するバーナー面は事実上、可視域の光波のみを通し、UV域又は赤外域の波長をバーナーの内部に反射する帯域フィルタとなる。
TiOはその吸収特性のため、UV反射器の用途には普通不向きである。だが、SiOは反射性のものであり、吸収損失が無い。反射層として利用可能なSiOと組み合わせると、TiOは予想に反して、λ=360nmにおいて効率70%で層設計に用いることができる。ここで重要な点は、吸収をできるだけ低くしようとする際の欠陥スポットの非存在率である。層材料は350℃で、非晶質の酸化物として付着する。
本発明による対策の結果、HIDランプの石英バーナー内のプラズマ媒体の存在下に、内部及び/又は外部に、UV効率が高く(欠陥スポットの無い)、不活性な反射干渉系を、予想に反して得ることができる。そしてそれができるのは、それ自体では公知のTiO/SiOの交互層を用い、成長速度を低くし、成膜温度を高く、好ましくは一定に保つことによる。その結果、この種のランプはエネルギーバランスが向上する。
DE19962144A1には、フィルタや眼鏡等の透明な基体及び放電灯の管状ジャケットを対象として、酸化チタン・酸化ケイ素の交互層から成り、色に関しては中立のままに放射光を増大すると共にUV保護効果を高めようとするUV反射干渉系が示されている。この文献はまた、化学蒸着、特にプラズマをサポート手段とする化学蒸着を用いた蒸着に言及している。
本発明の場合、被覆されるのはHIDランプの管状ジャケットではなく、ランプ内に有るバーナー自体である。従って、本発明によってバーナーに付着させる(蒸着される)層は予想に反して、攻撃的なプラズマ媒体の存在があっても不活性であり、これがバーナーの内部被覆を可能にしている。この文献はまた、プラズマインパルス化学蒸着法、即ちPICVDを、具体的には本発明に従って用いられるプロセスパラメタを開示していない。
“Surface and Coating Technology 80 (1996) 200−202” にM. Walther,らによって書かれた「プラズマインパルス化学蒸着(PICVD)によって生成される多層バリア被膜系」と題する文書及びDE4438359C2には、TiO/SiOの交互層から成るバリア層をプラスチックに比較的低温で蒸着する方法が記載されている。本発明の場合では、蒸着は高温(例えば350℃)であり、且つ低成長速度で行われる。これは、プラズマ媒体存在下でUV合目的の無欠陥スポット及び不活性を創る唯一の方法である。上記出版物から知られる層はこれ等の基準を満たしていない。
DE19530797A1には、温室装置における対放射線保護用の複合材であって、透明な担体とそれに蒸着された干渉層系を含んで成り、この層系が就中SiO/TiOの交互層から成る複合材が記載されている。この文献に記載の蒸着層は柱状に成長するものであるから、ランプバーナー、特にその内側に利用するには全く適さない。
DE4432315A1には、石英ガラス製放電容器の外側に、TiO/SiOから成る多層干渉反射フィルタを設け、望ましくない365nm下の短波UV放射を抑制し、その容器内側に、吸収性酸化チタン層を設けたショートアークランプ部を有する水銀灯が記載されている。それに対して本発明の場合には、内部層もまた反射するようになっている。その上、本発明によるプロセスパラメタで行うPICVD法を用いる層蒸着は、上記文献には記載されていない。即ち、これ等公知の層はHIDランプのバーナー被覆には適さない。
DE4115437A1には、放射光線を増大するため光学的多層干渉フィルタを備える投写受像管が示されている。この公知の層系もまた、本発明による手段を用いて蒸着されるものでないから、HIDのバーナー被覆には全く適さない。
最後に、DE−PS3430727には、密封ガラス球の内面及び/又は外面に光学的干渉膜が設けられた白熱ランプが示されている。だが。この層系はIRを反射するに過ぎず、UVに適しているとの言及は全く無い。更に、この公知の層系も本発明による手段を用いて基体に蒸着されるものではなく、HIDランプの被覆には適さない。
好ましくは、PICVD法の蒸着パラメタを制御することにより、化学量論組成をTiO及びSiOとする酸化チタン層と酸化ケイ素層を蒸着させる。上記の「理想的化学量論組成」に従う交互層を用いることにより、最良の反射結果が得られることが分かっている。
固有応力としての応力が特に低い被膜が得るには、厚みが500nmを超えない層系を蒸着させる方法を用いれば良い。
PICVD法において、基本周波数2.45GHzのパルスマイクロ波を用い、石英バーナーが形成する基体を一定蒸着温度に維持するようにすると、特に良好な蒸着結果が得られる。
基体加熱のためにOプラズマを走らせ、また基体面測定により温度を光学的に監視するようにすれば、基体温度を容易に一定に保つことができる。
層系の反射特質はPICVD法により確定的に決まるので、本発明の更なる発展に従って、Oプラズマで基体を加熱しその温度を一定に保ち、TiO層とSiO層を交互に蒸着させるPICVD法のプロセスパラメタを次表のように選んで成る方法が提供される:
Figure 2005526904
本発明による層系は石英バーナー内に有ってプラズマが存在しても意外にも不活性であり、そのため石英バーナーをジャケットの内側において被覆でき、UV光子を高捕捉率で捕捉でき有利である。
だが、この内部被膜の代わりに、或いはそれに加えて、石英バーナーをジャケットの外側に被覆することもできる。
本方法は丈夫で且つ安定であるので、層成長のオンライン制御は行われない。蒸着が一定速度であるので、層厚みの測定はマイクロ波パルスの計数処理に単純化される。
以下、図面に示す例示的実施例に関して本発明を詳細に説明する。
図1に示すHIDランプ1は管状ジャケット2と、電極4を有する石英バーナー3で構成される。「HID」は、igh ntensity ischarge」を表す技術用語である。この種のHIDランプ1の構造や作用は公知であるので、その詳細は説明しない。付随する一部断面拡大図で示すように、UV反射積層5は多数、例えば50層の、個別Ti酸化物層と個別Si酸化物層が交互する積層であって、バーナー壁3aの内面に蒸着されている。陰影を付けられていない層5aはTi酸化物層を表し、陰影を付けられている層5bはSi酸化物層を表す。個々の層の厚みは一般に5nm〜100nmの範囲にあり、これ等の厚みは必ずしも厳密に等しくする必要はなく、積層は色々な微小厚みの層を積層したものでも良い。このことは設計次第である。だが、可撓性を高く留め、且つ固有応力を防止するため、積層の厚みは好ましくは<1200nmである。従って、個々の層の数を多くしたら、層厚みはそれに応じて薄くなるようにする。
層5a、5bは、一般的化学量論組成TiO及びSiOの非晶質Ti酸化物層及びSi酸化物層である。これにより、最良の反射結果が得られる。
図2に、本発明の層系をバーナー壁3aの内側に蒸着するための装置を示す。この装置は、石英バーナー3を真空室6に収容させ、真空装置7を用いて真空室6内の真空を保ち、真空室6に8aで連結するマイクロ波発生器8を用いて真空室6内に基本周波数2.45GHzのパルスプラズマを発生させるようにしたPICVD装置である。
ステージ9から真空室6に必要なガス、即ちプラズマを点火させるガス(この場合、酸素)と、それと代替的に、特定の先駆物質が供給され、酸素プラズマとの組み合わせで酸化Ti層と酸化Si層が交互に蒸着されるようにする。これ等の層の蒸着のために利用可能な先駆物質ガスは十分に良く知られている。この処理の全工程、特に層成長速度と層厚みをプロセス制御器10が制御する。本方法は丈夫で安定であるから、層成長のオンライン制御は必要でない。一定の蒸着速度が達成可能であるから、層厚みの測定はマイクロ波パルスの計数工程に単純化される。この層設計のもう一つの重要な特徴は、蒸着が高い基体温度で行われると云うことである。この場合、例えばDE4008400C1(8欄)に記載されているように酸素プラズマを用いると、石英バーナーは例えば約350℃まで容易に加熱される。そうすると、先駆物質の層材料が350℃で酸化物として非晶質に蒸着する。基体温度は一般に100〜400℃で良い。
典型的なプロセスパラメタは次表の通りである。
Figure 2005526904
本発明による被膜が備わるHIDランプの、一部断面を拡大して示す概略図である。 本発明による層蒸着用として修正されたPICVD装置のブロック図である。

Claims (12)

  1. UV反射層系でHIDランプの石英バーナーを被覆する方法であって、一般的化学量論組成を少なくともTiO及びSiOとする酸化チタン及び酸化ケイ素から成る非晶質の薄層を、高出力密度及び100〜400℃の範囲の高い基体温度とし、1nm/sec〜100nm/secの低成長速度で行うPICVD法により、交互に付着させることにより、厚みが1200nmより薄く、UV活性欠陥スポット率を最小にする干渉層系を形成して成る方法。
  2. 化学量論組成をTiO及びSiOとする酸化チタン層及び酸化ケイ素層を0.1%〜1%の欠陥スポット率で付着させて成る請求項1に記載の方法。
  3. 厚みが<1200nm、好ましくは<500nmの層系を付着させて成る請求項1又は2に記載の方法。
  4. 付着させる層系が好ましくは、層厚み5nm〜100nmであるTiO層とSiO層が交互する50個別層から成る請求項2又は3に記載の方法。
  5. 層系内の個々の層の厚みが同じでなく、様々に分布するようにして成る請求項4に記載の方法。
  6. プラズマ発生のために、基本周波数を2.45GHzとするパルスマイクロ波法を用いる請求項1〜5の何れか一つに記載のPICVD法による方法。
  7. 石英バーナーの形成する基体を一定の付着温度に維持して成る請求項6に記載の方法。
  8. 一定の温度を維持する基体加熱のためにOプラズマを走らせ、基体面を測定して温度を光学的に監視して成る請求項7に記載の方法。
  9. プラズマ基体加熱により一定の基体温度で交互するTiO/SiO層を付着させるPICVD法のプロセスパラメタを次のように選んで成る請求項2〜8の何れか一つに記載の方法:
    Figure 2005526904
  10. バーナーをそのジャケットの内側において被覆して成る請求項1〜9の何れか一つに記載の方法。
  11. バーナーをそのジャケットの外側において被覆して成る請求項1〜9の何れか一つに記載の方法。
  12. 付着速度を一定に稼動し、且つ層厚みの測定を、マイクロ波パルスを計数して行う請求項5〜11の何れか一つに記載の方法。

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