JP2005504987A5 - - Google Patents

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Claims (19)

  1. 透過回折分析装置のサポート(23)上の複数のアナライト(24)の各々に対して透過回折分析を実施するための方法であって、
    少なくとも1つの結晶化し得るアナライトが、液状、又は、ゲルの状態でサポート上に配置され、
    サポートが放射線ビーム(26)に対して動くことができる水平サポート表面を有し、該サポート表面に複数の縦穴を有しており、上記複数の縦穴の各々が、アナライトを受け入れるコンテナーであって、放射線ビームに対し半透明であり、
    上記装置が、更に、
    サポートを水平移動させる転移器具(29)と、
    放射線ビーム源であって、複数のアナライトの内の上記転移器具によって位置決めされた1つに対して、透過回折分析を実行するため、放射線ビームを、上側又は下側から照射するように方向付ける放射線ビーム源(22)と、
    上記1つのアナライトに放射線ビームを集束させる集束手段(27)と、
    上記1つのアナライトを通った放射線の検出を行う検出器(25)と、
    を含んでおり、
    上記方法が、
    回折分析前にアナライトをコンテナー内で結晶化する、第1工程と、
    放射線ビームで上記位置決めされ、上記第1工程によって結晶化された1つのアナライトを照射する工程であって、上記放射線ビームが、上記放射線ビーム源によって方向付けられると共に、上記集束手段によって上記位置決めされた1つのアナライトに集束され、これによって、回折された放射線のパターンが形成される第2工程と、
    上記検出器によって上記回折された放射線のパターンを検出する第3工程と、
    サポートの背景回折パターンを決定する第4工程と、
    上記背景回折パターンについて、上記検出された回折された放射線のパターンを修正する第5工程と、
    複数のアナライトの内の次の1つに透過回折分析を行うため、上記転移器具によってサポートを移動させる第6工程と、
    を含んでいる、ことを特徴とする透過回折分析実施のための方法。
  2. 上記装置が、アナライトの温度制御のための熱移送手段を更に備えており、
    上記第1工程は、上記熱移送手段がアナライトを乾燥させることによって結晶化を達成する、
    請求項1に記載の透過回折分析実施のための方法。
  3. 上記少なくとも1つの結晶化し得るアナライトが、1μg以下のものである、
    請求項1又は2に記載の透過回折分析実施のための方法。
  4. 請求項1乃至3の何れか1つに記載の方法であって、放射線ビームが上記位置決めされた1つのアナライトを照射する方向、即ち、放射線ビームと水平なサポートとの間の角度が、75°乃至90°である方法。
  5. 請求項1乃至3の何れか1つに記載の方法であって、放射線ビームが上記位置決めされた1つのアナライトを照射する方向が、水平なサポートに対して垂直である方法。
  6. 請求項1乃至5の何れか1つに記載の方法であって、
    分析中、サポートが上記転移器具によって放射線ビーム源に対して自動的に動かされ、上記放射線ビームによって複数のアナライトの各々が次々と照射される方法。
  7. 請求項1乃至6の何れか1つに記載の方法であって、
    複数のアナライトが、サポート上に、アレイ状に並べられている方法。
  8. 請求項に記載の方法であって、
    複数のアナライトが、サポート上に2次元アレイ状に並べられている方法。
  9. 請求項1乃至8の何れか1つに記載の方法であって、
    複数のアナライトが、追加のアタッチメントを伴うことなく、配置されている方法。
  10. 請求項1乃至9の何れか1つに記載の方法であって、
    各コンテナーが、異なるアナライトで充填されている方法。
  11. 請求項1乃至10の何れか1つに記載の方法であって、
    分析中、各コンテナーの頂部が開放されている方法。
  12. 請求項1乃至11の何れか1つに記載の方法であって、
    コンテナーが1個のアレイ内に配置されている方法。
  13. 請求項1乃至12の何れか1つに記載の方法であって、
    分析中、1以上のコンテナーがシールされている方法。
  14. 請求項1乃至13の何れか1つに記載の方法であって、
    サポートが可視光線に対して半透明である方法。
  15. 請求項1乃至14の何れか1つに記載の方法であって、
    サポートの背景回折パターンを決定する工程と、
    該背景回折パターンのために計測されたパターンを修正する工程と、
    を含んでいる方法。
  16. 請求項1乃至15の何れか1つに記載の方法であって、
    大気条件が制御される方法。
  17. 請求項1乃至16の何れか1つに記載の方法であって、
    複数のアナライトのパウダー回折パターンが、検出され、記録される方法。
  18. 請求項1乃至16の何れか1つに記載の方法であって、
    複数のアナライトの位相の挙動が映写される方法。
  19. 請求項1乃至16の何れか1つに記載の方法であって、
    複数のアナライトの同質異像が検出される方法。
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