JP2005317539A - ソケット接続用のシュラウドおよびピン - Google Patents

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Abstract

【課題】 表面実装ピンと相補形ソケットの接続の信頼性を高める回路電子部品アセンブリを提供する。
【解決手段】電子部品面(38,40)から突出しているピン(34/34’)のアレイ(46)を有する電子部品面(38,40)を画定する回路電子部品(20)と相互作用して、対応するソケット(14)と相互作用するシュラウド(24/24’/24”)は、前記ピンのアレイを補完する開口部のアレイ(60/60’/60”)を画定する平面部材(52/52’/52”)を含み、前記平面部材が、前記ピンと前記対応するソケットの間の均一な接触を維持するように前記回路電子部品と相互作用する。
【選択図】 図4

Description

本発明は、電子部品の基板への取付け構造に関する。
コンピュータシステム、通信交換システム、制御システムなどのプログラム式電子システムの回路は、一般に、回路電子部品の取り外しおよび/または交換を容易にするソケットを介してプリント印刷基板(PCB)などの基板に取り付けられた1つまたは複数の回路電子部品を含む。そのような回路電子部品は、基板上の相補形ソケットのピンスリーブ(ピンと嵌合する管)の配列と結合するように配列されたピンの配列を含む。携帯性の要求が高まるにつれて、より小さいプログラム式電子システムの要求も高まってきている。より小さいプログラム式電子システムを作成するために、プログラム式電子システム内により小さい回路電子部品が導入された。
より小さい電子部品を作成する1つの方法は、ピンを基板に取り付ける表面実装技術の利用を含む。表面実装技術は、一般に、従来のスルーホール実装技術に従って基板の穴にピンを部分的に埋め込むのではなく、ピンの配列のそれぞれを基板の表面に位置決めされたはんだ付けパッドの配列の1つにはんだ付けすることを含む。表面実装されたピンは、一般に、はんだパッドによって基板の内部配線システムと電気的に接続される。表面実装ピンによって、電子部品は、従来のスルーホールピンを有する電子部品よりも小さいフットプリント(占有領域)と薄いプロファイル(輪郭)を有することができる。少なくともそのような利点により、表面実装ピンは人気が高まった。その結果、表面実装ピンの高い人気により、表面実装ピンの配列とそれに対応するソケットとの関係の信頼性を高める要求が高まった。
したがって、本発明は、以上の理由と本明細書に示した理由のために、表面実装ピンと相補形ソケットの接続の信頼性を高める回路電子部品アセンブリを提供する。
本発明の1つの態様は、電子部品面から突出しているピンのアレイ(すなわち、配列)を有する電子部品面を画定する回路電子部品と相互作用するシュラウドに関する。シュラウドは、ピンのアレイを補完する(ピンのアレイと嵌合する)開口部のアレイを画定する平面部材を含む。平面部材は、回路電子部品と相互作用してピンと対応するソケットとの間の均一な接触を維持するように構成されている。
以下の詳細な説明において、その一部分を構成し、本発明を実施することができる特定の実施形態によって示される添付図面を参照する。この点において、「上」、「下」、「上方」、「下方」、「前方」、「後方」などの方向を示す用語は、説明している図面の向きを基準に使用されている。本発明の実施形態の電子部品は、いくつかの異なる向きに配置することができるので、方向を示す用語は、説明のために使用され、決して制限ではない。他の実施形態を利用することができ、本発明の範囲を逸脱することなく構造的または論理的変更を行うことができることを理解されたい。したがって、以下の詳細な説明は、限定の意味で解釈されるべきでなく、本発明の範囲は、添付の特許請求の範囲によって定義される。
図1は、回路電子部品アセンブリ10とそれに対応する基板12の1つの実施形態を示す。基板12は、回路電子部品アセンブリ10を選択的に受けるように構成されたソケット14を含む。回路電子部品アセンブリ10は、回路電子部品アセンブリ10と基板12の間の接続の均一性を高めるように構成されており、それにより、回路電子部品アセンブリ10と対応する基板12が相互接続された、図10に示したコンピュータシステム120のようなコンピュータシステムや他の電子システムの信頼性が向上する。1つの実施形態において、基板12は、必要に応じて、後でさらに詳しく説明する少なくとも1つの電子部品位置合わせ構造16を含む。
回路電子部品アセンブリ10は、電子部品20、集積回路またはマイクロプロセッサ22、およびシュラウド(囲い板、側板)24を含む。図2をさらに詳しく参照して説明するように、電子部品20は、基板またはプリント回路基板(PCB)30、複数のはんだ付けパッド32、および複数のピン34を含む。PCB30は、第1の面すなわち上面36と、上面36と反対側にある第2の面すなわち下面38を画定する。1つの実施形態において、PCB30は、セラミックス、FR−5またはFR−4エポキシガラス、ポリイミドガラス、ベンゾシクロブテン、Teflon(商標)、他のエポキシ樹脂、または他の適切な材料から形成される。
1つの実施形態において、はんだ付けパッド32はそれぞれ、銅などの金属から形成されるがこれに限定されない。複数のはんだ付けパッド32がPCB30の下面38とアレイで結合されている。1つの実施形態において、はんだ付けパッド32はそれぞれ、PCB30の下面38とはんだ付けパッド32の下面40が電子部品20の平坦下面42を集合的に画定するように、PCB30の下面38に埋め込まれている。電子部品20、詳細にはPCB30は、さらに、埋め込まれた多層金属相互接続システム(図示せず)を含み、これは、内部構成要素ならびに上面36上のインタフェース領域を下面38のインタフェース領域と電気的に接続する。冶金相互接続システムは、冶金システムが本発明の一部でなく、また当技術分野において周知であるため示していない。
1つの実施形態において、複数のピン34はそれぞれ、単一のシャフト(軸)である。各ピン34は、はんだ付けパッド32のうちの1つにはんだ付けされる。詳細には、複数のピン34のそれぞれをそれぞれのはんだ付けパッド32に固定するために、複数の各ピン34のまわりにはんだすみ肉(はんだフィレット)44が形成される。各はんだすみ肉44は、溶融した状態で各ピン34のまわりに塗布され、冷却したときにピン34をはんだ付けパッド32に固定するはんだのリボンである。1つの実施形態において、はんだすみ肉44は、当業者に明らかなような標準のスズ−鉛(Sn−Pb)はんだ混合物、スズ−アンチモン(Sn−Sb)はんだ混合物、または任意の他のはんだ混合物で形成される。したがって、図2Aの詳細図にはっきりと示したように、各はんだすみ肉44は、複数のピン34のそれぞれのまわりで電子部品20の下面42から突出している。
特にはんだ付け工程に固有であるが、複数のはんだすみ肉44は、形とサイズが均一でなく、したがってそれぞれ下面42から同じ距離だけ突出していない。より正確に言うと、各はんだすみ肉44は、下面42からわずかに異なる距離突出している。各はんだすみ肉44が冷えたとき、対応するピン34が、各はんだ付けパッド32に固定される。図3に示したように、複数のピン34はアレイ46で配列されている。8×8グリッド(格子)として示したが、アレイ46は、PCB30上の複数のピン34の任意の均一な配列または不均一な配列である。1つの実施形態において、複数のピン34はそれぞれ長さが約3mmであり、はんだすみ肉44は、各はんだ付けパッド32から平均約1mm突出している。
図2を再び参照すると、集積回路またはマイクロプロセッサ22は、インタフェース面48を画定し、PCB30と結合されている。より詳細には、集積回路22のインタフェース面48は、複数のはんだバンプ50を介してPCB30の上面36に電気的かつ機械的に接続されている。1つの実施形態において、複数のはんだバンプ50はそれぞれ、当業者に明らかになるように、標準のSn−Pbはんだ、Sn−Sbはんだ、または任意のはんだからなる。組み立て工程において、複数のはんだバンプ50は、複数のはんだバンプ50を溶融するのに十分な温度に加熱される。溶融された複数のはんだバンプ50は、PCB30の上面36の隣接したパッド(図示せず)上に流れる。冷えたとき、集積回路22は、複数のはんだバンプ50によって提供されるはんだによってPCB30にしっかりと接続される。
図4に示したように、1つの実施形態において、シュラウド24は、平面部材52とフレーム54を含む。1つの実施形態において、平面部材52は、第1の面56、第1の面56と反対側の第2の面58、および複数の開口部60を画定する。複数の開口部60はそれぞれ、面56および58の間を貫通し、電子部品20の複数のピン34のうちの1つと対応するように形成されている。より詳細には、平面部材52は、PCB30上の複数のピン34のアレイ配列と相補的な(つまり相補的に嵌合する)アレイで位置決めされた複数の開口部60を構成する。例えば、図3に示した1つの実施形態において、基板20は、8×8グリッドで配列され中心で距離「Y」だけ離間された複数のピン34を含み、したがって、シュラウド24の複数の開口部60は、8×8グリッドで配列され、複数のピン34を補完するために中心で距離「Y」だけ離間されている。長方形として示したが、当業者に明らかになるように、複数の開口部60はそれぞれ、円形、放物線形、長方形、または他の形を取ることもできる。平面部材52は、複数のはんだすみ肉44のうちの最も高いものが電子部品20の下面42から突出する長さよりも大きい厚さを有する。さらに、平面部材52は、厚さが実質的に均一である。
図4と図5を参照すると、フレーム54は、平面部材52のまわりに延在している。1つの実施形態において、フレーム54は、第1の壁62、第2の壁64、第3の壁66、および第4の壁68を含む。第2の壁64は、第1の壁62から延在している。第3の壁66は、第1の壁62と反対側で第2の壁64から延在している。第4の壁68は、第2の壁64と反対側で第3の壁66から、第2の壁64と反対側で第1の壁62まで延在している。壁62、64、66および68はそれぞれ、フレーム54を正方形または長方形部材として構成して平面部材52の各縁と対向するように実質的に互い垂直である。第1の壁62と第3の壁66は、単純な細長い部材であり、平面部材52と実質的に垂直な第1の方向すなわち下方に平面部材52からそれぞれ延在している。第2の壁64は、第1の壁62と第3の壁66の間に延在している。第2の壁64は、第1の部分すなわち下部70と第2の部分すなわち上部72とを含む。下部70は、壁62と66の間に、平面部材52から第1の方向に延在している。上部72は、壁62と66の間に、平面部材52から第1の方向と反対の第2の方向すなわち上側方向に延在している。詳細には、上部72は、下部70から延在して平面部材52と反対側に離間された少なくとも1つの保持タブ74(保持用突起部)を画定する。保持タブ74は、第4の壁68の方に延在している。1つの実施形態において、保持タブ74は、平面部材52から、PCB30の厚さと等しいかそれよりも大きい距離だけ離間されている。1つの実施形態において、第2の壁64は、互いに離間された2つの保持タブ74を画定する。
第4の壁68は、第1の部分すなわち下部76と第2の部分すなわち上部78を画定する。第1の部分76は、第1の壁62と第3の壁66の間で平面部材52から第1の方向すなわち下方に少なくとも部分的に延在している。1つの実施形態において、第1の部分76は、第1の部品80と、第1の部品80から離間された第2の部品82とを含む。第1の部品80は、第3の壁66から第1の壁62の方に部分的に延在している。第2の部品82は、第1の壁62から第3の壁66の方に部分的に延在している。第2の部分78は、第3の壁66と第1の壁62の間で第2の方向すなわち上方に延在し、平坦部材52と反対側に離間された少なくとも1つの保持タブ84を画定する。1つの実施形態において、保持タブ84は、第2の部分78から第2の壁64に向かって延在する細長い部材である。保持タブ84は、PCB30の厚さと等しいかまたはそれより大きい距離だけ平面部材52の上に離間されている。
フレーム54は、必要に応じて、ヒートシンク位置合わせ構造86を含む。1つの実施形態において、ヒートシンク位置合わせ構造86は、第4の壁68の第2の部分78と結合され、第2の部分78から上方に突出している。別の実施形態において、ヒートシンク位置合わせ構造86は、第2の壁64の上部72と結合され、その上部72から上方に突出している。ヒートシンク位置合わせ構造86は、第4の壁68または第2の壁64から、集積回路22がPCB30の上面36から突出している高さよりも大きい距離だけ突出している。
フレーム54は、必要に応じて、基板位置合わせ構造88を含む。1つの実施形態において、基板位置合わせ構造88は、第2の壁64の下部70と結合され、下部70から下方に突出している。他の実施形態において、基板位置合わせ構造88は、壁62、66および68のいずれかから下方に突出している。1つの実施形態において、フレーム54は、複数の基板位置合わせ構造88を含む。
1つの実施形態において、シュラウド(囲い板)24は、高温と静電破壊に耐えるように処理されまたは固有に形成された単一片のプラスチックとして形成される。1つの実施形態において、シュラウド24は、機械加工され、射出成形され、または別の適切な技術によって形成される。1つの実施形態において、平面部材52とフレーム54は、互いに接合される個別の部品として構成されている。1つの実施形態において、平面部材52は、Mylar(マイラ)(登録商標)フィルムまたはポリカーボネート/アクリルニトリルブタジエンスチレンアロイ(PC/ABS)で形成されており、フレーム54は、前述のプラスチックと類似の耐熱性および耐静電破壊性プラスチックから形成される。1つの実施形態において、前述のように、平面部材52とフレーム54はそれぞれ、耐熱性および耐静電破壊性プラスチックから別々に形成される。個別の平面部材52とフレーム54は、スナップばめ接続や摩擦接続などの適切な方法で結合される。1つの実施形態において、平面部材52は、約1mm〜2mmの範囲の厚さを有する。電子部品20、より詳細にはPCB30は、第2の壁64の上部70と第4の壁68の上部78の間に位置決めされ、その結果、PCB30の下面38は、平面部材52の第1の面56に接するように位置決めされる。保持タブ72および84は、PCB30の上面36と相互作用して、それによりPCB30が、平面部材52の第1の面56と保持タブ72および84の間に維持される。1つの実施形態において、シュラウド24は、追加または代替として、接着剤によってPCBの下面38と結合される。シュラウド24が電子部品20上に配置されたとき、各ピン34は、シュラウド24の対応する開口部60を貫通する。したがって、複数のピン34はそれぞれ、電子部品20の下面42から平面部材52の面58および56を貫通する。特に、複数のピン34はそれぞれ、後でさらに詳しく説明するように、ソケット14との電気接続を有効にするのに十分な距離だけ平面部材52の面58から突出している。
図1を再び参照すると、回路電子部品アセンブリ10を組み立てる際、回路電子部品アセンブリ10は、ソケット14によって基板12に取り付けられる。ソケット14は、基板12から突出して第1の縁90、第2の縁92、第3の縁94、および第4の縁96を形成する。縁90、92、94および96はそれぞれ、長方形または正方形を画定するように互いに接合される。さらに、ソケット14は、PCB30上のピン34の配列と相補的に嵌合するアレイ100で配列された複数のピンスリーブ98を画定する。したがって、各ピンスリーブ98は、複数のピン34のうちの1つを収容し選択的に維持するように構成される。詳細には、複数のピン34のうちの1つと複数のピンスリーブ98のうちの1つとの接続が、回路電子部品アセンブリ10と基板12の間の物理的および電気的な相互接続を実現する。
図6を参照すると、組み立てる際に、回路電子部品アセンブリ10は、複数のピン34がそれぞれ、複数のピンスリーブ98のうちの1つに収容されるように位置決めされる。1つの実施形態において、フレーム54の下部68は、ソケット14と相互作用(接触)してソケット14との回路電子部品アセンブリ10の総体的な(全体的な)位置合わせを実現する。詳細には、第1の壁62、第2の壁64の下部70、第3の壁66、および第4の壁68の下部76は、ソケット14の第1の縁90、第2の縁92、第3の縁94および第4の縁96をそれぞれ囲み相互作用(接触)するように位置合わせされる。したがって、壁62と64、66および68と縁90、92、94および96との相互作用によって、ソケット14との回路電子部品アセンブリ10の全体的または予備的な位置合わせが実現される。
1つの実施形態において、追加または代替として、総体的な位置合わせは、フレーム54の各基板位置合わせ構造88を基板12の対応する電子部品位置合わせ構造16と位置合わせすることによって達成される。1つの実施形態において、電子部品位置合わせ構造16は、基板位置合わせ構造88との相互作用を可能にする穴や他の特徴的形態である。
ソケット14との回路電子部品アセンブリ10の総体的な位置合わせの後、回路電子部品アセンブリ10は、さらにソケット14まで下がり、それぞれのピン34が、対応するピンスリーブ98に収容される。ソケット14に対する回路電子部品アセンブリ10の位置決めが完了すると、平面部材52の第2の面58が、ソケット14の上面102と相互作用しその上面102と接する。特に、平面部材52が、各はんだすみ肉44がPCB30の下面38から延在する高さよりも大きい厚さを有するので、平面部材52とソケット14の上面102との相互作用によって、ソケット14の上面102とのはんだすみ肉44の干渉が防止される。平面部材52が均一に形成されているので、回路電子部品アセンブリ10は、電子部品20をソケット14から均一の間隔で維持し、したがって、複数のピンスリーブ98と均一に接触するように複数のピン34を位置決めする。これは、シュラウド24がない場合の回路電子部品アセンブリ10の相互作用と正反対であり、不均一な各はんだすみ肉44はソケット14の上面102と相互作用し、その結果回路電子部品アセンブリ10とソケット14の間の相互作用が不均一になり、それにより回路電子部品アセンブリ10とソケット14の間の接続信頼性が低下する。
1つの実施形態において、回路電子部品アセンブリ10とソケット14の上にヒートシンクや他の放熱装置104が配置される。詳細には、回路電子部品アセンブリ10がヒートシンク104と基板12の間に挟まれる。1つの実施形態において、ヒートシンク104は、必要に応じて、回路電子部品アセンブリ10に対するヒートシンク104の位置合わせを容易にするために、シュラウド24のヒートシンク位置合わせ構造86を収容するようにサイズと位置が決められた位置合わせ穴108を含む。したがって、穴108は、最初、オプションのヒートシンク位置合わせ構造86と相互作用して、ヒートシンク104を回路電子部品アセンブリ10と予備的に位置合わせする。1つの実施形態において、シュラウド24は、複数のヒートシンク位置合わせ構造86を含み、ヒートシンク104は、対応する複数の位置合わせ穴108を含む。1つの実施形態において、シュラウド24は、少なくとも1つ位置合わせ穴(図示せず)を含み、ヒートシンク104は、少なくとも1つの対応するヒートシンク位置合わせ構造(図示せず)を含み、これは、位置合わせ穴108およびヒートシンク位置合わせ構造86と類似しているが逆に相互作用する。
別の実施形態において、ヒートシンク104が回路電子部品アセンブリ10と結合された後で、回路電子部品アセンブリ10がソケット14に収容される。したがって、ヒートシンク104と回路電子部品アセンブリ10は一緒にソケット14と位置合わせされてソケット14まで下げられる。ヒートシンク104は、ヒートシンク104を固定しかつヒートシンク104と基板12の間に回路電子部品アセンブリ10を確実に挟むために、ねじや他の保持ハードウェア106(保持部材)のような当業者に明らかな方法で基板12と結合される。
ヒートシンク104が基板12に固定されたとき、ヒートシンク104に取り付けられているかまたは一体化された保持機構(図示せず)が、ばね、ねじ、または回路電子部品アセンブリ10に負荷を加える他の手段を使用して圧縮力を提供する。ヒートシンク104が圧縮力を加える際、回路電子部品アセンブリ10をソケット14に均一に接続することがより重要である。シュラウド24を組み込むことによって、ピン34のPCB30への接続がばらつく(すなわち、表面実装ピン34の各すみ肉44が同形でない)場合でも、回路電子部品アセンブリ10とソケット14の接触を均一にすることができる。これを考慮すると、ヒートシンク104の圧縮力または負荷は、回路電子部品アセンブリ10とソケット44により均一に伝えられる。シュラウド24の使用によって達成された回路電子部品アセンブリ10とソケット14間のより均一な接続と相互作用によって、応力または不安定性が大きい領域が減少しあるいはなくなり、それによりソケット14を介した回路電子部品アセンブリ10と基板12間の接続の信頼性が向上する。
図7は、複数のピン34のうちの1つの代替実施形態を全体的に34’で示す。この実施形態において、ピン34’は、平頂ヘッド110と、平頂ヘッド110の中心から延在するシャフト112とを有するバットヘッドピン(butt−head pin)である。この実施形態において、はんだすみ肉44’が、平頂ヘッド(flat−top head)110を各はんだ付けパッド32のそれぞれに接続するように位置決めされている。特に、はんだすみ肉44’は、平頂ヘッド110の上に少し延在して不均一な境界面114を提供する場合があり、したがってソケット14(図6に示した)と均一に接続するための平面部材52を提供するシュラウド24が必要である。
図8は、シュラウド24の代替の実施形態を全体的に24’で示す。この実施形態において、シュラウド24’は、平面部材52’の第1の面56’から平面部材52’の第2の面58’までアーチ形または斜めに延在する複数の開口部60’を画定する平面部材52’を含み、したがって、各はんだすみ肉44の上に少し延在して湾曲した開口部の縁または境界116を形成している。各開口部60’をアーチ形または斜めに形成することによって、平面部材52’の第2の面58’は、平面部材52の第2の面58よりも複数のピン34のそれぞれの近くまで延在している。
図9は、本明細書に具体的に列挙した差異を除いてシュラウド24と類似しているシュラウド24のさらに別の実施形態を全体的にシュラウド24’で示す。この実施形態において、シュラウド24”は、複数の開口部60”を有する平面部材52”を画定する。複数の開口部60”はそれぞれ、複数のピン34のうちの2つ以上を収容するようにサイズが決められている。したがって、電子部品20の面42およびソケット14(図6に示した)の上面102との相互作用を維持する平面部材52”の面積が少なくなる。しかしながら、より大きい開口部60”でも、開口部60”間に、ソケット14と相互作用してPCB30をソケット14に対して均一な間隔で維持するのに十分な平面部材52”の面積が残る。
特に断らない限り、平面部材52”は、ソケット14の上面102と電子部品20の面42の間の距離を均一に維持するのに十分な剛性を維持し、それによりピン34とピンスリーブ98(図6に示した)の間の均一接続の利点が維持される。特に、図7、図8および図9の代替の実施形態は、互いに一緒に使用されさらに図2〜図4に示した実施形態と共に使用されるように交換可能かつ適応可能でよい。
図10は、コンピュータシステムの1つの実施形態を全般的に120で示す。コンピュータシステム120は、デスクトップ、ノートブック、モバイル、ワークステーション、サーバコンピュータなどの任意のタイプのコンピュータシステムでよい。コンピュータシステム120は、プロセッサ124とメモリ122を含む。プロセッサ124は、コネクタ126によって少なくとも部分的にメモリ122に結合され、メモリ122から取り出された命令を実行する。1つの実施形態において、プロセッサ124は、前に説明し図1に示した回路電子部品アセンブリ10である。メモリ122は、RAM、SRAM、DRAM、SDRAM、DDR SDRAMなどの任意のタイプのメモリを含む。1つの実施形態において、メモリ122は、ハードドライブやCD−ROMなどの入力装置(図示せず)からメモリ122にあらかじめロードされた命令とデータを含む。
本明細書で特定の実施形態を示し説明したが、当業者は、本発明の範囲を逸脱することなく、示し説明した特定の実施形態に様々な代替および/または等価な実施形態を代用できることを理解されよう。例えば、以上で表面実装ピンと共に使用するように説明したが、PCBとソケットの間に生じる相互作用を減少させるために、シュラウドを任意のピンおよびソケット接続(すなわち、圧入ピンまたは挿入実装ピンを使用するピンソケット接続)で使用することができる。本出願は、前述の特定の実施形態の任意の適応または変形を対象として含むように意図されている。したがって、本発明は特許請求の範囲とその等価物によってのみ限定されるものである。
本発明は、以下の実施態様を含む。
<実施態様1>電子部品面(38,40)から突出しているピン(34/34’)のアレイ(46)を有する電子部品面(38,40)を画定する回路電子部品(20)と相互作用して、対応するソケット(14)と相互作用するシュラウド(24/24’/24”)であって、前記ピンのアレイを補完する開口部のアレイ(60/60’/60”)を画定する平面部材(52/52’/52”)を含み、前記平面部材が、前記ピンと前記対応するソケットの間の均一な接触を維持するように前記回路電子部品と相互作用するように構成されたことを特徴とするシュラウド(24/24’/24”)。
<実施態様2>前記平面部材が、第1の面(56/56’)と、前記第1の面と反対側の第2の面(58/58’)とを画定し、前記第1の面が、前記回路電子部品と相互作用するように構成され、前記第2の面が、前記対応するソケットと相互作用するように適応されたことを特徴とする実施態様1に記載のシュラウド。
<実施態様3>前記平面部材と結合しそのまわりに延在して、前記回路電子部品と結合するように構成されたフレーム(54)をさらに含むことを特徴とする実施態様1に記載のシュラウド。
<実施態様4>前記フレームが、前記シュラウドと前記回路電子部品の結合を容易にするように構成された少なくとも1つの保持タブ(74)を含むことを特徴とする実施態様3に記載のシュラウド。
<実施態様5>前記フレームが、前記対応するソケットとの前記回路電子部品の全体的な位置合わせを提供する複数の壁(62,64,77,68)を含むことを特徴とする実施態様3に記載のシュラウド。
<実施態様6>前記フレームと前記平面部材が、単一の均質部品として形成されたことを特徴とする実施態様3に記載のシュラウド。
<実施態様7>前記ピンがそれぞれ表面実装ピンであり、前記平面部材か、前記表面実装ピンのそれぞれのまわりのはんだすみ肉の高さよりも大きい厚さを有することを特徴とする実施態様1に記載のシュラウド。
<実施態様8>ヒートシンク位置合わせ構造(86)をさらに含むことを特徴とする実施態様1に記載のシュラウド。
<実施態様9>基板位置合わせ構造(88)をさらに含むことを特徴とする実施態様1に記載のシュラウド。
<実施態様10>表面(38,40)から突出しているピン(34/34’)を有する電子部品(20)を対応するソケット(14)と組み立てる方法であって、複数の開口部(60/60’/60”)を画定するシュラウド(24/24’/24”)を前記回路電子部品と位置合わせする段階と、前記シュラウドを前記回路電子部品の前記表面に結合する段階と、前記回路電子部品を前記対応するソケットと結合する段階とを含み、前記ピンがそれぞれ前記対応するソケットと均一に接触することを特徴とする方法。
本発明は、ピンを有する電子部品のソケットへの取付け構造として利用できる。
回路電子部品アセンブリおよび対応する基板の例示的実施形態の分解斜視図である。 線X−Xで切断した図1の回路電子部品アセンブリの例示的実施形態の断面図である。 図2に「A」で示したような回路電子部品アセンブリの一部分の拡大図である。 図1の回路電子部品アセンブリの例示的実施形態の部分下面図である。 図1の回路電子部品アセンブリのシュラウドの例示的実施形態の斜視図である。 図4のシュラウドの一部分の例示的実施形態の斜視図である。 線X−Xに沿って切断した図1の回路電子部品アセンブリ、対応する基板、およびヒートシンクの例示的実施形態の分解断面図である。 表面実装ピンとシュラウドの一部分の別の例示的実施形態の部分断面図である。 表面実装ピンとシュラウドの一部分の別の例示的な実施形態の部分断面図である。 図1の回路電子部品アセンブリを含む回路基板アセンブリの別の例示的実施形態の部分下面図である。 コンピュータシステムの1つの実施形態のブロック図である。
符号の説明
14 ソケット
20 回路電子部品
24、24’、24” シュラウド(囲い板)
34、34’ ピン
38、40 電子部品面
46 アレイ(配列)
52、52’、52” 平面部材
54 フレーム(枠)
56、56’ 第1の面
58、58’ 第2の面
60、60’、60” 開口部のアレイ
62、64、68、77 複数の壁
74 保持タブ(保持用突起部)
86、88 位置合わせ構造

Claims (10)

  1. 電子部品面から突出しているピンのアレイを有する電子部品面を画定する回路電子部品と相互作用して、対応するソケットと相互作用するシュラウドであって、
    前記ピンのアレイを補完する開口部のアレイを画定する平面部材を含み、
    前記平面部材が、前記ピンと前記対応するソケットの間の均一な接触を維持するように前記回路電子部品と相互作用するように構成されたことを特徴とするシュラウド。
  2. 前記平面部材が、第1の面と、前記第1の面と反対側の第2の面とを画定し、
    前記第1の面が、前記回路電子部品と相互作用するように構成され、
    前記第2の面が、前記対応するソケットと相互作用するように適応されたことを特徴とする請求項1に記載のシュラウド。
  3. 前記平面部材と結合しそのまわりに延在して、前記回路電子部品と結合するように構成されたフレームをさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のシュラウド。
  4. 前記フレームが、前記シュラウドと前記回路電子部品の結合を容易にするように構成された少なくとも1つの保持タブを含むことを特徴とする請求項3に記載のシュラウド。
  5. 前記フレームが、前記対応するソケットとの前記回路電子部品の全体的な位置合わせを提供する複数の壁を含むことを特徴とする請求項3に記載のシュラウド。
  6. 前記フレームと前記平面部材が、単一の均質部品として形成されたことを特徴とする請求項3に記載のシュラウド。
  7. 前記ピンがそれぞれ表面実装ピンであり、
    前記平面部材か、前記表面実装ピンのそれぞれのまわりのはんだすみ肉の高さよりも大きい厚さを有することを特徴とする請求項1に記載のシュラウド。
  8. ヒートシンク位置合わせ構造をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のシュラウド。
  9. 基板位置合わせ構造をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のシュラウド。
  10. 表面から突出しているピンを有する電子部品を対応するソケットと組み立てる方法であって、
    複数の開口部を画定するシュラウドを前記回路電子部品と位置合わせする段階と、
    前記シュラウドを前記回路電子部品の前記表面に結合する段階と、
    前記回路電子部品を前記対応するソケットと結合する段階とを含み、
    前記ピンがそれぞれ前記対応するソケットと均一に接触することを特徴とする方法。
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