JP2005300483A - 電気コネクタ - Google Patents
電気コネクタ Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005300483A JP2005300483A JP2004120960A JP2004120960A JP2005300483A JP 2005300483 A JP2005300483 A JP 2005300483A JP 2004120960 A JP2004120960 A JP 2004120960A JP 2004120960 A JP2004120960 A JP 2004120960A JP 2005300483 A JP2005300483 A JP 2005300483A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conductive thin
- electrical
- thin wire
- contact
- elastic elastomer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
- H01R13/02—Contact members
- H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
- H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
- H01R13/2407—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means
- H01R13/2414—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means conductive elastomers
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
【解決手段】本目的は弾性エラストマー22層内に埋設される複数の導電細線20がエラストマー22層の表及び裏面に略垂直方向に伸びて直線状となり、導電細線20の全長を弾性エラストマー22の厚さとほぼ同一若しくは両端部を弾性エラストマー22層の表裏両面から突出させ、導電細線20を中心に細線20と導通した少なくとも3個以上の電気接点12を、略同心円状に配置したFPC18と導電細線20とを接続することことにより達成できる。
【選択図】 図1
Description
また、下記に示す特許文献6は、コネクタ(CDDIコネクタ)の接点(13)を内側円(3)上と、中間円(2)上とに配置することが記載されている。
前記電気接点12の周囲に、略U字形状のスリット16を設ける。スリット16を設けることで、ICパッドの傾きや凹凸への追従性を上げることができる。
少なくとも3個以上の前記電気接点12を、略等間隔の略同心円状に、1つのパッド上に接触するように配置する。少なくとも3個以上の前記電気接点12を1つのパット上に接触するように配置することで、パッドの中心と各電器接点12の中心がズレても、パッドと各電気接点12間で、パッドの中心と近づく接点と遠ざかる接点ができ、電気抵抗値やインピーダンスやスキューのバラツキが小さくなる。
また、前記エラストマー22の表面若しくは裏面のどちらか一方面又は両面に、前記FPC18を接続する。さらにまた、どちらか一方面に前記FPC18を接続した場合に、その一方面と反対側にハード基板を接続する。
(1)弾性エラストマー22層内に埋設される複数の導電細線20が該エラストマー22層の表及び裏面に略垂直方向に伸びて直線状となり、前記導電細線20の全長を前記弾性エラストマー22の厚さとほぼ同一若しくは両端部を前記弾性エラストマー22層の表裏両面から突出させ、前記導電細線20を中心に該細線20と導通した少なくとも3個以上の電気接点12を、略同心円状に配置したFPC18と前記導電細線20とを接続しているので、接触する位置によっても電気抵抗値やインピーダンスやスキューの繰り返し測定値のバラツキが少なく、安定した検査ができる電気コネクタ10を提供することができる。
(2)前記導電細線20が埋設された前記弾性エラストマー22層の孔の周縁部分に窪み部26を設けているので、前記導電細線20を段付きピンにした場合に、段付き導電細線20の肩部に弾性エラストマー22の肉がかぶることがなく、前記弾性エラストマー22の反りを抑えることができる。
(3)前記電気接点12の周囲に、略U字形状のスリット16を設けているので、ICパッドの傾きや凹凸への追従性を上げることができる。
(4)少なくとも3個以上の前記電気接点12を、略等間隔の略同心円状に、1つのパッド上に接触するように配置しているので、パッドと各電気接点12間で、パッドの中心と近づく接点12と遠ざかる接点12ができ、相対的にパッドの中心と各電気接点12の中心との距離が変わらず、電気抵抗値やインピーダンスやスキューの繰り返し測定値のバラツキが小さくなる。
(5)前記エラストマー22の表面若しくは裏面のどちらか一方面又は両面に、前記FPC18を接続しているので、容易に高速伝送に適したFPC18を接合することができ、高速信号を測定検査する際のソケットコネクタとして、挿入損失を顕著に軽減することができる。
(6)どちらか一方面に前記FPC18を接続した場合に、その一方面と反対側にハード基板を接続しているので、接点部が最先端に突出した形状が構成出来るため、ウエハー状態のIC接触子に対しての接触が容易にできる。
本発明の電気コネクタ10は、LGAやBGA等の高速動作用ICを検査するためのものであり、前記電気コネクタ10は、主に弾性エラストマー22と導電細線20とFPC18とを具えている。
まず、本発明のポイントであるFPC18について説明する。前記FPC18には貫通孔若しくは止め孔としてのスルーホール14が複数個設けられ、該スルーホール14に前記導電細線20が接合される。前記スルーホール14の周囲には、同心円状に少なくとも3個以上の電気接点12が設けられ、該電気接点12と前記スルーホール14との間には導通するように導体24等が配置されている。同心円状にした少なくとも3個以上の電気接点12は、検査するICの1つのパッドに接触するように配置されている。
3個以上設けられた前記電気接点12の配置は、検査時の電気抵抗値やスキューのバラツキを小さくすることを考えるとできる限り等間隔にすることが望ましく、図1のように、本実施例では、3個の電気接点12が120度の等間隔に同心円になるように配置している。
前記電気接点12の形状は、接触する相手物の形状に対応して最適化を図るように適宜設計しており、本実施例では、相手物であるICのパッドが平面であるため図1のように略半球状にしている。
まず、導体電気路長が長くなる方向の2点(c’,d’)は、
になる。
次に、導体電気路長が短くなる方向の2点(a’,b’)は、
になる。
上記式のyは移動量である。
電気抵抗値を求める式は、
になる。
また、表1は、電気接点12が1個の場合の電気抵抗値の変化を表したものである。
また、表1と表2とを比較すると、電気接点12が1点の場合(表1)と電気接点12が4点の場合(表2)とでは、該接点12が移動した際の電気抵抗比率のバラツキに差があり、電気接点12が4点の場合(表2)の電気抵抗比率のバラツキが小さいことが一目瞭然である。このことは、表3に示したグラフ1からも明らかである。
前記導電細線20の材質は、半田付性や剛性や導電率を考慮し、例えば黄銅、ベリリウム銅、リン青銅、純銅、純銀、純金等を挙げられる。
前記弾性エラストマー22には上記のように前記導電細線20が挿入埋設され、前記導電細線20が埋設された前記弾性エラストマー22層の孔の周縁部分に窪み部26を設け、前記導電細線20の全長を前記弾性エラストマー22の厚さとほぼ同一若しくは両端部を前記弾性エラストマー22層の表裏両面から突出させている。
導電細線20が埋設された表裏部分であって、前記導電細線20の円柱状部分を埋設した前記弾性エラストマー22層の孔の開口周縁部分に窪み部26が設けられるので、弾性エラストマー22層の端部の膨出部の形成は未然に防止される。即ち、前記導電細線20の肩部が弾性エラストマーで覆われることがなく、導電細線20の全長を厳密に管理することがなく、弾性エラストマー22の厚みとほぼ同等か0.05〜0.1mm程度長くしている。
このように一方側にFPC18と取付け、もう一方側にハード基板30を取付けたものでなく、両側にFPC18を接合したものでもよい。
12 電気接点
14 スルーホール
16 スリット
18 フレキシブルプリント基板(FPC)
20 導電細線
22 弾性エラストマー
24 導体
26 窪み部
28 半田
30 ハード基板
32 パッド
Claims (5)
- 弾性エラストマー層内に埋設される複数の導電細線が該エラストマー層の表及び裏面に略垂直方向に伸びて直線状となり、前記導電細線の全長を前記弾性エラストマーの厚さとほぼ同一若しくは両端部を前記弾性エラストマー層の表裏両面から突出させ、前記導電細線を中心に該細線と導通した少なくとも3個以上の電気接点を、略同心円状に配置したフレキシブルプリント基板と前記導電細線とを接続したことを特徴とする電気コネクタ。
- 前記導電細線が埋設された前記弾性エラストマー層の孔の周縁部分に窪み部を設けたことを特徴とする請求項1記載の電気コネクタ。
- 前記電気接点の周囲に、略U字形状のスリットを設けたことを特徴とする請求項1又は2記載の電気コネクタ。
- 少なくとも3個以上の前記電気接点を、1つのパッド上に接触するように配置したことを特徴とする請求項1、2又は3記載の電気コネクタ。
- 前記エラストマーの表面若しくは裏面のどちらか一方面又は両面に、前記フレキシブルプリント基板を接続したことを特徴とする請求項2から4のいずれか1項記載の電気コネクタ。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004120960A JP4413680B2 (ja) | 2004-04-16 | 2004-04-16 | 電気コネクタ |
US11/104,182 US7014476B2 (en) | 2004-04-16 | 2005-04-11 | Electrical connector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004120960A JP4413680B2 (ja) | 2004-04-16 | 2004-04-16 | 電気コネクタ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005300483A true JP2005300483A (ja) | 2005-10-27 |
JP4413680B2 JP4413680B2 (ja) | 2010-02-10 |
Family
ID=35096840
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004120960A Expired - Fee Related JP4413680B2 (ja) | 2004-04-16 | 2004-04-16 | 電気コネクタ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7014476B2 (ja) |
JP (1) | JP4413680B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6401493B2 (ja) * | 2014-04-25 | 2018-10-10 | 矢崎総業株式会社 | 接点接続構造 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4548451A (en) * | 1984-04-27 | 1985-10-22 | International Business Machines Corporation | Pinless connector interposer and method for making the same |
US5759047A (en) * | 1996-05-24 | 1998-06-02 | International Business Machines Corporation | Flexible circuitized interposer with apertured member and method for making same |
US5842877A (en) * | 1996-12-16 | 1998-12-01 | Telefonaktiebolaget L M Ericsson | Shielded and impedance-matched connector assembly, and associated method, for radio frequency circuit device |
US6027346A (en) * | 1998-06-29 | 2000-02-22 | Xandex, Inc. | Membrane-supported contactor for semiconductor test |
US6437591B1 (en) * | 1999-03-25 | 2002-08-20 | Micron Technology, Inc. | Test interconnect for bumped semiconductor components and method of fabrication |
US6524115B1 (en) * | 1999-08-20 | 2003-02-25 | 3M Innovative Properties Company | Compliant interconnect assembly |
US6442039B1 (en) * | 1999-12-03 | 2002-08-27 | Delphi Technologies, Inc. | Metallic microstructure springs and method of making same |
AU2001232772A1 (en) * | 2000-01-20 | 2001-07-31 | Gryphics, Inc. | Flexible compliant interconnect assembly |
US6857880B2 (en) * | 2001-11-09 | 2005-02-22 | Tomonari Ohtsuki | Electrical connector |
US6830463B2 (en) * | 2002-01-29 | 2004-12-14 | Fci Americas Technology, Inc. | Ball grid array connection device |
-
2004
- 2004-04-16 JP JP2004120960A patent/JP4413680B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-04-11 US US11/104,182 patent/US7014476B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20050233612A1 (en) | 2005-10-20 |
JP4413680B2 (ja) | 2010-02-10 |
US7014476B2 (en) | 2006-03-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN107783024B (zh) | 垂直式探针卡之探针装置 | |
JP4695925B2 (ja) | シールド集積回路プローブ | |
US7559806B2 (en) | Electrical contact | |
JP6174172B2 (ja) | コンタクトプローブ | |
US6902410B2 (en) | Contact unit and socket for electrical parts | |
US8735737B2 (en) | Substrate having leads | |
JP4911495B2 (ja) | 半導体集積回路用ソケット | |
JP2006004932A5 (ja) | ||
JP2008070146A (ja) | 検査用ソケット | |
KR101582956B1 (ko) | 반도체 테스트 소켓 및 그 제조방법 | |
US6674297B1 (en) | Micro compliant interconnect apparatus for integrated circuit devices | |
CN109839522B (zh) | 探针卡装置及其信号转接模块 | |
KR20070067216A (ko) | 콘택터 및 콘택터를 사용한 시험 방법 | |
JP2002022768A (ja) | 集積回路パッケージ検査用ポゴピン | |
JPH0955273A (ja) | Bgaパッケージic用icソケット | |
US11162979B2 (en) | Plate spring-type connecting pin | |
JP4413680B2 (ja) | 電気コネクタ | |
JPH0883656A (ja) | ボール・グリッド・アレイ半導体測定用ソケット | |
KR102092006B1 (ko) | 판 스프링 타입의 연결핀 | |
CN109839521B (zh) | 探针卡装置及其信号传输模块 | |
CN110716071B (zh) | 高频探针卡装置及其压接模块与支撑件 | |
KR20080018520A (ko) | 포고핀 및 이를 이용한 테스트 소켓 | |
WO2024014231A1 (ja) | プローブ装置 | |
JP2002333453A (ja) | プローブコンタクタ | |
JP4050166B2 (ja) | マイクロ接点機構及びテストフィクスチャ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070416 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20071009 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090603 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090609 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090805 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090825 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091026 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20091110 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20091118 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121127 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |