JP2005292107A - 共振点とインピーダンス極値点からの劣化診断システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】運用中の絶縁物に電気的共振用と直流成分を遮断するためのコンデンサーC1、及び、C2を介して、可変周波数電源より高周波電流を印加する。絶縁物の両端の電圧と絶縁物に供給する電流を測定することにより、印加する周波数に応じた絶縁物のインピーダンスが測定できる。測定した周波数に対するインピーダンス、又は、減衰率、及び、位相曲線の極値から、絶縁物内部の抵抗とキャパシタンスを求めることで劣化診断を行う。
【選択図】図1
Description
ただし、PARA=(R2/((R2^2)+((ω・Lb)^2)))+jω(CB−(Lb/((R2^2)+(ω・Lb)^2)))で示され、
ω・LL=2/ω・CC、そして、CB=Lb/(R2^2+(ω・Lb)^2)
が共振条件となる。共振周波数をf0は、CC=26000μFとしたときであり、600Hz付近となる。CC=300μFのときの共振周波数f0hは、およそ5KHZとなる。ω0=2π・f0, ω0h=2π・f0h 測定値ω0h、既知のCCから、LL=2/((ω0h^2)・CC)
CB=CC/((LL・CC(ω0h^2))−2)が求まる。
この高周波では、リアクタンスXCB=0とみなせるので、f0hの共振点では、R2,Lbが無視でき、この時のインピーダンス、Z0hが測定できて、R1=Z0hとしてR1が求まる。
f0からfmに可変すると、インピーダンス最小値Zminが得られ、f0点では、
R0=(1/PARA)+R1
ただし、PARA=(R2/((R2^2)+((ω0・Lb)^2)))
最小値Zmin時のfm点では、
Zmin=(1/PARA)+R1+j(ωm・LL−(1/(ωm(CC/2))))
ただし、
PARA=(R2/((R2^2)+((ωm・Lb)^2)))+jωm(CB−(Lb/((R2^2)+(ωm・Lb)^2)))
測定値から、 Lb=2/((ωm^2)・CC)・(+or−)・(((Zmin^2)−(R1^2))/(ωm^2))^0.5)−LL が求まり、R2は、次式の根から求まる。
R2^2+R2・(R1−R0)+(ωm^2)・(Lb^2)=0
等価回路の定数値を算出するには、周波数領域を次の4箇所にて測定し、式を解く。
f0<fm<f0h<fhm<fhh<fmp<f0p
f0:低周波(約600HZ)での直列共振点周波数、fm:低周波でのインピーダンス最小値
f0h:高周波(約5KH)での直列共振点周波数、fhm:高周波でのインピーダンス最小値 fhh:インピーダンス単調増加帯(約10KHZ) f0p:並列共振点周波数(約20KHZ) fmp:インピーダンス最大値点周波数
(X−(R1+R2/2))^2+Y^2=R2^2/4
と物質移動過程の
Y=X+(2 ρ^2 CB −(R1+R2) )から、液の固有抵抗ρが算出できる。
CC=26000μFと大きくすれば、供試物のインダクタンスLBと電圧検出電線インダクタンスLL、すなわち、インダクタンス合計LB=Lb+LLと、コンデンサーCC/2との直列共振が顕著となる。図5
(Zhmin)^2=R1^2+(ωhm・LL−1/ωhm・CA)^2 となる。
ただし、ωhm=2π・fhm、
CA=(CB・CC/2)/(CB+CC/2)図5に示す。
tanδ[%]=100・R2・ωm・CBから定量化しており、本案は、共振点f0のR0とインピーダンス最小値周波数fm点のZminとから、等価回路の諸定数を算出し、tanδで、劣化程度と残存寿命を計算できる。図2に等価回路を示す。
δY/δ(ωmp^2)=0から
R2^4+2・R2^2(Lb・ωmp)^2)−Lb/CB)+(Lb・ωmp)^4−((Lb/CB)^2)=0が導出され、R2が求まり、この並列共振点からもtanδが算出できる。
XLL=ZHH・Sin(θfhh)から求め、(θfhh)は、fhh点の位相角である。
高周波領域になると、並列共振点f0pとインピーダンス最大点fmp点を図7のように極大値が得られる。
tanδ[%]=100・σm/(ωmβ・CB)から、劣化程度を算出する。
この並列回路が、R1に直列となる図2に示す等価回路で表すことができ、発信器からの印加電圧と回路電流からのインピーダンスをZ[Ω]とすれば、
Z=R1+(R2/((2・π・f・CB)^2)/((R2)^2+1/(2・π・f・CB)^2)で表される。
アドミタンスYは、次式となる。
Y=(1−ω^2・Lb・CB)+j(ω・CB・R2)/(R2+j(ω・Lb))
|Y|をω^2で微分して、0となる極値でΔ|Y|/Δ(ω^2)=0からR2^4+2・R2^2((Lb・ωm)^2)−Lb/CB)+(Lb・ωm)^4−((Lb/CB)^2)=0が導出される。
500HZ点からf0点までは、右下がりの単調減衰となり、XC=Sinθc・Zcこの間のfc点のリアクタンスXC=1/(2π・fc・CB)から、CBを算出する。
さらに、Lb=1/(CB・(2πfc)^2)が算出される。
f0=1/(2π・LB・C0)からf0が移行してfmとなる。供試物両端の印加用コンデンサーをCCとすれば、合成コンデンサー容量をCAで示し、
CA=C・CB/(C+CB)となる。R2>180mΩ、R1>30mΩでは、劣化が急速に進み異常範囲といえる。
R2<180mΩの時、充電不足であり、蓄電池の劣化と言えない。再び充電することにより、R2が、ほぼ零まで回復する。R2が、180mΩ以上のとき充電しても端子電圧が上昇しなくなり、異常範囲といえる。この関係は、図9のようにCole−Cole−Plotから電解液のインピーダンスが円軌道となり、電荷移動過程からR1=30mΩ、R2=180mΩの点を通過する。R1も30mΩ程度以上は、異常で、残存寿命が、1年程度となり、極板抵抗R1と使用可能残存年数Nとの関係は、N=14.641−2.6902・R1+0.26186・R1^2−0.009313・R1^3となり、図10、図11,図12に示す。また、R1=f(負荷電流、使用年数)の関係があり、負荷電流IR[mA].使用年数N[年]とすると蓄電池極板抵抗値R1[mΩ]は、R1={(6.7806 10^(−6)+0.0621(IR・N)−(1.4139 10^(−6)(IR・N)^2+1.0090 10^(−11)(IR・N)^3))/100の関係があり、IR=10[A]の時 図13に,IR=12[A]の時 図14に、IR=14[A]の時 図15に示す。蓄電池液の比重sgとCBとの関係は、sg=1.17231+0.00011598・CBとなり、図16に示す。ただし、CB=1/(2π・R2・fC)
ρ={(3・R2/4−(R2^2)/4+R1・R2)/(4・CB・(R1+R2/2))}^0.5 より求まり、さらに、遮断周波数fCからもLB,R1,R2,CBが算出でき、同種の蓄電池ごとの、これらの諸定数からバッテリー劣化程度とεr(誘電率)とバッテリー抵抗率ρ[Ω・m]、と液比重sgとの相関係数が解かる。
tanδ[%]=100・R2/(ω0・CB)から、低絶縁物の劣化が判断できる。
((R2^2)+(1/(ω・CB)^2))+R1)
で算出され、図19は、R2[OHM]とtanδR2[%]を描き、R2=180mΩ付近から急速に増加し、1.5%を越えるので、劣化といえる。(一般の絶縁物は、1.5%を越えると劣化と言っていることに一致する)鉛蓄電池の場合
R1=30mΩ(tanδR1=0.88%)、
R2=180mΩ(tanδR2=1.5%)から劣化範囲は、2.38[%]以上の場合と言える。
誘電率をε=8.85×10^(−12)×εr
ここでεrは、比誘電率、透磁率をμ=4π×10^(−7)×μr、ここでμrは、比透磁率とし、角速度ωm=2π・fHm、fHmを位相曲線の極値点の周波数とすると、導電率σ[MHO/cm]は、
σ=2(2ωm(ε^(3/2))β/(μ^(1/2))−2(ωm・ε)^2)
α=σ((μ/ε)^0.5)/2,となり、図20のような位相定数
β[rad/m]は、
β=ωm・(μ・ε)0.5){1+(σ/(ωm・ε))^2}
固有抵抗ρ[Ω−cm]として
これらα、βから、σを打ち消して、ε^0.5=Xとおくと
X^2−(β/(ωm(μ^0.5)))・X+((2α)^2)/(8(ωm^2)μ)=0
となり、この根を、X1,X2とすると、比誘電率εr1=X1^2/ε0、
εr2=X2^2/ε0、
σ1=2α/((μ0.μr/εr1・ε0)^0.5)
σ2=2α/((μ0・μr/εr2・ε0)^0.5)
一方、固有抵抗ρ[MΩ−cm]は、位相曲線の極値から、δβ/δω=0
として、σ=1/ρ=ε・ωm・(8^0.5)から
ρ=6361.45/(fHm・εr)となる。fHm:極値点周波数
ωm=2π・fHm、等価キャパシタンスをεrから算出し、Crとおき
インピーダンスZ0[Ω]は、
Z0=(((ρ^2)/((ωm・Cr)^4))+((ρ^4)/((ωm・Cr)^2)))^0.5/((ρ^2)+(1/((ωm・Cr)^2)))
一方、測定レンジを利得(dB)図20から、インピーダンス(Ω)図21に、切り替えて位相特性β(f)の極値点の周波数fHm点のインピーダンスZHm[Ω]を測定して、α=σ((μ/ε)^0.5)/2,
(μ/ε)^0.5=ZHm,αm=20・log(E1/E2)からσ=2・αm/ZHm そして、αsを測定系自身のベース利得であり、これを図22に示す。真の利得αmsは、αms=αm−αsとなる。
これらから、
ただし、8.696は、Neper−>dB の換算係数であり、このρからZ0を求め、劣化の指標である
を算出する。
この例は、図23に示す。
C2…直流成分の遮断用コンデンサー2、
B1…劣化診断を行う蓄電池、
E …可変周波数電源、
MV…蓄電池の両端電圧測定回路、
MI…蓄電池の供給電流測定回路。
Claims (2)
- 運用中の絶縁物に、直流成分を遮断するコンデンサC1,C2を介して、可変周波数電源からの信号を与え、絶縁物の両端電圧と絶縁物に供給している電流を測定する回路により、周波数に対する絶縁物のインピーダンスを測定する機能を備えることを特徴とする劣化診断システム。
- 請求項1に記載の劣化診断システムにおいて、
周波数に対する絶縁物のインピーダンスから、絶縁物の劣化の指標となる内部抵抗を求めることを特徴とする劣化診断システム。
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