JP2005232574A - 酸化物薄膜の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 機能性薄膜を形成させるための有用な原料である含フッ素β−ジケトン金属錯体を用い、低温で気相化学反応法(CVD)による酸化物薄膜の製造方法を提供する。
【解決手段】 CVD法によりZrまたはHfの酸化物薄膜を製造するに際し、金属重量換算で0.1〜50%のZrまたはHfの含フッ素β−ジケトン錯体を有機溶媒に溶解させた原料溶液を基板に噴霧するものであり、該含フッ素β−ジケトン錯体が、M(R1COCHCOR2)4で表される含フッ素β−ジケトン化合物錯体で(ただし、Mは、Zr、Hfを表し、R1、R2は、炭素数1〜8のアルキル基またはフッ素化アルキル基をそれぞれ表す。)、該有機溶媒が、アルコール類、エーテル類、ケトン類の少なくともひとつからなり、該基板の温度を20〜700℃の範囲とし、また基板と噴霧するノズルとの間隔を5〜100mmの範囲とする。
【選択図】 なし
【解決手段】 CVD法によりZrまたはHfの酸化物薄膜を製造するに際し、金属重量換算で0.1〜50%のZrまたはHfの含フッ素β−ジケトン錯体を有機溶媒に溶解させた原料溶液を基板に噴霧するものであり、該含フッ素β−ジケトン錯体が、M(R1COCHCOR2)4で表される含フッ素β−ジケトン化合物錯体で(ただし、Mは、Zr、Hfを表し、R1、R2は、炭素数1〜8のアルキル基またはフッ素化アルキル基をそれぞれ表す。)、該有機溶媒が、アルコール類、エーテル類、ケトン類の少なくともひとつからなり、該基板の温度を20〜700℃の範囲とし、また基板と噴霧するノズルとの間隔を5〜100mmの範囲とする。
【選択図】 なし
Description
本発明は、機能性薄膜を形成させるための有用な原料である含フッ素β−ジケトン金属錯体を用い、低温で気相化学反応法(CVD)による酸化物薄膜の製造方法に関する。
近年、半導体ICや各種の材料を基板上に堆積させる手段のひとつとして、ゾルゲル法、PVD法、CVD法が用いられている。また膜構造の微細化や積層化が進み、より複雑な膜堆積方法が求められるようになってきた。特に微細構造のステップカバレッジと連続生産性に優れるCVD法が有力視されている。これらのCVD法に用いられる原料には、気化性、気化安定性、反応性に優れた物性が必要とされており、また膜材料の応用としては、半導体関連では、ゲート絶縁膜、誘電体膜、強誘電体膜などがあり、構造材料関連では、耐熱性、耐摩耗性、遮熱性等への応用があり、光学性関連では、蛍光体、磁性体、光触媒、EL発光材料等への応用があり、多くの分野への機能性薄膜が検討されている。
これらの成膜には、主にCVD法が用いられる。一般にCVD法で金属ハロゲン化物を原料に用いる方法は公知であり、Ti,Zr,Sn,Ta,W,Al,B,Si等の比較的蒸気圧の高いハロゲン化物が用いられるが、それでも少なくとも400〜600℃の高温が必要でしかも分解時には塩化水素等の腐食性ガスが発生して高温腐食が問題になっている。例えば、その原料として、無機ハロゲン化物を原料に用いた場合(特許文献1、特許文献2)、発生するハロゲンガスによる装置の腐食等が問題で成膜装置が複雑で高価になる等の欠点があった。
また、β−ジケトン錯体および金属アルコキシドを原料に用いる方法(特許文献3)では、金属錯体の蒸気圧が低いため、気化させるには200℃以上の高温に加熱しなければ充分気化しない欠点があることや、金属アルコキシドは加水分解しやすくポットライフが短く不安定で取り扱いが困難であり、しかも有機溶媒への溶解度が低く低濃度溶液しか調製できない欠点があった。またこれらの金属原料を溶媒に溶解させた溶液は気化性に乏しく充分なガス濃度を確保するためには200℃以上の高温加熱が必要である。
これらの欠点を補うべくそれらの原料は強制的に溶液をミスト化させてシャワーリング装置を通して400〜600℃の成膜室に供給され一気に熱分解させるいわゆる溶液気化法(特許文献4)が最近は多用されている。しかし、溶液気化法は高温気化させたガスを輸送供給する際に200℃以上では温度制御もさることながら配管、ジョイント、パッキン、バルブ類の材質の選定が困難になり、金属の高温耐久性の限界が指摘される。原料も高温加熱により酸化や熱分解等が急激に進み錯体の安定供給が困難で配管内やシャワーリング装置、成膜室において反応分解析出物のスケーリングや閉塞が起きやすくプロセスウィンドウが狭くスループットが劣る問題があった。さらに従来のCVD法で製造した薄膜は、原料を気化させるには、通常200〜500℃に加温されるため基材がシリコン、金属、セラミックス等の材料等に限定されていた。すなわち成膜温度が200℃を超えると低融点金属、高温腐食に弱い材料やプラスチック、ポリイミド、高分子材料等は高温では融解、腐食や溶融、変質しやすいため従来の技術ではとうてい成膜できなかった。
特開2000−299295号公報
特開2002−313951号公報
特開平5−271253号公報
特開2000−26974号公報
本発明の目的は、高温を必要とした酸化物薄膜の製造を、含フッ素β−ジケトン金属錯体を用いる低温で気相化学反応法(CVD)による酸化物薄膜の製造方法を提供することである。
本発明者らは、鋭意検討の結果、含フッ素β−ジケトン錯体を有機溶媒に高濃度で溶解させた溶液を原料として、バブリング等の簡便な装置でしかも低温でミスト化および気化させた状態で成膜室へ供給するCVDにより、従来よりも極めて低温で金属、セラミックス、ガラスさらには高分子材料等に機能性の酸化物薄膜を製造する方法を見いだしたものである。
すなわち本発明は、CVD法によりZrまたはHfの酸化物薄膜を製造するに際し、金属重量換算で0.1〜50%のZrまたはHfの含フッ素β−ジケトン錯体を有機溶媒に溶解させた原料溶液を基板に噴霧することを特徴とする酸化物物薄膜の製造方法であり、該含フッ素β−ジケトン錯体が、M(R1COCHCOR2)4で表される含フッ素β−ジケトン化合物錯体で(ただし、Mは、Zr、Hfを表し、R1、R2は、炭素数1〜8のアルキル基またはフッ素化アルキル基をそれぞれ表す。)、該有機溶媒が、アルコール類、エーテル類、ケトン類の少なくともひとつからなることを特徴とし、該基板の温度を20〜700℃の範囲とし、また基板と噴霧するノズルとの間隔を5〜100mmの範囲とすることを特徴とする酸化物薄膜の製造方法を提供するものである。
以下、本発明をより詳細に説明する。
本発明において、用いる含フッ素β−ジケトン錯体は、M(R1COCHCOR2)4で表される含フッ素β−ジケトン金属錯体である(ただし、Mは、Zr,Hfを表し、R1、R2は、炭素数1〜8のアルキル基またはフッ素化アルキル基をそれぞれ表す。)。含フッ素β−ジケトン錯体(M(R1COCHCOR2)4)は、一例として、以下のような反応で製造したものを用いた。
MCl4+4R1COCH2COR2 → M(R1COCHCOR2)4+4HCl
具体的には、Zr(CF3COCHCOCF3)4、Zr(CF3COCHCOCH3)4、Zr(C2F5COCHCOC2F5)4、Hf(CF3COCHCOCF3)4、Hf(CF3COCHCOCH3)4、Hf(C2F5COCHCOC2F5)4等が用いられる。
具体的には、Zr(CF3COCHCOCF3)4、Zr(CF3COCHCOCH3)4、Zr(C2F5COCHCOC2F5)4、Hf(CF3COCHCOCF3)4、Hf(CF3COCHCOCH3)4、Hf(C2F5COCHCOC2F5)4等が用いられる。
次に、これらの錯体を溶解させる溶媒としては、アルコール類、ケトン類、エーテル類の少なくとも一つからなり、アルコール類は、R3OHで表されるアルコール(R3:炭素数1〜10のアルキル基)が好ましく、特にエタノール、イソプロパノールが好ましい。エーテル類としては、ジエチルエーテル、ジイソプロピルエーテル、メチルtブチルエーテル、エチレングリコールジメチルエーテル、テトラヒドロフラン、ジオキサン等のエーテル類が挙げられ、特にジイソプロピルエーテル、メチルt−ブチルエーテル、テトラヒドロフランが好ましい。ケトン類は、R4COR5で表されケトン(R4,R5は炭素数1〜8のアルキル基)が好ましく、アセトン、ジイソプロピルケトン、ジエチルケトン、ジn−プロピルケトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン等が挙げられ、特にジn−プロピルケトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトンが好ましい。溶解後の溶液の安定性を考慮して水分を極端に抑えることが必要であり、溶媒はモレキュラーシーブ等であらかじめ脱水処理して用いる。
濃度は溶媒の種類にもよるが、0.1〜50%(含フッ素β−ジケトン錯体の金属換算)の溶液が用いられ、0.1%未満だと希薄すぎて実用性がなく、50%超だと溶液の安定性に欠け長期保存において一部ゲル化したり、沈殿物が析出する欠点があり好ましくない。好適には、10〜30%が好ましく、特にエタノール、ジイソプロピルエーテル、メチルt−ブチルエーテルを用いた10〜30%溶解させた溶液がもっとも好ましい。
次に、本発明におけるプラズマCVD法による薄膜製造条件を詳述する。
本発明において、Zr、Hfの含フッ素β−ジケトン錯体を溶解させた溶液を容器に封入して容器全体を20〜200℃の温度の恒温漕オイルバス中に浸漬させる。本発明で用いる原料錯体溶液は蒸気圧が高く、直接容器にキャリアーガスとしてArガスまたはN2ガスを10〜30SCCMの流速で通気して成膜室まで供給し、ノズルにより噴霧する。配管は、20〜200℃に加温するが、通常は、凝縮しない程度の100℃程度で保温して成膜室まで供給噴霧する。また、錯体原料の供給方法は、溶媒に錯体を溶解させた溶液を充填した容器にキャリアーガスを直接吹き込んだり、バブリングさせたり、超音波により霧化させたりまたはそれらを組み合わせたりする方法等が有り、特に限定されない。
本発明において、用いられる基板としては、石英、シリコン、セラミックス、ガラス、金属、高分子材料等が挙げられる。基板の温度は、20〜700℃の温度範囲に維持して成膜することが好ましい。20℃以上であれば、特に装置の材質は限定されないが、700℃を超えると装置の材質選定が困難でさらに装置が複雑で高価になり好ましくない。また、成膜するために必要な基板温度も、熱CVD等では、ヒーター等で加熱が必要であるが、プラズマにより活性化されるため、20℃以上であれば成膜でき、特に限定されない。
次に、基板と噴霧ノズルの間隔は、5〜100mmの範囲が好ましい。5mm未満だと原料が均一に供給されず不均一な膜厚になり好ましくなく、100mmを超えると原料濃度が希薄すぎて成膜できないため好ましくない。最適には、5〜40mmの範囲が好ましい。
次に、酸素の供給は、10〜100SCCMの範囲が好ましい。10SCCM未満だとZr錯体やHf錯体が充分酸化されず、一部未分解物が残り好ましくなく、100SCCMを超えると過剰な酸化ガスを供給するだけで基板温度を不均一にさせ、排気系への負担増だけで好ましくない。
また、反応器内の圧力は、1×10−3〜1Paの範囲が好ましい。1×10−3Pa未満だと原料錯体の供給量が希薄すぎて好ましくなく、1Paを超えると緻密な膜が堆積しないので好ましくない。
本発明のZrまたはHfの含フッ素β−ジケトン錯体を含む有機溶媒を用いることにより、Zr,Hfの酸化物薄膜を低温で容易に製造できる。
以下、実施例において本発明を具体的に説明するが、本発明はかかる実施例に限定されるものではない。
実施例1
Zr(CF3COCHCF3)4を0.4gエタノール2mlに溶解させ原料溶液とした。これを2.4MHzの超音波を用いた原料霧化装置により霧化し、Arガスをキャリアガスとして10SCCMの速度でECR(電子サイクロトロン共鳴)プラズマCVD装置の反応炉内に導入した。反応条件として、反応炉の初期圧は、1.0×10−3Pa、成膜時の全圧は1.5×10−1Pa、酸素(酸化プラズマガス)を40SCCM、赤外線ランプ加熱による基板加熱温度を700℃、マイクロ波出力900W、基板と原料ノズル間距離10mm、成膜時間60分で、石英基板上にジルコニア薄膜を作製した。その結果、X線回折よりジルコニア(ZrO2)と確認でき、膜厚0.4μmの白色のジルコニア薄膜が作製できた。また、テープによる剥離テストでは100/100剥離しない密着性の良い膜であることが分かった。
Zr(CF3COCHCF3)4を0.4gエタノール2mlに溶解させ原料溶液とした。これを2.4MHzの超音波を用いた原料霧化装置により霧化し、Arガスをキャリアガスとして10SCCMの速度でECR(電子サイクロトロン共鳴)プラズマCVD装置の反応炉内に導入した。反応条件として、反応炉の初期圧は、1.0×10−3Pa、成膜時の全圧は1.5×10−1Pa、酸素(酸化プラズマガス)を40SCCM、赤外線ランプ加熱による基板加熱温度を700℃、マイクロ波出力900W、基板と原料ノズル間距離10mm、成膜時間60分で、石英基板上にジルコニア薄膜を作製した。その結果、X線回折よりジルコニア(ZrO2)と確認でき、膜厚0.4μmの白色のジルコニア薄膜が作製できた。また、テープによる剥離テストでは100/100剥離しない密着性の良い膜であることが分かった。
実施例2
基板加熱温度を20℃から700℃まで変化させた以外は、実施例1と同様に石英基板上にジルコニア薄膜を作製した。図1に成膜速度と温度依存性の関係を示す。基板温度の上昇とともに成膜速度は増加した。また、X線回折の結果から500℃以上では立方晶ジルコニアが成膜でき、500℃以下では、単斜晶ジルコニアと立方晶ジルコニアの混合相が成膜できたことが分かった。また、400℃以下では、平滑性の高い粒径100nm以下の粒子で構成されていることが走査型電子顕微鏡観察で分かった。
基板加熱温度を20℃から700℃まで変化させた以外は、実施例1と同様に石英基板上にジルコニア薄膜を作製した。図1に成膜速度と温度依存性の関係を示す。基板温度の上昇とともに成膜速度は増加した。また、X線回折の結果から500℃以上では立方晶ジルコニアが成膜でき、500℃以下では、単斜晶ジルコニアと立方晶ジルコニアの混合相が成膜できたことが分かった。また、400℃以下では、平滑性の高い粒径100nm以下の粒子で構成されていることが走査型電子顕微鏡観察で分かった。
実施例3
基板温度400℃及びECRプラズマのマイクロ波出力を0〜900Wまで変化させた以外は、実施例1と同様に石英基板上にジルコニア薄膜を作製した。その結果、300W以上の出力でジルコニア薄膜が成膜できた。
基板温度400℃及びECRプラズマのマイクロ波出力を0〜900Wまで変化させた以外は、実施例1と同様に石英基板上にジルコニア薄膜を作製した。その結果、300W以上の出力でジルコニア薄膜が成膜できた。
実施例4
基板を加熱せずに、後は実施例1と同様に石英基板上にジルコニア薄膜を作製した。基板は、成膜中照射されるECRプラズマによって昇温され、基板温度は、60分で176℃まで上昇した。そのとき得られた薄膜は、単斜晶ジルコニアと立方晶ジルコニアの混合相であった。
基板を加熱せずに、後は実施例1と同様に石英基板上にジルコニア薄膜を作製した。基板は、成膜中照射されるECRプラズマによって昇温され、基板温度は、60分で176℃まで上昇した。そのとき得られた薄膜は、単斜晶ジルコニアと立方晶ジルコニアの混合相であった。
実施例5
基板温度400℃及び基板と噴霧ノズルの間隔を変化させた以外は、実施例1と同様に石英基板上にジルコニア薄膜を作製した。図2は、成膜速度とノズル距離との関係を示す。距離が離れるに伴い成膜できないことが分かる。そのとき得られた薄膜は、単斜晶ジルコニアと立方晶ジルコニアの混合相であった。
基板温度400℃及び基板と噴霧ノズルの間隔を変化させた以外は、実施例1と同様に石英基板上にジルコニア薄膜を作製した。図2は、成膜速度とノズル距離との関係を示す。距離が離れるに伴い成膜できないことが分かる。そのとき得られた薄膜は、単斜晶ジルコニアと立方晶ジルコニアの混合相であった。
実施例6
金属錯体をHf(CF3COCHCF3)4を0.45gエタノール2mlに溶解させ原料溶液とした以外は、実施例1と同条件で石英基板上にHfO2膜を成膜した。その結果X線回折よりハフニア(HfO2)と確認でき、膜厚0.37μmの白色のハフニア薄膜が作製できた。また、テープによる剥離テストでは100/100で剥離しない密着性の良い緻密な膜であることが分かった。
金属錯体をHf(CF3COCHCF3)4を0.45gエタノール2mlに溶解させ原料溶液とした以外は、実施例1と同条件で石英基板上にHfO2膜を成膜した。その結果X線回折よりハフニア(HfO2)と確認でき、膜厚0.37μmの白色のハフニア薄膜が作製できた。また、テープによる剥離テストでは100/100で剥離しない密着性の良い緻密な膜であることが分かった。
比較例1
ECRプラズマのマイクロ波の出力を0Wにして他の条件は実施例1と同様に石英基板上にジルコニア薄膜を作製した。マイクロ波の出力を変化させたところ300W以下ではプラズマが立たず、蛍光X線の分析結果ではジルコニウムを示すピークが全く得られず、X線回折の結果も基板ホルダらのピークであり、膜厚計からも殆ど付着しておらず、ZrO2膜は生成していなかった。ECRプラズマがない場合は熱CVDと同様の装置となり成膜出来なかった。
ECRプラズマのマイクロ波の出力を0Wにして他の条件は実施例1と同様に石英基板上にジルコニア薄膜を作製した。マイクロ波の出力を変化させたところ300W以下ではプラズマが立たず、蛍光X線の分析結果ではジルコニウムを示すピークが全く得られず、X線回折の結果も基板ホルダらのピークであり、膜厚計からも殆ど付着しておらず、ZrO2膜は生成していなかった。ECRプラズマがない場合は熱CVDと同様の装置となり成膜出来なかった。
比較例2
基板とノズル距離を102mmにして、他の条件は実施例1と同様に石英基板上にジルコニア薄膜を作製した。蛍光X線の分析結果ではジルコニウムを示すピークが全く得られず、X線回折の結果も基板ホルダらのピークであり、膜厚計からも殆ど付着しておらず、基板とノズルの距離を100cm以上に離すとZrO2膜は生成していなかった。
基板とノズル距離を102mmにして、他の条件は実施例1と同様に石英基板上にジルコニア薄膜を作製した。蛍光X線の分析結果ではジルコニウムを示すピークが全く得られず、X線回折の結果も基板ホルダらのピークであり、膜厚計からも殆ど付着しておらず、基板とノズルの距離を100cm以上に離すとZrO2膜は生成していなかった。
Claims (5)
- CVD法によりZrまたはHfの酸化物薄膜を製造するに際し、金属重量換算で0.1〜50%のZrまたはHfの含フッ素β−ジケトン錯体を有機溶媒に溶解させた原料溶液を基板に噴霧することを特徴とする酸化物薄膜の製造方法。
- 含フッ素β−ジケトン錯体が、M(R1COCHCOR2)4で表される含フッ素β−ジケトン化合物錯体であることを特徴とする請求項1に記載の酸化物薄膜の製造方法。
ただし、Mは、Zr、Hfを表し、R1、R2は、炭素数1〜8のアルキル基またはフッ素化アルキル基をそれぞれ表す。 - 有機溶媒が、アルコール類、エーテル類、ケトン類の少なくともひとつからなることを特徴とする請求項1〜2のいずれかに記載の酸化物薄膜の製造方法。
- 基板の温度を20〜700℃の範囲とすることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の酸化物薄膜の製造方法。
- 基板と噴霧するノズルとの間隔を5〜100mmの範囲とすることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の酸化物薄膜の製造方法。
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