JP2005227056A - 回路基板検査用プロービング装置および回路基板検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】検査用プローブ16を回路基板上においてその平面方向に移動させる第1移動機構は、一端部が回転自在にベース部11にそれぞれ固定されたアーム13a,13bと、一端部がアーム13aの他端部に回転自在に固定されたアーム14aと、一端部がアーム13bの他端部に回転自在に固定されると共に他端部がアーム14aの他端部に回転自在に固定されたアーム14bと、アーム13a,13bを回転させるモータ12a,12bとを有するパラレルリンク機構RM1を備えて構成され、第2移動機構(直動機構15)は、アーム14bの他端部に固定されて制御部4の制御下で検査用プローブ16を回路基板に対して接離する方向に移動させる。
【選択図】図2
Description
2 基板搬送装置
3,3A プロービング装置
4 制御部
5 検査部
10,10A〜10D,30,40,50 プロービングユニット
11 ベース部
11a 挿通孔
12a,12b,22 モータ
13a,13b,14a,14b,31a,31b,32a,32b,51a,51b アーム
14c 固定軸
15 直動機構
16 検査用プローブ
16a 先端部
21 固定金具
22a 回転軸
23,24 固定金具
25 連結板
26 案内具
A1 移動可能領域
A2 検査領域
P 回路基板
RM1〜RM4 パラレルリンク機構
Claims (5)
- 検査対象の回路基板にプロービングするための検査用プローブと、当該検査用プローブを前記回路基板上においてその平面方向に移動させる第1移動機構と、前記検査用プローブを前記回路基板に対して接離する方向に移動させる第2移動機構と、前記第1移動機構および前記第2移動機構を制御して前記検査用プローブを移動させる制御部とを備え、
前記第1移動機構は、一端部が回転自在にベース部にそれぞれ固定された第1アームおよび第2アームと、一端部が前記第1アームの他端部に回転自在に固定された第3アームと、一端部が前記第2アームの他端部に回転自在に固定されると共に他端部が前記第3アームの他端部に回転自在に固定された第4アームと、前記第1アームを回転させる第1回転手段と、前記第2アームを回転させる第2回転手段とを有するパラレルリンク機構を備えて構成され、
前記第2移動機構は、前記第3アームおよび前記第4アームのいずれか一方のアームと、前記第3アームの他端部に前記第4アームを固定する固定軸とのいずれかに固定されて、前記検査用プローブが取り付けられると共に前記制御部の制御下で当該検査用プローブを前記接離する方向に移動させる回路基板検査用プロービング装置。 - 前記第1回転手段は、前記ベース部に固定された第1回転機構、一端部が前記第1回転機構の回転軸に固定された第5アーム、および一端部が前記第5アームの他端部に回転自在に固定されると共に他端部が前記第1アームに回転自在に固定された第6アームを備えて当該第1回転機構によって当該第5アームを回転させて当該第6アームを押し引きすることで当該第1アームを回転させる第1リンク機構と、
前記ベース部に固定されると共に前記第1アームの前記一端部が回転軸に固定された第2回転機構とのいずれかを備えて構成され、
前記第2回転手段は、前記ベース部に固定された第3回転機構、一端部が前記第3回転機構の回転軸に固定された第7アーム、および一端部が前記第7アームの他端部に回転自在に固定されると共に他端部が前記第2アームに回転自在に固定された第8アームを備えて当該第2回転機構によって当該第7アームを回転させて当該第8アームを押し引きすることで当該第2アームを回転させる第2リンク機構と、
前記ベース部に固定されると共に前記第2アームの前記一端部が回転軸に固定された第4回転機構とのいずれかを備えて構成されている請求項1記載の回路基板検査用プロービング装置。 - 前記第2移動機構は、前記一方のアームと前記固定軸とのいずれかに固定された第5回転機構と、当該第5回転機構の回転軸に固定された第1固定具と、前記検査用プローブが固定されると共に平板状の弾性部材で形成された連結部を介して前記第1固定具に連結された第2固定具と、当該第2固定具を前記一方のアームに対して前記接離する方向で直動させる直動案内手段とを備え、前記第5回転機構によって前記第1固定具を回動させることによって前記検査用プローブを前記接離する方向に直動させる請求項1または2記載の回路基板検査用プロービング装置。
- 請求項1から3のいずれかに記載の回路基板検査用プロービング装置を複数備えると共に、当該各回路基板検査用プロービング装置の前記検査用プローブを介して前記回路基板に検査用信号を出力して当該回路基板を電気的に検査する検査部とを備えている回路基板検査装置。
- 前記複数の回路基板検査用プロービング装置は、前記回路基板における所定の検査領域に対して少なくとも2つの前記検査用プローブをプロービング可能に配置されている請求項4記載の回路基板検査装置。
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