JP2005214868A - 一酸化炭素ガスセンサ、及びp型半導体の製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 一酸化炭素ガス検出の選択性が高く、有機ガスの共存下においても正確に一酸化炭素ガス濃度を検出することのできる一酸化炭素ガスセンサ、及び同センサ製造用P型半導体の製造方法を提供する。
【解決手段】 La元素をCu元素に対して1〜10モル%含有するCuOを母材とするP型半導体8と、ZnOを母材とするN型半導体10とを圧接させて一酸化炭素ガスセンサ2を構成する。
【選択図】 図2

Description

本発明は、一酸化炭素ガス(COガス)を選択性良く検出する一酸化炭素ガスセンサ、及び同センサを構成するP型半導体の製造方法に関する。
従来、環境中のガスの検出に半導体式のガスセンサが使用されている(例えば、特許文献1参照)。このセンサは、金属酸化物からなるN型半導体と、P型半導体とを接触させた状態で高温に保ち、両半導体の接触部に環境中のガスが接触する際に、センサの抵抗値が変化すること利用してこの抵抗値変化を電気的に検出している(P−N式センサ)。
このセンサは、一酸化炭素ガス以外にメタン、エタノール、酢酸エチル等の各種有機ガスを同時に感度良く検出でき、汎用的なセンサとして好ましいものであるが、特定のガスのみを選択性良く検出する用途には向いていない。
例えば、一酸化炭素ガスは、1000ppm程度存在しても、人体に重大な影響を与える有毒ガスである。従って、人体の環境安全のために一酸化炭素ガスを測定する場合は数100ppm程度の濃度の一酸化炭素ガスを検出できるセンサが必要になる。
従来のガスセンサは、数100ppm程度の一酸化炭素ガスを検出できる性能を備えている。しかし、上述のように従来のガスセンサは同時に有機ガスにも感応するので、有機ガスが存在する環境下においては、一酸化炭素ガスが存在しなくても、一酸化炭素ガスが存在するかのように誤動作を起す。特に、エタノール等は室内に高濃度で存在する場合があるので、これによる誤動作の機会は多くなり、正確な一酸化炭素ガスの検出が行えない問題がある。
特許第3081244号(請求項1)
本発明者らは、上記問題を解決するために種々検討している内に、N型半導体とP型半導体とを接触させて構成するP−N式センサのP型半導体にLa化合物を添加すると、一酸化炭素ガスを選択的に高感度で検出できることを見出した。更に検討をした結果、La化合物に加えて、Bi化合物を併用する場合は、更に一酸化炭素ガスの選択性を向上できることを見出した。
本発明は、上記発見に基づいて完成するに至ったもので、その目的とするところは、一酸化炭素ガス検出の選択性が高く、有機ガスの共存下においても正確に一酸化炭素ガス濃度を検出することのできる一酸化炭素ガスセンサ、及び同センサ製造用P型半導体の製造方法を提供することにある。
上記課題を達成するために、本発明は以下のように構成される。
〔1〕 La元素をCu元素に対して1〜10モル%含有するCuOを母材とするP型半導体と、ZnOを母材とするN型半導体とを圧接させてなる一酸化炭素ガスセンサ。
〔2〕 La元素とBi元素とを、Cu元素に対してそれぞれ1〜10モル%含有するCuOを母材とするP型半導体と、ZnOを母材とするN型半導体とを圧接させてなる一酸化炭素ガスセンサ。
〔3〕 La元素とBi元素とのモル比が6:4〜4:6である〔2〕に記載の一酸化炭素ガスセンサ。
〔4〕 La元素が、LaOCl化合物として含有されている〔1〕乃至〔3〕の何れかに記載の一酸化炭素ガスセンサ。
〔5〕 CuOに、Cu元素に対して1〜10モル%のLa元素に相当するLaCl3又はLaOClを添加して加圧成形し、次いで酸化雰囲気中で650〜950℃で焼成する一酸化炭素ガスセンサ用P型半導体の製造方法。
〔6〕 CuOに、Cu元素に対して1〜10モル%のLa元素に相当するLaCl3又はLaOClと、Cu元素に対してBi元素が1〜10モル%に相当するBiCl3を添加して加圧成形し、次いで酸化雰囲気中で650〜950℃で焼成する一酸化炭素ガスセンサ用P型半導体の製造方法。
本発明一酸化炭素ガスセンサにおいては、N型半導体とP型半導体とを圧接させて構成するP−N式センサのP型半導体にLa化合物を添加したので、一酸化炭素ガスの検出選択性が高い。更に、La化合物に加えてBi化合物をP型半導体に添加する場合は、更に一酸化炭素ガス検出の選択性を向上できる。
以下、本発明の一酸化炭素ガスセンサの一実施形態につき、図面を参照して詳細に説明する。
図1(A)中、2は本発明の一酸化炭素ガスセンサの一例を示す側面図で、4及び6はアルミナ等の耐熱性及び絶縁性を有するセラミック基板である。前記セラミック基板4、6の互いに対向する面には、素子電極8、10が形成されている。
前記素子電極8には、P型半導体素子12が形成されている。また、前記素子電極10にはN型半導体素子14が形成されている。これらP型半導体素子12と、N型半導体素子14とは、圧接面16で、互いに圧接されている。圧接圧力は30KPa以上が好ましい。
前記セラミック基板4、6の、素子電極8、10形成面と反対面には、白金等の電気抵抗体薄膜を蛇行させて焼結したヒータ18、20が形成され、そのヒータ18、20の両端はそれぞれヒータ電極22、24、26、28に接続されている。なお、図1(B)は、上記一酸化炭素ガスセンサの平面図である。
上記構成の一酸化炭素ガスセンサにおいて、P型半導体素子12は、CuOを母体とする。P型半導体素子12は、更にLa元素をCu元素に対して1〜10モル%、好ましくは3〜7モル%含有する。La元素を含む化合物としては、LaOClが好ましい。La元素の添加量が1モル%未満の場合は、得られる一酸化炭素ガスセンサの一酸化炭素に対する選択性が低くなる。La元素の添加量が10モル%を超える場合は、P型半導体を製造する際の成形性が悪くなる。
このP型半導体素子12の製造方法としては、CuOに上記計算量のLaCl3・7H2OまたはLaOClを添加して成形し、650〜950℃の酸化雰囲気下で焼成する方法が例示できる。焼成時間は10分〜1時間が好ましい。焼成することにより、La化合物はLaOClに変化していることがμ−X線回折による分析により確認されている。LaCl3は水溶性であるので、CuOに均一に分散しやすく、好ましいP型半導体原料である。これに対し、LaOClは非水溶性であるので、CuO中に均一に分散させる観点からはLaCl3に劣る。しかし、LaOClを用いる場合は、得られるセンサは選択性の高いものになる。
上記P型半導体素子12には、更にBi元素をCu元素に対して1〜10モル%、好ましくは3〜7モル%含有させても良い。Bi元素を含有させることにより、更に一酸化炭素ガスに対するセンサの検出選択性が高まる。
Bi元素を含む化合物としては、BiCl3が好ましい。Bi元素の添加量が1モル%未満の場合は、得られる一酸化炭素ガスセンサの一酸化炭素に対する選択性が低くなる。Bi元素の添加量が10モル%を超える場合は、P型半導体を製造する際の成形性が悪くなる。
Bi元素をP型半導体素子に含有させる場合、La元素とBi元素とのモル比は6:4〜4:6が好ましい。
上記N型半導体素子14は、ZnOを母材とする。N型半導体素子14の製造方法及び添加金属としては、従来公知のものが任意に採用できる。
図2は、上記一酸化炭素ガスセンサ2を組込んだ一酸化炭素ガス測定装置の構成を示す。この測定装置を用いて一酸化炭素ガスを検出する場合につき説明する。
不図示の電源から、ヒータ電極22、24及び26、28に所定の電力が供給され、これによりヒータ18、20が発熱してセンサ2が200〜400℃に加熱される。
一方、電源30の電力は、可変抵抗32により調整され、一酸化炭素ガスセンサ2の素子電極8、10に印加される。一酸化炭素ガスが、圧接面16近傍に接触すると、圧接面16におけるポテンシャル障壁の高さと幅が変化し、センサ2を流れる電流値が変化する。この電流値の変化を電流計34で測定することにより、一酸化炭素ガスの濃度が検出される。なお、36は素子電極に印加される電圧を測定する電圧計である。
通常、上記構成の一酸化炭素ガスセンサの場合、印加電圧を0.1V程度に設定すると、数μAの電流が流れる。
実施例1
P型半導体母材としてCuO(CI化成(株)製商品名nanotecCuO)にLaCl3・7H2OをCu元素に対して5モル%混合した粉末0.25gを、直径10mm、厚さ1.0mmの円盤状にプレス成形した。成形圧力は120Mpaであった。成型品を800℃で1時間焼成し、P型半導体素子を得た。
一方、N型半導体母材原料としてZnO(CI化成(株)製の商品名nanotecZnO)粉末0.25gを、直径10mm、厚さ1.0mmの円盤状にプレス成形した。成形圧力は120Mpaであった。成型品を1000℃で1時間焼成し、N型半導体素子を得た。
次に、12.7x12.7x0.635mmの京セラ製アルミナ基板にスクリーン印刷によりAgペースト((株)徳力化学研究所製 シルベストP−603)を用いて素子電極パターンを印刷し、550℃で10分間焼成することにより、アルミナ基板に素子電極を形成した。
素子電極を形成したアルミナ基板の素子電極に上記Agペーストを塗布し、前記製造したP型半導体素子をその上に張付けた。その後、550℃で10分間焼成し、P型半導体を得た。
同様にして、N型半導体を得た。
最後に、上記得られたP、N型半導体を、半導体面を互いに対向させてクリップで圧接固定させ、一酸化炭素ガスセンサを得た。
このセンサを、円筒型の加熱炉に挿入し、加熱炉内を260℃(=検出温度)に保ちながら表1に示す濃度の一酸化炭素ガス、エタノール、酢酸エチルガスを含む空気を加熱炉内に供給した。
得られたセンサの検出感度を表1にまとめた。
比較例1
P型半導体素子として、LaCl3・7H2Oを添加しない以外は実施例1と同様にしてセンサを製造した。これを用いて実施例1と同様の検出試験を行いその結果を表1に合わせて記載した。
比較例2
P型半導体素子として、LaCl3・7H2Oを0.1モル%添加した以外は実施例1と同様にしてセンサを製造した。これを用いて実施例1と同様の検出試験を行いその結果を表1に合わせて記載した。表1の比較例2のデータによれば、エタノール、酢酸エチルのガス検出感度が比較例1の同感度よりも若干高い。これは、センサの特性のばらつきに基づくものであり、ガス選択特性としては、比較例1と比較例2のセンサは略同等である。
Figure 2005214868
表1中、ガス検出感度(*1)は、ΔIgas/ΔICO1000 で定義されるものである。ここで、ΔIgas=Igas−Iair、 ΔICO1000=ICO1000−Iair
但し、Iair:空気雰囲気中における検出電流値、Igas:供給ガス中における検出電流値、ICO1000:COガス1000ppm雰囲気中における検出電流値

実施例2
P型半導体素子の製造において、LaCl3・7H2Oの代りにLaOCl粉末を使用した以外は実施例1と同様に操作して一酸化炭素ガスセンサを製造した。その結果を表2に示した。

実施例3
P型半導体素子の製造において、LaCl3・7H2Oを10モル%添加する代りにLaCl3・7H2Oを5モル%と、BiCl3を5モル%添加した以外は実施例1と同様に操作して一酸化炭素ガスセンサを製造した。検出温度340℃で求めたガス検出感度を表2に示した。
参考例1として、実施例1の一酸化炭素ガスセンサを用いて実施例3と同様(但し検出温度260℃)の測定方法で求めたガス検出感度をあわわせて表2に示した。
Figure 2005214868
表2中、ガス検出感度(*2)は、ΔIgas/ΔICO500 で定義されるものである。ここで、ΔICO500=ICO500−Iair
但し、Iair:空気雰囲気中における検出電流値、Igas:供給ガス中における検出電流値、ICO500:COガス500ppm雰囲気中における検出電流値

実施例1、2、比較例1、2のデータの比較から、本発明の一酸化炭素ガスセンサは、一酸化炭素に対する選択性に優れていることが解る。
また、実施例3、参考例1のデータから、P型半導体素子にLa元素に加えてBi元素を共存させると、一酸化炭素ガスの選択性が更に高まることが解る。
本発明の一酸化炭素ガスセンサの一例を示す(A)は概略側面図、(B)は概略平面図である。 一酸化炭素測定装置の回路構成の一例を示す説明図である。
符号の説明
2 一酸化炭素ガスセンサ
4、6 セラミック基板
8、10 素子電極
12 P型半導体素子
14 N型半導体素子
16 圧接面
18、20 ヒータ
22、24、26、28 ヒータ電極
30 電源
32 可変抵抗
34 電流計
36 電圧計

Claims (6)

  1. La元素をCu元素に対して1〜10モル%含有するCuOを母材とするP型半導体と、ZnOを母材とするN型半導体とを圧接させてなる一酸化炭素ガスセンサ。
  2. La元素とBi元素とを、Cu元素に対してそれぞれ1〜10モル%含有するCuOを母材とするP型半導体と、ZnOを母材とするN型半導体とを圧接させてなる一酸化炭素ガスセンサ。
  3. La元素とBi元素とのモル比が6:4〜4:6である請求項2に記載の一酸化炭素ガスセンサ。
  4. La元素が、LaOCl化合物として含有されている請求項1乃至3の何れかに記載の一酸化炭素ガスセンサ。
  5. CuOに、Cu元素に対して1〜10モル%のLa元素に相当するLaCl3又はLaOClを添加して加圧成形し、次いで酸化雰囲気中で650〜950℃で焼成する一酸化炭素ガスセンサ用P型半導体の製造方法。
  6. CuOに、Cu元素に対して1〜10モル%のLa元素に相当するLaCl3又はLaOClと、Cu元素に対してBi元素が1〜10モル%に相当するBiCl3を添加して加圧成形し、次いで酸化雰囲気中で650〜950℃で焼成する一酸化炭素ガスセンサ用P型半導体の製造方法。
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