JP2005192803A - X線ct装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 再構成される画像の位置の自由度が大きいX線CT装置を提供する。
【解決手段】
スキャン位置設定手段と、スキャン位置設定とは独立に再構成領域を設定する再構成領域設定手段と、スキャン位置について投影データD0を収集するスキャン手段と、投影データD0を基に投影面上に面投影されたデータD1を求める面投影データ算出手段と、再構成領域上の複数のラインであって投影面に平行な方向の複数ラインを構成する各画素上に前記面投影されたデータD1をX線透過方向に投影して再構成領域上のラインを構成する各画素の逆投影画素データD2を求める逆投影画素データ算出手段と、画像再構成に用いる全ビューの逆投影画素データD2を画素対応に加算して逆投影データD3を求める逆投影データ算出手段とを具備する。
【選択図】 図29

Description

本発明は、X線CT(Computed Tomography)装置に関し、コンベンショナルスキャン(アキシャルスキャン)における3次元逆投影方法の画像再構成を行うX線CT装置に関する。
3次元逆投影方法に基づいたコンベンショナルスキャン(アキシャルスキャン)の画像再構成を行う場合、多列検出器の各列ごとに画像再構成方法を行っていた(例えば、特許文献1参照)。
特開2003−225230号公報(第9−10頁、図1−2)
上記のような画像再構成では、再構成される画像の位置が多列検出器の各列の位置によって規制されるという問題があった。そこで、本発明の目的は、再構成される画像の位置の自由度が大きいX線CT装置を提供することにある。
上記の課題を解決するための本発明は、スキャンを行う位置を設定するスキャン位置設定手段と、前記スキャン位置設定手段によるスキャン位置設定とは独立に再構成領域を設定する再構成領域設定手段と、X線管と、複数の検出器列を持つマルチ検出器と、前記X線管または前記マルチ検出器の少なくとも一方を撮影対象の周りに回転しながら前記スキャン位置について投影データD0を収集するスキャン手段と、前記投影データD0を基に投影面上に面投影されたデータD1を求める面投影データ算出手段と、再構成領域上の複数画素間隔あけた複数のラインであって投影面に平行な方向の複数ラインを構成する各画素上に前記面投影されたデータD1をX線透過方向に投影して再構成領域上のラインを構成する各画素の逆投影画素データD2を求めると共に前記複数のライン間を補間して再構成領域上のライン間の各画素の逆投影画素データD2を求める逆投影画素データ算出手段と、または、再構成領域上の各画素上に、投影データD0をX線透過方向に投影して再構成領域上の各画素の逆投影画素データD2を求めて3次元逆投影を投影データから直接再構成領域に行う逆投影画素データ算出手段と、画像再構成に用いる全ビューの逆投影画素データD2を画素対応に加算して逆投影データD3を求める逆投影データ算出手段とを具備してなることを特徴とするX線CT装置である。
前記面投影データ算出手段は、X線管とX線検出器の回転平面に垂直な方向をz軸方向とし、回転角度が0度の時のX線ビームの中心軸方向をy軸方向とし、z軸方向およびy軸方向に直交する方向をx軸方向とする時、-45度≦回転角度<45度もしくはそれを主体とし周辺をも含む回転角度範囲および135度≦回転角度<225度もしくはそれを主体とし周辺をも含む回転角度範囲では回転中心を通るxz平面を前記投影面とし、45度≦回転角度<135度もしくはそれを主体とし周辺をも含む回転角度範囲および225度≦回転角度<315度もしくはそれを主体とし周辺をも含む回転角度範囲では回転中心を通るyz平面を前記投影面とすることが、面投影されたデータD1または逆投影画素データD2を適切に求める点で好ましい。
前記面投影データ算出手段は、複数の投影データD0から補外処理により1つの面投影されたデータD1を求めることが、逆投影画素データD2を適切に得る点で好ましい。前記逆投影画素データ算出手段は、複数の面投影されたデータD1の荷重加算処理または投影データD0の荷重加算処理により1つの逆投影画素データD2を求めることが、逆投影画素データD2を適切に得る点で好ましい。
前記逆投影画素データ算出手段は、ある回転角度(ビュー)での逆投影画素データD2と対向する回転角度(ビュー)での逆投影画素データD2とに両ビューでの再構成領域の画素とX線焦点を結ぶ直線と再構成領域平面とがなす角度に応じた重み係数wa、wb(ただし、wa+wb=1)で荷重加算した結果を逆投影画素データD2とする逆投影画素データD2を適切に得る点で好ましい。
3次元表示などにおいて最適な画像を得るために、前記再構成領域設定手段は再構成領域の位置をz方向の位置に制限なく設定できることが、所望の位置における断層像を得る点で好ましい。ある診断目的においては前記再構成領域設定手段は再構成領域の厚みを設定することが、所望の厚みに関する断層像を得る点で好ましい。
あるアプリケーションの用途においては前記再構成領域設定手段は再構成領域の傾斜を設定することことが、所望の傾斜面における断層像を得る点で好ましい。前記再構成領域設定手段は複数の再構成領域の数を設定することが、複数の断層像を得る点で好ましい。前記再構成領域設定手段は複数の再構成領域の間隔を設定することが、複数の平行な断層像を得る点で好ましい。
本発明では、複数の検出器列を持つマルチ検出器を用いたコンベンショナルスキャン(アキシャルスキャン)により所望のスキャン位置について収集した投影データD0を投影面に面投影されたデータD1を求め、所望の再構成領域上の複数画素間隔あけた複数のラインであって投影面に平行な方向の複数ラインを構成する各画素上に前記面投影されたデータD1をX線透過方向に投影して再構成領域上のラインを構成する各画素の逆投影画素データD2を求めると共に前記複数のラインを補間して再構成領域上のライン間の各画素の逆投影画素データD2を求め、画像再構成に用いる全ビューの逆投影画素データD2を画素対応に加算して逆投影データD3を求めるようにしたので、再構成領域の位置すなわち再構成される画像の位置を任意に設定することが可能になる。すなわち、再構成される画像の位置の自由度が大きいX線CT装置を提供することができる。
以下、図面を参照して発明を実施するための最良の形態を詳細に説明する。なお、本発明は、発明を実施するための最良の形態に限定されるものではない。図1に、X線CT装置のブロック(block)図を示す。本装置は発明を実施するための最良の形態の一例である。本装置の構成によって、本発明のX線CT装置に関する本発明を実施するための最良の形態の一例が示される。
X線CT装置100は、操作コンソール1と、撮影テーブル10と、走査ガントリ20とを具備している。操作コンソール1は、操作者の入力を受け付ける入力装置2と、本発明に係る3次元逆投影処理などを実行する中央処理装置3と、走査ガントリ20で取得した投影データを収集するデータ収集バッファ5と、投影データから再構成したCT画像を表示するCRT6と、プログラムやデータやX線CT画像を記憶する記憶装置7とを具備している。
撮影テーブル10は、被検体を乗せて走査ガントリ20のボア(空洞部)に入れ出しするクレードル12を具備している。クレードル12は、撮影テーブル10に内蔵するモータで駆動される。
走査ガントリ20は、X線管21と、X線コントローラ22と、コリメータ23と、マルチ検出器(多列検出器)24と、DAS(Data Acquisition System)25と、被検体の体軸の回りにX線管21などを回転させる回転コントローラ26と、制御信号などを操作コンソール1や撮影テーブル10とやり取りする制御インタフェース29とを具備している。X線コントローラ22、コリメータ23および回転コントローラ26も制御インタフェース29を通じて中央処理装置3の制御下にある。
以下、アキシャルスキャンを想定して説明する。図2および図3は、X線管21と多列検出器24の説明図である。X線管21と多列検出器24は、回転中心ICの回りを回転する。鉛直方向をy方向とし、水平方向をx方向とし、これらに垂直な方向をz方向とする時、X線管21および多列検出器24の回転平面は、xy面である。また、クレードル12の移動方向はz方向である。なお、多列検出器24の代わりに平面X線検出器を用いてもよい。
X線管21は、コーンビームCBと呼ばれるX線ビームを発生する。コーンビームCBの中心軸方向がy方向に平行な時を、回転角=0°とする。多列検出器24は、例えば256列の検出器列を有する。また、各検出器列は、例えば1024チャネルのチャネルを有する。
図4は、X線CT装置100の動作の概略を示すフロー図である。ステップS0ではローカライズを行う。ローカライズはスキャン位置および画像再構成位置を設定する作業であり、本装置の操作者により操作コンソール1を使用して行われる。操作コンソール1は本発明におけるスキャン位置設定手段の一例である。操作コンソール1はまた本発明における再構成領域設定手段の一例である。ローカライズについては後にあらためて説明する。
ステップS1では、X線管21と多列検出器24とを撮影対象の周りに回転させながらテーブル直線移動位置zとビュー角度viewと検出器列番号jとチャネル番号iとで表される投影データD0(z,view,j,i)を収集する。データ収集は走査ガントリ20によって行われる。走査ガントリ20は本発明におけるスキャン手段の一例である。
ステップS2では、投影データD0(z,view,j,i)に対して、前処理(オフセット補正,対数補正,X線線量補正,感度補正)を行う。ステップS3では、前処理した投影データD0(z,view,j,i)に対して、フィルタ処理を行う。すなわち、フーリエ変換し、フィルタ関数(再構成関数)を掛け、逆フーリエ変換する。
ステップS4では、フィルタ処理した投影データD0(z,view,j,i)に対して、3次元逆投影処理を行い、逆投影データD3(x,y)を求める。この3次元逆投影処理については、図5を参照して後述する。ステップS5では、逆投影データD3(x,y)に対して後処理を行い、CT画像を得る。
図5は、3次元逆投影処理(図4のステップS4)の詳細を示すフロー図である。このフロー図は中央処理装置3の動作を示す。ステップR1では、CT画像の再構成に必要な全ビュー(すなわち、360°分のビュー又は「180°分+ファン角度分」のビュー)中の一つのビューに着目する。ステップR2では、着目ビューの投影データD0(z,view,j,i)の中から再構成領域上の複数画素間隔あけた複数の平行なラインに対応する投影データDrを抽出する。
図6に再構成領域P上の複数の平行なラインL0〜L8を例示する。ライン数は、ラインに直交する方向の再構成領域の最大画素数の1/64〜1/2とする。例えば、再構成領域Pの画素数が512×512である時、ライン数は9本とする。再構成領域Pはローカライズによって設定されたものである。
また、−45°≦回転角<45°(もしくはそれを主体とし周辺をも含むビュー角度範囲)および135°≦回転角<225°(もしくはそれを主体とし周辺をも含むビュー角度範囲)では、x方向をライン方向とする。また、45°≦回転角<135°(もしくはそれを主体とし周辺をも含むビュー角度範囲)および225°≦回転角<315°(もしくはそれを主体とし周辺をも含むビュー角度範囲)では、y方向をライン方向とする。また、回転中心ICを通り、ラインL0〜L8に平行な投影面ppを想定する。
図7は、ラインL0〜L8をX線透過方向に検出器面dpに投影したラインT0〜T8を示している。X線透過方向は、X線管21と多列検出器24とラインL0〜L8の幾何学的位置(多列検出器24のz軸方向の中心を通るxy面から画像再構成領域Pまでのz軸方向の距離や、画像再構成面P上の画素点の集合であるラインL0〜L8の位置を含む)によって決まるが、投影データD0(z,view,j,i)のテーブル直線移動方向の位置zが判っているため、X線透過方向を正確に求めることができる。
検出器面dpに投影したラインT0〜T8に対応する検出器列jおよびチャネルiの投影データを抽出すれば、それらがラインL0〜L8に対応する投影データDrである。投影データDrは必要に応じて補間ないし補外によって求められる。
そして、図8に示すように、ラインT0〜T8をX線透過方向に投影面pp上に投影したラインL0‘〜L8’を想定し、それらラインL0‘〜L8’に投影データDrをz軸座標情報に基づいて配置しておく。
図5に戻り、ステップR3では、各ラインL0‘〜L8’の投影データDrにコーンビーム再構成荷重を乗算し、図9に示す如き投影ライン・データDpを作成する。ここで、コーンビーム再構成荷重は、X線管21の焦点から投影データDrに対応する多列検出器24の検出器列j,チャネルiまでの距離をr0とし、X線管21の焦点から投影データDrに対応する再構成領域上の点までの距離をr1とする時、(r1/r0)2である。
ステップR4では、投影ライン・データDpに対して、フィルタ処理を行う。すなわち、投影ライン・データDpにFFTを施し、フィルタ関数(再構成関数)を掛け、逆FFTを施して、図10に示す如き画像各位置ライン・データDfとする。
ステップR5では、画像各位置ライン・データDfに対してライン方向に補間処理を施し、図11に示す如き高密度画像各位置ライン・データDhを作成する。高密度画像各位置ライン・データDhのデータ密度は、ライン方向の再構成領域の最大画素数の8倍〜32倍とする。例えば、16倍として再構成領域Pの画素数が512×512である時、データ密度は8192点/ラインとする。ステップR1からR5までの処理を行う中央処理装置3は、本発明における面投影データ算出手段の一例である。
ステップR6では、高密度画像各位置ライン・データDhをサンプリングし且つ必要に応じて補間・補外処理して、図12に示すように、ラインL0〜L8上の画素の逆投影画素データD2を得る。
ステップR7では、高密度画像各位置ライン・データDhをサンプリングし且つ補間・補外処理して、図13に示すように、ラインL0〜L8間の画素の逆投影画素データD2を得る。ステップR6からR7までの処理を行う中央処理装置3は、本発明における逆投影画素データ算出手段の一例である。
なお、図8〜13は、−45°≦回転角<45°(もしくはそれを主体とし周辺をも含むビュー角度範囲)および135°≦回転角<225°(もしくはそれを主体とし周辺をも含むビュー角度範囲)を想定しているが、45°≦回転角<135°(もしくはそれを主体とし周辺をも含むビュー角度範囲)および225°≦回転角<315°(もしくはそれを主体とし周辺をも含むビュー角度範囲)では、図14〜図19に示すようになる。
なお、ある回転角度(ビュー)での逆投影画素データD2と対向する回転角度(ビュー)での逆投影画素データD2とに両ビューでの再構成領域の画素とX線焦点を結ぶ直線と再構成領域平面とがなす角度に応じた重み係数wa、wb(ただし、wa+wb=1)で荷重加算した結果を逆投影画素データD2とするようにしてもよい。
図5に戻り、ステップR8では、図20に示すように、図13または図19に示す逆投影画素データD2を画素対応に加算する。ステップR9では、CT画像の再構成に必要な全ビュー(すなわち、360°分のビュー又は「180°分+ファン角度分」のビュー)について、ステップR1〜R8を繰り返し、逆投影データD3(x,y)を得る。ステップR8からR9までの処理を行う中央処理装置3は、本発明における逆投影データ算出手段の一例である。
ローカライズについて説明する。図21にローカライズのフロー図を示す。このフロー図は図4におけるステップS0の詳細を示す。同図に示すように、ステップQ1で被検体のスカウト撮影を行う。スカウト撮影は走査ガントリ20を回転させない状態でX線を照射しながらクレードルを体軸方向に直線移動させることにより行われる。スカウト撮影は例えば被検体の側面と正面の2方向から行われ、図22の(a)、(b)に示すような2種類の透視像が得られる。これらの透視像はCRT6に表示される。なお、スカウト撮影は側面または正面の一方からだけから行うようにしてもよい。
次に、ステップQ2で、スキャン位置設定を行う。スキャン位置設定は操作者によりCRT6および入力装置2を使用して行われる。CRT6および入力装置2は本発明におけるスキャン位置設定手段の一例である。入力装置2はトラックボールやマウス等適宜のポインティングデバイスを備え、操作者はそれを用いてスカウト画像上の所望の個所を指定すること等によりスキャン位置設定を行う。
これによって、例えば図23に示すようにスキャン位置が設定される。同図ではスキャン位置を破線の枠で示す。X線検出をマルチ検出器24で行うので、スキャン位置は同図に示すように体軸方向に所定の範囲を持つものとなる。
次に、ステップQ3で、再構成領域設定を行う。再構成領域設定は操作者によりCRT6および入力装置2を通じて行われる。CRT6および入力装置2は本発明における再構成領域設定手段の一例である。再構成領域設定にあたって、CRT6には例えば図24に示すような設定画面が表示される。
同図に示すように、設定画面は入力ボックス601−607を有し、操作者がそこに適宜の数値をキーボードにより入力できるようになっている。入力ボックス601−607は三角マークを付したプルダウンボタンを備えているので、このボタンをクリックして複数の数値候補を表示させ、その中から所望のものを選択するようにしてもよい。数値候補は標準的な組合せ(デフォルト値)が予め記憶されている。数値候補は書き替え可能になっており、デフォルト値をスキャン実績あるいは操作者のニーズに合わせてカスタマイズすることができる。
入力ボックス601は、スライスナンバー(slice number)すなわちスライス数の入力ボックスである。操作者はこのボックスに数値を入力することによりスライス数を設定する。スライスとは断層像のことでxy平面上では再構成領域Pのことである。以下、再構成領域Pまたは断層像をスライスともいう。入力ボックス603は、シックネス(thickness)すなわちスライス厚の入力ボックスである。スライス厚の単位はmmである。
入力ボックス605はスライスポジション(slice position)すなわちスライス位置の入力ボックスである。操作者はこのボックスに数値を入力することによりスライス位置を設定する。なお、スライス位置はランドマークされたz方向の位置からの距離として設定される。単位はmmである。
入力ボックス607はスライスインターバル(slice interval))すなわちスライス間隔の入力ボックスである。操作者はこのボックスに数値を入力することによりスライス間隔を設定する。なお、スライス間隔の単位はmmである。
設定画面はまた選択ボタン609−617を有する。選択ボタン609はオブリーク(oblique)すなわちスライスを傾斜させるためのボタンである。このボタンには入力ボックス615,617が付属する。入力ボックス615はx軸を中心とする傾斜角を入力するためのものであり、入力ボックス617はy軸を中心とする傾斜角を入力するためのものである。
選択ボタン611はサジタル(sagittal)すなわち矢状スライスを選択するためのボタンである。選択ボタン613はコロナル(coronal)すなわち冠状スライスを選択するためのボタンである。
このような画面を用いて設定されたスライス(断層像または再構成領域)の一例を図25に示す。同図ではスライスを実線の直線で表す。なお、スライスは図26に示すようにスライス厚に応じた幅を持つ帯状図形で表すようにしてもよい。
スライス数が複数の場合は例えば図27に示すようになる。スライスをオブリークさせた時は例えば図28に示すようになる。オブリークの角度は、入力ボックス615,617に数値を入力する代わりに、スライスを表す直線の端をポインティングデバイスでドラッグすることにより調節するようにしてもよい。その際、入力ボックスの数値も連動して変化し、傾斜角度を表示する。
本装置では、前述のような3次元逆投影による画像再構成を行うので、スライスすなわち断層像または再構成領域Pの設定は、マルチ検出器24の構成による制約なしに行うことができる。すなわち、マルチ検出器24の各検出器列のz方向の幅が例えば0.5mmであったとしても、スライス位置の設定は、従来のようにその整数倍の位置に限られることなく任意の位置例えば0.1mmごとに設定することができる。スライス厚およびスライス間隔についても同様である。また、前述のような3次元逆投影による画像再構成を行うので、スキャン位置の範囲内は任意のオブリーク面を再構成領域とすることができ、しかも走査ガントリ20を傾斜させる必要がない。
従来も、断面変換の技法を用いれば、任意のスライス位置、スライス厚および傾斜角度の断層を得ることができるが、本装置では、そのような断面変換によらず直接的に、任意のスライス位置、スライス厚および傾斜角度の断層を得ることができるのである。
また、スキャン位置設定と再構成領域設定を互いに独立なものとしたので、例えば図29に示すように、スキャン位置を傾斜させ、そのスキャン位置において傾斜しないスライスを設定することももできる。これによって、特定部位におけるX線被曝を回避しつつ所望のスライスについて断層像を得ることが可能となる。
特にコンベンショナルスキャンでの3次元表示では、従来検出器のz方向の幅dzおきにしか再構成できず、スライス厚dzの断層像をdz間隔にしか作れず十分な画質の3次元画像が得られなかった。ヘリカルスキャンではスライス厚dzに対してdz/2間隔にもしくはそれより細かく断層像を再構成して3次元表示を行っているため、高画質な3次元画像表示が行えていた。
本発明によると、コンベンショナルスキャンでも、dz/2間隔もしくはそれ以上に細かく画像を再構成できるために高画質な3次元画像表示が行える。このようなアプリケーション上の効果が大きい。また、石灰化指数測定(Calcium Scoring)でも従来はコンベンショナルスキャンまたはシネスキャンでスライス厚dzの断層像をdz間隔で画像再構成していたが、本発明により画像再構成間隔をいくらでも細かくできるために、石灰化指数測定の再現性の向上が実現できる。これらのアプリケーション上の効果も期待できる。
なお、画像再構成法は、従来公知のフェルドカンプ法による3次元画像再構成法でもよい。さらに、特願2002−066420号、特願2002−147061号、特願2002−147231号、特願2002−235561号、特願2002−235662号、特願2002−267833号、特願2002−322756号および特願2002−338947号で提案されている3次元画像再構成法を用いてもよい。
本発明の一実施形態に係るX線CT装置を示すブロック図である。 X線管および多列検出器の回転を示す説明図である。 コーンビームを示す説明図である。 本発明の一実施形態に係るX線CT装置の概略動作を示すフロー図である。 3次元画像再構成処理の詳細を示すフロー図である。 再構成領域上のラインをX線透過方向へ投影する状態を示す概念図である。 検出器器面に投影したラインを示す概念図である。 回転角=0°における各ラインの投影データDrを投影面に投影した状態を示す概念図である。 回転角=0°における各ラインの投影ライン・データDpを投影面に投影した状態を示す概念図である。 回転角=0°における各ラインの画像各位置ライン・データDfを投影面に投影した状態を示す概念図である。 回転角=0°における各ラインの高密度画像各位置ライン・データDhを投影面に投影した状態を示す概念図である。 回転角=0°における再構成領域上の各ラインの逆投影画素データD2を示す概念図である。 回転角=0°における再構成領域上の各画素の逆投影画素データD2を示す概念図である。 回転角=90°における各ラインの投影データDrを投影面に投影した状態を示す概念図である。 回転角=90°における各ラインの投影ライン・データDpを投影面に投影した状態を示す概念図である。 回転角=90°における各ラインの画像各位置ライン・データDfを投影面に投影した状態を示す概念図である。 回転角=90°における各ラインの高密度画像各位置ライン・データDhを投影面に投影した状態を示す概念図である。 回転角=90°における再構成領域上の各ラインの逆投影画素データD2を示す概念図である。 回転角=90°における再構成領域上の各画素の逆投影画素データD2を示す概念図である。 逆投影画素データD2を画素対応に全ビュー加算して逆投影データD3を得る状態を示す説明図である。 ローカライズの詳細を示すフロー図である。 スカウト撮影によって得られる画像を示す図である。 スキャン位置設定を示す図である。 再構成領域設定用の画面を示す図である。 再構成領域設定を示す図である。 再構成領域設定を示す図である。 再構成領域設定を示す図である。 再構成領域設定を示す図である。 再構成領域設定を示す図である。
符号の説明
1 操作コンソール
2 入力装置
3 中央処理装置
5 データ収集バッファ
6 CRT
7 記憶装置
10 撮影テーブル
12 クレードル
15 回転部
20 走査ガントリ
21 X線管
22 X線コントローラ
23 コリメータ
24 X線検出器
25 DAS(データ収集装置)
26 回転部コントローラ
29 制御コントローラ
dP 検出器面
P 再構成領域
PP 投影面

Claims (11)

  1. スキャンを行う位置を設定するスキャン位置設定手段と、
    前記スキャン位置設定手段によるスキャン位置設定とは独立に再構成領域を設定する再構成領域設定手段と、
    X線管と、
    複数の検出器列を持つマルチ検出器と、
    前記X線管および前記マルチ検出器のうちの少なくとも一方を撮影対象の周りに回転しながら前記スキャン位置について投影データD0を収集するスキャン手段と、
    再構成領域上の各画素上に前記投影データD0をX線透過方向に投影して再構成領域上の画素の逆投影画素データD2を求めて、3次元逆投影を投影データから直接再構成領域に行う逆投影画素データ算出手段と、
    画像再構成に用いる全ビューの逆投影画素データD2を画素対応に加算して逆投影データD3を求める逆投影データ算出手段とを具備してなることを特徴とするX線CT装置。
  2. スキャンを行う位置を設定するスキャン位置設定手段と、
    前記スキャン位置設定手段によるスキャン位置設定とは独立に再構成領域を設定する再構成領域設定手段と、
    X線管と、
    複数の検出器列を持つマルチ検出器と、
    前記X線管および前記マルチ検出器のうちの少なくとも一方を撮影対象の周りに回転しながら前記スキャン位置について投影データD0を収集するスキャン手段と、
    前記投影データD0を基に投影面上に面投影されたデータD1を求める面投影データ算出手段と、
    再構成領域上の複数画素間隔あけた複数のラインであって投影面に平行な方向の複数ラインを構成する各画素上に前記面投影されたデータD1をX線透過方向に投影して再構成領域上のラインを構成する各画素の逆投影画素データD2を求めると共に前記複数のライン間を補間して再構成領域上のライン間の各画素の逆投影画素データD2を求める逆投影画素データ算出手段と、
    画像再構成に用いる全ビューの逆投影画素データD2を画素対応に加算して逆投影データD3を求める逆投影データ算出手段とを具備してなることを特徴とするX線CT装置。
  3. 請求項1または請求項2に記載のX線CT装置において、前記面投影データ算出手段は、X線管とX線検出器の回転平面に垂直な方向をz軸方向とし、回転角度が0度の時のX線ビームの中心軸方向をy軸方向とし、z軸方向およびy軸方向に直交する方向をx軸方向とする時、-45度≦回転角度<45度もしくはそれを主体とし周辺をも含む回転角度範囲および135度≦回転角度<225度もしくはそれを主体とし周辺をも含む回転角度範囲では回転中心を通るxz平面を前記投影面とし、45度≦回転角度<135度もしくはそれを主体とし周辺をも含む回転角度範囲および225度≦回転角度<315度もしくはそれを主体とし周辺をも含む回転角度範囲では回転中心を通るyz平面を前記投影面とすることを特徴としたX線CT装置。
  4. 請求項1から請求項3のいずれかに記載のX線CT装置において、前記面投影データ算出手段は、複数の投影データD0から補外処理により1つの面投影されたデータD1または逆投影画素データD2を求めることを特徴としたX線CT装置。
  5. 請求項1から請求項4のいずれかに記載のX線CT装置において、前記逆投影画素データ算出手段は、複数の面投影されたデータD1の荷重加算処理または投影データD0の荷重加算処理より1つの逆投影画素データD2を求めることを特徴としたX線CT装置。
  6. 請求項1から請求項5のいずれかに記載のX線CT装置において、前記逆投影画素データ算出手段は、ある回転角度(ビュー)での逆投影画素データD2と対向する回転角度(ビュー)での逆投影画素データD2とに両ビューでの再構成領域の画素とX線焦点を結ぶ直線と再構成領域平面とがなす角度に応じた重み係数wa、wb(ただし、wa+wb=1)で荷重加算した結果を逆投影画素データD2とすることを特徴としたX線CT装置。
  7. 請求項1から請求項6のいずれかに記載のX線CT装置において、前記再構成領域設定手段は再構成領域の位置を設定することを特徴としたX線CT装置。
  8. 請求項1から請求項7のいずれかに記載のX線CT装置において、前記再構成領域設定手段は再構成領域の厚みを設定することを特徴としたX線CT装置。
  9. 請求項1から請求項8のいずれかに記載のX線CT装置において、前記再構成領域設定手段は再構成領域の傾斜を設定することを特徴としたX線CT装置。
  10. 請求項1から請求項9のいずれかに記載のX線CT装置において、前記再構成領域設定手段は複数の再構成領域の数を設定することを特徴としたX線CT装置。
  11. 請求項10に記載のX線CT装置において、前記再構成領域設定手段は複数の再構成領域の間隔を設定することを特徴としたX線CT装置。
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