JP2005190592A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】光ディスクの読取信号に含まれる複数種類のＳ字信号を異なる閾値で識別することで、耐ノイズ性の高い光ディスク種類の識別性能を有する光ディスク装置を提供する。
【解決手段】レーザ光の光ディスクからの反射光を読み取り、第１Ｓ字信号Ｓ１と第２Ｓ字信号Ｓ２とを含む読取信号を出力する読取部１５と、読取信号を第１閾値ＴＨ１＋と比較することで第１Ｓ字信号を検出する第１比較部５２と、読取信号を第１閾値よりも大きな第２閾値ＴＨ２＋と比較することで、第２Ｓ字信号を検出する第２比較部５３と、第１比較部が第１Ｓ字信号を検出した時から第２比較部が第２Ｓ字信号を検出した時までの期間を計時する計時部５７とを有する光ディスク装置。
【選択図】 図１

Description

本発明は、光ディスク装置に関し、特に、光ディスクの読取信号からＳ字信号を検出して、光ディスクの種類を判別する光ディスク装置に関する。

最近、デジタル記録媒体として記録型や再生専用のＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、又は従来型のＣＤ（Compact Disc）等の複数種類の光ディスクが普及してきており、これらを再生する光ディスク装置においても、高い信頼性が望まれている。このような光ディスク装置においては、複数種類の光ディスクに対応しなければならず、光ディスクの種類を識別しなければならない。

特許文献１は、ディスクに光ビームを集光して得られる反射光ビームを検出し、第１及び第２の反射光強度、又は、フォーカスエラー信号の発生間隔から、保護層の厚さを推定してディスクの種別を判別する光ディスク装置が示されている。
特開平１０−１８８４５８号公報。

しかし、上記した特許文献１の従来技術は、０レベルを脱したときに測定開始、０レベルに到着したときに測定終了とするため、ノイズの影響を受けた場合に誤測定を行ってしまう。又、１つの閾値を設けて振幅の違う信号間を測定する場合、正確な振幅を検出せずに測定を行ってしまうという問題がある。

又、この従来技術では、Ｓ字信号の第１Ｓ字信号Ｓ１で閾値を超える立ち上がりを検出した場合、次に検知した立ち上がりまでの間を測定することで光ディスクの保護層の厚さを推定しているが、ノイズ等で第１Ｓ字信号Ｓ１の立ち上がりを失った場合、立ち下がりを測定開始位置としてしまう。これにより、第１Ｓ字信号Ｓ１の立ち下がりと第２Ｓ字信号Ｓ２の立ち上がりを一つのＳ字信号と誤認識してしまい、測定用カウンタが暴走する場合があるという問題がある。

本発明は、光ディスクの読取信号に含まれる複数種類のＳ字信号を異なる閾値で識別することで光ディスク種類を判別することにより、耐ノイズ性の高い識別性能を有する光ディスク装置を提供することを目的とする。

本発明は、レーザ光の光ディスクからの反射光を読み取り、第１Ｓ字信号と第２Ｓ字信号とを含む読取信号を出力する読取部と、前記読取信号を第１閾値（ＴＨ１＋）と比較することで、第１Ｓ字信号を検出する第１比較部と、前記読取信号を前記第１閾値よりも大きな第２閾値（ＴＨ２＋）と比較することで、第２Ｓ字信号を検出する第２比較部と、前記第１比較部が前記第１Ｓ字信号を検出した時から、前記第２比較部が前記第２Ｓ字信号を検出した時までの期間を計時する計時部とを具備することを特徴とする光ディスク装置である。

本発明に係る光ディスク装置は、上述したように、閾値をそれぞれ２レベル設けて、少なくとも振幅の小さい方のＳ字信号と大きい方のＳ字信号とを正確に識別するものである。これにより、第１閾値を横切る信号を検出したタイミングでカウンタ等による計時を開始し、第２閾値を横切る信号を検出したタイミングで計時を終了することで、二つのＳ字信号の間隔を正確に測定することができる。従って、二つのＳ字信号の振幅が異なっている、例えば、光ディスクの保護膜の膜厚を検出する場合には、ノイズの影響を受けない正確な信号検知を行うことができるため、光ディスク種類の判別についても高い判別性能を示すものである。

又、この光ディスク装置において、更に、２の補数で設定されたプラス方向とマイナス方向の閾値を設けることで、Ｓ字信号が立ち上がりから入力された場合には、二つのＳ字信号の立ち上がり−立ち上がり間を測定することができ、Ｓ字信号が立ち下がりから入力された場合には、二つのＳ字信号の立ち下がり−立ち下がり間を測定することができる。

又、この光ディスク装置において、Ｓ字信号の第１Ｓ字信号Ｓ１の立ち上がりをノイズ等で検出できなかった時も、Ｓ字信号の第１Ｓ字信号Ｓ１の立下りを検出し補正回路により、未検出の代りに立下り検出信号を供給することで、二つのＳ字信号の計時を行うカウンタが暴走することなく、適正な計時を行わせるものである。

又、この光ディスク装置において、Ｓ字信号を往路と復路で検出を行うことで、更に測定精度を向上することができる。又、往路での測定結果と復路での測定結果の平均化を取ることで、安定した測定結果を出力することが可能となる。

以下、この発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。以下の実施形態は、読取信号に含まれる複数のＳ字信号を検出するＳ字信号検出回路を示しており、このＳ字信号検出回路の出力は、光ディスク種別の判定に用いられているが、本発明はこれに限るものではなく、例えば、フォーカシング制御部に補助的に用いるものでも好適である。図１は、本発明に係る光ディスク装置の構成の一例を示すブロック図、図２は、本発明に係る光ディスク装置のＳ字信号検出回路の構成の一例を示すブロック図、図３は、本発明に係る光ディスク装置のＳ字信号検出回路の構成の一例を示すブロック図である。

＜本発明に係る光ディスク装置＞
（構成と動作）
本発明に係る光ディスク装置の一例は、図１に示すような構成を有している。ここで、光ディスクＤはユーザデータを記録可能な光ディスク又は読出し専用の光ディスクであるが、本実施形態では記録可能な光ディスクとして説明を行う。記録可能な光ディスクとしては、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ等の光ディスクがある。

光ディスクＤの表面にはスパイラル状にランドトラック及びグルーブトラックが形成されており、このディスクＤはスピンドルモータ１３によって回転駆動される。光ディスクＤに対する情報の記録、再生は、ピックアップ１５によって行われる。

ピックアップ１５には、図２に示すように対物レンズ２２が設けられる。対物レンズ２２は駆動コイル２１の駆動によりフォーカシング方向（レンズの光軸方向）への移動が可能で、又、駆動コイル２０の駆動によりトラッキング方向（レンズの光軸と直交する方向）への移動が可能であって、レーザ光のビームスポットを移動することで、トラッッキング制御を行うことができる。

半導体レーザダイオード２８は、図示しないレーザ制御回路から供給される信号に応じてレーザ光を発生する。半導体レーザダイオード２８から発せられるレーザ光は、コリメータレンズ２５、ハーフプリズム２４、対物レンズ２２を介して光ディスクＤ上に照射される。光ディスクＤからの反射光は、対物レンズ２２、ハーフプリズム２４、集光レンズ２７を介して、光検出器２６に導かれる。

光検出器２６は４分割の光検出セルからなり、信号Ａ，Ｂ，Ｃ，ＤをＲＦアンプ１２に供給する。ＲＦアンプ１２は、ＤＶＤのＲＯＭのＤＰＤ法によれば、（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）であるトラッキングエラー信号ＴＥをトラッキング制御部３８に供給する。又、ＲＦアンプ１２は、非点収差法によれば、（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）であるフォーカスエラー信号ＦＥをフォーカシング制御部３７と、複数の閾値をもつＳ字信号検出回路３５に供給する。更に、ＲＦアンプ１２は、（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）であるウォブル信号ＷＢをウォブルＰＬＬ部／アドレス検出部３４に供給し、（Ａ＋Ｂ）＋（Ｃ＋Ｄ）であるＲＦ信号をデータ再生部３４に供給する。

一方、フォーカシング制御部３７の出力信号は、フォーカシング駆動コイル２１に供給される。これにより、レーザ光が光ディスクＤの記録膜上に常時ジャストフォーカスとなる制御がなされる。又、トラッキング制御部３８は、トラック駆動信号を生成してトラッキング方向の駆動コイル２０に供給する。

上記フォーカシング制御及びトラッキング制御がなされることで、光検出器２６の光検出セルの出力信号の和信号ＲＦは、記録情報に対応して光ディスクＤのトラック上に形成されたピットなどからの反射率の変化が反映される。この信号は、データ再生部３４に供給される。

データ再生部３４は、ＰＬＬ回路１６からの再生用クロック信号に基づき、記録データを再生し更にエラー訂正回路１７によりエラー訂正がなされて、インタフェース４３を介して再生信号が例えばホスト装置４４に供給される。又、データ再生部３４は信号ＲＦの振幅を測定する機能を有し、該測定値はＣＰＵ４０によって読み出される。

又、モータ制御回路１４、トラッキング制御回路３８、ＰＬＬ回路１６、データ再生部３４、フォーカシング制御部３７、トラッキング制御部３８等は、サーボ制御回路として１つのＬＳＩチップ内に構成することができ、又、これら回路はバス３９を介してＣＰＵ４０によって制御される。ＣＰＵ４０はインタフェース回路４３を介してホスト装置４４から提供される動作コマンドに従って、この光ディスク記録再生装置を総合的に制御する。又、ＣＰＵ４０は、ＲＡＭ４１を作業エリアとして使用し、ＲＯＭ４２に記録された本発明を含むプログラムに従って所定の動作を行う。

又、本発明に係るＳ字信号検出回路３５は、図３に示すように、ＲＦアンプ１２から供給されるトラッキングエラー信号ＦＥを受ける比較器５２、５３を有している。この比較器５２は、第１閾値ＴＨ１＋と第１閾値ＴＨ１−とが外部（又はＣＰＵ）から与えられており、同様に、比較器５３は、第２閾値ＴＨ２＋と第２閾値ＴＨ２−とが外部（又はＣＰＵ）から与えられている。更に、ＣＰＵ又はフォーカス制御部からフォーカスエラー信号ＦＥを受ける方向検知器５１からの出力が、比較器５２、５３と、後述するカウンタ５７と平均化回路５８に供給されている。更に、本発明に係るＳ字信号検出回路３５は、比較器５２，５３の出力をそれぞれ受ける位相検知部５４，５５を有しており、更に、位相検知部５４の出力を受ける位相補正部５６と、位相補正部５６と位相検知部５５との出力を入力端子に受け、信号の期間をカウントするカウンタ５７と、このカウンタ５７の出力を受ける平均化回路５８とを有している。

＜本発明に係るＳ字信号検出回路の動作＞
次に、本発明に係るＳ字信号検出回路の処理動作について、図面を用いて以下に詳細に説明する。図４は、本発明に係る光ディスク装置のＳ字信号検出回路の動作を説明する説明図、図５は、本発明に係る光ディスク装置のＳ字信号検出回路の動作の一例を説明するタイミングチャート、図６は、本発明に係る光ディスク装置のＳ字信号検出回路の未検出の動作の一例を説明するタイミングチャート、図７は、本発明に係る光ディスク装置のＳ字信号検出回路の往復動作の一例を説明するタイミングチャート、図８は、本発明に係る光ディスク装置のＳ字信号検出回路が検出する検出信号の他の一例を示すタイミングチャートである。

（Ｓ字信号検出回路による光ディスク種類判定）
初めにＳ字信号を検出することによる光ディスクの種類の判定処理について図４を用いて説明する。本発明に係るＳ字信号検出回路３５は、必ずしも光ディスク種類判定に用いられなければならないものではないが、好適な実施形態として、Ｓ字信号の検出信号を用いて光ディスクの種類判定を行うことができる。

すなわち、図４において、期間Ｔ１は、対物レンズ２２から照射されたレーザ光が光ディスクＤから離れている状態を示し、期間Ｔ２は、レーザ光が光ディスクＤの表面Ｆに焦点された状態を示し、期間Ｔ３は、レーザ光が光ディスクＤ内の透明基板の中に焦点されている状態を示し、期間Ｔ４は、レーザ光が記録層Ｒに焦点されている状態を示す。

又、光ディスクＤに対して光ビームを照射し、光ピックアップから得られるフォーカスエラー信号ＦＥが二つのＳ字信号Ｓ１，Ｓ２を含んでいる場合、第１Ｓ字信号Ｓ１が光ディスクＤの表面Ｆの検出信号、第２Ｓ字信号Ｓ２が光ディスクＤの記録層Ｒの検出信号となる。

第１Ｓ字信号Ｓ１到達により第１Ｓ字信号Ｓ１と第１閾値ＴＨ１＋の比較を行うことで光ディスク表面に於けるＳ字信号検知を行うことができ、次に第２Ｓ字信号Ｓ２到達により第２Ｓ字信号Ｓ２と第２閾値の比較を行うことで光ディスク記録層に於けるＳ字検知を行うことができる。又、第１Ｓ字信号Ｓ１から第２Ｓ字信号Ｓ２間を正確に測定することで光ディスクの表面Ｆから記録層Ｒまでの距離を測定することができる。この３つの工程により光ディスクの種別を判別することで、ディスク種別を正確に判別することができる。ここで、ディスクの表面Ｆから記録層Ｒまでの距離計算は、平均化回路５８から与えられた信号を受けるＣＰＵ４０等で行うことが好適である。

ここで、光ディスクＤの表面Ｆから記録層Ｒまでの距離は、光ディスクの種類で規格として決まっている。従って、第１Ｓ字信号Ｓ１から第２Ｓ字信号Ｓ２の期間ｔ_１を測定し、所定値と比較することで、その光ディスクＤが、例えば、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc ）かＣＤか等の判断を行うことができる。

以下に、これらの動作を図３のＳ字信号検出回路３５の構成を用いて説明する。

比較器５２は、Ｓ字信号を含むフォーカスエラー信号ＦＥと第１閾値ＴＨ１＋との比較処理を行う。ここで入力されるフォーカスエラー信号ＦＥ（Ｓ字信号）が閾値を通過した場合、位相検知部５４に比較結果を出力する。閾値は立ち上がり検出用の第１閾値ＴＨ１＋と立ち下がり検出用の第１閾値ＴＨ１−とがあり、Ｓ字信号Ｓ１が立ち上がりからでも立ち下がりからでも測定が可能となる。閾値は２の補数を用いる。位相検知部５４は、Ｓ字信号Ｓ１が立ち上がりから入力されたのか立ち下がりから入力されたかの検出を行い、第１閾値を通過した振幅信号の１周期を示す。

又、比較器５３は、第２Ｓ字信号Ｓ２を含むフォーカスエラー信号ＦＥと、第２閾値ＴＨ２＋，−との比較を行う。ここで入力される第２Ｓ字信号Ｓ２が、第２閾値ＴＨ２＋，−を通過した場合、位相検知部５５に比較結果を出力する。閾値は立ち上がり検出用の第２閾値ＴＨ２＋と、立ち下がり検出用の第２閾値ＴＨ２−とがあり、Ｓ字信号が立ち上がりからでも立ち下がりからでも測定が可能となる。閾値は２の補数を用いる。

位相検知部５５は、Ｓ字信号が立ち上がりから入力されたのか立ち下がりから入力されたかの検出を行い、第２閾値ＴＨ２＋，−を通過した振幅信号の１周期を示す。

カウンタ５７は、第１Ｓ字信号Ｓ１と第２Ｓ字信号Ｓ２との間隔をカウントする。方向検知器５１で往路が検出された場合、比較器５２にて検出された結果に応じた位相補正部５６からの信号に応じてカウンタ５７での計時を開始する。位相検知部５４で検出した振幅信号の１周期分を通過するまでカウンタ５７のカウントは継続され、比較器５３にて検出された結果に応じた位相検知部５５からの信号で、カウンタ５７のカウントを終了する。

又、位相検知部５５で検出したＳ字信号Ｓ２の１周期分が通過するまで、カウンタ５７の次のカウントは開始されない。方向検知器５１で復路が検出された場合、比較器５３にて検出された結果からカウントを開始する。位相検知部５５で検出した振幅信号の１周期分を通過するまでカウントは継続され、比較器５２にて検出された結果からカウントを終了する。位相検知部５４で検出した振幅信号の１周期分を通過するまで次のカウントは開始されない。

又、位相補正部５６は、後に詳述するように、一例として、第１Ｓ字信号Ｓ１の立ち上がり検出に失敗した場合に、立下り検出を代用してカウンタのカウントを開始するものである。これによりＳ字信号の検出にディフェクトが合った場合でも、迅速で確実な光ディスクＤの種類判定を行うことができる。又、方向検知器５１は、Ｓ字信号が往路であるか復路であるかを検出する。

又、平均化回路５８は、Ｓ字信号間測定を往復で行う場合に往路と復路の結果を平均化することができる。平均化を行う場合、往路の測定直後に一度測定結果を後段へ出力し、復路の測定直後に往路と復路の測定結果を平均化する。平均化は行わないこともでき、この場合は往路、復路共に測定直後に結果を出力する。又、往路のみで測定を行う場合は測定直後に測定結果を出力する。

次に、このようなＳ字信号検出回路による動作における各信号が図５のタイミングチャートに示されている。すなわち、タイミング信号Ｔ５は、位相検知部５４の第１Ｓ字信号Ｓ１が第１閾値ＴＨ１＋を超えた位置から第１閾値ＴＨ１−を超えた位置までの範囲であり、第１Ｓ字信号Ｓ１の第１閾値ＴＨ１＋，−による１周期を示す。この間はカウンタ５７を終了させることができない。これはノイズ等による誤測定を抑制するためである。

次に、カウント信号Ｔ６は、第１Ｓ字信号Ｓ１から第２Ｓ字信号Ｓ２までのカウント状態を示す。比較器５２にて第１Ｓ字信号Ｓ１が第１閾値ＴＨ１＋を超えたのを検知した場合、カウンタ５７はカウントを開始する。又、比較器５３にて第２Ｓ字信号Ｓ２が第２閾値ＴＨ２＋を超えたのを検知した場合、カウンタ５７はカウントを終了する。

又、タイミングシング信号Ｔ７は、位相検知部５４の第２Ｓ字信号Ｓ２が第１閾値ＴＨ１＋を超えた位置から第１閾値ＴＨ１−を超えた位置までの範囲であり、第２Ｓ字信号Ｓ２の第１閾値ＴＨ１＋，−による１周期を示す。

タイミング信号Ｔ８は、位相検知部５５の第２Ｓ字信号Ｓ２が第２閾値ＴＨ２＋を超えた位置から第２閾値ＴＨ２−を超えた位置までの範囲であり、第２Ｓ字信号Ｓ２の第２閾値ＴＨ２＋，−による１周期を示す。この間はカウンタ５７を再度カウントさせることができない。これはノイズ等による誤測定を抑制するためである。カウント信号Ｔ９は、カウンタ５７にてカウントされた最終値である。カウンタの出力値は測定が終了直後に出力される。

次に、カウンタ５７の出力値は、往復の場合平均化回路５８で平均化され、往復でない場合はそのまま平均化回路５８を経由してデータバス３９を介して、ＣＰＵ４０等に供給される。ＣＰＵ４０では、与えられたカウンタ値の大きさに基づいて、光ディスクＤの表面Ｆから記録層Ｒまでの距離を推定し、光ディスクの種類を判定するものである。

又、このＳ字信号検出回路３５のＳ字信号Ｓ１，Ｓ２の検出結果は、光ディスクＤの種類判別に用いることに限定されず、例えば、フォーカシング制御部３７に供給して、ビーム光のフォーカシング制御に用いることも好適である。

（Ｓ字信号検出回路のディフェクト処理）
次に、Ｓ字信号検出回路のディフェクト処理について説明する。即ち、フォーカスエラー信号ＦＥを正しく取得することができなかったために、図６に示すように、Ｓ字信号Ｓ１（又はＳ２）を誤認識する場合がある。この場合、図３の位相補正部５６を用いることで、補正した近似信号をカウンタ５７に送ることで、Ｓ字信号の前半部Ｓ１’の測定の失敗を回復することで、測定の反復を回避させ、光ディスク種類の判定時間を短縮することができる。

即ち、図６のタイミングチャートにおいて、第１Ｓ字信号Ｓ１の立ち上がりＳ１’が未検出となった場合、タイミング信号Ｔ１１は、Ｓ字信号の第１Ｓ字信号Ｓ１でありノイズ等の影響で立ち上がりを検出できず立ち下がりのみの波形として出力される。

このような信号波形Ｔ１１を識別すると、位相補正部５６は、代りに補正信号Ｈをカウンタ５７の入力端に供給する。これにより、カウンタ５７は、補正信号Ｈの立ち上がりに応じて計時を開始し（Ｔ１２）、そして、タイミング信号Ｔ１３により計時を終了する。

タイミング信号Ｔ１２は、第１Ｓ字信号Ｓ１から第２Ｓ字信号Ｓ２までのカウント状態を示す。比較器５２にてＳ字信号が第１閾値ＴＨ１−を超えたのを検知した場合、カウンタ５７はカウントを開始する。比較器５３にてＳ字信号が第２閾値ＴＨ２＋を超えたのを検知した場合、カウンタ５７はカウントを終了する。

タイミング信号Ｔ１３は、位相検知部５５により第２Ｓ字信号Ｓ２は立ち上がりから始まっていることを示し、位相補正部５６に対して位相の補正を通知する。これにより位相検知部５４にて検知された位相は修正され、カウントを終了させないように働いていたタイミング信号Ｔ１１は補正信号Ｈに置き換わり、カウンタＣの暴走を抑止する。又、タイミング信号Ｔ１４は、カウンタ５７にてカウントされた最終値である。カウンタの出力値は測定が終了直後に出力される。

又、図５のタイミングチャートにおいて、第１Ｓ字信号Ｓ１の立ち下がりが未検出であった場合、図６のタイミングチャートで示した方法と同様に位相検知部５５による第２Ｓ字信号Ｓ２の位相検出により位相補正を行うことが好適である。これにより第１Ｓ字信号Ｓ１の立ち上がり又は立ち下がりが未検出である時に起こると考えられるカウンタ５７の暴走を回避することができ、適正なカウンタ値をＣＰＵ４０等に供給することで、ノイズ等によるディフェクトがあっても光ディスクの種別を判定することができる。

（Ｓ字信号検出回路の往復測定）
又、更に、本発明に係るＳ時信号判定回路によれば、フォーカスエラー信号ＦＥの取得が不完全であっても、図７のタイミングチャートに示すように、ピックアップ１５のレーザ光のフォーカス位置を、例えばＣＰＵ４０とフォーカシング３７との制御により、ディスクＤに近づけそして遠ざけることで、往復でＳ字信号を測定し、光ディスク種類の判定精度を更に向上させることが可能となる。

ここで、図７のタイミングチャートにおいて、往路の第１Ｓ字信号Ｓ１、往路の第２Ｓ字信号Ｓ２、復路の第２Ｓ字信号Ｓ３、復路の第１Ｓ字信号Ｓ４が、読取信号に含まれて検出される。

これに対して、タイミング信号Ｔ２１は、位相検知部５４の第１Ｓ字信号Ｓ１が第１閾値ＴＨ１＋を超えた位置から第１閾値ＴＨ１−を超えた位置までの範囲を示しており、第１Ｓ字信号Ｓ１の第１閾値による１周期を示している。この間はカウンタ５７を終了させることができない。これはノイズ等による誤測定を抑制するためである。

カウント信号Ｔ２２は、往路に於けるＳ字信号の第１Ｓ字信号Ｓ１から第２Ｓ字信号Ｓ２までのカウント状態を示す。比較器５２にてＳ字信号が第１閾値ＴＨ１＋を超えたのを検知した場合、カウンタ５７はカウントを開始する。比較器５３にてＳ字信号が第２閾値ＴＨ２＋を超えたのを検知した場合、カウンタ５７はカウントを終了する。

タイミング信号Ｔ２３は、位相検知部５５の第２Ｓ字信号Ｓ２が第２閾値ＴＨ２＋を超えた位置から第２閾値ＴＨ２−を超えた位置までの範囲を示しており、第２Ｓ字信号Ｓ２の第２閾値による１周期を示している。この間はカウンタ５７を再度カウントさせることができない。これはノイズ等による誤測定を抑制するためである。

カウント信号Ｔ２４は、カウンタ５７にてカウントされた往路の最終値である。カウンタ５７の出力値は、測定が終了直後に出力される。又、タイミング信号Ｔ２５は、方向検知器５１にて検知された方向を示している。

又、復路に於けるＳ字信号の第２Ｓ字信号Ｓ３と第１Ｓ字信号Ｓ４とが示されている。復路であるため、往路とは対照的な波形となる。

タイミング信号Ｔ２６は、位相検知部５５の第１Ｓ字信号Ｓ１が第２閾値ＴＨ２−を超えた位置から第２閾値ＴＨ２＋を超えた位置までの範囲を示しており、第１Ｓ字信号Ｓ１の第２閾値による１周期を示している。この間はカウンタ５７を終了させることができない。これはノイズ等による誤測定を抑制するためである。

カウント信号Ｔ２７は、復路に於けるＳ字信号の第２Ｓ字信号Ｓ３から第１Ｓ字信号Ｓ４までのカウント状態を示す。比較器５３にてＳ字信号が第２閾値ＴＨ２−を超えたのを検知した場合、カウンタ５７はカウントを開始する。比較器５２にてＳ字信号が第１閾値ＴＨ１−を超えたのを検知した場合、カウンタ５７はカウントを終了する。

タイミング信号Ｔ２８は、位相検知部５４の第１Ｓ字信号Ｓ４が第１閾値ＴＨ１−を超えた位置から第１閾値ＴＨ１＋を超えた位置までの範囲を示しており、第２Ｓ字信号Ｓ２の第１閾値による１周期を示すものである。この間はカウンタ５７を再度カウントさせることができない。これはノイズ等による誤測定を抑制するためである。

タイミング信号Ｔ２９の出力は、カウンタ５７にてカウントされた復路の最終値、又は往路の最終値と復路の最終値を平均化回路５８により平均値を算出した値である。カウンタ５７の出力値又は平均値は、測定が終了直後に出力される。

本発明に係るＳ字信号検出回路３５によれば、このような手順で、往復において、Ｓ字信号Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４を順次検出することにより、片道で検出する場合よりも一層、精度を高くＳ字信号を検出し信号間の距離を精度高く検出することで、高い精度で光ディスク種類を判定することができる。

（Ｓ字信号検出回路の逆相Ｓ字信号の測定処理）
又、更に、本発明に係るＳ字信号検出回路は、図８に示すように、一例として、第１閾値ＴＨ１＋とは反対符号で同じ絶対値をもつ閾値ＴＨ１−を用いて、マイナス方向からプラス方向に変位する位相をもつ第１Ｓ字信号Ｓ１Ｒを検出する比較器５２と、一例として、第２閾値ＴＨ２＋とは反対符号で同じ絶対値をもつ閾値ＴＨ２−を用いて、マイナス方向からプラス方向に変位する位相をもつ第２Ｓ字信号Ｓ２Ｒを検出する比較器５３とを有している。即ち、図８に示すような逆相のＳ字信号についても、同様に、閾値をそれぞれ用意することで、確実に識別することができるものである。そして、この場合においても、逆相の第１Ｓ字信号の検出時から逆相の第２Ｓ字信号の検出時までの期間ｔ２に基づいて、上述した期間ｔ１で求める時と同様に、光ディスクの種類を判定することが可能である。これにより、動作不良やノイズにより信号が逆転した場合や、信号が逆転する特殊な光ディスクに対しても、確実で迅速な種類判定を行うことができる光ディスク装置を提供することができる。

以上記載した様々な実施形態により、当業者は本発明を実現することができるが、更にこれらの実施形態の様々な変形例を思いつくことが当業者によって容易であり、発明的な能力をもたなくとも様々な実施形態へと適用することが可能である。従って、本発明は、開示された原理と新規な特徴に矛盾しない広範な範囲に及ぶものであり、上述した実施形態に限定されるものではない。

本発明に係る光ディスク装置の構成の一例を示すブロック図。 本発明に係る光ディスク装置のピックアップの構成の一例を示す説明図。 本発明に係る光ディスク装置のＳ字信号検出回路の構成の一例を示すブロック図。 本発明に係る光ディスク装置のＳ字信号検出回路の動作を説明する説明図。 本発明に係る光ディスク装置のＳ字信号検出回路の動作の一例を説明するタイミングチャート。 本発明に係る光ディスク装置のＳ字信号検出回路の未検出の動作の一例を説明するタイミングチャート。 本発明に係る光ディスク装置のＳ字信号検出回路の往復動作の一例を説明するタイミングチャート。 本発明に係る光ディスク装置のＳ字信号検出回路が検出する検出信号の他の一例を示すタイミングチャート。

符号の説明

Ｄ…光ディスク、１２…ＲＦアンプ回路、１３…回転モータ、１４…モータ制御回路、１５…ピックアップ、１６…ＰＬＬ回路、１７…エラー訂正回路、３５…Ｓ字信号検出回路、３６…ウォブルＰＬＬ部・アドレス検出部、３７…フォーカシング回路、３８…トラッキング制御部、４０…ＣＰＵ、４１…ＲＡＭ、４２…ＲＯＭ、４３…インタフェース回路、４４…ホスト装置。

Claims (10)

1. レーザ光の光ディスクからの反射光を読み取り、第１Ｓ字信号と第２Ｓ字信号とを含む読取信号を出力する読取部と、
   前記読取信号を第１閾値と比較することで、第１Ｓ字信号を検出する第１比較部と、
   前記読取信号を前記第１閾値よりも大きな第２閾値と比較することで、第２Ｓ字信号を検出する第２比較部と、
   前記第１比較部が前記第１Ｓ字信号を検出した時から、前記第２比較部が前記第２Ｓ字信号を検出した時までの期間を計時する計時部と、
   を具備することを特徴とする光ディスク装置。
2. 前記第１Ｓ字信号は前記ディスクの表面の検出信号であり、前記第２Ｓ字信号は前記ディスクの記録層の検出信号であり、前記計時部が計時する期間は前記表面から前記記録層までの距離に略比例しており、前記期間に応じて前記光ディスクの種類を判定し判定結果を出力する判定部を更に有する請求項１記載の光ディスク装置。
3. 前記計時部が計時した期間を所定値と比較し判定結果に応じて、前記光ディスクの種類をＤＶＤと判定する判定部を更に有する請求項１記載の光ディスク装置。
4. 前記計時部は期間を計時するためのカウンタ部を有することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
5. 前記読取部が前記第１閾値を用いた前記第１Ｓ字信号の検出に失敗した時、前記第１閾値とは異なる第３閾値を用いて、第１Ｓ字信号を検出する第３比較部を更に有することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
6. 前記読取部が前記第２閾値を用いた前記第２Ｓ字信号の検出に失敗した時、前記第２閾値とは異なる第４閾値を用いて、第２Ｓ字信号を検出する第４比較部を更に有することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
7. 前記読取部のフォーカスを前記光ディスクに近づけて遠ざけることにより、前記読取信号に、前記第１Ｓ字信号、前記第２Ｓ字信号、前記第２Ｓ字信号、前記第１Ｓ字信号の順に現れる各信号を、前記第１比較部と前記第２比較部とにより検出させ、前記第１Ｓ字信号が検出された時から前記第２Ｓ字信号が計時された時までの期間を、前記計時部により計時させる制御部を更に有することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
8. 前記第１閾値とは異なる第３閾値を用いて、マイナス方向からプラス方向に変位する位相をもつ前記第１Ｓ字信号を検出する第３比較部を更に有することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
9. 前記第２閾値とは異なる第４閾値を用いて、マイナス方向からプラス方向に変位する位相をもつ前記第２Ｓ字信号を検出する第４比較部を更に有することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
10. 前記第１閾値とは異なる第３閾値を用いて、マイナス方向からプラス方向に変位する位相をもつ前記第１Ｓ字信号を検出する第３比較部と、
    前記第２閾値とは異なる第４閾値を用いて、マイナス方向からプラス方向に変位する位相をもつ前記第２Ｓ字信号を検出する第４比較部と、
    前記第３比較部が前記第１Ｓ字信号を検出する時から前記第４比較部が前記第２Ｓ字信号を検出する時までの期間を計時する第２計時部と、
    前記第２計時部が計時する期間に基づいて、前記光ディスクの種類を判定し判定結果を出力する第２判定部を更に有する請求項１記載の光ディスク装置。

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