JP2005175378A - 半導体装置およびその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】P型シリコン基板1上にゲート絶縁膜3を介して形成されたゲート電極4下のチャネル領域とソース領域9,ドレイン領域10に挟まれた領域上に、固定電荷となる不純物(セシウム)を含む酸化シリコン膜5を備える。上記酸化シリコン膜5の固定電荷を含む領域7,7は正の固定電荷となり、固定電荷を含む領域7,7直下に反転層が形成されて、極めて浅いソース・ドレインエクステンションとして機能する。
【選択図】図1
Description
Hisao Kawamura,Toshisugu Sakamoto,Toshio Baba,Yukinori Ochiai,Jun'ich Fujita,and Jun'ich Sone著,「アイトリプルイー・トランザクション・オン・エレクトロン・デバイセズ(IEEE TRANSACTION ON ELETRON DEVICES)」,米国,アイトリプルイー(IEEE),第47巻(VOL.47),第4号(NO.4),2000年4月(APRIL2000),P.856-860
この発明の第1実施形態の半導体装置は、セシウムによる固定電荷によって誘起される反転層をソース・ドレインエクステンションとするN型チャネルMIS型電界効果トランジスタを、簡単な工程により実現したものである。例えば、酸化シリコン膜中のセシウムは、通常の素子動作温度領域においては安定な固定電荷として機能する。更に、例えば酸化シリコン膜中のセシウムは、高温処理(例えば、700℃以上)によって熱拡散し、例えばシリコン基板との界面付近にパイルアップし、自己整合的な分布を形成することができるという優位性を持つ。尚、N型チャネル素子の場合のバリウム,ルビジウムについても同様の効果があり、P型チャネル素子の場合のヨウ素についても同様の効果がある。
ε : 真空の誘電率[F/cm]
NA : 空乏層中のアクセプター濃度[cm-3]
ND : 空乏層中のドナー濃度[cm-3]
q : 電荷素量[C]
φB : 2(kBT/q)ln(|NA-ND|/Ni)
Ni : 真性キャリア濃度[cm-3]
kB : ボルツマン定数[eV/K]
T : 温度[K]
VR : シリコン基板−ソース領域9間にかかる逆バイアス電圧(>0)[V]
(チャネル領域−ソース領域9間の反転層の場合)
または、シリコン基板−ドレイン領域間にかかる逆バイアス電圧(>0)[V]
(チャネル領域−ドレイン領域10間の反転層の場合)
よりも大きいことが必要である。例えば、チャネル領域−ソース領域9間に反転層を形成するためには、VR=0[V]、|NA-ND|=1×1018[cm-3]の場合(NA>ND)、固定電荷密度は3.5×1012[cm-2]以上必要である。
同様に、基板濃度1.2×1016cm-3、1.1×1019cm-3のP型シリコン基板を用いて測定した結果、反転層のシート抵抗が10kΩ/□以下となる固定電荷密度はそれぞれ、1.3×1012cm-2以上かつ3.0×1014cm-2以下(基板濃度:1.2×1016cm-3)、2.3×1013cm-2以上かつ3.0×1014cm-2以下(基板濃度:1.1×1019cm-3)であった。
ε : 真空の誘電率[F/cm]
NA : アクセプター濃度[cm-3]
ND : ドナー濃度[cm-3]
q : 電荷素量[C]
ψB : 2(kBT/q)ln(NA/Ni)
Ni : 真性キャリア濃度[cm-3]
kB : ボルツマン定数[eV/K]
T : 温度[K]
VR : シリコン基板−ソース領域間にかかる逆バイアス電圧(>0)[V]
(またはシリコン基板−ドレイン領域間にかかる逆バイアス電圧)
よりも大きいことが必要である。例えば、チャネル領域−ソース領域9間に反転層を形成するためには、VR=0[V]、|NA−ND|=1×1018[cm-3]の場合(NA<ND)、固定電荷密度は3.5×1012[cm-2]以上必要である。
図4からわかるように、固定電荷密度を8×1012cm-2以上とすることにより、20[kΩ/□]以下の低いシート抵抗値を得ることができる。更に好ましくは、1×1014cm-2以上とすることにより、ほぼ最小のシート抵抗を得ることができる。従って、P型チャネルMIS型電界効果トランジスタの駆動電流を大きくすることができる。
同様に、基板濃度1.2×1016cm-3、1.1×1019cm-3のN型シリコン基板を用いて測定した結果、反転層のシート抵抗が20kΩ/□以下となる固定電荷密度はそれぞれ、3.0×1012cm-2以上、2.2×1013cm-2以上であった。
図5(a)〜(c)はこの発明の第2実施形態の半導体装置の製造方法を説明するための工程順に示した半導体装置の一例としてのN型チャネルMIS型電界効果トランジスタの断面図である。
図6(a)〜(d)はこの発明の第3実施形態の半導体装置の製造方法を説明するための工程順に示した半導体装置の一例としてのN型チャネルMIS型電界効果トランジスタの断面図である。
2…STI領域
3…ゲート絶縁膜
4…ゲート電極
5…酸化シリコン膜
6…レジストマスク
7…正の固定電荷を含む領域
8…ゲート側壁
9…ソース領域
10…ドレイン領域
11…層間絶縁膜
12…上部配線
13…窒化シリコン膜
101…シリコン基板
109…ソース領域
110…ドレイン領域
114…第1のゲート絶縁膜
115…第1のゲート電極
116…第2のゲート絶縁膜
117…第2のゲート電極
Claims (11)
- P型若しくはイントリンシックの半導体基板と、
上記半導体基板の一主面上に第1の絶縁膜を介して形成されたゲート電極と、
上記半導体基板の一主面側の上記ゲート電極に覆われていない領域に設けられたN型のソース領域およびドレイン領域と、
上記ゲート電極下のチャネル領域と上記ソース領域およびドレイン領域とに挟まれた領域上に、固定電荷となる不純物としてセシウム,バリウムおよびルビジウムのうちの少なくとも1つを含む第2の絶縁膜を備えたことを特徴とする半導体装置。 - 請求項1に記載の半導体装置において、
上記固定電荷となる不純物の面密度が5.3×1012cm-2以上かつ3×1014cm-2以下であることを特徴とする半導体装置。 - N型若しくはイントリンシックの半導体基板と、
上記半導体基板の一主面上に第1の絶縁膜を介して形成されたゲート電極と、
上記半導体基板の一主面側の上記ゲート電極に覆われていない領域に設けられたP型のソース領域およびドレイン領域と、
上記ゲート電極下のチャネル領域と上記ソース領域およびドレイン領域とに挟まれた領域上に、固定電荷となる不純物としてのヨウ素を含む第2の絶縁膜を備えたことを特徴とする半導体装置。 - 請求項3に記載の半導体装置において、
上記ヨウ素の面密度が8×1012cm-2以上であることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至4のいずれか1つに記載の半導体装置において、
上記第2の絶縁膜上の一部または全部に第3の絶縁膜を備えたことを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至5のいずれか1つに記載の半導体装置において、
上記第1の絶縁膜が上記第2の絶縁膜とは異なる組成であることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至6のいずれか1つに記載の半導体装置において、
上記第2の絶縁膜の膜厚が上記第1の絶縁膜の膜厚よりも大きいことを特徴とする半導体装置。 - 請求項1または3に記載の半導体装置を製造する半導体装置の製造方法であって、
半導体基板の一主面上に設けられた第1の絶縁膜の上に選択的にゲート電極を形成する工程と、
上記半導体基板の一主面上の上記ゲート電極に覆われていない領域に第2の絶縁膜を形成する工程と、
上記ゲート電極をマスクとしてイオン注入法により上記第2の絶縁膜中に固定電荷となる不純物を注入する工程とを含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項8に記載の半導体装置の製造方法において、
上記ゲート電極をマスクとしてイオン注入法により上記第2の絶縁膜中に固定電荷となる不純物を注入する工程の後に、上記不純物の再分布を促すアニール工程を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項9に記載の半導体装置の製造方法において、
上記アニール工程の前で、かつ、上記第2の絶縁膜を形成する工程の後に、上記第2の絶縁膜上に第3の絶縁膜を形成する工程を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項1または3に記載の半導体装置を製造する半導体装置の製造方法であって、
半導体基板の一主面上に設けられた第1の絶縁膜の上に選択的にゲート電極を形成する工程と、
上記半導体基板の一主面上の上記ゲート電極に覆われていない領域に第2の絶縁膜を形成する工程と、
上記第2の絶縁膜上に第3の絶縁膜を形成する工程と、
上記第3の絶縁膜上にゲート側壁膜を形成する工程と、
上記半導体基板の一主面側に、上記ゲート電極および上記ゲート側壁膜をマスクとして自己整合的にソース領域およびドレイン領域を形成する工程と、
上記ソース領域およびドレイン領域を形成する工程の後にアニールを行う工程と、
上記ゲート側壁膜を除去する工程と、
上記第2の絶縁膜中に固定電荷となる不純物をイオン注入する工程とを含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。
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