JP2005156539A - Apparatus for detecting breakage of edge part of glass substrate and its method - Google Patents

Apparatus for detecting breakage of edge part of glass substrate and its method Download PDF

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Honsoku Ho
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To detect breakages which easily occur at edge parts of glass substrates for flat-panel displays while the glass substrates are moving through the use of a minimal number of optical sensors. <P>SOLUTION: This breakage detecting apparatus consists of two sensors for recognizing the glass substrates and generating signals while the glass substrates are passing, and of a control unit electrically connected to the two sensors for receiving the signals each from the two sensors, reading the signals each received from the two sensors while each glass substrate passes above or below the two sensors, determining the time required for the glass substrate to completely pass each sensor, or counting the number of pulses on the basis of the signals each received from the two sensors while each glass substrate passes above or below the two sensors, and comparing the determined time or the counted number of pulses with a predetermined reference value to determine the presence or absence of breakage of the glass substrate. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、ガラス基板のエッジ部分の破損検出装置及びその方法に関し、より詳しくは、フラットパネルディスプレー装置の生産ラインを移動するガラス基板のエッジ部分で発生しやすい破損を、ガラス基板が移動する状態で最小限の光センサーを用いて検出する装置及び方法に関する。   More particularly, the present invention relates to an apparatus and a method for detecting a breakage of an edge portion of a glass substrate. The present invention relates to an apparatus and a method for detecting using a minimum optical sensor.

一般に、ガラス基板は、液晶表示装置(LCD)やプラズマパネルディスプレー(PDP)のようなフラットパネルディスプレー装置の製造にあたって、必須不可欠な構成部品である。液晶表示装置などのフラットパネルディスプレー装置を製造するためには、ガラス基板に洗浄工程、膜塗布工程、現像工程などの処理工程を繰り返して行うが、液晶表示装置などの生産ラインは、このような処理工程を行うために複雑な装置からなっている。最近、ガラス基板にこれらの処理工程を自動に行うための自動化生産システムとしてインライン (in−line) 生産システムとクラスター(cluster)生産システムが開発されて用いられているが、これらの生産システムの各処理段階においてガラス基板の移送と処理は極めて重要である。   In general, a glass substrate is an indispensable component in manufacturing a flat panel display device such as a liquid crystal display device (LCD) or a plasma panel display (PDP). In order to manufacture a flat panel display device such as a liquid crystal display device, processing steps such as a cleaning step, a film coating step, and a development step are repeatedly performed on a glass substrate. It consists of complex equipment to perform the processing steps. Recently, in-line production systems and cluster production systems have been developed and used as automated production systems for automatically performing these processing steps on glass substrates. Transfer and processing of the glass substrate is extremely important in the processing stage.

液晶表示装置やプラズマパネルディスプレーの生産システムは、前記のような繰り返される様々な処理工程を行うために、複雑な複数の装置からなっているが、ガラス基板は、このような複数の装置間を移動しなければならず、複数の繰返し処理過程に露出するため、破損に弱く、特にガラス基板のエッジ部分は破損にさらに弱い。このため、フラットパネルディスプレー装置の生産ラインにおいて、一つの工程が完了した後、ガラス基板を次の工程に投入する前には、工程失敗により発生するまたは移送中に発生するガラス基板の破損、特に四つのエッジ部分の破損を必ず検出してガラス基板の異常の有無を確認する必要がある。若し、このようなガラス基板の破損を確認せず、破損したガラス基板がクラスター生産システムのような自動化システムの工程モジュールに投入される場合、工程不良のみならず、予測しなかったシステムの誤動作と故障を生じる。   A production system of a liquid crystal display device or a plasma panel display is composed of a plurality of complicated devices in order to perform various processing steps repeated as described above, and a glass substrate is formed between such a plurality of devices. Since it must move and is exposed to a plurality of repeated processing steps, it is vulnerable to breakage, especially the edge portion of the glass substrate is more susceptible to breakage. For this reason, in a production line of a flat panel display device, after one step is completed and before the glass substrate is put into the next step, the glass substrate is damaged due to a process failure or generated during transfer, particularly It is necessary to detect whether or not the glass substrate is abnormal by detecting the breakage of the four edge portions. If the broken glass substrate is thrown into the process module of an automation system such as a cluster production system without confirming such breakage of the glass substrate, not only the process failure but also the unexpected system malfunction And cause a failure.

従って、本発明の属する技術の分野においては、通常、円滑な工程流れと破損したガラス基板のガラス片によるシステム装備の損失を最小化するために、ガラス基板の破損の有無を工程モジュールへの投入前に行って、異常があれば、警報を発するなどの措置を取っている。すなわち、フラットパネルディスプレー装置の生産システムのように長時間の工程処理を行う装備では、ガラス基板が移送過程やそれぞれの複雑な処理工程において破損するおそれがあり、このようなガラス基板の破損時は、微細なガラス粉により工程不良及びシステム装備の損失が生じるおそれがあるため、ガラス基板の破損の有無の確認過程は、各工程モジュールへの投入前に必ず実施しなければならない。   Therefore, in the technical field to which the present invention belongs, in order to minimize the loss of system equipment due to the smooth process flow and the glass pieces of the broken glass substrate, the presence or absence of glass substrate breakage is input to the process module. We go ahead and take measures such as issuing an alarm if there is an abnormality. That is, in equipment that performs long-time process processing, such as a production system of a flat panel display device, the glass substrate may be damaged in the transfer process or in each complicated processing process. When such a glass substrate is damaged, Since the fine glass powder may cause a process failure and a loss of system equipment, the confirmation process of whether or not the glass substrate is broken must be performed before being put into each process module.

しかし、従来、フラットパネルディスプレー装置の生産システムにおいて、ガラス基板の破損を検出する方法は、ガラス基板を各処理工程に投入する前にガラス基板を停止させた状態で、破損の有無を検出する方式であるため、別途の測定時間が必要とされ、これにより各工程間の流れが円滑でなくなる問題点があった。また、従来の方法は、ガラス基板が各工程モジュールへの投入前に停止した状態で破損の有無が確認されなければならないという問題点のほか、ガラス基板の各エッジに対応するセンサーが要求されるため、多くのセンサーを必要とし、制限された範囲内でのみ測定が可能であるという問題点があった。特に、フラットパネルディスプレー装置のクラスター生産システムは、ガラス基板を積載するロードロック(load lock)と、複数の工程モジュール(例えば、第1の工程モジュールから第6の工程モジュール)を支援可能なファセット(facet)を有するトランスポートチェンバーで構成され、このようなクラスター生産システムでは、ガラス基板の各工程モジュールへの投入前に、ガラス基板のそれぞれのエッジの破損の有無が、ガラス基板が積載される支持台の下部に設けられた光センサーにより検出されている。しかし、このような従来の検出方式は、図7に示すように、ガラス基板のエッジ部分の破損を検出するために、ガラス基板がトランスポートチェンバー内に停止されなければならず、検出のための光センサーの数が工程モジュールの数に比例して増加するため(例えば、六つの工程モジュールを支援するクラスター生産システムの場合、14個のセンサーが必要である)、光センサーが多く必要となるという問題点があった。   However, conventionally, in a production system of a flat panel display device, a method for detecting breakage of a glass substrate is a method of detecting the presence or absence of breakage in a state where the glass substrate is stopped before the glass substrate is put into each processing step. Therefore, a separate measurement time is required, which causes a problem that the flow between the processes is not smooth. In addition, the conventional method requires a sensor corresponding to each edge of the glass substrate in addition to the problem that the presence or absence of breakage must be confirmed while the glass substrate is stopped before being put into each process module. Therefore, there is a problem that many sensors are required and measurement is possible only within a limited range. In particular, a cluster production system for a flat panel display device includes a load lock for loading a glass substrate and a facet capable of supporting a plurality of process modules (for example, first to sixth process modules). In such a cluster production system, the glass substrate is loaded with the presence or absence of breakage of each edge of the glass substrate before the glass substrate is put into each process module. It is detected by an optical sensor provided at the bottom of the table. However, in the conventional detection method, as shown in FIG. 7, in order to detect the breakage of the edge portion of the glass substrate, the glass substrate must be stopped in the transport chamber. Because the number of optical sensors increases in proportion to the number of process modules (for example, a cluster production system that supports six process modules requires 14 sensors), a large number of optical sensors are required. There was a problem.

本発明は、上記問題点に鑑みなされたものであり、フラットパネルディスプレー装置の生産ラインを移動するガラス基板のエッジ部分において発生しやすい破損を、ガラス基板が移動する状態で最小限の光センサーを用いて検出する装置及び方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and a minimal optical sensor is used in a state in which the glass substrate moves to prevent breakage that easily occurs at the edge portion of the glass substrate that moves on the production line of the flat panel display device. It is an object of the present invention to provide an apparatus and a method for detecting by using.

また、ガラス基板が各工程モジュール間を移動するとき、ガラス基板の破損の有無を検出可能であるので、別途の測定時間が必要なく、2〜3個のセンサーだけでガラス基板の全てのエッジの破損を検出することができる装置及び方法を提供することを他の目的とする。   Moreover, since the presence or absence of breakage of the glass substrate can be detected when the glass substrate moves between the respective process modules, there is no need for a separate measurement time, and all the edges of the glass substrate can be detected with only two to three sensors. It is another object to provide an apparatus and method capable of detecting breakage.

上記の目的を達成するため、本発明に係るガラス基板のエッジ部分の破損検出装置は、ガラス基板が移動すべき位置の下部または上部に設けられ、ガラス基板が通過する間、ガラス基板を認識して信号を発生する少なくとも二つのセンサーと、前記少なくとも二つのセンサーと電気的に連結され、前記少なくとも二つのそれぞれのセンサーから信号を受信し、ガラス基板が前記少なくとも二つのセンサーの上部または下部を通過する間、前記少なくとも二つのそれぞれのセンサーから受信される信号を読み出して、ガラス基板がそれぞれのセンサーを完全に通過するのに所要するそれぞれの時間を決定し、またはガラス基板が前記少なくとも二つのセンサーの上部または下部を通過する間、前記少なくとも二つのそれぞれのセンサーから受信される信号からそれぞれのパルスの個数を計数し、このようなそれぞれの決定された時間またはそれぞれの計数されたパルスの個数を予め決定された基準値と比較して、ガラス基板の破損の有無を判定する制御器とを備えることを特徴とする。   In order to achieve the above object, the glass substrate edge portion breakage detection apparatus according to the present invention is provided at the lower or upper part of the position where the glass substrate should move, and recognizes the glass substrate while the glass substrate passes. And at least two sensors for generating a signal and electrically connected to the at least two sensors to receive signals from the at least two sensors, and a glass substrate passes above or below the at least two sensors. While reading the signals received from the at least two respective sensors to determine the respective time required for the glass substrate to completely pass through the respective sensors, or the glass substrate is adapted to the at least two sensors. Receive from the at least two respective sensors while passing through the top or bottom of the The number of each pulse is counted from the detected signal, and each such determined time or the number of each counted pulse is compared with a predetermined reference value to determine whether the glass substrate is broken or not. And a controller for performing the operation.

また、前記制御器は、前記それぞれの決定された時間またはそれぞれの計数されたパルスの個数を予め決定された基準値と比較して、その時間またはパルスの個数が予め決定された基準値よりも小さい場合は、ガラス基板の破損があるものと判定し、同一の場合は、ガラス基板の破損がないものと判定することを特徴とする。   In addition, the controller compares the determined time or the number of counted pulses with a predetermined reference value, and the time or the number of pulses is more than the predetermined reference value. When it is small, it is determined that the glass substrate is damaged, and when it is the same, it is determined that the glass substrate is not damaged.

また、前記少なくとも二つのセンサーは、ガラス基板の左右エッジ部分が移動すべき位置の下部または上部に左右一対が設けられ、ガラス基板が通過する間、ガラス基板を認識して信号を発生するエッジセンサー、及び/またはこれらのエッジセンサーの間に位置した基準センサーを備えることを特徴とする。このような基準センサーは、それぞれのエッジセンサーから発生する信号に対する同期信号を発生させるものである。   The at least two sensors are provided with a pair of left and right at the lower or upper part of the position where the left and right edge portions of the glass substrate should move, and recognize the glass substrate and generate a signal while the glass substrate passes. And / or a reference sensor located between these edge sensors. Such a reference sensor generates a synchronization signal with respect to a signal generated from each edge sensor.

前記センサーは光センサーであって、反射型センサーより透過型センサーを用いることが好ましい。通常、反射型センサーは、反射角度に応じて敏感に反応し、ガラス基板のたわみによって感度の差が大きく発生するようになる。従って、センサーは、周縁部が大きく撓むガラス基板の特性を勘案して、検出が容易な透過型を用いることが好ましい。   The sensor is an optical sensor, and it is preferable to use a transmissive sensor rather than a reflective sensor. In general, the reflective sensor reacts sensitively according to the reflection angle, and a large difference in sensitivity occurs due to the deflection of the glass substrate. Therefore, it is preferable to use a transmission type sensor that is easy to detect in consideration of the characteristics of the glass substrate whose peripheral portion is greatly bent.

前記光センサーとしては、応答特性に優れたものが用いられ、特にセンサー応答時間が200μs以下であるものが好ましい。   As the optical sensor, those having excellent response characteristics are used, and those having a sensor response time of 200 μs or less are particularly preferable.

また、前記制御器としては、専用マイクロプロセッサーが用いられ、移動するガラス基板のエッジ部分の破損を検出するためには、そのスキャン時間が短いものが好ましい。   Further, as the controller, a dedicated microprocessor is used, and it is preferable that the scan time is short in order to detect breakage of the edge portion of the moving glass substrate.

前記制御器は、上述したように、エッジセンサーまたは基準センサーのような光センサーがオンした間、そのオンされる間の時間またはパルスの個数を決定した後、予め決定された基準値と比較してガラス基板の破損の有無を判定する。   As described above, the controller determines a time during which an optical sensor such as an edge sensor or a reference sensor is turned on, or the number of pulses, and compares it with a predetermined reference value. Determine whether the glass substrate is damaged.

また、移動するガラス基板の破損の有無を検出する分解能は、センサー応答時間、制御器スキャン時間、ガラス基板移動速度により決定され、ガラス基板移動速度を1000mm/secとし、センサー応答時間と制御器演算時間を合わせて考慮した制御サンプリング時間を500μsとするとき、最小の分解能は0.5mm/パルスとなる。この場合、移動するガラス基板は、0.5mmの精度として破損の有無が測定される。また、最小検出間隔を短くするほど小さい破損部位を検出することができるので、センサーと器具構造が許容する限り、小さくセットすることが好ましい。   The resolution for detecting whether the moving glass substrate is broken is determined by the sensor response time, the controller scan time, and the glass substrate moving speed. The glass substrate moving speed is 1000 mm / sec. When the control sampling time considering the time is 500 μs, the minimum resolution is 0.5 mm / pulse. In this case, the moving glass substrate is measured for breakage with an accuracy of 0.5 mm. In addition, since a smaller breakage site can be detected as the minimum detection interval is shortened, it is preferable to set it as small as the sensor and the instrument structure allow.

また、本発明に係るガラス基板のエッジ部分の破損検出装置は、入出力インターフェースにより制御器と電気的に連結されたメーンコントローラー(main controller)がさらに備えられ、このメーンコントローラーは、フラットパネルディスプレー装置のインライン生産システムまたはクラスター生産システムの全体を制御する装置であって、本発明の制御器でガラス基板の破損を判定する場合、警報装置を制御して警報信号を発生させ、またはガラス基板を移送する移送装置を制御してガラス基板の移動を停止させる。   In addition, the edge detecting device for a glass substrate according to the present invention further includes a main controller electrically connected to a controller through an input / output interface. The main controller is a flat panel display device. This is a device that controls the entire in-line production system or cluster production system. When the controller of the present invention determines that a glass substrate is broken, the alarm device is controlled to generate an alarm signal or the glass substrate is transferred. The movement of the glass substrate is stopped by controlling the transfer device.

なお、本発明に係るガラス基板のエッジ部分の破損検出方法は、ガラス基板が移動すべき位置の下部または上部に設けられた少なくても二つのセンサーで、ガラス基板が通過する間、ガラス基板を認識して信号を発生させるステップと、前記少なくとも二つのセンサーと電気的に連結され、前記少なくとも二つのそれぞれのセンサーから信号を受信する制御器で、ガラス基板が前記少なくとも二つのセンサーの上部または下部を通過する間、前記少なくとも二つのそれぞれのセンサーから受信される信号を読み出して、ガラス基板がそれぞれのセンサーを完全に通過するのに所要するそれぞれの時間を決定し、またはガラス基板が前記少なくとも二つのセンサーの上部または下部を通過する間、前記少なくとも二つのそれぞれのセンサーから受信される信号からそれぞれのパルスの個数を計数するステップと、前記制御器で前記それぞれの決定された時間またはそれぞれの計数されたパルスの個数を予め決定された基準値と比較して、ガラス基板の破損の有無を判定するステップとを含むことを特徴とする。   Note that the method for detecting breakage of the edge portion of the glass substrate according to the present invention includes at least two sensors provided at the lower part or the upper part of the position where the glass substrate should move, while the glass substrate passes through the glass substrate. Recognizing and generating a signal; and a controller electrically connected to the at least two sensors and receiving signals from the at least two sensors, wherein the glass substrate is above or below the at least two sensors. The signals received from the at least two respective sensors during the passage of time to determine the respective time required for the glass substrate to completely pass through the respective sensors, or From the at least two respective sensors while passing over the top or bottom of the two sensors A step of counting the number of each pulse from the received signal, and comparing the respective determined time or the number of each counted pulse with a predetermined reference value by the controller; Determining whether or not there is damage.

前記ガラス基板の破損の有無を判定するステップは、前記それぞれの決定された時間またはそれぞれの計数されたパルスの個数を予め決定された基準値と比較して、その時間またはパルスの個数が予め決定された基準値よりも小さい場合は、ガラス基板の破損があるものと判定し、同一の場合は、ガラス基板の破損がないものと判定することを特徴とする。   The step of determining whether or not the glass substrate is broken includes comparing each of the determined times or the number of counted pulses with a predetermined reference value, and determining the time or the number of pulses in advance. If it is smaller than the reference value, it is determined that the glass substrate is damaged, and if it is the same, it is determined that the glass substrate is not damaged.

本発明によると、フラットパネルディスプレー装置の生産ラインを移動するガラス基板のエッジ部分において発生しやすい破損を、ガラス基板が移動する状態で最小限の光センサーを用いて検出することができ、特に、ガラス基板が各工程間を移動するとき、ガラス基板の破損の有無を検出することができるので、別途の測定時間が必要なく、2〜3個のセンサーだけでガラス基板の全てのエッジの破損を検出することができる。   According to the present invention, breakage that is likely to occur at the edge portion of the glass substrate moving on the production line of the flat panel display device can be detected using a minimum of optical sensors in a state where the glass substrate moves, When the glass substrate moves between each process, it can detect whether or not the glass substrate is broken, so there is no need for a separate measurement time, and only 2 or 3 sensors can damage all edges of the glass substrate. Can be detected.

以下、本発明の好ましい実施の形態を、添付図面に基づいて詳しく説明する。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

図1は、本発明によるガラス基板のエッジ部分の破損検出装置を示す概略構成図である。この装置は、ガラス基板10の左右エッジ部分が移動すべき位置の下部に設けられ、ガラス基板が通過する間、ガラス基板を認識して信号を発生するセンサー20と、ガラス基板10を挟んで前記センサー20と対向して位置する反射板22と、前記センサー20と電気的に連結され、それぞれのセンサー20から信号を受信する制御器30とで構成されている。   FIG. 1 is a schematic configuration diagram illustrating a breakage detection device for an edge portion of a glass substrate according to the present invention. This apparatus is provided at the lower part of the position where the left and right edge portions of the glass substrate 10 should move, and the sensor 20 recognizes the glass substrate and generates a signal while the glass substrate passes, The reflection plate 22 is positioned opposite to the sensor 20 and a controller 30 that is electrically connected to the sensor 20 and receives a signal from each sensor 20.

前記制御器30は、ガラス基板10がセンサー20の上部を通過する間、それぞれのセンサー20から受信される信号を読み出して、ガラス基板10がそれぞれのセンサー20を完全に通過するのに所要されるそれぞれの時間を決定し、またはガラス基板10がセンサー20の上部を通過する間、それぞれのセンサー20から受信される信号からそれぞれのパルスの個数を計数する。   The controller 30 reads a signal received from each sensor 20 while the glass substrate 10 passes over the sensor 20, and is required for the glass substrate 10 to completely pass each sensor 20. Each time is determined or the number of each pulse is counted from the signal received from each sensor 20 while the glass substrate 10 passes over the sensor 20.

前記制御器30は、それぞれの決定された時間またはそれぞれの計数されたパルスの個数を予め決定された基準値と比較して、ガラス基板10の破損の有無を判定する。制御器30でガラス基板10の破損の有無を判定する具体的な過程については、図2乃至図4を参照して後述する。   The controller 30 compares the determined time or the number of counted pulses with a predetermined reference value to determine whether the glass substrate 10 is broken. A specific process for determining whether or not the glass substrate 10 is broken by the controller 30 will be described later with reference to FIGS.

さらに、前記検出装置は、外部装置入出力インターフェースにより制御器30と電気的に連結されたメーンコントローラー40を有していてもよく、このメーンコントローラー40は、制御器30でガラス基板10の破損を判定するとき、警報装置(図示せず)を制御して警報信号を発生させ、またはガラス基板10を移送する移送装置(図示せず)を制御してガラス基板10の移動を停止させる。   Further, the detection device may include a main controller 40 electrically connected to the controller 30 through an external device input / output interface. The main controller 40 may damage the glass substrate 10 with the controller 30. When the determination is made, an alarm device (not shown) is controlled to generate an alarm signal, or a transfer device (not shown) for transferring the glass substrate 10 is controlled to stop the movement of the glass substrate 10.

図2は、前記検出装置において、正常のガラス基板10が、下部に位置したエッジセンサー20a、20bと基準センサー20cを通過する場合の、正常のガラス基板とこれらのセンサーの位置関係を示す平面図である。   FIG. 2 is a plan view showing the positional relationship between the normal glass substrate and these sensors when the normal glass substrate 10 passes through the edge sensors 20a, 20b and the reference sensor 20c located in the lower part in the detection apparatus. It is.

また、図2の(a)、(b)、(c)には、正常のガラス基板が移動するとき、下部に位置するエッジセンサー20a、20bと基準センサー20cからそれぞれ検出される信号の波形が時間軸に対し示されている。図2における(a)のグラフからみると、正常のガラス基板10の先端部がエッジセンサー20aを通過した時点tからガラス基板10の後端部がエッジセンサー20aを通過する時点tまで、エッジセンサー20aは、ガラス基板10を認識して一定の大きさの信号を発生させ、この信号波形は、二つのエッジセンサー20a、20b間に位置した基準センサー20cで発生した図2の(c)に示すような同期信号波形と同一の波形である。また、図2における(b)のグラフからみると、正常のガラス基板10の先端部がエッジセンサー20bを通過した時点tからガラス基板10の後端部がエッジセンサー20bを通過する時点tまで、エッジセンサー20bは、ガラス基板10を認識して一定の大きさの信号を発生させ、この信号波形は、二つのエッジセンサー20a、20b間に位置した基準センサー20cで発生した図2の(c)に示した同期信号波形と同一の波形である。このような二つのエッジセンサー20a、20bからの信号波形が基準センサー20cで発生した同期信号波形と同一の場合は、ガラス基板10が二つのエッジセンサー20a、20bを完全に通過する間、所要する時間または発生したパルスの個数が予め決定された基準値と一致するようになり、結果的に制御器はガラス基板の破損がないものと判定する。 2 (a), 2 (b), and 2 (c) show waveforms of signals detected from the edge sensors 20a and 20b and the reference sensor 20c located below when a normal glass substrate moves. Shown against the time axis. From the graph (a) in FIG. 2, from the time t 0 when the tip of the normal glass substrate 10 passes the edge sensor 20 a to the time t 3 when the rear end of the glass substrate 10 passes the edge sensor 20 a, The edge sensor 20a recognizes the glass substrate 10 and generates a signal of a certain magnitude, and this signal waveform is generated by the reference sensor 20c located between the two edge sensors 20a and 20b (c) in FIG. This is the same waveform as the sync signal waveform shown in FIG. Further, from the graph (b) in FIG. 2, the time t 3 when the rear end of the glass substrate 10 passes the edge sensor 20 b from the time t 0 when the front end of the normal glass substrate 10 passes the edge sensor 20 b. The edge sensor 20b recognizes the glass substrate 10 and generates a signal of a certain magnitude, and this signal waveform is generated by the reference sensor 20c located between the two edge sensors 20a and 20b in FIG. It is the same waveform as the synchronization signal waveform shown in c). When the signal waveforms from the two edge sensors 20a and 20b are the same as the synchronization signal waveform generated by the reference sensor 20c, it is necessary while the glass substrate 10 completely passes through the two edge sensors 20a and 20b. The time or the number of generated pulses coincides with a predetermined reference value, and as a result, the controller determines that the glass substrate is not broken.

図3は、前記検出装置において、破損したガラス基板10が、下部に位置したエッジセンサー20a、20bと基準センサー20cを通過する場合の、破損したガラス基板とこれらのセンサーの位置関係を示す平面図である。   FIG. 3 is a plan view showing the positional relationship between the broken glass substrate and these sensors when the broken glass substrate 10 passes through the edge sensors 20a, 20b and the reference sensor 20c located in the lower part in the detection device. It is.

また、図3の(a)、(b)、(c)には、破損したガラス基板が移動するとき、下部に位置するエッジセンサー20a、20bと基準センサー20cからそれぞれ検出される信号の波形が時間軸に対し示されている。図3における(a)のグラフをみると、破損したガラス基板10の先端部がエッジセンサー20aを通過した時点tから破損したガラス基板10の後端部がエッジセンサー20aを通過する時点tまで、エッジセンサー20aは、ガラス基板10を認識して一定の大きさの信号を発生させ、この信号波形は、二つのエッジセンサー20a、20b間に位置した基準センサー20cで発生した図3の(c)に示すような同期信号波形とは異なり、t〜t区間は信号が発生されない。このようなt〜t区間は、エッジセンサー20aを通過するガラス基板の先端部のエッジが破損したことが検出される区間であって、破損したガラス基板10がエッジセンサー20aを完全に通過する間、所要する時間または発生したパルスの個数が予め決定された基準値よりも小さくなり、結果的に制御器はガラス基板の破損があるものと判定する。 3 (a), 3 (b), and 3 (c) show waveforms of signals detected from the edge sensors 20a and 20b and the reference sensor 20c located below when the broken glass substrate moves. Shown against the time axis. Referring to the graph (a) in FIG. 3, the time t 3 when the rear end of the damaged glass substrate 10 passes the edge sensor 20a from the time t 1 when the tip of the damaged glass substrate 10 passes the edge sensor 20a. Until now, the edge sensor 20a recognizes the glass substrate 10 and generates a signal of a certain magnitude, and this signal waveform is generated by the reference sensor 20c located between the two edge sensors 20a and 20b in FIG. Unlike the synchronous signal waveform as shown in c), no signal is generated in the period from t 0 to t 1 . Such a section between t 0 and t 1 is a section in which it is detected that the edge of the tip of the glass substrate passing through the edge sensor 20a is broken, and the broken glass substrate 10 completely passes through the edge sensor 20a. In the meantime, the required time or the number of generated pulses becomes smaller than a predetermined reference value, and as a result, the controller determines that the glass substrate is broken.

また、図3における(b)のグラフをみると、破損したガラス基板10の先端部がエッジセンサー20bを通過した時点tから破損したガラス基板10の後端部がエッジセンサー20bを通過する時点tまで、エッジセンサー20bは、ガラス基板10を認識して一定の大きさの信号を発生させ、この信号波形は、二つのエッジセンサー20a、20b間に位置した基準センサー20cで発生した図3の(c)に示した同期信号波形とは異なり、t〜t区間は信号が発生されない。このようなt〜t区間は、エッジセンサー20bを通過するガラス基板の後端部のエッジが破損したことが検出される区間であって、破損したガラス基板10がエッジセンサー20bを完全に通過する間、所要する時間または発生したパルスの個数が予め決定された基準値よりも小さくなり、結果的に制御器はガラス基板の破損があるものと判定する。 Looking at the graph of (b) in FIG. 3, when the rear end portion of the glass substrate 10 in which the distal end portion of the broken glass substrate 10 is broken from time t 0 which has passed through the edge sensor 20b passes the edge sensor 20b until t 2, the edge sensor 20b recognizes the glass substrate 10 by generating a predetermined signal magnitude, the signal waveform, FIG. 3 generated by two edges sensor 20a, the reference sensor 20c located between 20b Unlike the synchronous signal waveform shown in (c), no signal is generated in the period from t 2 to t 3 . Such a t 2 to t 3 section is a section in which it is detected that the edge of the rear end of the glass substrate passing through the edge sensor 20b is broken, and the broken glass substrate 10 completely removes the edge sensor 20b. While passing, the required time or the number of generated pulses becomes smaller than a predetermined reference value, and as a result, the controller determines that the glass substrate is broken.

以下、図4を参照して、本発明によるガラス基板のエッジ部分の破損を検出する方法について説明する。   Hereinafter, a method for detecting breakage of the edge portion of the glass substrate according to the present invention will be described with reference to FIG.

まず、ガラス基板を、フラットパネルディスプレー製造工程の各処工程に投入した後、移動させる(S400)。次に、ガラス基板が下部に設けられたセンサー(例えば、エッジセンサー)を通過する間、これらのセンサーから信号を検出する(S410)。   First, the glass substrate is moved to each process of the flat panel display manufacturing process and then moved (S400). Next, while the glass substrate passes through sensors (for example, edge sensors) provided in the lower part, signals are detected from these sensors (S410).

その後、制御器では、この検出された信号を読み出すことにより、ガラス基板がそれぞれのセンサーを完全に通過するのに所要されるそれぞれの時間を決定し、またはこの検出された信号からそれぞれのパルスの個数を計数し(S420)、前記それぞれの時間またはそれぞれの計数されたパルスの個数を予め決定された基準値と比較する(S430)。比較の結果、それぞれのセンサーから読み出されたそれぞれの時間またはパルスの個数が予め決定された基準値よりも小さい場合は、ガラス基板の破損があるものと判定し、同一の場合は、ガラス基板の破損がないものと判定する(S440)。さらに、制御器は、外部装置入出力インターフェースを介してメーンコントローラーと電気的に連結されていてもよく、この場合、メーンコントローラーは、制御器でガラス基板の破損を判定すると、警報装置を制御して警報信号を発生させ、またはガラス基板を移送する移送装置を制御することにより、ガラス基板の移動を停止させることができる。   The controller then reads the detected signal to determine the respective time required for the glass substrate to pass completely through the respective sensor, or from this detected signal the respective pulse. The number is counted (S420), and the respective time or the number of counted pulses is compared with a predetermined reference value (S430). As a result of comparison, if the time or the number of pulses read from each sensor is smaller than a predetermined reference value, it is determined that the glass substrate is broken. It is determined that there is no damage (S440). Further, the controller may be electrically connected to the main controller via an external device input / output interface. In this case, when the main controller determines that the glass substrate is broken by the controller, the controller controls the alarm device. The movement of the glass substrate can be stopped by generating an alarm signal or controlling the transfer device for transferring the glass substrate.

図5は、本発明による検出装置がフラットパネルディスプレー装置のインライン生産システムに適用された実施の形態を示す平面図である。図5に示すのは、第1の工程モジュール(PM1)には、第1のガラス基板10aが位置して工程処理され、この第1の工程モジュール(PM1)での処理が完了した第2のガラス基板10bが、移送されて第2の工程モジュール(PM2)への投入を待機している状態である。また、第2の工程モジュール(PM2)では、第3のガラス基板10cが位置して第2の工程処理中である。このとき、第1の工程モジュール(PM1)で処理が完了し、第2の工程モジュール(PM2)へ移送中である第2のガラス基板10bは、移送通路の下部に位置する前記エッジセンサー20a、20b及び基準センサー20cと制御器(図5では図示せず)によりガラス基板の破損の有無が判定される。ガラス基板の破損が検出された場合、制御器と電気的に連結されているメーンコントローラーの制御により、移送装置を停止したり警報装置で警報を発生し、第2のガラス基板10bの第2の工程モジュール(PM2)への投入を前以って遮断している。   FIG. 5 is a plan view showing an embodiment in which the detection device according to the present invention is applied to an in-line production system of a flat panel display device. FIG. 5 shows that the first glass substrate 10a is positioned and processed in the first process module (PM1), and the process in the first process module (PM1) is completed. The glass substrate 10b is in a state of being transferred and waiting for input to the second process module (PM2). In the second process module (PM2), the third glass substrate 10c is positioned and the second process is being performed. At this time, the processing is completed in the first process module (PM1), the second glass substrate 10b being transferred to the second process module (PM2) is the edge sensor 20a, which is located at the lower part of the transfer path, Whether or not the glass substrate is broken is determined by 20b, the reference sensor 20c, and a controller (not shown in FIG. 5). When breakage of the glass substrate is detected, the transfer controller is stopped or an alarm is generated by the alarm device under the control of the main controller electrically connected to the controller, and the second glass substrate 10b is Input to the process module (PM2) is blocked in advance.

また、第1の工程モジュール(PM1)で処理が完了し、移送中である第2のガラス基板10bが、移送通路の下部に位置するエッジセンサー20a、20b及び基準センサー20cを通過するとき、これらのセンサーで検出される信号波形については、正常のガラス基板の場合は図2に示すとおりであり、破損されたガラス基板の場合は図3に示すとおりである。   Further, when the processing is completed in the first process module (PM1) and the second glass substrate 10b being transferred passes through the edge sensors 20a and 20b and the reference sensor 20c located at the lower part of the transfer path, The signal waveform detected by the sensor is as shown in FIG. 2 for a normal glass substrate and as shown in FIG. 3 for a damaged glass substrate.

また、図4に示す流れに従って、制御器でこのような信号波形を読み出すことにより、ガラス基板の破損の有無を判定する過程が行われる。図5の実施の形態では、第1の工程モジュール(PM1)と第2の工程モジュール(PM2)のみが開示されているが、本発明による破損検出装置は、このような二つの工程モジュールに限られて適用されるのではなく、追加して複数の工程モジュール間にも適用することができ、センサーの位置もまたガラス基板の各モジュールでの処理前後の移送過程によって変形可能なことは、当業者であれば理解されるだろう。   Moreover, the process which determines the presence or absence of the damage of a glass substrate is performed by reading such a signal waveform with a controller according to the flow shown in FIG. In the embodiment of FIG. 5, only the first process module (PM1) and the second process module (PM2) are disclosed. However, the damage detection apparatus according to the present invention is limited to such two process modules. In addition, it can be applied to a plurality of process modules, and the position of the sensor can also be changed by a transfer process before and after processing in each module of the glass substrate. It will be understood by the contractor.

図6は、本発明による検出装置がフラットパネルディスプレー装置のクラスター生産システムに適用された実施の形態を示す平面図である。図6に示すのは、第1の工程モジュール(PM1)、第2の工程モジュール(PM2)及び第3の工程モジュール(PM3)には、それぞれ第1ガラス基板10a、第2ガラス基板10b、第3ガラス基板10cが位置してそれぞれ工程処理中であり、これらの工程モジュールで処理が完了した後、トランスポートチェンバー50へ移送された第4のガラス基板10dが、ロードロックLLへの投入を待機している状態である。また、ロードロックLLの下部には、工程モジュールでの処理が完了し、トランスポートチェンバー50から移送された第5のガラス基板10eが積載されて位置し、ロードロックLLの上部には、各工程モジュールへの投入のために、トランスポートチェンバー50への投入を待機するガラス基板(図示せず)が位置している。   FIG. 6 is a plan view showing an embodiment in which the detection device according to the present invention is applied to a cluster production system of a flat panel display device. FIG. 6 shows that the first process substrate (PM1), the second process module (PM2), and the third process module (PM3) have a first glass substrate 10a, a second glass substrate 10b, and a second process module, respectively. 3 glass substrates 10c are positioned and are in process, and after the processing is completed in these process modules, the fourth glass substrate 10d transferred to the transport chamber 50 waits for loading into the load lock LL. It is in a state of being. In addition, the processing in the process module is completed at the lower part of the load lock LL, and the fifth glass substrate 10e transferred from the transport chamber 50 is loaded and positioned. The upper part of the load lock LL has each process. A glass substrate (not shown) waiting for loading into the transport chamber 50 is positioned for loading into the module.

第1の工程モジュール(PM1)で処理が完了した第1のガラス基板10aは、トランスポートチェンバー50へ移送される過程中、トランスポートチェンバー50の入口付近の下部に位置する前記エッジセンサー20a、20bと制御器(図6では図示せず)によってガラス基板の破損の有無が判定される。また、それぞれの工程モジュールで処理が完了した後、トランスポートチェンバー50へ移送された第4のガラス基板10dは、ロードロックLLの下部へ移送されるとともに、ロードロックの入口付近の下部に位置する前記エッジセンサー20a、20b及び基準センサー20cと制御器(図6では図示せず)によって、ガラス基板の破損の有無が判定される。若し、第1のガラス基板10aまたは第4のガラス基板10dの破損が検出されると、制御器と電気的に連結されているメーンコントローラーの制御により、トランスポートチェンバー50から追加の工程モジュールまたはロードロックLLへの移送が遮断され、または警報装置で警報を発生させることにより、ガラス基板の追加の工程モジュールまたはロードロックLLへの投入を前以って遮断することができる。   The first glass substrate 10a, which has been processed in the first process module (PM1), is transferred to the transport chamber 50, and the edge sensors 20a and 20b are located at the lower part near the entrance of the transport chamber 50. And a controller (not shown in FIG. 6) determines whether or not the glass substrate is broken. In addition, after the processing is completed in each process module, the fourth glass substrate 10d transferred to the transport chamber 50 is transferred to the lower portion of the load lock LL and is positioned in the lower portion near the entrance of the load lock. Whether or not the glass substrate is broken is determined by the edge sensors 20a and 20b, the reference sensor 20c, and a controller (not shown in FIG. 6). If the breakage of the first glass substrate 10a or the fourth glass substrate 10d is detected, an additional process module or an additional process module from the transport chamber 50 is controlled under the control of the main controller electrically connected to the controller. Transfer to the load lock LL is interrupted, or an alarm device generates an alarm, so that the glass substrate can be interrupted in advance to the additional process module or the load lock LL.

また、図示していないが、第1の工程モジュール(PM1)からトランスポートチェンバー50の入口付近の下部には、前記エッジセンサー20a、20b以外に、基準センサー20cがさらに設けられてもよく、第2の工程モジュール(PM2)からトランスポートチェンバー50の入口付近と、第3の工程モジュール(PM3)からトランスポートチェンバー50への入口付近にも、エッジセンサー20a、20bと基準センサー20cが設けられてもよい。   Although not shown, a reference sensor 20c may be further provided in addition to the edge sensors 20a and 20b in the lower part of the transport chamber 50 near the entrance of the first process module (PM1). Edge sensors 20a and 20b and a reference sensor 20c are provided near the entrance of the transport chamber 50 from the second process module (PM2) and near the entrance to the transport chamber 50 from the third process module (PM3). Also good.

第1の工程モジュール(PM1)で処理が完了した第1のガラス基板10aがトランスポートチェンバー50の入口付近の下部に位置するエッジセンサー20a、20bを通過するとき、これらのセンサーで検出される信号波形については、正常のガラス基板の場合は図2の(a)と(b)に示すとおりであり、破損したガラス基板の場合は図3の(a)と(b)に示すとおりである。また、それぞれの工程モジュールで処理が完了した後、トランスポートチェンバー50へ移送された第4ガラス基板10dが、ロードロックLLの入口付近の下部に位置するエッジセンサー20a、20bと基準センサー20cを通過するとき、これらのセンサーで検出される信号波形については、正常のガラス基板の場合は図2に示すとおりであり、破損したガラス基板の場合は図3に示すとおりである。   When the first glass substrate 10a processed in the first process module (PM1) passes through the edge sensors 20a and 20b located in the lower part near the entrance of the transport chamber 50, signals detected by these sensors The waveforms are as shown in FIGS. 2A and 2B for a normal glass substrate, and as shown in FIGS. 3A and 3B for a damaged glass substrate. In addition, after the processing is completed in each process module, the fourth glass substrate 10d transferred to the transport chamber 50 passes through the edge sensors 20a and 20b and the reference sensor 20c located at the lower part near the entrance of the load lock LL. The signal waveforms detected by these sensors are as shown in FIG. 2 for a normal glass substrate and as shown in FIG. 3 for a damaged glass substrate.

また、図4に示す流れに従って、制御器でこのような信号波形を読み出すことにより、ガラス基板の破損の有無を判定する過程が行われる。本発明による破損検出装置は、このような三つの工程モジュールを支援するクラスター生産システムに限って適用されるのではなく、追加して複数の工程モジュールを支援するクラスター生産システムにも適用可能であり、センサーの位置もまたガラス基板の各工程モジュールでの処理前後の移送過程に応じて変形可能なことは、当業者であれば理解されるだろう。   Moreover, the process which determines the presence or absence of the damage of a glass substrate is performed by reading such a signal waveform with a controller according to the flow shown in FIG. The damage detection apparatus according to the present invention is not limited to a cluster production system that supports three process modules, but can be applied to a cluster production system that additionally supports a plurality of process modules. Those skilled in the art will understand that the position of the sensor can also be changed according to the transfer process before and after processing in each process module of the glass substrate.

図7は、クラスター生産システムにおいて、ガラス基板のエッジ部分の破損を検出するための従来の方式の光センサーの配置を示している。このような従来の方式は、ガラス基板の各工程モジュールへの投入前に、ガラス基板のそれぞれのエッジの破損の有無が、ガラス基板が積載される支持台の下部に設けられた光センサー(a〜n)により検出される方式である。しかし、このような従来の検出方式は、ガラス基板のエッジ部分の破損を検出するために、ガラス基板がトランスポートチェンバー内で停止されていなければならず、六つの工程モジュール(PM1〜PM6)を支援するクラスター生産システムの場合、検出のための光センサーを全て14個(a〜n)も必要とするという問題があった。   FIG. 7 shows an arrangement of conventional photosensors for detecting breakage of an edge portion of a glass substrate in a cluster production system. In such a conventional method, before the glass substrate is put into each process module, the presence or absence of breakage of each edge of the glass substrate is detected by an optical sensor (a To n). However, such a conventional detection method requires that the glass substrate be stopped in the transport chamber in order to detect breakage of the edge portion of the glass substrate, and the six process modules (PM1 to PM6) are installed. In the case of the cluster production system to be supported, there is a problem that all 14 optical sensors (a to n) are required for detection.

以上、本発明について添付の図面に基づいて説明したが、本発明は前記図面に開示された実施の形態に限定されず、当業者であれば、本発明の趣旨により修正及び変更が可能であり、このような修正と変形も本発明の範囲に属することが理解されるだろう。   Although the present invention has been described with reference to the accompanying drawings, the present invention is not limited to the embodiments disclosed in the drawings, and those skilled in the art can make modifications and changes according to the spirit of the present invention. It will be understood that such modifications and variations are also within the scope of the present invention.

本発明によるガラス基板のエッジ部分の破損検出装置を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows the damage detection apparatus of the edge part of the glass substrate by this invention. 本発明による検出装置の光センサーを正常のガラス基板が通過するとき、光センサーと正常のガラス基板の位置関係を示す平面図、及び正常のガラス基板の下部に位置するそれぞれの光センサーから検出される信号の波形を時間軸に対して示したグラフである。When a normal glass substrate passes through the optical sensor of the detection device according to the present invention, a plan view showing the positional relationship between the optical sensor and the normal glass substrate, and each optical sensor located below the normal glass substrate is detected. It is the graph which showed the waveform of the signal which is taken with respect to the time axis. 本発明による検出装置の光センサーを破損したガラス基板が通過するとき、光センサーと破損したガラス基板の位置関係を示す平面図、及び破損したガラス基板の下部に位置するそれぞれの光センサーから検出される信号の波形を時間軸に対して示したグラフである。When a broken glass substrate passes through the optical sensor of the detection device according to the present invention, a plan view showing a positional relationship between the optical sensor and the damaged glass substrate, and detection from each optical sensor located below the damaged glass substrate. It is the graph which showed the waveform of the signal which is taken with respect to the time axis. 本発明によるガラス基板のエッジ部分の破損検出方法を詳しく説明するフローチャートである。3 is a flowchart illustrating in detail a method for detecting breakage of an edge portion of a glass substrate according to the present invention. 本発明による検出装置がフラットパネルディスプレー装置のインライン生産システムに適用された実施の形態を示す平面図である。It is a top view which shows embodiment which the detection apparatus by this invention was applied to the in-line production system of a flat panel display apparatus. 本発明による検出装置がフラットパネルディスプレー装置のクラスター生産システムに適用された他の実施の形態を示す平面図である。It is a top view which shows other embodiment with which the detection apparatus by this invention was applied to the cluster production system of a flat panel display apparatus. クラスター生産システムにおいて、ガラス基板のエッジ部分の破損を検出するための従来の方式の光センサーの配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the photosensor of the conventional system for detecting the failure | damage of the edge part of a glass substrate in a cluster production system.

符号の説明Explanation of symbols

10…ガラス基板、10a〜10e…第1のガラス基板〜第5のガラス基板、20…センサー、22…反射板、20a、20b…エッジセンサー、20c…基準センサー、30…制御器、40…メーンコントローラー、50…トランスポートチェンバー、LL…ロードロック、PM1〜PM6…第1の工程モジュール〜第6の工程モジュール。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Glass substrate, 10a-10e ... 1st glass substrate-5th glass substrate, 20 ... Sensor, 22 ... Reflecting plate, 20a, 20b ... Edge sensor, 20c ... Reference sensor, 30 ... Controller, 40 ... Maine Controller, 50 ... Transport chamber, LL ... Load lock, PM1 to PM6 ... First process module to sixth process module.

Claims (12)

ガラス基板が移動すべき位置の下部または上部に設けられ、前記ガラス基板が通過する間、該ガラス基板を認識して信号を発生する少なくとも二つのセンサーと、
前記少なくとも二つのセンサーと電気的に連結され、前記少なくとも二つのそれぞれのセンサーから信号を受信し、前記ガラス基板が前記少なくとも二つのセンサーの上部または下部を通過する間、前記少なくとも二つのそれぞれのセンサーから受信される信号を読み出して、前記ガラス基板がそれぞれのセンサーを完全に通過するのに所要するそれぞれの時間を決定し、または前記ガラス基板が前記少なくとも二つのセンサーの上部または下部を通過する間、前記少なくとも二つのそれぞれのセンサーから受信される信号からそれぞれのパルスの個数を計数し、このようなそれぞれの決定された時間またはそれぞれの計数されたパルスの個数を予め決定された基準値と比較して、前記ガラス基板の破損の有無を判定する制御器とを備えることを特徴とするガラス基板のエッジ部分の破損検出装置。
At least two sensors that are provided below or above the position where the glass substrate is to be moved, and that recognize the glass substrate and generate a signal while the glass substrate passes;
The at least two sensors are electrically connected to the at least two sensors, receive signals from the at least two sensors, and the glass substrate passes above or below the at least two sensors. Read out the signal received from each of them to determine the respective time required for the glass substrate to completely pass through the respective sensor, or while the glass substrate passes over the top or bottom of the at least two sensors. Counting the number of each pulse from the signals received from said at least two respective sensors and comparing each such determined time or the number of each counted pulse with a predetermined reference value And a controller for determining whether the glass substrate is broken or not. Breakage detection device of the edge portion of the glass substrate characterized by.
前記制御器が、前記それぞれの決定された時間またはそれぞれの計数されたパルスの個数を予め決定された基準値と比較して、その時間またはパルスの個数が予め決定された基準値よりも小さい場合は、前記ガラス基板の破損があるものと判定し、同一の場合は、前記ガラス基板の破損がないものと判定することを特徴とする請求項1に記載のガラス基板のエッジ部分の破損検出装置。   The controller compares the respective determined time or the number of each counted pulse with a predetermined reference value, and the time or the number of pulses is smaller than the predetermined reference value; 2. It is determined that there is breakage of the glass substrate, and if it is the same, it is determined that there is no breakage of the glass substrate. . 前記少なくとも二つのセンサーが、前記ガラス基板の左右エッジ部分が移動すべき位置の下部または上部に左右一対が設けられ、前記ガラス基板が通過する間、該ガラス基板を認識して信号を発生するエッジセンサーを備えることを特徴とする請求項1または2に記載のガラス基板のエッジ部分の破損検出装置。   The at least two sensors are provided with a pair of left and right at the lower or upper part of the position where the left and right edge portions of the glass substrate are to move, and an edge that recognizes the glass substrate and generates a signal while the glass substrate passes The damage detection device for an edge portion of a glass substrate according to claim 1 or 2, further comprising a sensor. 前記少なくとも二つのセンサーが、前記エッジセンサーの間に位置して、それぞれのエッジセンサーから発生する信号に対する同期信号を発生させる基準センサーをさらに備えることを特徴とする請求項3に記載のガラス基板のエッジ部分の破損検出装置。   The glass substrate according to claim 3, wherein the at least two sensors further include a reference sensor positioned between the edge sensors and generating a synchronization signal with respect to a signal generated from each edge sensor. Edge detection device. 前記少なくとも二つのセンサーが、透過型センサーであることを特徴とする請求項1または2に記載のガラス基板のエッジ部分の破損検出装置。   The apparatus for detecting breakage of an edge portion of a glass substrate according to claim 1, wherein the at least two sensors are transmissive sensors. 前記制御器と電気的に連結されたメーンコントローラーをさらに備えることを特徴とする請求項1または2に記載のガラス基板のエッジ部分の破損検出装置。   The apparatus for detecting breakage of an edge portion of a glass substrate according to claim 1 or 2, further comprising a main controller electrically connected to the controller. 前記メーンコントローラーが、前記制御器で前記ガラス基板の破損を判定する場合、警報装置を制御して警報信号を発生させ、またはガラス基板を移送する移送装置を制御してガラス基板の移動を停止させることを特徴とする請求項6に記載のガラス基板のエッジ部分の破損検出装置。   When the main controller determines that the glass substrate is broken by the controller, the alarm controller is controlled to generate an alarm signal, or the transfer device that transfers the glass substrate is controlled to stop the movement of the glass substrate. The breakage detection device for an edge portion of a glass substrate according to claim 6. ガラス基板が移動すべき位置の下部または上部に設けられた少なくとも二つのセンサーで、前記ガラス基板が通過する間、該ガラス基板を認識して信号を発生させるステップと、
前記少なくとも二つのセンサーと電気的に連結され、前記少なくとも二つのそれぞれのセンサーから信号を受信する制御器で、前記ガラス基板が前記少なくとも二つのセンサーの上部または下部を通過する間、前記少なくとも二つのそれぞれのセンサーから受信される信号を読み出して、前記ガラス基板がそれぞれのセンサーを完全に通過するのに所要するそれぞれの時間を決定し、または前記ガラス基板が前記少なくとも二つのセンサーの上部または下部を通過する間、前記少なくとも二つのそれぞれのセンサーから受信される信号からそれぞれのパルスの個数を計数するステップと、
前記制御器で前記それぞれの決定された時間またはそれぞれの計数されたパルスの個数を予め決定された基準値と比較して、前記ガラス基板の破損の有無を判定するステップとを含むことを特徴とするガラス基板のエッジ部分の破損検出方法。
A step of recognizing the glass substrate and generating a signal while the glass substrate passes by at least two sensors provided at a lower portion or an upper portion of the position where the glass substrate is to be moved;
A controller electrically connected to the at least two sensors and receiving signals from the at least two sensors, wherein the at least two sensors while the glass substrate passes above or below the at least two sensors. Read the signal received from each sensor to determine the respective time it takes for the glass substrate to pass completely through the respective sensor, or the glass substrate can be above or below the at least two sensors. Counting the number of each pulse from the signals received from said at least two respective sensors during transit;
Comparing the respective determined times or the number of counted pulses with a predetermined reference value by the controller to determine whether the glass substrate is broken or not. A method for detecting breakage of an edge portion of a glass substrate.
前記ガラス基板の破損の有無を判定するステップが、前記それぞれの決定された時間またはそれぞれの計数されたパルスの個数を予め決定された基準値と比較して、その時間またはパルスの個数が予め決定された基準値よりも小さい場合は、前記ガラス基板の破損があるものと判定し、同一の場合は、前記ガラス基板の破損がないものと判定することを特徴とする請求項8に記載のガラス基板のエッジ部分の破損検出方法。   The step of determining whether or not the glass substrate is broken includes comparing each of the determined times or the number of counted pulses with a predetermined reference value, and determining the time or the number of pulses. 9. The glass according to claim 8, wherein the glass substrate is determined to be damaged when the reference value is smaller than the reference value, and the glass substrate is determined not to be damaged when they are the same. A method for detecting breakage of an edge portion of a substrate. 前記少なくとも二つのセンサーのうち、前記ガラス基板の左右エッジ部分が移動すべき位置の下部または上部に設けられた左右一対のセンサーで、前記ガラス基板が通過する間、該ガラス基板を認識して信号を発生することを特徴とする請求項8または9に記載のガラス基板のエッジ部分の破損検出方法。   Among the at least two sensors, a pair of left and right sensors provided at the lower or upper part of the position where the left and right edge portions of the glass substrate should move, and while the glass substrate passes, recognize the glass substrate and signal 10. The method for detecting breakage of an edge portion of a glass substrate according to claim 8 or 9, wherein: 前記少なくとも二つのセンサーのうち、前記左右一対のセンサーの間に位置するセンサーで、前記左右一対のそれぞれのセンサーから発生する信号に対する同期信号を発生させることを特徴とする請求項10に記載のガラス基板のエッジ部分の破損検出方法。   11. The glass according to claim 10, wherein, among the at least two sensors, a sensor positioned between the pair of left and right sensors generates a synchronization signal for a signal generated from the pair of left and right sensors. A method for detecting breakage of an edge portion of a substrate. 前記制御器で前記ガラス基板の破損を判定する場合、前記制御器と電気的に連結されたメーンコントローラーが警報装置を制御して警報信号を発生させ、または前記ガラス基板を移送する移送装置を制御してガラス基板の移動を停止させるステップをさらに含むことを特徴とする請求項8または9に記載のガラス基板のエッジ部分の破損検出方法。   When the controller determines that the glass substrate is broken, a main controller electrically connected to the controller controls an alarm device to generate an alarm signal, or controls a transfer device that transports the glass substrate. The method for detecting breakage of an edge portion of a glass substrate according to claim 8, further comprising a step of stopping the movement of the glass substrate.
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