JP2005128272A - 画像表示装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 駆動時間の経過とともに劣化する発光素子の特性を精度良く補償し均一な表示輝度を与え得る画像表示装置の提供。
【解決手段】 画像表示装置１Ａは、各々が少なくとも１つの発光素子を有する複数の表示セルＣ1,1〜ＣM,Nを配列してなる表示パネル１８と、画像信号の階調値に応じたデータ信号を生成し表示セルＣ1,1〜ＣM,Nに与えて発光素子を発光せしめる駆動部１５と、発光素子の累計駆動時間を計数する駆動時間計測部２１と、当該累計駆動時間に応じた発光素子の経時変化を補正するための補正係数を記憶するテーブルメモリ２２と、テーブルメモリから与えられた補正係数を用いて画像信号の階調値を表示セル単位で調整する調整回路２０と、を備える。
【選択図】 図１

Description

本発明は、ＬＥＤ（発光ダイオード）やＥＬ素子（エレクトロルミネッセント素子；ElectroLuminescent device）などの自発光素子からなる表示パネルを駆動する画像表示装置などに関する。
一般に、ＥＬ素子などの自発光素子を搭載した表示装置は、ＬＣＤを搭載した表示装置と比べて、バックライトが不要なため薄型化、軽量化および小電力化を容易に実現することが可能で広い視野角を得られるといった特徴を持つ。特に有機ＥＬ素子を採用した表示装置は、高輝度、広視野角および高速な表示応答速度などの利点を有している。しかし、有機ＥＬ素子の発光効率（輝度−電流密度特性）は駆動時間の経過とともに劣化することが知られている。有機ＥＬ素子が一定電圧で駆動（以下、「定電圧駆動」と呼ぶ。）される場合は、発光効率の劣化だけではなく、有機ＥＬ素子の電流密度−電圧特性も劣化するため、駆動時間の経過とともに駆動電流が次第に低下し、発光輝度の低下も大きい。一方、有機ＥＬ素子が一定電流で駆動（以下、「定電流駆動」と呼ぶ。）される場合は、駆動時間の経過とともに駆動電圧が上昇するが、発光輝度の経時変化を主に有機ＥＬ素子の発光効率の低下によるものに留めることができる。
このような自発光素子の劣化を補償する従来技術は、たとえば特許文献１（特開２００１−１３９０３号公報；発明の名称「自発光表示素子駆動装置」）に開示されている。この特許文献１記載の駆動装置は、自発光素子を定電圧駆動するものであり、自発光素子の劣化状態を示す劣化情報を生成する劣化情報生成回路と、前記劣化情報に基づいて自発光素子に印加する定電圧信号のパルス幅を調整する駆動パルス幅調整回路とを有している。この駆動パルス幅調整回路は、自発光素子が製造されてから又は製造後のある時点からの経過時間を計測し、この経過時間に応じた劣化情報を生成しているが、自発光素子の特性劣化の進行速度は、表示装置の使用環境や駆動条件などに応じて変わり得るし、表示パネル内に形成されている全ての自発光素子の特性劣化が同じ速度で進行するとは限らないため、駆動時間の経過とともに画素間で発光輝度の差が拡大し表示輝度の不均一などが目立つ事態が起こり得る。
特開平２００１−１３９０３号公報
以上の状況などに鑑みて本発明の目的は、駆動時間の経過とともに劣化する発光素子の特性を精度良く補償し均一な表示輝度を与え得る画像表示装置を提供する点にある。
上記目的を達成すべく、請求項１記載の発明は、入力した画像信号に応じて表示パネルを駆動して発光させる画像表示装置であって、各々が少なくとも１つの発光素子を有する複数の表示セルを配列してなる表示パネルと、前記画像信号の階調値に応じたデータ信号を生成し各前記表示セルに与えて前記発光素子を発光せしめる駆動部と、前記発光素子の累計駆動時間を計数する駆動時間計測部と、前記発光素子の累計駆動時間に応じた前記発光素子の経時変化を補正するための補正係数を記憶するテーブルメモリと、前記テーブルメモリから与えられた前記補正係数を用いて前記画像信号の階調値を前記表示セル単位で調整する調整回路と、を備えることを特徴としている。
請求項８記載の発明は、入力した画像信号に応じて表示パネルを駆動して発光させる画像表示装置であって、各々が少なくとも１つの発光素子を有する複数の表示セルを配列してなる表示パネルと、前記画像信号の階調値に応じたデータ信号を生成し各前記表示セルに与えて前記発光素子を発光せしめる駆動部と、前記表示パネルの累計駆動時間を計数する駆動時間計測部と、前記表示パネルの累計駆動時間に応じた前記発光素子の経時変化を補正するための補正係数を記憶するテーブルメモリと、前記テーブルメモリから与えられた前記補正係数を用いて前記画像信号の階調値を前記表示セル単位で調整する調整回路と、前記表示パネル内に形成され駆動電流の供給を受けて発光する単数または複数の監視用発光素子と、前記監視用発光素子の現在状態を示す監視信号を測定する信号測定部と、前記監視信号に基づいて所定周期毎に前記補正係数を算出しこれらを前記テーブルメモリに記憶させる補正係数算出部と、を備えることを特徴としている。
以下、本発明に係る種々の実施例について説明する。
＜第１の実施例＞
図１は、本発明に係る第１の実施例の画像表示装置１Ａの構成を概略的に示すブロック図である。この画像表示装置１Ａは、信号処理部１０、タイミングジェネレータ１１、階調調整部１２、電源回路１３、データ電極駆動部１５、走査電極駆動部１６、鋸波信号生成部１７および有機ＥＬパネル（表示パネル）１８を備えている。
前記有機ＥＬパネル１８の基板上には、走査電極駆動部１６に接続しているＭ本（Ｍは２以上の整数）のライン状の走査電極Ｓ1，Ｓ2，…，ＳMと、データ電極駆動部１５に接続しているＮ本（Ｎは２以上の整数）のライン状のデータ電極Ｄ1，Ｄ2，…，ＤNとが間隙をもって交差するように形成されている。データ電極Ｄ1，Ｄ2，…，ＤNと走査電極Ｓ1，Ｓ2，…，ＳMとの交差点には、それぞれ、各々が少なくとも１つの有機ＥＬ素子（発光素子）を有するＭ×Ｎ個の表示セルＣ1,1，Ｃ1,2，…，Ｃ1,N，…，ＣM,Nが形成されている。さらにこの有機ＥＬパネル１８の基板上には、鋸波信号が伝達する基準電極Ｖ1，Ｖ2，…，ＶNが表示セルＣ1,1〜ＣM,Nまで延伸するように形成されている。なお、本実施例では有機ＥＬ素子が採用されるが、本発明では発光素子は有機ＥＬ素子に限らず、供給される電流量或いは印加電圧に応じた輝度で発光する素子であればよい。図２は、有機ＥＬパネル１８の表示セルＣP,Q（Ｐは１〜Ｍの整数，Ｑは１〜Ｎの整数）の等価回路の一例を概略的に示す図である。
なお、前記表示セルＣ1,1〜ＣM,Nの各々が１画素を構成してもよいし、或いは、カラー表示または面積階調を行うパネル構成を採用する場合には表示セルＣ1,1〜ＣM,Nのうちの複数個が１画素を構成してもよい。たとえば、１画素を構成する３個の表示セルがそれぞれＲ（赤色），Ｇ（緑色），Ｂ（青色）のカラーフィルタを有していてもよく、１画素を構成する３個の表示セルの点灯および非点灯の組み合わせで２ビット階調（面積階調）を得てもよい。
タイミングジェネレータ１１は、信号処理部１０から供給された同期信号Ｓｎｃを用いて基準クロックを分周あるいは逓倍などすることで、各処理ブロック毎に動作タイミングを示すクロック信号を生成し、階調調整部１２、データ電極駆動部１５、走査電極駆動部１６および鋸波信号生成部１７にそれぞれ供給する。
信号処理部１０は、外部から供給された映像信号をサンプリングし、サンプリングした映像信号を処理してこれを画像信号と同期信号Ｓｎｃとに分離し、同期信号Ｓｎｃをタイミングジェネレータ１１に供給する一方、所定ビット長のデジタル画像信号を階調調整部１２に供給する。図３は、８ビットの画像信号ＩＤK（Ｋは正整数）の階調値を例示するグラフである。図３によれば、画像信号ＩＤ1，ＩＤ2，…，ＩＤK，…は、それぞれ、「０」〜「２５５」のうちのいずれかの階調値を有している。
階調調整部１２は、乗算回路（調整回路）２０、制御部２３、テーブルメモリ２２および駆動時間計測部２１から構成されており、信号処理部１０から入力する画像信号ＩＤKの階調値を表示セル単位で調整して所定ビット長の調整信号ＭＤKを生成しこれをデータ電極駆動部１５に供給する。ここで、調整信号ＭＤKのビット長は、画像信号ＩＤKのビット長を超えるように設定されている。この階調調整部１２の具体的な動作については後述する。
電源回路１３は、外部電源（図示せず）から与えられた電圧から電源電圧を生成し、データ電極駆動部１５、走査電極駆動部１６および鋸波信号生成部１７にそれぞれ供給するブロックである。データ電極駆動部１５、走査電極駆動部１６および鋸波信号生成部１７は、それぞれ、電源回路１３から供給される電源電圧とタイミングジェネレータ１１から供給されるクロック信号とを用いて、データ電極Ｄ1〜ＤN、走査電極Ｓ1〜ＳMおよび基準電極Ｖ1〜ＶNに印加する信号を発生する。
データ電極駆動部１５は、階調調整部１２から伝達した調整信号ＭＤKの画素データを順次サンプリングしてシフトさせ、１水平ライン分の画素データを保持する。その後、データ電極駆動部１５は、保持した１水平ライン分の画素データをラッチし、各画素データの階調値に比例する振幅を持つデータ信号を生成して所定のタイミングでデータ電極Ｄ1〜ＤNに供給する。
次に、図２を参照すると、表示セルＣP,Qは、能動素子であり電界効果トランジスタの一種である薄膜トランジスタ（以下、「ＴＦＴ」と呼ぶ。）３０，３３、有機ＥＬ素子３４、キャパシタ３１およびコンパレータ３２で構成されている。選択ＴＦＴ３０においてゲートはＰ番目の走査電極ＳPに接続され、ソースはＱ番目のデータ電極ＤQに接続され、ドレインはコンパレータ３２のプラス端子（＋）とキャパシタ３１の一方の端子とに接続されている。キャパシタ３１の他方の端子は参照電位（接地電位）に接続されている。コンパレータ３２のマイナス端子（−）は基準電極ＶQに接続されている。駆動ＴＦＴ３３においては、ゲートはコンパレータ３２の出力端子に接続され、ドレインは電源回路１３から電源電位ＶDDを与えられ、ソースは有機ＥＬ素子３４のアノード（陽極）に接続されている。そして、有機ＥＬ素子３４のカソード（陰極）は参照電位（接地電位）を与えられている。
次に、前記表示セルＣP,Qの基本動作を以下に説明する。走査電極駆動部１６は、タイミングジェネレータ１１から与えられるクロック信号に基づいて走査電極Ｓ1〜ＳMに順次走査パルスを印加する。走査電極ＳPに走査パルスが印加されると、この走査電極ＳPに接続している選択ＴＦＴ３０のスイッチがオンとなる。選択ＴＦＴ３０のスイッチがオンとなる期間にデータ電極ＤQにデータ信号が供給されると、データ信号は選択ＴＦＴ３０を通じてキャパシタ３１に供給され、キャパシタ３１に電荷が蓄積されてデータが書き込まれる。これにより、データ信号の電圧と略一致する電圧がコンパレータ３２のプラス端子に印加される。コンパレータ３２は、プラス端子の電位とマイナス端子の電位とを比較し、プラス端子の電位がマイナス端子の電位以上となる期間は高レベルの駆動パルスＤＰを出力する一方、プラス端子の電位がマイナス端子の電位未満になる期間には低レベルの駆動パルスＤＰを出力する。
駆動ＴＦＴ３３のゲートに所定の高レベルの駆動パルスＤＰが印加されるとき、駆動ＴＦＴ３３のソースとドレイン間に導電チャンネルが形成され、駆動ＴＦＴ３３のスイッチはオンとなる。このとき、駆動ＴＦＴ３３のソースとドレイン間に電流が流れ、この電流が駆動電流として有機ＥＬ素子３４に供給され有機ＥＬ素子３４を点灯させる。一方、駆動ＴＦＴ３３のゲートに所定の低レベルの駆動パルスＤＰが印加されるときは、駆動ＴＦＴ３３のスイッチはオフとなり、駆動ＴＦＴ３３は有機ＥＬ素子３４への駆動電流を遮断するため、有機ＥＬ素子３４は消灯する。なお、有機ＥＬ素子３４に流れる電流が駆動ＴＦＴ３３の特性のバラツキによって影響を受けることが少なくなるようにゲートとソース間の電圧Ｖｇｓを大きく設定し、駆動ＴＦＴ３３を飽和領域で動作させることが望ましい。
図４は、表示セルＣP,Qを駆動したときの各種信号波形を概略的に示すタイミングチャートである。図４を参照すると、各フレーム周期ＴFのうち各データ書き込み期間ＴWにおいて選択ＴＦＴ３０のスイッチはオンとされ、データが書き込まれる。同時に、この期間ＴWにおいて、基準電極ＶQに供給される鋸波信号の電圧は高レベルＶHに維持される。データ書き込み期間ＴWに続く駆動期間ＴDにおいては、鋸波信号の電圧は初期レベルＶ0から高レベルＶHに漸次上昇させられる。ここで、鋸波信号の初期レベルＶ0は、輝度レベルがゼロとなる場合に対応するデータ信号の電圧と略同一になるように設定される。コンパレータ３２は、各駆動期間ＴDにおいて、データ信号の電圧が鋸波信号の電圧以上となる期間に高レベルの駆動パルスＤＰを駆動ＴＦＴ３３のゲートに与える。この結果、駆動パルスＤＰのパルス幅に略一致する期間ＴLに亘って、駆動電流が有機ＥＬ素子３４に供給され、有機ＥＬ素子３４を点灯させることとなる。
上記したように有機ＥＬ素子３４を定電圧駆動した場合、有機ＥＬ素子３４の駆動時間が累積するに従って、有機ＥＬ素子３４の特性が経時変化することで駆動電流が次第に減少し、発光輝度が低下してしまう。図５に、有機ＥＬ素子３４の駆動時間を累計することで得られる累計駆動時間（以下、「素子駆動時間」と呼ぶ。）と、この有機ＥＬ素子３４を流れる駆動電流との対応を例示する。素子駆動時間の経過とともに、駆動電流は初期値Ｉ0を起点として次第に低下している。たとえば、駆動電流の初期値が10.00μA（マイクロ・アンペア）のとき、素子駆動時間が１００時間経過した時点の駆動電流値が9.90μＡ、２００時間経過した時点の駆動電流値が9.85μＡ、１００００時間経過した時点の駆動電流値が7.00μＡとなる。
次に、階調調整部１２の構成および動作を以下に詳説する。駆動時間計測部２１は、信号処理部１０から出力された画像信号ＩＤKを順次取り込み、この画像信号ＩＤKの画素データの階調値を用いて各表示セル毎に素子駆動時間を計数し、その計数結果を計測メモリ２１ａに保持する。たとえば、或る表示セルについて「１０」，「４」，「１００」，「１０」の階調値を持つ画像信号が順次供給される場合、当該表示セルの素子駆動時間は、１２４（＝１０＋４＋１００＋１０）に比例する時間となる。説明の便宜上、有機ＥＬパネル１８の表示セルＣ1,1〜ＣM,NのうちＫ番目の表示セルの素子駆動時間を記号ＴKで表し、有機ＥＬパネル１８の駆動時間を累計することで得られる累計駆動時間（以下、「パネル駆動時間」と呼ぶ）を記号Ｔで表すこととする。このとき、図６に示されるように、パネル駆動時間Ｔの経過とともに素子駆動時間ＴKは増加する。
テーブルメモリ２２は、素子駆動時間に応じた発光素子の経時変化を補正するための補正係数を記憶しているルックアップテーブルメモリである。図７は、テーブルメモリ２２の記憶内容を概略的に示すグラフである。このテーブルメモリ２２は、素子駆動時間ＴKに対応する補正係数ＣKを記憶しており、制御部２３がＫ番目の表示セルの素子駆動時間ＴKをテーブルメモリ２２に与えると、テーブルメモリ２２は当該駆動時間ＴKに対応する補正係数ＣKを制御部２３に返すといった処理を実行する。
制御部２３は階調制御部２３１を備えており、この階調制御部２３１は、入力する画像信号ＩＤKに対応する表示セルの素子駆動時間ＴKを駆動時間計測部２１から取得し、取得した素子駆動時間ＴKに対応する補正係数ＣKをテーブルメモリ２２から取得しこれを乗算回路２０に与えるという階調制御処理を実行するブロックである。以下、図８のフローチャートを参照しつつ、階調制御処理を詳説する。なお、説明の便宜上、本階調制御処理では、各表示セルが１画素を構成し、画像信号ＩＤKはフレーム単位で階調調整部１２に入力するものとする。
まず、階調制御部２３１は、１番目の画素データの入力に合わせて画素番号Ｋを初期値（＝１）に設定し（ステップＳ１）、その後、駆動時間計測部２１を参照して当該Ｋ番目の画素データに対応する表示セルＣKの素子駆動時間ＴKを取得する（ステップＳ２）。次いで、階調制御部２３１は、テーブルメモリ２２を参照して素子駆動時間ＴKに対応する補正係数ＣKを取得し（ステップＳ３）、この補正係数ＣKを乗算回路２０に与えることで画素データの階調を調整する（ステップＳ４）。乗算回路２０は、階調制御部２３１から与えられた補正係数ＣKを入力画像信号ＩＤKに乗算して調整信号ＭＤKを生成しこれをデータ電極駆動部１５に供給する。次のステップＳ５では、階調制御部２３１は、フレーム内の最終画素の調整処理をしたか否かを判定する。フレーム内の最終画素の調整処理をしていない旨を判定した場合、階調制御部２３１は、画素番号Ｋをインクリメントして（ステップＳ７）、Ｋ＋１番目の画素データについてステップＳ２以後の処理を繰り返し実行する。他方、フレーム内の最終画素の調整処理をした旨を判定した場合は、階調制御部２３１は、タイミングジェネレータ１１から与えられた制御信号によって処理を終了するか否かを判定する（ステップＳ６）。処理を終了しない旨を判定した場合、階調制御部２３１は、次の入力フレームについてステップＳ１以後の階調制御処理を繰り返し実行する。他方、ステップＳ６で処理を終了する旨を判定した場合は、階調制御部２３１は以上の階調制御処理を終了する。
たとえば、図３に示す階調値を持つ画像信号ＩＤ1，ＩＤ2，…，ＩＤK，…が階調制御部２３１に入力した場合、図９に示すように、調整信号ＭＤ1，ＭＤ2，…，ＭＤK，…の階調値は、それぞれ、補正係数Ｃ1，Ｃ2，…，ＣK，…に応じて斜線で示した分だけ増加する。図１０は、表示セルＣP,Q（図２）を駆動したときの各種信号波形を概略的に例示するタイミングチャートである。図１０を参照すると、駆動初期のデータ信号Ａ0と比べると、発光素子の特性劣化が進行した時点のデータ信号Ａ1のレベルは高くなり、駆動パルスＤＰのパルス幅ＴLが長くなるように変調されている。駆動パルスＤＰのパルス幅の増分に応じて有機ＥＬ素子３４への駆動電流の供給時間を長くなるため、有機ＥＬ素子３４の発光輝度の低下を発光期間の増加によって補償することができる。
なお、各表示セル毎に素子駆動時間ＴKを計数する代わりに、複数の表示セル毎に素子駆動時間を計数してもよい。たとえば、１画素が３個の表示セルからなる場合に、これら３個の表示セルの累積駆動時間の合計を素子駆動時間として計数することが可能である。第１の表示セルの素子駆動時間が３時間、第２の表示セルの素子駆動時間が４時間、第３の表示セルの素子駆動時間が５時間の場合、これら第１〜第３の表示セルの素子駆動時間を１２時間（＝３時間＋４時間＋５時間）にすることができる。
また、階調制御部２３１は、少なくとも２つの補正係数をテーブルメモリ２２から取得し、取得した補正係数を用いて素子駆動時間に対応する不足の補正係数を補間する機能を有している。たとえば、Ｓタップ（Ｓは２以上の整数）のデジタルフィルタを用いて、Ｓ個の補正係数を用いて１個の補間補正係数を算出することが可能である。図１１は、補間処理を説明するためのグラフである。テーブルメモリ２２が、素子駆動時間ＴKがｔ１およびｔ２のときの２点Ｐ１およびＰ２の補正係数を記憶しているが、素子駆動時間ＴKがｔ３のときの点Ｐ３の補正係数を記憶していない場合、階調制御部２３１は、２点Ｐ１，Ｐ２の補正係数の値から、線形補間法などを用いて点Ｐ３の補間補正係数ＣKを生成することができる。かかる補間処理により、高精度の補間補正係数ＣKを得たり、或いは、テーブルメモリ２２に必要な記憶容量を減らしたりすることができる。
以上に説明したように、第１の実施例の画像表示装置１Ａは、駆動時間計測部２１で素子駆動時間をリアルタイムに計数し、テーブルメモリ２２から素子駆動時間に対応した補正係数を取得し、当該補正係数を用いて画像信号の階調を表示セル単位で調整するため、駆動時間の累積とともに経時変化する発光素子の特性を表示セル単位で精度良く補償し、有機ＥＬパネル１８の輝度のバラツキを抑制して均一な表示輝度を得ることが可能である。
ところで、上記第１の実施例では、データ電極駆動部１５に入力する前の画像信号ＩＤKの階調を調整したが、この代わりに、データ電極駆動部１５に入力した後の画像信号の階調を調整する変形例を採用することも可能である。図１２は、かかる変形例の画像表示装置１Ｂの構成を概略的に示すブロック図である。この画像表示装置１Ｂは、階調調整部１２Ｂおよびデータ電極駆動部１５Ｂを除いて、上記実施例の画像表示装置１Ａと同一構成および同一機能を有する。階調調整部１２Ｂは、テーブルメモリ２２、制御部２３Ｂおよび駆動時間計測部２１を備えており、テーブルメモリ２２および駆動時間計測部２１の機能は、上記第１の実施例の階調調整部１２のそれらの機能と同一である。
制御部２３Ｂは階調制御部２３１Ｂを備えている。この階調制御部２３１Ｂは、１水平ライン分の画像信号ＩＤ1〜ＩＤNに対応する表示セルの素子駆動時間Ｔ1〜ＴNを駆動時間計測部２１から取得し、取得した素子駆動時間Ｔ1〜ＴNにそれぞれ対応する補正係数Ｃ1〜ＣNをテーブルメモリ２２から取得する。また階調制御部２３１Ｂは、テーブルメモリ２２から取得したＮ個の補正係数Ｃ1〜ＣNを、データ電極駆動部１５Ｂに組み込まれた乗算部２００に与えるという階調制御処理を実行する。
信号処理部１０から出力されデータ電極駆動部１５Ｂに入力した画像信号ＩＤ1〜ＩＤNは、シフトレジスタ４０に取り込まれシフトされた後、ラッチ回路４１に並列に出力される。ラッチ回路４１は、シフトレジスタ４０から並列に出力された１水平ライン分の画像信号をラッチした後、乗算部２００の乗算回路２０1〜２０Nへ並列に出力する。Ｎ個の乗算回路２０1〜２０Nは、ラッチ回路４１から出力されたＮ本の画像信号にそれぞれ補正係数Ｃ1〜ＣNを乗算して調整信号を生成し、出力回路４２へ並列に出力する。そして、出力回路４２は、調整信号の階調値に基づいてＮ本のデータ信号を発生し、データ電極Ｄ1〜ＤNに供給することとなる。
＜第２の実施例＞
次に、本発明に係る第２の実施例について説明する。図１３は、第２の実施例の画像表示装置１Ｃの構成を概略的に示すブロック図である。この画像表示装置１Ｃは、信号処理部１０、タイミングジェネレータ１１、階調調整部１２Ｃ、電源回路１３、データ電極駆動部１５、走査電極駆動部１６、鋸波信号生成部１７および有機ＥＬパネル（表示パネル）１８Ｃを備えている。図１３中、図１に示した符号と同一符号が付された構成要素は、上記第１の実施例の構成要素と同一構成および同一機能を有するものとして、その詳細な説明を省略する。
有機ＥＬパネル１８Ｃは、表示セルＣ1,1〜ＣM,Nとともに基板上に形成されている監視用セルＣｓを除いて、上記第１の実施例の有機ＥＬパネル１８と略同一構成を有している。監視用セルＣｓは単数または複数の監視用発光素子を備えたものである。図１４に、監視用セルＣｓの等価回路の一例を概略的に示す。この監視用セルＣｓは、有機ＥＬパネル１８Ｃを駆動する期間（パネル駆動期間）に亘って常時駆動される１個の有機ＥＬ素子３４からなり、この有機ＥＬ素子３４のアノード（陽極）には電源電位ＶDDが与えられ、カソード（陰極）には検出回路３５を介して参照電位が与えられる。検出回路３５は、有機ＥＬ素子３４を流れる駆動電流を検出し、その検出結果である監視信号Ｉｓを出力する。
階調調整部１２Ｃは、乗算回路２０，制御部２３Ｃ，テーブルメモリ２２，駆動時間計測部２１および信号測定部２４を備えている。制御部２３Ｃは、階調制御部２３１および補正係数算出部２３２を備えており、階調制御部２３１の動作は、上記第１の実施例の階調制御部２３１（図１）の動作と同じである。すなわち、階調制御部２３１は、入力する画像信号ＩＤKに対応する表示セルの素子駆動時間ＴKを駆動時間計測部２１から取得し、当該素子駆動時間ＴKに対応する補正係数ＣKをテーブルメモリ２２から取得しこれを乗算回路２０に与えるという階調制御処理を実行する。
信号測定部２４は、監視用セルＣｓから供給される監視信号Ｉｓから、監視用発光素子を流れる駆動電流を測定し、その測定値を補正係数算出部２３２に与える。補正係数算出部２３２は、信号測定部２４から与えられた測定値に基づいて所定周期毎に各表示セルの補正係数を算出し、テーブルメモリ２２の記憶内容を、新たに算出した補正係数へ更新する補正係数算出処理を実行するブロックである。以下、図１５のフローチャートを参照しつつ、第１の補正係数算出処理を説明する。
まず、補正係数算出部２３２は、パネル駆動時間が所定時間経過してＴ1になった時点で、信号測定部２４から監視信号Ｉｓの測定値Ｉ、すなわち監視用発光素子を駆動する電流量Ｉを取得し（ステップＳ１１）、その後、所定の基準値Ｉ0と測定された電流量Ｉとの差分値ΔＩ（＝Ｉ0−Ｉ）を監視用発光素子の劣化量として算出する（ステップＳ１２）。ここで、基準値Ｉ0としては、監視用発光素子に対する駆動を開始した時点の初期の駆動電流量を採用すればよい。図１６に、パネル駆動時間に対応する駆動電流のグラフを示す。このグラフ中、測定曲線は、監視信号Ｉｓの測定値（駆動電流量Ｉ）をプロットしたものであり、駆動電流量Ｉは、パネル駆動時間の経過とともに初期値Ｉ0を始点として次第に減少する。
次に、補正係数算出部２３２は、セル番号Ｍを初期値（＝１）に設定し（ステップＳ１３）、その後、内部メモリ（図示せず）に記憶されている劣化率テーブル（図１７）を参照してＭ番目表示セルの劣化率αMを算出する（ステップＳ１４）。具体的には、補正係数算出部２３２は、基準値Ｉ0に対する劣化量ΔＩの比率ΔＩ／Ｉ0を算出し、劣化率テーブルを参照してこの比率ΔＩ／Ｉ0に対応する劣化率αMを算出することができる。劣化率テーブルは各表示セル毎に用意されており、図１７に例示される変換曲線に従って比率ΔＩ／Ｉ0に対応する劣化率αMが算出される。図１７に示す例では、変換曲線として傾きＲ0（＝１）の直線が採用されている。
次のステップＳ１５では、補正係数算出部２３２は、劣化率αMを用いてＭ番目表示セルの補正係数CMを算出する。具体的には、ＣM＝Ｃ0×（１＋αM）、の式に従って補正係数ＣMを算出すればよい。ここで、係数Ｃ0は、素子駆動時間がゼロの時点での初期値であり、「１」の値に設定することができる。補正係数ＣMは、駆動電流値Ｉの減少率ΔＩ／Ｉ0に応じた補正係数の補正量ΔＣ（＝Ｃ0×αM）を初期値Ｃ0に加えたものである。
次のステップＳ１６では、補正係数算出部２３２は、パネル駆動時間Ｔ1に対応したＭ番目表示セルの補正係数ＣMをテーブルメモリ２２に書き込むことでテーブルメモリ２２の記憶内容を更新する。その後、ステップＳ１７で、補正係数算出部２３２は、全ての表示セルについて補正係数ＣMを算出したか否かを判定する。全ての表示セルについて補正係数の算出処理が終了していない場合は、補正係数算出部２３２は、セル番号Ｍをインクリメントした後（ステップＳ１８）、Ｍ＋１番目表示セルについてステップＳ１４以後の処理を繰り返し実行する。他方、上記ステップＳ１７で全ての表示セルについて補正係数の算出処理が終了したと判定された場合は、補正係数算出処理は終了する。なお、以上の補正係数算出処理は、パネル駆動時間が所定時間経過するたびに繰り返し実行される。Ｍ番目表示セルに関して、図１６のグラフに、素子駆動時間ＴMに対応する補正係数ＣMをプロットした算出曲線を例示する。上記の補正係数算出処理によって、駆動電流の測定曲線から補正係数ＣMの算出曲線を得ることができる。
以上の通り、監視用発光素子は、有機ＥＬパネル１８Ｃの駆動期間中は常時駆動されるため、常時駆動されない表示セルの有機ＥＬ素子に先行して劣化する。補正係数算出部２３２は、このような監視用発光素子の劣化状態を反映した補正係数を所定周期毎に算出し、これをパネル駆動時間に対応させてテーブルメモリ２２に書き込む。このため、表示セルにおける有機ＥＬ素子の劣化に先行して補正係数を生成しこれらをテーブルメモリ２２に書き込むことができる。
また、監視用発光素子は、他の有機ＥＬ素子とともに有機ＥＬパネル１８Ｃ内に形成されており、使用時の環境温度など、他の有機ＥＬ素子の駆動条件と似た条件下で駆動される。補正係数算出部２３２は、このような条件下の監視用発光素子の劣化状態を反映した補正係数を算出するため、有機ＥＬ素子の特性劣化に対する補償精度の向上が可能となる。
次に、図１８のフローチャートを参照しつつ、第２の補正係数算出処理を説明する。まず、補正係数算出部２３２は、パネル駆動時間が所定時間経過してＴ2になった時点で、信号測定部２４から監視信号Ｉｓの測定値Ｉ、すなわち監視用発光素子を駆動する電流量Ｉを取得し（ステップＳ２０）、その後、所定の予測値ＩPREと測定された電流量Ｉとの差分値ΔＩ’（＝ＩPRE−Ｉ）を監視用発光素子の劣化量として算出する（ステップＳ２１）。ここで、予測値ＩPREとしては、画像表示装置１Ｃの製作前の検査で得られた監視用発光素子の駆動電流量を採用すればよい。図１６に、パネル駆動時間に対応する予測値ＩPREをプロットした予測曲線を示す。この予測曲線によれば、予測値ＩPREは、初期値Ｉ0を始点としてパネル駆動時間の経過とともに次第に減少する。
次に、補正係数算出部２３２は、セル番号Ｍを初期値（＝１）に設定し（ステップＳ２２）、その後、内部メモリ（図示せず）を参照してＭ番目表示セルの補正係数の予測値ＣPREを取得する（ステップＳ２３）。ここで、予測値ＣPREとしては、画像表示装置１Ｃの製作前に検査で得られた補正係数を採用すればよい。図１６に、素子駆動時間ＴMに対応する補正係数の予測値ＣPREをプロットした予測曲線を示す。この予測曲線によれば、予測値ＣPREは、初期値Ｃ0を始点として素子駆動時間の経過とともに次第に上昇する。
次のステップＳ２４では、補正係数算出部２３２は、内部メモリ（図示せず）に記憶されている劣化率テーブル（図１７）を参照してＭ番目表示セルの劣化率αMを算出する（ステップＳ２４）。具体的には、補正係数算出部２３２は、予測値ＩPREに対する劣化量ΔＩ’の比率ΔＩ’／ＩPREを算出し、劣化率テーブルを参照してこの比率ΔＩ’／ＩPREに対応する劣化率αMを算出する。劣化率テーブルは各表示セル毎に用意されており、図１７に例示される変換曲線に従って比率ΔＩ’／ＩPREに対応する劣化率αMが算出される。
次のステップＳ２５では、補正係数算出部２３２は、劣化率αMを用いてＭ番目表示セルの補正係数CMを算出する。具体的には、ＣM＝ＣPRE×（１＋αM）、の式を用いて補正係数ＣMを算出すればよい。補正係数ＣMは、駆動電流値Ｉの減少率ΔＩ’／ＩPREに応じた補正係数の補正量ΔＣ’（＝ＣPRE×αM）を予測値ＣPREに加えたものである。
次のステップＳ２６では、補正係数算出部２３２は、Ｍ番目表示セルの補正係数ＣMをテーブルメモリ２２に書き込むことでテーブルメモリ２２の記憶内容を更新する。その後、ステップＳ２７で、補正係数算出部２３２は、全ての表示セルについて補正係数ＣMを算出したか否かを判定する。全ての表示セルについて補正係数の算出処理が終了していない場合は、補正係数算出部２３２は、セル番号Ｍをインクリメントした後（ステップＳ２８）、Ｍ＋１番目表示セルについてステップＳ２３以後の処理を繰り返し実行する。他方、上記ステップＳ２７で全ての表示セルについて補正係数の算出処理が終了したと判定された場合は、補正係数算出処理は終了する。なお、以上の第２の補正係数算出処理は、パネル駆動時間が所定時間経過するたびに繰り返し実行される。
以上の第２の補正係数算出処理によれば、上記第１の補正係数算出処理と同様に、表示セルにおける有機ＥＬ素子の劣化率を未来予測して補正係数を生成しテーブルメモリ２２に書き込むことができる。さらに、駆動電流の予測値ＩPREと補正係数の予測値ＣPREに基づいて補正係数ＣMを算出するため、補正係数ＣMの予測精度の向上が可能となる。
以上、第２の実施例の画像表示装置１Ｃについて説明した。本実施例ではデータ電極駆動部１５に入力する前の画像信号ＩＤKの階調を調整しているが、上記第１の実施例の変形例（図１２）と同様に、データ電極駆動部１５に入力した後の画像信号の階調を調整するように上記第２の実施例の構成を変形することも可能である。
＜第３の実施例＞
次に、本発明に係る第３の実施例について説明する。図１９は、第３の実施例の画像表示装置１Ｄの構成を概略的に示すブロック図である。この画像表示装置１Ｄは、信号処理部１０、タイミングジェネレータ１１、階調調整部１２Ｄ、電源回路１３、データ電極駆動部１５、走査電極駆動部１６、鋸波信号生成部１７および有機ＥＬパネル（表示パネル）１８Ｃを備えている。図１９中、図１３に示した符号と同一符号が付された構成要素は、上記第２の実施例の構成要素と同一構成および同一機能を有するものとして、その詳細な説明を省略する。
階調調整部１２Ｄは、乗算回路２０、制御部２３Ｄ、テーブルメモリ２２、駆動時間計測部２１および信号測定部２４を備えている。制御部２３Ｄは、階調制御部２３１Ｄおよび補正係数算出部２３２Ｄからなり、階調制御部２３１Ｄは、駆動時間計測部２１Ｄからパネル駆動時間Ｔを取得し、取得したパネル駆動時間Ｔに対応する補正係数ＣKをテーブルメモリ２２から取得しこれを乗算回路２０に与えるという階調制御処理を実行する。この階調制御処理の手順は、上記第１の実施例の階調制御処理の手順（図８）と略同じである。但し、本実施例では、ステップＳ２（図８）で素子駆動時間ＴKの代わりにパネル駆動時間Ｔが取得され、ステップＳ３ではパネル駆動時間Ｔに対応する補正係数ＣMが取得される。このような階調制御処理により、図９〜図１１に示したような調整処理が実行される。
駆動時間計測部２１Ｄは、タイミングジェネレータ１１から与えられるクロック信号を用いて、有機ＥＬパネル１８Ｃの駆動時間の累計（パネル駆動時間）Ｔを計数し、その計数結果を制御部２３Ｄに供給している。
補正係数算出部２３２Ｄは、表示セルＣ1,1〜ＣM,Nの有機ＥＬ素子の平均発光時間がパネル駆動時間Ｔに占める割合を平均点灯率ＲAVEとして予め記憶している。この「平均発光時間」は、表示セルＣ1,1〜ＣM,N内の有機ＥＬ素子の累積駆動時間の予測平均値を意味する。たとえば、有機ＥＬ素子の平均点灯率ＲAVEを７０％に設定することが可能である。補正係数算出部２３２Ｄは、この平均点灯率ＲAVEと監視信号の測定値Ｉｓとを用いて所定周期毎に補正係数を算出し、テーブルメモリ２２に記憶させるという補正係数算出処理を実行する。以下、図２０のフローチャートを参照しつつ、補正係数算出処理を詳説する。
まず、ステップＳ３０では、補正係数算出部２３２Ｄは、有機ＥＬパネル１８Ｃの駆動開始とともに内蔵タイマー（図示せず）をリセットする。この結果、内蔵タイマーの計数値は初期値にリセットされる。次いで、ステップＳ３１で、補正係数算出部２３２Ｄは、内部レジスタ（図示せず）に記憶されている所定値と内蔵タイマーの計数値とを比較することにより、所定時間が経過したか否かを判定する。計数値が所定値を経過していないと判定したとき、補正係数算出部２３２Ｄは、さらに、処理を終了すべきか否かを判定する（ステップＳ３２）。処理を終了すべきと判定されたときは、以上の補正係数算出処理は終了する一方、処理を終了すべきと判定されないときは、ステップＳ３１に処理が戻る。内蔵タイマーの計数値が内蔵レジスタの値に達したとき、ステップＳ３１で補正係数算出部２３２Ｄは所定時間が経過したと判定し、ステップＳ３３〜Ｓ３９の処理を実行する。
ステップＳ３３では、補正係数算出部２３２Ｄは、信号測定部２４から監視信号Ｉｓの測定値Ｉ、すなわち監視用発光素子を駆動する電流量Ｉを取得し（ステップＳ３３）、その後、所定の基準値Ｉ0と測定された電流量Ｉとの差分値ΔＩ（＝Ｉ0−Ｉ）を監視用発光素子の劣化量として算出する（ステップＳ３４）。ここで、基準値Ｉ0としては、監視用発光素子に対する駆動を開始した時点の初期の駆動電流量を採用すればよい。図２１に、パネル駆動時間に対応する駆動電流のグラフを示す。このグラフ中、測定曲線は、監視信号Ｉｓの測定値（駆動電流量Ｉ）をプロットしたものであり、駆動電流量Ｉは、パネル駆動時間の経過とともに初期値Ｉ0を始点として次第に減少する。
次に、補正係数算出部２３２Ｄは、平均点灯率ＲAVEを用いて有機ＥＬ素子の劣化量ΔＩ1を算出し（ステップＳ３５）、続けて、内部メモリ（図示せず）に記憶されている劣化率テーブルを参照し、劣化量ΔＩ1を用いて有機ＥＬ素子の劣化率αを算出する（ステップＳ３６）。具体的には、劣化量ΔＩ1として、ステップＳ３４で算出された監視用発光素子の劣化量ΔＩに平均点灯率ＲAVEを乗算して得た値（＝ΔＩ×ＲAVE）を採用することができる。補正係数算出部２３２は、基準値Ｉ0に対する劣化量ΔＩの比率ΔＩ／Ｉ0を算出し、劣化率テーブル（図２２）を参照してこの比率ΔＩ／Ｉ0に対応する劣化率αを算出することができる。図２２に例示される変換曲線に従って比率ΔＩ／Ｉ0に対応する劣化率αが算出される。ここで、変換曲線としては傾きＲ0（＝１）の直線が採用されている。このように、平均点灯率ＲAVEを用いることで、常時駆動される監視用発光素子の劣化量ΔＩから、表示セルにおける有機ＥＬ素子の現在の劣化量ΔＩ1と劣化率αを予測することができる。
次に、補正係数算出部２３２Ｄは、劣化率αを用いて補正係数Ｃ（＝ＣM）を算出し（ステップＳ３７）、この補正係数Ｃをテーブルメモリ２２に記憶させてテーブルメモリ２２の記憶内容を更新する（ステップＳ３８）。具体的には、Ｃ＝Ｃ0×（１＋α）、の式に従って補正係数Ｃを算出すればよい。補正係数Ｃは、駆動電流値Ｉの減少率ΔＩ／Ｉ0に応じた補正係数の補正量ΔＣ（＝Ｃ0×α）を初期値Ｃ0に加えたものである。その後、内蔵タイマーがリセットされ（ステップＳ３９）、ステップＳ３２に処理が移行する。
監視用発光素子は、有機ＥＬパネル１８Ｃの駆動期間中は常時駆動されるため、常時駆動されない表示セルＣ1,1〜ＣM,Nの有機ＥＬ素子に先行して劣化する。補正係数算出部２３２Ｄは、このような監視用発光素子の劣化量ΔＩと平均点灯率ＲAVEとを用いて、有機ＥＬ素子の現在の劣化量ΔＩ1を予測する。図２１を参照すると、パネル駆動時間ＴがＴ2のときに補正係数Ｃが算出されたとすれば、この補正係数Ｃは、表示セルの有機ＥＬ素子の現在の素子駆動時間Ｔ1に対応するものとなる。
なお、上記の補正係数算出処理では、監視用発光素子の劣化量ΔＩとして初期値Ｉ0と測定値Ｉとの差分値を用いたが、この代わりに、図２１に例示するように、予測曲線上の駆動電流の予測値ＩPREと測定値Ｉとの差分値ΔＩ’（＝ＩPRE−Ｉ）を監視用発光素子の劣化量として算出し、劣化率ΔＩ’／ＩPREを算出してもよい。さらに、補正係数の予測曲線上の予測値ＣPREを用意しておけば、この予測値ＣPREを用いて補正係数Ｃ（＝ＣPRE×（１＋α））を算出することが可能である。
以上の通り、第３の実施例によれば、監視用発光素子は、有機ＥＬパネル１８Ｃの駆動期間中は常時駆動されるため、常時駆動されない表示セルの有機ＥＬ素子に先行して劣化する。補正係数算出部２３２は、このような監視用発光素子の劣化量ΔＩ，ΔＩ’と平均点灯率ＲAVEとを用いて、表示セルの有機ＥＬ素子の現在の劣化率αを予測して補正係数を生成するため、有機ＥＬ素子の劣化を精度良く補償することができる。
以上、本発明に係る種々の実施例について説明した。上記第１〜第３の実施例では、有機ＥＬパネル１８，１８Ｂ，１８Ｃに形成されている有機ＥＬ素子はいずれも定電圧駆動されるものであるが、有機ＥＬ素子を定電流駆動するように上記実施例の構成を変形することができる。たとえば、上記第２の実施例において、監視用セルＣｓと表示セルＣ1,1〜ＣM,Nを発光素子を定電流駆動する構成に代え、信号測定部２４を監視用発光素子の駆動電圧を測定するものに代え、補正係数算出部２３２の機能をパネル駆動時間の経過とともに上昇する駆動電圧に合わせて補正係数を算出するものに代えればよい。
本発明に係る第１の実施例の画像表示装置の構成を概略的に示すブロック図である。 有機ＥＬパネル内の表示セルの等価回路の一例を概略的に示す図である。 ８ビットの画像信号の階調値の一例を示すグラフである。 表示セルを駆動したときの各種信号波形を概略的に示すタイミングチャートである。 有機ＥＬ素子の駆動時間の累計（素子駆動時間）と駆動電流との対応を例示するグラフである。 パネル駆動時間と素子駆動時間との対応を例示するグラフである。 テーブルメモリの記憶内容を概略的に示すグラフである。 階調制御処理の手順を概略的に示すフローチャートである。 ９ビットの調整信号の階調値の一例を示すグラフである。 表示セルを駆動したときの各種信号波形を概略的に示すタイミングチャートである。 補間処理を説明するためのグラフである。 第１の実施例の変形例の画像表示装置の構成を概略的に示すブロック図である。 本発明に係る第２の実施例の画像表示装置の構成を概略的に示すブロック図である。 監視用セルの等価回路の一例を概略的に示す図である。 第１の補正係数算出処理の手順を概略的に示すフローチャートである。 パネル駆動時間に対応する駆動電流と素子駆動時間に対応する補正係数とを示すグラフである。 劣化率テーブルの内容を例示するグラフである。 第２の補正係数算出処理の手順を概略的に示すフローチャートである。 本発明に係る第３の実施例の画像表示装置の構成を概略的に示すブロック図である。 補正係数算出処理の手順を概略的に示すフローチャートである。 パネル駆動時間に対応する駆動電流と素子駆動時間に対応する補正係数とを示すグラフである。 劣化率テーブルの内容を例示するグラフである。
符号の説明
１Ａ〜１Ｄ 画像表示装置
１０ 信号処理部
１２，１２Ｂ，１２Ｃ，１２Ｄ 階調調整部
１５ データ電極駆動部
１６ 走査電極駆動部
１７ 鋸波信号生成部
１８，１８Ｃ 有機ＥＬパネル（表示パネル）
２０，２０1〜２０N 乗算回路２０
２１ 駆動時間計測部
２１ａ 計測メモリ
２２ テーブルメモリ
２３，２３Ｂ，２３Ｃ，２３Ｄ 制御部
２３１，２３１Ｂ，２３１Ｄ 階調制御部
２３２，２３２Ｄ 補正係数算出部
２４ 信号測定部

Claims (14)

  1. 入力した画像信号に応じて表示パネルを駆動して発光させる画像表示装置であって、
    各々が少なくとも１つの発光素子を有する複数の表示セルを配列してなる表示パネルと、
    前記画像信号の階調値に応じたデータ信号を生成し各前記表示セルに与えて前記発光素子を発光せしめる駆動部と、
    前記発光素子の累計駆動時間を計数する駆動時間計測部と、
    前記発光素子の累計駆動時間に応じた前記発光素子の経時変化を補正するための補正係数を記憶するテーブルメモリと、
    前記テーブルメモリから与えられた前記補正係数を用いて前記画像信号の階調値を前記表示セル単位で調整する調整回路と、
    を備えることを特徴とする画像表示装置。
  2. 請求項１記載の画像表示装置であって、前記テーブルメモリから前記補正係数を取得して前記調整回路に与える階調制御部をさらに備え、
    前記駆動時間計測部は、前記画像信号の画素データの階調値を用いて単数または複数の前記表示セル毎に前記発光素子の累計駆動時間を計数し、
    前記階調制御部は、前記発光素子の累計駆動時間を前記駆動時間計測部から取得するとともに当該発光素子の累計駆動時間に対応する前記補正係数の１つを前記テーブルメモリから取得し前記調整回路に与えることを特徴とする画像表示装置。
  3. 請求項２記載の画像表示装置であって、前記階調制御部は、前記補正係数の少なくとも２つを用いて、前記駆動時間計測部から取得した前記累計駆動時間に対応する補間補正係数を得ることを特徴とする画像表示装置。
  4. 請求項１から請求項３のうちのいずれか１項に記載の画像表示装置であって、
    前記表示パネルの基板上に形成され駆動電流の供給を受けて発光する単数または複数の監視用発光素子と、
    前記監視用発光素子の現在状態を示す監視信号を測定する信号測定部と、
    前記監視信号に基づいて所定周期毎に前記補正係数を算出し前記テーブルメモリに記憶させる補正係数算出部と、
    をさらに備えることを特徴とする画像表示装置。
  5. 請求項４記載の画像表示装置であって、前記補正係数算出部は、前記監視信号の測定値と所定の基準値との差分値を算出し、前記基準値に対する前記差分値の比率に比例する値を前記発光素子の劣化率として算出し、且つ当該劣化率を用いて前記補正係数を算出することを特徴とする画像表示装置。
  6. 請求項４記載の画像表示装置であって、前記補正係数算出部は、前記監視信号の測定値と所定の予測値との差分値を算出し、前記予測値に対する前記差分値の比率に比例する値を前記発光素子の劣化率として算出し、且つ当該劣化率を用いて前記補正係数を算出することを特徴とする画像表示装置。
  7. 請求項５または請求項６記載の画像表示装置であって、前記監視用発光素子は、前記表示パネルの駆動期間中に常時発光するように駆動され、前記駆動時間計測部は、前記表示パネルの累計駆動時間を計数し、前記補正係数算出部は、当該表示パネルの累計駆動時間に対応する値として前記補正係数を前記テーブルメモリに記憶させることを特徴とする画像表示装置。
  8. 入力した画像信号に応じて表示パネルを駆動して発光させる画像表示装置であって、
    各々が少なくとも１つの発光素子を有する複数の表示セルを配列してなる表示パネルと、
    前記画像信号の階調値に応じたデータ信号を生成し各前記表示セルに与えて前記発光素子を発光せしめる駆動部と、
    前記表示パネルの累計駆動時間を計数する駆動時間計測部と、
    前記表示パネルの累計駆動時間に応じた前記発光素子の経時変化を補正するための補正係数を記憶するテーブルメモリと、
    前記テーブルメモリから与えられた前記補正係数を用いて前記画像信号の階調値を前記表示セル単位で調整する調整回路と、
    前記表示パネル内に形成され駆動電流の供給を受けて発光する単数または複数の監視用発光素子と、
    前記監視用発光素子の現在状態を示す監視信号を測定する信号測定部と、
    前記監視信号に基づいて所定周期毎に前記補正係数を算出しこれらを前記テーブルメモリに記憶させる補正係数算出部と、
    を備えることを特徴とする画像表示装置。
  9. 請求項８記載の画像表示装置であって、
    前記補正係数算出部は、前記発光素子の平均発光時間が前記表示パネルの累計駆動時間中に占める割合を平均点灯率として予め記憶しており、
    前記監視用発光素子は、前記表示パネルの駆動期間中に常時発光するように駆動され、
    前記補正係数算出部は、前記監視信号の測定値と所定の基準値との差分値を算出し、前記基準値に対する前記差分値の比率に前記平均点灯率を乗算して前記発光素子の劣化率を算出し、且つ当該劣化率を用いて前記補正係数を算出することを特徴とする画像表示装置。
  10. 請求項８記載の画像表示装置であって、
    前記補正係数算出部は、前記発光素子の平均発光時間が前記表示パネルの累計駆動時間中に占める割合を平均点灯率として予め記憶しており、
    前記監視用発光素子は、前記表示パネルの駆動期間中に常時発光するように駆動され、
    前記補正係数算出部は、前記監視信号の測定値と所定の予測値との差分値を算出し、前記予測値に対する前記差分値の比率に前記平均点灯率を乗算して前記発光素子の劣化率を算出し、且つ当該劣化率を用いて前記補正係数を算出することを特徴とする画像表示装置。
  11. 請求項４から請求項１０のうちのいずれか１項に記載の画像表示装置であって、前記駆動部は、前記発光素子および前記監視用発光素子を定電圧で駆動することで発光させ、前記信号測定部は、前記監視用発光素子の駆動電流を前記監視信号として測定することを特徴とする画像表示装置。
  12. 請求項４から請求項１０のうちのいずれか１項に記載の画像表示装置であって、前記駆動部は、前記発光素子および前記監視用発光素子を定電流で駆動することで発光させ、前記信号測定部は、前記監視用発光素子の駆動電圧を前記監視信号として測定することを特徴とする画像表示装置。
  13. 請求項１から請求項１２のうちのいずれか１項に記載の画像表示装置であって、
    前記表示セルは、供給される印加電圧に応じて前記発光素子への駆動電流を供給または遮断する能動素子を備えており、
    前記駆動部は、前記調整回路で調整された前記画像信号の階調値に応じて前記印加電圧に異なるパルス幅を与えるように前記駆動信号を生成することを特徴とする画像表示装置。
  14. 請求項１から請求項１３のうちのいずれか１項に記載の画像表示装置であって、前記発光素子は有機ＥＬ素子からなることを特徴とする画像表示装置。
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