JP2005106831A - 光ビーム診断デバイス及び方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 1つ以上のコヒーレント光ファイバー束のセットを含む光ビーム診断デバイスを提供する。
【解決手段】 コヒーレント光ファイバー束の一方の端部はダイナミックに移動する又は静的な光ビームから光学的情報を受け入れるように配置され、コヒーレント光ファイバー束の他方の端部は、センサーアレイに光学的情報を伝送するように配置される。センサーアレイからのデータは、次いで分析システムによって同時に獲得され分析されて、光ビームの1つ以上の特性を決定することができる。
【選択図】 図1

Description

本出願は、本明細書にその全体が参考として組み込まれている2003年10月1日付の米国仮出願第60/508,173号に対する優先権を主張するものである。
本発明は、光ビーム診断、特に動的(ダイナミックに)移動する又は静止した光ビームを特徴づけするべくコヒーレント光ファイバー束を利用する光ビーム診断デバイス及び方法に関する。
C.K.カミムラ及びY.アイコ著、「高解像度LEDプリンタヘッド」OKI Technical Review, 第64巻、P61〜64,1998年8月。
Gurdon R. Abell et al.に対する米国特許第4,323,925号。
Timothy J.Pryorに対する米国特許第4,441,817号。
Steven R. Sedlmayrに対する米国特許第4,650,280号。
Cherng-Jia Hwangに対する米国特許第5,155,790号。
Takeo Sugawara, et alに対する米国特許第5,550,380号。
例えば、レーザー又はLEDプリンタ内のプリント平面上に入射する光ビームの空間的、時間的、焦点及び出力特性を特徴づけするために、ビームプロファイラ又はビーム診断計器が利用される。さらにビームプロファイラはまた、欠陥走査、バーコード走査又はその他の物理的測定のためのレーザースキャナの光ビームを特徴づけするためにも利用可能である。市販のビーム診断計器として、例えばレーザープリンタ内のものといったような動的又は移動光ビーム用の、共にPhoton, Inc.,製のBeamPro又はDynamic BeamProfilerといったものが存在する。これらの計器においては、レーザープリンタ内のレーザーヘッドの光ビームは、光学システムの焦点平面に位置づけされたCCD又はエリアセンサーを用いて直接測定される。
ビームプロファイラシステム内で利用可能な従来のビームプロファイルヘッド64の一例が、ビームプロファイルヘッド64の2つの図を示す図7で例示されている。図7に示されているように、ビームプロファイラヘッド64は、1本のラインに沿って位置づけされた複数の個々の電荷結合素子(CCD)又はその他のエリアアレイセンサー60を含んでいる。個々のセンサー60の各々は、例えばプリントヘッドの走査線から光を受け入れるように位置づけ可能なマウント62の上に取付けられている。
図8は、画像平面20内の走査線21に沿ったビーム30のラスター走査(スキャン)を例示している。かかるラスター走査は例えば、レーザープリントヘッドの光学的出力を表わす。標準的には、ビームは変調され、ビーム30が走査線21に沿ってラスター走査されるにつれて実際のビーム経路82に沿って個々のパルス80を結果としてもたらす。例示されているように、2つの問題が直ちに認められる。すなわち、湾曲(bow)と線形性である。ビーム30の湾曲は、走査線21からのビーム経路82の発散を描写している。線形性は、走査線21に沿った個々のパルス80の間隔の変動を意味する。
図7に示されているように、現行のビームプロファイルヘッドには問題がある可能性がある。例えば、ビームプロファイルヘッド64は、各々のアレイについての個々の読出し及び分析回路を各々が必要とする多数のエリアアレイ60を含んでいる。さらに、1つのフレーム内に全てのエリアアレイ60内のデータを獲得することは困難である。
さらに、各々のエリアアレイ60は、それが隣接アレイ60に対しどれほど近くにあり得るかを制限するホルダーの中に取付けられている。その結果、走査線21のどの区分をプロファイルヘッド64で監視できるかについて制限があることになる。さらに、各々の個々のアレイ60は、基板62上に取付けられている。かかる取付けのための正常な許容誤差は、基板62との関係における各アレイ60の高さの変動を結果としてもたらす。その結果、個々のアレイ60の全てが画像平面20内に存在するわけではなくなり、ビーム経路82内のビーム30の測定の変動がもたらされる結果となる。
動的ビームに加えて、LEDプリントヘッドなどにおいて静的ビームを測定するため、又はビームの静的位置づけにより欠陥スキャナといったような動的走査システム内でビームを特徴づけするためのその他の走査スリットシステムが存在する。各プロファイルは、光学的システムの焦点平面に位置づけされた走査スリットを用いて直接測定される。LEDプリンタヘッドを特徴づけするための走査スリットプロファイリング方法は、C.K.カミムラ及びY.アイコ著、「高解像度LEDプリントヘッド」OKI Technical Review, 第64巻、P61〜64、1998年8月の中で論述されている。「順序づけされた光ファイバアレイを伴う電子スキャナ又はプリンタ」という題の米国特許第5,155,790号は、複数の光導管を利用する電子スキャナ又はプリンタを開示している。さらに、光ファイバー又は光ファイバー束の応用例は、例えば、「画像センサモジュールを整列させるための方法及び装置」という題の米国特許第4,323,925号、「光ファイバー束を伴う電気−光センサー」という題の米国特許第441,817号、「光ファイバー光転送デバイス、モジュール式アセンブリ及びその製造方法」という題の米国特許第4,650,280号、及び「束になった光ファイバーを含む放射線画像検出装置」という題の米国特許第5,550,380号の中に見い出すことができる。
しかしながら、心合せが容易でかつ光ビームの完全な特徴づけのための静的又は動的ビームの同時測定を提供するビーム診断デバイスを提供することが望まれている。
本発明に従うと、プリント平面のまわりの多数の任意の位置において、走査光ビーム又は複数の光ビームを同時に測定及び特徴づけするための方法及びデバイスが開示されている。本発明の実施形態は、全てのセンサーにおけるビームの空間的プロファイル、伝播方向でのビームウエスト位置、ビームパワー、ビームの時間的プロファイル及びビーム位置を測定することができる。
本発明のいくつかの実施形態に従った光ビーム診断デバイスは、各々が複数の個々の光ファイバー束を含む1つ以上の個別のコヒーレント光ファイバー束のセットを含み、各々の個々の光ファイバー束の第1の端部は、画像形成平面のまわりの1つ以上の光ビームから光学的情報を受け入れるように位置づけされており、コヒーレント光ファイバー束の第2の端部は、個々の光ファイバー束の各々の第2の端部から提供された光を同時に検出する能力をもつ光センサーまで光学的情報を伝送するように配置されている。いくつかの実施形態においては、1つ以上のコヒーレント光ファイバー束のセットの各々は、ビームの空間的プロファイル、ビーム位置、ビームウエスト、ビームパワー及びビームの時間的プロファイルのうちの少なくとも1つを決定できるように光学的情報を伝送する。いくつかの実施形態においては、光学的情報は画像データを含む。いくつかの実施形態においては、個々の光ファイバー束のうちの1つ以上は、拡大束であってよい。
いくつかの実施形態においては、コヒーレント光ファイバー束の各セットの個々の光ファイバー束は、1つ以上の光ビームの1つ以上の特性を決定するのに充分なデータを提供するように配置可能である。いくつかの実施形態においては、コヒーレント光ファイバー束の1つ以上のセットには、各々の個々の光ファイバー束の第1の端部が画像形成平面内の1つの経路に沿って位置づけされている状態で、1組のコヒーレント光ファイバー束を含んでいる。いくつかの実施形態においては、コヒーレント光ファイバー束の1つ以上のセットには、各々の個々の光ファイバー束の第1の端部が画像形成平面内の第2の経路に沿って連続的に位置づけされている状態で、1組のコヒーレント光ファイバー束を含んでいる。いくつかの実施形態においては、コヒーレント光ファイバー束の1つ以上のセットには、各々の個々の光ファイバー束の第1の端部が第3の経路に沿って連続的に位置づけされている状態で、1組のコヒーレント光ファイバー束を含んでおり、ここで第1の端部は画像形成平面に対して深さが千鳥状とされる(staggered)。いくつかの実施形態においては、ビームウエストを決定するためにコヒーレント光ファイバー束のセットからのデータを利用することができる。第1、第2及び第3の経路は、いくつかの実施形態においては、ビームの走査線であり得る。
いくつかの実施形態においては、光ファイバー束の1つ以上のセットの個々のコヒーレント光ファイバー束の各々の第2の面は、1つのアレイ内に配置されている。いくつかの実施形態においては、エリア又はエリアアレイセンサーは、個々の光ファイバ束のセットの各々からの光を同時に検出するように結合されたCCDカメラである。いくつかの実施形態においては、エリア又はエリアアレイセンサーからデータを受け入れるように、データ獲得・制御システムを結合させることができる。
いくつかの実施形態においては、画像形成平面内の個々のコヒーレント光ファイバー束の第1の端部の近くで光を検出するように、1つ以上の個々の光センサーが位置づけされる。いくつかの実施形態においては、個々の光センサーは、ビームパワー及びビームの時間的プロファイルの測定を可能にするべく光学的情報を伝送するために、個々のコヒーレント光ファイバ束の第1の端部の平面に対して結合されている。
本発明のいくつかの実施形態に従ったビームの特徴づけ方法は、ビームから光学的情報を得るべくビームの画像形成平面の中又はそのまわりに第1の端部がくるように、個々のコヒーレント光ファイバー束の第1の端部を位置づけする段階、ビーム平面上で1つのアレイ内に個々のコヒーレント光ファイバー束の第2の端部を位置づけする段階、個々のコヒーレント光ファイバー束の第2の端部で提供された光学的情報を収集するべくエリア又はエリアアレイセンサーを具備する段階、エリア又はエリアアレイセンサーからデータ獲得・制御システム内へデータを受け入れる段階、及びビームの1つ以上の特性を提供するべくデータを分析する段階を含んでいる。いくつかの実施形態においては、ビームの1つ以上の特性には、ビームの空間的プロファイル、ビームウエスト、ビーム位置、ビームパワー及びビームの時間的プロファイルの測定のうちの少なくとも1つを含むことができる。いくつかの実施形態においては、第1の端部を位置づけする段階には、画像形成平面内の1つの経路に沿って個々のコヒーレント光ファイバー束の第1の端部を位置づけする段階が含まれる。いくつかの実施形態においては、第1の端部を位置づけする段階には、画像形成平面内の第2の経路に沿って個々のコヒーレント光ファイバー束の第1の端部を連続的に位置づけする段階が含まれる。いくつかの実施形態においては、第1の端部を位置づけする段階には、画像形成平面からさまざまな高さのところに個々のコヒーレント光ファイバー束の第1の端部を位置づけする段階が含まれる。第1の経路及び第2の経路は、いくつかの実施形態においては、各々が走査線であり得る。
これらの及びその他の実施形態について、以下で次の図を参照しながらさらに後述する。
本発明は、動的に(ダイナミックに)移動する又は静的に静止した1つ以上の光ビームの情報又は特性を得るための方法及び装置に関する。本発明の実施形態は、エリア又はエリアアレイセンサーを用いてビームをプロファイルできるような形でビームの横断面の画像又はその他の光学的情報を転送するためにコヒーレント光ファイバー束を利用することができる。ビームは、静止した光ビームであってよい。さらに、ビームは走査経路を通って動的に(ダイナミックに)走査していてもよい。さらにビームは変調され得る。本発明のいくつかの実施形態に従ったビームプロファイラシステムを利用して、これらのビームを特徴づけすることができる。
かかるセンサーを利用すると、ビームを特徴づけするためのデータを同時に得ることができる。この開示では、データは、1つ以上のラスター走査(スキャン)内の、又は露光時間中のデータの全てが捕捉された時点で同時に得られ、エリア又はエリアアレイセンサーの1フレーム内でデータ獲得−分析計器に伝送される。フレームというのは、エリア又はアレイセンサーの1つの読出しサイクルにかかる時間である。ラスターというのは、ビームが一回ビーム経路を横断しその出発位置まで戻るのに必要な時間、すなわちラスタースキャンのラスター時間である。静止したビーム内では、露出時間は、ビームに対しセンサーが露出される時間である。特に、本書で開示されている方法及び装置は、欠陥走査、バーコード走査又は物理的測定といったような利用分野のためのレーザースキャナーの走査平面、及びレーザー及びLEDプリンタ内のプリント平面に入射する光ビームの実時間での直接的な空間、時間、焦点及びパワーの特徴づけのために使用可能である。
本発明のいくつかの実施形態に従うと、光ファイバーの束は、物体からの光又は現在分析されつつあるビームが、例えば多数の点における1つ以上の光ビームの同時測定を可能にする電荷結合デバイス(CCD)カメラ、CMOS画像形成アレイ又はビジコンカメラといったようなセンサーの2次元アレイまで経路指定されるような形で配置されている。いくつかの実施形態においては、例えばプロファイル獲得のためのアレイ又はアレイセンサーに対しプリント平面において走査線に沿って分布した画像を転送するように、コヒーレント光ファイバー束アレイアセンブリが配置されている。こうして、エリア又はエリアアレイセンサー内で、プリント平面のまわりの多数の任意の場所からの1つ以上の光ビームの同時測定を行うことができる。かかるシステムにおいては、データは標準的にエリアアレイ内に統合され、データ獲得システムに対して(デジタル又はアナログのいずれかの形態で)逐次的に伝送される。コヒーレント光ファイバー束は画像平面内で任意の経路に沿って分布していてよい。
いくつかの実施形態においては、ビーム焦点位置を提供するべくビーム伝播火線(caustic)の測定を容易にし、プラテンセンサーを移動させることなくプリントプラテンについてISO規格11146で定義されている回数−回折−限界係数M2を測定するために、例えばプリンタのプリント平面に対する位置が千鳥状になった端面をもつ1組のコヒーレントファイバー束を利用することができる。
本発明のいくつかの実施形態を利用して、ビームプロファイルを測定することができる。ファイバー束の線形配置を、ビームの空間的プロファイル、ビーム位置、ビームの時間的プロファイル、伝播方向での集束されたビームウエストの位置及び絶対的及び相対的ビームパワーの測定のために利用することができる。さらに、本発明の実施形態を用いた光ビームの測定は、同時に、つまりエリア又はエリアアレイセンサーの1フレーム内で全ての位置を測定できることから、非常に高速である。さらに、光ファイバー束を保持するのに利用される光ファイバー要素の出力端上の域外コーティングが、光ファイバー束の場所を画定することができる。その上、いくつかの実施形態においては、いくつかの個々の光ファイバー束の端部にテーパをつけてそれらが拡大しているようにすることもできる。いくつかの実施形態においては、ファイバー束のセット内の個々のファイバー束を、1つ以上の光ビームを特徴づけする目的で焦点平面内又はそのまわりに任意の形態で配置することができる。いくつかの実施形態においては、ビームの1つ以上の特性についてのデータを提供するように配置された、各々が個々のコヒーレント光ファイバー束を含む複数のコヒーレントファイバ束のセットが提供される。測定可能ないくつかの特性としては、ビームプロファイル、ビーム位置、ビームパワー、ビームの時間的プロファイル及びビームウエストの測定が含まれる。ビームの特徴づけデバイスの心合せ又はその他の機能のためにいくつかの束のセットも利用可能である。
さらに、本発明のいくつかの実施形態において利用されるモノリシック構造のセンサー設計が、きわめて精確な測定技術を提供することができる。本発明のいくつかの実施形態は、可変的な積分時間及び利得制御を伴うエリア又はエリアアレイセンサーを、ビームプロファイルの画像獲得を最適化するために利用することができる。
図1は、本発明のいくつかの実施形態に従ったビームプロファイラ内で利用可能な個々のファイバー束のセット1を例示している。図1に示されたセット1は、各々が第1の端部2と第2の端部3をもつ複数の個々のコヒーレント光ファイバー束を含む。第1の端部2にあるセット1の各ファイバー束は、平面20内で走査線21に沿って光ビームを受け入れるように位置づけすることができる。第2の端部3にあるセット1の各ファイバー束は、平面22内のエリアアレイ4に光を転送するように配置されうる。セット1の中には任意の数の個々のファイバー束が存在し得る。一般に、第1の端部2にある各ファイバー束1は、平面20内又はそのまわりに任意のパターンで又は任意の経路に沿って位置づけ可能である。
多数の個々のファイバーから、個々の各ファイバー束を形成することができる。各々の個々のファイバーは、例えば約5又は6μmの横断面を有することができる。個々の光ファイバー束は数ミリメートルの横断面を有することができる。個々の光ファイバー束が画像データを伝送する実施形態においては、個々のファイバー束内の個々のファイバーは、第1の端部2から第2の端部3まで適切に光を伝送するように束の中で配置されている。
セット1内の個々の光ファイバー束は、あらゆる横断面形状を有することができる。正方形又は矩形であり得る実施形態もあれば、円形又は卵形であり得る実施形態もある。いくつかの実施形態では、個々の光ファイバー束は拡大していてよい。拡大している個々の光ファイバー束の横断面は、第1の端部2で狭められる。いくつかの実施形態においては、個々のコヒーレント光ファイバー束は、平面20上で近接集束され得る。
いくつかの実施形態においては、セット1内の個々の光ファイバー束は、その第1の端部2が平面20内の走査線21に沿った任意の位置に配置されるような形で、配置可能である。平面22における第2の端部3での表面は、エリアアレイ4内に配置されている。図示されているファイバー束の数及び第1の端部2及び第2の端部3の配置は任意である。しかしながら、いくつかの実施形態においては、走査線21上の第1の端部2における個々の光ファイバー束の位置と第2の端部3におけるアレイ内のその束の位置との間には既知の対応性が存在し、かくして、平面20内の走査線21上の位置との関係において入射ビームの分析を行なうことができるようになっている。いくつかの実施形態においては、走査線21は、光ビームを走査できる平面20内の任意の経路であり得る。
図1に示されているように、光ファイバー束1は、平面20内のライン21に沿って任意の間隔に置くことができる。いくつかの実施形態においては、第1の端部2での光ファイバー束1を、ライン21に沿って均等に間隔どりすることができる。ライン21に沿ってあらゆる間隔どりのパターンを利用することが可能である。また図1に示されているように、光ファイバー束1内の各々のファイバー束は第2の端部3で2次元アレイ内に位置づけされる。このとき、光ファイバー束1内の各々のファイバー束からの光を、平面22で受光するように位置づけされたエリア又はエリアアレイセンサー(例えば電荷結合デバイスCCDカメラ、CMOSアレイ又はビジコンカメラ)によって同時に読取ることができる。こうして、エリア又はエリアアレイセンサーに結合されたコンピュータ又は分析システムが、分析のために単一フレーム内で光ファイバー束1内の各光ファイバー束からのデータを受け入れることができる。
図2は、走査線21に沿って連続的にカバーするように配置されたコヒーレント光ファイバー束のセット5を伴う実施形態を示している。セット5の個々の光ファイバー束の第1の端部2は、走査線21を連続的にカバーするように整形され配置され得る。ここでも又、個々のファイバー束の第2の端部3は、光ファイバー束5の第2の端部3に近接したエリアアレイセンサーの位置に対して光学的画像を伝送するように配置されている。図2に示されている光ファイバー束5の配置においては、コヒーレント光ファイバー束の各々は矩形横断面をもち、第1の端部2での表面は平面20内のライン21に沿って連続的にカバーするように配置されており、平面22における第2の端部3での表面は、エリアアレイ4内で任意に配置されている。いくつかの実施形態においては、コヒーレントファイバー束5内の各ファイバー束は、平面22上の矩形領域に連続的に広がるように配置可能である。図示されているファイバー束の数及び各端面の配置は任意である。
図3(A)は、本発明のいくつかの実施形態に従ったビーム分析装置6の一実施形態を示している。ビーム分析装置6は例えばプリントプラテンビーム診断ユニットであり得る。図3(A)は、図1に示されたセット1の使用を例示しているが、ビーム分析装置6内で個々の光ファイバー束の任意の1つ以上のセットを利用することが可能である。コヒーレント光ファイバー束を収納し保持するコヒーレント光ファイバー画像形成モジュール8をプリント平面20に沿って位置づけし、第2の端部3でのファイバー端面への入射ビーム30からのビーム画像を平面22に転送することが可能である。いくつかの実施形態においては、レーザープリンタ内のトナーカートリッジを交換して、平面20を分析中のプリンタヘッドに対して適切に位置づけするように、ビーム分析装置を形成することができる。平面22から、第2の端部3での個々の光ファイバー束の各々からのビームを、ファイバーフェースプレート10内のレンズ又は近接集束光ファイバー要素を用いてエリア又はエリアアレイセンサー11に結合させることができる。いくつかの実施形態においては、ファイバーフェースプレート10は、ビーム増強装置を含むこともできる。エリア又はエリアアレイセンサー11は、平面22における各光ファイバー束から受け入れた光の強度に関する電気信号をデータ獲得−制御システム12に提供する。データ獲得−制御システム12は次に、プロファイル測定を得るためエリア又はエリアアレイセンサー11から受け入れた電気データを編集し分析する。
図3(B)は、走査線21に沿ったセット1の個々のファイバー束の第1の端部2の位置づけを例示する。図3(B)では1本のラインとして示されているものの、走査線21は、任意の有利な走査であり得る。セット1の個々のファイバー束は、例えばエポキシによってホルダー50内に固定可能である。いくつかの実施形態においては、第1の端部2が所定の場所に固定されているホルダー50を研磨して平面20を提供することができる。このようにすると、各々の個々のファイバー束の第1の端部2は平面20内にある。
図3(C)は、アレイセンサー11上へのセット1の個々のファイバー束のマッピングを例示している。いくつかの実施形態においては、エリアアレイセンサー11はCCDアレイ、CMOSアレイ又はビジコンカメラであり得る。又、いくつかの実施形態においては、例えばCCDアレイは約4又は5μmの画素サイズを有することができる。図3(C)を見ればわかるように、アレイセンサー11の表面を非常に効率良く使用することが可能である。
いくつかの実施形態においては、各々の個々の光ファイバー束の横断面は、走査線21に沿ってラスター走査されるとき、ビーム30の幅の約3倍以上である。さらに、個々の光ファイバー束内の各ファイバーは、例えば約4又は5μmといったようにエリアセンサー11内の画素サイズとほぼ一致したサイズを有する。いくつかの実施形態においては、各々の個々のファイバー束の開口数(NA)は、約0.5又は0.6以上であり得る。標準的には、プリンタヘッド内で、ビームは上死点で画像形成表面20に対し垂直であり、走査内のその他の場所では画像形成表面20に対して垂直でない入射角でファイバーに入る。各々の個々のファイバー束のNAは、ラスター走査内で垂直でない入射ビームを収集するのに充分高いものである。
図3(A)で例示されているように、エリア又はエリアアレイセンサー11は、利用されている光ファイバー束のアレイ内の各々の光ファイバー束から、いくつかの実施形態においては1つの画像でありうる光学的出力を同時に測定する。従って、エリアアレイセンサー11からの各々の電気信号が個々の光ファイバー束のうちの1つからのデータに対応する。このとき、データ獲得−制御システム12が、エリア又はエリアアレイセンサー11からのデータを平面20上の1つの位置と相関し、ビーム30の正確かつきわめて高速の分析を可能にすることができる。
いくつかの実施形態においては、データ獲得−制御システム12はコンピュータシステムであり得る。例えば、データ獲得−制御システム12はエリア又はエリアアレイセンサー11から受け入れたデータを分析するために1つのプログラムを動作させるPCベースのコンピュータシステムであり得る。制御システム12内で実行される分析プログラムは、平面20内の第1の端部2又は平面22内の第2の端部3の心合せずれについてデータを補正するための補正ソフトウェアを含むことができ、結果としてエリアアレイ11上への画像のスキューマッピングがもたらされる。このような回転及び並進運動は、既知の光ビーム又は既知のプリンタヘッドで各分析装置6を較正することによって決定できる。さらにデータを、各ファイバー束の個々のファイバー内の不一致について補正することも可能である。さらに、個々のファイバー束の各セットは、ビーム30の1つ以上の特性の決定のためのデータを提供する。このような場合、分析装置12はまた、エリアセンサー11から受け入れたデータからのこれらの特性の決定のためのソフトウェアをも動作させる。
図4は、表面15における転送済み画像及び第1の端部14で異なる高さにおける個々のビームのためのセグメントを伴うセグメント化された個々のコヒーレント光ファイバー束要素13を含んで成るビームウエスト位置センサーの1実施形態を例示する。回数−回折−限界係数M2又はビーム伝播係数kの測定には、標準的にビーム30の伝播経路に沿ったさまざまな場所でのビーム幅の多数の測定が必要である。図4は、伝播方向に沿ったビーム30の横断面を示している。いくつかの実施形態においては、セット13の個々のファイバー束の第1の表面14は、ビーム30の伝播に沿った5回の測定を可能にする。いくつかの実施形態においては、セット13にはさらに、第1の端部34を伴う個々のファイバー束が含まれうる。ISO規格11146に従って、M2は、最小ビームウエストの約1レイリー長(Rayleigh length)以内でのビーム直径の5回の測定、及び最小ビームウエストから約2レイリー長以上の距離において行なわれたビーム直径のさらに5回の測定によって決定される。セット13は、第1の端部14における測定を可能にし、いくつかの実施形態においては、第1の端部34における測定を可能にする。M2の精密な測定は、ビーム30のウエストの測定による画像平面20におけるビーム30の焦点の決定を提供する。いくつかの実施形態においては、図4に示されているようなコヒーレント光ファイバー束13を利用したM2の測定は、ISO規格11146の精神と適合している。
図5は、プリント平面20に沿って位置づけされたコヒーレント光ファイバー画像形成モジュール8を含むプリントプラテンビーム診断ユニット6を伴う実施形態を示している。図5に示されたビーム診断ユニット6は個々のファイバー束のいくつかのセットを含む。前述したように、画像形成モジュール8は、本発明の実施形態に従って位置づけされた光ファイバー束のセットを含む。上述の通り、入射ビーム30からのビーム画像は、平面22において第2のファイバー端面3に転送され、ファイバーフェースプレート10内のレンズ又は近接集束光ファイバー要素を用いてエリアアレイセンサー11に結合される。エリアアレイセンサー11からのデータは、データ獲得−センサー制御システム12内で受け入れられ、このシステムが受け入れたデータに基づいてビームプロファイルを特徴づけする。
いくつかの実施形態においては、光ファイバー画像形成モジュール8は、第1の端部が画像平面20の走査線21に沿って位置づけされている個々のファイバー束のセット1、及び第1の端部15が走査線21に沿ってではあるものの平面20のまわりに千鳥の状態で(staggered)位置づけされている個々のファイバー束を伴う第2のセット13を含むことができる。個々のファイバー束のさらなるセットも含まれていてよい。セット1は、例えばビームプロファイル及びビーム位置の測定のために利用可能である。セット13は、ビームウエスト及び焦点の測定のために利用可能である。いくつかの実施形態においては、走査線21との関係において診断ユニット6を位置づけするために、個々のファイバー束のセットを利用することができる。エリア又はエリアアレイセンサー11による検出のための平面22において2次元アレイ上の予め定められた位置に、各々のファイバー束を固定することができる。さらに、個々のコヒーレント光ファイバー束の各々のセットは、第1の端部が平面20内の1本のラインに沿っているような形で配置されるが、いくつかの実施形態においては、異なる実体(エンティティ)の測定に利用される光ファイバー束のセットを、平面20内の異なるラインに沿って配置することが可能である。各セット内の個々のファイバー束の第2の端部は、エリアアレイ11を利用するために配置されている。
いくつかの実施形態においては、ビームパワー及び時間プロファイルを測定するために平面20内に光検出器17を直接位置づけすることができる。いくつかの実施形態においては、光ファイバーを用いて、又一部のケースではコヒーレント光ファイバー束を用いて平面20に光検出器17を結合することができる。光検出器17からの光検出器信号18は、信号条件づけ電子機器19に入力され得る。電子機器19からの出力信号は、さらなる分析のためにデータ獲得システム12によって受け入れ可能である。
図6は、レーザープリンタのためのセンサープラテン設計の一実施形態を示す。上述の通り、例えばプリンタヘッドに直接隣接して設置するためのトナーカートリッジのように、センサープラテンの設計を形づけることができる。図6に示されているように、個々のコヒーレント光ファイバー束のセットを複数の走査線52に沿って配置することができる。一般に、各々の走査線52は、プリンタヘッドからの1回のラスタ走査からの光を受け入れ、従ってプリンタヘッドが走査する個々のビームと同じだけの数の走査線52が存在する。例えばカラープリンタは数多くの走査線を有する可能性がある。
図6に示されているように、個々のファイバー束の第1のセット60は、プレンタヘッドとセンサープラテンを心合せする一助となる細長い個々のファイバー束を有することができる。個々のファイバー束の第2のセット1は、第1の端部2が走査線52に沿って配置されている個々のファイバー束を含む。第3のセット13もまた示されており、光ファイバー束は、平面20のまわりに第1の端部15がある状態で走査線52に沿って配置されている。ライン21に沿って個々の光ファイバー束の任意の数のセットを配置することができ、これは個々の光ファイバー束自体の物理的配置のみにより制限される。図6中で例示されているセンサープラテンはまた、絶対的ビームパワー及びビーム時間(temporal)プロファイルを測定するための光検出器17(又は光検出器に結合された光ファイバ)をも含んでいる。
図6に示され、かつプラテン及び固定式光センサー内の個々のコヒーレントファイバー束のセットのレイアウトに例示されているように、ライン52に結びつけられた走査線に沿って走査された光ビームの完全な特徴づけを提供するためのデータの収集を可能にする。このような配置では、ビームプロファイル、ビーム位置、ビームウエスト、時間的及びパワーデータを決定することができる。
以上で記述したように、本発明の実施形態に従ったセンサープラテンは、一平面上の1つの経路に沿って一方の端部が任意に位置づけされている状態で構成された任意の横断面の1つ以上の個々のコヒーレント光ファイバー束のセットを含んでいる。個々のファイバー束は、ファイバーNAの制限条件内で、その平面上に入射する光を収集するべく、その平面に対して垂直に取付けられている。全てのファイバーのもう一方の端部はまとめられ、CCD、CMOS画像形成アレイ又はビジコンカメラといったようなエリア又はエリアアレイセンサー上に集束され得る。個々の束は、それぞれの画像の同時測定のため画像形成デバイスに対しセンサープラテンにおける入射ビームの画像を転送する(全てのセンサーは、同じ読出しサイクル中に画像形成デバイスから読出される)。付加的には、伝播方向に沿った異なる位置におけるビームの測定を容易にしかくして集束されたビームウエストの場所の測定を提供するべく、第1の端面の位置がプリント平面に対してわずかに千鳥になっているような形で、個々のコヒーレント光ファイバー束のセットを取付けることができる。ビームパワー及びビーム時間プロファイルの測定のためには、1つの又は多数の光検出器が、コヒーレントファイバー束の中でプリント平面内の走査経路に沿って位置づけされる。本発明に従ったプリンタプラテン全体が、単一のモノリシックデバイスを形成することができる。
本発明のいくつかの実施形態を、プリント平面に沿った数多くの位置におけるCW又はパルスレーザービームの特性を測定するために設計されたVCSELS又はLEDプリンタ診断計器内で利用することができる。本発明に従ったプリンタプラテン又は診断計器のいくつかの実施形態は、調整のためにプリンタヘッドの多角形走査ミラーを停止させる必要なく、走査用レーザープリントビーム内のビームを測定することができる。従って、転がり軸受又は空気軸受のいずれかのスピンドルを使用するプリンタヘッド内のf−シータレンズの実時間動的調整を、本発明に従った診断計器を用いて行なうことができる。さらに、本発明のいくつかの実施形態を利用して、プリントビームを含む多角形スキャナシステムの特性を測定することができる。
本発明に従った診断計器の実施形態は、独立型計器として動作させられてもよいし、又は自動試験及び測定システムの中に内蔵することも可能である。独立型計器としては、それは、デザインを構成し、テストしかつ検証するため、研究開発の利用分野で有用であると同時に、プリンタヘッド光学素子の調整のため製造及び生産においても有用である。自動システムとしては、それは、組立てられたプリンタヘッドの最終的調整及び品質保証のためのツールとして利用される。いずれの場合でも、フォトンのビームスキャン, ナノスキャン又はビームプロファイラシステムといったような標準的ビームプロファイラに比べて本発明の実施形態に従った診断計器がもつ利点には、より低コストのレーザー又はLEDプリンタを生産するための鍵である、測定時間の多大な節減及び生産性スループットの改善が含まれる。
本発明に従った診断計器からの獲得した光ビーム画像データの分析は、ビーム幅、スポットサイズ、そして中心位置といったようなパラメータを提供することができる。例えば走査ビームのプリントスポットを見てみると、ビームは、実際のレーザープリンターの場合のように単一のドット時間又はプリントスポットについて「ON」変調される。ビームが連続的又は多数の個々のセンサーを横断して走査するにつれて適切な瞬間にビームを「ON」又は「OFF」変調することにより、測定されたビームパラメータを個別に又は集合的に用いて、スポットサイズ、プロファイル、パワー、ファセット間傾斜、ファセット間反射率、走査間ジッター、走査線湾曲、走査線ひずみ、及び走査開始ジッターといったようなプリンタヘッドパラメータを決定することができる。パルスレーザービームについては、組合せ型電気/光学畳み込みも測定可能である。LEDプリンタアレイを分析することができ、これには、上述の尺度のうちの数多くのものならびに、ここでも適切なデバイスを「ON」又は「OFF」に切換えることによる、隣接する又は間隔どりされた各デバイスの間のコントラストが含まれる。
要約すると、本発明のいくつかの実施形態は、その後詳細な分析のためコンピュータ内で捕捉される、CCD又はビジコン又はCMOS検出器といったような単一の又は少数の小さなエリアセンサーに、広い走査経路(反復する線形、円形又は任意の経路形状)をコラプス(collapse)する。
ここで論述した実施形態は、単なる一例であり、本発明を制限することを意図したものではない。当業者であれば、当該開示の精神及び範囲内に入ることが意図された多数の変形形態を認識することであろう。
本発明のいくつかの実施形態に従って配置された個々の光ファイバー束のセットの一実施形態を例示する図である。 本発明のいくつかの実施形態に従って配置された個々の光ファイバー束のセットの他の実施形態を例示する図である。 (A)〜(C)は本発明のいくつかの実施形態に従ったプリントプラテンビーム診断ユニットの一実施形態を例示する図である。 本発明のいくつかの実施形態に従った、ビームウエスト位置及び回数−回折−限界係数M2を決定するためのビーム火線センサーの一実施形態を例示する図である。 本発明のいくつかの実施形態に従ったプリントプラテンビーム診断ユニットの他の実施形態を例示する図である。 本発明のいくつかの実施形態に従ったレーザープリンタのためのセンサープラテンデザインの一実施形態を例示する図である。 従来のビームプロファイラヘッドのためのカメラヘッドの一実施形態を示す図である。 プリンタヘッドからのラスタスキャンを例示する図である。

Claims (34)

  1. 各々が1つ以上の個々の光ファイバー束を含む1つ以上のコヒーレント光ファイバー束のセットを含んで成る光ビーム診断デバイスにおいて、
    各々の個々の光ファイバー束の第1の端部が、画像形成平面のまわりの1つ以上の光ビームから光学的情報を受け入れるように位置づけされており、
    コヒーレント光ファイバー束の第2の端部が、個々の光ファイバー束の各々の第2の端部から伝送された光を同時に検出する能力をもつ光センサーまで光学的情報を伝送するように配置されている、
    光ビーム診断デバイス。
  2. 前記光学的情報には画像が含まれている、請求項1に記載の光ビーム診断デバイス。
  3. 各々の個々の光ファイバー束の前記第1の端部がレーザープリンタヘッドの特徴づけを考慮に入れるべく適切に位置づけされている、請求項1に記載の光ビーム診断デバイス。
  4. 各々の個々の光ファイバー束の前記第1の端部がLEDプリンタヘッドの特徴づけを考慮に入れるべく適切に位置づけされている、請求項1に記載の光ビーム診断デバイス。
  5. コヒーレント光ファイバー束の各セットの前記1つ以上の個々の光ファイバー束が、前記1つ以上の光ビームの1組の特性を決定するためのデータを提供するべく配置されている、請求項1に記載の光ビーム診断デバイス。
  6. 前記1つ以上のコヒーレント光ファイバー束のセットには、各々の個々の光ファイバー束の前記第1の端部が画像形成平面内の1つの経路に沿って位置づけされた、コヒーレント光ファイバー束のセットが含まれている、請求項5に記載の光ビーム診断デバイス。
  7. 前記経路が走査線である、請求項6に記載の光ビーム診断デバイス。
  8. 前記1つ以上のコヒーレント光ファイバー束のセットには、各々の個々の光ファイバー束の前記第1の端部が画像形成平面内の第2の経路に沿って連続的に位置づけされた、コヒーレント光ファイバー束のセットが含まれている、請求項5に記載の光ビーム診断デバイス。
  9. 前記第2の経路が走査線である、請求項8に記載の光ビーム診断デバイス。
  10. 前記1つ以上のコヒーレント光ファイバー束のセットには、各々の個々の光ファイバー束の前記第1の端部が第3の経路に沿って連続的に位置づけされた、コヒーレント光ファイバー束のセットが含まれており、ここに前記第1の端部は画像形成平面に対して深さが千鳥状である、請求項5に記載の光ビーム診断デバイス。
  11. 前記第3の経路が走査線である、請求項10に記載の光ビーム診断デバイス。
  12. ビームウエストを決定するために前記コヒーレント光ファイバー束のセットからのデータを利用することができる、請求項10に記載の光ビーム診断デバイス。
  13. 前記1つ以上の光ファイバー束のセットの個々のコヒーレント光ファイバー束の各々の第2の面が、1つのアレイ内に配置されている、請求項1に記載の光ビーム診断デバイス。
  14. エリア又はエリアアレイセンサーが、個々の光束セットの各々からの光を同時に検出するように結合されたCCDカメラである、請求項13に記載の光ビーム診断デバイス。
  15. 前記エリア又はエリアアレイセンサーが、個々の光束セットの各々からの光を同時に検出するように結合されたCMOSアレイである、請求項13に記載の光ビーム診断デバイス。
  16. 前記エリア又はエリアアレイセンサーが、個々の光束セットの各々からの光を同時に検出するべく結合されたビジコンカメラである、請求項13に記載の光ビーム診断デバイス。
  17. 前記エリア又はエリアアレイセンサーからデータを受け入れるように結合されたデータ獲得・制御システムをさらに含む、請求項15に記載の光ビーム診断デバイス。
  18. 前記画像形成平面内の個々のコヒーレント光ファイバー束の前記第1の端部の近くで光を検出するように位置づけされた1つ以上の個々の光センサーをさらに含む、請求項1に記載の光ビーム診断デバイス。
  19. 前記個々の光センサーが、ビームパワー及びビームの時間的プロファイルの測定を可能にするべく前記光学的情報を伝送する、請求項18に記載の光ビーム診断デバイス。
  20. 前記1つ以上のコヒーレント光ファイバー束のセットの各々が、ビームの空間的プロファイル、ビームウエスト、ビーム位置、ビームパワー及びビームの時間的プロファイルの測定のうちの少なくとも1つを可能にするべく前記光学的情報を伝送する、請求項1に記載の光ビーム診断デバイス。
  21. 1つ以上のコヒーレント光ファイバー束のセットが、ビームから光学的情報を得るべく前記ビームの画像形成平面のまわりにくるように、個々のコヒーレント光ファイバー束の第1の端部を位置づけする段階、
    ビーム平面上で1つのアレイ内に個々のコヒーレント光ファイバー束の第2の端部を位置づけする段階、
    個々のコヒーレント光ファイバー束の第2の端部で提供された光学的情報を収集するべくエリア又はエリアアレイセンサーを具備する段階、
    前記エリア又はエリアアレイセンサーからデータ獲得・制御システム内へデータを受け入れる段階、及び
    前記ビームの1つ以上の特性を提供するべく前記データを分析する段階、
    を含んで成る、ビームを特徴づけする方法。
  22. 前記ビームの1つ以上の特性が、ビームの空間的プロファイル、ビーム位置、ビームウエスト、ビームパワー及びビームの時間的プロファイルの測定のうちの少なくとも1つを含み得る、請求項21に記載の方法。
  23. 前記第1の端部を位置づけする段階が、画像形成平面内の1つのラインに沿って個々のコヒーレント光ファイバー束の第1の端部を位置づけする段階を含む、請求項21に記載の方法。
  24. 前記第1の端部を位置づけする段階が、画像形成平面内の第2のラインに沿って個々のコヒーレント光ファイバー束の第1の端部を連続的に位置づけする段階を含む、請求項21に記載の方法。
  25. 前記第1の端部を位置づけする段階が、画像形成平面からさまざまな高さのところで個々のコヒーレント光ファイバー束の第1の端部を位置づけする段階を含む、請求項21に記載の方法。
  26. 各々が1つ以上の個々の光ファイバー束を含む1つ以上のコヒーレント光ファイバー束のセットを含んで成るビームプロファイラを、プリンタヘッドに対して位置づけする段階、
    前記個々の光ファイバー束からのデータを同時に受け入れるように結合されたエリア又はエリアアレイセンサーからデータを獲得する段階、及び
    前記プリンタヘッドからのビームの少なくとも1つの特性を決定するべく前記データを分析する段階、
    を含んで成る、プリンタヘッドを特徴づけする方法。
  27. 1つ以上の光ファイバー束のセット内へビームからの光を捕捉するための手段、
    エリア又はエリアアレイセンサー内へ前記の光を受け入れるための手段、及び
    前記ビームの少なくとも1つの特性を提供するべく、前記エリア又はエリアアレイセンサーからのデータを分析するための手段、
    を含んで成るビームプロファイラ。
  28. プリンタヘッドからの光学的情報をエリア又はエリアアレイセンサーに提供するように配置された各々が1つ以上の個々の光ファイバー束を含む1つ以上のコヒーレント光ファイバー束のセットを含んで成るビームプロファイラを、プリンタヘッドに対して位置づけする段階、
    前記エリア又はエリアアレイセンサーからの光学的情報に対応するデータを獲得する段階、
    前記プリンタヘッドの少なくとも1つの特性を提供するべく前記データを分析する段階、及び
    前記の少なくとも1つの特性に影響を及ぼすべく前記プリンタヘッドを調整する段階、
    を含んで成る、プリンタヘッドを適格化し調整する方法。
  29. 前記プリンタヘッドの少なくとも1つの特性のうちの1つに基づいて前記プリンタヘッドを拒絶する段階をさらに含む、請求項28に記載の方法。
  30. 前記プリンタヘッドがレーザープリンタヘッドである、請求項28に記載の方法。
  31. 前記プリンタヘッドがLEDプリンタヘッドである、請求項28に記載の方法。
  32. 前記エリア又はエリアアレイセンサーがCCDカメラを含む、請求項28に記載の方法。
  33. 前記エリア又はエリアアレイセンサーがCMOSアレイを含む、請求項28に記載の方法。
  34. 前記エリア又はエリアアレイセンサーがビジコンカメラを含む、請求項28に記載の方法。
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