JPH1026716A - 発光モジュールの光ビーム形状計測方法 - Google Patents

発光モジュールの光ビーム形状計測方法

Info

Publication number
JPH1026716A
JPH1026716A JP18337996A JP18337996A JPH1026716A JP H1026716 A JPH1026716 A JP H1026716A JP 18337996 A JP18337996 A JP 18337996A JP 18337996 A JP18337996 A JP 18337996A JP H1026716 A JPH1026716 A JP H1026716A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
luminance
light beam
light emitting
value
emitting element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP18337996A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuyuki Yamamoto
和幸 山本
Shoichiro Hara
正一郎 原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP18337996A priority Critical patent/JPH1026716A/ja
Publication of JPH1026716A publication Critical patent/JPH1026716A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/4228Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors arrangements with two or more detectors, e.g. for sensitivity compensation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/4257Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J2001/4247Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for testing lamps or other light sources

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Lasers (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ビーム裾野部分が計測用テレビカメラの電気
的性質から、ある電圧レベル以下に相当する輝度映像に
ついては、該電圧レベルでしか表すことができず、この
電圧レベルに相当する輝度に埋もれてしまい、ビームス
ポット面積と発光中心位置が求められないなどの課題が
あった。 【解決手段】 発光素子から出射される光ビームの輝度
分布を撮像手段により撮像し、画像処理手段により上記
輝度分布の最大値と最小値を(1−TH):THに内分
した輝度値を上記輝度分布内における輝度しきい値と
し、該輝度しきい値以上の輝度を有する発光部分を光ビ
ーム形状とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、光ファイバ通信
装置等を構成する発光モジュールの加工時に使用される
発光モジュールの光ビーム形状計測方法に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】一般に、発光モジュールの光ビーム形状
計測は、発光モジュール加工時の発光側の光ビーム光軸
中心と受光側の光ファイバ中心軸との軸合わせ時、及び
光ビームの光ファイバ端面へのフォーカス合わせ時に必
要な計測項目である。実際の光ビーム形状計測は、発光
モジュール内の光学系とは別に用意された光学系によ
り、発光側光ビームを受光側光ファイバと計測用テレビ
カメラに分離して、計測用テレビカメラにより光ビーム
断面像を撮像し、テレビカメラからのビデオ信号をA/
D変換した後、画像メモリに取り込んで各種画像処理を
施すことにより行われる。ここで、光ファイバと計測用
テレビカメラは、光ビーム受光条件を光学的に同条件に
なるよう配置設計されている。
【0003】図8は従来の発光モジュールの光ビーム形
状計測方法の原理を説明する説明図であり、図におい
て、1は光ビーム平面像、2は光ビーム平面像1の重心
位置、3はA−B上における光ビームの輝度分布、4は
輝度しきい値、5は光ビームのビームスポット面積であ
り、このビームスポット面積5は輝度しきい値4以上の
輝度に該当する部分の面積を表す。
【0004】次に計測原理について説明する。一般に光
ビームの輝度分布はガウス分布であると見なし、ビーム
輝度の最大点に対して、1/e2 (eは自然対数の底)
の割合となる輝度をしきい値として切った断面部分をビ
ームスポット面積としている。従って上記の考えから、
光ビーム平面像1の輝度のピーク値を1/e2 倍した値
を輝度しきい値4として算出する。そして、上記輝度し
きい値4以上の輝度からなる部分の面積であるビームス
ポット面積5の重心を算出して、これを光ビームの重心
位置2とし、発光モジュールの発光側中心として、発光
側光ビームと受光側の光ファイバの軸合わせ時に使用す
る。
【0005】また、発光側光ビームの光ファイバへのフ
ォーカス合わせ時のフォーカス状態は、前記方法により
計測したビームスポット面積5が、発光素子と光ファイ
バの距離間隔によって増減することより検出する。すな
わち、フォーカスが合った状態で、発光素子から出射さ
れる発光側光ビームは、受光側の光ファイバ上と同一条
件で、計測用テレビカメラ上でも光ビーム断面像が結ば
れるように構成されているため、上記距離間隔から発光
素子がずれると、光ビームのビームスポット面積5は増
加する。このビームスポット面積5が最小となるところ
をジャストフォーカス位置とする。
【0006】尚、本願発明と関連する先行技術文献とし
ては、特開平4−326310号公報などがある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来の発光モジュール
の光ビーム形状計測は以上のように行われていたため、
光ビームの輝度分布状態によっては、ビーム裾野部分
は、計測用テレビカメラ自身の電気的性質から、ある電
圧レベル以下に相当する輝度映像については、該電圧レ
ベルでしか表すことができず、この電圧レベルに相当す
る輝度に埋もれてしまい、輝度のピーク値の1/e2
の値が輝度分布内の最小値より小さくなり、ビームスポ
ット面積と発光中心位置(光ビームの重心位置)が求め
られなくなるという課題があった。
【0008】また、計測用テレビカメラを使ったフォー
カス状態の計測の場合、ジャストフォーカス状態に近づ
くと、光ビームの輝度分布が高輝度よりとなり、画像メ
モリに取り込む前段階のA/D変換の際、輝度のピーク
値はA/D変換できる最大値において頭打ち状態となっ
てしまい、正確なビームスポット面積が得られないとい
う課題があった。
【0009】さらに、発光モジュールはジャストフォー
カス位置で設計されているので、レンズ面の位置ずれ等
の原因により、フォーカスが合っていない状態では、光
ビームの輝度分布に偏りや中抜け状態が発生し、良好な
ガウス分布にはならないため、正確なビームスポット面
積および発光中心位置が得られないなどの課題があっ
た。
【0010】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、発光モジュールの光ビームの輝度
分布状態やフォーカス状態に影響されることなく、正確
に、かつ容易に、光ビーム形状の計測を行うことができ
る発光モジュールの光ビーム形状計測方法を得ることを
目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明に係
る発光モジュールの光ビーム形状計測方法は、発光素子
から出射される光ビームの輝度分布を撮像手段により撮
像し、画像処理手段により輝度分布の最大値と最小値を
(1−TH):THに内分した輝度値を輝度分布内にお
ける輝度しきい値とし、この輝度しきい値以上の輝度を
有する発光部分を光ビーム形状とするものである。
【0012】請求項2記載の発明に係る発光モジュール
の光ビーム形状計測方法は、電流供給手段が、発光素子
から出射される光ビームの輝度最大値と発光素子からフ
ィードバックされるモニタ電流値の関係からモニタ電流
値を調整し、このモニタ電流値をもとに発光素子に供給
する電流を制御するものである。
【0013】請求項3記載の発明に係る発光モジュール
の光ビーム形状計測方法は、発光素子から出射される光
ビームの輝度分布を、空間フィルタを通して画像処理手
段に取り込むものである。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態1.図1はこの発明の実施の形態1による発
光モジュールの光ビーム形状計測方法を実施するための
計測装置構成図であり、図において、6は計測対象であ
る発光素子、7は発光素子6から出射された光ビームを
集光するレンズ、8はレンズ7からの光ビームが集光す
る位置に設置された計測用テレビカメラ(撮像手段)で
ある。この計測装置は、発光モジュール内の光学系(レ
ンズ)とは別に用意された光学系(レンズ7)により、
発光側光ビームを受光側光ファイバ(図示せず)と計測
用テレビカメラ8に分離して、計測用テレビカメラ8に
より光ビーム平面像を撮像するものである。従って、発
光素子6から出射される光ビームは受光側光ファイバ上
と同条件で計測用テレビカメラ8上でも光ビーム平面像
が結ばれるようになっている。
【0015】9は発光素子6から出射された光ビームの
光路、10は計測用テレビカメラ8からの映像信号を取
り込んで画像処理を行う画像処理装置(画像処理手
段)、11は画像処理装置10における処理状況を表示
するモニタテレビ、12は発光素子6を駆動するための
素子駆動電流を供給する発光素子電源(電流供給手段)
であり、この発光素子電源12は発光素子6から出力さ
れるパワー計測用のモニタ電流値をもとに発光素子6に
供給する素子駆動電流の制御を行う。画像処理装置10
と発光素子電源12は、図示しないコントローラに接続
されている。
【0016】図2は光ビームの形状であるビームスポッ
ト面積の計測方法を説明するための輝度分布特性図であ
り、図において、3は輝度分布(光ビームの輝度分
布)、13は輝度分布3の輝度最大値Kmax (最大
値)、14は輝度分布3の輝度最小値Kmin (最小
値)、15はビームスポット面積を求めるための輝度し
きい値Kth(輝度しきい値)、16は輝度分布3がガウ
ス分布に近似した場合の裾野領域の仮想輝度分布であ
る。尚、上記計測装置により計測した光ビーム平面像は
図8に示したものと同一であるので、同図のものを用い
て説明する。
【0017】次に計測方法について説明する。先ず、発
光素子電源12から発光素子6へ素子駆動電流が供給さ
れ、発光素子6は光ビームを出射する。発光素子6から
出射された光ビームはレンズ7により集光され、この集
光された光ビームの平面像を計測用テレビカメラ8によ
り撮像し、計測用テレビカメラ8からのビデオ信号をA
/D変換した後、画像メモリに取り込んで画像処理を施
す。
【0018】計測用テレビカメラ8から画像処理装置1
0に入力されるA−B上の輝度分布3は図2に示すよう
になり、この輝度分布3の裾野部分である仮想輝度分布
16は輝度最小値Kmin 14に埋もれてしまう。すなわ
ち、計測用テレビカメラ8のもつ電気的性質から、ある
電圧レベル以下に相当する輝度映像については、この電
圧レベルでしか表すことができないので、輝度最小値K
min 14が発生するものである。そこで、比率TH(0
<TH<1)を導入し、次の計算式により輝度しきい値
Kth15を算出する。
【0019】 Kth = TH×Kmax + (1−TH)×Kmin ・・・(1)
【0020】上記式(1)は、輝度最大値Kmax 13と
輝度最小値Kmin 14を、(1−TH):THに内分す
る値を輝度しきい値Kth15とすることを表す。
【0021】次に、画像処理装置10により輝度しきい
値Kth15以上の輝度に相当する面積とその重心位置を
検出することにより、ビームスポット面積5ならびに光
ビーム平面像1の重心位置(ビーム中心)2が求められ
る。
【0022】以上のように、この実施の形態1によれ
ば、複雑な近似計算等を行うことなく、光ビームの輝度
分布3の状態に影響を受けずにビームスポット面積5な
らびに重心位置2を計測することができる。
【0023】実施の形態2.図3は発光素子6から発光
素子電源12にフィードバックされるモニタ電流値とそ
の時の光ビームの輝度分布の輝度最大値の関係を表す図
であり、図において、17は輝度最大値とモニタ電流値
との関係(光ビームの輝度最大値と発光素子からフィー
ドバックされるモニタ電流値の関係)を表す直線であ
る。発光素子電源12はコントローラから目標とするモ
ニタ電流値が入力されると、発光素子6からフィードバ
ックされるモニタ電流を目標モニタ電流値に保つように
発光素子6に素子駆動電流を供給する、いわゆるオート
パワーコントロールが行われる。この時、図3に示すよ
うに、モニタ電流値を決定すると、同一発光素子につい
ては、計測用テレビカメラ8で計測される輝度分布3は
一意となる。また輝度最大値とモニタ電流値の関係17
は1次関数(直線)の関係にあることは実験的に知られ
ている。この性質を利用して、現在のモニタ電流値と輝
度最大値から、モニタ電流を調整して光ビーム形状に適
した輝度分布3を得る。
【0024】このことにより、例えばフォーカス状態に
よってはモニタ電流値が高すぎて、輝度分布3が計測用
テレビカメラ8で認識できる輝度レベル以上では輝度最
大値において頭打ち状態となり、正確なビームスポット
面積5が得られないという状況を避けることができ、上
記実施の形態1と同様に、複雑な近似計算等を行う必要
がなく、フォーカス状態ならびにそれに伴う輝度分布状
態に影響せず、ビームスポット面積5および重心位置2
を計測することができる。
【0025】実施の形態3.図4(a)はジャストフォ
ーカス状態にある光ビームの輝度分布の鳥瞰図、図4
(b)はフォーカスずれ、かつ軸ずれ状態にある光ビー
ムの輝度分布の鳥瞰図である。一般に、発光モジュール
はジャストフォーカス位置で設計されているために、フ
ォーカスが合っていない状態では、図4(b)に示すよ
うに、輝度分布は偏りや中抜け状態が発生し、良好なガ
ウス分布状態ではないことがわかる。
【0026】図5は発光モジュールにおける発光素子6
のビームパワー結合効率と受光側光ファイバのオフセッ
ト位置を表す図であり、発光素子6のトレランスカーブ
と言われるものである。図において、18は受光側光フ
ァイバ、19はトレランスカーブである。20はオフセ
ット0μm、すなわち発光素子6と受光側光ファイバ1
8に軸ずれが無いときのビームパワー結合効率である。
21は受光側光ファイバ18のオフセット許容値であ
り、このオフセット許容値21は発光モジュールの結合
効率特性から、±5μm前後とされている。
【0027】図6(a)はフォーカスずれ、かつ軸ずれ
状態にある光ビームの輝度分布特性図、図6(b)はジ
ャストフォーカス状態にある光ビームの輝度分布特性図
である。図7はこの発明の実施の形態3による発光モジ
ュールの光ビーム形状計測方法を実施するための計測装
置構成図であり、図において、22は計測用テレビカメ
ラ8の前面に設置された光学的空間フィルタ(空間フィ
ルタ)である。尚、図1に示した計測装置の構成部分と
同一部分には同一符号を付し説明を省略する。
【0028】上述したように、オフセット許容値21は
±5μm前後とされているため、図6(a)に示すよう
な偏りや中抜けが発生した光ビームの輝度分布を計測す
る前段階として、図7に示すように計測用テレビカメラ
8の前面に10μm×10μmの大きさに相当する光学
的空間フィルタ22を設置して輝度分布3をなまらせれ
ば、トレランスカーブ19に近い輝度分布3が得られ、
図6(b)のようなガウス分布に近い状態で画像処理装
置10に映像信号を取り込んで光ビーム形状を計測する
ことができる。
【0029】実施の形態4.上記実施の形態3において
は、計測用テレビカメラ8の段に光学的空間フィルタ2
2を設置したが、画像処理装置10内で電気的空間フィ
ルタを設ければ、改めて光学的空間フィルタ22を設置
する必要がなくなる効果がある。また、このフィルタ処
理をソフトウェアで行えば、電気的空間フィルタを増設
する必要もなくなる効果がある。
【0030】
【発明の効果】以上のように、請求項1記載の発明によ
れば、発光素子から出射される光ビームの輝度分布を撮
像手段により撮像し、画像処理手段により輝度分布の最
大値と最小値を(1−TH):THに内分した輝度値を
輝度分布内における輝度しきい値とし、この輝度しきい
値以上の輝度を有する発光部分を光ビーム形状とするよ
うに構成したので、複雑な近似計算等を行うことなく、
光ビームの輝度分布の状態に影響を受けずに発光モジュ
ールの光ビーム形状計測が可能になる効果がある。
【0031】請求項2記載の発明によれば、電流供給手
段が、発光素子から出射される光ビームの輝度最大値と
発光素子からフィードバックされるモニタ電流値の関係
からモニタ電流値を調整し、このモニタ電流値をもとに
発光素子に供給する電流を制御するように構成したの
で、複雑な近似計算等を行う必要がなく、フォーカス状
態およびそれに伴う輝度分布状態に影響を受けずに、光
ビーム形状計測に最適な輝度分布状態で発光モジュール
の光ビーム形状計測が可能になる効果がある。
【0032】請求項3記載の発明によれば、発光素子か
ら出射される光ビームの輝度分布を、空間フィルタを通
して画像処理手段に取り込むように構成したので、光ビ
ームのフォーカス状態や軸ずれ状態に関係なく、発光素
子のトレランスカーブに近似な輝度分布状態で発光モジ
ュールの光ビーム形状計測が可能になる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1による発光モジュー
ルの光ビーム形状計測方法を実施するための計測装置構
成図である。
【図2】 光ビームの形状であるビームスポット面積の
計測方法を説明するための輝度分布特性図である。
【図3】 発光素子から発光素子電源にフィードバック
されるモニタ電流値とその時の光ビームの輝度分布の輝
度最大値との関係を表す図である。
【図4】 (a)はジャストフォーカス状態にある光ビ
ームの輝度分布の鳥瞰図、(b)はフォーカスずれ、か
つ軸ずれ状態にある光ビームの輝度分布の鳥瞰図であ
る。
【図5】 発光モジュールにおける発光素子のビームパ
ワー結合効率と受光側光ファイバのオフセット位置を表
す図である。
【図6】 (a)はフォーカスずれ、かつ軸ずれ状態に
ある光ビームの輝度分布特性図、(b)はジャストフォ
ーカス状態にある光ビームの輝度分布特性図である。
【図7】 この発明の実施の形態3による発光モジュー
ルの光ビーム形状計測方法を実施するための計測装置構
成図である。
【図8】 従来の発光モジュールの光ビーム形状計測方
法の原理を説明する図である。
【符号の説明】
3 輝度分布(光ビームの輝度分布)、6 発光素子、
8 計測用テレビカメラ(撮像手段)、10 画像処理
装置(画像処理手段)、12 発光素子電源(電流供給
手段)、13 輝度最大値Kmax (最大値)、14 輝
度最小値Kmin(最小値)、15 輝度しきい値Kth
(輝度しきい値)、17 輝度最大値とモニタ電流値の
関係(光ビームの輝度最大値と発光素子からフィードバ
ックされるモニタ電流値の関係)、22 光学的空間フ
ィルタ(空間フィルタ)。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 発光素子から出射される光ビームの輝度
    分布を撮像手段により撮像し、画像処理手段により上記
    輝度分布の最大値と最小値を(1−TH):THに内分
    した輝度値を上記輝度分布内における輝度しきい値と
    し、該輝度しきい値以上の輝度を有する発光部分を光ビ
    ーム形状とすることを特徴とする発光モジュールの光ビ
    ーム形状計測方法。
  2. 【請求項2】 電流供給手段が、発光素子から出射され
    る光ビームの輝度最大値と上記発光素子からフィードバ
    ックされるモニタ電流値の関係から該モニタ電流値を調
    整し、このモニタ電流値をもとに上記発光素子に供給す
    る電流を制御することを特徴とする請求項1記載の発光
    モジュールの光ビーム形状計測方法。
  3. 【請求項3】 発光素子から出射される光ビームの輝度
    分布を、空間フィルタを通して画像処理手段に取り込む
    ことを特徴とする請求項1記載の発光モジュールの光ビ
    ーム形状計測方法。
JP18337996A 1996-07-12 1996-07-12 発光モジュールの光ビーム形状計測方法 Pending JPH1026716A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18337996A JPH1026716A (ja) 1996-07-12 1996-07-12 発光モジュールの光ビーム形状計測方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18337996A JPH1026716A (ja) 1996-07-12 1996-07-12 発光モジュールの光ビーム形状計測方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1026716A true JPH1026716A (ja) 1998-01-27

Family

ID=16134747

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18337996A Pending JPH1026716A (ja) 1996-07-12 1996-07-12 発光モジュールの光ビーム形状計測方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH1026716A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2406905A (en) * 2003-10-01 2005-04-13 Photon Inc An optical beam profile characteriser device using fiber optic bundles
EP1884755A2 (de) * 2006-07-31 2008-02-06 Ivoclar Vivadent AG Lichtmessvorrichtung
US7366382B2 (en) 2003-10-01 2008-04-29 Photon, Inc. Optical beam diagnostic device and method
USRE45922E1 (en) 2003-04-23 2016-03-15 Zoll Medical Corporation Processing pulse signal in conjunction with accelerometer signal in cardiac resuscitation

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USRE45922E1 (en) 2003-04-23 2016-03-15 Zoll Medical Corporation Processing pulse signal in conjunction with accelerometer signal in cardiac resuscitation
GB2406905A (en) * 2003-10-01 2005-04-13 Photon Inc An optical beam profile characteriser device using fiber optic bundles
US7366382B2 (en) 2003-10-01 2008-04-29 Photon, Inc. Optical beam diagnostic device and method
EP1884755A2 (de) * 2006-07-31 2008-02-06 Ivoclar Vivadent AG Lichtmessvorrichtung
JP2008032728A (ja) * 2006-07-31 2008-02-14 Ivoclar Vivadent Ag 光測定装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100477803B1 (ko) 가시광선과 이미지를 이용한 광정렬 장치 및 그 방법
US4423436A (en) Image pickup apparatus
US6704054B1 (en) Autofocusing system
US7250974B2 (en) Image pickup apparatus with improved auto focusing and method of autofocusing
US20070038029A1 (en) Endoscope
US5915233A (en) Distance measuring apparatus
JP2006343456A (ja) 焦点検出装置、撮像装置
JPH10274723A (ja) 単一ファイバー接合のための自動電流選定方法および装置
US6694097B2 (en) Distance measuring device, focus detector, and camera including plural sensors and controller for selectively providing power to sensors and respective processing circuits
JPH1026716A (ja) 発光モジュールの光ビーム形状計測方法
JP2001141982A (ja) 電子カメラの自動焦点調節装置
JP2006010945A (ja) 光源駆動方法およびプロジェクタ
JP2001141983A (ja) 電子カメラの自動焦点調節装置
JP2001350084A (ja) 自動焦点調節装置
JPH09274130A (ja) レンズ鏡筒及びカメラ
JP3153350B2 (ja) 自動焦点合わせ機能を備えた電子顕微鏡
JPH1026725A (ja) オートフォーカス装置
US5060004A (en) Distance measuring device
JP2000321482A (ja) 焦点自動調節装置
KR100509362B1 (ko) 디지탈 카메라의 패시브 초점 조절 장치 및 그 방법
JP3403447B2 (ja) 顕微鏡
JP3441931B2 (ja) 自動焦点調節装置、撮像装置、撮像システム、及び記録媒体
JPH04196985A (ja) 画像認識装置の照明装置
JPH0614700B2 (ja) 自動焦点整合装置
JP2001350082A (ja) 自動焦点調節装置

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20040113