JP2005093487A - 半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】高速位相回路部210の不良を検出するテスト処理部202をデバイスに内蔵させる。フリップフロップ224を介在させて、通常モード系統とスキャン化系統とに分離する。従来CLK同期設計できない高速位相回路部210についてもフリップフロップ224で分離し、データ保持部226にスキャンクロックに同期させて取り込むことでデータ保持部226をスキャン化設計する。高速位相回路部210の出力結果をデータ保持部226で取り込んでモニタリングすることで高速位相回路の故障検出を実現し、テストカバー率を改善する。測定クロック周波数をクロック切替部240にて低速クロックに切り替えることで、クロック遅延を持つ高速位相回路部210についても機能検証を可能にし、またクロックを漸次可変にすることで、遅延量測定を行なう。
【選択図】図2
Description
図1は、本発明に係る固体撮像装置の第1実施形態を示す概略構成図である。この第1実施形態の固体撮像装置1は、CMOS(Complementary Metal-oxide Semiconductor )型のトランジスタで構成された単位画素を2次元マトリクス状に備えてなる画素素子部110(画素素子部)、画素素子部110を駆動制御するセンサ回路部120、および画素素子部110からの撮像信号(画素信号)に基づいてアナログ系統の信号処理をするアナログ回路部(AFE;Analog Front End)130を有してなるセンサ部100と、画素素子部110やセンサ回路部120などの各部の基本的な機能およびタイミングを制御する制御機能や画像補正機能を持つ制御&補正部200といった従来例と同様の構成に加えて、制御&画像補正部200におけるテスト処理において、センサ部100と制御&画像補正部200との干渉を防止するための信号変換部300を備えて構成されている。
図3は、本発明に係る固体撮像装置の第2実施形態を示す概略構成図である。この第2実施形態の固体撮像装置1は、デバイス内にメモリ部を備えるとともに、このメモリ部について自己テストを行なう機能部分をデバイス内に組み込むことで、メモリBIST機能を備えた構成としている点に特徴を有する。
図5は、本発明に係る固体撮像装置の第3実施形態を示す概略構成図である。この第3実施形態の固体撮像装置1は、第1実施形態の特徴部分であるスキャンテスト機能と、第2実施形態の特徴部分であるメモリBIST機能の双方を備えている点に特徴を有する。この両機能を実現するために、この第3実施形態の特徴部分として、テストコントローラ270を設けている。スキャンテスト機能とメモリBIST機能の、それぞれの基本的な動作は上述した各実施形態と同じであるので、ここでは、それらについての説明は割愛する。
Claims (13)
- 入射された電磁波に対応する信号電荷を生成し、この信号電荷に対応したアナログの電気信号を出力する電気信号生成部と、
前記電気信号生成部もしくはこの電気信号生成部の周辺に配されるアナログ回路部を制御し、または、前記電気信号生成部もしくは前記アナログ回路部から出力された電気信号に対して所定のデジタル信号処理を行なうロジック回路部と、
前記ロジック回路部のデータ系路上に配され、前記電気信号生成部にて生成された前記電気信号に基づくデジタルデータを外部に出力する通常動作モード時用の入力端子、動作検証を行なう測定モード時用の入力端子、出力端子、および制御入力端子を有し、前記制御入力端子に入力されるモード指示に基づいて前記出力端子に出力するデータを、前記2つの入力端子の何れか一方に切り替えて出力するデータ切替部と、
前記測定モード時には、前記信号切替部から出力された前記測定モード時用の入力端子側のデータの供給を受けて動作する、前記ロジック回路部内の所定の機能ブロック部から出力されたデータを、所定周波数の測定クロックに同期して取り込み保持し出力するロジックデータ保持部と
を備えたことを特徴とする半導体装置。 - 前記所定の機能ブロック部は、前記電気信号生成部と非同期で動作する部分を含み、この非同期で動作する機能ブロック部分の出力を前記ロジックデータ保持部に供給するものである
ことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。 - 前記ロジックデータ保持部に供給される前記測定クロックの周波数を切替可能な周波数切替部
を備えていることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。 - 前記ロジックデータ保持部は、前記通常動作モード時には、前記信号切替部から出力された前記通常動作モード時用の入力端子側のデータの供給を受けて動作した前記所定の機能ブロック部から出力されたデータを、前記通常動作モード時におけるクロック周波数に同期して取り込み保持することが可能に構成されている
ことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。 - 前記通常動作モード時には、前記電気信号生成部により生成された電気信号に対応するデジタルデータを所定周波数のクロックに同期して取り込み保持し出力する第2のデータ保持部を備えた
ことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。 - 前記第2のデータ保持部は、前記測定モード時には、前記ロジックデータ保持部から出力されるデータを前記測定クロックに同期して取り込み保持し出力可能に構成されている
ことを特徴とする請求項5に記載の半導体装置。 - 前記測定モード時用の入力端子に供給するテスト信号およびこのテスト信号に対応した前記前記所定の機能ブロック部から出力されるデータの期待値信号を生成するテスト信号生成部と、
前記測定モード時に、前記所定の機能ブロック部から出力された前記テスト信号に対応したデータと、前記テスト信号生成部により生成された前記期待値信号とに基づいて動作検証を行なう動作検証部と
を備えていることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。 - 入射された電磁波に対応する信号電荷を生成し、この信号電荷に対応したアナログの電気信号を出力する電気信号生成部と、
前記電気信号生成部で生成された電気信号を記憶するメモリ部と、
前記メモリ部の動作検証を行なうためのテスト信号とこのテスト信号に対応した前記メモリ部から出力されるデータの期待値信号を生成するテスト信号生成部と、
前記動作検証を行なう測定モード時に、前記メモリ部から出力された前記テスト信号に対応したデータと、前記テスト信号生成部により生成された前記期待値信号とに基づいて動作検証を行なう動作検証部と
を備えていることを特徴とする半導体装置。 - 前記動作検証部による検証結果を外部に出力するための出力端子を備えている
ことを特徴とする請求項8に記載の半導体装置。 - 前記メモリ部は、CLK同期型メモリである
ことを特徴とする請求項8に記載の半導体装置。 - 前記電気信号生成部で生成された電気信号、もしくは前記電気信号生成部の周辺に配されるアナログ回路部を制御し、または、前記電気信号生成部もしくは前記アナログ回路部から出力された電気信号に対して所定のデジタル信号処理を行なうロジック回路部から出力される信号を所定周波数のクロックに同期して取り込み保持するデータ保持部
を備えていることを特徴とする請求項8に記載の半導体装置。 - 前記電気信号生成部と非同期で動作する回路機能部と、
当該回路機能部から出力される信号を前記電気信号生成部の通常動作モード時におけるクロックとは異なる周波数のクロックに同期して取り込み保持する保持するデータ保持部
を備えていることを特徴とする請求項8に記載の半導体装置。 - 当該半導体装置の所定の機能部分に通常時とは異なるストレスを与えた状態で前記動作検証を行なうように制御する制御部
を備えていることを特徴とする請求項8に記載の半導体装置。
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