JP2005062353A - 電気光学パネル、電気光学装置及び電子機器 - Google Patents

電気光学パネル、電気光学装置及び電子機器 Download PDF

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Abstract

【課題】 実装部材を液晶パネルに実装した後にも検査を可能とする。
【解決手段】 液晶パネルAAは、フレキシブル基板B等の実装部材と接続可能な端子群10、YエンドパルスYEPを出力する走査線駆動回路100、XエンドパルスXEPを出力するデータ線駆動回路200を備える。端子群10は、液晶パネルの端部に形成され、複数の端子20を備える。複数の端子20のち端子20A及び端子20Bは、YエンドパルスYEP及びXエンドパルスXEPが供給される検査端子と兼用される。
【選択図】 図3

Description

本発明は、電気光学パネル、電気光学装置及び電子機器に関する。
表示装置、例えば、電気光学材料として液晶を用いた液晶表示装置は、陰極線管(CRT)に代わるディスプレイデバイスとして、各種情報処理機器の表示部や液晶テレビなどに広く用いられている。
ここで、従来の電気光学装置は、例えば、次のように構成されている。すなわち、従来の電気光学装置は、マトリクス状に配列した画素電極と、この画素電極に接続されたTFT(Thin Film Transistor:薄膜トランジスタ)のようなスイッチング素子などが設けられた素子基板と、画素電極に対向する対向電極が形成された対向基板と、これら両基板との間に充填された電気光学材料たる液晶とを備える。画素は、スイッチング素子、画素電極、電気光学材料及び対向電極によって構成され、マトリクス状に配置される。このような構成において、走査線を介してスイッチング素子に走査信号を印加すると、当該スイッチング素子が導通状態となる。この導通状態の際に、データ線を介して画素電極に、階調に応じた電圧の画像信号を印加すると、当該画素電極および対向電極の間の液晶層に画像信号の電圧に応じた電荷が蓄積される。電荷蓄積後、当該スイッチング素子をオフ状態としても、当該液晶層における電荷の蓄積は、液晶層自身の容量や蓄積容量などによって維持される。このように、各スイッチング素子を駆動させ、蓄積させる電荷量を階調に応じて制御すると、画素毎に液晶の配向状態が変化するので、画素毎に濃度が変化することになる。このため、階調表示することが可能となるのである。
このような電気光学装置は、上述した画素がマトリクス状に配置される電気光学パネルを備える。電気光学パネルには、走査線を駆動する走査線駆動回路、又はデータ線を駆動するデータ線駆動回路が形成されることもあれば、これらの少なくとも一方が外部回路として構成されることもある。これらの駆動回路を電気光学パネルに形成するか否かにかかわらず、電気光学パネルの製造においては、表示上の欠陥、例えば、点欠陥や線欠陥を検査するのが一般的である。
駆動回路を電気光学パネルに内蔵しない場合には、走査線及びデータ線に検査端子を設けて、それらをプローブして所定の信号を供給し、画素の欠陥を検査することができる。一方、駆動回路を内蔵する場合は、駆動回路自体の欠陥を検出する必要がある。
そこで、従来の電気光学パネルにおいて駆動回路を内蔵する場合、検査信号を出力する検査端子を入出力端子とは別途設ける技術が知られている(例えば、特許文献1)。
ところで、検査端子にプローブを当てるためには、電気光学パネルを精密に位置決めして、プローブを当てる必要がある。接続ケーブルは、一般に弾性力のあるフレキシブル基板で構成されることが多い。このため、接続ケーブルが接続された電気光学パネルは、大きさが大きくなり、さらに、接続ケーブルがそれ自体の弾性で形状が変わるため、簡易な位置決め装置では正確な位置決めが困難であり、あるいは、位置決め装置が大掛かりになりなる。従って、従来は入出力端子に接続ケーブルを接続する前に電気光学パネル単体として検査していた。
特許第3203971号公報
しかしながら、例えば、エージング試験などで、試験の前後で検査信号を確認したい場合、接続ケーブルを実装する工程で発生する不良を検出したい場合がある。これらの場合は、接続ケーブルを電気光学パネルに実装した後に、検査を行う必要があり、上述した従来の電気光学パネルでは、検査に手間がかかるといった問題があった。
そこで、本発明は、接続ケーブル等の実装部材を電気光学パネルに実装した後に、検査が可能な電気光学パネル及び電気光学装置を提供することを解決課題とする。
上述した課題を解決するため、本発明に係る電気光学パネルは、複数のデータ線、複数の走査線、及び前記データ線と前記走査線との交差に対応して設けられた複数の画素と、入力信号に基づいて前記画素の階調を制御する駆動回路と、実装部材と接続可能な端子群とを備えたものであって、前記駆動回路は、前記電気光学パネルの良否を検査するために用いる検査信号を出力し、前記端子群は、前記電気光学パネルの端部に形成される複数の端子を備え、前記複数の端子の一部の端子は、前記検査信号が供給される検査端子と兼用される、ことを特徴とする。
この発明によれば、実装部材と接続可能な端子群を構成する一部の端子は検査端子と兼用される。即ち、当該端子は出力端子としての機能と検査端子としての機能を兼ね備える。これにより、実装部材を電気光学パネルに実装する前には、当該端子をプロービングすることによって、電気光学パネル単体で良否を判定することができ、更に、実装部材を接続した後は、検査信号を実装部材を介して外部に出力することが可能となる。これによって、実装部材の実装の前後で、製品の良否を判定することが可能となる。
ここで、前記端子群は、前記電気光学パネルに複数形成されており、前記複数の端子群のうち少なくとも一つの端子群において、前記複数の端子の一部の端子は、前記検査信号が供給される検査端子と兼用されるものであってもよい。例えば、電気光学パネルに走査線駆動回路とデータ線駆動回路を形成する場合において、走査線駆動回路に関する端子とデータ線駆動回路に関する端子を別の端子群として構成することがある。このような場合に、いずれか一方のエンドパルスを検査信号として用いる場合には、複数の端子群の一部の端子群を構成する端子が検査端子と兼用されることになる。
次に、本発明に係る電気光学装置は、上述した電気光学パネルと、前記端子群に接続される前記実装部材とを備え、前記実装部材は、前記複数の端子と各々接続される複数の配線を備えた接続ケーブルを含み、前記複数の配線のうち、前記検査端子と接続される配線に前記検査信号を出力する信号確認部位を設けたことを特徴とする。この電気光学装置によれば、電気光学パネルに実装部材たる接続ケーブルを接続した後であっても、接続ケーブルに形成された信号確認部位によって検査信号を取得することができるので、実装部材の実装後に電気光学パネルの良否を判定することが可能となる。
また、本発明に係る電気光学装置は、上述した電気光学パネルと、前記端子群に接続される前記実装部材とを備え、前記実装部材は、前記複数の端子と各々接続される複数の配線を備えた接続ケーブルと、前記接続ケーブルに接続される外部基板とを含むことを特徴とする。この発明によれば、外部基板に検査信号を送るので、当該基板で電気光学パネルの良否を判定することが可能となる。より具体的には、前記外部基板に、前記検査端子から前記接続ケーブルを介して供給される前記検査信号を出力する信号確認部位を設けることが好ましい。
さらに、前記外部基板に設けられた光源と、前記外部基板に設けられ、前記検査信号に基づいて前記光源の点灯及び非点灯を制御する制御回路とを備えることが好ましい。この場合には、検査者は光源の光によって電気光学パネルの良否を実装部材を実装した後に、確認できる。なお、前記制御回路は、前記検査信号を分周する分周回路を備え、分周回路の出力信号を用いて前記光源の前記光源の点灯及び非点灯を制御することが好ましい。人が視覚によって認識できるように分周比を設定することによって、良否の判定が一層容易となる。
加えて、前記駆動回路は、画像信号をサンプリングして前記複数のデータ線に順次供給するサンプリング回路と、スタート信号を順次転送しサンプリング信号を生成して前記サンプリング回路へ供給するシフトレジスタとを含み、前記シフトレジスタの最終段から出力されるエンド信号を前記検査信号として出力し、前記外部基板は、前記画像信号を供給する画像処理回路と、前記スタート信号を供給するタイミング発生回路と、前記スタート信号と前記エンド信号との時間差に基づいて、前記画像処理回路における前記画像信号の供給タイミングを調整する調整回路と、を備えることが好ましい。この発明によれば、フレキシブル基板を接続する前に電気光学パネルの良否を単体で判定することができ、実装部材を実装した後は、検査信号を用いて画像信号の供給タイミングをフィードバック制御するから、表示画像の品質を向上させることができる。
前記駆動回路は、画像信号をサンプリングして前記複数のデータ線に順次供給するサンプリング回路と、クロック信号に基づいてスタート信号を順次転送しサンプリング信号を生成して前記サンプリング回路へ供給するシフトレジスタとを含み、前記シフトレジスタの最終段から出力されるエンド信号を前記検査信号として出力し、前記外部基板は、前記画像信号を供給する画像処理回路と、前記スタート信号及び前記クロック信号を供給するタイミング発生回路と、前記スタート信号と前記エンド信号との時間差に基づいて、前記クロック信号の供給タイミングを調整する調整回路と、を備えることが好ましい。この発明によれば、フレキシブル基板を接続する前に電気光学パネルの良否を単体で判定することができ、実装部材を実装した後は、検査信号を用いて画像信号の供給タイミングをフィードバック制御するから、表示画像の品質を向上させることができる。
次に、本発明に係る電子機器は、上述した電気光学装置えたことを特徴とする。このような電子機器としては、液晶プロジェクタ、パーソナルコンピュータ、携帯電話、電子カメラ、PDA等が該当する。
このように、本発明によれば、接続ケーブル等の実装部材を電気光学パネルに実装する前後で、電気光学パネルの良否を検査することが可能となる。
以下、図面を参照して、本発明に係わる実施形態を説明する。なお、本実施形態では、電気光学材料として液晶を用いた液晶パネルを電気光学パネルの一例とし、液晶パネルを用いた液晶表示装置を電気光学装置の一例として説明する。
<1.第1実施形態>
<1−1:液晶パネルの全体構成>
まず、第1実施形態に係わる液晶パネルAAの全体構成について図1及び図2を参照して説明する。ここで、図1は、液晶パネルAAの構成を示す斜視図であり、図2は、図1におけるZ−Z’線断面図である。
これらの図に示されるように、液晶パネルAAは、画素電極6等が形成されたガラスや半導体等の素子基板151と、共通電極158等が形成されたガラス等の透明な対向基板152とを、スペーサ153が混入されたシール材154によって一定の間隙を保って、互いに電極形成面が対向するように貼り合わせるとともに、この間隙に電気光学材料としての液晶155を封入した構造となっている。なお、シール材154は、対向基板152の基板周辺に沿って形成されるが、液晶155を封入するために一部が開口している。このため、液晶155の封入後に、その開口部分が封止材156によって封止されている。
ここで、素子基板151の対向面であって、シール材154の外側一辺においては、データ線駆動回路200が形成されて、Y方向に延在するデータ線3を駆動する構成となっている。さらに、この一辺には端子群10Aが形成されている。また、この一辺に隣接する一辺には、走査線駆動回路100が形成されて、X方向に延在する走査線2をそれぞれ両側から駆動する構成となっている。
端子群10は複数の端子20を備える。複数の端子20は電気的に導通を取ることができる電極で各々構成される。複数の端子20のうち左端に配置される端子20Aには、走査線駆動回路100からYエンドパルスYEPが供給され、右端に配置される端子20Bには、データ線駆動回路200からXエンドパルスXEPが供給される。YエンドパルスYEP及びXエンドパルスXEPは、液晶パネルAAを検査するための検査信号として機能する。
端子群10は、異方性導電フィルムを介して電気的および機械的に実装部材と接続される。この例の実装部材は、接続ケーブルとしてのフレキシブル基板と外部基板とを含む。これらの点については後述する。端子群10を構成する端子20Aと端子20Bとは、まず、フレキシブル基板が接続される前においては、検査端子として機能する。この場合には、液晶パネルAAの端部に形成された端子群10をプロービングすれば、端子20A及び端子20Bから検査信号を読み取ることが可能である。一方、フレキシブル基板を接続した後は、端子20A及び端子20Bは、液晶パネルAAから検査信号を出力する出力端子として機能する。従って、端子20A及び端子20Bは、検査端子と出力端子とを兼用した端子である。このように兼用することによって、検査信号を液晶パネルAAから外部に出力することができ、且つ、検査端子を別途設けなくても、フレキシブル基板を接続する前に液晶パネルAAを検査することが可能となる。
対向基板152の共通電極158は、素子基板151との貼合部分における4隅のうち、少なくとも1箇所において設けられた導通材によって、素子基板151との電気的導通が図られている。ほかに、対向基板152には、液晶パネルAAの用途に応じて、例えば、第1に、ストライプ状や、モザイク状、トライアングル状等に配列したカラーフィルタが設けられ、第2に、例えば、クロムやニッケルなどの金属材料や、カーボンやチタンなどをフォトレジストに分散した樹脂ブラックなどのブラックマトリクスが設けられ、第3に、液晶パネルAAに光を照射するバックライトが設けられる。特に色光変調の用途の場合には、カラーフィルタは形成されずにブラックマトリクスが対向基板152に設けられる。
加えて、素子基板151および対向基板152の対向面には、それぞれ所定の方向にラビング処理された配向膜などが設けられる一方、その各背面側には配向方向に応じた偏光板(図示省略)がそれぞれ設けられる。ただし、液晶155として、高分子中に微小粒として分散させた高分子分散型液晶を用いれば、前述の配向膜、偏光板等が不要となる結果、光利用効率が高まるので、高輝度化や低消費電力化などの点において有利である。
なお、データ線駆動回路200、走査線駆動回路100等の周辺回路の一部または全部を、素子基板151に形成する替わりに、例えば、TAB(Tape Automated Bonding)技術を用いてフィルムに実装された駆動用ICチップを、素子基板151の所定位置に設けられる異方性導電フィルムを介して電気的および機械的に接続する構成としても良いし、駆動用ICチップ自体を、COG(Chip On Grass)技術を用いて、素子基板151の所定位置に異方性導電フィルムを介して電気的および機械的に接続する構成としても良い。
<1−2:電気光学装置の電気的構成>
図3に、電気光学装置のブロック図を示す。この図に示すように電気光学装置は、液晶パネルAA、フレキシブル基板B、及び外部基板Cを備える。外部基板Cは、タイミング発生回路300、画像処理回路400、及び電源回路500を備える。この液晶表示装置に供給される入力画像データDは、例えば、3ビットパラレルの形式である。タイミング発生回路300は、入力画像データDに同期してYクロック信号YCK、反転Yクロック信号YCKB、Xクロック信号XCK、反転Xクロック信号XCKB、Y転送開始パルスDYおよびX転送開始パルスDXを生成する。また、タイミング発生回路300は、画像処理回路400を制御する各種のタイミング信号を生成し、これを出力する。
Yクロック信号YCKは、走査線2を選択する期間を特定し、反転Yクロック信号YCKBはYクロック信号YCKの論理レベルを反転したものである。Xクロック信号XCKは、データ線3を選択する期間を特定し、反転Xクロック信号XCKBはXクロック信号XCKの論理レベルを反転したものである。
画像処理回路400は、入力画像データDに、液晶パネルAAの光透過特性を考慮したガンマ補正等を施した後、RGB各色の画像データをD/A変換して、画像信号40R、40G、40Bを生成する。
電源回路500は、タイミング発生回路300および画像処理回路400に電位電源を供給する他、走査線駆動回路100及びデータ線駆動回路200の電源電圧を生成する。
このように生成された各種の制御信号及び電源電圧は、フレキシブル基板Bを介して液晶パネルAAに供給される。
次に、液晶パネルAAは、その素子基板上に、端子群10、画像表示領域A、走査線駆動回路100およびデータ線駆動回路200を備える。走査線駆動回路100は、Yシフトレジスタ及びレベルシフタ等を備える。Y転送開始パルスDY、Yクロック信号YCKおよび反転Yクロック信号YCKBはYシフトレジスタに供給される。Yシフトレジスタは、Yクロック信号YCKおよび反転Yクロック信号YCKBに同期して、Y転送開始パルスDYを順次転送して信号を順次出力する。レベルシフタは、信号振幅を大振幅に変換し、走査信号Y1、Y2、…、Ymとして各走査線2に出力する。また、Yシフトレジスタの最終段からY転送開始パルスDYがYエンドパルスYEPとして出力する。YエンドパルスYEPは、Yシフトレジスタの検査のために用いられる。
データ線駆動回路200は、画像信号40R、40G、40Bを所定のタイミングでサンプリングしてデータ線信号X1〜Xnを生成し各データ線3に供給する。データ線駆動回路200は、Xシフトレジスタ、レベルシフタ、及びサンプリング回路を備える。Xシフトレジスタは、X転送開始パルスDXをXクロック信号XCKおよび反転Xクロック信号XCKBに同期して順次転送して各出力信号を生成する。レベルシフタは、Xシフトレジスタの各出力信号のレベルを変換して、各サンプリング信号SR1〜SRnを順次生成する。サンプリング回路は、n個のスイッチSW1〜SWnを備える。各スイッチSW1〜SWnは、TFTによって構成されている。そして、ゲートに供給される各サンプリング信号SR1〜SRnが順次アクティブになると、各スイッチSW1〜SWnが順次オン状態となる。すると、画像信号供給線L1〜L3を介して供給される画像信号40R、40G、40Bがサンプリングされる。そして、サンプリング結果であるデータ線信号X1〜Xnがデータ線3に順次供給される。なお、シフトレジスタの最終段からはX転送開始パルスDXがXエンドパルスXEPとして出力される。XエンドパルスXEPは、Xシフトレジスタの検査のために用いられる。
次に、画像表示領域Aには、図3に示されるように、m(mは2以上の自然数)本の走査線2が、X方向に沿って平行に配列して形成される一方、n(nは2以上の自然数)本のデータ線3が、Y方向に沿って平行に配列して形成されている。そして、走査線2とデータ線3との交差付近においては、TFT50のゲートが走査線2に接続される一方、TFT50のソースがデータ線3に接続されるとともに、TFT50のドレインが画素電極6に接続される。そして、各画素は、画素電極6と、対向基板に形成される対向電極(後述する)と、これら両電極間に挟持された液晶とによって構成される。この結果、走査線2とデータ線3との各交差に対応して、画素はマトリクス状に配列されることとなる。
また、TFT50のゲートが接続される各走査線2には、走査信号Y1、Y2、…、Ymが、パルス的に線順次で印加されるようになっている。このため、ある走査線2に走査信号が供給されると、当該走査線に接続されるTFT50がオンするので、データ線3から所定のタイミングで供給されるデータ線信号X1、X2、…、Xnは、対応する画素に順番に書き込まれた後、所定の期間保持されることとなる。
各画素に印加される電位レベルに応じて液晶分子の配向や秩序が変化するので、光変調による階調表示が可能となる。例えば、液晶を通過する光量は、ノーマリーホワイトモードであれば、印加電位が高くなるにつれて制限される一方、ノーマリーブラックモードであれば、印加電位が高くなるにつれて緩和されるので、液晶表示装置全体では、画像信号に応じたコントラストを持つ光が各画素毎に出射される。このため、所定の表示が可能となる。
<1−3:フレキシブル基板の構成>
次に、フレキシブル基板Bの詳細な構成について説明する。図4は、フレキシブル基板B及びその周辺構成を示す平面図である。図5は、図4に示す端子20B及び配線Lの一部断面図である。これらの図に示すようにフレキシブル基板Bは、基材210の下に配線Lが形成されている。基材210は、例えば、ポリイミド等の弾力性に富む材料で構成することができる。配線L2の下面はレジスト等で覆われており、短絡が防止されるようになっている。また、配線L2の端部では、異方性導電膜(ACF:anisotropic conductive film)211を介して端子20Bとの導通が取られている。
また、端子20A及び端子20Bを外部基板Cに接続する配線L1及びL2には、信号確認部位としてテストポイント201及び202が設けられている。テストポイント201及び202においては、基材210に円形の孔が形成されており、配線L1及びL2と導通が取れるようになっている。従って、テストポイント201及び202をプロービングすることによって、YエンドパルスYEP及びXエンドパルスXEPを確認することができる。即ち、テストポイント201及び202は、検査信号を確認可能な信号確認部位として機能する。
このように本実施形態においては、フレキシブル基板Bに信号確認部位を設けたので、液晶パネルAAとフレキシブル基板Bを接続した後にも、検査信号を確認することが可能となる。なお、この例では、基材210に孔を設けることによって信号確認部位をフレキシブル基板Bに設けたが、信号確認部位は配線L1及びL2と電気的に導通がとれる構成であればいかなる形態であってもよい。
<2.第2実施形態>
次に、第2実施形態に係る液晶表示装置は、テストポイント201及び202を外部基板Cに設けた点を除いて、第1実施形態の液晶表示装置と同様である。図6は、第2実施形態におけるフレキシブル基板B及びその周辺構成を示す平面図である。この例では、外部回路が形成される外部基板Cにテストポイント201及び202が配置される。従って、液晶パネルAAと外部基板Cとをフレキシブル基板Bで接続した後にも検査信号を確認することが可能となる。
<3.第3実施形態>
次に、第3実施形態に係る液晶表示装置は、テストポイント201及び202の替わりに光源203及び204を外部基板Cに設けた点を除いて、第1実施形態と同様である。図7は、第3実施形態におけるフレキシブル基板B及びその周辺構成を示す平面図である。この例では、外部基板Cに制御回路600と光源203及び204が設けられている。光源203及び204は例えばLEDによって構成することができる。
制御回路600は、2個の分周回路を内蔵する。第1分周回路は、端子20Aから出力されるYエンドパルスYEPを分周して第1分周信号を出力する一方、第2分周回路は端子20Bから出力されるXエンドパルスXEPを分周して第2分周信号を出力する。制御回路600は、第1分周信号に基づいて光源203の点灯・非点灯を制御する第1制御信号を生成し、第2分周信号に基づいて光源204の点灯・非点灯を制御する第2制御信号を生成する。第1及び第2制御信号は光源203及び204に供給される。これによって、光源203及び204の点灯・非点灯が制御される。
XエンドパルスXEP、YエンドパルスYEPは所定の周期を有するが、その周期は短い。第1及び第2分周回路を設けたのは、人の視覚によって点滅を検知できるようにするためである。仮に、走査線駆動回路100において、シフトレジスタが動作しなかったり、何らかの異常があると、光源203が非点灯、あるいは、常時、点灯となる。従って、検査工程において、光源203の状態を検査者が見ることによって、液晶パネルAAの良否を判定することが可能である。また、データ線駆動回路200の良否を光源204の状態から判定できる点も同様である。
なお、一般に、XエンドパルスXEPの周波数はYエンドパルスYEPの周波数よりも高いので、第2分周回路の分周比は第1分周回路の分周比よりも大きいことが好ましい。さらに、第1制御信号と第2制御信号との論理積をAND回路によって求め、この出力信号を光源203に供給することによって、光源204を省略してもよい。この場合には、XエンドパルスXEP又はYエンドパルスYEPのうち少なくとも一方が非アクティブとなれば、光源203は点灯しないので、液晶パネルAAの良否を表示することができる。
<4.第4実施形態>
次に、第4実施形態に係る液晶表示装置は、外部基板Cに調整回路700を備える点を除いて、第1実施形態と同様である。図8は、第4実施形態におけるフレキシブル基板B及びその周辺構成を示す平面図であり、図9はXクロック信号XCK、X転送開始パルスXSP及びXエンドパルスXEPのタイミングチャートである。
図9に示すように、この例では、Xクロック信号XCKの立ち上がりエッジとX転送開始パルスXSPの立ち上がりエッジが同期しているものとする。この場合、X転送開始パルスXSPはXシフトレジスタによって転送され、その最終段からXエンドパルスXEPとして出力される。このシフト動作の過程で遅延が発生する。Xクロック信号XCKは画像信号を供給するタイミングの基準にもなるので、Xクロック信号XCKに対するXエンドパルスXEPの遅延時間Δtは、画像信号に対するサンプリング信号の遅延を示している。また、遅延時間Δtは、X転送開始パルスXSPとXエンドパルスXEPとの時間差に相当する。
そこで、調整回路700は基準時間(基準タイミング)であるXクロック信号XCKに対するXエンドパルスXEPの遅延時間Δtを検知して、この遅延時間Δtに応じて、画像信号の供給タイミングをサンプリング信号に合わせるように画像処理回路400を調整する。
このように、画像信号の供給タイミングをフィードバック制御することによって、画像信号とサンプリング信号との位相を適切に調整することができ、ゴーストを防止して表示品質を向上させることができる。なお、画像信号の供給タイミングを基準としてXクロック信号XCKの供給タイミングを調整してもよい。
<5.応用例>
<5−1:検査信号の他の例>
上述した各実施形態においては、検査信号としてXエンドパルスXEP及びYエンドパルスYEPを一例として説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、電気光学パネルの良否を判定するために用いる信号はどのようなものであっても検査信号に含まれる。例えば、走査線2やデータ線3の断線を検出するための信号が含まれる。
また、上述した各実施形態においては、画素の表示を制御する駆動回路として、走査線駆動回路100とデータ線駆動回路200の双方を液晶パネルAAに形成したが、いずれか一方が形成されるものであってもよい。
<5−2:電気光学装置の他の例>
また、上述した実施の形態にあっては、画素のスイッチング素子を、TFTで代表される3端子素子として説明したが、ダイオード等の2端子素子で構成しても良い。ただし、画素のスイッチング素子として2端子素子を用いる場合には、走査線2を一方の基板に形成し、データ線3を他方の基板に形成するとともに、2端子素子を、走査線2またはデータ線3のいずれか一方と、画素電極との間に形成する必要がある。この場合、画素は、走査線2とデータ線3との間に直列接続された二端子素子と、液晶とから構成されることとなる。
また、本発明は、アクティブマトリクス型液晶表示装置として説明したが、これに限られず、STN(Super Twisted Nematic)液晶などを用いたパッシィブ型にも適用可能である。さらに、電気光学材料としては、液晶のほかに、エレクトロルミネッセンス素子などを用いて、その電気光学効果により表示を行う表示装置にも適用可能である。すなわち、本発明は、上述した液晶装置と類似の構成を有するすべての電気光学装置に適用可能である。
<5−3:電子機器>
次に、上述した液晶表示装置を各種の電子機器に適用される場合について説明する。
<5−3−1:プロジェクタ>
まず、この液晶装置をライトバルブとして用いたプロジェクタについて説明する。図10は、プロジェクタの構成例を示す平面図である。
この図に示されるように、プロジェクタ1100内部には、ハロゲンランプ等の白色光源からなるランプユニット1102が設けられている。このランプユニット1102から射出された投射光は、ライトガイド1104内に配置された4枚のミラー1106および2枚のダイクロイックミラー1108によってRGBの3原色に分離され、各原色に対応するライトバルブとしての液晶パネル1110R、1110Bおよび1110Gに入射される。
液晶パネル1110R、1110Bおよび1110Gの構成は、上述した液晶パネルAAと同等であり、画像信号処理回路(図示省略)から供給されるR、G、Bの原色信号でそれぞれ駆動されるものである。そして、これらの液晶パネルによって変調された光は、ダイクロイックプリズム1112に3方向から入射される。このダイクロイックプリズム1112においては、RおよびBの光が90度に屈折する一方、Gの光が直進する。したがって、各色の画像が合成される結果、投射レンズ1114を介して、スクリーン等にカラー画像が投写されることとなる。
ここで、各液晶パネル1110R、1110Bおよび1110Gによる表示像について着目すると、液晶パネル1110Gによる表示像は、液晶パネル1110R、1110Bによる表示像に対して左右反転することが必要となる。
なお、液晶パネル1110R、1110Bおよび1110Gには、ダイクロイックミラー1108によって、R、G、Bの各原色に対応する光が入射するので、カラーフィルタを設ける必要はない。
<5−3−2:モバイル型コンピュータ>
次に、この液晶パネルAAを、モバイル型のパーソナルコンピュータに適用した例について説明する。図11は、このパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。図において、コンピュータ1200は、キーボード1202を備えた本体部1204と、液晶表示ユニット1206とから構成されている。この液晶表示ユニット1206は、先に述べた液晶パネル1005の背面にバックライトを付加することにより構成されている。
<5−3−3:携帯電話>
さらに、この液晶パネルAAを、携帯電話に適用した例について説明する。図12は、この携帯電話の構成を示す斜視図である。図において、携帯電話1300は、複数の操作ボタン1302とともに、反射型の液晶パネル1005を備えるものである。この反射型の液晶パネル1005にあっては、必要に応じてその前面にフロントライトが設けられる。
なお、図10〜図12を参照して説明した電子機器の他にも、液晶テレビや、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルを備えた装置等などが挙げられる。そして、これらの各種電子機器に適用可能なのは言うまでもない。パネル板は、電気光学材料として液晶の替わりに有機LEDを用いたもの、プラズマを用いたもの、無機エレクトロルミネッセンス素子を用いたものであってもよい。さらに、電子ペーパー等の電気泳動パネルにも適用することができる。
本発明の第1実施形態に係る液晶パネルAAの構成を示す斜視図である。 図2は、図1におけるZ−Z’線断面図である。 第1実施形態の電気光学装置の構成を示すブロック図である。 フレキシブル基板B及びその周辺構成を示す平面図である。 図5は、図4に示す端子20他の保護回路とその周辺構成を示す回路図である。 第2実施形態におけるフレキシブル基板B及びその周辺構成を示す平面図である。 第3実施形態におけるフレキシブル基板B及びその周辺構成を示す平面図である。 第4実施形態におけるフレキシブル基板B及びその周辺構成を示す平面図である。 Xクロック信号XCK、X転送開始パルスXSP及びXエンドパルスXEPのタイミングチャートである。 同液晶表示装置を適用した電子機器の一例たるビデオプロジェクタの断面図である。 同液晶表示装置を適用した電子機器の一例たるパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。 同液晶表示装置を適用した電子機器の一例たる携帯電話の構成を示す斜視図である。
符号の説明
2…走査線、3…データ線、100…走査線駆動回路、200…データ線駆動回路、10…端子群、203、204…光源、600…制御回路、700…調整回路、AA…電気光学パネル、B…フレキシブル基板(実装部材、接続ケーブル)、C…外部基板(実装部材)、XEP…Xエンドパルス、YEP…Yエンドパルス。

Claims (10)

  1. 複数のデータ線、複数の走査線、及び前記データ線と前記走査線との交差に対応して設けられた複数の画素と、入力信号に基づいて前記画素の階調を制御する駆動回路と、実装部材と接続可能な端子群とを備えた電気光学パネルであって、
    前記駆動回路は、前記電気光学パネルの良否を検査するために用いる検査信号を出力し、
    前記端子群は、前記電気光学パネルの端部に形成される複数の端子を備え、
    前記複数の端子の一部の端子は、前記検査信号が供給される検査端子と兼用される、
    ことを特徴とする電気光学パネル。
  2. 前記端子群は、前記電気光学パネルに複数形成されており、前記複数の端子群のうち少なくとも一つの端子群において、前記複数の端子の一部の端子は、前記検査信号が供給される検査端子と兼用されることを特徴とする請求項1に記載の電気光学パネル。
  3. 請求項1又は2に記載の電気光学パネルと、
    前記端子群に接続される前記実装部材とを備え、
    前記実装部材は、前記複数の端子と各々接続される複数の配線を備えた接続ケーブルを含み、
    前記複数の配線のうち、前記検査端子と接続される配線に前記検査信号を出力する信号確認部位を設けた
    ことを特徴とする電気光学装置。
  4. 請求項1又は2に記載の電気光学パネルと、
    前記端子群に接続される前記実装部材とを備え、
    前記実装部材は、前記複数の端子と各々接続される複数の配線を備えた接続ケーブルと、前記接続ケーブルに接続される外部基板とを含む
    ことを特徴とする電気光学装置。
  5. 前記外部基板に、前記検査端子から前記接続ケーブルを介して供給される前記検査信号を出力する信号確認部位を設けた
    ことを特徴とする請求項4に記載の電気光学装置。
  6. 前記外部基板に設けられた光源と、
    前記外部基板に設けられ、前記検査信号に基づいて前記光源の点灯及び非点灯を制御する制御回路と
    を備えたことを特徴とする請求項4又は5に記載の電気光学装置。
  7. 前記制御回路は、前記検査信号を分周する分周回路を備え、分周回路の出力信号を用いて前記光源の前記光源の点灯及び非点灯を制御することを特徴とする請求項6に記載の電気光学装置。
  8. 前記駆動回路は、画像信号をサンプリングして前記複数のデータ線に順次供給するサンプリング回路と、スタート信号を順次転送しサンプリング信号を生成して前記サンプリング回路へ供給するシフトレジスタとを含み、前記シフトレジスタの最終段から出力されるエンド信号を前記検査信号として出力し、
    前記外部基板は、
    前記画像信号を供給する画像処理回路と、
    前記スタート信号を供給するタイミング発生回路と、
    前記スタート信号と前記エンド信号との時間差に基づいて、前記画像処理回路における前記画像信号の供給タイミングを調整する調整回路と、
    を備えたことを特徴とする電気光学装置。
  9. 前記駆動回路は、画像信号をサンプリングして前記複数のデータ線に順次供給するサンプリング回路と、クロック信号に基づいてスタート信号を順次転送しサンプリング信号を生成して前記サンプリング回路へ供給するシフトレジスタとを含み、前記シフトレジスタの最終段から出力されるエンド信号を前記検査信号として出力し、
    前記外部基板は、
    前記画像信号を供給する画像処理回路と、
    前記スタート信号及び前記クロック信号を供給するタイミング発生回路と、
    前記スタート信号と前記エンド信号との時間差に基づいて、前記クロック信号の供給タイミングを調整する調整回路と、
    を備えたことを特徴とする電気光学装置。
  10. 請求項3乃至9のうちいずれか1項に記載した電気光学装置を備えたことを特徴とする電子機器。

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007115640A (ja) * 2005-10-24 2007-05-10 Fuji Xerox Co Ltd 端子接続構造、表示システム、表示媒体および書込装置
CN100464215C (zh) * 2006-06-09 2009-02-25 群康科技(深圳)有限公司 液晶显示器
JP2021001943A (ja) * 2019-06-20 2021-01-07 株式会社ジャパンディスプレイ 液晶表示装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1164465A (ja) * 1997-08-15 1999-03-05 Nec Corp Fpga/pldの信号まわり込みチェック回路
JPH11175032A (ja) * 1997-12-11 1999-07-02 Sony Corp 表示装置
JP2001013187A (ja) * 1999-06-30 2001-01-19 Toshiba Corp マトリクスアレイ装置及びマトリクスアレイ装置用基板
JP2001501744A (ja) * 1996-10-03 2001-02-06 マイクロン テクノロジー,インコーポレイテッド 遅延ロックループコントローラを有する、マトリクスアドレシング可能ディスプレイ
JP2001109391A (ja) * 1999-10-13 2001-04-20 Toshiba Electronic Engineering Corp 接続用基板及びこの接続用基板を用いた平面表示装置の実装方法
JP2001202065A (ja) * 2000-01-21 2001-07-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示装置
JP2001306016A (ja) * 2000-04-26 2001-11-02 Seiko Epson Corp 電気光学パネルのデータ線駆動方法、データ線駆動回路、電気光学装置、および電子機器
JP2001337138A (ja) * 2000-05-30 2001-12-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路用テスト回路装置およびこれを用いた半導体集積回路

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001501744A (ja) * 1996-10-03 2001-02-06 マイクロン テクノロジー,インコーポレイテッド 遅延ロックループコントローラを有する、マトリクスアドレシング可能ディスプレイ
JPH1164465A (ja) * 1997-08-15 1999-03-05 Nec Corp Fpga/pldの信号まわり込みチェック回路
JPH11175032A (ja) * 1997-12-11 1999-07-02 Sony Corp 表示装置
JP2001013187A (ja) * 1999-06-30 2001-01-19 Toshiba Corp マトリクスアレイ装置及びマトリクスアレイ装置用基板
JP2001109391A (ja) * 1999-10-13 2001-04-20 Toshiba Electronic Engineering Corp 接続用基板及びこの接続用基板を用いた平面表示装置の実装方法
JP2001202065A (ja) * 2000-01-21 2001-07-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示装置
JP2001306016A (ja) * 2000-04-26 2001-11-02 Seiko Epson Corp 電気光学パネルのデータ線駆動方法、データ線駆動回路、電気光学装置、および電子機器
JP2001337138A (ja) * 2000-05-30 2001-12-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路用テスト回路装置およびこれを用いた半導体集積回路

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007115640A (ja) * 2005-10-24 2007-05-10 Fuji Xerox Co Ltd 端子接続構造、表示システム、表示媒体および書込装置
CN100464215C (zh) * 2006-06-09 2009-02-25 群康科技(深圳)有限公司 液晶显示器
JP2021001943A (ja) * 2019-06-20 2021-01-07 株式会社ジャパンディスプレイ 液晶表示装置

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