JP2005049193A - 入力装置、電子機器及び入力装置の駆動方法 - Google Patents

入力装置、電子機器及び入力装置の駆動方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 処理情報の増大を抑制して、処理システムの簡素化を図ることが可能な入力装置,電子装置及び入力装置の駆動方法を提供する。
【解決手段】 入力装置100は、マトリクス状に配置される複数の静電容量検出回路31と、この静電容量検出回路31からの検出情報を出力する駆動回路40とを備える。出力処理部160は、複数回のフィールド走査による静電容量検出回路31からの指紋情報の読み出しにより、静電容量検出回路31を部分的に特定して、処理対象となる検出情報だけを取り出す。
【選択図】 図1

Description

本発明は、入力装置、特にはマトリクス状にセンサセルを配置した入力装置、電子機器及び入力装置の駆動方法に関する。
従来、マトリクス状にセンサセルを配置した入力装置としては、例えば、指紋センサ(例えば、特許文献1〜4)や椅子に座ったときの圧力分布を測定する座圧センサなどがある。指紋センサの用途は、従来から、機密性の高い部屋へ入室する人が本人であることを認証する装置に使用する目的が主であったが、例えば半導体を使った静電容量式指紋センサ(例えば、特許文献2〜4)が小型軽量で安価にできるようになり、携帯電話、PDA(携帯情報端末)、携帯用パソコンなどの携帯用小型電子機器やICカードなどへの用途が考えられている。その他、据え置き型の電子装置であっても、個人用途でプライバシーを守るために、本人を特定するための指紋センサが使われる。
従来の半導体を使った静電容量式指紋センサは、20mm×20mm位の単結晶シリコンに形成されていた。静電容量式指紋センサの構造と検出原理は、半導体の表面に形成されたマトリクス状のセンサセルに作られた電極と、その電極上の誘電体薄膜を介して指紋の凹凸との間に発生する静電容量の分布をトランジスタ回路で検出するようになっている。検出されたセンサセルの情報は、走査線でマトリクス状のセンサセルを順に走査して、データ線で順にセンサセルの出力端に接続して出力される(例えば、特許文献1)。
特開平11−118415号公報 特開2000−346608号公報 特開2001−56204号公報 特開2001−133213号公報
しかし、これら従来の静電容量式指紋センサは、単結晶シリコン基板上にセンサ電極や誘電体膜が設けられているため、検出面である誘電体膜に指を強く押し付けるとシリコン基板が割れてしまい、耐久性に劣る。更に、指紋センサはその用途から必然的に20mm×20mm程度の大きさが求められ、膨大なエネルギーと労力を要して作成された単結晶シリコン基板に形成した場合、高価になるとの課題を有する。
上記課題を解決する方法として、本願出願人は先にMIS型薄膜半導体装置(信号増幅用TFT)をセンサセルとして用いることにより、安価で耐久性に優れるガラス基板やプラスチック基板にも形成し得る静電容量式指紋センサを提案している。しかし、こうした指紋センサは、マトリクス状に配置された各センサセルの全てから指紋の凹凸情報(指紋情報)が読み出される構成となっている。一方、指紋認証を行なうに際しては、指中央部のみの指紋情報を利用して認証処理を行なうことが場合が多い。そのため、全てのセンサセルからの指紋情報を読み出して認証処理を行なうと、処理情報の増大に伴ない指紋認証の処理システムが複雑になるとの課題を有していた。
そこで本発明は上述の諸事情を鑑み、処理情報の増大を抑制して、処理システムの簡素化を図ることが可能な入力装置、電子機器及び入力装置の駆動方法を提供することをその目的とする。
本発明における入力装置は、マトリクス状に配置される複数のセンサセルと、前記各センサセルからの検出情報を出力する出力手段とを備えた入力装置において、複数回のフィールド走査によって、前記センサセルから検出情報を読み出し、該センサセルを部分的に特定して処理対象となる検出情報を取り出す選択手段を備えたものである。
また本発明における入力装置の駆動方法は、マトリクス状に配置される複数の各センサセルから検出情報を出力する入力装置の駆動方法において、前記センサセルに対し複数回のフィールド走査を行なって、該センサセルから検出情報を読み出し、この読み出した検出情報を基に前記センサセルを部分的に特定して、該特定したセンサセルから処理対象となる検出情報を取り出すことを特徴とする。
本発明によれば、m行n列に配置された複数のセンサセルに対し、複数回のフィールド走査が行なわれる。その際に読み出された検出情報は、全てのセンサセルから必要なセンサセルを部分的に特定するのに利用され、この特定したセンサセルからの検出情報だけで、各種の処理動作が行なわれる。従って、処理情報を必要最小限に抑制して処理システムの簡素化を図ることが可能になる。
本発明の入力装置は、前記選択手段が、第1回のフィールド走査により全ての前記センサセルからの検出情報を読み出して、次に選択すべき特定のセンサセルを決定する前処理手段と、第2回以降のフィールド走査により前記特定のセンサセルから検出情報を取り出す後処理手段とにより構成される。
また本発明における入力装置の駆動方法は、マトリクス状に配置される複数の各センサセルから検出情報を出力する入力装置の駆動方法において、前記センサセルに対し第1回のフィールド走査を行なって、全ての前記センサセルから検出情報を読み出し、この読み出した検出情報を基に次に選択すべき部分的な特定のセンサセルを決定する第1の手順と、第2回以降一乃至複数のフィールド走査を行ない、前記特定のセンサセルから処理対象となる検出情報を取り出す第2の手順とを順に行なうことを特徴とする。
本発明によれば、全ての前記センサセルからの検出情報を読み出すのは、最初に行なわれる第1回目のフィールド走査だけで、その後は部分的に特定した処理対象となるセンサセルの検出情報だけが取り出される。即ち、僅か1回のフィールド走査で処理対象となるセンサセルを特定することができる。
本発明における前記前処理手段は、全ての前記センサセルから読み出した検出情報を予め定めた閾値と比較して、次に選択すべき特定のセンサセルを決定するように構成される。
また本発明における入力装置の駆動方法は、前記第1の手順で、全ての前記センサセルから読み出した検出情報を予め定めた閾値と比較して、次に選択すべき部分的な特定のセンサセルを決定することを特徴とする。
本発明によれば、全てのセンサセルから読み出された検出情報を基に、予め定めた閾値との比較によるより正確なセンサセルの特定が可能になる。
本発明では、複数の走査線と複数のデータ線との交差部に対応して前記センサセルを夫々設け、前記走査線を走査する走査ドライバと、前記データ線を前記出力手段に接続するデータドライバとを備えると共に、前記後処理手段は、前記特定のセンサセルに対応する前記走査線だけを走査し、前記特定のセンサセルに対応する前記データ線だけから検査情報を取り出せるように、前記走査ドライバと前記データドライバを駆動させる構成とするのが好ましい。
また本発明における入力装置の駆動方法では、前記センサセルは複数の走査線と複数のデータ線との交差部に夫々設けられ、前記第2の手順で、前記特定のセンサセルに対応する前記走査線だけを走査し、前記特定のセンサセルに対応する前記データ線から検査情報を取り出すのが好ましい。
本発明によれば、第2回以降のフィールド走査では、特定のセンサセルに対応する走査線だけを選択して走査が行なわれ、対応するデータ線のみを出力手段に繋いで検出情報が取り出される。しかし、それ以外のセンサセルに対応する走査や、検出情報を取り出す動作は全く行なわれない。こうして、各センサセルに対する走査と、データ線からの検出情報の取り出しに関し、不要な動作を削減して、センサセルを駆動する上での低消費電力化を図ることが可能になる。
本発明では、複数の走査線と複数のデータ線との交差部に対応して前記センサセルを夫々設け、前記走査線を順に走査する走査ドライバと、前記データ線を前記出力手段に順に接続するデータドライバとを備えると共に、前記後処理手段は、前記特定のセンサセル以外に対応する走査線を、前記特定のセンサセルに対応する走査線よりも走査速度を高速にして、全ての前記走査線を走査し、前記特定のセンサセルに対応する前記データ線から検査情報を取り出せるように、前記走査ドライバと前記データドライバを駆動させる構成とするのが好ましい。
また本発明における入力装置の駆動方法では、前記センサセルは複数の走査線と複数のデータ線との交差部に夫々設けられ、前記第2の手順で、前記特定のセンサセル以外に対応する走査線を、前記特定のセンサセルに対応する走査線よりも走査速度を高速にして、全ての前記走査線を走査し、前記特定のセンサセルに対応する前記データ線から検査情報を取り出すのが好ましい。
本発明によれば、第2回以降のフィールド走査では、全ての走査線について順に走査を行なうが、検出情報を取り出さないセンサセルに対応する走査線の走査速度を、検出情報を取り出すセンサセルに対応する走査線よりも高速にして、特定のセンサセルから検出情報を取り出す。こうして、各センサセルに対する走査と、データ線からの検出情報の取り出しに関し、不要な動作を削減して、センサセルを駆動する上での低消費電力化を図ることが可能になる。
上記各発明において、センサセルは様々な物理量を検出できるが、とりわけ指紋の凹凸を検出する指紋センサに適用するのが好ましい。こうすれば、指の指紋を検出情報とした種々の制御が可能になる。また、指紋情報を出力する指紋センサを用いることで、超小型且つ超軽量な入力装置を提供できる。
また本発明は、指紋センサを備えた入力装置を、各種の電子機器に組み込んでもよい。
このような電子機器としては、例えばスマートカード,PDA,携帯電話等がある。いずれの場合も、超小型且つ超軽量な電子機器としての提供が可能になる。
以下、本発明における好適な実施の形態について、添付図面を参照しながら詳細に説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を限定するものではない。また、以下に説明される構成の全てが、本発明の必須要件であるとは限らない。各実施例では、従来のセンサ部の回路構成をそのまま用いつつ、従来とは異なる新規な駆動方法を採用することにより、認証に必要となる被検出部の特定箇所を部分的に選択する方法について夫々記述する。
図1は、入力装置のセンサ部となる静電容量式指紋センサ1のブロック図である。指紋センサ1は、データ線37を選択するためのデータドライバ10と、走査線36を選択するための走査ドライバ20と、被検出物である指紋の検出領域として形成されるアクティブマトリクス部30と、このアクティブマトリクス部30からの検出信号を増幅するための増幅回路40とにより構成される。指の表面形状を採取する情報採取部としてのアクティブマトリクス部30は、m行n列のマトリクス(行列)状に配置されたm本(mは2以上の整数)の走査線36と、n本(nは2以上の整数)のデータ線37、及び走査線36とデータ線37との交点に設けられたセンサセルに相当する静電容量検出回路31を最小限の構成要素としている。また、各静電容量検出回路31には低電位側電源(図示せず)に繋がる供給線39がそれぞれ接続され、アクティブな走査線36に発生する高電位VDDと、供給線39に発生する低電位VSSとの電位差が、静電容量検出回路31に印加される構成となっている。
前記データドライバ10は、デジタルコード信号により任意のデータ線37を選択するためのデータデコーダ51と、各データ線37にスイッチ素子14を夫々挿入接続して構成されるアレイ状のアナログスイッチ12からなる。また、各データ線37の一端は共通するデータ幹線38に接続され、このデータ幹線38が増幅回路40の入力側に接続される。N個のスイッチ素子14は、データデコーダ51から順次適時選択信号が入力され、結果として選択されたデータ線37とデータ幹線38との電気的な導通が順次取られて行く。走査ドライバ20は、デジタルコード信号により任意の走査線36を選択するための走査デコーダ52により構成され、これによりアクティブな走査線36と選択されたデータ線37との交点にある静電容量検出回路31から、データ幹線38を通して増幅回路40に検出情報が取り出される。
静電容量検出回路31は、アクティブマトリクス部30においてm行n列のマトリクス状に配置され、被検出物との距離に応じて変化する静電容量を検出する。より具体的には、図2に示すように、選択素子である選択トランジスタ32と、例えば指紋のような被検出物の表面の凹凸形状に依存して静電容量Cdが変化する信号検出素子33と、信号増幅素子である信号増幅トランジスタ34と、固定の静電容量Csを持つ基準コンデンサ35を含んで構成される。信号増幅トランジスタ34は、好ましくはゲート電極とゲート絶縁膜と半導体膜とからなる信号増幅用MIS型薄膜半導体装置から構成される。また選択トランジスタ32は、好ましくはゲート電極とゲート絶縁膜と半導体膜とからなる選択用MIS型薄膜半導体装置から構成される。本発明では、信号増幅用MIS型薄膜半導体装置のドレインが選択用MIS型薄膜半導体装置のソースに接続され、信号増幅用MIS型薄膜半導体装置のソースが供給線39に接続され、信号増幅用MIS型薄膜半導体装置のゲート電極が信号検出素子33を構成する容量検出電極と基準コンデンサ35との接続点に接続される(図2ではMIS型薄膜半導体装置のソースをS、ドレインをD、ゲート電極をGと表示している)。こうして選択用MIS型薄膜半導体装置のソースと供給線39とは、容量検出電極にて検出された電荷Qに感応する信号増幅用MIS型薄膜半導体装置を介在してお互いに接続される。また本発明では、選択用MIS型薄膜半導体装置のドレインがデータ線37に接続され、選択用MIS型薄膜半導体装置のゲート電極が走査線36と基準コンデンサ35の一端に接続される。
本発明では、静電容量Csを持つコンデンサと、被検出物の表面形状に応じて変化する静電容量Cdを持つコンデンサとの間に発生した電荷Qにより、信号増幅用MIS型薄膜半導体装置のゲート電位を変化させる。そして、選択用MIS型薄膜半導体装置のドレイン・ソース間を導通させて、信号増幅用MIS型薄膜半導体装置のドレインに所定の電圧を印加すると、誘起された電荷Qに応じて信号増幅用MIS型薄膜半導体装置のドレイン・ソース間に流れる電流Iが著しく増幅される。誘起された電荷Q自体は何処にも流れずに保存されるので、ドレイン電圧を高くしたり或いは測定時間を長くする等で電流Iの測定も容易になる。
上記金属−絶縁膜−半導体膜から成るMIS型薄膜半導体装置は、通常ガラス基板に作成されるために、大面積を要する半導体集積回路を安価に製造する技術として知られ、具体的に昨今では液晶表示装置等に応用されている。従って指紋センサ等に適用される静電容量検出回路31を薄膜半導体装置にて作成すると、単結晶シリコン基板と云った多大なエネルギーを消費して作られた高価な基板を使用する必要がなく、貴重な地球資源を消費することなく安価に当該装置を作成し得る。また、薄膜半導体装置はSUFTLA(特開平11−312811号公報やS. Utsunomiya et. al. Society for Information Display p.916(2000))と呼ばれる転写技術を適用する事で、半導体集積回路をプラスチック基板上に作成できるので、静電容量検出回路31も単結晶シリコン基板から解放されて、プラスチック基板上に形成し得るのである。
図3は、増幅回路40の回路図である。増幅回路40は、二段のカレントミラー回路41,42にて構成され、一段目のカレントミラー回路41の一部が前記静電容量検出回路31により置き換えられた構成となっている。より具体的には、カレントミラー回路41は静電容量検出回路31の他に、Pチャンネルトランジスタ61〜65と、Nチャンネルトランジスタ66,67とを備え、高電位VDDラインと低電位VSSラインとの間に、トランジスタ61,選択トランジスタ32及び信号増幅トランジスタ34を順に接続した直列回路と、トランジスタ64,66,67を順に接続した直列回路が夫々接続される。また、トランジスタ61,32との接続点とトランジスタ64,66の接続点との間に、トランジスタ65のドレイン・ソースが夫々接続され、トランジスタ61,64,65の各ゲートにクロックCLKが与えられる。高電位VDDラインとトランジスタ65のドレイン,及び高電位VDDラインとトランジスタ65のソースとの間には、トランジスタ62,63のドレインが夫々接続され、これらのトランジスタ62,63のゲートがトランジスタ63のドレインに接続される。そして、クロックCLKがH(高)レベルのときに、静電容量検出回路31のトランジスタ32,34に流れ込む電流量Iと、トランジスタ67のゲートに与えられる基準電圧VRにより、トランジスタ66,67に流れ込む電流量I’との差が、トランジスタ65のドレイン・ソース間に電圧として発生するようになっている。
一方、二段目のカレントミラー回路42は、Pチャンネルトランジスタ68〜70と、Nチャンネルトランジスタ71〜73とを備え、トランジスタ68,71の直列回路と、トランジスタ69,72の直列回路が、高電位VDDラインとトランジスタ73のドレインとの間に夫々接続される。また、トランジスタ68,71の接続点とトランジスタ69,72の接続点との間に、トランジスタ70のドレイン・ソースが夫々接続され、トランジスタ70,73の各ゲートにクロックCLKが与えられる。更に、トランジスタ68,69のゲートがトランジスタ69のドレインに接続され、トランジスタ73のソースが低電位VSSラインに接続される。そして、クロックCLKがHレベルのときに、前記電流量IとI’との差に見合う電圧がトランジスタ71,72の各ゲートに印加され、トランジスタ68,71の接続点から増幅された出力OUTが取り出される。なお、図中に示す増幅回路40はあくまでも一例であり、他の回路構成に適宜置き換えてもよい。
上記指紋センサ1の動作について説明すると、走査ドライバ20に与えられるデジタルコード信号により、m本の走査線36の中から特定の1本の走査線36が順次選択されると、当該走査線36がアクティブになって高電位VDDとなる。その結果、当該走査線36に繋がる静電容量検出回路31の選択用増幅トランジスタ32がオン状態となる。一方、信号増幅トランジスタ34のゲート電圧は、信号増幅トランジスタ34自身に寄生する容量Ct(図2参照)及び基準コンデンサ35の容量Csと、信号検出素子33の容量Cdとの容量比により定まる。
指紋の山(凸部)が静電容量検出回路31の表面に接した時は、信号検出素子33の容量Cdが容量Ct,Csに対し十分大きくなり、信号増幅トランジスタ34のゲート電圧はGND(グランド)電位に近づく。その結果、信号増幅トランジスタ34は略オフ状態となり、信号増幅トランジスタ34のドレイン・ソース間には極めて微弱な電流Iが流れる。この電流Iを測定することで、測定箇所が指紋パターンの山であることが判定できる。反対に、指紋の谷(凹部)が静電容量検出回路31の表面に対向した時は、信号検出素子33の容量Cdが容量Ct,Csに対し十分小さくなり、信号増幅トランジスタ34のゲート電圧は高電位VDDに近づく。その結果、信号増幅トランジスタ34は略オン状態となり、信号増幅トランジスタ34のドレイン・ソース間には大きな電流Iが流れる。この電流Iを測定することで、測定箇所が指紋パターンの谷であることが判定できる。
ここで、信号増幅トランジスタ34のソースは低電位VSSの供給線39と接続されているため、電流Iの流れる向きはデータ線37から静電容量検出回路31へと流れ込む方向となる。上記特定の走査線36がアクティブな状態において、データドライバ10に与えられるデジタルコード信号により、データ線37と増幅回路40とを結ぶn個のアナログスイッチ12の中から、特定の1個のアナログスイッチ12が順次選択されアクティブになる。その結果、増幅回路40から該アクティブなアナログスイッチ12を通って静電容量検出回路31に向けて、指紋の凹凸情報に応じた電流Iが流れる。静電容量検出回路31からの検出情報を出力する出力部としての増幅回路40は、前述の通り二段のカレントミラー回路41,42にて構成される。一段目のカレントミラー回路41において、HレベルのクロックCLKが与えられている時に、静電容量検出回路31に向けて流れ込む電流量Iと、基準電圧VRによりトランジスタ66,67に流れ込む電流量I’との比較が行なわれる。この比較結果は、二段目のカレントミラー回路41においてトランジスタ71,72の各ゲートに印加され、増幅された出力OUTが取り出される。
ここで、増幅回路40の構成をより詳細に説明する。クロックCLKがLレベルのときには、トランジスタ61と64が共にオンになる。また、トランジスタ65も導通し、トランジスタ65の両端(ソース及びドレイン)はいずれもHレベルになる。この電圧が2段目のカレントミラー回路42に印加されるが、この2段目のカレントミラー回路42においてはトランジスタ73がオフで、トランジスタ70がオンしているので、出力はトランジスタ68,69の閾値電圧(スレッシュホルド電圧)に近くなる。
一方、クロックCLKがHレベルのときには、トランジスタ61と64が共にオフになる。また、トランジスタ65もオフになり、トランジスタ65の両端(ソース及びドレイン)に、静電容量検出回路のトランジスタ32,34に流れる電流Iと、トランジスタ67のゲートに与えられる基準電圧VRによりトランジスタ66,67に流れる電流I’との差がトランジスタ65の両端(ソース及びドレイン)に生じる。この電圧が2段目のカレントミラー回路42のトランジスタ71,72のゲートに印加される。トランジスタ73はオンして一種の抵抗として機能し、トランジスタ70はオフしている。従って、トランジスタ71,72のゲートに加わる電圧が増幅されて、トランジスタ71のドレインから出力される。
以上の動作を、アクティブマトリクス部30内において、m行n列に設けられた静電容量検出回路31の各々に対し繰返し実施することで、アクティブマトリクス部30の表面に当接した指紋パターンの検出が実現される。より具体的には、例えば第1行の各列に位置する静電容量検出回路31から順に指紋の凹凸を検出した後、第2行の指紋の凹凸を検出するといったように、センサセル毎に指紋の凹凸を検出してゆく。その結果、指紋センサ1を用いて周期的に指紋画像を取り込むことができる。
静電容量検出回路31は上述したSUFTLA技術を用いて、プラスチック基板上に形成され得る。単結晶シリコン技術に基づく指紋センサは、プラスチック上では直ぐに割れてしまったり、或いは十分な大きさを有しないために実用性に乏しい。これに対して本実施例によるプラスチック基板上の静電容量検出回路31は、プラスチック基板上で指を被うに十分大きい面積としても割れる心配がなく、プラスチック基板上での指紋センサ1として利用し得る。
指紋センサ1から読み出される検出情報(指紋情報)は、この指紋センサ1に接続する様々な処理システムに利用することができる。図4は、指紋センサ1を含む入力装置の概要構成を示している。本実施例における入力装置100は、登録した指紋データの画像と、指紋センサ1から取り込まれる指紋情報の画像とを比較し、その比較結果に応じて制御情報としての認証情報を出力する。また本実施例では、処理システムからデータドライバ10と走査ドライバ20に、どの位置にある静電容量検出回路31からどのような順番で指紋情報を取り出すのかを指令するデジタルコード信号を出力できるようになっている。そのため、ここでの入力装置100は、指紋情報取込部としての指紋センサ1の他に、指紋情報解析部130、指紋データ登録部140、指紋データ記憶部150、出力処理部160を含む。
指紋情報解析部130は、指紋センサ1から取り込んだ1フィールド毎の指紋情報を解析し、その解析結果を出力処理部160に対して出力する。指紋データ登録部140は、上述の指紋データを登録する処理を行なう。より具体的には、指紋データ登録部140は、指紋センサ1から取り込まれる被検出部の各部位の出力OUTを繋ぎ合せて1つの指紋データとし、これを登録する。また指紋データ記憶部150は、指紋データ登録部140で登録された指紋データを記憶する。出力処理部160は、指紋センサ1から取り込んだ指紋情報と、指紋データ記憶部150に記憶された指紋データとを照合する認証処理を行なう認証回路を含む。この認証回路は、図中の認証手段162に相当する。また出力処理部160は、認証手段162による認証処理の結果を認証情報として出力する認証情報出力手段164を備える。
特に本実施例の認証手段162は、出力処理部160における処理情報の増大を抑制して処理システムの簡素化を図るための選択手段170を備えている。この選択手段170は、指紋センサ1に供給するデジタルコード信号DCODEに基づく複数回のフィールド走査により、m行n列に配置された静電容量検出回路31の全て又は一部から指紋情報を読み出し、指紋認証に必要な位置にある静電容量検出回路31を特定する。そして、この特定された静電容量検出回路31から、指紋認証の処理対象となる検出情報を効率よく取り出す機能を有する。即ち選択手段170を付加することにより、複数回のフィールド走査によって検出部から取り出される検出情報に基づき、処理対象として必要な検出部の位置を特定して、その特定した検出部だけから効率的に検出情報を取り出すようになっている。
選択手段170は、指紋センサ1に対し複数回のフィールド走査を行なうデジタルコード信号DCODEを供給する。ここでは機能上、第1回のフィールド走査を行なう前処理手段172と、第2回以降の一乃至複数回のフィールド走査を行なう後処理手段174を備えて構成される。前処理手段172は、第1回のフィールド走査により全ての静電容量検出回路31からの指紋情報を読み出し、この読み出した指紋情報と指紋データ記憶部150に予め記憶された閾値となる指紋データとの比較によって、次に選択すべき特定の静電容量検出回路31を決定する。これにより、全ての静電容量検出回路31からの指紋情報を基に、予め定めた閾値との比較によるより正確な静電容量検出回路31の特定が可能になる。また後処理手段174は、第2回以降のフィールド走査により特定の静電容量検出回路31から指紋認証の処理対象となる指紋情報を取り出す。特に本実施例では、後処理手段174からデータドライバ10及び走査ドライバ20に与えられるデジタルコード信号により、処理対象となる特定の静電容量検出回路31に対応した走査線36だけが走査され、且つ特定の静電容量検出回路31に対応したデータ線37だけが、スイッチ素子14によりデータ幹線38と接続される。即ち、特定の静電容量検出回路31以外の静電容量検出回路31は、走査ドライバ20による走査も、データドライバ10による指紋情報の取り出しも行なわない。これにより、指紋センサ1における不要な動作を削減し、静電容量検出回路31を駆動する上での低消費電力化を図っている。
上記構成の入力装置100は、個人認証機能を兼ね備えたスマートカードに適用される。スマートカードはキャッシュカード(bankcard)やクレジットカード(credit card)、身分証明書(Identity card)等で使用され、これらのセキュリティレベルを著しく高めた上で尚、個人指紋情報をカード外に流出させずに保護するとの優れた機能を有する。図6は、スマートカード81への適用例を示したものである。カード母材80の表面上には、静電容量式の指紋センサ1、ICチップ82、例えば液晶パネル等の表示装置83が夫々設けられる。ICチップ82には、前記図4に示す指紋センサ1以外の入力装置100の各部が埋め込まれる。
個人認証を行なわないカードでは、予めカードに記憶登録された暗証番号と、カード使用者が入力した暗証番号が等しい場合に、そのカードを使用できる。そのため、カード所有者以外でも暗証番号を知ることができれば、カードを不正使用することが可能である。一方、指紋センサ1による個人認証を行なうカードでは、予めカード内のメモリに蓄えられた指紋データと、指紋センサ1からの指紋情報が合致した場合にのみ暗証番号を発行する。この発行された暗証番号と、カード使用者が入力した暗証番号が等しければ、そのカードを使用できる。
図6は、本実施例における入力装置100の処理フローを示すものである。図6に示す処理を実行するためのプログラムは、前記ICチップ82内の記憶手段(図示せず)に格納される。同じICチップ82に設けられるCPU(図示せず)は、このプログラムに従って処理を行なう。
先ず入力装置100は、指紋データ登録部140が処理実行する登録モードにおいて、取り込み対象となるユーザの指紋登録を行なう。その際、3次元形状の指の指紋について、1枚の画像を指紋データとして登録する。そのため指の各部位の画像を取り込んで、1つの指紋データを生成する。指紋データ登録部140は、指をアクティブマトリクス部30の表面(検出面)に対し自然な角度で押し当てたときの指紋センサ1からの指紋情報を取り込む。同様に、指を最大限左に傾けた状態と、指を最大限右に傾けた状態と、指を最大限手前に傾けた状態と、指を最大限奥に傾けた状態の各指紋情報を夫々取り込む。指紋データ登録部140は、これら5つの指紋情報により得られる指紋の画像を繋ぎ合せて、1つの登録指紋画像である指紋データを生成し、これを指紋データ記憶部150に記憶する(ステップS400)。
上記指紋データの登録を行なった後、出力処理部160の認証手段162による指紋認証が行なわれる。認証手段162は、指紋認証の処理を行なうに際し、指紋センサ1に対し複数回のフィールド走査を行なって、検出面に指を置いた指紋センサ1から指紋情報を読み出す。このときの指紋センサ1における走査ドライバ20のタイミングチャートを図7に示す。併せて、指紋認証に必要な指紋情報の取り出し位置の概念図を図8に示す。走査ドライバ20に接続するm本の走査線36は、YSEL1,YSEL2,…,YSEL{m−1},YSEL{m}の順に並んで構成される。また、データドライバ10に接続するn本のデータ線37は、XSEL1,XSEL2,…,XSEL{n−1},XSEL{n}の順に並んで構成され、これらの格子状に配列された走査線36及びデータ線37によって、アクティブマトリクス部30に読み出し領域A1が形成される。
認証手段162は認証対象位置を探索するために、ステップS410において、認証手段162を起動した直後の第1フィールドの走査で、アクティブマトリクス部30に配置された全ての静電容量検出回路31から、指紋の凹凸情報を読み出す。この動作は、前処理手段172によって行なわれる。前処理手段172は、YSEL1,YSEL2,…,YSEL{m−1},YSEL{m}の順に、全ての走査線36を順次選択して、その選択した走査線36に高電位VDDの電源電圧を供給するように、走査ドライバ20に対しデジタルコード信号を出力する(図7の第1フィールド参照)。そして、データドライバ10に与えられるデジタルコード信号DCODEにより、選択した1本の走査線36が高電位VDDになっている間に、XSEL1,XSEL2,…,XSEL{n−1},XSEL{n}の順で、全てのデータ線37を順次選択して、その選択したデータ線37に接続するスイッチ素子14をオンにする。これにより、選択した走査線36と選択したデータ線37との交差点にある全ての静電容量検出回路31から指紋の凹凸情報が読み出される。
この指紋情報は増幅回路40にて増幅された後、指紋センサ1から出力されて指紋情報解析部130に取り込まれる。前処理手段172は、指紋情報解析部130で解析された指紋情報を基に、指紋認証として必要な静電容量検出回路31の二次元状の位置を特定する。この認証に必要なセンサセルの位置決定は、例えば第1回目のフィールド走査で指紋センサ1から得られた指紋画像の輪郭を基にしてもよいし、あるいは指紋画像の中にある幾つかの特徴点を基にしてもよい。ステップS420で選択すべき特定の静電容量検出回路31が決定すると、認証手段162は後処理手段174による第2回目以降のフィールド走査を実行する。なお、ここでは走査線36のYSEL{p0}からYSEL{p3}に対応した位置が、指紋認証に必要であるとする。また、図示しないがデータドライバ10側においても同様の決定を行ない、データ線37のXSEL{q0}からXSEL{q3}に対応した位置が、指紋認証に必要であるとする。図8には、前処理手段172により決定した指紋認証対応箇所A2が示されている。
ステップS430において、第1回のフィールド走査に続く第2回以降のフィールド走査では、指紋認証に必要な特定の静電容量検出回路31に対応する走査線36だけを順に走査し、且つこの特定の静電容量検出回路31に対応するデータ線37だけから指紋情報を取り出せるようなデジタルコード信号DCODEが、後処理手段174から走査ドライバ20及びデータドライバ10に送り出される。走査ドライバ20の走査デコーダ52は、指紋認証に必要のない走査線36(YSEL1〜YSEL{p0−1}、及びYSEL{p3+1}〜YSEL{m})は選択せず、指紋認証に必要な走査線36(YSEL{p0}からYSEL{p3})のみを選択して、この選択した走査線36に高電位VDDの電源電圧を順次供給する。一方、データドライバ10のデータデコーダ51も、指紋認証に必要のないデータ線37(XSEL1〜XSEL{q0−1}、及びXSEL{q3+1}〜XSEL{n})は選択せず、指紋認証に必要なデータ線37(XSEL{q0}からXSEL{q3})のみを選択して、この選択したデータ線37に接続するスイッチ素子14だけを順次オンにする。これにより、前記指紋認証対応箇所A2に位置する静電容量検出回路31からの指紋情報だけが、出力手段である駆動回路40から出力される。
上記ステップS430におけるフィールド走査は、好ましくは複数回繰返し行なわれ(ステップS440)、所定回数(例えば3回)のフィールド走査が終了すると、ステップS450における指紋データとの認証確認が認証手段162により行なわれる。ここで認証手段162は、第2回目以降の各回のフィールド走査で取り込んだ指紋情報を平均化し、最終的な指紋情報を作成する。この最終的な指紋情報は、指紋データ記憶部150に予め記憶した指紋データと比較照合され、指紋による認証が行なわれる。認証の結果は認証情報出力手段164に出力され、例えば表示装置83に表示される。
なお、図6の処理フローにおける指紋データ記憶部140や出力処理部160の起動は、例えば検出面に指を置いたときの圧力を検出して行なってもよいし、入力装置100にスタートスイッチを設け、このスタートスイッチの押動検出により行なってもよい。
上述した処理フローでは、前処理手段172により、指紋認証に必要となる指の位置に対応した静電容量検出回路31のみを選択している。これにより、指紋認証に不要な静電容量検出回路31に電源電圧を供給することも、指紋情報を取り出すためのスイッチ素子14の動作を行なうことも省略して、指紋センサ1の高速動作を図ることが可能になる。また、データドライバ10及び走査ドライバ20の不要な動作を削減して、指紋センサ1としての低消費電力化が可能になる。さらに、指紋センサ1からの指紋情報を利用して認証処理などの処理動作を行なう際にも、処理情報の増大を抑制し、指紋認証システムを簡素化することができる。
以上のように本実施例では、マトリクス状に配置される複数の静電容量検出回路31と、この静電容量検出回路31からの検出情報を出力する駆動回路40とを備えた入力装置100において、複数回のフィールド走査によって、静電容量検出回路31から検出情報を読み出し、さらに静電容量検出回路31を部分的に特定して処理対象となる検出情報を取り出す選択手段としての認証手段162を備えている。
この場合、m行n列に配置された複数の静電容量検出回路31に対し、複数回のフィールド走査が行なわれる。その際に静電容量検出回路31から読み出された検出情報が、必要な静電容量検出回路31を部分的に特定するのに利用され、この特定した静電容量検出回路31からの検出情報だけで、認証処理などの各種処理動作が実行される。従って、処理情報を必要最小限に抑制して、処理システムの簡素化を図ることが可能になる。
そしてこれは、マトリクス状に配置される複数の各静電容量検出回路31から指紋情報を出力する入力装置100の駆動方法において、静電容量検出回路31に対し複数回のフィールド走査を行なって、静電容量検出回路31から指紋情報を読み出し、この読み出した指紋情報を基に静電容量検出回路31を部分的に特定して、処理対象となる指紋情報だけを取り出すことでも実現する。
本実施例の認証手段162は、第1回のフィールド走査により全ての静電容量検出回路31からの指紋情報を読み出して、次に選択すべき特定の静電容量検出回路31を決定する前処理手段172と、第2回以降のフィールド走査により特定の静電容量検出回路31から検出情報を取り出す後処理手段174とにより構成される。
こうすると、全ての静電容量検出回路31からの検出情報を読み出すのは、最初に行なわれる第1回目のフィールド走査だけで、その後は処理対象となる静電容量検出回路31の検出情報だけが部分的に取り出される。即ち、僅か1回のフィールド走査だけで処理対象となる静電容量検出回路31を特定することができる。
そしてこれは、静電容量検出回路31に対し第1回のフィールド走査を行なって、全ての静電容量検出回路31から指紋情報を読み出し、この読み出した指紋情報を基に次に選択すべき部分的な特定の静電容量検出回路31を決定する第1の手順と、第2回以降のフィールド走査を行ない、特定の静電容量検出回路31から処理対象となる指紋情報を取り出す第2の手順とを順に行なう方法でも実現する。
また、特に前処理手段172は、全ての静電容量検出回路31から読み出した指紋情報を予め定めた閾値と比較して、次に選択すべき特定の静電容量検出回路31を決定する構成とするのが好ましい。こうすれば、全ての静電容量検出回路31から読み出した指紋情報を基に、予め定めた閾値との比較によるより正確な静電容量検出回路31の特定が可能になる。そしてこれは、前記第1の手順で、全ての静電容量検出回路31から読み出した指紋情報を予め定めた閾値と比較して、次に選択すべき部分的な静電容量検出回路31を特定する方法でも実現する。
本実施例では、複数の走査線36と複数のデータ線37との交差部に対応して静電容量検出回路31を夫々設け、走査線36を順に走査する走査ドライバ20と、データ線37を駆動回路40に順に接続するデータドライバ10とを備えている。このような構成において、後処理手段174は、特定の静電容量検出回路31に対応する走査線36だけを順に走査し、且つ特定の静電容量検出回路31に対応するデータ線37だけを駆動回路40に繋いで指紋情報を取り出せるように、走査ドライバ20とデータドライバ10を駆動させている。
こうすると、第2回目以降のフィールド走査では、特定の静電容量検出回路31に対応する走査線36だけを選択して走査が行なわれ、対応するデータ線37のみを駆動回路40に繋いで指紋情報が取り出される。しかし、それ以外の必要のない静電容量検出回路31に対応する走査線36の走査や、データ線37を駆動回路40に繋いでの指紋情報を取り出しは全く行なわれない。こうして、各静電容量検出回路31に対する走査と、データ線からの指紋情報の取り出しに関し、不要な動作を削減して、静電容量検出回路31を駆動する上での低消費電力化を図ることが可能になる。
またこれは、前記第2の手順で、特定の静電容量検出回路31に対応する走査線36だけを順に走査し、特定の静電容量検出回路31に対応するデータ線37から指紋情報を取り出す方法を採用しても実現する。
図9は、第2の実施例における静電容量式指紋センサ1のブロック図である。この実施例では、前述のデータデコーダ51に代わって、通常の表示装置におけるアナログ点の順次駆動を実現するためのシフトレジスタ11がデータドライバ10に設けられている。また、走査ドライバ20には、走査線36を順次選択するためのシフトレジスタ21が走査デコーダ52に代わって設けられる。シフトレジスタ11は、外部からスタートパルスが与えられると、別に与えられるクロックに同期して、全ての走査線36を順に選択走査する。それ以外の指紋センサ1の構成は、各静電容量検出回路31や増幅回路40の回路構成を含めて、第1の実施例と共通している。
図10は入力装置の構成ブロック図である。第1の実施例と異なる点は、認証手段162から指紋センサ1へのデジタルコード信号DCODEの出力線に代わり、スタートパルスSPとクロックCLKの出力線が設けられている点である。入力装置100の各部の機能的な構成は、第1の実施例と共通している。
指紋データの登録や、指紋情報の読み出し及び取り出しの仕組みは、図6における処理フローと同様であるので、ここでは第1の実施例と異なる動作についてのみ説明する。図11は、本実施例における走査ドライバ20のタイミングチャートを示すものであるが、ここでは指紋センサ1にスタートパルスSPを与えることにより、各フィールドの走査が開始される。また、走査ドライバ20のシフトレジスタ21は、スタートパルスSPが与えられると、クロックCLKに同期して全ての走査線36を1本ずつアクティブにする。
より具体的な動作を説明すると、第1の手順として、認証手段162は認証対象位置を探索するために、ステップS410において、認証手段162を起動した直後の第1フィールドの走査で、アクティブマトリクス部30に配置された全ての静電容量検出回路31から、指紋の凹凸情報を読み出す。この動作は、前処理手段172によって行なわれるが、走査ドライバ20やデータドライバ10に与えられるクロックCLKの周波数は、全て標準値に設定される。前処理手段172は、YSEL1,YSEL2,…,YSEL{m−1},YSEL{m}の順に、全ての走査線36を順次選択して、その選択した走査線36に高電位VDDの電源電圧を供給する。そして、選択した1本の走査線36が高電位VDDになっている間に、全てのデータ線37に接続するスイッチ素子14を順次選択してオンにする。これにより、選択した走査線36と選択したデータ線37との交差点にある全ての静電容量検出回路31から指紋の凹凸情報が読み出される。
前処理手段172は、第1回目のフィールド走査により得られた指紋情報を基に、指紋認証として必要な静電容量検出回路31の位置を特定する。ここでは走査線36のYSEL{p0}からYSEL{p3}に対応した位置が、指紋認証に必要であるとする。図12では、前処理手段172により決定した指紋認証対応箇所A2が示されている。
第2の手順として、第1回のフィールド走査に続く第2回以降のフィールド走査では、後処理手段174は同様に全ての走査線36を順に選択し走査を行なう。但し、走査ドライバ20により指紋認証に必要のない走査線36(YSEL1〜YSEL{p0−1}、及びYSEL{p3+1}〜YSEL{m})の順次選択を高速に行なわせ、この際データドライバ10は動作させないようにする。この走査ドライバ20の高速化を実現するために、走査ドライバ20に与えるクロックCLKの周波数を前記標準値よりも高くし、またクロックCLKを高速に与えている間は、データドライバ10へのスタートパルスやクロックを供給しないようにする。図11では指紋認証に必要のない走査線36について、クロック周波数を2倍にして順次選択を行なっているが、実際には数百倍の高速動作が可能である。一方、指紋認証に必要な走査線36(YSEL{p0}からYSEL{p3})に関しては、走査ドライバ20に与えるクロックCLKの周波数を通常の速度である標準値に戻す。同時にデータドライバ10にスタートパルスやクロックを与えて、このデータドライバ10を動作させ、スイッチ素子14をオンにしたデータ線37より、静電容量検出回路31からの指紋情報を順次取り出す。
このように本実施例では、指紋認証に必要のない静電容量検出回路31を高速で動作させた結果、指紋センサ1の高速動作を図ることができる。またデータドライバ10は、指紋認証に必要となる指の位置に対応した走査線36の選択時にのみ動作するので、データドライバ10及び走査ドライバ20の不要な動作を削減して、指紋センサ1の低消費電力化も可能になる。さらに、指紋センサ1からの指紋情報を利用して認証処理などの処理動作を行なう際にも、処理情報の増大を抑制し、指紋認証システムを簡素化することができる。
以上のように本実施例では、複数の走査線36と複数のデータ線37との交差部に対応して静電容量検出回路31を夫々設け、走査線36を順に走査する走査ドライバ20と、データ線37を駆動回路40に順に接続するデータドライバ10とを備えている。そして後処理手段174は、特定の静電容量検出回路31以外に対応する走査線36を、特定の静電容量検出回路31に対応する走査線36よりも走査速度を高速にして、全ての走査線36を順に走査し、特定の静電容量検出回路31に対応するデータ線37から指紋情報を取り出せるように、走査ドライバ20とデータドライバ10を駆動させる構成を有している。
この場合、第2回以降のフィールド走査では、全ての走査線36について順に走査を行なうが、指紋情報を取り出さない静電容量検出回路31に対応する走査線36の走査速度を、指紋情報を取り出す静電容量検出回路31に対応する走査線36よりも高速にして、特定の静電容量検出回路31から指紋情報を取り出す。こうして、各静電容量検出回路31に対する走査と、データ線37からの指紋情報の取り出しに関し、不要な動作を削減して、静電容量検出回路31を駆動する上での低消費電力化を図ることが可能になる。
そしてこれは、前記第2の手順で、前記特定の静電容量検出回路31以外に対応する走査線36を、前記特定の静電容量検出回路31に対応する走査線36よりも走査速度を高速にして、全ての前記走査線36を順に走査し、特定の静電容量検出回路31に対応するデータ線37から指紋情報を取り出すことでも実現される。
上記いずれの実施例においても、センサセルとして指紋の凹凸を検出する例えば静電容量検出回路31が利用されている。これにより、指の指紋を検出情報とした種々の制御が可能になる。また、指紋情報を出力する指紋センサ1を用いることで、超小型且つ超軽量な入力装置を提供できる。
さらには、こうした指紋センサ1を備えた入力装置100を組み込んで、例えばスマートカード81の他に、PDAや携帯電話等の各種の電子機器に利用できる。これにより、超小型且つ超軽量で、指紋の登録や指紋の認証に適した電子機器としての提供が可能になる。
なお、本発明は上述した各実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。例えば、被検出物としては指紋以外のものであってもよく、例えば圧力分布や温度分布を測定する各種センサ等にも適用できる。また指紋センサ1として、上記各実施例のような静電容量を検出する方式以外のものを適用してもよい。各実施例では、指紋センサ1から取り出した指紋情報を個人の認証に利用しているが、それ以外の各種処理にも利用できる。例えば指紋の6軸方向の移動を捕らえて、表示装置におけるポインタの移動や、表示画像のスクロール等の表示制御に利用してもよい。
第1の実施例における指紋センサの全体構成を示す説明図。 静電容量検出回路の回路図。 増幅回路の回路図。 入力装置の構成ブロック図。 スマートカードへの適用例を示す外観構成図。 入力装置の処理フローを示すフローチャート。 走査ドライバのタイミングチャート。 指紋情報の取り出し位置の概念説明図。 第2の実施例における指紋センサの全体構成を示す説明図。 入力装置の構成ブロック図。 走査ドライバのタイミングチャート。 指紋情報の取り出し位置の概念説明図。
符号の説明
1 指紋センサ、 10 データドライバ、 20 走査ドライバ、 31 静電容量検出回路、 36 走査線、 37 データ線、 81 スマートカード、 100 入力装置、 162 認証手段、 172 前処理手段、 174 後処理手段

Claims (8)

  1. マトリクス状に配置される複数のセンサセルと、前記各センサセルからの検出情報を出力する出力手段とを備えた入力装置において、
    複数回のフィールド走査によって、前記センサセルから検出情報を読み出し、該センサセルを部分的に特定して処理対象となる検出情報を取り出す選択手段を備えたことを特徴とする入力装置。
  2. 前記選択手段は、第1回のフィールド走査により全ての前記センサセルからの検出情報を読み出して、次に選択すべき特定のセンサセルを決定する前処理手段と、第2回以降のフィールド走査により前記特定のセンサセルから検出情報を取り出す後処理手段とにより構成されることを特徴とする請求項1記載の入力装置。
  3. 前記前処理手段は、全ての前記センサセルから読み出した検出情報を予め定めた閾値と比較して、次に選択すべき特定のセンサセルを決定するものであることを特徴とする請求項2記載の入力装置。
  4. 複数の走査線と複数のデータ線との交差部に対応して前記センサセルを夫々設け、前記走査線を走査する走査ドライバと、前記データ線を前記出力手段に接続するデータドライバとを備えると共に、
    前記後処理手段は、前記特定のセンサセルに対応する前記走査線だけを走査し、前記特定のセンサセルに対応する前記データ線だけから検査情報を取り出せるように、前記走査ドライバと前記データドライバを駆動させるものであることを特徴とする請求項2及び3記載の入力装置。
  5. 複数の走査線と複数のデータ線との交差部に対応して前記センサセルを夫々設け、前記走査線を順に走査する走査ドライバと、前記データ線を前記出力手段に順に接続するデータドライバとを備えると共に、
    前記後処理手段は、前記特定のセンサセル以外に対応する走査線を、前記特定のセンサセルに対応する走査線よりも走査速度を高速にして、全ての前記走査線を走査し、前記特定のセンサセルに対応する前記データ線から検査情報を取り出せるように、前記走査ドライバと前記データドライバを駆動させるものであることを特徴とする請求項2及び3記載の入力装置。
  6. 前記センサセルは指紋の凹凸を検出するものであることを特徴とする請求項1〜5の何れか一つに記載の入力装置。
  7. 請求項1乃至請求項6に記載された入力装置のいずれかひとつを有することを特徴とする電子機器。
  8. マトリクス状に配置される複数の各センサセルから検出情報を出力する入力装置の駆動方法において、
    前記センサセルに対し複数回のフィールド走査を行なって、該センサセルから検出情報を読み出し、
    この読み出した検出情報を基に前記センサセルを部分的に特定して、該特定したセンサセルから処理対象となる検出情報を取り出すことを特徴とする入力装置の駆動方法。
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CN (1) CN1281916C (ja)
TW (1) TWI250464B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111382668A (zh) * 2018-12-27 2020-07-07 联咏科技股份有限公司 电子装置及其指纹感测控制方法
US11893182B2 (en) 2018-12-27 2024-02-06 Novatek Microelectronics Corp. Electronic device and method for performing fingerprint sensing control

Families Citing this family (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6829376B2 (en) * 2000-10-24 2004-12-07 Affymetrix, Inc. Computer software system, method, and product for scanned image alignment
US8200980B1 (en) * 2001-09-21 2012-06-12 Open Invention Network, Llc System and method for enrolling in a biometric system
JP3858864B2 (ja) * 2003-08-29 2006-12-20 セイコーエプソン株式会社 静電容量検出装置
US7504833B1 (en) 2005-04-01 2009-03-17 Cypress Semiconductor Corporation Automatically balanced sensing device and method for multiple capacitive sensors
TW200644422A (en) * 2005-04-22 2006-12-16 Cypress Semiconductor Corp Directional capacitive sensor system and method
US7375535B1 (en) * 2005-09-19 2008-05-20 Cypress Semiconductor Corporation Scan method and topology for capacitive sensing
US7312616B2 (en) 2006-01-20 2007-12-25 Cypress Semiconductor Corporation Successive approximate capacitance measurement circuit
US7721609B2 (en) 2006-03-31 2010-05-25 Cypress Semiconductor Corporation Method and apparatus for sensing the force with which a button is pressed
US8040142B1 (en) 2006-03-31 2011-10-18 Cypress Semiconductor Corporation Touch detection techniques for capacitive touch sense systems
US8004497B2 (en) * 2006-05-18 2011-08-23 Cypress Semiconductor Corporation Two-pin buttons
US7312625B1 (en) * 2006-06-08 2007-12-25 Xilinx, Inc. Test circuit and method of use thereof for the manufacture of integrated circuits
US8902173B2 (en) * 2006-09-29 2014-12-02 Cypress Semiconductor Corporation Pointing device using capacitance sensor
US8547114B2 (en) 2006-11-14 2013-10-01 Cypress Semiconductor Corporation Capacitance to code converter with sigma-delta modulator
US8089288B1 (en) 2006-11-16 2012-01-03 Cypress Semiconductor Corporation Charge accumulation capacitance sensor with linear transfer characteristic
US8058937B2 (en) 2007-01-30 2011-11-15 Cypress Semiconductor Corporation Setting a discharge rate and a charge rate of a relaxation oscillator circuit
US7804307B1 (en) 2007-06-29 2010-09-28 Cypress Semiconductor Corporation Capacitance measurement systems and methods
US9500686B1 (en) 2007-06-29 2016-11-22 Cypress Semiconductor Corporation Capacitance measurement system and methods
US8570053B1 (en) 2007-07-03 2013-10-29 Cypress Semiconductor Corporation Capacitive field sensor with sigma-delta modulator
US8169238B1 (en) 2007-07-03 2012-05-01 Cypress Semiconductor Corporation Capacitance to frequency converter
US8089289B1 (en) 2007-07-03 2012-01-03 Cypress Semiconductor Corporation Capacitive field sensor with sigma-delta modulator
WO2009006556A1 (en) 2007-07-03 2009-01-08 Cypress Semiconductor Corporation Normalizing capacitive sensor array signals
US8525798B2 (en) 2008-01-28 2013-09-03 Cypress Semiconductor Corporation Touch sensing
US8319505B1 (en) 2008-10-24 2012-11-27 Cypress Semiconductor Corporation Methods and circuits for measuring mutual and self capacitance
US8358142B2 (en) 2008-02-27 2013-01-22 Cypress Semiconductor Corporation Methods and circuits for measuring mutual and self capacitance
US9104273B1 (en) 2008-02-29 2015-08-11 Cypress Semiconductor Corporation Multi-touch sensing method
US8321174B1 (en) 2008-09-26 2012-11-27 Cypress Semiconductor Corporation System and method to measure capacitance of capacitive sensor array
TWI390452B (zh) * 2008-10-17 2013-03-21 Acer Inc 指紋感測裝置與方法以及具指紋感測之觸控裝置
US10146989B2 (en) * 2009-09-09 2018-12-04 Htc Corporation Methods for controlling a hand-held electronic device and hand-held electronic device utilizing the same
US9158958B2 (en) 2010-10-28 2015-10-13 Synaptics Incorporated Signal strength enhancement in a biometric sensor array
US9262666B2 (en) * 2012-10-04 2016-02-16 Ib Korea Ltd. Anti-shock relief print scanning
CN105378755B (zh) * 2013-07-09 2017-04-05 指纹卡有限公司 指纹感测系统和方法
WO2015013530A1 (en) * 2013-07-24 2015-01-29 Synaptics Incorporated Signal strength enhancement in a biometric sensor array
US9152841B1 (en) * 2014-03-24 2015-10-06 Fingerprint Cards Ab Capacitive fingerprint sensor with improved sensing element
US10444862B2 (en) 2014-08-22 2019-10-15 Synaptics Incorporated Low-profile capacitive pointing stick
US20160078269A1 (en) * 2014-09-15 2016-03-17 Fingerprint Cards Ab Fingerprint sensor with sync signal input
TWI541731B (zh) * 2015-04-27 2016-07-11 瑞鼎科技股份有限公司 電容式指紋感測裝置及電容式指紋感測方法
CN105488497B (zh) * 2016-01-13 2018-12-25 京东方科技集团股份有限公司 指纹探测电路和显示装置
US10102412B2 (en) * 2016-11-17 2018-10-16 Fingerprint Cards Ab Fingerprint sensing with different capacitive configurations
CN110096931B (zh) * 2018-01-31 2023-07-04 敦泰电子有限公司 传感器单元、指纹识别方法、指纹识别芯片及电子设备
TWI679431B (zh) * 2018-07-31 2019-12-11 友達光電股份有限公司 指紋感測裝置及其檢測方法
KR20210048952A (ko) 2019-10-24 2021-05-04 삼성전자주식회사 지문 영상을 생성하는 방법 및 지문 센서

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3558864A (en) * 1965-12-29 1971-01-26 Ibm Reference point determining system
US4373804A (en) * 1979-04-30 1983-02-15 Diffracto Ltd. Method and apparatus for electro-optically determining the dimension, location and attitude of objects
US4752966A (en) * 1982-03-26 1988-06-21 Fingermatrix, Inc. Fingerprint identification system
US5262871A (en) * 1989-11-13 1993-11-16 Rutgers, The State University Multiple resolution image sensor
JPH0775633A (ja) * 1993-06-30 1995-03-20 Shimadzu Corp 画像処理装置
JPH08292998A (ja) * 1995-04-20 1996-11-05 Mitsubishi Electric Corp 画像検出装置及び画像検出方法
US5828773A (en) * 1996-01-26 1998-10-27 Harris Corporation Fingerprint sensing method with finger position indication
US6498861B1 (en) * 1996-12-04 2002-12-24 Activcard Ireland Limited Biometric security encryption system
US5940526A (en) * 1997-05-16 1999-08-17 Harris Corporation Electric field fingerprint sensor having enhanced features and related methods
GB9804539D0 (en) * 1998-03-05 1998-04-29 Philips Electronics Nv Fingerprint sensing devices and systems incorporating such
US6131464A (en) * 1998-06-16 2000-10-17 Smarttouch, Inc. Pressure sensitive biometric input apparatus
JP2000213908A (ja) 1998-11-16 2000-08-04 Sony Corp 静電容量検出装置およびその検査方法並びに指紋照合装置
US6440814B1 (en) * 1998-12-30 2002-08-27 Stmicroelectronics, Inc. Electrostatic discharge protection for sensors
TW501069B (en) * 1999-08-18 2002-09-01 Thomson Licensing Sa Method of operating capacitive thin film transistor arrays
US6512381B2 (en) 1999-12-30 2003-01-28 Stmicroelectronics, Inc. Enhanced fingerprint detection
US6535626B1 (en) * 2000-01-14 2003-03-18 Accumed International, Inc. Inspection system with specimen preview
AU2001245936A1 (en) * 2000-03-23 2001-10-03 Cross Match Technologies, Inc. Piezoelectric identification device and applications thereof
US6825936B2 (en) * 2000-08-23 2004-11-30 Lmi Technologies, Inc. High speed camera based sensors
US7125335B2 (en) * 2000-12-08 2006-10-24 Igt Casino gambling system with biometric access control
JP3549841B2 (ja) * 2001-01-30 2004-08-04 日本電信電話株式会社 データ変換・出力装置
JP4087125B2 (ja) * 2001-03-07 2008-05-21 シャープ株式会社 凹凸パターン検出素子
US7062075B2 (en) * 2001-05-14 2006-06-13 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Surface shape recognition sensor device
FI20011370A (fi) * 2001-06-27 2002-12-28 Nokia Corp Biotunnistusmenetelmä ja sitä hyödyntävä laite
JP2003032453A (ja) * 2001-07-12 2003-01-31 Canon Inc 画像処理装置
US6927581B2 (en) * 2001-11-27 2005-08-09 Upek, Inc. Sensing element arrangement for a fingerprint sensor

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111382668A (zh) * 2018-12-27 2020-07-07 联咏科技股份有限公司 电子装置及其指纹感测控制方法
US11893182B2 (en) 2018-12-27 2024-02-06 Novatek Microelectronics Corp. Electronic device and method for performing fingerprint sensing control
CN111382668B (zh) * 2018-12-27 2024-04-16 联咏科技股份有限公司 电子装置及其指纹感测控制方法

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